JPS58171800A - 部分的製品用のプログラマブルアドレスバツフア - Google Patents

部分的製品用のプログラマブルアドレスバツフア

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JPS58171800A
JPS58171800A JP58045335A JP4533583A JPS58171800A JP S58171800 A JPS58171800 A JP S58171800A JP 58045335 A JP58045335 A JP 58045335A JP 4533583 A JP4533583 A JP 4533583A JP S58171800 A JPS58171800 A JP S58171800A
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    • GPHYSICS
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    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、集積回路に関するものであって、更に詳細に
は、少なくとも1部が欠陥しており少なくとも1部が動
作可能である集積回路メモリを使用する装置に関するも
のである。
集積回路を開発する上での目標の1つは、チップ上に集
積化させるコンポーネントのコストを低下させることで
ある。与えられたプロセスに対して、一層多数のコンポ
ーネントを与えられたチップに集積化することにより、
チップ寸法が増加し、歩留が減少し、コストが増加する
集積回路の製造歩留を低下させる原因は大略2つの分野
に分類することが可能である。即ち、プロセスパラメー
タに於ける変動に起因する性能上の破損及び隔離された
欠陥に起因する構造的破損である。性能上の破損は、通
常、チップの全体又はウェハ全体を駄目にするが、構造
上の破損は部分的に動作可能なチップを生成することと
なり、このことは特にメモリその他の回路で同一のコン
ポーネントを多数有する回路にとって言えることである
。例えば、64にビットメモリに於ける構造的な欠陥は
メモリの1部を破壊するだけであって、32にビットの
大きさの゛部分的な゛′叡品として使用することが可能
である。
処分して捨てられる様なものから事実上製品として提供
することの可能なものを製造することが可能であるが、
多くの問題が存在する為に、部分的な製品の1造及び販
売はあまり行なわれていない。この様な製品を1逸する
場合には、異なったビン接続を必要とする個別的な製品
どして異なった部分的な製品をストックし且つ販売する
ことが必要であり、従って経費を増加させることとなる
この様な製品を使用するユーザは、周一の寸法を有する
部分的な製品に対し種々のソケットを使用して興なった
配線接続をすることが必要であり、各々の部分的な製品
の在庫を維持することが必要となる。更に、この様な部
分的な製品の1造梁者が成る特定の部分的な製品が不足
している場合には、配達計画を遵守する為に部分的では
なく全体として良品の製品を代替的に供給することを余
儀無くされることがあり、一方生産を増加させることに
よって需要のある特定の種類の部分的製品をココ多く生
産することが余儀無くされる場合がある。しかしながら
、この様に生産を増加させると、wlNのない様な他の
種類の部分的製品も製造されることとなる。
本発明は、以上の点に1みなされたものであって、上述
した如き従来技術の欠点を解消するものであり、ユーザ
が製品のどの部分が動作可能状態乃至は機能的であるか
ということを知る必要性なしに自動的に製品の動作可能
部分をアドレスすることが可能な方式を与えることによ
って部分的に欠陥のある種々の製品から単一のタイプの
部分的製品乃至は低集積度製品(典型的′にはメモリ)
を生成することの可能な技術を提供することを目的とす
る。本発明に於いては、^集積度メモリから生じる多数
の部分的製品から単一の低集積度メモリを製造すること
を可能とする。本発明の1形態に於いては、少なくとも
4個の部分を有するコンポーネントの4対の動作可能部
分をアドレスする装置を提供するものであって、前記@
1が、Aアドレス入力端と、Bアドレス入力端と、前記
Bアドレス入力端に接続されているBアドレス出力端と
、前記Bアドレス入力端及びBアドレス出力端とに接続
されている第1インバータと、第1ノードを前記Aアド
レス入力端及びBアドレス入力端の一方のみとスイッチ
動作によって接続させるべく接続されている第1スイツ
チと、Aアドレス出力端を前記第1ノード又は第2ノー
ドの一方にのみスイッチ動作によって接続させるべく接
