JPS58158543A - 透明、不透明部から成る物体の欠陥検出回路 - Google Patents
透明、不透明部から成る物体の欠陥検出回路Info
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- JPS58158543A JPS58158543A JP4018182A JP4018182A JPS58158543A JP S58158543 A JPS58158543 A JP S58158543A JP 4018182 A JP4018182 A JP 4018182A JP 4018182 A JP4018182 A JP 4018182A JP S58158543 A JPS58158543 A JP S58158543A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、透明体で作られたボデーと不透明体で作られ
たキャップとから成る薬剤カプセルの如き、透明部と不
透明部を有する円筒物体の表面に光を照射し、光電セン
サでヘリカルスキャンしながら欠陥（傷、小さな穴など
）を検査する物体の欠陥検出回路に関するものである。
たキャップとから成る薬剤カプセルの如き、透明部と不
透明部を有する円筒物体の表面に光を照射し、光電セン
サでヘリカルスキャンしながら欠陥（傷、小さな穴など
）を検査する物体の欠陥検出回路に関するものである。
第１図は一般的なカプセル外観検査装置の全体を示す正
面図、第２図は同側面図である。
面図、第２図は同側面図である。
第１図および第２図において１０で装置本体を示し、本
体には被検査用のカプセルが投入されるホッパー１２が
取付けられる。ホッパー１２からカプセルは供給室１４
へ装填され、供給室１４内でカプセルは搬送ドラム１６
へ供給される。搬送ドラム１６によって整列して個別に
搬送されるカプセルは光学的検査器１８Ｇこてその表面
を検査され、検査器１８の検出出力が判定制御部２０に
導かれて良品、不良品が判別される。そして検査を受け
たカプセルは良品、または不良品に応じて良品排出シュ
ート２２または不良品排出シュート２４にそれぞれ分類
して排出されるように構成されている。
体には被検査用のカプセルが投入されるホッパー１２が
取付けられる。ホッパー１２からカプセルは供給室１４
へ装填され、供給室１４内でカプセルは搬送ドラム１６
へ供給される。搬送ドラム１６によって整列して個別に
搬送されるカプセルは光学的検査器１８Ｇこてその表面
を検査され、検査器１８の検出出力が判定制御部２０に
導かれて良品、不良品が判別される。そして検査を受け
たカプセルは良品、または不良品に応じて良品排出シュ
ート２２または不良品排出シュート２４にそれぞれ分類
して排出されるように構成されている。
装置本体１０のカプセルを搬送する搬送ドラム部分の構
成を示したのが第３図であり、第３図において第１図の
部品と同一の部品には同一符号を付している。第３図に
おいて、搬送ドラム１６は。
成を示したのが第３図であり、第３図において第１図の
部品と同一の部品には同一符号を付している。第３図に
おいて、搬送ドラム１６は。
中空円筒状に形成され、適当な回転駆動機構により駆動
されて矢印の時計方向へ回転している。搬送ドラム１６
の円周面にはカプセル４０の長手方向がドラム１６の回
転方向と一致する向きにカプセル４０を個別に収納する
貫通穴４２が円周方向に等間隔に形成されている。この
貫通穴４２はドラムの円周上に２列に並べて形成されて
いる。カプセル４０を一時保留して確実に搬送ドラム１
６の貫通穴４２内にカプセルを供給する供給室１４には
、搬送ドラム１６の貫通穴４２内に収納されていないカ
プセルや貫通穴４２内に入っていても姿勢の悪いカプセ
ルを供給室１４内に戻すブラシ１５が取付けられている
。搬送ドラム１６の貫通穴４２内に収納されたカプセル
４０はその下面をガイド板４４で支持されてこのガイド
板４４の上を滑りながら搬送される。ガイド板４４の回
転ローラ４８と向いあう端部は、ガイド板４４から回転
