JPS58150845A - X線測定による多元系合金めつき層の定量分析法 - Google Patents

X線測定による多元系合金めつき層の定量分析法

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JPS58150845A
JPS58150845A JP57033064A JP3306482A JPS58150845A JP S58150845 A JPS58150845 A JP S58150845A JP 57033064 A JP57033064 A JP 57033064A JP 3306482 A JP3306482 A JP 3306482A JP S58150845 A JPS58150845 A JP S58150845A
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standard sample
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component
weight ratio
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Kazuo Arai
和夫 新井
Kunihiko Kataoka
片岡 圀彦
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JFE Steel Corp
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KAWATETSU KOUSEN KOGYO KK
Kawasaki Steel Corp
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、xIiI測定による多元系合金めっき層の
定量分析法に関し、とくに理論式を導入することにより
、被検体からの受光X線の積分強度(以下単にX線強度
という)がら簡便かつ高精度に定量分析を行おうとする
ものである。
従来から物質の定量分析法として、X線を利用する方法
が広く行われているが、従来法においては次に述べるよ
うな問題があった。
(1)  ぼう大なデータから回帰的に検量線を求める
必要がある。
(2)被検体の種類ごとに検量線を必要とする。
(8)検量線の真値からのずれを回避できず、このずれ
に基く誤差を容認せざるを得ない。 −゛、たとえば、
従来法に従い螢光X線分析にてめっきプラスのOu重量
比c以下単にcu比という)と付着量比とを定量する場
合には表1に示したように、銅、亜鉛および地鉄のx!
1強度から構−される任意の比と特性値;Ou比、付着
量比とや関係に着目し、それらの相関を微多くの試料に
ついて調べ、得られたデータをプロットして最小自乗法
により回帰式を求め、それをもって検量線としていた。
表! 従って上記の特性値tOU比、付着量比とを定量するに
はX@分析法とは別の方法によらねばならず、プラス中
の銅と亜鉛の、定量手段としてたと、えば原子吸光分析
法の如きが主として用いられていた。しかしながら原子
吸光分析法自体チャートの読みに起因する測定誤差が少
ながらず存在しているため、正確な銅と亜鉛の量は知り
得ない。そして測定精度を高める努力の程度にもよるが
、原子吸光分析法の測定精度はX線分析法の精度よりも
小さく見積っても2〜3桁悪く、シたがって特性値が広
範囲に異なるサンプルを数多く用意し、それらの測定デ
ータのプロットが必要であった。
そして、さらに重大な問題はそのような努力をいかに多
大に払ってもあくまでも得られたものは実験式に他なら
ず、真に正確な相関式とはなりえないことであり、結局
得られた値には誤差が残り、きわめて精度の高いX線分
析データの精度そのものを十分に生かし切れながった。
のである。
また表1の■、■例のごとく、標準サンプルを用いる場
合で、とくに被検体の種類別に標準サンプルを適用する
場合には、個々の検量線を作成し、量線を引き直さねば
ならないなど煩雑な間層も残っていたのである。
そこで発明者は特性値の精確な定量には特性値をX線強
度の関数とする純粋の理論式が不可欠である、との見地
