JPS60152029A - 塗布装置 - Google Patents

塗布装置

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JPS60152029A
JPS60152029A JP714684A JP714684A JPS60152029A JP S60152029 A JPS60152029 A JP S60152029A JP 714684 A JP714684 A JP 714684A JP 714684 A JP714684 A JP 714684A JP S60152029 A JPS60152029 A JP S60152029A
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JP
Japan
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wafer
resist
cup
semiconductor wafer
coating
Prior art date
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Pending
Application number
JP714684A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Meguro
目黒 英男
Masao Uehara
上原 正男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP714684A priority Critical patent/JPS60152029A/ja
Publication of JPS60152029A publication Critical patent/JPS60152029A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/16Coating processes; Apparatus therefor
    • G03F7/162Coating on a rotating support, e.g. using a whirler or a spinner

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し技術分野〕 本発明は塗布技術、特に、半導体ウエノ・にレジスト等
を塗布する技術に利用して有効な技術に関する。
「背景技術1 半導体ウェハに対してレジストを塗布する場合、半導体
ウェハの被塗布面を上側に向けてウエノ・チャックで真
空吸着し、被塗布面の中心部にレジストを滴下してウェ
ハな高速回転略せることにより、遠心力でレジストを被
塗布面に拡げて行く方式が行なわれている。
例えば、特開昭52−144971号公報には、塗布材
を滴下してウェハ状物体を回転することにより、塗布膜
を形成てるスピン塗布装置が開示されている(第1図)
第1図にすdいて、1はカップである。2は、滴下ノズ
ルであり、塗布材料としてのレジストヲ、半導体ウェハ
3に滴下するだめのものである。4は、筒体であり、出
力軸5を介してスピンモータ6に接続されており、回転
可能になっている。そしてこの筒体4は、ウエノ・載置
可能になりている。
7は、ドレインボックスであり、飛散する余分なレジス
トを収容するだめのものである。8は、排気管であり、
モータ9により強制排気可能釦なっている。lOは、排
出管であり、カップ1内に飛散し、たレジストを、ドレ
インボックス7に収容するためのものである。
ところか、この方式では、レジストが被塗布面の中心部
の滴下位置から遠心力で周囲に拡がるにつれて、レジス
トの表面層から溶剤が揮発し、レジストの粘度が時間の
経過につれて急迷に変化することにより、ウェハの中心
部と周辺部とでレジストの膜厚にむらが生じてしまう問
題があるということが本発明者によって明らかにされた
。こσ)ことは特に大径のウェハについて顕著にあられ
れる。また固体撮像素子の塗布については、11りむら
の原因で画面ムラが生じるので、特にその膜質の精度が
要求されている。第2図Iは放射状の膜むらの状態を示
し1こ平面図である。
また、塗布装置θ)上刃ノブと下カップを密閉しても、
排気圧の関係により、前記カップの丁き間から外気か混
入12、レジスト溶媒の飛散速度が速くなり、回転によ
る膜厚形成中に粘度が変化して膜むらが生じてしまう問
題があるということが本発明者によって明らかにさt’
した。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、レジスト等の塗布材料の膜厚を均一に
することかでき、かつ膜むらの発生を防止することがで
き得る塗布装置を提供することにある。
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、本明
細嶺の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
〔発明の概要] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明てれは、次の通りである。
丁なわち、塗布材料を供給する手段に、ウェハ上を飽和
状態にすべくウェハ上を覆うカバーを設けることにより
、又は塗布装置の外枠を構成する上下カップの密閉度を
高めるためにドレインボックスに吸気口な設けることに
より前記目的を達成することができるようVCするもの
である。
[実施例I] 第3図は、本発明の一実施例である塗布装置を示す概略
断面図である。
この塗布装置において、粘性を有する液体状のレジスト
は滴−■ノズル12より、半導体ウェハ13上に供給さ
れる。この半導体ウェハ13は、カップ11σ)中心部