ローラ４８−ヒにカプセルがスムーズに移動できるよう
に回転ローラ４８の円周面に一致した形状としている。
されて矢印の時計方向へ回転している。搬送ドラム１６
の円周面にはカプセル４０の長手方向がドラム１６の回
転方向と一致する向きにカプセル４０を個別に収納する
貫通穴４２が円周方向に等間隔に形成されている。この
貫通穴４２はドラムの円周上に２列に並べて形成されて
いる。カプセル４０を一時保留して確実に搬送ドラム１
６の貫通穴４２内にカプセルを供給する供給室１４には
、搬送ドラム１６の貫通穴４２内に収納されていないカ
プセルや貫通穴４２内に入っていても姿勢の悪いカプセ
ルを供給室１４内に戻すブラシ１５が取付けられている
。搬送ドラム１６の貫通穴４２内に収納されたカプセル
４０はその下面をガイド板４４で支持されてこのガイド
板４４の上を滑りながら搬送される。ガイド板４４の回
転ローラ４８と向いあう端部は、ガイド板４４から回転
ローラ４８−ヒにカプセルがスムーズに移動できるよう
に回転ローラ４８の円周面に一致した形状としている。
回転ローラ４８はその回転軸線が搬送ドラム１６により
搬送されるカプセル４０の長手方向の軸線すなわちカプ
セルの搬送方向とほぼ一致している。
搬送されるカプセル４０の長手方向の軸線すなわちカプ
セルの搬送方向とほぼ一致している。
回転ローラ４８と接して回転するカプセル表面を検査す
る光学的検査器は、照明用のランプ５８とこのランプ５
８からの光をカプセル表面の一部分に強いスポット光と
し２で照射する集光ランプ６０からなる照明系および拡
大レンズ６２を介してカプセル表面の特定された面積、
例えば直径０．５ｍｍの特定部分からの反射光のみが光
電センサ６４に入射するように構成した光センサ系とか
らなる。
る光学的検査器は、照明用のランプ５８とこのランプ５
８からの光をカプセル表面の一部分に強いスポット光と
し２で照射する集光ランプ６０からなる照明系および拡
大レンズ６２を介してカプセル表面の特定された面積、
例えば直径０．５ｍｍの特定部分からの反射光のみが光
電センサ６４に入射するように構成した光センサ系とか
らなる。
光電センサ６４としてｃ−１１フオトダイオードが用い
られる。
られる。
光学的検査部にて検査を受けたカプセルは排出部へ搬送
される。排出部は搬送ドラム１６の内側から外側へ向け
て空気を噴射する不良品排出ノズル６８と良品排出ノズ
ル６６および不良品排出シュート２２と良品排出シュー
ト２４からなる。不良品排出ノズル６８と良品排出ノズ
ル６６からの噴射空気はガイド板４６の孔７０と孔７２
を介してカプセルに当るように構成されている。
される。排出部は搬送ドラム１６の内側から外側へ向け
て空気を噴射する不良品排出ノズル６８と良品排出ノズ
ル６６および不良品排出シュート２２と良品排出シュー
ト２４からなる。不良品排出ノズル６８と良品排出ノズ
ル６６からの噴射空気はガイド板４６の孔７０と孔７２
を介してカプセルに当るように構成されている。
さて、本発明は、上述したようなカプセル外観検査装置
において使用するに適したカプセルの如き円筒物体の欠
陥検出回路、更に詳しくは、カプセルのボデーが透明体
であり、キャップが不透明体であるような、すなわちカ
プセル全体が透明体或いは不透明体から成っているとい
うのではなく、その一部が透明体であり、残りが不透明
体であるようなカプセルにおける表面の欠陥検出回路に
関するものである。
において使用するに適したカプセルの如き円筒物体の欠
陥検出回路、更に詳しくは、カプセルのボデーが透明体
であり、キャップが不透明体であるような、すなわちカ
プセル全体が透明体或いは不透明体から成っているとい
うのではなく、その一部が透明体であり、残りが不透明
体であるようなカプセルにおける表面の欠陥検出回路に
関するものである。
今、第４図（ａ）に示すように、不透明体１ａに欠陥部
として小さな穴２ａが存在した場合を考える。このとき
光を照射すると、穴以外の所では充分な反射光が得られ
るため光電センサ６４の出力は犬であるが、穴２ａの所
