JPS58164092A - 書込み・読出しicメモリ - Google Patents
書込み・読出しicメモリInfo
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- JPS58164092A JPS58164092A JP58033713A JP3371383A JPS58164092A JP S58164092 A JPS58164092 A JP S58164092A JP 58033713 A JP58033713 A JP 58033713A JP 3371383 A JP3371383 A JP 3371383A JP S58164092 A JPS58164092 A JP S58164092A
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- memory
- comparator
- transistors
- signal
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、メモリセルが一トランジスタ・メモリセルと
して構成され、またメモリを含む半導体チップ上にマト
リクスの行および列に沿って配置されており、各マトリ
クス列にはたとえばRSフリップフロップの形態の各1
つのコンパレータと構成の点ではメモリセルと同様の少
なくとも各1つの比較セルとがズ」応づけられており、
各マトリクス列の同様の比較セルにより1つの追加的な
−7トリクス行が形成さ1tており1列に関するアドレ
ス指定は個々の列のメモリセルを付属の比較セルとなら
んでそれぞれ一括する各1つのビット線を弁して行なわ
れ、また行に関するアドレス指定は当該の−7トリクス
行に属する一トランジスタ・メモリセルを一括する各1
つのワード線を介して行すわλtており、コンパレータ
への電圧印加が一方では付属のビット線に与えらオする
信号に基づいて、また他方では供給電位とコンパレータ
の供給゛退位端子−との間の断続的接続に基づいて行な
われる書込み・読出しICメモリに関する。
して構成され、またメモリを含む半導体チップ上にマト
リクスの行および列に沿って配置されており、各マトリ
クス列にはたとえばRSフリップフロップの形態の各1
つのコンパレータと構成の点ではメモリセルと同様の少
なくとも各1つの比較セルとがズ」応づけられており、
各マトリクス列の同様の比較セルにより1つの追加的な
−7トリクス行が形成さ1tており1列に関するアドレ
ス指定は個々の列のメモリセルを付属の比較セルとなら
んでそれぞれ一括する各1つのビット線を弁して行なわ
れ、また行に関するアドレス指定は当該の−7トリクス
行に属する一トランジスタ・メモリセルを一括する各1
つのワード線を介して行すわλtており、コンパレータ
への電圧印加が一方では付属のビット線に与えらオする
信号に基づいて、また他方では供給電位とコンパレータ
の供給゛退位端子−との間の断続的接続に基づいて行な
われる書込み・読出しICメモリに関する。
このようなダイナミックに作動する書込み・続出しIC
メモリの通常の組織では、メモリマトリクスのも列に列
方向に平行に延びかつ当該のマトリクス列内に設けられ
たートランジスタ・メモリセルと接続された各1つのビ
ット線が対応づけられており、このビット線がコンパレ
ータの一方のΔカ端に接続されている。コンパレータの
他方の入力端には、コンパレータと協同して当該のマト
リクス列のアドレス指定により選択されたメモリセルの
ディジタル作動状態の判定を可能にする比較セルが接続
されている。
メモリの通常の組織では、メモリマトリクスのも列に列
方向に平行に延びかつ当該のマトリクス列内に設けられ
たートランジスタ・メモリセルと接続された各1つのビ
ット線が対応づけられており、このビット線がコンパレ
ータの一方のΔカ端に接続されている。コンパレータの
他方の入力端には、コンパレータと協同して当該のマト
リクス列のアドレス指定により選択されたメモリセルの
ディジタル作動状態の判定を可能にする比較セルが接続
されている。
一トランジスタ・メモリセルとして構成されている。そ
れらは特にnチャイ・ル形式の各1つの自己阻止性MO
8)ランスファトランジスタから成り。
れらは特にnチャイ・ル形式の各1つの自己阻止性MO
8)ランスファトランジスタから成り。
そのソースまたはドレインは付属のビット線に接続され
ており、またそのゲートは当該のメモリセルに対応づけ
られておりかつ当該のメモリセルを含むマトリクス行に
沿って延びているワード線に接続されている。当該のメ
モリセルのトランスファトランジスタの他方の電流端子
(ドレインまたはソース)は特にMOSバラクタにより
形成された記憶キャパシタの一方の極に接続されており
、その他方の極は回路の固定電位たとえば基準電位(接
地電位)に接続されている。比較セルに対しては個々の
マトリクス行のワード線に相当するアドレス線(ダミー
線)が設けられており、それを介して追加的なマトリク
ス行を形成する比較セルのトランスファトランジスタの
ゲートがデコーダにより制御される。その他の点では個
々の比較セリセルの構成および接続と同じである。個々
のマトリクス行、従ってまたワード線に属するメモリセ
ルのトランスファトランジスタは前記のように共1由に
それらのゲートで当該のワード線に接続されており、そ
れを介して制御されろ。
ており、またそのゲートは当該のメモリセルに対応づけ
られておりかつ当該のメモリセルを含むマトリクス行に
沿って延びているワード線に接続されている。当該のメ
モリセルのトランスファトランジスタの他方の電流端子
(ドレインまたはソース)は特にMOSバラクタにより
形成された記憶キャパシタの一方の極に接続されており
、その他方の極は回路の固定電位たとえば基準電位(接
地電位)に接続されている。比較セルに対しては個々の
マトリクス行のワード線に相当するアドレス線(ダミー
線)が設けられており、それを介して追加的なマトリク
ス行を形成する比較セルのトランスファトランジスタの
ゲートがデコーダにより制御される。その他の点では個
々の比較セリセルの構成および接続と同じである。個々
のマトリクス行、従ってまたワード線に属するメモリセ
ルのトランスファトランジスタは前記のように共1由に
それらのゲートで当該のワード線に接続されており、そ
れを介して制御されろ。
経験によれば、ダイナミックメモリにおけるアクセス時
間を決定的に支配するのは、いわゆる内部評価の時間的
経過、Tなわちマトリクス列内の互いに等しいコンパレ
ータの機能である。すなわち、付属ビット線信号および
ワード線信号にコンパレータをできるかぎり迅速に応動
させることが望ましい。そのための1つの公知の対策は
、個々の、メモリセルおよび比較セル内に設けられてい
るコンデンサの充電または教室時間を短縮するため、ビ
ット線キャパシタンスを減少し、またはビット線を予充
電することである。
間を決定的に支配するのは、いわゆる内部評価の時間的
経過、Tなわちマトリクス列内の互いに等しいコンパレ
ータの機能である。すなわち、付属ビット線信号および
ワード線信号にコンパレータをできるかぎり迅速に応動
させることが望ましい。そのための1つの公知の対策は
、個々の、メモリセルおよび比較セル内に設けられてい
るコンデンサの充電または教室時間を短縮するため、ビ
ット線キャパシタンスを減少し、またはビット線を予充
電することである。
本発明の目的は、応動時間の短縮に適した別の対策が講
じられているダイナミックメモリを提供することである
。
じられているダイナミックメモリを提供することである
。
この目的は、本発明によれば、冒頭に記載した種類の書
込み・続出しICメモリにおいて、コンパレータの両信
号端子とこれらの端モを制■…する一トランジスタ・メ
モリセルまたは比較セルとの間の接続が各1つの断続(