に設けられ1こ筒体14の上側に載置これる。筒体14
の上側には真空吸着により半導体ウェハ13(板状体)
を吸着して支持てるウェハチャック15及び試料載置台
J6が配設享れている。
ウェハチャック15は下方に設けられたスピンモータ1
7(駆動手段)により回転する。スピンモータ17の出
力jl:IIl]、8は筒体14の中を貫通し、その上
端には前記ウェハチャック15か取り付けられている。
なお、半導体ウェハ13の上方には、透下ノズル12に
固着させ、前記半導体ウェハ13に、滴下したレジスト
が回転運動により必要以上に揮発しプIいように半導体
ウェハ13上を飽和状態にするため半導体ウェハ130
円周辺を覆う円筒状のカバー19が設けられている。カ
バー19g10面間口部端20と、半導体ウェハ130
間には、2mm程匹の間隔があり、カバー19内に飛散
するレジスト力、カバー19外に飛んでいくようになっ
ている。
カップ11の下方には、ドレインボックス21が配置さ
れ、排出管22と連通されている。このドレインボック
ス21の中にはドレインタンク23が収容され℃おり、
排出管22により排出されたレジストの廃液を収容する
。またドレインホックス21の側面上方には、カップ1
1内に飛散するレジストを強制的に排除するだめの排気
管24が設けられ、モータ25によって、カップ11内
に飛散するレジストを強制的に排気てるようになってい
る。
次に、本実施例の作用について説明する。
本実施例の塗布装置で半導体ウエノ・13−\のレジス
ト塗布を行う場合、まずカバー19をウエノ・チャック
15上からずらして、試料載置台16上に半導体ウェハ
13を載せる。半導体ウェハ13はウェハチャック15
で真空吸着させる。そして、前記カバー1’l−1半導
体ウェハ13上万に戻し、7FFノズル12かもレジス
トが半導体ウェハ13に供給これ、前記半導体ウェハ1
3はスピンモータ17によりウェハチャック15と共に
、高速で回転される。この回転によりレジストを所望の
均一1よ膜P1に¥ることができる。
本実施例では、半導体ウェハ13上にカバー19を覆う
ので、こσ)カバー19外の空間は、レジスト中の溶剤
の揮発により飽和状態になる。こt’t tt、レジス
ト中ノ溶剤の揮発夕防屯して、この揮発による粘度変化
に起因する膜厚、膜むらを大rjJに減少する。
また、カバー19 (il1面開口部端2oと半導体ウ
ェハ13とのすき間から、カバー19内に飛散する余分
なレジストがカバー19外に飛ンでいくため、レジX)
廃液(余分なレジスト)は、排出管22を通ってドレイ
ンタンク23に収容はれる。
〔実施例■1 第4図は、本発明の他の実施例である塗布装置を示す概
略断面図である。
この塗布装置において、粘性を有する液体状のレジスト
は滴下ノズル32より、半導体ウェハ33上に供給され
ている。この半Wt4pRウェハ33は、下カンプ31
の中心部に設けられた筒体34の上側に載置される。筒
体34の上側には真空吸着により半導体ウェハ33(板
状体)を吸着して支持するウェハチャック35、及び試
料載置台36が配設されている。
ウェハチャック35は下方に設けたスピンモータ37(
駆動手段)Kより回転する。スピンモータ37の出力軸
38は筒体34の中を貫通し1、その上端には前記ウェ
ハチャック35が取り付けられている。
下カップ31の下方には、ドレインボックス39が配置
され、排出管40と連通されている。このドレインボッ
クス39の中にはドレインタンク41が収容されて、排
出管40により排出されたレジストの廃液を収容する。
ドレインボックス39の側面上方には、下カップ31.
上カップ46内に飛散するレジストを強制的に排気する
だめの排気管42が設けられ、モータ47によって、下
カップ31.上カップ46内に飛散するレジストを強制
的に排気てるようになっている。また、上カップ46と
Tカ′ツブ31との気密性を保つため前記1・゛レイン
ボックス39に設けられた排気管42に対向する位置に
吸気口44を設けている。
Tカップ31の上には、例えば蝶番式の開閉支持部45
によって開閉可能な上カップ46か密閉状に設けられて
いる。上カップ46の略中夫に前記滴−十ノメル32が
付設され、かつ上方ノブ46と密閉され1こ構成と1j
っている。ま1こ、この上刃ツブ46内θ)ウェハチャ
ンク35より上方においては、レジスト被着後の半導体
ウェハ33の回転により周囲にはね飛ばされた余分なレ
ジストが上方ノブ46′に飛散するのを防止するための
飛散防止板47が上カップ46とTカップ310間に、
リング状に設けられている。
次に、本実施例の作用について説明する。
本実施例の塗布装置で半導体ウェハ33へのレジスト塗
布を行う場合、まず上カップ46を開き、試料載置台3
6上に半導体ウェハ33Y載せる。
半導体ウェハ33はウェハチャック35で真空吸着させ
る。そして、前記上カップ46を閉じて、滴下ノズル3
2からレジストが半導体ウェハ33に供給さit、前記
半導体ウェハ33はスビンモ〜り37によりウェハチャ
ック35と共に、高速で回転される。この回転によりレ
ジストを所望の均一な膜厚にすることができる。
本実施例では、上カップ46と下カップ31が密閉され
ているので半導体ウェハ33上の空間は、レジスト中の
溶剤の揮発により飽和状態になる。
こtは、レジスト中の溶剤の揮発を防止して、この揮発
による粘度変化に起因する膜厚、膜むらを大巾に翻する
レジスト廃液(余分なレジスト)は、排出管40YAっ
てドレインタンク41に収容これる。
なお、排気はモータ43によって排出でれるが、吸気口
44は、排気圧により、土カップ46と下カップ310
すき間から水気が侵入するのを防ぐ作用をする。この吸
気口44によって異常な排気圧の発生(装置内が真空状
態になること)を防ぐと共に土カップ46と1カツプ3