では、光の反射量が減り光電センサ６４の出力は小さく
なる。他方、第４図（ｂ）に示すように、光を照射され
る透明体１ｂに同じく欠陥部として穴２ｂが存在したと
すると、穴２ｂの周辺乱 部で光カ＼反射し、光電センサ６４の出力は、穴以外の
所におけるよりも大きくなる。
として小さな穴２ａが存在した場合を考える。このとき
光を照射すると、穴以外の所では充分な反射光が得られ
るため光電センサ６４の出力は犬であるが、穴２ａの所
では、光の反射量が減り光電センサ６４の出力は小さく
なる。他方、第４図（ｂ）に示すように、光を照射され
る透明体１ｂに同じく欠陥部として穴２ｂが存在したと
すると、穴２ｂの周辺乱 部で光カ＼反射し、光電センサ６４の出力は、穴以外の
所におけるよりも大きくなる。
そこで不透明体における欠陥検出は、光電センサの出力
がそれまでより小さくなる個所を検出して行ない（立下
り検出）、透明体における欠陥検出は、光電センサの出
力がそれまでよりも大きくなる個所を検出しで行なう（
立上り検出）。このように、不透明体部と透明体部では
欠陥検出の原理が異なるので、従来は、それぞれ別個に
専用の欠陥検出回路を設け、光電センサが不透明体部を
スキャン中なのか透明体部をスキャンしているのかを検
出し、それによって使用する欠陥検出回路を切り換える
必要があった。
がそれまでより小さくなる個所を検出して行ない（立下
り検出）、透明体における欠陥検出は、光電センサの出
力がそれまでよりも大きくなる個所を検出しで行なう（
立上り検出）。このように、不透明体部と透明体部では
欠陥検出の原理が異なるので、従来は、それぞれ別個に
専用の欠陥検出回路を設け、光電センサが不透明体部を
スキャン中なのか透明体部をスキャンしているのかを検
出し、それによって使用する欠陥検出回路を切り換える
必要があった。
第５図は円筒物体の光電センサによるスキャニングの様
子を示した斜視図、第６図は第５図における光電センサ
の出力波形図、である。
子を示した斜視図、第６図は第５図における光電センサ
の出力波形図、である。
第５図において、３はカプセルを模式的に示した円筒物
体であり、矢印５に示す進行方向に沿って前半が不透明
部１ｂから成り、後半が透明部１ａかも成っている。回
転体３を回転させながら進行させるので、該回転体の表
面を光電センサ６４によってヘリカルスキャンすること
ができる。なお５８は照明ランプである。
体であり、矢印５に示す進行方向に沿って前半が不透明
部１ｂから成り、後半が透明部１ａかも成っている。回
転体３を回転させながら進行させるので、該回転体の表
面を光電センサ６４によってヘリカルスキャンすること
ができる。なお５８は照明ランプである。
かかる光電センサ６４の出力波形を第６図に示す。この
波形図は、不透明部をスキャンして得られる波形と透明
部をスキャンして得られる波形とから成っており、２ａ
′と２ ｂ ／はそれぞれ欠陥に起因する傷信号である
。不透明部における傷信号２８′は、第４図（ａ）を参
照して説明したように、立下り信号であり、透明部にお
ける傷信号２ ｂ ／は同じく第４図（ｂ）を参照して
説明したように、立上り信号であることが認められるで
あろう。なお、ｈ部分は、円筒物体３がカプセルである
とき、その先端の丸みを帯びた部分が光を強く反射させ
て生じるノ・し−ジョンを表わしているが、本発明とは
直接関係はない。
波形図は、不透明部をスキャンして得られる波形と透明
部をスキャンして得られる波形とから成っており、２ａ
′と２ ｂ ／はそれぞれ欠陥に起因する傷信号である
。不透明部における傷信号２８′は、第４図（ａ）を参
照して説明したように、立下り信号であり、透明部にお
ける傷信号２ ｂ ／は同じく第４図（ｂ）を参照して
説明したように、立上り信号であることが認められるで
あろう。なお、ｈ部分は、円筒物体３がカプセルである
とき、その先端の丸みを帯びた部分が光を強く反射させ
て生じるノ・し−ジョンを表わしているが、本発明とは
直接関係はない。
光電センサ出力は、立下り信号２ａを検出する第１の欠