クロック制御)されるトランスファトランジスタを弁し
て行われており、両トランスファトランジスタのゲート
に共通に印加される断続(クロック)信号が供給電位た
とえば接地電位とコンパレータの供給電位端子との間の
接続を断続する信号により制御される回路部分から発生
されており、この回路部分が、この回路部分から与えら
れる個々の断続信号に基づいて両トランスファトランジ
スタが前記供給電位たとえば接地電位にコンパレータが
接続される時点に先立って低抵抗の導通状態にあり、そ
れによってコンパレータのアクティブ化と同時に導通状
態と比 1較して高抵抗の状態に切換えられま
たは阻止状態にされるように、また前記供給電位をコン
パレータの供給電位端子に接続する断続信号の負のスロ
ープの終了の直後に両トランスファトランジスタが導通
状態に再び切換えられるようにする役割をしていること
を特徴とする書込み・読出しICメモリにより達1戊さ
几る。
込み・続出しICメモリにおいて、コンパレータの両信
号端子とこれらの端モを制■…する一トランジスタ・メ
モリセルまたは比較セルとの間の接続が各1つの断続(
クロック制御)されるトランスファトランジスタを弁し
て行われており、両トランスファトランジスタのゲート
に共通に印加される断続(クロック)信号が供給電位た
とえば接地電位とコンパレータの供給電位端子との間の
接続を断続する信号により制御される回路部分から発生
されており、この回路部分が、この回路部分から与えら
れる個々の断続信号に基づいて両トランスファトランジ
スタが前記供給電位たとえば接地電位にコンパレータが
接続される時点に先立って低抵抗の導通状態にあり、そ
れによってコンパレータのアクティブ化と同時に導通状
態と比 1較して高抵抗の状態に切換えられま
たは阻止状態にされるように、また前記供給電位をコン
パレータの供給電位端子に接続する断続信号の負のスロ
ープの終了の直後に両トランスファトランジスタが導通
状態に再び切換えられるようにする役割をしていること
を特徴とする書込み・読出しICメモリにより達1戊さ
几る。
以下、図面により本発明によるメモリの構1戎およびそ
の作動の仕方を詳細に説明する。
の作動の仕方を詳細に説明する。
第1図に示されているように、コンパレータには好まし
くは回路の曲のトランジスタと同様にnテ・ヤネル形式
で自己IS目止性の2つの互いに等しいJ■O8電界効
果トランジスタから成っている。コンパレータにの両出
力端Sは両トランジスタtのそれぞれ・一方のトランジ
スタのドレインとそれぞれ他方のトランジスタのゲート
とにより形成されており、これらの両トランジスタtの
両ソース端子はコンパレータにの供給電位入力端子aを
形成している。この供給電位入力端子aはたとえば基準
電位(接地電位)により与えられている断続信号φ8を
印加されている。コンパレータKに対すを介してビット
線B LまたはBLからコンパレータにの信号端子Sに
与えられる信号のレベルにより与えられている。
くは回路の曲のトランジスタと同様にnテ・ヤネル形式
で自己IS目止性の2つの互いに等しいJ■O8電界効
果トランジスタから成っている。コンパレータにの両出
力端Sは両トランジスタtのそれぞれ・一方のトランジ
スタのドレインとそれぞれ他方のトランジスタのゲート
とにより形成されており、これらの両トランジスタtの
両ソース端子はコンパレータにの供給電位入力端子aを
形成している。この供給電位入力端子aはたとえば基準
電位(接地電位)により与えられている断続信号φ8を
印加されている。コンパレータKに対すを介してビット
線B LまたはBLからコンパレータにの信号端子Sに
与えられる信号のレベルにより与えられている。
両トランスファトランジスタTはRSフリップフロップ
または他の公知の形態で構成されたコンパレータにの両
信号端子Sの各々とそのコンパレータに対応づけら几で
いる一トランジスタ・メモリセルまたは比較セル(いず
れも図示せず)との間の接続を形成−「る。このことに
ついては、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公告第3
002017号公報または’ 1977 IEEEI
IE Intern−ational 5Qlid −
3tate C1rcuits Confere−nc
e ” 、 第12.13頁に詳細に説明されている
。上記の文献に示されている回路では、コンパレータに
の両信号端子が各1つのMO8電界効果トランジスタを
弁して付属のビット線区間に接続されている。しかし、
これらのトランジスタのゲートには断続される信号では
なく一定の電位が与−に記の文献に既に示されている」
:うに、コンパレータにの迅速な応動を可能にするため
には、コンパレータの信号端子Sに接続すべきビット線
区間BLおよびBLを読出し信号または書込み信号の印
加に先立って予充電することが有利であり、それによっ
て当該のビット線BL、BLに対応づけられているメモ
リセルまたは比較セルの書込み時間も読出し時間も短縮
されるので、コンパレータの応動が血著に迅速化される
。そのためには。
または他の公知の形態で構成されたコンパレータにの両
信号端子Sの各々とそのコンパレータに対応づけら几で
いる一トランジスタ・メモリセルまたは比較セル(いず
れも図示せず)との間の接続を形成−「る。このことに
ついては、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公告第3
002017号公報または’ 1977 IEEEI
IE Intern−ational 5Qlid −
3tate C1rcuits Confere−nc
e ” 、 第12.13頁に詳細に説明されている
。上記の文献に示されている回路では、コンパレータに
の両信号端子が各1つのMO8電界効果トランジスタを
弁して付属のビット線区間に接続されている。しかし、
これらのトランジスタのゲートには断続される信号では
なく一定の電位が与−に記の文献に既に示されている」
:うに、コンパレータにの迅速な応動を可能にするため
には、コンパレータの信号端子Sに接続すべきビット線
区間BLおよびBLを読出し信号または書込み信号の印
加に先立って予充電することが有利であり、それによっ
て当該のビット線BL、BLに対応づけられているメモ
リセルまたは比較セルの書込み時間も読出し時間も短縮
されるので、コンパレータの応動が血著に迅速化される
。そのためには。
個々のビット線区間BLまたはBLと前記供給電位vC
Cとの間に予充電トランジスタt が追加さitており
、そオtらが共1山の断続信号φ7により制御される。
Cとの間に予充電トランジスタt が追加さitており
、そオtらが共1山の断続信号φ7により制御される。
予充電トランジスタL はコンパレータKにkJ Li
yづけら几ているビット線BLおよびBL上で書込みが
行なわれている期間中および1涜出しが行なわれている
期間中は阻止状態にあり、また休止期間中は導・山伏聾
にある。トランジスタt 4−を制4i111する予充
電パルス、φヤの時間的経過は第2: 図および弔4図
に示されている。1さて本発明によるメモリは特に、当
該のコンパレータKに属するビット線1(Lおよび8
Lの予充′屯に関連して第4図に承されている時1量的
経過を有するパルスφ。により両トランスファトランジ
スタTが共11℃に制御さ几るように構成されている。
yづけら几ているビット線BLおよびBL上で書込みが
行なわれている期間中および1涜出しが行なわれている
期間中は阻止状態にあり、また休止期間中は導・山伏聾
にある。トランジスタt 4−を制4i111する予充
電パルス、φヤの時間的経過は第2: 図および弔4図
に示されている。1さて本発明によるメモリは特に、当
該のコンパレータKに属するビット線1(Lおよび8
Lの予充′屯に関連して第4図に承されている時1量的
