JPS58144757A - アナログ波形表示方式 - Google Patents
アナログ波形表示方式Info
- Publication number
- JPS58144757A JPS58144757A JP57027488A JP2748882A JPS58144757A JP S58144757 A JPS58144757 A JP S58144757A JP 57027488 A JP57027488 A JP 57027488A JP 2748882 A JP2748882 A JP 2748882A JP S58144757 A JPS58144757 A JP S58144757A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- crt
- waveform
- analog waveform
- scanning line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はラスタスキャン方式のＣＲＴを使用し。
アナログ波形をＣＲＴ上に表示する方式に関するもので
ある。
ある。
従来ラスタスキャン方式のＣＲＴにグラフィックディス
プレイを行なうにはＣＲＴの表示領域を構成する個々の
ドツトと１対１に対応した容量のメモリを用意し、この
リフレッシュメモリカラデータを読み出し、その内容に
よって対応するＣＲＴのドツトの輝度を制御する手法が
採用されてきた。（第１図参照）この方法によれば０Ｒ
Ｔｂ上に任意の図形を描ける反面１画面のドツト密度や
１ドツトに対する輝度情報、又カラーＣＲＴの場合の色
情報などが増えるほどこれに対応するリフレ、／ユメモ
リａの容量は膨大なものとなってくる。
プレイを行なうにはＣＲＴの表示領域を構成する個々の
ドツトと１対１に対応した容量のメモリを用意し、この
リフレッシュメモリカラデータを読み出し、その内容に
よって対応するＣＲＴのドツトの輝度を制御する手法が
採用されてきた。（第１図参照）この方法によれば０Ｒ
Ｔｂ上に任意の図形を描ける反面１画面のドツト密度や
１ドツトに対する輝度情報、又カラーＣＲＴの場合の色
情報などが増えるほどこれに対応するリフレ、／ユメモ
リａの容量は膨大なものとなってくる。
なお、同図横方向−列が１バイトである。又、ＣＲＴに
アナログ波形を表示する場合量子化されたアナログ波形
のデータを０ＦｔＴ上の画像イメージに変換処理して前
記リフレッシュメモリに格納する作業が必要となり、こ
のだめ高い周波数成分を含んだ波形をリアルタイムで表
示しようとすると上記の処理が時間的に間に合わなくな
るという欠点があった。更にアナログ波形を限られた分
解能のドツトで表わすため描かれた波形が途中でとぎれ
たり、ｊａｇ（ぎざぎざ）が発生して見づらくなるとい
う欠点もあった。
アナログ波形を表示する場合量子化されたアナログ波形
のデータを０ＦｔＴ上の画像イメージに変換処理して前
記リフレッシュメモリに格納する作業が必要となり、こ
のだめ高い周波数成分を含んだ波形をリアルタイムで表
示しようとすると上記の処理が時間的に間に合わなくな
るという欠点があった。更にアナログ波形を限られた分
解能のドツトで表わすため描かれた波形が途中でとぎれ
たり、ｊａｇ（ぎざぎざ）が発生して見づらくなるとい
う欠点もあった。
本発明の目的はこれらの欠点を解決するため。
ラスタスキャン方式のＣＲＴに波形表示するためのリフ
レッシ−メモリの小容量化、及び波形表示処理の高速化
を果すことにある。
レッシ−メモリの小容量化、及び波形表示処理の高速化
を果すことにある。
又本発明の他の目的は波形を表示するドツトにスムージ
ング処理を施こすことにより、波形の分解能、なめらか
さ、連続性を改善することにある。
ング処理を施こすことにより、波形の分解能、なめらか
さ、連続性を改善することにある。
アナログ波形をラスタスキャン方式のＣＲＴでグラフィ
ックディスプレイする場合に１画面を構成する各ドツト
すべてにリフレッシュメモリを割り当てると、とのリフ
レッシ−メモリの容量は膨大なものとなり、さらに波形
