JPS58146843A - ネジの表面欠陥検査装置 - Google Patents
ネジの表面欠陥検査装置Info
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- JPS58146843A JPS58146843A JP2968682A JP2968682A JPS58146843A JP S58146843 A JPS58146843 A JP S58146843A JP 2968682 A JP2968682 A JP 2968682A JP 2968682 A JP2968682 A JP 2968682A JP S58146843 A JPS58146843 A JP S58146843A
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- JP
- Japan
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- screw
- light
- reflected light
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- reflected
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
-
- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はネジの加工工程におけるネジ部表面の欠陥を
光学的に検査する装置に関するものである。
光学的に検査する装置に関するものである。
ネジの検査としては、従来「ネジ山高さ」、「ネジのピ
ッチ」等のネジ要素の検査を行なう装置が開発されてき
たが、加工中にネジ部に発生する各種表面欠陥の検査に
関しては、ネジ特有の現象として正常面プロフィ−ｐが
非常に複雑で小さな曲率変化を持つため、表面検査の代
表的な手法である光学方式は困難とされてきた。
ッチ」等のネジ要素の検査を行なう装置が開発されてき
たが、加工中にネジ部に発生する各種表面欠陥の検査に
関しては、ネジ特有の現象として正常面プロフィ−ｐが
非常に複雑で小さな曲率変化を持つため、表面検査の代
表的な手法である光学方式は困難とされてきた。
この発明はかかる現状に対処すべくなされたもので、光
をネジの表面に照射点を通過する法線に対して所定の角
度をもたせて照射し且つネジの軸方向に平行に走査し、
上記ネジの各部位に対応して分離する各反射光を光電変
換した信号波形Ｏ変化を検出することによシ、ネジの各
部位の異常を検出することができるネジの表面欠陥検査
装置を提供することを目的とするものである。
をネジの表面に照射点を通過する法線に対して所定の角
度をもたせて照射し且つネジの軸方向に平行に走査し、
上記ネジの各部位に対応して分離する各反射光を光電変
換した信号波形Ｏ変化を検出することによシ、ネジの各
部位の異常を検出することができるネジの表面欠陥検査
装置を提供することを目的とするものである。
以下、図に基づいてこの発明の一実施例を説明する。第
１図はこの発明にかかわる検査装置の光学系を示す概略
図、第意図はキジ部における反射光の経路を示す平面図
、第口図イ）、−）、（へ）は各光電素子の出力信号波
形をそれぞれ示す波形図である。
１図はこの発明にかかわる検査装置の光学系を示す概略
図、第意図はキジ部における反射光の経路を示す平面図
、第口図イ）、−）、（へ）は各光電素子の出力信号波
形をそれぞれ示す波形図である。
図において、（ｌ）はネＳ’ 、 （りは走査され走入
射光、（３）はネｓＦ （ｔ）の山部から反射される反
射光、（４）はネジ（１）稜線部から反射される反射光
、（６）はキＳ’ （１）谷部から反射される反射光％
（ｓ） ｓ （７）、（１）は各反射光（３）、（４）
、（ｉ）を受光して出力する光電素子、（９）はネ＄’
（１）の部の外周円、（２）はネジ（１）の谷部の外
周円、曽は光電素子（３）の出力信号波形、（２）は光
電素子（６）の出力信号波形、幹は充電素子（４）の出
力信号波形である。
射光、（３）はネｓＦ （ｔ）の山部から反射される反
射光、（４）はネジ（１）稜線部から反射される反射光
、（６）はキＳ’ （１）谷部から反射される反射光％
（ｓ） ｓ （７）、（１）は各反射光（３）、（４）
、（ｉ）を受光して出力する光電素子、（９）はネ＄’
（１）の部の外周円、（２）はネジ（１）の谷部の外
周円、曽は光電素子（３）の出力信号波形、（２）は光
電素子（６）の出力信号波形、幹は充電素子（４）の出
力信号波形である。
第１図において、光は好ましくはキジ（１）の軸方向に
沿ってなおかつネｖ（１）の中心を通る法線（図示せず
）から大きく外してネジ（１）に投射、走査されて走査
入射光（りとなる。この時第意図において明らかなよう
に、ますネジ山部からの反射光（３）がネジ山外周円（
９）に対して発生、同様にネジ谷部からの反射光（Ｉ）
がネジ谷外周円（至）に対して発生する。
沿ってなおかつネｖ（１）の中心を通る法線（図示せず
）から大きく外してネジ（１）に投射、走査されて走査
入射光（りとなる。この時第意図において明らかなよう
に、ますネジ山部からの反射光（３）がネジ山外周円（
９）に対して発生、同様にネジ谷部からの反射光（Ｉ）
がネジ谷外周円（至）に対して発生する。
ここで両度射光（３）と（４）は両外周円（９）とαＱ
の直径の差に起因して、空間的に大きく分離されること
は明らかであシ、その途中（間の空間）に′に−てネジ
稜線部からの反射光（４）が発生する。一方、走査入射
光（２）はネジの軸方向に平行に走査されているため、
ネジ（１）上の沢山ある各ネジ山、ネジ谷、ネジ稜線か
らの各反射光は各々−直線上、すなわち第２図において
各々（３）、（６）、（４＞の各反射光の方向に一致す
る。したがって、ネジ（１）の軸方向に細長く伸びた形
状を有する各光電素子（ａ）、（ｓ） 、 （１で上記
各反射光（３）、（５）、（４）を受は充電変換するこ
とによシネジ（１）の各部位に対する仄射信号を得るこ
とができる。第８図はこのようにして得られた信号・の
−例を示すものであ）、勾がネジ山に対応する出力信号
波形（２）がネジ谷に対応する出力信号波形（２）がキ
ジ稜線に対応する出力信号波形を各々示している。
の直径の差に起因して、空間的に大きく分離されること
は明らかであシ、その途中（間の空間）に′に−てネジ
稜線部からの反射光（４）が発生する。一方、走査入射
光（２）はネジの軸方向に平行に走査されているため、