経過を有するパルスφ。により両トランスファトランジ
スタTが共11℃に制御さ几るように構成されている。
周知のように、ダイナミックメモリのアクセス時間を決
定的に支配するのはコンパレータKによる内部信号評価
の時間的経過である。ビット線区間BLおよびBL上で
、そオtぞれアドレス指定されたメモリセルまたは比較
セルから供給された信号または参照信号がコンパレーク
Kに与えられる。
定的に支配するのはコンパレータKによる内部信号評価
の時間的経過である。ビット線区間BLおよびBL上で
、そオtぞれアドレス指定されたメモリセルまたは比較
セルから供給された信号または参照信号がコンパレーク
Kに与えられる。
両トランスファトランジスタTの制御が、供給電位端子
aに与えられるパルスφ8の各1つにより開始される評
価に対して必切な時間的関係で行なわれることが特に重
要である。コンパレータKによる信頼性に富む評価を可
能(二゛するため、両トランスファトランジスタTは常
時導通状態にくらべて高抵抗の状態にされる。その際、
トランジスタTはIS目止状態にはさfLない。〔本発
明の代替的な実施態様として、その際にトランジスタT
が完全fSl、l止状態にされる実施、1ル様について
は後で説明する−そオtぞれ選択されたメモリセルおよ
び比較セルの作動状態の評価がコンパレータにで行なわ
れた後、評価結果に応じてコンパレークにの信号端子S
に生ずる論理的信号が付属のビット線区間+3 Lまた
はBLに伝達される。
aに与えられるパルスφ8の各1つにより開始される評
価に対して必切な時間的関係で行なわれることが特に重
要である。コンパレータKによる信頼性に富む評価を可
能(二゛するため、両トランスファトランジスタTは常
時導通状態にくらべて高抵抗の状態にされる。その際、
トランジスタTはIS目止状態にはさfLない。〔本発
明の代替的な実施態様として、その際にトランジスタT
が完全fSl、l止状態にされる実施、1ル様について
は後で説明する−そオtぞれ選択されたメモリセルおよ
び比較セルの作動状態の評価がコンパレータにで行なわ
れた後、評価結果に応じてコンパレークにの信号端子S
に生ずる論理的信号が付属のビット線区間+3 Lまた
はBLに伝達される。
本発明に基づいて、その際に下記の動作が行なわれる。
最初に可及しておくべきこととして、いずれの場合にも
コンパレータにの両信号端子Sの間には付属の両ビット
線区間BLおよびBL上に伝達丁べきそれぞnlつの信
号差(すなわち2つの倫理レベル゛°0″と°1′との
間の差)が存在する。しかし予め1両ビット線区間の間
に存在する信号差をコンパレータKによる評価のためコ
ンパレータKに伝達する必要がある。この伝達の声めの
最初の段階で両トランスファトランジスタTは低抵抗に
切換えられており、従って導1m状態にを介してのコン
パレータにの制御は非常に迅速に完了し、コンパレータ
1(は、どちらの側(BLもしくはBL)に倫理レベル
゛0′°または”′1″に応じて高いほうの電位が存在
しているかに従って、一方もしくは他方の方向に跳躍せ
しめられる。
コンパレータにの両信号端子Sの間には付属の両ビット
線区間BLおよびBL上に伝達丁べきそれぞnlつの信
号差(すなわち2つの倫理レベル゛°0″と°1′との
間の差)が存在する。しかし予め1両ビット線区間の間
に存在する信号差をコンパレータKによる評価のためコ
ンパレータKに伝達する必要がある。この伝達の声めの
最初の段階で両トランスファトランジスタTは低抵抗に
切換えられており、従って導1m状態にを介してのコン
パレータにの制御は非常に迅速に完了し、コンパレータ
1(は、どちらの側(BLもしくはBL)に倫理レベル
゛0′°または”′1″に応じて高いほうの電位が存在
しているかに従って、一方もしくは他方の方向に跳躍せ
しめられる。
両ビット線区間BLおよびBLへのコンパレータにの反
作用は、供給電位入力端子aを制御するパルスφ8の立
下がり縁の後に開始する。コンパレータに内のトランジ
スタtのキャパシタンスの充電によりトリガされるコン
パレータにの跳躍動作を加速するため1本発明によれば
、コンパレータに内の両トランジスタtの一方もしくは
他方を経てのこの電荷の流出が、BLおよびBLにおけ
る大きなキャパシタンスが高抵抗に切換えられた(また
は阻止状態にされた)トランスファトランジスタTによ
り切離されていることによって加速されるように配慮さ
れている。丁なわち、コンパレータに内の交さ接続によ
り両ビット線区間B Lこのことが跳躍動作の遅れの原
因となるのを回避するため1両ビット線区間BLおよび
B T、が跳躍動作のトリガに必要な電荷;■の供給の
直後に跳躍動作の開始に先立ってトランスファトランジ
スタのゲートの適当な制御により完全阻止状態もしくは
少なくとも十分に高抵抗の状態にされる。
作用は、供給電位入力端子aを制御するパルスφ8の立
下がり縁の後に開始する。コンパレータに内のトランジ
スタtのキャパシタンスの充電によりトリガされるコン
パレータにの跳躍動作を加速するため1本発明によれば
、コンパレータに内の両トランジスタtの一方もしくは
他方を経てのこの電荷の流出が、BLおよびBLにおけ
る大きなキャパシタンスが高抵抗に切換えられた(また
は阻止状態にされた)トランスファトランジスタTによ
り切離されていることによって加速されるように配慮さ
れている。丁なわち、コンパレータに内の交さ接続によ
り両ビット線区間B Lこのことが跳躍動作の遅れの原
因となるのを回避するため1両ビット線区間BLおよび
B T、が跳躍動作のトリガに必要な電荷;■の供給の
直後に跳躍動作の開始に先立ってトランスファトランジ
スタのゲートの適当な制御により完全阻止状態もしくは
少なくとも十分に高抵抗の状態にされる。
一方の作動状態から他方の作動状態へのコンパレータに
の跳躍中にコンパレータにの供給”4位端子aに与えら
れているパルスφ8の終了と同時に。
の跳躍中にコンパレータにの供給”4位端子aに与えら
れているパルスφ8の終了と同時に。
本発明によれば、コンパレータにと両付属ビット線区間
B LおよびBLとの間の接続が再び導通状態または低
抵抗状態にされるので、コンパレータにの両信号端子S
に生ずる論理状態は遅れなしに両ビット線区間BLおよ
びB Lに作用し得る。
B LおよびBLとの間の接続が再び導通状態または低
抵抗状態にされるので、コンパレータにの両信号端子S
に生ずる論理状態は遅れなしに両ビット線区間BLおよ
びB Lに作用し得る。
第3図に示されている書込み・読出しメモリ用の本発明
による回路は同時に2つの課題すなわちa)トランスフ
ァトランジスタTの断続のために必要とされるパルスφ
1の発生、 b)コン、クツータKに対する供給゛電
圧の断続のために必要なバ/L/スφ8の発生、を満足
する。メモリのすベーCのコンパレータKを同時に制御
することが目的にかなっているので、第3図による1つ
の回路部分がら発生されるパルスφ8およびφ1が同時
にすべてのコンパレークKに与えら2%る。
による回路は同時に2つの課題すなわちa)トランスフ
ァトランジスタTの断続のために必要とされるパルスφ
1の発生、 b)コン、クツータKに対する供給゛電
圧の断続のために必要なバ/L/スφ8の発生、を満足
する。メモリのすベーCのコンパレータKを同時に制御
することが目的にかなっているので、第3図による1つ
の回路部分がら発生されるパルスφ8およびφ1が同時
にすべてのコンパレークKに与えら2%る。
本発明による第3図の回路で、トランスファトランジス
タTを制御するパルスφ1を発生するための回路部分は
MO8電界効果トランジスタTI。
タTを制御するパルスφ1を発生するための回路部分は
MO8電界効果トランジスタTI。
T4.T5.T6.T7.’rsお、、cびTIOから
成る。そのうちトランジスタT1はコンデンサにより置
換することも可能であり、この場合にはトランジスタT