データを画像イメージに変換してリフレッシュメモリに
格納する作業が必要であるためこの処理時間がアナログ
波形のリアルタイム表示の障害となる。
ックディスプレイする場合に１画面を構成する各ドツト
すべてにリフレッシュメモリを割り当てると、とのリフ
レッシ−メモリの容量は膨大なものとなり、さらに波形
データを画像イメージに変換してリフレッシュメモリに
格納する作業が必要であるためこの処理時間がアナログ
波形のリアルタイム表示の障害となる。
この欠点を解決する方法として量子化されたアナログ波
形のデータをそのままりフレソシーメモリに格納し、こ
れを順次読み出すと共にＣＲＴをスキャンしている走査
線数に適当な演算処理を施こしてこの両者を比較する。
形のデータをそのままりフレソシーメモリに格納し、こ
れを順次読み出すと共にＣＲＴをスキャンしている走査
線数に適当な演算処理を施こしてこの両者を比較する。
リフレッシ−メモリのデータはアナログ波形のある時点
での波高値を表わすものであり走査線数は（４Ｔにおけ
る表示ポイントの高さを示しているから、データを読み
出すタイミングと走査線に対する演算処理を適当に何な
えば両者を比較し、 ｉｕｉが一致する時点をアナログ
波形の表示ポイントとする方式を発明した。
での波高値を表わすものであり走査線数は（４Ｔにおけ
る表示ポイントの高さを示しているから、データを読み
出すタイミングと走査線に対する演算処理を適当に何な
えば両者を比較し、 ｉｕｉが一致する時点をアナログ
波形の表示ポイントとする方式を発明した。
又ラスタスキャン方式の（、ＲＴは波形をある限られた
ドツトの連続で表わすためアナログ波形の立ち上がりが
急峻だと（４Ｔに描かれた波形がとぎれたりＪａｇが発
生して画像品質が著しく劣化する。
ドツトの連続で表わすためアナログ波形の立ち上がりが
急峻だと（４Ｔに描かれた波形がとぎれたりＪａｇが発
生して画像品質が著しく劣化する。
この問題を解決するために上記の回路に補間回路を付加
し１ リフレッシ−メモリから読み出されたデータによ
る表示点の２点間が縦方向でとぎれている場合この２点
間を補間して表示する機能を持たせた。これに加えて画
面を構成する１ドツトを表示するタイミングを更に数等
分し、これに対応する分だけりフレノ／−メモリのデー
タの内容を増やして横方向の見かけ上の分解能を増やし
た。
し１ リフレッシ−メモリから読み出されたデータによ
る表示点の２点間が縦方向でとぎれている場合この２点
間を補間して表示する機能を持たせた。これに加えて画
面を構成する１ドツトを表示するタイミングを更に数等
分し、これに対応する分だけりフレノ／−メモリのデー
タの内容を増やして横方向の見かけ上の分解能を増やし
た。
父、ＣＲＴのスキャン方式のインタレース方式にし、１
フレームめと２フレームめで異なるデータを与えること
により、１つの波形に対して少しずつずれたｌａ面を表
示させ、縦方向の分解能を倍にするようにした。
フレームめと２フレームめで異なるデータを与えること
により、１つの波形に対して少しずつずれたｌａ面を表
示させ、縦方向の分解能を倍にするようにした。
第２図は本発明の表示方式を実現するブロック図である
。１はアナログ波形の量子化データが送られてくるデー
タ入力で個々のデータは（、ＲＴの各ドツトに対応する
。、２はリフレノ／ユメモリであり、データ人力１より
送られてきたデータを蓄わえ、適当なタイミングでこの
データＡＩを出力してＣＲＴにドツトを表示させる。３
はクロック発生部であり、リフレッシ−メモリ２に書き
込まれているデータを１つずつ読み出すだめのタイミン
グを作っている。又、このクロックのタイミングはＣＲ
Ｔ上に出力される１ドツト当りの表示時間でもある。４
はレジスタであって、これには走査線の行番号Ｂ＋を計
算するだめの基準値ＳＩが設定されている。５はカウン
タであり、ＣＲＴをスキャンしている走査線が現在何本
目１＋をスキャンしているかをカウントしている。６は
演算器であり。
。１はアナログ波形の量子化データが送られてくるデー
タ入力で個々のデータは（、ＲＴの各ドツトに対応する
