JPS58178522A - 塗布方法および装置 - Google Patents
塗布方法および装置Info
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- JPS58178522A JPS58178522A JP6107782A JP6107782A JPS58178522A JP S58178522 A JPS58178522 A JP S58178522A JP 6107782 A JP6107782 A JP 6107782A JP 6107782 A JP6107782 A JP 6107782A JP S58178522 A JPS58178522 A JP S58178522A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
- G03F7/162—Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本li明は半導体装置の製造に用いる塗布方法および装
置に関し%特に半導体ウェハの表面に酸化シリコン等を
塗布するのに有用な塗布方法および装置に関する。
置に関し%特に半導体ウェハの表面に酸化シリコン等を
塗布するのに有用な塗布方法および装置に関する。
一般に、半導体装置の製造過程においてシリコン(Si
)のウェハII!面に眉間絶縁膜等の酸化シリコンlI
&を形成する場合に塗布方式な用いることがある。この
塗布方式はS U G (Spin−Qn Glas@
)方式と呼ばれ、ウェハなスピンナカップ内の回転可能
なスピンナ上に支持しておき、ウェハ上方のノズルから
酸化シリコンの溶液をウェハ上に滴下させた後、上記ス
ピンナとウェハな水平方向に回転させ、上記酸化シリコ
ン溶液を遠心力でウェハ!!ilK均一に拡散させるこ
とにより塗布な行なうものである。
)のウェハII!面に眉間絶縁膜等の酸化シリコンlI
&を形成する場合に塗布方式な用いることがある。この
塗布方式はS U G (Spin−Qn Glas@
)方式と呼ばれ、ウェハなスピンナカップ内の回転可能
なスピンナ上に支持しておき、ウェハ上方のノズルから
酸化シリコンの溶液をウェハ上に滴下させた後、上記ス
ピンナとウェハな水平方向に回転させ、上記酸化シリコ
ン溶液を遠心力でウェハ!!ilK均一に拡散させるこ
とにより塗布な行なうものである。
しかしながら、この塗布な行なう場合には、酸化シリコ
ン溶液が低粘度であるため、ウェハ表面上に滴下された
溶液に遠心力が作用した時(スピン時)Kその溶液が霧
状になりて舞い上がり易くなり、その舞い上がった霧状
の溶液が再びウェハ表面上に落下し、異物として付着す
るという現象が起こり易い。
ン溶液が低粘度であるため、ウェハ表面上に滴下された
溶液に遠心力が作用した時(スピン時)Kその溶液が霧
状になりて舞い上がり易くなり、その舞い上がった霧状
の溶液が再びウェハ表面上に落下し、異物として付着す
るという現象が起こり易い。
この霧状の溶液は3〜10μm径の球状異物となってお
り、1枚のウェハに対して通常平均200〜300個も
付着してしまう。このような酸化シリコンの微細粒がウ
ェハ表面に付着すると、異物としてそれ以後のホトエツ
チング等のウェハ処理の支障となり、半導体装置の製造
不良を発生し、歩留低下の原因になる等の問題がある。
り、1枚のウェハに対して通常平均200〜300個も
付着してしまう。このような酸化シリコンの微細粒がウ
ェハ表面に付着すると、異物としてそれ以後のホトエツ
チング等のウェハ処理の支障となり、半導体装置の製造