続されている第2スイツチと、前記第1ノードと前記第
2ノードとの闇に接続されている第2インバータと、前
記Aアドレス出カ端とAアドレス出力端との間に接続さ
れている第3インバータとを有することを特徴とするも
のである。
本発明の別の形態に於いては、少なくとも4個の部分を
有するメモリの任意の対の動作可能部分をアドレスする
装置を提供するものであって、前記′@置が、Aアドレ
ス入力端と、8アドレス入力端と、前記Aアドレス入力
端又はBアドレス入力端の一方を第1ノードへスイッチ
動作によって接続すべく接続されている第1スイツチと
、前記Aアドレス入力端又はBアドレス入力端の一方を
第2ノードヘスイツチ動作によって接続すべく接続され
ている第2スイツチと、前記第1ノード又は第3ノード
の一方をAアドレス出力端へスイッチ動作によって接続
すべく接続されている第3スイツチと、前記第2ノード
又は第4ノードの一方をBアドレス出力端へスイッチ動
作によって接続すべく接続されている第4スイツチと、
前記第1ノードと13ノードとの間に接続されている第
1インバータと、前記第2ノードと第4ノードとの間に
接続されている第2インバータと、前記Aアドレス出力
端とAアドレス出力端との聞に接続されている第3イン
バータと、前記Bアドレス出力端と8アドレス出力端と
の闇に接続されている第4インバータとを有することを
特徴とするものである。
本発明の更に別の形態に於いては、回路の少なくとも4
個の部分の少なくとも2つの部分のアドレス動作を制御
する装−を提供するものであって、前記装置が、第1溶
融手段によって第1アドレスバツフアに接続されている
第1ビンと、第2111手段によって第2アドレスバツ
フアに接続されている第2ビンと、各アドレスバッファ
を2つの選定電位の一方へ電気的に接続させる為の可溶
手段と、前記第2ビンを前記第1アドレスバツフアへ電
気的に接続させる手段とを有することを特徴とするもの
である。
以下、添付の図面を参考に、本発明の具体的実施の態様
について詳細に説明する。以下の説明に於いては、本発
明を4個の部分に分割されており各々の部分が16にビ
ットを有する64にビットメモリに関して適用した場合
について説明する。
以下の実施例の説明に於いては、部分的に欠陥のある6
4にビットチップから32にビットの製品を製造するも
のと仮定する。しかしながら、以下に記載する技術はそ
の他の寸法のメモリ又はその他の製品及び4個の部分よ
り少ないか又は多い部分を有する四品に対しても同様に
適用可能なものである。尚、“部分的製品”という用語
は製品の特定の部分をアドレスする為に2個以上のアド
レスビットを必要とする製品のことを意味し、一方“′
低集積度製品”という用語は特定の部分をアドレスする
為により少ない数のアドレスビットを必要とする製品の
ことを意味している。例えば、4個の部分からなるメモ
リの2個の部分からなる部分的製品に於いてはこれら2
個の部分を選択する為には2個のアドレスビットが必要
であり、一方低集積It@品に於いては1個のアドレス
ビットのみを必要とするのみであり、選択された特定の
部分はその1個のビットの状態によって決定される。
以下に示す表1は2個のアドレスライン又はアドレスA
及びBの状態を使用してメモリ又はその他のコンポーネ
ントの4個の部分の夫々を如何にアドレスすることが可
能であるかということを示している。例えば、従来のア
ドレスレコーダに於いては、AがOでありBが1である
アドレスをメモリの部分2をアドレスするものとして解
釈する。
表−二L 4 の 分の の1 のアドレス動 アドレス 八  8    ア゛レスされた部分 0 0      1 01       2 1 0      3 1 1      4 以下に示す表2は、メモリの4個の部分の内の2個の部
分を如何にしてアドレスすることが可能であるかという
ことを示している。例えば、Bが0である場合には、部
分1及び3がアドレスされ、特定の部分はビットAの状
態によって決定される。
表2に示した6個の異なったアドレス状態は、各々が6
4にビットメモリの部分の対によって形成される32に
ビットを有する6個の部分的製品Pl乃至P6を個別的
にアドレスする機能を有する。
L−」し Pi    A−OB−X      1,2P2  
  A−I   B−X     3.4P3    
A−X   B−01,3P4    A−X   B
−12,4P5    A−81,4 P6    A−82,3 (尚、X−0又は1) 第1図は、2個の外部アドレス入力端11及び12と4
個の内部アドレスライン13.14.15.16との間
を接続している2個のスイッチを具備したプログラマブ
ル(■込可能)アドレスバッファを示している。後述す
る如く、プログラマブルなスイッチS1及びS2の状態