から、これまで全く試みられていなかった理論式の導出
とその利用方法につき鋭意研究を重ね、その結果、被検
体がらのX線強度を測定するのみで二元系だけでなく多
元系の合金めっき層における各成分元素の重量比および
めっき付着量比、さらには相比率を定量できる理論式の
導出に成功したのであり、かくして定量値の精度アップ
と作業の簡便化の一挙両得が有利に実現されたのである
以下この発明を具体的に説明する。
さて、この発明で肝要なところは特性値をX線強度を用
いて理論的に表現することであり、そのポイントは標準
サンプルのデータを既知として与えることにより理論式
中において未知のパラメータを消去することにある。
前掲表1の0.0例においてはX線強度そのものの比で
X軸を構成している。しかるに(i)個々の元素のX線
強度と分析重量とを関係づける係数および1銅と亜鉛と
の係数比など、少くとも2つの未知の係数を導入しなけ
ればX線強度と(3u比との理論関係式は導出できない
。したがって従来はそのような未知の係数の正確な導入
あるいは消去法の検討をなすことを省いて、安直に表1
の■。
0例のごとき・X−Y相関プロットの回帰式をもって検
量線となして来たもめと推測される。
これに対して発明者らは、これまで全く試みられなかっ
た未知パラメータの消去を前提として理論式の導出を意
図して考察を重ねた末、ついにその関係理論式を導き出
すに到ったのである。
発明者らは、まず2元系合金であるめっきプラスについ
てその成分元素の重量比、めっき付着量比およびβ相の
比率とにつき定量できる理論式の導出に関し研究を重ね
、得られた理論式に基いてこれを多元系合金めっき層に
ついても適用できるよう一般化したのである。
以下めっきプラスのCu比、めっき付着量比およパ、び
β相比率について導出しえた理論式をその導出経過に従
い説明する。
(1)01.1比表式 銅と亜鉛の被検絶対重量をそれぞれm□、 mzで表記
し、X線分析によるX線強度ICs IZとの間で(1
)式のような比例関係にあるものと仮定する。
′。−kQ−IQ     、  ・・・・・・・・・
・・・(、)mZ””kZ’IZ””Z’kC@IZし
たがって、Cu比;Pcは(8)式で与えられる。
ところで、銅、亜鉛のX線強度の任意サンプルと標準サ
ンプルとの比をそれぞれ(4)式ただしIc。、Izo
はそれぞれ標準サンプルについてのX線強度 のように表記し、これらの割合値をへとして上、掲P。
と類似した形で表わすと−は、 −z L%−(1+z) pc−(1+61ψ。< 曜−1>丁1      ・
・・・・・・・・・・・・・・(5)となる。
いっぽう標準サンプルのCu比’ ”coは次式で表わ
され、この式より ε2χo−4゜−1を(5)式に代
入してPo−(1+ Cf、:o−1) (、Q−1)
)−”    ・−・・・−・−<61となる。
(II)めっき付着量比表式 めっきプラスの厚さと密度をそれぞれδl)で表記する
と mo+mz−7+・δ・5xlo−’(り〕    ・
・曲・画・・・(7)s:X@分析表面積(mm”)、
 、0(9AIl”)、 J(am)で与えられるので
、任意サンプルと標準サンプルとの比は(8)式となる
マタ、付着量比: M、(g、M)とめつき厚:δ〔μ
m〕(7)M係よりδ−dρF’Oz/’″pが得られ
、この式を(8′)式に代入して となる。よってプラスのめっき付層量比は次式の(1)
βプラス率表式 αプラスとβプラスの被検絶対重量をmα1厘βで表記
し、X線回折における各相がらの積分強度工α、と工β
との間で(10)式のような比例関係にあると 。
仮定する。
したがってβプラス率g Qβは(12)式で与えられ
る0 Ou比表式と類似の関係から前掲(6)式においてPo
→Cβe ”co→0βo、Ro、、→RIc%なる置
換を施せば、求める01表式となる。すなわち Cβ−(1+(0,y%−1)(R,、、,1−1)丁
1    ・・・・・・川・・・・・・(18)ここで 、以上の結果を以下にまとめて示す。   ゛第1式+
Po−(:l+(q。−1)(FG、J−1))−1第
3式:0β−(1+(OA−1)(ζ11)丁1ここで P、s  Cu 比 MOZ’付着量比〔9^〕 Cβ;βプラス率 Iz; Znのx@強度 ■。s OuのX線強度 ■a:αミニαプラス強度 工β: βプラスのX線強度 記号にゼロを添字したものは標準サンプル値以上二元系
