JPS58173854A - 半導体素子用冷却装置 - Google Patents

半導体素子用冷却装置

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Publication number
JPS58173854A
JPS58173854A JP5624982A JP5624982A JPS58173854A JP S58173854 A JPS58173854 A JP S58173854A JP 5624982 A JP5624982 A JP 5624982A JP 5624982 A JP5624982 A JP 5624982A JP S58173854 A JPS58173854 A JP S58173854A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
cooling
semiconductor element
cooling device
plate material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5624982A
Other languages
English (en)
Inventor
「よし」野 惣弌
Souichi Yoshino
Tadashi Kusanagi
草薙 忠
Masakazu Mori
政和 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5624982A priority Critical patent/JPS58173854A/ja
Priority to US06/479,073 priority patent/US4546409A/en
Priority to FR8305477A priority patent/FR2524708B1/fr
Priority to GB08309103A priority patent/GB2117972B/en
Publication of JPS58173854A publication Critical patent/JPS58173854A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は半導体素子用冷却装置に関するもので特に半
導体素子用の冷却装置にアルミニウムまたはアルミニウ
ム合金を冷却部材として使用する場合において半田付け
するための冷却部材の改良に関するものである。
従来公知のものとして、銅製熱伝導部品を有する半導体
素子、およびアルミニウム製冷却部材を備え、上記冷却
部材に銅メッキまたは銅蒸着で銅層を形成し、この銅層
を上記熱伝導部品に接合させたものがある。
しかし、上記従来の半導体素子用冷却装置の場合、アル
ミニウム製冷却部材に銅メッキまたは銅蒸着で銅層を形
成するものであるが、アルミニウムに局部少ツキまたは
局部蒸着することはコストが高く量産性に乏しい欠点が
あった。
この発明は上記欠点を解消することを目的とし以下に述
べる優れた半導体素子用冷却装置を提供するものである
以下、第1図乃至第4図に示すこの発明の実施例につい
て説明する。
各図において、(1)はアルミニウムより形成された冷
却用板材で帯状に形成され複数箇所に取付凹部(1a)
を有する。(2)はこの冷却用板材の取付凹部(1a)
に各々超音波溶接にて固着された半導体素子装着用板材
で、アルミニウムからなる板材にカッパライジング等に
より片面にのみ銅層(2a)が形成されてあり、またこ
の銅層の外側には予備半田(2b)が施されである。(
3)は半導体素子であるダイオードで、上記半導体素子
装着用板材(2)に半田(4)にて固着されている。(
5)は超音波溶接機、(6)は超音波振動の発生源(図
示せず)からの超音波振動を受けるチップで、その先端
部の端面には四角鍵形の突起(6a)が形成されており
、その超音波の振動方向は矢印(f)方向でかつ矢印φ
)方向に押圧力が印加される。(7)は上記チップ(6
)と対向して設けられダイス鋼からなる固定支持部材で
、その上端部には一体に形成されたアンビル(8)が設
けられており、その先端面には四角鍵形の突起(8a殖
;形成されている。
次に上記実施例の製作手順について説明する。
まず、冷却用板材(1)に各々取付凹部(1a)を形成
する。一方、予め片面のみに銅層(2a)が被覆された
アルミニウムからなる板材における銅層(2a)上に予
備半田(2b)を施す。次にこの板材を各々取付凹部(
1a)に装着可能な如く大きさに切断して半導体素子装
着用板材(2)を形成する。
次に半導体素子装着用板材(2)を冷却用板材(1)の
凹部(1a)内にアルミニウム板同志が対向する様に載
置した状態で、これらを超音波溶接機(5)のアンビル
(8)の端面に設置し、次いで、チップ(6)を半導体
素子装着用板材(2)上に配置する。そして、そのチッ
プ(6)を矢印(p)方向に移動させ板材(2) (1
)をチップ(6)によりアンビル(8)に所定の圧力(
15okg)で押圧させて、チップ(6)及びアンビル
(8)の突起(6a)(8m)を板材(2) (1)の
反接合面に喰い込ませる。而して、チップ(6)及びア
ンビル(8)により各板材(2) (1)の接合部を加
圧した状態で、チップ(6)に超音波振動を印加し、チ
ップ(6)を矢印(f)方向に振動させて板材(2)(
1)の接合面を摩擦すれば各板材(2) (1)は接合
部にて接合が行なえる。この後、半導体素子装着用板材
(2)にダイオード(6)を半田(4)にて順次固着す
る。
上記の如〈実施例のものにあっては、冷却用板材(すと
半導体素子装着用板材(2)とを超音波溶接にて固着す
るようにしているので、従来の如く冷却用板材(1)の
凹部(1a)に各々カッパライジング等にて銅層(2a
)を形成するものに比して製作が極めて容易で量産性に
富み自動化も可能にし得るものである。
また、半導体素子装着用板材(2)は予備半田(2b)
が施されであるので、その銅層(2a成面において加工
硬化がなくなり、焼なまし作用と同様の状態となり、超
音波溶接の際に銅層(20が破れるという不具合を皆無
にする効果を奏するものである。
尚、上述では、冷却用板材(1)並びに半導体素子装着
用板材(2)の母材としてアルミニウムを使用したもの
を例示したがアルミニウム合金でもよい。
また、半導体素子装着用板材(2)に銅層(2a)を被
覆したものを例示したが他にニッケル、錫等の半田付良
好な金属を被覆させてもよい。更に上述では半導体素子
装着用板材(2)の片面に銅層(2a)並びに予備半田
(2b)を施すものを例示したがこれに限定されるもの
ではない。
以上のようにこの発明では、アルミニウムまたはその合
金より形成された冷却用板材と、半田付良好な金属が被
覆されたアルミニウムまたはその合金よりなる半導体素
子装着用板材とを超音波溶接にて固着するようにしてい
るので、従来の如くアルミニウム製冷却板材に局部メッ
キ、局部蒸着するものに比して製作が極めて容易で、量
産性に富み自動化も可能にできる実用的な効果を有する
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図は第
1図に示す実施例の要部を示す斜視図、第8図は第1図
に示す実施例の別の要部を示す断面図、第4図は第1図
に示す実施例における超音波溶接状態を示す断面図であ
る。 図中、(1)は冷却用板材、(1a)は取付凹部、(2
)は半導体素子装着用板材、(2a)は銅層、(2b)
は予備半田、(3)はダイオード、(4)は半田、(5
)は超音波溶接機、(6)はチップ、(7)は固定支持
部材、(8)はアンビルである。 尚、各図中同一符号は同一部分を示す。 代理人 葛野信− 第1図 第2図 第3図 第4図 ↓