を適宜プログラム(■込)することによって、表2に掲
載した6個の可能な部分的製品(各部分的製品それ自身
が2個の16にビット部分を有している)の内の4個の
部分的製品の何れか1個をビンA及びビンBへ接続させ
ることが可能である。更に、これら4個の部分的製品の
何れかに対して必要なアドレス動作はアドレス入力端1
1及び12に接続されている特定の部分に影響を与える
ことはない。1個の動作可能な32に製品を得る為に6
個の全ての部分的製品が必要とされる場合には、第2図
に示した様な4個のスイッチを具備したプログラマブル
アドレスバッフ7を使用することとなる。
第1図に於いて、スイッチS1及びS2の通常位置は実
線で示されており、一方プログラムした位置は点線で示
しである。これらのスイッチS1及びS2が通常位置に
ある場合には、出hアドレスAがライン13上に瑛われ
、アドレスAがライン14上に現われ、アドレスBがラ
イン15上に現われアドレスBがライン16上に現われ
る。第1図に示した実施例に於いては、A端子11に与
えられる外部アドレスは常に0であり、表2に示した如
く、部分的製品P1と呼ばれる。従って、これらのスイ
ッチが通常位置にある場合には、メモリの4個の部分の
内の部分1及び2がアドレスされ、部分1及び2の一方
が8アドレス入力の状態に応じて選択される。この通常
の状態を以下に示す表3の第1行目に示しである。
スイッチ$1をプログラム位置に移動させると、端子1
1からのAアドレスがインバータ110によって反転さ
れ、その結1!Aがライン13に供給され、一方インバ
ータ120はAアドレスをライン14へ供給させる。端
子11へ供給されるAアドレス入力は常に0であるので
、ライン13上の出力は1であり、従ってメモリの部分
3及び4が選択され、且つこれらの部分3及び4の一方
が8アドレス入力の状態によって選択される。この状態
を表3の2行目に示しである。
スイッチS1を通常位置に残したままスイッチS2をプ
ログラム位置に変化させると、端子12に供給される入
力アドレスBがライン13上及びライン15上に現われ
る。この様にライン13の状態はうイン15の状態と常
に同じであるので、表2に示したA−Bアドレスが得ら
れ、表3の3行目に示した如く、メモリの部分1及び4
がアドレスされる。
同様に、スイッチS1及びS2の両方が10グラム位1
に設定されると、表2に示したアドレスA−8がライン
13及び16上に現われ、表3の4行目に示した如く、
メモリの部分的製品P6(部分2及び部分3からなる)
がアドレスされる。
−1 プログラム位1に 分的         したスイッチ P1無 P2        81 P5        82 P6        81及びS2 第2図は、アドレスバッファ10と同様の動作を行なう
4個のスイッチを具備したプログラマブルアドレスバッ
ファ20を示している。バッファ10に於いては、8入
力端12への入力がライン13及び14へ供給されてい
る。バッファ20に於いてもこの点に関しては同様であ
り、更に端子20への六入力をライン25及び26へ供
給させており、従って表2の3行目及び4行目に示した
アドレス状態を得ることを可能としており、従って部分
1及び3又は部分2及び4をアドレス動作することを可
能としている。これらの対部分は第1図に示したアドレ
スバッファ10を使用した場合にはアドレスすることは
不可能である。
第3図は第1図及び第2図に示したプログラマブルスイ
ッチの1実施例を示しており、即ちプログラマブルスイ
ッチとしてMoSトランジスタを使用した場合を示して
いる。第3図に示した2個のMOSトランジスタへ供給
する制−信号Cは、第5図に示した回路を使用すること
によって発生させることが可能である。第5図に示した
如く、制御信@Cは通常高状態であり、従ってCは通常
低状態である。ヒユーズ51が焼切られると、信号C及
びCは夫々の論理状態を逆転させる。この様にして、第
3図に示したスイッチング動作を得ることが可能となる
第4図は、第1図及び第2図に示したプログラマブルス
イッチを論理ゲートを使用して構成した場合の実施例を
示している。第4図に示した論理ゲートは、第1AND
ゲート41と、第2ANDゲート42とORゲート43
とを有している。第4図に示した如(、このような論理
ゲート構成から得られる出力は、Cが1である場合には
信号IN+であり、一方CがOである場合には信号IN
2である。
第5図に示した制御信号発生器は、トランジスタ52に
よって供給されるプログラム信号(■込信号)PSNに
よって制御される。プログラム信号PSNはスイッチが
プログラムされている場合には^レベルとなり、従って
制御信号Cを高状態から低状態ヘスイッチさせる。トラ
ンジスタ53はデプリション型のデバイスであって、ブ