不良を発生し、歩留低下の原因になる等の問題がある。
そこでこの間IIt解決するために本発明者等が鋭意研
究したところ、スピン時にウニへ表面カラ舞い上がった
霧状の酸化シリコン溶液がウェハ上に再び落下すること
による異物の付着は、スピンカップ内の雰囲気な強制排
気することにより防止できることが判明した。
究したところ、スピン時にウニへ表面カラ舞い上がった
霧状の酸化シリコン溶液がウェハ上に再び落下すること
による異物の付着は、スピンカップ内の雰囲気な強制排
気することにより防止できることが判明した。
しかし、巣にスピンカップ内な強制排気するというだけ
では満足すべき異物付着防止効果は得られず、常に良好
な異物付着防止効果な確実に得ることが望まれている。
では満足すべき異物付着防止効果は得られず、常に良好
な異物付着防止効果な確実に得ることが望まれている。
本発明の目的は、前記した課題に鑑み、常に確実かつ艮
好な異物付着防止効果を得ることができ、異物付着の低
減による歩留りの向上な図ることのできる塗布方法およ
び装置な提供することにある。
好な異物付着防止効果を得ることができ、異物付着の低
減による歩留りの向上な図ることのできる塗布方法およ
び装置な提供することにある。
この目的な達成するため、本発明の塗布方法は、スピン
ナ上に支持されたウェハな収容したスピンナカップの内
外の差圧または排気量なモニタし、そのモニタ結果に基
づいてスピンナカップからの排気量を増減制御しながら
塗布な行なうものである。
ナ上に支持されたウェハな収容したスピンナカップの内
外の差圧または排気量なモニタし、そのモニタ結果に基
づいてスピンナカップからの排気量を増減制御しながら
塗布な行なうものである。
また、本発明の塗布装置は、スピンナカップの内外の差
圧または排気量なモニタする手段、およびこのモニタ手
段をスピンナカップの排気手段に連動させ、差圧または
排気量のモニタ結果に応じて排気手段の排気量を増減制
御するものである。
圧または排気量なモニタする手段、およびこのモニタ手
段をスピンナカップの排気手段に連動させ、差圧または
排気量のモニタ結果に応じて排気手段の排気量を増減制
御するものである。
以下、本発明な図面に示す実施例にしたがって詳細に説
明する。
明する。
第1図は本発明による塗布装置の一実施例を示す断面図
である。
である。
本夷總例において、スピンナカップ10はペース部11
とカバ一部12とからなる。スピンナカップ10のペー
ス部11の中央には、下方に配置した回転モータ13に
より回転される回転筒14が挿通突設され、この回転筒
14の上端には円板状のスビ/す15が水平方向に回転
可能匝固設されている。
とカバ一部12とからなる。スピンナカップ10のペー
ス部11の中央には、下方に配置した回転モータ13に
より回転される回転筒14が挿通突設され、この回転筒
14の上端には円板状のスビ/す15が水平方向に回転
可能匝固設されている。
前記スピンナ15は上面に複数個の真空吸着孔(図示せ
ず)を設け、これらの真空吸着孔な前記回転筒14の内
部な通して図示しない真空源に連通させることにより、
被塗布物であるウェハ16なその上面に真空吸着して支
持できる。
ず)を設け、これらの真空吸着孔な前記回転筒14の内
部な通して図示しない真空源に連通させることにより、
被塗布物であるウェハ16なその上面に真空吸着して支
持できる。
一方、スピンナカップlOのカバ一部12の中央11に
は、前記スピンナ15の中心部に向けて一下したノズル
17が支持されている。このノズルl7はその先端から
塗布物としての酸化シリコン溶液をウェハ16上に滴下