陥検出回路と立上り信号２ｂを検出する第２の欠陥検出
回路（何れも図示せず）に入力されるわけであるが、進
行中の円筒体３が光電センサ６４によるスキャンを受け
るべき期間を示す信号を、円筒体３の位置センサ（例え
ば円筒体を搬送する第３図のドラム１６の近傍に配置さ
れ、何らかの手段でドラム１６の回転位置を検出し、そ
れにより円筒体の位置を検出するセンサで、図示してな
い）から、第６図に示す如く、位置センサ出力として得
て、この間、光電センサ６４Ｇこよるスキャニングを行
なう。そしてまた位置センサ出力に同期し、て、光電セ
ンサ６４が円筒物体３の不透明部をスキャンする筈の期
間を示す透明用ゲート信号を第６図の如く発生させ、こ
のゲート信号を用いて前記第］の欠陥検出回路を動作さ
せ、該ゲート信号がオフの期間では前記第２の欠陥検出
回路を動作させていた。
陥検出回路と立上り信号２ｂを検出する第２の欠陥検出
回路（何れも図示せず）に入力されるわけであるが、進
行中の円筒体３が光電センサ６４によるスキャンを受け
るべき期間を示す信号を、円筒体３の位置センサ（例え
ば円筒体を搬送する第３図のドラム１６の近傍に配置さ
れ、何らかの手段でドラム１６の回転位置を検出し、そ
れにより円筒体の位置を検出するセンサで、図示してな
い）から、第６図に示す如く、位置センサ出力として得
て、この間、光電センサ６４Ｇこよるスキャニングを行
なう。そしてまた位置センサ出力に同期し、て、光電セ
ンサ６４が円筒物体３の不透明部をスキャンする筈の期
間を示す透明用ゲート信号を第６図の如く発生させ、こ
のゲート信号を用いて前記第］の欠陥検出回路を動作さ
せ、該ゲート信号がオフの期間では前記第２の欠陥検出
回路を動作させていた。
従来は、以上説明したようにして、不透明部と透明部か
ら成る円筒物体の欠陥検出を行なっていたが、かかる従
来のやり方においては、位置センサ出力と不透明用ゲー
ト信号との同期がずれることかあり、このため円筒物体
の光電センサによる適切なスキャニングが実施できなか
ったり、また不透明用ゲート信号は必ず位置センサ出力
の前半でハイレベル、後半でローレベルに転じるよ５１
ｉｆｆｉ定的に定められていたので、被検査物である回
転物体３が、不透明部を先頭にして進行して（れば、正
しい欠陥検出が可能であるが、逆に、透明部を先頭にし
て進行してくると、欠陥検出が出来なくなるという欠点
があった。
ら成る円筒物体の欠陥検出を行なっていたが、かかる従
来のやり方においては、位置センサ出力と不透明用ゲー
ト信号との同期がずれることかあり、このため円筒物体
の光電センサによる適切なスキャニングが実施できなか
ったり、また不透明用ゲート信号は必ず位置センサ出力
の前半でハイレベル、後半でローレベルに転じるよ５１
ｉｆｆｉ定的に定められていたので、被検査物である回
転物体３が、不透明部を先頭にして進行して（れば、正
しい欠陥検出が可能であるが、逆に、透明部を先頭にし
て進行してくると、欠陥検出が出来なくなるという欠点
があった。
本発明は、上述の如き、従来技術における欠点を除去す
るためになされたものであり、従って本発明の目的は、
円筒物体が不透明部を先頭にして進行してきても、或い
は透明部を先頭にして進行してきても、それに応じて適
切なゲート信号を発生して欠陥検出を可能にする透明、
不透明部から成る物体の欠陥検出回路を提供することに
ある。
るためになされたものであり、従って本発明の目的は、
円筒物体が不透明部を先頭にして進行してきても、或い
は透明部を先頭にして進行してきても、それに応じて適
切なゲート信号を発生して欠陥検出を可能にする透明、
不透明部から成る物体の欠陥検出回路を提供することに
ある。
本発明の構成の要点は、欠陥検出回路を、透明部にある
欠陥に対しては反射光のレベルが低から高に変化するこ
とを利用して該欠陥に基づく立上り信号を検出する第１
の回路と、不透明部にある欠陥に対しては反射光のレベ
ルが高から低に変化はレベル差があることを利用して、
透明部に光が照射されているときは前記第１の回路を有