1のゲートはコンデンサの一方の極により、またソース
およびドレイン端子はコンデンサの他方の極により置換
される。
成る。そのうちトランジスタT1はコンデンサにより置
換することも可能であり、この場合にはトランジスタT
1のゲートはコンデンサの一方の極により、またソース
およびドレイン端子はコンデンサの他方の極により置換
される。
同時にコンパレータKに苅する供給電位の制御に用いら
れる断続パルスφ8がトランジスタ’I”IO。
れる断続パルスφ8がトランジスタ’I”IO。
のソースおよびゲートに与えられており、トランジスタ
TIOのドレインはバラクタキャパンクンスとして接続
されたトランジスタT1のソースおヨヒドレインと接続
されている。このトランジスタ゛r1のゲートは両トラ
ンスファトランジスタTに対する断続信号φ を供給す
る出力端子Aに接続されている。さらにトランジスタT
1のゲートは断続信号φ2により制御される別の自己阻
止性M’O8)ランジスタT5のソース端子と接続され
ており、このトランジスタT5のドレインは直接に供給
電位V。0を与えられてい乙。
TIOのドレインはバラクタキャパンクンスとして接続
されたトランジスタT1のソースおヨヒドレインと接続
されている。このトランジスタ゛r1のゲートは両トラ
ンスファトランジスタTに対する断続信号φ を供給す
る出力端子Aに接続されている。さらにトランジスタT
1のゲートは断続信号φ2により制御される別の自己阻
止性M’O8)ランジスタT5のソース端子と接続され
ており、このトランジスタT5のドレインは直接に供給
電位V。0を与えられてい乙。
コンパレータKに対する供給電位の制御に用いられる断
続信号φ8はさらに、特に抵抗(図示の実施例ではトラ
ンジスタT9により形成された抵抗〕な介して、トラン
ジスタT8のゲートに接続されている。このトランジス
タT8はさらにそのパースで基準電位Vssに、またそ
のドレインで2つの互いに並列に接続されたトランジス
タT6およびT7の共通ソース端子に接続されている。
続信号φ8はさらに、特に抵抗(図示の実施例ではトラ
ンジスタT9により形成された抵抗〕な介して、トラン
ジスタT8のゲートに接続されている。このトランジス
タT8はさらにそのパースで基準電位Vssに、またそ
のドレインで2つの互いに並列に接続されたトランジス
タT6およびT7の共通ソース端子に接続されている。
トランジスタT6およびT7の共通ドレイン端子は一方
ではトランジスタT4を介して供給電位V。0とトラン
ジスタT1のソースとに接続されている。
ではトランジスタT4を介して供給電位V。0とトラン
ジスタT1のソースとに接続されている。
トランジスタT7はトランジスタT5と同じく断続信号
φ2により制御され、他方トランジスタT6の制御は別
の断続信号φ1により、またトランジスタT4の制御は
さらに別の断続信号φ3により行なわれろ。これらの断
続信号の時間的経過については後で第4因により詳細に
説明する。信号φ1の発生に用いられるこの回路部分の
作動の仕方についても後で説明する。
φ2により制御され、他方トランジスタT6の制御は別
の断続信号φ1により、またトランジスタT4の制御は
さらに別の断続信号φ3により行なわれろ。これらの断
続信号の時間的経過については後で第4因により詳細に
説明する。信号φ1の発生に用いられるこの回路部分の
作動の仕方についても後で説明する。
なお1以上に説明した回路部分において1両トランジス
タT6およびT7は2つのゲートを有する屯−のトラン
ジスタによっても実現され得る。
タT6およびT7は2つのゲートを有する屯−のトラン
ジスタによっても実現され得る。
また、トランジスタT1をコンデンサにより置換し、そ
の一方の極を信号出力端子Aに、その他方の極をTIO
ならびにT4.T6および′r7に接続することも可能
であることは既に述べたとおりである。
の一方の極を信号出力端子Aに、その他方の極をTIO
ならびにT4.T6および′r7に接続することも可能
であることは既に述べたとおりである。
さらに1以上に説明した回路部分に、トランジ形成し、
トランジスタT4と同じく断続信号φ。
トランジスタT4と同じく断続信号φ。
により制御さ:lするトランジスタT14が追加されて
いてよい。
いてよい。
第3図に示されている回路のうち、コンパレータへの電
位供給を制御する断続信号φ8の発生に用いられる回路
部分はMO8電界効果トランジスタT2. T3. T
9. Tl 1. Tl 2および’l’13から成る
。こ才tらのトランジスタを制御するためには、前記の
断続信号φ1.φ2とならんでT光電断続信号φV
(a1図参照)およびリセット信号φ8が用いられろ。
位供給を制御する断続信号φ8の発生に用いられる回路
部分はMO8電界効果トランジスタT2. T3. T
9. Tl 1. Tl 2および’l’13から成る
。こ才tらのトランジスタを制御するためには、前記の
断続信号φ1.φ2とならんでT光電断続信号φV
(a1図参照)およびリセット信号φ8が用いられろ。
トランジスタT2はそのドレインに供給電位vccを、
まなそのゲートに断続信号φIを与えら才tており、ま
たそのソースで一方ではリセット信号φR(二よりil
’l +i印されるトランジスタTllのソース・ドレ
イン間を弁して基準電位v88と、また11毬方ではト
ランジスタT12のゲートと接続されている。このトラ
ンジスタT12のソースはそれに対して並列に接続され
ているトランジスタT13のソースと共に基準電位■8
3に接続されており、またそのドレインはコンパレータ
にへの電位供給の制御と信号φ1の発生の制御とに用い
られる信号φ8の出力端子Bに接続されている。さらに
、これらの両トランジスタT12およびT13のドレイ
ンはトランジスタT9のソース−ドレイン間を介して一
方ではトランジスタT9のゲートおよび信号φ。発生用
回路部分の入力トランジスタT8のゲートに接続されて
おり、他方では予充電断続信号φ7により制御されるト
ランジスタT3のソース−ドレイン間を介して供給電位
V。0に接続されている。なお、トランジスタT12に
対して並列に接続されている前記トランジスタT13は
、出力端子Aに接続されている前記トランジスタT5の
制御1二も用いられる断続信号φ2により制御されてい
る。
まなそのゲートに断続信号φIを与えら才tており、ま
たそのソースで一方ではリセット信号φR(二よりil
’l +i印されるトランジスタTllのソース・ドレ
イン間を弁して基準電位v88と、また11毬方ではト
ランジスタT12のゲートと接続されている。このトラ
ンジスタT12のソースはそれに対して並列に接続され
ているトランジスタT13のソースと共に基準電位■8
3に接続されており、またそのドレインはコンパレータ
にへの電位供給の制御と信号φ1の発生の制御とに用い
られる信号φ8の出力端子Bに接続されている。さらに
、これらの両トランジスタT12およびT13のドレイ
ンはトランジスタT9のソース−ドレイン間を介して一
方ではトランジスタT9のゲートおよび信号φ。発生用
回路部分の入力トランジスタT8のゲートに接続されて
おり、他方では予充電断続信号φ7により制御されるト
ランジスタT3のソース−ドレイン間を介して供給電位
V。0に接続されている。なお、トランジスタT12に
対して並列に接続されている前記トランジスタT13は
、出力端子Aに接続されている前記トランジスタT5の
制御1二も用いられる断続信号φ2により制御されてい
る。
本発明による回路内に用いられているトランジスタはす
べて同一のテヤイ・ル形式特にnチャネル形式の自己阻
止性[■O8電界効果トランジスタである。従って、本
発明による回路は一トランジスタ・メモリセルを有する
通常のRAM構造と容易にモノリシックに一括され得る
。この回路は前記のようにすべてのビット線およびその