リーダとして機能する。この様な信号発生器は、K、 
KOkkOnOn等著による“メモリ及び冗長技1i(
Mesorles  and  Redundancy
  Techniques )”。
1981国際固体回路会議のテクニカルベーバーズダイ
ジェスト、80−81頁の文献に記載されている。
第6図は、図示した如く、トランジスタ61へ供給され
る負のプログラム電圧VPからプログラム信号PSNを
発生する1例を示している。この負電圧は、VPが通常
の動作範囲内にある場合にはφ口を高状態とさせ、一方
VPが接地電位よりもスレッシュホールド電圧を超えて
低い値にある場合にはφDを低状態とさせる。
第7図は、電圧Vcoよりも高いプログラム電圧レベル
を使用して図示したフリップ70ツブ71をトリガーす
るのに必要な最小電圧によって如何にしてプログラム信
号PSNを得ることが可能であるかということを概略水
している。プログラム電圧vPは、チップに接続されて
いる外部ビンを介して供給される。第6図及び第7図に
示した実施例の何れかを選択するかということに従い高
又は低のプログラム電圧を使用することが可能であるの
で、通常の信号の範囲がプログラム動作をトリガーする
のに必要なレベルに到達しない様なその他の目的を達成
する為にプログラムする為に使用したのと同一のビンを
使用することが可能である。
第8図は公知の簡単な電圧倍増器乃至は増幅器を例示し
ており、これを第6図及び第7図に示した装置と共に使
用することが可能である。
第9図は、上述した如き方法で本発明を構成する場合の
回路の好適実施例を示した如く、本発明回路はポンディ
ングパッド100及び110と内部列アドレスバッフ?
150及び160との間に構成されている。これらのポ
ンディングパッドは、集積回路の周辺部の領域であって
、その集積回路を内包するパッケージに対し電気的接続
を形成することが可能である。第9図に概略水した如く
、ポンディングパッド100は内部列アドレスバッファ
150と行アドレスバッファ(不図示)の両方へ接続さ
れている。ポンディングパッド110についても同様の
接続がなされている。第9図に示した特定の回路に於い
ては、図示した如く、10個のトランジスタTl−T1
0及びヒユーズF1−F7が設けられている。トランジ
スタT1乃至T5はデブリション型又はエンハンスメン
ト型のトランジスタとすることが可能であり、それらの
ゲートはクロック信号又は電圧Vco乃至はそれらのソ
ースへ接続させることが可能である。トランジスタT1
乃至T5の形状は可及的に小型なものとし、適宜のヒユ
ーズが焼切られる場合にトランジスタT6乃至TIOの
ゲート上に一層高い電圧を維持する為に幾分かのリーク
電流が得られる構成とする。
図示した如く、ヒユーズF1とアドレスバッファ150
との間に延在しているライン271はトランジスタT7
を介して正電圧+V又はトランジスタT8を介して接地
へ選択的に接続させることが可能である。トランジスタ
T6のソース及びドレインはライン260とライン27
1とに接続されており、トランジスタT6のゲー1〜は
トランジスタT1及びヒユーズ[4によって制御される
同様に、ヒユーズF5とアドレスバッファ160との間
に延在している接続ライン261は、トランジスタT9
を介して正電圧へ接続するか又はトランジスタT10を
介して接地へ接続させることが可能である。
好適実施形態に於いては、これらのヒユーズをレーザを
使用することによって゛焼切°′することが可能な構成
とする。この様な技術は、J、F。
M 、 B 1ndels著による゛耐欠陥性VLSI
メモリに於ける経済的歩留改善(Co5t −E He
ctlveY 1eld  l 1prOV+318n
t  in  F ault −T o+erantV
 L S I  Memory ) ” 、 1981
国際固体回路会議のテクニカルベーバーズダイジェスト
、82−83員、の文献に記載されている。
以下に示す表4は、所望の早業積度部分的製品から手業
積度メモリを得る為に焼切るべき特定のヒユーズを纏め
て示している。例えば、表4の1行目に示した如く、部
分1と部分3とを選択する場合には、ヒユーズF1及び
「3の両方を焼切る。
ヒユーズF1を焼切ることにより、ポンディングパッド
100がアドレスバッファ150から遮断される。ヒユ
ーズF3を焼切ることにより、AC7アドレスバツフア
をトランジスタT8を介して接地接続させ、従って内部
アドレスバッファ150をO”状態に保持する。この様
にして、列アドレスAc 7がOである部分的製品が3
2にメモリへ変換され、その部分の選択はバッド110
へ供給されるアドレスによって決定される。表4の2行
目に示した如く、メモリの部分2及び部分4が動作可能
