JPS58148867U - 2次電子検出装置 - Google Patents

2次電子検出装置

Info

Publication number
JPS58148867U
JPS58148867U JP4675282U JP4675282U JPS58148867U JP S58148867 U JPS58148867 U JP S58148867U JP 4675282 U JP4675282 U JP 4675282U JP 4675282 U JP4675282 U JP 4675282U JP S58148867 U JPS58148867 U JP S58148867U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
secondary electron
detection device
electron detection
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4675282U
Other languages
English (en)
Inventor
啓義 副島
Original Assignee
株式会社島津製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社島津製作所 filed Critical 株式会社島津製作所
Priority to JP4675282U priority Critical patent/JPS58148867U/ja
Publication of JPS58148867U publication Critical patent/JPS58148867U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は通常の走査型電子顕微鏡における2次電子検出
装置の側面図、第2図は高分解能が要求される場合の2
次電子検出装置の従来構成の側面     “図、第3
図は本考案の一実施例装置の側面図、第4図は本考案の
他の実施例を示し、同図Aはその一つの側面図、B、 
C,Dは夫々異る他の実施例の平面図である。 1・・・対物レンズのポールピース、2・・・試料照射
用電子ビーム或は電子光学系の光軸、3・・・試料、4
・・・2次電子、5・・・2次電子収集電極、7・・・
電子検出器、8・・・電子吸収体。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)対物レンズのポールピースの上側において、電子
    光学系の光軸の周囲に同光軸を中心に対称的に2次電子
    収集電極を配置し、同電極の後方に電子検出器を配置し
    た2次電子検出装置。
  2. (2)2次電子収集電極が電子光学系の光軸を中心とす
    る環状である実用新案登録請求の範囲第1項記載の2次
    電子検出装置。
  3. (3)電子光学系の光軸を中心として放射状に2次電子
    収集電極と電子検出器との組合せを複数組配置した実用
    新案登録請求の範囲第1項記載の2次電子検出装置。
JP4675282U 1982-03-30 1982-03-30 2次電子検出装置 Pending JPS58148867U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4675282U JPS58148867U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 2次電子検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4675282U JPS58148867U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 2次電子検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58148867U true JPS58148867U (ja) 1983-10-06

Family

ID=30057738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4675282U Pending JPS58148867U (ja) 1982-03-30 1982-03-30 2次電子検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58148867U (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6350442U (ja) * 1986-09-20 1988-04-05
JP2016126955A (ja) * 2015-01-07 2016-07-11 日本電子株式会社 電子検出装置および走査電子顕微鏡
WO2017006408A1 (ja) * 2015-07-06 2017-01-12 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730253A (en) * 1979-06-28 1982-02-18 Jeol Ltd Secondary electron detector for scan type electron microscope
JPS5835854A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Hitachi Ltd 二次電子検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5730253A (en) * 1979-06-28 1982-02-18 Jeol Ltd Secondary electron detector for scan type electron microscope
JPS5835854A (ja) * 1981-08-28 1983-03-02 Hitachi Ltd 二次電子検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6350442U (ja) * 1986-09-20 1988-04-05
JP2016126955A (ja) * 2015-01-07 2016-07-11 日本電子株式会社 電子検出装置および走査電子顕微鏡
WO2017006408A1 (ja) * 2015-07-06 2017-01-12 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
US10734191B2 (en) 2015-07-06 2020-08-04 Hitachi High-Tech Corporation Charged particle beam device
US10971328B2 (en) 2015-07-06 2021-04-06 Hitachi High-Tech Corporation Charged particle beam device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS58148867U (ja) 2次電子検出装置
JPS619761U (ja) 電子線装置
JPS61104960U (ja)
JPS58174856U (ja) 電子顕微鏡
JPS5966853U (ja) 面積走査角度走査両用電子線走査型分析装置
JPH0348852U (ja)
JPS5945851U (ja) 荷電粒子線エネルギ−分析装置
JPS6065967U (ja) 走査電子顕微鏡
JPS61131353A (ja) 二次電子検出器
JPS58174855U (ja) 2次電子検出装置
JPS59125058U (ja) 荷電粒子線装置における二次電子検出装置
JPS60184259U (ja) 分析電子顕微鏡
JPS5857065U (ja) 表面分析装置
JPH0254156U (ja)
JPS6188656U (ja)
JPS60187450U (ja) 走査電子顕微鏡用2次電子検出装置
JPS60190107U (ja) 光学式変成装置
JPS5971563U (ja) 二次電子検出器
JPS60155021U (ja) 対物レンズ装置
JPS60136048U (ja) 走査電子顕微鏡装置
JPS59158600U (ja) 恒星検出装置
JPS58120555U (ja) 荷電ビ−ム装置
JPS5882684U (ja) Ct装置のx線検出器
JPS6130955U (ja) 静電偏向型の撮像管
JPH0344523U (ja)