ネジ（１）上の沢山ある各ネジ山、ネジ谷、ネジ稜線か
らの各反射光は各々−直線上、すなわち第２図において
各々（３）、（６）、（４＞の各反射光の方向に一致す
る。したがって、ネジ（１）の軸方向に細長く伸びた形
状を有する各光電素子（ａ）、（ｓ） 、 （１で上記
各反射光（３）、（５）、（４）を受は充電変換するこ
とによシネジ（１）の各部位に対する仄射信号を得るこ
とができる。第８図はこのようにして得られた信号・の
−例を示すものであ）、勾がネジ山に対応する出力信号
波形（２）がネジ谷に対応する出力信号波形（２）がキ
ジ稜線に対応する出力信号波形を各々示している。
同図に示すように、光の走査（時間の経過と伴って、ま
ず出力信号波形−にパルスが発生し、以後、出力信号波
形■、出力信号波形−の順に発生する。この時、各信号
波形は光電素子（ａ） ｓ （７） 、（ｓ）に入る各
反射光（３） ％ （４） 、（３）が空間的に大きく
分離されているため、他の部分からの反射光の影響を全
く受けず安定した出力信号波形を得るこ・とができる。
ず出力信号波形−にパルスが発生し、以後、出力信号波
形■、出力信号波形−の順に発生する。この時、各信号
波形は光電素子（ａ） ｓ （７） 、（ｓ）に入る各
反射光（３） ％ （４） 、（３）が空間的に大きく
分離されているため、他の部分からの反射光の影響を全
く受けず安定した出力信号波形を得るこ・とができる。
又、ネジ（１）の各部に欠陥が発生した場合、第８図に
示すように対応する部分の反射光が乱れて結果的に対応
する各出力信号波形−，＠、に）が乱れるので、これを
検出することによシ欠陥を抽出することがで亀る。
示すように対応する部分の反射光が乱れて結果的に対応
する各出力信号波形−，＠、に）が乱れるので、これを
検出することによシ欠陥を抽出することがで亀る。
したがって、この発明によればネジ（１）の表面欠陥検
査を安定して実施することかで者るだけでなく、ネジ（
１）表面のどの部分に欠陥が発生しているかという情報
まで得るととができ石、なお、特に例示はして−なＶ＆
が第８図に示し九ようなバ／Ｉ’ス波形よｐその異常を
検知し、欠陥を抽出する回路的手段は既に欠陥検査用と
して周知のものがあシ、信号処理回路の具体例において
本特許請求の範囲を越えるしとはでもない。
査を安定して実施することかで者るだけでなく、ネジ（
１）表面のどの部分に欠陥が発生しているかという情報
まで得るととができ石、なお、特に例示はして−なＶ＆
が第８図に示し九ようなバ／Ｉ’ス波形よｐその異常を
検知し、欠陥を抽出する回路的手段は既に欠陥検査用と
して周知のものがあシ、信号処理回路の具体例において
本特許請求の範囲を越えるしとはでもない。
又、光の走査においてキジ（１）の軸に沿った方向に走
査する場合について説明したが、さらにネジ（１）全体
の外形ゾロフィーμが円筒以外の形状をしている場合、
このプロフィ−μに沿った方向に光を走査すれば、上記
したと同じ効果が得られることは明らかである。さらに
走査角に関してはネＶ（１）の山部の影にネジ（１）の
谷が入らないようにするためには、走査角の上限をネジ
山の頂角にすれば良い。
査する場合について説明したが、さらにネジ（１）全体
の外形ゾロフィーμが円筒以外の形状をしている場合、
このプロフィ−μに沿った方向に光を走査すれば、上記
したと同じ効果が得られることは明らかである。さらに
走査角に関してはネＶ（１）の山部の影にネジ（１）の
谷が入らないようにするためには、走査角の上限をネジ
山の頂角にすれば良い。
以上のように、この発明によれば光をネジの表面に照射
点を通過する法線に対して所定の角度をもたせて照射し
且つネジの軸方向に平行に走査し、上記ネジの各部位に
対応して分離する各反射光を光電変換した信号波形の変
化を検出することによシ、従来困難であったネジの表面
欠陥検査が可能となるばかりでなく、欠陥発生部位まで
を特定できるなど、実用土の効果は多大なものである。
点を通過する法線に対して所定の角度をもたせて照射し
且つネジの軸方向に平行に走査し、上記ネジの各部位に
対応して分離する各反射光を光電変換した信号波形の変
化を検出することによシ、従来困難であったネジの表面
欠陥検査が可能となるばかりでなく、欠陥発生部位まで
を特定できるなど、実用土の効果は多大なものである。
第１図はこの発明にかかわる検査装置の光学系を示す概
略図、第２図はネジ部における反射光Ｏ経路を示す平面
図、第°′８図イ）、（嗜、（ハ）は各光電素子の出力
信号波形をそれぞれ示す波形図である。 図中、（１）はネジ、（２）は入射光、（ｓ）、（４）
、（ｉ）社反射光（６）、（７）％（８）は光電素子、
曽、轡、曽は出力信号波形である。 尚、各図中間−附号は同−又は相当部を示す。 代理人 葛野信−（静１名） 第１図 第２図
略図、第２図はネジ部における反射光Ｏ経路を示す平面
図、第°′８図イ）、（嗜、（ハ）は各光電素子の出力
信号波形をそれぞれ示す波形図である。 図中、（１）はネジ、（２）は入射光、（ｓ）、（４）
、（ｉ）社反射光（６）、（７）％（８）は光電素子、
曽、轡、曽は出力信号波形である。 尚、各図中間−附号は同−又は相当部を示す。 代理人 葛野信−（静１名） 第１図 第２図
Claims (3)
- （１）ネジの表面に照射点を通過する法線に対して所定
の角度をもたせて光を照射し且つ上記ネジの軸木向に平
向に走査する手段と、上記ネジの山、谷、稜線の各部位
に対応して分離集束する反射光の各集束位置にそれぞれ
設置され上記反射光を受光して出力する光電素子とを備
え、上記各光電素子の出力信豊波形の乱れにより上記ネ
ジの表面各部位の異常を検知するようにしたことを特徴
とするネジの表面欠陥検査装置。 - （２）光の走査角をネジの頂角以内に設定したことを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のネ内表面欠陥検査
装置。 - （３）光の走査本向を上記ネジのプロブイーμに沿って
設定したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
ネジの表面欠陥検査装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2968682A JPS58146843A (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | ネジの表面欠陥検査装置 |