効とし、不透明部に光が照射されているときは前記第２
の回路を有効とする透明、不透明部の切り出し回路とに
より構成した点にある。
欠陥に対しては反射光のレベルが低から高に変化するこ
とを利用して該欠陥に基づく立上り信号を検出する第１
の回路と、不透明部にある欠陥に対しては反射光のレベ
ルが高から低に変化はレベル差があることを利用して、
透明部に光が照射されているときは前記第１の回路を有
効とし、不透明部に光が照射されているときは前記第２
の回路を有効とする透明、不透明部の切り出し回路とに
より構成した点にある。
次に図を参照して本発明の一実施例を説明する。
第７図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、３は不透明部と透明部から成る円筒物体、
６４は光電センサ、５８は照明ランプ、５は増幅器、６
は透明部にある欠陥を検出するための立上り信号検出回
路、７は不透明部にある欠陥を検出するための立下り信
号検出回路、８は比較器、９はカウンタ、３１はディジ
タル比較器、３２は判定回路、３３は排出部、である。
図において、３は不透明部と透明部から成る円筒物体、
６４は光電センサ、５８は照明ランプ、５は増幅器、６
は透明部にある欠陥を検出するための立上り信号検出回
路、７は不透明部にある欠陥を検出するための立下り信
号検出回路、８は比較器、９はカウンタ、３１はディジ
タル比較器、３２は判定回路、３３は排出部、である。
第８図は第７図の回路における要部の信号波形図である
。
。
第８図を参照し、なから第７図の回路動作を説明する。
光電センサ６４の出力は増幅器５にて増幅された後、立
上り信号検出回路６と立下り信号検出回路７に入力され
るだけでなく、比較器８の＋側入力端子にも入力される
。他方、比較器８の一側入力端子には基準電圧Ｔｈ１が
入力されている。
上り信号検出回路６と立下り信号検出回路７に入力され
るだけでなく、比較器８の＋側入力端子にも入力される
。他方、比較器８の一側入力端子には基準電圧Ｔｈ１が
入力されている。
光電センサ６４の出力（詳［２くは、増幅器５にて増幅
後の出力）は、第８図に示されているように、基準電圧
Ｔｈ１をしきい値として、円筒物体３の不透明部をスキ
ャンしているときは該基準電圧Ｔｈ、より大きく、透明
部をスキャンしているときは該基準電圧Ｔｈ１より小さ
い。従って比較器８の出力波形は、第８図に示されてい
るように、光電センサ６４が円筒物体３の不透明部をス
キャンしている期間にあってはハイレベルになり、透明
部をスキャンしている期間においてはロウレベルになる
。比較器８の出力により、不透明部がスキャンされてい
る期間ではアンドゲートＡ２が開いていて立下り信号検
出回路７の出力を通すが、アントゲ−）ＡＩはインバー
タＩの存在のため閉じており、立上り信号検出回路６の
出力は通さない。同様に、透明部がスキャンされている
期間では、アントゲ−） Ａ２が閉じ、アントゲ−）Ａ
Ｉが開くので、立上り信号検出回路６の出力のみがオア
回路ＯＲへ至ることを許される。
後の出力）は、第８図に示されているように、基準電圧
Ｔｈ１をしきい値として、円筒物体３の不透明部をスキ
ャンしているときは該基準電圧Ｔｈ、より大きく、透明
部をスキャンしているときは該基準電圧Ｔｈ１より小さ
い。従って比較器８の出力波形は、第８図に示されてい
るように、光電センサ６４が円筒物体３の不透明部をス
キャンしている期間にあってはハイレベルになり、透明
部をスキャンしている期間においてはロウレベルになる
。比較器８の出力により、不透明部がスキャンされてい
る期間ではアンドゲートＡ２が開いていて立下り信号検
出回路７の出力を通すが、アントゲ−）ＡＩはインバー
タＩの存在のため閉じており、立上り信号検出回路６の
出力は通さない。同様に、透明部がスキャンされている
期間では、アントゲ−） Ａ２が閉じ、アントゲ−）Ａ
Ｉが開くので、立上り信号検出回路６の出力のみがオア
回路ＯＲへ至ることを許される。
このようにして、不透明部と透明部から成る円筒物体３