するための本ので、図示しない酸化シリコン溶液源忙連
設されている。
は、前記スピンナ15の中心部に向けて一下したノズル
17が支持されている。このノズルl7はその先端から
塗布物としての酸化シリコン溶液をウェハ16上に滴下
するための本ので、図示しない酸化シリコン溶液源忙連
設されている。
また、本実施例においては、スピンナカップ100ベー
ス部11の底壁には、ウェハ16上から溢れた酸化シリ
コン溶液な排出する排液口18と、スピンナカップlO
内の算囲気な強制排気するための排気口19とが設けら
れ、排液[]18は排気口19よりも低い位置でスピン
ナカップ10内に開ml している。
ス部11の底壁には、ウェハ16上から溢れた酸化シリ
コン溶液な排出する排液口18と、スピンナカップlO
内の算囲気な強制排気するための排気口19とが設けら
れ、排液[]18は排気口19よりも低い位置でスピン
ナカップ10内に開ml している。
前記排気口19は強制排気手段である排風Mk2Oに連
通し、また排気口19と排風機20との間の排気系路の
途中には、スピンナカップ10の内外の差圧(スピンナ
カップ10からの排気量に対応する)なモニタするため
の差圧計21が介設されている。差圧計21は前記排風
機20と連動されており、該差圧計21でモニタされた
スピンナカップ10の内外の差圧が所定値よりも小さい
時には、排風機20による排気量を増大させるよ5該排
風機20に対し′″CC傷号る。それにより、スピンナ
カップ10の内外の差圧は常圧所定値以上に保たれ、排
風機20は霧状の酸化シリコン溶液なスピンナカップ外
に確実に排出するので、ノズル17からの酸化シリコン
溶液がスピン時に舞い上がって再びウェハ16上に落下
して異物として付着することを防止できる。
通し、また排気口19と排風機20との間の排気系路の
途中には、スピンナカップ10の内外の差圧(スピンナ
カップ10からの排気量に対応する)なモニタするため
の差圧計21が介設されている。差圧計21は前記排風
機20と連動されており、該差圧計21でモニタされた
スピンナカップ10の内外の差圧が所定値よりも小さい
時には、排風機20による排気量を増大させるよ5該排
風機20に対し′″CC傷号る。それにより、スピンナ
カップ10の内外の差圧は常圧所定値以上に保たれ、排
風機20は霧状の酸化シリコン溶液なスピンナカップ外
に確実に排出するので、ノズル17からの酸化シリコン
溶液がスピン時に舞い上がって再びウェハ16上に落下
して異物として付着することを防止できる。
次に、本実施例の作用について説明する。本実施例にお
いて酸化シリコン膜の塗布を行う場合、ウ−”’16に
スピンナ15上に真空吸着し、ノズル17からウェハ1
6の表面の中心部上に酸化シリコン溶液な滴下した後、
モータ13および回転筒14によりスピンナ15および
その上のウェハ16を水平方向に回転させると、その溶
液は遠心力でウェハ160表面の半径方向外肯に拡散さ
れ、溶液の粘度やスピンナ150回転速度に応じて所定
の膜厚の酸化シリコ/膜tsOG方式で塗布することが
できる。
いて酸化シリコン膜の塗布を行う場合、ウ−”’16に
スピンナ15上に真空吸着し、ノズル17からウェハ1
6の表面の中心部上に酸化シリコン溶液な滴下した後、
モータ13および回転筒14によりスピンナ15および
その上のウェハ16を水平方向に回転させると、その溶
液は遠心力でウェハ160表面の半径方向外肯に拡散さ
れ、溶液の粘度やスピンナ150回転速度に応じて所定
の膜厚の酸化シリコ/膜tsOG方式で塗布することが
できる。
この塗布時(スピン時)に、スピンナカップ10内の!
