JPS58151506A - 光学式相対位置測定装置 - Google Patents

光学式相対位置測定装置

Info

Publication number
JPS58151506A
JPS58151506A JP3444382A JP3444382A JPS58151506A JP S58151506 A JPS58151506 A JP S58151506A JP 3444382 A JP3444382 A JP 3444382A JP 3444382 A JP3444382 A JP 3444382A JP S58151506 A JPS58151506 A JP S58151506A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mark
camera
counter
width
relative position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3444382A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6230564B2 (ja
Inventor
Fumihide Sato
文秀 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3444382A priority Critical patent/JPS58151506A/ja
Publication of JPS58151506A publication Critical patent/JPS58151506A/ja
Publication of JPS6230564B2 publication Critical patent/JPS6230564B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は光学式相対位置測定装置、特に移動体の所定
位置に対する相対位置を光学的に測定するものに関する
例えば、レールに案内されながら走行する移動体を自動
制御により運転し、ある所定位置に停止して物の受は渡
し等の仕事を行なわせる場合、その所定位置に対する移
動体の停止位置を正確に定める必要が生じる。このため
に従来においては、その所定の位置に機械的なストッパ
ー機構等を設けたシ、あるいはレールにラックを切シ、
これにパルスエンコーダを噛み合わせて該エンコーダが
発生するパルスを計数することによシ原点位置から所定
位置までの距離を算出して位置決めを行なうようにして
いた。ところが、前者の機械的な手段は、所定位置毎に
位置決め機構を設けなければならず、また後者の場合は
レールにラックを切らなければならないとbつた面倒が
あった。そこで考えられるのが、所定位置にマークを付
する一方、そのマークを移動体側に搭載したラインスキ
ャンカメラで光学的に読取るという相対位置測定装置で
ある。しかしながら、このような光学式相対位置測定装
置は、マークとカメラ間の距離によって該カメラの光学
系における倍率が変化し、これが測定精度に大きな悪影
響を与えるという問題を有する。
この発明は前述した従来の課題に鑑みてなされたもので
、その目的は、カメラとマーク間の距離の変化に影譬を
受けることなく高精度な相対位置#j定を簡単に行なえ
るようにした光学式相対位置−」定装置を提供すること
にある。
上記目的を達成するために、この発明は、レールに案内
されながら走行する移動体と所定位置との相対位置を測
定する測定装置において、位置および幅が既知で上記所
定位置に付されたマークを読取るべく上記移動体に搭載
されたラインスキャンカメラと、上記ラインスキャンカ
メラの出力信号から上記マーク位置を計数するダウンカ
ウンタと、上記ラインスキャンカメラの出力信号から上
記マークの幅を計数するアップカウンタと、上記アップ
カウンタによシ計数されたマーク幅を設定幅に対して大
小比較する比較回路と、この比較回路によって上記アッ
プカウンタによシ計数されたマーク幅が上記設定幅よシ
も大きいことを上記比較回路によシ検出し上記ダウンカ
ウンタと上記アップカウンタの各計数値を演算データと
して演算する演算部とを備え、上記演算部は上記アップ
カウンタの計数値と既知のマーク幅から上記カメラの光
学系における倍率を演算し、この演算された倍率に基づ
いて上記カーメラと上記マークとの相対位置を該カメラ
と該マーク間の距離に影脣されずに算出するようにした
ことを%像とする。
以下、この発明の好適な実施例を図面に基づいて説明す
る。
第1図はこの発明による装置の一実施例を示す。
同図において、固定側にはマーク10が設けられ、また
移動体側にはラインスキャンカメラ14が搭載される。
マーク10は白地の紙等に予め線幅りが分かつてhる黒
地の線を引いたもので、上記カメラ14の光軸と対向し
て該カメラ14のスキャン軸にほぼ直角に位置するよう
に所定位置に貼られる。このマーク10は照明器12で
照明される。
上記カメラ14は、その撮像素子としてCCDの如きラ
インイメージセンナを有し、また第2図にも示すように
、そのセンサからの画像続出信号を一定のしきい値vh
で2値化する回路を有していて、この2値化された信号
16およびiji素に対応して発せられる続出クロック
18を出力するようにかつている。続出クロック18は
ゲート26を経てダウンカウンタ30へ送られ、また2