は、不透明部と透明部のどちらが先頭になって進んでき
ても、欠陥の検出が可能であり、検出された欠陥信号は
カウンタ９にて計数され、計数結果はディジタル比較回
路３１において、成る基準値Ｓと比較され、それを上ま
わったとき、比較回路３１は出力を発生し、判定回路３
２は、円筒物体３には欠陥があるので不良であると判定
し、排出部３３を操作して円筒物体３を不良品として排
出させる。
は、不透明部と透明部のどちらが先頭になって進んでき
ても、欠陥の検出が可能であり、検出された欠陥信号は
カウンタ９にて計数され、計数結果はディジタル比較回
路３１において、成る基準値Ｓと比較され、それを上ま
わったとき、比較回路３１は出力を発生し、判定回路３
２は、円筒物体３には欠陥があるので不良であると判定
し、排出部３３を操作して円筒物体３を不良品として排
出させる。
第９Ａ図は第７図における立下り信号検出回路７の一例
を示すブロック図、第９Ｂ図は第９Ａ図における各部信
号の波形図、である。
を示すブロック図、第９Ｂ図は第９Ａ図における各部信
号の波形図、である。
第９Ａ図において、３５は微分器、３６．３７ははそれ
ぞれ比較器、３８はタイマー（例えば単安定マルチパイ
プレークなど）、である。比較器３６は、基準電圧Ｔｈ
２を超えた入力があるとき出力を発生し、比較器３７は
同じ（基準電圧Ｔ１１３を超えた入力があるとき出力を
発生する。
ぞれ比較器、３８はタイマー（例えば単安定マルチパイ
プレークなど）、である。比較器３６は、基準電圧Ｔｈ
２を超えた入力があるとき出力を発生し、比較器３７は
同じ（基準電圧Ｔ１１３を超えた入力があるとき出力を
発生する。
回路動作は、第９Ｂ図の波形図からも明らかなように、
傷信号としての立下り信号が入力すると、これは微分器
３５で微分され、該微分出力のうち、しきい値Ｔ１１２
を超えた部分が比較器３６から出力され、しきい値Ｔｈ
３を超えた部分が比較器３７から出力される。比較器３
６の出力はタイマー３８を起動する。タイマー３８の出
力と比較器３７の出力の論理積をアントゲ−）Ａｓで作
成し出力すれば、これが立下り信号の検出々力となる。
傷信号としての立下り信号が入力すると、これは微分器
３５で微分され、該微分出力のうち、しきい値Ｔ１１２
を超えた部分が比較器３６から出力され、しきい値Ｔｈ
３を超えた部分が比較器３７から出力される。比較器３
６の出力はタイマー３８を起動する。タイマー３８の出
力と比較器３７の出力の論理積をアントゲ−）Ａｓで作
成し出力すれば、これが立下り信号の検出々力となる。
第１０Ａ図は第７図における立上り信号検出回路６の一
例を示すブロック図、第１０Ｂ図は第１０Ａ図における
各部信号の波形図、である。
例を示すブロック図、第１０Ｂ図は第１０Ａ図における
各部信号の波形図、である。
第１０Ａ図において、３５Ａは微分器、３６人。
３７Ａはそれぞれ比較器、３８Ａはタイマー、■はイン
バータ、Ａ４はアンドゲート、である。比較器３６Ａは
基準電圧Ｔｈ４を超えた入力があるとき出力を発生し、
比較器３７Ａは同じく基準電圧Ｔｈ５を超えた入力があ
るとき出力を発生する。
バータ、Ａ４はアンドゲート、である。比較器３６Ａは
基準電圧Ｔｈ４を超えた入力があるとき出力を発生し、
比較器３７Ａは同じく基準電圧Ｔｈ５を超えた入力があ
るとき出力を発生する。
回路動作は、第１０Ｂ図の波形図を参照すれば、先に説
明した第９Ａ図についての回路動作の説明から類推的に
明らかであると思われるので、これ以上の説明は省略す
る。
明した第９Ａ図についての回路動作の説明から類推的に
明らかであると思われるので、これ以上の説明は省略す
る。
この発明によれば、立上り信号検出回路、及び立下り信
号検出回路からの傷検出々力を、透明、不透明部の切り
出し回路からの切り出し信号により自動的に選別し、透
明部が先に来ても後から来ても、それにかかわりなく、
確実に傷信号をつかまえることができるようになった。
号検出回路からの傷検出々力を、透明、不透明部の切り
出し回路からの切り出し信号により自動的に選別し、透