囲気は排風機20により強制排気されるが、本実施例で
は、スピンナカップlOの排気量に対応する鎖スピンナ
カップ10の内外の差圧は差圧計21によりモニタされ
、差圧が所定値よりも小さい時には、差圧計21から排
風機20に対して、該排風機20の排気量を増大させる
信号な送る。
囲気は排風機20により強制排気されるが、本実施例で
は、スピンナカップlOの排気量に対応する鎖スピンナ
カップ10の内外の差圧は差圧計21によりモニタされ
、差圧が所定値よりも小さい時には、差圧計21から排
風機20に対して、該排風機20の排気量を増大させる
信号な送る。
すなわち、スピンナカップ10の内外の差圧(スピンナ
カップ10の排気量に対応する)は第2図に示すように
、酸化シリコン溶液の舞い上がりおよび再落下によりウ
エノ・16上に付着する異物の個数と密接な関係な有し
、第2図の例では、差圧が30(IIIIH,0)以上
になると、異物数は10(個/ウエノ・〕以下となり、
非常に艮好な異物付着防止効果が得られる。
カップ10の排気量に対応する)は第2図に示すように
、酸化シリコン溶液の舞い上がりおよび再落下によりウ
エノ・16上に付着する異物の個数と密接な関係な有し
、第2図の例では、差圧が30(IIIIH,0)以上
になると、異物数は10(個/ウエノ・〕以下となり、
非常に艮好な異物付着防止効果が得られる。
したがって、単にスピンナカップ10内な強制排気する
だけでなく、モニタ手段である差圧計21によりスピン
ナカップlOの内外の差圧をモニタし、差圧が所定値よ
りも小さくなった時には排風機20の排気量な増大させ
れば、差圧は常に所定値以上に維持され、異物は排風機
20でスピンナカップ10外に常に確実に排出され、ウ
ニ・・16上には落下しないので、富に良好な異物付層
防止効果な得ることができ、歩留りな向上させることが
可能である。
だけでなく、モニタ手段である差圧計21によりスピン
ナカップlOの内外の差圧をモニタし、差圧が所定値よ
りも小さくなった時には排風機20の排気量な増大させ
れば、差圧は常に所定値以上に維持され、異物は排風機
20でスピンナカップ10外に常に確実に排出され、ウ
ニ・・16上には落下しないので、富に良好な異物付層
防止効果な得ることができ、歩留りな向上させることが
可能である。
なお、差圧の所定値は塗布装置の容量や排風機の排気容
量等で異なる。
量等で異なる。
また、本実施例におい【、ウェハ16上から溢れた溶液
は排液口18からスピンナカップ10外に排出される。
は排液口18からスピンナカップ10外に排出される。
第3図は本発明による塗布装置の他の1つの実施例な示
す断面図、第4図はその一部破断面平面図である。
す断面図、第4図はその一部破断面平面図である。
本実施例では、スピンナ15とスピンナカップ100カ
バ一部12との間に、全体な円環体状に形成した排気り
/グ22を配置し、この排気リング22vその周囲の支
持アーム23でカバ一部12に一体的に支持している。
バ一部12との間に、全体な円環体状に形成した排気り
/グ22を配置し、この排気リング22vその周囲の支
持アーム23でカバ一部12に一体的に支持している。
排気リング22は内部に1状の空室を有し、この空室の
下部な開口24において開口させ、前記ウェハ16の上
方%:媛いかつこれに近景するよう配置する一方、空室
の一部には、排気口25な形成し、パイプ26ik通し
て排気ポンプ式の排風機20 a K$気連通している
。さらに、本実施例においても、スピンナカップ10の
内部と排風機20mとの関には、スピンカップlOの内
外の差圧なモニタするための差圧計21aが介設され、
該差圧計211と排風機2031とは連動されている。
下部な開口24において開口させ、前記ウェハ16の上
方%:媛いかつこれに近景するよう配置する一方、空室
の一部には、排気口25な形成し、パイプ26ik通し
て排気ポンプ式の排風機20 a K$気連通している
。さらに、本実施例においても、スピンナカップ10の
内部と排風機20mとの関には、スピンカップlOの内
外の差圧なモニタするための差圧計21aが介設され、
該差圧計211と排風機2031とは連動されている。
なお、ノズル17は排気リング22の中央の孔27な貫
通して配置されている。
通して配置されている。
本実施例においては、酸化シリコン膜の塗布時に、排風
機20&を駆動し、排気リング22な通してスピンナカ
ップ10内を強制排気すると、ウェハ160表面から舞
い上がった霧状(微粒状)の酸化シリコン溶液は、排気