各々に対応づけらオtているコンパレータKを共通に制
州1し得るので、メモリ内にただ1つしか必要とされな
い。
べて同一のテヤイ・ル形式特にnチャネル形式の自己阻
止性[■O8電界効果トランジスタである。従って、本
発明による回路は一トランジスタ・メモリセルを有する
通常のRAM構造と容易にモノリシックに一括され得る
。この回路は前記のようにすべてのビット線およびその
各々に対応づけらオtているコンパレータKを共通に制
州1し得るので、メモリ内にただ1つしか必要とされな
い。
次に、第3図に示されている回路中の個々の部分の機能
を説明する。
を説明する。
a)バラクタとして接続されたトランジスタT1または
そオtに代わるコンデンサは、両トランスファトランジ
スタTの制御のために必要とされる信号φ。(7)第4
図に示されている」−昇を生じさせる。
そオtに代わるコンデンサは、両トランスファトランジ
スタTの制御のために必要とされる信号φ。(7)第4
図に示されている」−昇を生じさせる。
この上昇により、さもなければ高抵抗状態にあるトラン
ジスタTが導通状態に切換えられる。
ジスタTが導通状態に切換えられる。
b) )ランジスタT2.T12および’[”13は
コンパレータにの供給電位入力端子aの制御に用いられ
るパルスφ の立下がり縁を定める。手元電信略匂は通
常の仕方で発生される。
コンパレータにの供給電位入力端子aの制御に用いられ
るパルスφ の立下がり縁を定める。手元電信略匂は通
常の仕方で発生される。
する。
d) )ランジスタIll 41まトランジスタTI
と同様の作用をする。
と同様の作用をする。
e) )ランジスタT9およびT14は出力端子Aに
現われる断続信号φ1が信号φ3の作用により上昇する
際にトランジスタT8を阻止状四にする。
現われる断続信号φ1が信号φ3の作用により上昇する
際にトランジスタT8を阻止状四にする。
f) トランジスタT6.’l’7およびT8は出力端
子Aに曳われる信号φ7の立下がり縁の経過を定める。
子Aに曳われる信号φ7の立下がり縁の経過を定める。
g) トランジスタT3はトランジスタT8を予充電さ
せる役割をする。
せる役割をする。
h) トランジスタT10は信号φ8の立上がり縁によ
り出力信号φ、の上昇を制御する役割をする。
り出力信号φ、の上昇を制御する役割をする。
l〕 トランジスタT5はφ7発生の役割をするトラン
ジスタT1を予充電させ、それによってφ1に灼してト
ランジスタT1を介しての作用によりする。
ジスタT1を予充電させ、それによってφ1に灼してト
ランジスタT1を介しての作用によりする。
10 断続信号φ、により制御されるトランジスタT
4(φ3はその際にカットオフ重圧に関連づけられてい
る)はφ1を最小にし、それによって第1図中の両トラ
ンスファトランジスタTを高抵抗状態17Tる役割をす
る。
4(φ3はその際にカットオフ重圧に関連づけられてい
る)はφ1を最小にし、それによって第1図中の両トラ
ンスファトランジスタTを高抵抗状態17Tる役割をす
る。
パルスφ3.φ2およびφ、の立下がり縁は時間的に互
いに一致しており、能力立上がり縁は時間的に互いに若
干ずれており、最初にパルスφ。
いに一致しており、能力立上がり縁は時間的に互いに若
干ずれており、最初にパルスφ。
が立上がり1次にわずかに遅オtてパルスφ2が立上が
り、最後にさらにわずかに遅れてパルスφ3が立−にが
る。リセットパルスφ、はパルスφ1゜パルスφ2およ
びパルスφ3の消滅の直後に開始し、また時間的間隔を
おいて後続のパルスφ1の開始以前に終了する。f充電
パルスφヤはリセットパルスφ8と時を同じくしている
が、予充電パルスφ7は付属のリセットパルスφ、より
も若干早く終了し、か−っ若干遅、ltで開始する。
り、最後にさらにわずかに遅れてパルスφ3が立−にが
る。リセットパルスφ、はパルスφ1゜パルスφ2およ
びパルスφ3の消滅の直後に開始し、また時間的間隔を
おいて後続のパルスφ1の開始以前に終了する。f充電
パルスφヤはリセットパルスφ8と時を同じくしている
が、予充電パルスφ7は付属のリセットパルスφ、より
も若干早く終了し、か−っ若干遅、ltで開始する。
上記の谷パルスの時間的経過は第3図の回路部(31)
および第9Y介してのφ8のT充電は支援機能の分によ
り発生されるパルスφ8およびφ。の時間的経過と共に
第4図に示さfLでいる。
り発生されるパルスφ8およびφ。の時間的経過と共に
第4図に示さfLでいる。
パルスφ9およびφ8はたとえばメモリに対する供給パ
ルスから増幅により導き出され得る。適当な遅延要素を
有する反転によりφ1.φ2およびφ3の開始縁がたと
えばリセットパルスφ、から導き出され得る。共通の停
止縁はφ、および匂の停止縁と同様に供給パルスから導
き出され得る。
ルスから増幅により導き出され得る。適当な遅延要素を
有する反転によりφ1.φ2およびφ3の開始縁がたと
えばリセットパルスφ、から導き出され得る。共通の停
止縁はφ、および匂の停止縁と同様に供給パルスから導
き出され得る。
次に、第3図に示されている回路の作動の仕方を詳細に
説明する。
説明する。
1)パルスφ8の発生: 第1図かられかるように、ビ
ット線区間BL、BLの予充電が予充電パルスφ7によ
り制御されるトランジスタty介して行なわれる。これ
らは再び同時にトランスファトランジスタT(パルスφ
□により制tR+ サれる)およびコンパレータ・トラ
ンジスタtを介しテハルスφ8の予充電(正の電圧レベ
ル)を行なう。トランジスタT3(φ、により制御され
る)f321゜ 第3への正のゲート電圧による)ではトランジスみを有
する。
ット線区間BL、BLの予充電が予充電パルスφ7によ
り制御されるトランジスタty介して行なわれる。これ
らは再び同時にトランスファトランジスタT(パルスφ
□により制tR+ サれる)およびコンパレータ・トラ
ンジスタtを介しテハルスφ8の予充電(正の電圧レベ
ル)を行なう。トランジスタT3(φ、により制御され
る)f321゜ 第3への正のゲート電圧による)ではトランジスみを有
する。
この予充電(φッの正の縁により開始される)以前には
φ、の正の縁によりトランジスタTllが導通状態にな
りトランジスタT12のゲートが放電してトランジスタ
TI2が阻IE状態になるので、φ8の予充電電圧は流
出し得ない。トランジスタT2はこの過程では、第2お
よびTllを通じての横断電流を回避するため、(φ1
の負の縁により)阻止状態にされている。
φ、の正の縁によりトランジスタTllが導通状態にな
りトランジスタT12のゲートが放電してトランジスタ
TI2が阻IE状態になるので、φ8の予充電電圧は流
出し得ない。トランジスタT2はこの過程では、第2お
よびTllを通じての横断電流を回避するため、(φ1
の負の縁により)阻止状態にされている。
コンパレータKによる信頼性に富む評価が行なわれ得る
ように、φ8の負の縁は2段階で発生される。すなわち
、φ、の正の縁がトランジスタT2の導通により、従っ
てまたトランジスタT12の導通によりφ8の負の縁の
第1の(緩傾斜の)部分を発生する。第2の(急傾斜σ
す)部分は、φ2の正の縁がトランジスタT13を制御
することにより発生される。
ように、φ8の負の縁は2段階で発生される。すなわち
、φ、の正の縁がトランジスタT2の導通により、従っ
てまたトランジスタT12の導通によりφ8の負の縁の
第1の(緩傾斜の)部分を発生する。第2の(急傾斜σ
す)部分は、φ2の正の縁がトランジスタT13を制御
することにより発生される。
夕T3により第8のy−トも光重されており、従ってト
ランジスタT8も導通している。トランジスタT6およ
び第7はまだ阻止状態にあり、従って第4と第6および
第7との間の接続点CはトランジスタTIOを介して予
充電を受ける。φ1の正の縁の生起によりトランジスタ
T6が導通すると、上記接続点Cの電荷は第6および第