明部が先に来ても後から来ても、それにかかわりなく、
確実に傷信号をつかまえることができるようになった。
例えば不透明体部で発生するハレーションによるニセ傷
信号（第６図りに示す立上り信号）をも除去することが
できる。
信号（第６図りに示す立上り信号）をも除去することが
できる。
実施例の説明では、透明体と不透明体が一緒に結合して
いる円筒物体の場合について述べたが、透明体だけの円
筒物体あるいは不透明体だけの円筒物体がまじって到来
する場合についても本発明は原理的に十分対応できる。
いる円筒物体の場合について述べたが、透明体だけの円
筒物体あるいは不透明体だけの円筒物体がまじって到来
する場合についても本発明は原理的に十分対応できる。
また、円筒物体以外に、シート状のものを光電センサで
スキャンさせて、傷（穴）を検出する場合も同じように
本発明を適用できることは明らかである。
スキャンさせて、傷（穴）を検出する場合も同じように
本発明を適用できることは明らかである。
第１図は一般的なカプセル外観検査装置の全体を示す正
面図、第２図は同側面図、第３図は第１図における要部
を拡大して示した一部切欠き断面図、第４図（ａ）は不
透明体における欠陥検出の原理説明図、第４図（１））
は透明体（こおしする欠陥検出の原理説明図、第５図は
円筒物体の光電センサによるスキャニングの様子を示し
た斜視図、第６図は第５図におげろ光電センサの出力波
形図、第７図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
８図は第７図における要部の信号を示す波形図、第９Ａ
図は第７図における立下り信号検出回路の一例を示すブ
ロック図、！！９Ｂ図は第９Ａ図における各部信号の波
形図、第１０Ａ図はＭ７図における立上り信号検出回路
の一例を示すブロック図、第１０Ｂ図は第１０Ａ図にお
ける各部信号の波形図、である０ 符号説明 １ａ・・・・・・不透明体、１ｂ・・・・・・透明体、
２ａ、２ｂ・・・・・・穴、２ａ’、２ｂ’・・・・・
・傷信号、３・・・・・・円筒物体、５・・・・・・増
幅器、６・・・・・・立上り信号検出回路、７・・・・
・・立下り信号検出回路、８・・・・・・比較器、９・
・・・・・カウンタ、３１・・・・・・ディジタル比較
器、３２・・・・・・判定回路、３３・・・・・・排出
部、３５・・・・・・微分器、３６，３７・・・・・・
比較器、３８ 、３９・・・・・・タイマー代理人 弁
理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第４図 第７図 Ｉ ０Ｒ ６４５７１ ８Ａ２ ３ ワー二ト牡 第８図 １？８゜ 第９Ａ図 第９Ｂ図 檜ボ日玲７４ズｌ 第１０Ａ図 第１０Ｂ図 声唄詞叱Ｖ反力
面図、第２図は同側面図、第３図は第１図における要部
を拡大して示した一部切欠き断面図、第４図（ａ）は不
透明体における欠陥検出の原理説明図、第４図（１））
は透明体（こおしする欠陥検出の原理説明図、第５図は
円筒物体の光電センサによるスキャニングの様子を示し
た斜視図、第６図は第５図におげろ光電センサの出力波
形図、第７図は本発明の一実施例を示すブロック図、第
８図は第７図における要部の信号を示す波形図、第９Ａ
図は第７図における立下り信号検出回路の一例を示すブ
ロック図、！！９Ｂ図は第９Ａ図における各部信号の波
形図、第１０Ａ図はＭ７図における立上り信号検出回路
の一例を示すブロック図、第１０Ｂ図は第１０Ａ図にお
ける各部信号の波形図、である０ 符号説明 １ａ・・・・・・不透明体、１ｂ・・・・・・透明体、
２ａ、２ｂ・・・・・・穴、２ａ’、２ｂ’・・・・・
・傷信号、３・・・・・・円筒物体、５・・・・・・増
幅器、６・・・・・・立上り信号検出回路、７・・・・
・・立下り信号検出回路、８・・・・・・比較器、９・
・・・・・カウンタ、３１・・・・・・ディジタル比較
器、３２・・・・・・判定回路、３３・・・・・・排出
部、３５・・・・・・微分器、３６，３７・・・・・・
比較器、３８ 、３９・・・・・・タイマー代理人 弁