値化信号16と続出クロック18は黒地検出部20へ送
られる。
黒地検出部20は上記2値化信号16のパルス幅(#!
2図では負論理)の間だけ、上記続出クロック18をゲ
ート28を介して上記アップカウンタ34へ針数入力と
して送る。ダウンカウンタ30は上記カメラ14のライ
ンイメージセンサのビット数(画素数)に相当するプリ
セット値Nがセットされ、このプリセット値Nを上記読
出クロック18によってカウントダウンする。アップカ
ウンタ34の計数値nは比較回路36によって設定値W
5と大小比較される。この設定値Wsは上記既知のマー
ク幅りよシも若干小さ表幅に相当すぺ〈予め設定される
。計数値nが設定値九に満たない場合は、クリア信号4
0がアップカウンタ34に与えられて該カウンタ34が
零クリアされ、次の計数入力待ちの状態となる。また、
その計数値nが設定値Wsよシも大きい場合は、マスク
信号42がゲート26および28にそれぞれ与えられて
各カウンタ30および34の計数入力を禁止し、これに
より各カウンタ30お−よび34の計数値mおよびnが
保持される。この保持された計数値mおよびnだけが演
算部44の演算データとなる。これによシ第2図に示す
如く、マーク10と類似のゴミ等の汚れ101,10b
、IOC等が区別され、正規のマーク10に関するデー
タだけが弁別されて演算部44に入力される。演算部4
4の動作は、第2図に参照されるように、先ず、ダウン
カウンタ30の計数値mに基づ込てマーク10の中心の
位置Mを、M=m+n/2により演算する0次に、既知
のマーク幅りとアップカウンタ34の計数値nからカメ
ラ14の光学系における倍率(最終的な実効倍率) D
 / nを演算し、さらにこれからカメラ14の基準v
sからマーク10の中心までの距@1を、t= M D
 / nによシ算出する。この距離tをカメラ14の光
軸(中心)を基準に表わせば、L−I) (M−N/’
l ) nとなシ、所定位置に貼られたマーク10の中
心とカメラ14の光軸(中心)の距離、すなわちマーク
10の中心とカメラ140光軸(中心)の相対位置を、
カメラとマーク間の距離の影響を受けることなく正確に
測定することができる。
以上のようにこの発明によれば、所定位置とカメラとの
相対位置がカメラとマーク間の距離の変化に影響を受け
ることなく簡単かつ高精度に測定することができ、これ
によシ従来の位置決め機構あるいは装置の代わシに、移
動体側の制御部にて正確な位置補正を行なうことができ
、従って比較的簡単な構成でもって、例えば移動体を所
定位置に停止させて物の受は渡しかとを行なわせたシす
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による光学式相対位置測定装置の一実
施例を示すブロック図、第2図はその動作を示す波形チ
ャート図である。 図中同一部材には同一符号を付し、10はマー ゛り、
14はラインスキャンカメラ、20は黒地検出部、30
はダウンカウンタ、34II′iアツプカウンタ、36
は大小比較回路、44は演算部である。 代理人 弁理士  葛  野  信  −(ほか1名) 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  レールに案内されながら走行する移動体と所
    定位置との相対位置を測定する測定装置において、位置
    および幅が既知で上記所定位置に付されたマークを読取
    るべく上記移動体に搭載されたラインスキャンカメラと
    、上記ラインスキャンカメラの出力信号から上記マーク
    の位置を計数するダウンカウンタと、上記ラインスキャ
    ンカメラの出力信号から上記マークの幅を計数するアッ
    プカウンタと、上記アップカウンタによシ計数されたマ
    ーク幅を設定幅に対して大小比較する比較回路と、この
    比較回路によって上記アップカウンタによシ計赦された
    マーク幅が上記設定幅よシも大きいことを上記比較回路
    によシ検出し上記ダウンカウンタと上記アップカウンタ
    の各計数値を演算データとして演算する演算部とを備え
    、上記演算部は上tアップカウンタの計数値と既知のマ
    ーク幅から上記カメラの光学系における倍率を演算し、
    この演算された倍率に基づいて上記カメラと上記マーク
    との相対位置を該カメラと該マーク間の距離に影醤され
    ずに算出するようにしたことを特徴とする光学式相対位
    置測定装置。
JP3444382A 1982-03-04 1982-03-04 光学式相対位置測定装置 Granted JPS58151506A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3444382A JPS58151506A (ja) 1982-03-04 1982-03-04 光学式相対位置測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3444382A JPS58151506A (ja) 1982-03-04 1982-03-04 光学式相対位置測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58151506A true JPS58151506A (ja) 1983-09-08
JPS6230564B2 JPS6230564B2 (ja) 1987-07-03

