JPS58148867U - 2次電子検出装置 - Google Patents
2次電子検出装置Info
- Publication number
- JPS58148867U JPS58148867U JP4675282U JP4675282U JPS58148867U JP S58148867 U JPS58148867 U JP S58148867U JP 4675282 U JP4675282 U JP 4675282U JP 4675282 U JP4675282 U JP 4675282U JP S58148867 U JPS58148867 U JP S58148867U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- secondary electron
- detection device
- electron detection
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は通常の走査型電子顕微鏡における2次電子検出
装置の側面図、第2図は高分解能が要求される場合の2
次電子検出装置の従来構成の側面 “図、第3
図は本考案の一実施例装置の側面図、第4図は本考案の
他の実施例を示し、同図Aはその一つの側面図、B、
C,Dは夫々異る他の実施例の平面図である。 1・・・対物レンズのポールピース、2・・・試料照射
用電子ビーム或は電子光学系の光軸、3・・・試料、4
・・・2次電子、5・・・2次電子収集電極、7・・・
電子検出器、8・・・電子吸収体。
装置の側面図、第2図は高分解能が要求される場合の2
次電子検出装置の従来構成の側面 “図、第3
図は本考案の一実施例装置の側面図、第4図は本考案の
他の実施例を示し、同図Aはその一つの側面図、B、
C,Dは夫々異る他の実施例の平面図である。 1・・・対物レンズのポールピース、2・・・試料照射
用電子ビーム或は電子光学系の光軸、3・・・試料、4
・・・2次電子、5・・・2次電子収集電極、7・・・
電子検出器、8・・・電子吸収体。
Claims (3)
- (1)対物レンズのポールピースの上側において、電子
光学系の光軸の周囲に同光軸を中心に対称的に2次電子
収集電極を配置し、同電極の後方に電子検出器を配置し
た2次電子検出装置。 - (2)2次電子収集電極が電子光学系の光軸を中心とす
る環状である実用新案登録請求の範囲第1項記載の2次
電子検出装置。 - (3)電子光学系の光軸を中心として放射状に2次電子
収集電極と電子検出器との組合せを複数組配置した実用
新案登録請求の範囲第1項記載の2次電子検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4675282U JPS58148867U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 2次電子検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4675282U JPS58148867U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 2次電子検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58148867U true JPS58148867U (ja) | 1983-10-06 |
Family
ID=30057738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4675282U Pending JPS58148867U (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | 2次電子検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58148867U (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6350442U (ja) * | 1986-09-20 | 1988-04-05 | ||
JP2016126955A (ja) * | 2015-01-07 | 2016-07-11 | 日本電子株式会社 | 電子検出装置および走査電子顕微鏡 |
WO2017006408A1 (ja) * | 2015-07-06 | 2017-01-12 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5730253A (en) * | 1979-06-28 | 1982-02-18 | Jeol Ltd | Secondary electron detector for scan type electron microscope |
JPS5835854A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | 二次電子検出装置 |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP4675282U patent/JPS58148867U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5730253A (en) * | 1979-06-28 | 1982-02-18 | Jeol Ltd | Secondary electron detector for scan type electron microscope |
JPS5835854A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | 二次電子検出装置 |
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JPS6350442U (ja) * | 1986-09-20 | 1988-04-05 | ||
JP2016126955A (ja) * | 2015-01-07 | 2016-07-11 | 日本電子株式会社 | 電子検出装置および走査電子顕微鏡 |
WO2017006408A1 (ja) * | 2015-07-06 | 2017-01-12 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
US10734191B2 (en) | 2015-07-06 | 2020-08-04 | Hitachi High-Tech Corporation | Charged particle beam device |
US10971328B2 (en) | 2015-07-06 | 2021-04-06 | Hitachi High-Tech Corporation | Charged particle beam device |
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