であり機能状態にある場合には、ヒユーズF1及びF2
を焼切る。この様にして、内部列アドレスバッファ15
0は常にトランジスタT7へ接続され、バッファ150
に対し“1”状態を形成する。
メモリの部分1及び部分2が動作可能状態にあり、部分
的製品を構成する為に選択される場合にはヒユーズF1
.F4.F5.F7を焼切る。ヒユーズF1及びF5を
焼切ることにより、ポンディングパッド100をバッフ
ァ150から断絶させ、且つポンディングパッド110
をバッファ160から断絶させる。ヒユーズF7を焼切
ることにより、バッファ160がトランジスタT10を
介して接地接続され、従ってアドレスバッファ160に
対してO状態が形成される。ヒユーズF4を焼切ること
により、トランジスタT6はオン状態を帷持し、従って
ライン271をライン260へ接続させ、バッファ15
0の状態がポンディングパッド110へ与えられるアド
レスによって制御することが可能となる。
ヒユーズF1.F4.F5.F6を焼切ることにより、
メモリの部分3と部分4とが選択されることとなる。こ
れらのヒユーズを焼切ることにより、アドレスバッファ
160は“1″のみを供給し、一方バッファ150の状
態はポンディングパッド110へ与えられる信号によっ
て制御することが可能となる。最後に、ヒユーズE1と
F4のみを焼切った場合には、ポンディングパッド10
0が回路の残部から断絶され、トランジスタT6は常に
オン状態となる。従って、アドレスバッフア150及び
160の状畷は常に同じであり、且つポンディングパッ
ド110へ与えられる信号に依存することとなる。
1 選択された              八属2Fk区
したヒユーズ     Ac7Ac6 (1)Ac7−0  1,3    FI  Fa  
        OAC6(2)Ac7−1  2.4
    FI  F2         1    A
C6(3)AC6=0  1.2    PI  F4
  F5  F7   AC60(4)Ac6=1  
3.4    PI  F4  FI  Fs   A
c6   1(5)Ac7    1.4    FI
  F4          AC6AC6Ac 6 本発明によって、夫々興なった部分的製品を単一の手業
積rx1品であって、その製品のユーザにとってはその
1品の個々の部分のアドレス動作に感知する必要のない
一品に変換することが可能である。本発明の回路は製品
の速度に影響を与えることはなく、電力消費及び回路構
成に於ける増加部分は無視可能な程度である。早業積度
製品が得られるので、メモリ又はそれと共に使用される
その他の一品の応用を著しく簡単化させる。ユーザは、
メモリのアドレス機能に影響を与えることなしにアドレ
スAC7として“1′′又は“0″の何れかを自由に選
択することが可能である。
本発明の部分的メモリ選択アドレス機能は、何等付加的
なビンを必要とすることなしに任意の製品及び技術と共
に構成することが可能である。適宜のアドレスバッファ
をプログラム(書込)することは、チップをウェハから
分離する前又はパッケージを行なった後に於いても行な
うことが可能である。本発明は、^い集積度のメモリ製
品から得られる部分的な製品の多数の種類のものから単
一の種類の低集積度のメモリを得ることを可能とするも
のである。
以上、本発明の具体的構成について詳細に説明したが、
本発明はこれら具体例にのみ限定されるべきものではな
く、本発明の技術的範囲を逸脱することなしに種−々の
変形が可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は6個の潜在的な部分的製品を有する装置l内に
於いて4個の異なった部分的製品をアドレスするのに適
したプログラマブルアドレスバッファを示した論理回路
図、第2図は611の部分的製品を有するメモリ内に於
いて各部分的製品をアドレスするのに適したプログラマ
ブルアドレスバッファを示した論理回路図、第3図は第
1図及び第2図に於いて使用されるプログラマブルスイ
ッチの2つの状態を示した説明図、第4図は第3図に於
いて使用されるスイッチに対応する論理回路図、第5図
は制御信号を発生する為のプログラマブルなヒユーズを
有する1実施例を示した回路図、第6図はプログラマブ
ルスイッチ用のプログラム信号を発生する為の1例を示
した回路図、第7図はプログラム信号を発生する別の例
を示した回路図、第8図は電圧倍増器を示した回路図、
第9図は本発明の好適実施例を示した回路図、である。 (符号の説明) A、B:  アドレス(アドレスライン)11.12 
 :  外部アドレス入力端13−16 :  内部ア
ドレスライン110、 120.  I30:  イン
バータ81.82 :  プログラマブルスイッチ10