り/グ22の開口24がウェハ16の表面上方に近接配
置されていることと相まって、排気リング22の開口2
4から空室内に吸引されかつ排気口25からノ(イブ2
6Ijr:通してスピンナカップ10の外部に排出され
る。
機20&を駆動し、排気リング22な通してスピンナカ
ップ10内を強制排気すると、ウェハ160表面から舞
い上がった霧状(微粒状)の酸化シリコン溶液は、排気
り/グ22の開口24がウェハ16の表面上方に近接配
置されていることと相まって、排気リング22の開口2
4から空室内に吸引されかつ排気口25からノ(イブ2
6Ijr:通してスピンナカップ10の外部に排出され
る。
したがって、本実施例でも、ウエノ・表面から舞(・上
がった微粒状の溶液が再びウエノ・表面上に落下して異
物として付着することな防止し、良好な塗布な行うこと
ができる上に、差圧計211でスピンナカップlOの内
外の差圧なモニタし、差圧が所定値よりも小さくなった
時には自動的に排風機201の排気量を増大させるので
、常に良好な異物付着防止効果な確実に得ることができ
る。
がった微粒状の溶液が再びウエノ・表面上に落下して異
物として付着することな防止し、良好な塗布な行うこと
ができる上に、差圧計211でスピンナカップlOの内
外の差圧なモニタし、差圧が所定値よりも小さくなった
時には自動的に排風機201の排気量を増大させるので
、常に良好な異物付着防止効果な確実に得ることができ
る。
また、本実施例では、ウェハ16の周縁から溢れた溶液
は排液口18から排出する他、ウェハ16の下方に飛散
する霧状の溶液は排気口19から排風機20で排出でき
、より完全な異物付着防止効果が得られる。
は排液口18から排出する他、ウェハ16の下方に飛散
する霧状の溶液は排気口19から排風機20で排出でき
、より完全な異物付着防止効果が得られる。
なお、前記一実施例においては差圧計21.21aと排
風機20.20mは連結されており、差圧計21.21
mでのモニタ結果により自動的に排気量が制御されるよ
う罠なっているが、差圧針21゜21m+と排風機20
.20mは必ずしも連結されている必要はなく、差圧計
21.21mでのモニタ結果により手動で排気量を調整
してもよく、本発明はこれも含むものである。
風機20.20mは連結されており、差圧計21.21
mでのモニタ結果により自動的に排気量が制御されるよ
う罠なっているが、差圧針21゜21m+と排風機20
.20mは必ずしも連結されている必要はなく、差圧計
21.21mでのモニタ結果により手動で排気量を調整
してもよく、本発明はこれも含むものである。
さらに、前記一実施例では、モニタ手段として差圧計2
1.21鳳【用いてスピンナカップlOの内外の差圧な
モニタしているが、差圧はスピンナカップlOからの排
気量と対応して(Sるので、差圧計の代りに排気量測定
器な用(・るものであってもよく、本発明はこれも含む
ものである。
1.21鳳【用いてスピンナカップlOの内外の差圧な
モニタしているが、差圧はスピンナカップlOからの排
気量と対応して(Sるので、差圧計の代りに排気量測定
器な用(・るものであってもよく、本発明はこれも含む
ものである。
さらに、前記実施例では塗布物として酸化シリコン溶液
な用いる場合について説明したが、たとえばホトリソグ
ラフィに使用するホトレジストの塗布においてもホトレ
ジストの粘度が低い場合には前記と同様の不具合が生じ
ることがあるので、とのよ5な場合等にも本発明な適用
すれば常に良好な塗布な行なうことができる。
な用いる場合について説明したが、たとえばホトリソグ
ラフィに使用するホトレジストの塗布においてもホトレ
ジストの粘度が低い場合には前記と同様の不具合が生じ
ることがあるので、とのよ5な場合等にも本発明な適用
すれば常に良好な塗布な行なうことができる。
以上説明したように、本発明によれば、ウエノ・表面へ
の異物の付着な常に確実に防止し、良好な塗布を行なう
ことができ、半導体装置の製造不良を防止し、歩留りな
向上させることができる。
の異物の付着な常に確実に防止し、良好な塗布を行なう
ことができ、半導体装置の製造不良を防止し、歩留りな
向上させることができる。
第1図は本発明の塗布装置の一実施例な示す断面図、第
2図は差圧と異物数の関係を示す図、第3図は本発明の
他の1つの実施例を示す断面図、第4図はその一部破断
平面図である。 lO・・・スピンナカップ、13・・・モータ、15・
・・スピンナ、16・・・ウエノ1.17・・・ノズル
、19・・・排気口、20,201・・排風機、21.