合金めっきの場合における各成分元素の重置比およびめ
っき付着量比ならびに相比率、の定置に関する理論式第
1.第2および第3式について示したが、発明者らはさ
らに一歩進んで、得られた各理論式に基き多元系合金め
っきの定量分析にも適用できる一般式の導出に成功した
のである。
以下にその結果を示す。
頭重量比表式 1)特定元素nについて l)他の任意元素kiについて CB)めっき付着量比(9/に9)表式(0)相比率表
式 Cn”” ’ ” 〉=(Qにに4 。−1> (R”
、1. k、−11丁1−(IN)ここで Pno’標準サンプルにおける成分元素nの重量比Mo
: 41準サンプルにおけるめっき合金の付着量比(9
,As)Qn、kid”標準サンプル中の2つの相n、
ia間における相nの重量比 かくしてこの発明によれば多元系合金めっき層の定量分
析につき、従来の如く煩雑な手順で種々の検量線を準備
しておく必要なしに、被検体と同一の成分からなり各成
分元素の重量比、めっき付着量比および相比率が既知の
標準サンプルを用意しておくだけで、被検体からのX線
強度を測定することにより、上掲の理論式(1) 、 
(n)および([)に基いて各特性値の定量が、簡便に
しかも高い精度の下に達成される。
つぎにこの発明法をめっきプラスの定量に適用した場合
の実施例について説明する。
第1図に第1式からの計算による一−P0の関係、をP
。。をパラメータとした関係曲線群で示す。そして第2
図(a) 、 (b)および(C)には鋼線に銅÷亜鉛
と順次めっきを施した後、加熱して合金化処理したその
まま材(a)とその後減面率90〜98%で引抜加工し
た伸線まま材(b)およびそれらで撚加工したスチール
コード(C)のめつきプラスにおけるR%とPoとの関
係をプロットして示す。プロットのPC,値は原子吸光
分析、R%値は螢光X線分析による。
プロットの回帰曲線が理論計算に蒼く曲線すなわち第1
図に示した曲線とほぼ一致していることが明らかである
第8図(a) 、 (b)および(C)には、上述した
各熱処理ないし加工処理を施した各材料についての計算
P0と測定P。との対照プロットを示したが、いずれの
場合もほぼ一対一の対応直線を中心にして分布している
。プロットの回帰直線が一対一の対応直線からずれてい
るのは1標準サンプルの(3u比:Po。
の測定誤差に起因するものであり、また個々のプロット
の一対一対応直線からのずれは原子吸光分析法の測定誤
差に他ならない。
従って標準サンプルの測定誤差が無視できるほど小さい
場合には理論式を原子吸光分析値の誤差検定に役立たせ
ることもできる。
つぎに第4図(a) 、 (b)および(C)に各処理
後におけるめっきプラスの計算M。2−測定K。2の対
照プロットを示す。一対一の対応直線にほぼ載っていて
、この理論式がめつき付着量比の定量につき高い精度を
そなえることを示している。
さらに第5図には第8式に基いた計算値によるR?%−
Cβ関係曲線群を′Cβ0をパラメータとして示す。
従来βプラス率(Cβ)については、αおよびβプラス
量ともX線回折の積分強度から(lO)式によって推定
する以外全く方法がないとされていたので、前掲の第2
図に示した如きR%−CU比(Po)プロットと類似の
R侃−0βのプロットは作成できながった。したがって
、′″X線回折からのR4値とX線回折以外の方法によ
るβプラス重鎖とが与えられてはじめて計算に基いた第
5図のR?、−0β関係曲線の妥当性を実証できる“と
いう見地に立てば第8式の妥当性を実証することはでき
ないことにな゛。
、るが、とはいうものの後述する如くβプラス率の測定
は可能であり、さらにもましてRo、4−Cu比(Po
)のプロットによる計算−−Po関係曲線の妥当性が実
証されているので、βプラス率表式の導出過程で説明し
たごとく、(lO)式の前提に立つかぎりこの第8式の
妥当性を疑う余地は全くないのである。
さて前述の如く厳密な意味では第8式が実用化されるに
は、標準サンプルのβプラス率が既知でなければならな
い。′そして、X線回折法によらないでβプラス率を知
りうる唯一の手段は第6図に、示した(3u比−βプラ
