JP2653823B2 - リアクトルの損失測定回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、リアクトルの損失測定回路、特にリアク
トルとしての試料およびその付属品を用いた損失測定回
路に関するものである。

〔従来の技術〕

第２図は従来の損失測定回路の一例を示す回路図であ
り、図において（１）は図示のブリツジ回路の高電圧側
の２辺の内の１辺を構成するリアクトルとしての試料、
（９），（10）はこの試料（１）のそれぞれ自己インダ
クタンス分および抵抗分、（２）はブリツジ回路の高電
圧側の他の１辺を構成する無損失高電圧コンデンサ、
（３）は試料（１）と大地の間に接続された変流器、
（４）はこの変流器（３）の２次側に接続された相互リ
アクトルであつて、変流器（３）と共にブリツジ回路の
低電圧側の２辺中の１辺を構成する。（５），（６）は
無損失高電圧コンデンサ（２）と大地の間で互いに並列
に接続されたそれぞれ可変コンデンサ、可変抵抗器であ
つて、ブリツジ回路の低電圧側の他の１辺を構成する。
（７）はブリツジ回路の低電圧側の２辺すなわち相互リ
アクトル（４）の２次側と可変コンデンサ（５）および
可変抵抗器（６）の並列回路との間に接続された検流
計、（８）はブリツジ回路の高電圧側と大地の間に接続
された交流電源である。

従来の損失測定回路は上述したように構成され、交流
電源（８）からブリツジ回路へ電圧が印加されると、低
電圧側の２辺すなわち相互リアクトル（４）の２次側と
可変コンデンサ（５）または可変抵抗器（６）とにそれ
ぞれ電圧_２と_１とが発生する。それらの値は次式の
ように算出される。

ここで ：ブリツジ回路への印加電圧 （＝Ep sin ωｔ、ここでEpはのピーク値） C_N:無損失高電圧コンデンサ（２）の静電容量 C₄:可変コンデンサ（５）の静電容量 R₄:可変抵抗器（６）の抵抗値 M:相互リアクトル（４）の相互インダクタンス n;変流器（３）のCT比 L_X:試料（１）の自己インダクタンス R_X:試料（１）の抵抗値 検流計（７）が零の値となるように、すなわち、_１と
_２が等しくなるように可変コンデンサ（５）と可変抵
抗器（６）を調整する。この状態がブリツジ回路の平衡
状態で、_１ ＝_２ ……（３） の条件式が成立する点である。式（１），（２）および
（３）より試料（１）の定数L_XおよびR_Xの値が次式で算
出される。

式（４），（５）より試料（１）の総合インピーダン
ス（Z_X）は次式で表わされる。

一方、試料（１）の損失（P_ls）は ここで I:試料（１）の電流 E:印加電圧（）（８）の実効値の絶対値 で表されるので、試料（１）の損失を算出できることに
なる。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の損失測定回路では、ブリツジ回路に無損失高電
圧コンデンサを使用しなければならず、500KV7や1000KV
級の試料になると損失測定回路の構成に絶縁距離及びス
ペースの確保が必要となり、また損失測定回路の構成が
複雑になるなどの問題点があつた。

この発明は、上述したような問題点を解決するために
なされたもので、無損失高電圧コンデンサ等の高圧部分
を含まず、低電圧部分のみで構成しても試料の損失を測
定できる損失測定回路を得ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係るリアクトルの損失測定回路は、高電圧
側の第１の辺を構成するリアクトルとしての試料と、前
記高電圧側の第２の辺を構成する前記試料の付属品と、
低電圧側の第１の辺を構成する変流器およびその２次側
に接続された相互リアクトルと、前記低電圧側の第２の
辺を構成する並列接続された可変コンデンサおよび可変
抵抗器と、前記高電圧側の第２の辺と前記低電圧側の第
２の辺の接続点と前記相互リアクトルとの間に接続され
た検流計とを有するブリッジ回路を備え、前記付属品が
並列接続された静電容量および抵抗分から成るものであ
る。

〔作 用〕

この発明においては、資料の２辺中静電容量部の定数
は低電圧部と同様に既知とし、ブリツジのバランス条件
より試料の他の１辺であるリアクトルの定数を算出し、
更に、それを基にリアクトルの損失を計算する。

〔実施例〕

第１図はこの発明の一実施例を示す回路図であり、
（１）及び（３）〜（10）は第２図について説明したも
のと全く同じである。（1a）は試料（１）と並列に接続
されたその付属品例えばブツシングであつて、ブリツジ
回路の高電圧側の他の１辺を構成する。（11），（12）
は付属品（1a）のそれぞれ静電容量、抵抗分である。

上述したように構成された損失測定回路においては、
従来回路の場合と全く同様に電圧印加後、可変コンデン
サ（５）と可変抵抗器（６）を調整して検流計（７）が
零になるようにする。この時の_１と₂,L_X,R_X,Z_X,P_ls
の値は、従来回路の場合と同様の考え方で、次のように
導かれる。

_１＝_２ ……（３） 上記式（７）より試料（１）のリアクトルの損失が算
定できることになる。

〔発明の効果〕

この発明は、以上説明した通り、ブリツジ回路の高電
圧側を試料およびその付属品で構成したので、構成が簡
単で、安価であり、また実用性の高い損失測定回路が得
られるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す回路図、第２図は従
来の損失測定回路を示す回路図である。 図において、（１）は試料、（1a）は試料の付属品、
（９）は試料の自己インダクタンス分、（10）は試料の
抵抗分、（11）は付属品の静電容量、（12）は付属品の
抵抗分である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】高電圧側の第１の辺を構成するリアクトル
   としての試料と、前記高電圧側の第２の辺を構成する前
   記試料の付属品と、低電圧側の第１の辺を構成する変流
   器およびその２次側に接続された相互リアクトルと、前
   記低電圧側の第２の辺を構成する並列接続された可変コ
   ンデンサおよび可変抵抗器と、前記高電圧側の第２の辺
   と前記低電圧側の第２の辺の接続点と前記相互リアクト
   ルとの間に接続された検流計とを有するブリッジ回路を
   備え、前記付属品が並列接続された静電容量および抵抗
   分から成ることを特徴とするリアクトルの損失測定回
   路。