8を経て流出し始める。しかし、φ、の正の縁により(
第2およびT、12を経て)φ8の負の縁も開始し、そ
れが第9を介して第8のゲート電圧を徐々に低ドさせる
。φ2の正の縁によってもφ、の正の縁により開始され
る過程と同様の過程が開始される。
ランジスタT8も導通している。トランジスタT6およ
び第7はまだ阻止状態にあり、従って第4と第6および
第7との間の接続点CはトランジスタTIOを介して予
充電を受ける。φ1の正の縁の生起によりトランジスタ
T6が導通すると、上記接続点Cの電荷は第6および第
8を経て流出し始める。しかし、φ、の正の縁により(
第2およびT、12を経て)φ8の負の縁も開始し、そ
れが第9を介して第8のゲート電圧を徐々に低ドさせる
。φ2の正の縁によってもφ、の正の縁により開始され
る過程と同様の過程が開始される。
すなわち、第6および第7の並列回路は上記接続点Cか
らの電荷の流出を緩速段階および急速段階に分割するこ
とを可能にする。それによりバラクタT1を介しての合
計結合を通じてφ1の負の縁の緩傾斜部分および急傾斜
部分が得られる。 −■し、またT9を介してT8に
おけるゲート電圧も低下する。φ8が基準電位v83(
接地電位)に到達−Tると、T8はT9のカットオフ電
圧(T8のカットオフ電圧よりも大きく保たれるべきで
あろう)のためにまだ導通状態にある。従って、接続点
C上の電荷は引続きT6.T7およびT8を経て流出し
得る。
らの電荷の流出を緩速段階および急速段階に分割するこ
とを可能にする。それによりバラクタT1を介しての合
計結合を通じてφ1の負の縁の緩傾斜部分および急傾斜
部分が得られる。 −■し、またT9を介してT8に
おけるゲート電圧も低下する。φ8が基準電位v83(
接地電位)に到達−Tると、T8はT9のカットオフ電
圧(T8のカットオフ電圧よりも大きく保たれるべきで
あろう)のためにまだ導通状態にある。従って、接続点
C上の電荷は引続きT6.T7およびT8を経て流出し
得る。
φ2の正の縁の生起により同時にT1のゲートが充電さ
れ(φ0予充電)、従ってまたバラクタT1またはその
代わりに用いられているコンデンサが充電さfL7)o
次いでφ3の正の縁の生起により、一方ではTI4を介
してトランジスタT8が完全に駆出状態にされ(ゲート
の遮断)、また他方ではT4を介して接続点Cが再び充
電される。
れ(φ0予充電)、従ってまたバラクタT1またはその
代わりに用いられているコンデンサが充電さfL7)o
次いでφ3の正の縁の生起により、一方ではTI4を介
してトランジスタT8が完全に駆出状態にされ(ゲート
の遮断)、また他方ではT4を介して接続点Cが再び充
電される。
その際にTIを介しての容量結合により、予充電された
パルスφ1が上昇する。次回の動作ナイクルでは、T6
およびT7を介しての接続点Cの放電によりTIを弁し
ての同様の、ただし逆方向の容量結合が行なわれる。こ
のことは、φ0電圧が低Fせしめられ、また次回のφ、
の正の縁の生起時に再び上昇せしめられる以丁同様に繰
返T)ことを意味する。φアの最小電圧はT5の予充電
電圧により制限され得る。
パルスφ1が上昇する。次回の動作ナイクルでは、T6
およびT7を介しての接続点Cの放電によりTIを弁し
ての同様の、ただし逆方向の容量結合が行なわれる。こ
のことは、φ0電圧が低Fせしめられ、また次回のφ、
の正の縁の生起時に再び上昇せしめられる以丁同様に繰
返T)ことを意味する。φアの最小電圧はT5の予充電
電圧により制限され得る。
φ1の最大の電圧変化は接続点Cにおける電圧変化と、
バラクタT1またはその代わりに用いられているコンデ
ンサのキャパシタンスとφ1の負荷キャパシタンス(第
3図に示されていない)との比とにより定まる。φ1が
部分的に低下せしめられるのではなく基準電位v88(
接地電位)に到達すべき場合には、第3図の回路を下記
のように若干変更すればよい。
バラクタT1またはその代わりに用いられているコンデ
ンサのキャパシタンスとφ1の負荷キャパシタンス(第
3図に示されていない)との比とにより定まる。φ1が
部分的に低下せしめられるのではなく基準電位v88(
接地電位)に到達すべき場合には、第3図の回路を下記
のように若干変更すればよい。
トランジスタT1およびT5は省略される。パルスφ。
は直接に接続点Cから取出され、またトランジスタTI
Oはキャパシタンスにより置換される。この場合、φ1
の上昇はφ8の正の縁により初めて生ずる。
Oはキャパシタンスにより置換される。この場合、φ1
の上昇はφ8の正の縁により初めて生ずる。
第3図の回路についてなお言及すべきこととして、トラ
ンジスタT5およびT10は主として第3図の回路の始
動(ビルドアップ)を助ける役割をする。
ンジスタT5およびT10は主として第3図の回路の始
動(ビルドアップ)を助ける役割をする。
第1図はRAMメモリの個々のマトリクス列に対するコ
ンパレータのそれ自体は通常の回路を示す図、第2図は
ビット線予充電のためのそれ自体は通常の制御に用いら
れる信号φ7とならんでコンパレータへの供給電位の供
給の制御に用いられる信号φ8と本発明により行なわれ
るトランスファトランジスタの制御子なわちコンパレー
タと付属のビット線との間の接続形成の制御に用いられ
る信号φ1との時間的経過を示す図、第3図は上d己の
信号φ3およびφ1の発生のための特に好ましい回路を
示す図、第4図は第3図の回路の作動の仕方を説明する
ため各種信号の時間的経過を示す図である。 A・・・φ1信号出力端子、 B・・・φ8信号出力端
子、 BL、BL ・・・ビット線、 C・・・ 接
ファトランジスタ、 T1−T14・・・ トランジス
タ、 vco・・・ 供給電位、 ■ ・・・ 基準電
S 位、 a・・・供給電位端子、 S・・・信号端子。 t・・・コンパレータ・トランジスタ、 t ・・・
予充電用トランジスタ、 φ1〜φ3・・・断続信号。 φ ・・・リセット信号、 φ ・・・ 断続信号(コ
R8 ンパレ一タ供給電位制御用)、 φ ・・・断続信号(
トランスファトランジスタ制御用)、 φ9・・・予
充電制御信号。
ンパレータのそれ自体は通常の回路を示す図、第2図は
ビット線予充電のためのそれ自体は通常の制御に用いら
れる信号φ7とならんでコンパレータへの供給電位の供
給の制御に用いられる信号φ8と本発明により行なわれ
るトランスファトランジスタの制御子なわちコンパレー
タと付属のビット線との間の接続形成の制御に用いられ
る信号φ1との時間的経過を示す図、第3図は上d己の
信号φ3およびφ1の発生のための特に好ましい回路を
示す図、第4図は第3図の回路の作動の仕方を説明する
ため各種信号の時間的経過を示す図である。 A・・・φ1信号出力端子、 B・・・φ8信号出力端
子、 BL、BL ・・・ビット線、 C・・・ 接
ファトランジスタ、 T1−T14・・・ トランジス
タ、 vco・・・ 供給電位、 ■ ・・・ 基準電
S 位、 a・・・供給電位端子、 S・・・信号端子。 t・・・コンパレータ・トランジスタ、 t ・・・
予充電用トランジスタ、 φ1〜φ3・・・断続信号。 φ ・・・リセット信号、 φ ・・・ 断続信号(コ
R8 ンパレ一タ供給電位制御用)、 φ ・・・断続信号(
トランスファトランジスタ制御用)、 φ9・・・予
充電制御信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 】) メモリセルが−トランジスタ・メモリセルとして
構成され、またメモリを含む半導体チップ」二にマトリ
クスの行および列に沿って配置。されており、各マトリ
クス列IIにはたとえばRSフリップフロップの形態の
各1つのコンパレークと構成の点ではメモリセルと同様
の少なくとも各1つの比較ビルとが対応づけられており
、各マトリクス列の同様の比較セルにより1つの追加的