| DE19833306194 DE3306194A1 (de) | 1982-02-25 | 1983-02-23 | Verfahren zur pruefung von schraubenoberflaechen auf fehler und vorrichtung zu seiner durchfuehrung |
| US06/469,234 US4598998A (en) | 1982-02-25 | 1983-02-24 | Screw surface flaw inspection method and an apparatus therefor |
| GB08305360A GB2115924B (en) | 1982-02-25 | 1983-02-25 | A method of and apparatus for inspecting the surface of a screw to detect flaws |
| FR8303088A FR2522149B1 (fr) | 1982-02-25 | 1983-02-25 | Procede et appareil de controle de defauts de surface d'une vis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2968682A JPS58146843A (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | ネジの表面欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58146843A true JPS58146843A (ja) | 1983-09-01 |
| JPH0449063B2 JPH0449063B2 (ja) | 1992-08-10 |
Family
ID=12282987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2968682A Granted JPS58146843A (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | ネジの表面欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58146843A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6058536A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-04 | Kawasaki Steel Corp | 切削加工面の性状検査方法及び装置 |
| JPS60190841A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-28 | Inatetsuku:Kk | 鋳造品の表面の巣を検出する装置 |
| JPS6219705A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Sumitomo Metal Ind Ltd | ネジの表面検査装置 |
| DE10359837A1 (de) * | 2003-12-19 | 2005-07-21 | Kamax-Werke Rudolf Kellermann Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Gewindes eines Verbindungselements auf Beschädigungen |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5483885A (en) * | 1977-12-17 | 1979-07-04 | Mitsubishi Electric Corp | Surface inspector |
| JPS54150163A (en) * | 1978-05-17 | 1979-11-26 | Nippon Kokan Tsugite Kk | Automatic tester for screw member |
-
1982
- 1982-02-25 JP JP2968682A patent/JPS58146843A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5483885A (en) * | 1977-12-17 | 1979-07-04 | Mitsubishi Electric Corp | Surface inspector |
| JPS54150163A (en) * | 1978-05-17 | 1979-11-26 | Nippon Kokan Tsugite Kk | Automatic tester for screw member |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6058536A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-04 | Kawasaki Steel Corp | 切削加工面の性状検査方法及び装置 |
| JPS60190841A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-28 | Inatetsuku:Kk | 鋳造品の表面の巣を検出する装置 |
| JPS6219705A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Sumitomo Metal Ind Ltd | ネジの表面検査装置 |
| DE10359837A1 (de) * | 2003-12-19 | 2005-07-21 | Kamax-Werke Rudolf Kellermann Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Gewindes eines Verbindungselements auf Beschädigungen |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0449063B2 (ja) | 1992-08-10 |
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