理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第４図 第７図 Ｉ ０Ｒ ６４５７１ ８Ａ２ ３ ワー二ト牡 第８図 １？８゜ 第９Ａ図 第９Ｂ図 檜ボ日玲７４ズｌ 第１０Ａ図 第１０Ｂ図 声唄詞叱Ｖ反力
Claims (1)
- １）透明部と不透明部が前後につながっている形の物体
を搬送しながら光を照射し、その反射光のレベル変化か
ら物体表面の欠陥を検出する欠陥検出回路であって、透
明部にある欠陥に対しては反射光のレベルが低から高に
変化することを利用して該欠陥に基づく立上り信号を検
出する第１の回路と、不透明部にある欠陥に対しては反
射光のレベルが高から低に変化することを利用して該欠
陥に基づく立下り信号を検出する第２の回路と、透明部
からの反射光と不透明部からの反射光とではレベル差が
あることを利用して、透明部に光が照射されているどき
は前記第１の回路を有効とし、不透明部に光が照射され
ているときは前記第２の回路を有効とする透明、不透明
部の切り出し回路とを有して成り、前記第１の回路また
は第２の回路からの検出々力により欠陥の有無を検出す
るようにしたことを特徴とする透明、不透明部から成る
物体の欠陥検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4018182A JPS58158543A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 透明、不透明部から成る物体の欠陥検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4018182A JPS58158543A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 透明、不透明部から成る物体の欠陥検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58158543A true JPS58158543A (ja) | 1983-09-20 |
| JPH0136576B2 JPH0136576B2 (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=12573606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4018182A Granted JPS58158543A (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 透明、不透明部から成る物体の欠陥検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58158543A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62194169A (ja) * | 1986-02-19 | 1987-08-26 | スタンレー電気株式会社 | 冷却用フアンの制御装置 |
-
1982
- 1982-03-16 JP JP4018182A patent/JPS58158543A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62194169A (ja) * | 1986-02-19 | 1987-08-26 | スタンレー電気株式会社 | 冷却用フアンの制御装置 |
| JPH0477233B2 (ja) * | 1986-02-19 | 1992-12-07 | Stanley Electric Co Ltd |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0136576B2 (ja) | 1989-08-01 |
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