なマトリクス行が形成されており1列に関するアドレス
指定は個々の列のメモリセルを付属の比較セルとならん
でそオtぞ才を一括する各1つのビット線を弁して、
行なわれ、また行に関するアドレス指定は当該のマトリ
クス行に@する一トランジスタ・メモリセルを一括する
各1つのワード線な全印加が一方では付属のビット線に
与えられる信号に基づいて、また他方では供給゛電位と
コンパレータの供給電位端子との1間の断続的接続に基
づいて行なわれる書込み・続出しICメモリにおいて、
コンパレータ(K)の両信号端子(s)とこれらの端子
(8)を制御する一トランジスタ・メモリセルまたは比
較セルとの間の接続が各1つの断続されるトランスファ
トランジスタ(T)を介して行なわれており1両トラン
スファトランジスタのゲートに共通に印加される断続信
甥(φT )が供給電位たとえば接地電位とコンパレー
タ(K)の供給電位端子(a)との間の接続を断続する
信号(φ8 )により制御される回路部分から発生され
ており、この回路部分が、この回路部分から与えられる
個々の断続信号(φ、1、)に基づいて両トランスフチ
トランジスタ(T)が111記供給電位たとえば接地電
位にコンパレ抗の導通状態にあり、それによってコンパ
レーク(K)のアクティブ化と同時に導通状態と比較し
て高抵抗の状態に切換えら几または明市状態にされるよ
うに、また前記供給電位をコンパレータfK)の供給電
位、l、r^i子< a )に接続する断続信号(φT
)の負のスロープの終了の直後に両トランスファトラ
ンジスタ(T)が導通状態に再び切換えられるようにす
る役割をしていることを特徴とする書込み・読出しIC
メモリ。 2)両トランスファトランジスタ+T)の制御に用いら
れる断続パルス(φT )を発生するための回路部分が
互いに同一の特にnチャイ・Iし形の自己[;1市性順
界効果トランジスタから構成さ7”していることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の書込み・読出しIC
メモリ。 3〕 第1および第2のトランジスタ[T6.T7)が
互いに並列に接続されかつそれらのソース端モで弔3の
トランジス9(T8)のドレイン・ソース間をづrして
44 N/4電位(v8S)とまた第4のトランジスタ
(T4)のソース・ドレイン間を介して供給電位(vo
o)と接続されており、第1のトランジスタ(T6)の
ゲートは第1の断続信号(φl )により、第2のトラ
ンジスタ(T7)のゲートは第2の断続信号(φ2 )
により、第3のトランジスタ(T8 )のゲートはコン
パレーク(K)の供給電位入力端(a)の制御iに用い
られる断続信号(φS )により、また第4のトランジ
スタ(T4)のゲートは第3の断続信号(φ、)により
制御されており、第1および第2のトランジスタ(T6
.T7)と第4のトランジスタ+T4)との間の接続点
[C)に生ずる電位が一方ではトランスファトランジス
タ(T)に苅する断続信号(φT )を供給する出り 内端(A)を制御する役割をしており、他方では、第3
のトランジスタ(T8)を介しての制御に加えて、コン
パレータ(K)への供給電位の供給を断続する断続信号
(φ8)により影響されていることを特徴とする特許請
求の範囲第2項記載の書込み・読出しICメモリ。 4)第1および第2のトランジスタ(T6. ’l’7
)と第4のトランジスタ(T4)との間の接続点IC)
が一方ではコンデンサ(T1)を介して両トランスファ
トランジスタ(T)の側副のために必要とされる断続信
号(φT)を供給する出力端子(A)に接続されており
、また他方ではコンパレータ(K)への供給電位の供給
を断続する断続信号(φ8 )を、この断続信号(φ8
)をゲートに与えられている第5のトランジスタ(T
IO)のソース・ドレイン間を弁して与えられており、
またコンパレータ(K)の信号端子(S)に接続されて
いる両トランスファトランジスタ(T)を制御する断続
信性φT )の出力端子(A)が第2の断続信号(φ2
)により制御さ肚る位(Voo)に接続されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の書込み・読
出しICメモリ。 5)第3のトランジスタ(T8)のゲートの制御がコン
パレータ(K)への供給電位の供給を断続する断続信号
(φ8)により抵抗、たとえば抵抗として接続されたト
ランジスタ(T9)、を介して行なわれていることを特
徴とする、 特許請求の範囲第3項または第4項のい
ずれかに記載の書込み・読出しICメモリ。 6)両トランスファトランジスタ(T)を制御する断続
信号(φT )の出力端子(A)に接続されているコン
デンサがメモリ内の他のトランジスタと同一形式の電界
効果トランジスタ(T1)をバラクタとして接続したも
のであることを特徴とする特許請求の範囲第4項記載の
書込み・読出しICメモリ。 7)バラクタとして接続されたトランジスタ(ンジスタ
(第4)と第1および第2のトランジスタ(第6.第7
)との間の接続点(C)と接続さ几でおり、またそのゲ
ートが両トランスファトランジスタ(T)を制御する断
続信号(φT )の出力端T−(A )と直接接続され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第6項記載の書
込み・読出しICメモリ。 8)第3のトランジスタ(第8)のゲートが第3の断続
信号(φ3 )により制御される別のトランジスタ[T
14 )のソース−ドレイン間を介して基準電位(V
、)と接続されていることを特徴とする特許請求の範囲
第3頃ないし第7項のいずれかに記載の書込み・読出し
ICメモリ。 9)Ili!!l々のロンパレータ(K)の供給電位端
子fa)の制イdilに用いられる断続信号(φS )
を発生するため、リセット信号(φR)により制御され
るトランジスタ(T11)がそのソース端子−で基準電
位(vS3)に、またそのドレインで一方では、同じく
ソース端子−で基準電位(v38)に接続されている第
2のトランジスタ(T12)のゲートに、他方では。 第1の断続信号(φ1 )にまり舗御される第3のトラ
ンジスタ(第2)のソース・ドレイン間を介して供給電
位(voo)ζ二接続されており、第2のトランジスタ
(T12)のドレインから発生すべき断続信号(φ3
)が信号出力端(B)に与えられており、また第20〕
トランジスタ(T12)に対してゲートに第2の断続信
号(φ2 )を与えられる第4のトランジスタ(T13
)が並列に接続されており、さらに第2および第4のト
ランジスタ(T12.T]3)の並列回路がメモリマト
リクスのピット線(BL、BL)の予充電用の制御パル
ス(φV)により制御される第5の 、ト
ランジスタ(第3)を介して供給電位(vo。 )と接続されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項ないし第8項のいずれかに記載の書込み・読出しI
Cメモリ。 10) isのトランジスタ(第3)と第2および第
4のトランジスタ(TI2.T13)との間が、ゲート
で第5のトランジスタ(第3)のソースと接続されてい
るもう1つのトランジスタ(第9)のソース−ドレイン
間を介して接続されていることを特徴とする特許請求の
範囲第9項記載の書込み・読出しICメモリ。 tB 第sのトランジスタ(第3)のソースと第2お
よび第4のトランジスタ(TI2.T13)のドレイン
とがそ2tぞれ、両トランスファトランジスタ(T)の
制御のために必要とされる断続信号(φT)を供給する
特許請求の範囲第3項ないし第7項のいず第1かによる
回路部分を制御するためにこの回路部分に接続されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第91+1または第
10項記載の書込み・読出し12)コンパレータ(K)