1の密閉度を保つことができる。
〔効 果〕
(1)塗布林料を供給てる手段にウエノ・上ヶ飽和状態
にすべくウェハ上ケ覆うカバーを設けることにより、膜
むらを防iヒー(ろことかできる。
(2)前記(11により、均一な膜厚を得ることかでき
ろ。
(3)塗布装置を構成てる上下カップの督閉度乞高める
ためにドレインホックスに吸気口を設けることにより、
膜むらを防上することができる。
(41前記(3)により、均一な膜厚を得Z)ことかで
きる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したか、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その太旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもな℃ゝ0 1ことえは、ウェハ上の空間な出光るだけ少なくし、レ
ジストに含まれる溶剤の揮発を防ぐため、ウェハ上に板
状のものを置く構成にしてもよい。
し利用分野〕 以上の説明では王として本発明者によってIIされた発
明をその背景と1rりた利用分野である半導体ウェハへ
のレジスト塗布装置に適用し1こ場合について説明した
か、それに限定されるものではなく、たとえば、ウェハ
への現像液σ)塗布、あるいはウェハ以外の板状体への
粘性塗布材料の塗布に広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1因は従来のスピン塗布装置を示j概略断面図、 第2図は、ウェハに表われる放射状の膜むらの状態な示
す平面図、 第3図は、本発明の一実施例で、塗布装置な示す概略断
面図、 第4図は、本発明の他の実施例で、塗布装eを示す概略
断面図である。 1.11・・・カップ、2.12.32・・・滴下ノズ
ル、3,13.33・・・半導体ウェハ、4.14゜3
4・・・筒体、5.18.38・・・出力軸、6.17
゜37・・・スピンモータ、7,21.39・・・ドレ
インボックス、R,24,42・・・排気管、9.25
゜43・・・モータ、10.22.40・・・排出管、
15゜35・・・ウェハチャック、16.36・・・試
料載置台、19・・・カバー、20・・・カバー111
1面間口部端、23゜41・・・ドレインタンク、31
・・・下カップ、44・・・吸気口、45・・・開閉支
持部、46・・・上刃ノブ、47・・・飛散防止板。 / 第 2 図 第 3 図 第 4 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、板状体の表面に粘性ンイiする塗布材料を塗布する
    装置において、塗布相料を供給てる手段と、板状体を支
    持する板状体支持手段と、この板状体支持手段を回転き
    せる駆動手段と、該塗布材料を供給する手段に該板状体
    を覆うカバーを付設して成ること夕特徴とする塗布装置
    。 2、前記力・・−は、下カップと上カップとから成り、
    それらを密閉に丁べく密閉手段と、前記下カツプ下方に
    設けたドレインボックスに吸気口火設けて成ることを特
    徴とする/I¥oi′f請求の範囲第1項記載の塗布装
    置逍。
JP714684A 1984-01-20 1984-01-20 塗布装置 Pending JPS60152029A (ja)

Priority Applications (1)

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JP714684A JPS60152029A (ja) 1984-01-20 1984-01-20 塗布装置

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JP714684A JPS60152029A (ja) 1984-01-20 1984-01-20 塗布装置

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JPS60152029A true JPS60152029A (ja) 1985-08-10

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ID=11657927

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JP714684A Pending JPS60152029A (ja) 1984-01-20 1984-01-20 塗布装置

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JP (1) JPS60152029A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61219136A (ja) * 1985-03-25 1986-09-29 Iwatsu Electric Co Ltd レジスト回転塗布機
FR2636546A1 (fr) * 1988-09-15 1990-03-23 Sulzer Electro Tech Procede et dispositif pour l'application uniformement reguliere d'une couche de resine sur un substrat
US5143552A (en) * 1988-03-09 1992-09-01 Tokyo Electron Limited Coating equipment

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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