21a・・−差圧針、22・・・排気リング、24・・
・開口、25・・・排気口。
2図は差圧と異物数の関係を示す図、第3図は本発明の
他の1つの実施例を示す断面図、第4図はその一部破断
平面図である。 lO・・・スピンナカップ、13・・・モータ、15・
・・スピンナ、16・・・ウエノ1.17・・・ノズル
、19・・・排気口、20,201・・排風機、21.
21a・・−差圧針、22・・・排気リング、24・・
・開口、25・・・排気口。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、スピンナカップ内の回転可能なスピン力上にウェハ
を支持し、このウェハ上に塗布物な滴下する塗布方法に
おいて、スピンナカップの内外の差圧または排気量なモ
ニタし、そのモニタ結果に基づいてスピンナカップから
の排気量を増減制御しながら塗布を行なうことな特徴と
する塗布方法。 2、スピンナカップの内外の差圧または排気量が所定値
よりも少くなった時にはスピンナカップからの排気量を
増加させることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の塗布方法。 3、スピンナカップ内にウェハ支持用のスビ/すな回転
可能に配置し、該スビ/す上のウェハの上に塗布物な滴
下する塗布装置において、スピンナカップの排気系に該
スピンナカップの内外の差圧または排気量なモニタする
手段な設けたことを特徴とする塗布装置。 4、塗布装置としては、スピンナカップ内にウェハ支持
用のスピンナt−回転可能に配置し、該スピンナ上ノウ
エバの上に塗布物を滴下するものであっテ、スピンナカ
ップの内外の差圧または排気量をモニタする手段を設け
、このモニタ手段をスピンナカップの排気手段に連動さ
せたことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の塗布
装置。 5、スピンナカップの排気系が、スピ/すの上方位置に
おいてウニ八表面に近I11る排気開口を持つ環状の排
気す/グを備えていることを特徴とする特許請求の範囲
第3項または#14項記載の塗布装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6107782A JPS58178522A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 塗布方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6107782A JPS58178522A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 塗布方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58178522A true JPS58178522A (ja) | 1983-10-19 |
Family
ID=13160701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6107782A Pending JPS58178522A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 塗布方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58178522A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60169837U (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-11 | 株式会社東芝 | レジスト塗布装置 |
WO1987006725A2 (fr) * | 1986-04-22 | 1987-11-05 | Thomson-Csf | Procede et appareil d'etalement de resine par centrifugation |
US5070813A (en) * | 1989-02-10 | 1991-12-10 | Tokyo Electron Limited | Coating apparatus |
-
1982
- 1982-04-14 JP JP6107782A patent/JPS58178522A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60169837U (ja) * | 1984-04-18 | 1985-11-11 | 株式会社東芝 | レジスト塗布装置 |
WO1987006725A2 (fr) * | 1986-04-22 | 1987-11-05 | Thomson-Csf | Procede et appareil d'etalement de resine par centrifugation |
WO1987006725A3 (fr) * | 1986-04-22 | 1987-12-17 | Thomson Csf | Procede et appareil d'etalement de resine par centrifugation |
US5070813A (en) * | 1989-02-10 | 1991-12-10 | Tokyo Electron Limited | Coating apparatus |
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