0.110 :  ポンディングパッド150; 列ア
ドレスバッファAO7 160: 列アドレスバッファAc6 特許出願人   フェアチアイルド カメラアンド イ
ンストルメント コーポレーション 図面の浄訳内容に変更なし) FIG、3 手続補正型 昭和58年 5月11日 特許庁長官 若杉和夫 殿 1、事件の表示   昭和58年 特 許 願 第 4
5335  号2、発明の名称   部分的製品用のプ
ログラマブルアドレスバッフ73、補正をする者 事件との関係   特許出願人 コーポレーション 4、代理人 5、補正命令の日付   自  発 6、補正により増加する発明の数  な  し7、補正
の対象    委 任 状、 図  面8、補正の内容
     別紙の通り

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくとも4個の部分を有する回路の2個の部分を
    アドレスする装置に於いて、Aアドレス入力端と、Bア
    ドレス入力端と、前記Bアドレス入力端に接続されてい
    るBアドレス出力端と、前記Bアドレス入力端と8アド
    レス出力端とに接続されている第1インバータと、前記
    Aアドレス入力端及びBアドレス入力端の一方のみを第
    1ノードへスイッチ動作によって接続させるべく接続さ
    れている第1スイッチ手段と、前記第1ノードに接続さ
    れている第2インバータと、前記第1ノード又は前記第
    2インバータの一方を第2ノードへスイッチ動作によっ
    て接続させるべく接続されている第2スイッチ手段と、
    前記第2ノードへ接続されているAアドレス出力端と、
    第3インバータを介して前記12ノードへ接続されてい
    るAアドレス出力端とを有することを特徴とする装置。 2、上記第1項に於いて、前記第1スイッチ手段及び第
    2スイッチ手段の各々が第lMOSトランジスタ及び第
    2M0Sトランジスタを有していることを特徴とする装
    置。 3、上記第2項に於いて、前記MOSトランジスタの各
    々がソースとドレインとゲートとを有していることを特
    徴とする装置。 4、上記第3項に於いて、前記第1トランジスタのソー
    ス及びドレインの一方が前記第2トランジスタのソース
    及びトレインの一方へ接続されると共に出力端子へ接続
    されていることを特徴とする装置。 5、上記第4項に於いて、前記第1トランジスタのソー
    ス及びドレインの他方へ第1人力信号が印加され、前記
    第2トランジスタのソース及びドレインの他方へ第2人
    力信号が印加されることを特徴とする装置。 6、上記第5項に於いて、前記MOSトランジスタの各
    々のゲートへ制御信号が印加されることを特徴とする装
    置。 7.上記第1項に於いて、前記第1スイッチ手段及び1
    2スイッチ手段の各々が、制御信号と第1人力信号とが
    供給される第1ANDゲートと、第2人力信号と前記第
    1制御信号の反転信号が供給される第2ANDゲートと
    、前記第1ANDゲート及び第2ANDゲートの各々か
    らの出力が入力され且つ出力端子に接続されているOR
    ゲートとを有することを特徴とする装置。 8、回路の少なくとも4個の部分の何れか2個の部分を
    アドレスする装置に於いて、Aアドレス入力端と、Bア
    ドレス入力端と、前記Aアドレス入力端又はBアドレス
    入力端の一方を第1ノードへスイッチング動作によって
    接続すべく接続されている第1スイッチ手段と、前記A
    アドレス入力端又はBアドレス入力端の一方を第2ノー
    ドへスイッチング動作によって接続すべく接続されてい
    る第2スイッチ手段と、前記第1ノード又は第3ノード
    の一方をAアドレス出力端へスイッチ動作によって接続
    すべく接続されている第3スイッチ手段と、前記第2ノ
    ード又は第4ノードの一方を8アドレス出力端へスイッ
    チ動作によって接続すべく接続されている第4スイッチ
    手段と、前記第1ノードと第3ノードとの間に接続され
    ている第1インバータと、前記第2ノードと第4ノード
    との藺に接続されている第2インバータと、前記第3ノ
    ードとAアドレス出力端と゛の間に接続されている第3
    インバータと、前記第4ノードと8アドレス出力端との
    間に接続されている第4インバータとを有することを特
    徴とする装置。 9、上記第8項に於いて、前記第1スイツチ手段乃至第
    4スイッチ手段の各々がMOSトランジスタを有してい
    ることを特徴とする装置。 10、上記第811に於いて、前記第1スイツチ手段乃