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)アルミニウムまたはその合金より形成された冷却
    用板材、及び半田付良好な金属が被覆され上記冷却用板
    材に超音波溶接にて固着されたアルミニウムまたはその
    合金による半導体素子装着用板材を備えた半導体素子用
    冷却装置。 (2、特許請求の範囲第(1)項記載のものにおいて、
    半田付良好な金属は鋼材であることを特徴とする半導体
    素子用冷却装置。 (3)特許請求の範囲第(1)項または第(2)項に記
    載のものにおいて、半導体素子装着用板材における半田
    付良好な金属被覆上には予備半田が施されていることを
    特徴とする半導体素子用冷却装置。
JP5624982A 1982-04-02 1982-04-02 半導体素子用冷却装置 Pending JPS58173854A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5624982A JPS58173854A (ja) 1982-04-02 1982-04-02 半導体素子用冷却装置
US06/479,073 US4546409A (en) 1982-04-02 1983-03-25 Device for cooling semiconductor elements
FR8305477A FR2524708B1 (fr) 1982-04-02 1983-04-01 Dispositif pour le refroidissement d'elements a semi-conducteurs
GB08309103A GB2117972B (en) 1982-04-02 1983-04-05 Device for cooling semiconductor elements

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5624982A JPS58173854A (ja) 1982-04-02 1982-04-02 半導体素子用冷却装置

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JPS58173854A true JPS58173854A (ja) 1983-10-12

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ID=13021809

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5624982A Pending JPS58173854A (ja) 1982-04-02 1982-04-02 半導体素子用冷却装置

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JP (1) JPS58173854A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5378210A (en) * 1991-12-27 1995-01-03 Tochigi Fuji Sangyo Kabushiki Kaisha Gear transmission apparatus

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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EP0548955B1 (en) * 1991-12-27 1997-06-18 Tochigifujisangyo Kabushiki Kaisha Gear transmission apparatus

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