ス率相関ラインである。これはめつきプラスについてい
えば、全層にわたって完全に均一なプラスすなわち拡散
を無限大に施し平衡状態に達したときに利用できるもの
である。
このように拡散を十分に施してほぼ平衡状態に達しため
つきプラス、合金めっきプラスあるいは溶製したバルク
プラスを標準サンプルとすればそれらのCU比を知るこ
とで第6図からβプラス率を知ることが可能であり、か
くして標準サンプルのβプラス率が既知であればX線回
折によるα、βプラスの積分強度値を第8式に適用する
ことにより、任意サンプ々のβプラス率を算出できるの
である。
なお、標準サンプルと同じようにして第6図に基いてQ
u比から知りえた任意サンプルのβプラス率をX線強度
比とのプロットから回帰式を求めるることば可能である
が、第5図にみるごとく直線近似するには誤差が大きす
ぎるので、従来技術の検量線方式は精度が悪く、実用に
は供し得なかったのである。
第8式の導出により、これまで一般にβプラス率に関し
て全く定量化されていなかった状態から正確に定量でき
ることになるという非常に大きな進歩かえられた゛わけ
である。なお、第8式はβプラス率−に限らず任意の合
金における興なる構成物質の重量比を定量できるので波
及効果は甚大である。
因みに前掲A、il)の(I′)式による計算例を以下
に示す。この式は特定元素nについて重量比Pnが得ら
れた場合、他の元素kiの重量比Pkiを得るための簡
易式である。
なお、この発明にかかわる技術はプラスむく板のOu比
およびプラス合金めっき液中のOu比の定量にも適用で
きる。
以上述べたように、この発明によれば、多元系合金めっ
き層につきその成分元素の重量比、めっき付着量比、さ
らに該合金めっき層が複数の相を形成する場合にはそれ
らの相比率についての定量分析を、迅速かつ簡便にしか
も高い精度の下に実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る理論式からの計算によるR%と
Poとの関係をP。。をパラメータとして示したグラフ
、 第2図a、bおよび0はいずれもへとPoとの関係につ
き実測データを理論式と対比して示したグラフ1 第3図a、bおよびCはいずれも計算P0と測定P0と
を対比して示したグラフ、 第4図a、bおよびCはいずれも計算M。2と測定M。 2とを対比して示したグラフ、 第5図は計算によるRO/、とCβとの関係を0β。を
パラメータとして示したグラフ、 第6図はプラスのOu比とβプラス率(0β)との平衡
ラインを示したグラフである。 第4図 <a) lJ、0   50   60   70−1す’Mc
t(へ1ン (1))       (C) 計算Mc1 第5図 R′% 第6図 cL比PC

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 多元系合金めっき層を被検体として螢光Xサンプル
    について求めた各成分元素の積分強度値I。とから下記
    (I)弐′および(II)式に基いて被検体の各成分元
    素の重量比Pnならびにめっき付着量比Mを定量するこ
    とを特徴とするX線測定による多元系合金めっき層の定
    量分析法。 記 m元系合金においてi−1,・・・・・・・、(m−1
    1ここで Qn、klO,’標準サンプル中の2元素n 、k1間
    におけるnの重量比 Pn;  標準サンプルにおける成分元素nの重量比M
    Or  標準サンプルにおけるめっき付着量比(97h
    9 )2、 多元系合金めっき層を被検体としてX線を
    照射し、該被検体中の興なる相からの回折X線を受光し
    て各相の積分強度をそれぞれ算出し、得られた各積分強
    度値Iと予め用意した標準サンプルについて求めた各相
    の積分強度値I。とから下記1)式に基いて被検体各相
    の重量比%を定量することを特徴とするX線測定による
    多元系合金めっき層の定量分析法。 記 m元系合金においてi−1,・・曲、Tm−1)ここで ”n、kiOi標準サ標準サンプルウの相n、ki間に
    おけるn相の重量比
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