    至第4スイッチ手段の各々が、制御信号と第1人力信号
    とが印加される第1ANDゲートと、第2人力信号と第
    1制御信号の反転信号とが印加される第2ANDゲート
    と、前記第1ANDゲート及び第2ANDゲートの各々
    からの出力が入力され且つ出力端子に接続されているO
    Rゲートとを有することを特徴とする装置。 11、回路の少なくとも4個の部分の内の2個の部分の
    アドレス動作を制御する装置に於いて、第1溶融手段に
    よって第1アドレスバツフアに接続されている第1ビン
    と、第2溶融手段によって第27げレスバッファに接続
    されている第2ビンと、前記IIアドレスバッファ及び
    12アドレスバツフアの各々を選択電□位へ電気的に接
    続させる手段と、前記第2ビンを前記第1アドレスバツ
    フアへ電気的に接続させる手段とを有することを特徴と
    する装置。 12、上記第111Nに於いて、前記選定電位が2つの
    異なった電位を有することを特徴とする装13、上記第
    12項に於いて、各アドレスバッファを前記2つの選定
    電位の一方へ電気的に接続させる前記手段が、前記アド
    レスバッファと前記第1電位との間に設けられた第1可
    溶接続体と前記アドレスバッファと前記第2電位との間
    に設けられた第2可溶接続体とを有することを特徴とす
    る装置。 14、上記第1311に於いて、各アドレスバッファを
    他方の電位へ電気的に接続させる前記手段が第3可溶接
    続体を有することを特徴とする装置。 15、上記第14項に於いて、各アドレスバッファを前
    記選定電位の一方へ電気的に接続させる前記手段が、ソ
    ースとドレインとを前記選定電位と前記アドレスバッフ
    ァとに接続させた第lMOSトランジスタを有すること
    を特徴とする装置。 16、上記第15項に於いて、前記MOSトランジスタ
    のゲートが可溶手段と第2M0Sトランジスタとの閣の
    ノードへ接続されていることを特徴とする装置。 17、上記第16項に於いて、前記第2M0Sトランジ
    スタのソース及びドレインの一方とゲートとが電気信号
    源へ接続されていることを特徴とする′@胃。 18、上記第17項に於いて、接地と前記ノードとの間
    にヒユーズが接続されていることを特徴とする特許
JP58045335A 1982-03-19 1983-03-19 部分的製品用のプログラマブルアドレスバツフア Granted JPS58171800A (ja)

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US360029 1982-03-19
US06/360,029 US4476546A (en) 1982-03-19 1982-03-19 Programmable address buffer for partial products

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Publication Number Publication Date
JPS58171800A true JPS58171800A (ja) 1983-10-08
JPH0245280B2 JPH0245280B2 (ja) 1990-10-08

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ID=23416305

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JP58045335A Granted JPS58171800A (ja) 1982-03-19 1983-03-19 部分的製品用のプログラマブルアドレスバツフア

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DE (1) DE3379694D1 (ja)

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EP0098755A3 (en) 1986-12-17
EP0098755A2 (en) 1984-01-18
CA1187176A (en) 1985-05-14
EP0098755B1 (en) 1989-04-19
DE3379694D1 (en) 1989-05-24
JPH0245280B2 (ja) 1990-10-08
US4476546A (en) 1984-10-09

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