の供給電位端子(a)に断続信号(φ8 )を供給する
回路部分内の第2のトランジスタ(T]2)のドレイン
が。 コンパレータ(K)に接続されている両トランスファト
ランジスタ(T)に断続信号(φT)を供給する回路部
分内の第5のトランジスタ(TIO)のドレインおよび
ゲートと、また前者の回路部分内の第5のトランジスタ
(第3)のソースが後者の回路部分内の第3のトランジ
スタ(第8)のゲートとそれぞれ直接接続されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第11項記載の書込み・
読出しICメモリ。 13)コンパレーク(K)および付属のトランスファト
ランジスタ(T’ )に供給する断続信号(φ8.φT
)を発生するための回路部分を制御するのに用いられる
パルス(φ1.φ2.φ。 、φ7.φ8〕のt目互間の時間的関係が、第1、第2
および第3のパルス(φ9.φ2.φ3)が第2のパル
ス(φ2 )よりも若干早く、また第2のパルス(φ2
)が第3のパルス(φ3)よりも若干早く開始するよ
うに選定されていることを特徴とする特許請求の範囲第
3項ないし第12項のいずれかに記載の書込み・読出し
ICメモリ。 14)ピッ1(BL、BL)の予充電用のパルス(φV
)が付属のリセットパルス(φR)よりも若干遅く開
始しかつそれよりも若干早く終了するように、またリセ
ットパルス(φ1、)が、瞬りの第1のパルス(φI
)と重さなることなく、そn、%れ2つの1目続く第1
のパルス(φ1 )の間の休止期間中に生ずるように。 パルスF目互間の時間的関係が選定さ几ていることを特
徴とする特許請求の範囲第13項記載の書込み・読出し
ICメモリ。 15)第1および第2のトランジスタ(第6.第7)と
第4のトランジスタ(第4)との間の接続点(C)が直
接にトランスファトランジスタ(T)に対する断続信号
(φT )の出力端(A)と、またコンデンサを介して
コンパレータ(K)の供給電位端子に対−[る断続信号
(φ8 )の出力端(B)と接続されていることを特徴
とする特許請求の範囲第3項記載の書込み・続出しIC
メモリ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE32074980 | 1982-03-02 | ||
DE19823207498 DE3207498A1 (de) | 1982-03-02 | 1982-03-02 | Integrierter dynamischer schreib-lese-speicher |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58164092A true JPS58164092A (ja) | 1983-09-28 |
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ID=6157119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58033713A Pending JPS58164092A (ja) | 1982-03-02 | 1983-03-01 | 書込み・読出しicメモリ |
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EP (1) | EP0087818B1 (ja) |
JP (1) | JPS58164092A (ja) |
AT (1) | ATE39591T1 (ja) |
DE (2) | DE3207498A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06195973A (ja) * | 1992-10-12 | 1994-07-15 | Nec Corp | ダイナミックram |
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JP3022912B2 (ja) * | 1988-08-25 | 2000-03-21 | インダストリアル・テクノロジー・リサーチ・インスティチュート | 記録再生方法及びその装置 |
US6206652B1 (en) | 1998-08-25 | 2001-03-27 | Copeland Corporation | Compressor capacity modulation |
US8157538B2 (en) | 2007-07-23 | 2012-04-17 | Emerson Climate Technologies, Inc. | Capacity modulation system for compressor and method |
WO2010088271A2 (en) | 2009-01-27 | 2010-08-05 | Emerson Climate Technologies, Inc. | Unloader system and method for a compressor |
CN112837731B (zh) * | 2020-12-31 | 2024-08-06 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 存算复用的静态存储单元 |
Family Cites Families (2)
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US4239993A (en) * | 1978-09-22 | 1980-12-16 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with active loads |
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- 1982-03-02 DE DE19823207498 patent/DE3207498A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-02-28 US US06/470,527 patent/US4460983A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-03-01 JP JP58033713A patent/JPS58164092A/ja active Pending
- 1983-03-02 AT AT83102036T patent/ATE39591T1/de active
- 1983-03-02 DE DE8383102036T patent/DE3378802D1/de not_active Expired
- 1983-03-02 EP EP83102036A patent/EP0087818B1/de not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06195973A (ja) * | 1992-10-12 | 1994-07-15 | Nec Corp | ダイナミックram |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3207498A1 (de) | 1983-09-08 |
ATE39591T1 (de) | 1989-01-15 |
US4460983A (en) | 1984-07-17 |
EP0087818A3 (en) | 1985-11-06 |
EP0087818B1 (de) | 1988-12-28 |
DE3378802D1 (en) | 1989-02-02 |
EP0087818A2 (de) | 1983-09-07 |
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