Family

ID=12414377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3444382A Granted JPS58151506A (ja) 1982-03-04 1982-03-04 光学式相対位置測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58151506A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6225807U (ja) * 1985-07-30 1987-02-17
JPS62134503A (ja) * 1985-12-06 1987-06-17 Toyo Kikai Kk 線状マ−クの位置検出方式
JPS62160309U (ja) * 1986-03-31 1987-10-12
JPS62265509A (ja) * 1986-05-13 1987-11-18 Pilot Pen Co Ltd:The 物品の輪郭測定における被測定物品の実寸判定方法
JPS6318202A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Ya Man Ltd 電子光学式変位測定装置
JPS63304104A (ja) * 1987-06-03 1988-12-12 Nippon Denso Co Ltd 光学検出装置
JPH059348U (ja) * 1991-07-18 1993-02-09 タケヤ化学工業株式会社 収納用仕切り構造
JP2006124030A (ja) * 2004-09-29 2006-05-18 Sanko Kikai Kk ロータリー式自動包装機の充填シュートにおける粉舞い上がり抑止機構
JP2012241468A (ja) * 2011-05-23 2012-12-10 Nippo Corp 基準線追跡装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6378572U (ja) * 1986-11-12 1988-05-24

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5592509A (en) * 1978-12-28 1980-07-14 Showa Electric Wire & Cable Co Device for calculating wire in length
JPS5624503A (en) * 1979-08-04 1981-03-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Position detecting device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5592509A (en) * 1978-12-28 1980-07-14 Showa Electric Wire & Cable Co Device for calculating wire in length
JPS5624503A (en) * 1979-08-04 1981-03-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Position detecting device

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6225807U (ja) * 1985-07-30 1987-02-17
JPS62134503A (ja) * 1985-12-06 1987-06-17 Toyo Kikai Kk 線状マ−クの位置検出方式
JPS62160309U (ja) * 1986-03-31 1987-10-12
JPS62265509A (ja) * 1986-05-13 1987-11-18 Pilot Pen Co Ltd:The 物品の輪郭測定における被測定物品の実寸判定方法
JPS6318202A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Ya Man Ltd 電子光学式変位測定装置
JPH0439884B2 (ja) * 1986-07-11 1992-07-01 Ya Man Ltd
JPS63304104A (ja) * 1987-06-03 1988-12-12 Nippon Denso Co Ltd 光学検出装置
JPH059348U (ja) * 1991-07-18 1993-02-09 タケヤ化学工業株式会社 収納用仕切り構造
JP2006124030A (ja) * 2004-09-29 2006-05-18 Sanko Kikai Kk ロータリー式自動包装機の充填シュートにおける粉舞い上がり抑止機構
JP2012241468A (ja) * 2011-05-23 2012-12-10 Nippo Corp 基準線追跡装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6230564B2 (ja) 1987-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0422545B1 (en) Sheet thickness measuring apparatus
US5319442A (en) Optical inspection probe
JPS58151506A (ja) 光学式相対位置測定装置
ATE398764T1 (de) Optische positionsmesseinrichtung
JPH08159714A (ja) 位置検出センサ
JPH0820222B2 (ja) 長さ測定装置
JPS5596406A (en) Device for determining roughness of surface
JPS61155803A (ja) 幅測定装置
EP0019941B1 (en) Reduction projection aligner system
JPS58153105A (ja) 光学式相対位置測定装置
JPS61155908A (ja) 車間距離測定装置
JP2786216B2 (ja) 絵柄面積率測定装置
JP2527028B2 (ja) 厚さ計
JPH102715A (ja) 位置検出装置
JPH0316602B2 (ja)
JPH07198345A (ja) 円径測定装置
JP2711919B2 (ja) リニアスケール
JP2544789B2 (ja) 光学式変位測定装置
JPH0429047B2 (ja)
JPH064249Y2 (ja) 光学式距離測定装置
JPS59202012A (ja) 光学距離計
JPH04344408A (ja) 寸法測定器
SU1262282A1 (ru) Устройство дл определени положени границы объекта
JPS6461601A (en) Detecting device for lens displacement quantity
JPS6412322B2 (ja)