。、２はリフレノ／ユメモリであり、データ人力１より
送られてきたデータを蓄わえ、適当なタイミングでこの
データＡＩを出力してＣＲＴにドツトを表示させる。３
はクロック発生部であり、リフレッシ−メモリ２に書き
込まれているデータを１つずつ読み出すだめのタイミン
グを作っている。又、このクロックのタイミングはＣＲ
Ｔ上に出力される１ドツト当りの表示時間でもある。４
はレジスタであって、これには走査線の行番号Ｂ＋を計
算するだめの基準値ＳＩが設定されている。５はカウン
タであり、ＣＲＴをスキャンしている走査線が現在何本
目１＋をスキャンしているかをカウントしている。６は
演算器であり。
レジスタ４の基準値からカウンタ５の走査線数の値を引
いて現在の行番号田を算出する。７は比較器であってす
７レノシーメモリ２から読み出されてくるデータの値と
演算器６から算出される行番号の値とを比較する。この
比較器の出力端子からＣ）ｔＴにドツトを表示するだめ
の信号が出力される。ＣＲＴにドツトを表示するのは７
による比較の結果Ａ１とＢ１の両者の値が一致したとき
である。
いて現在の行番号田を算出する。７は比較器であってす
７レノシーメモリ２から読み出されてくるデータの値と
演算器６から算出される行番号の値とを比較する。この
比較器の出力端子からＣ）ｔＴにドツトを表示するだめ
の信号が出力される。ＣＲＴにドツトを表示するのは７
による比較の結果Ａ１とＢ１の両者の値が一致したとき
である。
第３図はりフレ、ンユメモリに格納されている波形デー
タ構造の一例である。なお１つのデータ長は便宜的に８
ｂｉｔ （１バイト）とし、値は１６進数で示しである
。第４図は第２図のりフレノンユメモリの内容をＣＲＴ
に表示した場合のアナログ波形例である。便宜的にＣＲ
Ｔの全走査線数はｌｏ〜ｔ２＋の２２ライン、１本の走
査線に表わすドツト数はｄ。−ｄ １２の１３ｄａｔ
、 １つのアナログ波形を表わすだめの走査線数はＢ
。−Ｂ、ｏの１１ラインを割当て、２チヤネルの波形を
表わすものとする。以下第２図、第３図、第４図を用い
て動作を説明する。
タ構造の一例である。なお１つのデータ長は便宜的に８
ｂｉｔ （１バイト）とし、値は１６進数で示しである
。第４図は第２図のりフレノンユメモリの内容をＣＲＴ
に表示した場合のアナログ波形例である。便宜的にＣＲ
Ｔの全走査線数はｌｏ〜ｔ２＋の２２ライン、１本の走
査線に表わすドツト数はｄ。−ｄ １２の１３ｄａｔ
、 １つのアナログ波形を表わすだめの走査線数はＢ
。−Ｂ、ｏの１１ラインを割当て、２チヤネルの波形を
表わすものとする。以下第２図、第３図、第４図を用い
て動作を説明する。
レジスタ４に設定されている基準値は（（１チヤネルに
割描てられている走査線数）×（チャネルＡ）−１）で
決定される。したがって最初に設定される基準値Ｓｏは
Ｓｏ ＝ １１ Ｘ １−１ ＝ １０で与えられる。
割描てられている走査線数）×（チャネルＡ）−１）で
決定される。したがって最初に設定される基準値Ｓｏは
Ｓｏ ＝ １１ Ｘ １−１ ＝ １０で与えられる。
第３図に示されるＡ＋のデータは第２図のクロック発生
部３で発生するクロ、りのタイミングで読み出され、１
本の走査線が掃引されるまでに１チヤネル分のデータが
すべて読み出される。
部３で発生するクロ、りのタイミングで読み出され、１
本の走査線が掃引されるまでに１チヤネル分のデータが
すべて読み出される。
１チヤネル分のデータ数は１本の走査線に表示されうる
ド、・ト数によって決定される。したがって第４図によ
れば１走査線にｄ、−ｄ、２の１３ｄａｔ表わせるので
１チ−ヤネル分のデータとしてＡ、 −Ａ、！が読み出
される。行番号Ｂ１は先に述べたようにレジスタ４に設
定された基準値ｓ１からラインカウンタ５の値ｔＩを引
いた値であるから例えば１チヤネルめを表示していると
きは、 ８ｏ＝ＩＱ ＋ ｔｉ ” Ｑ ｒｌ、 ２．
−＝ １０より最初の走査線の時Ｂ＋ｏ”１０ ０＝１
ｏ、２番目の走査線の時Ｂｓ ＝ １０−１ ＝ ９
、以下Ｂ＋＋ ” ８１Ｂ７ ＝ ７ 、− Ｂｏ＝
ｏとなる。なお２チヤネルめの時の行番号Ｂ１は５Ｉ＝
１１Ｘ２−１＝２１となるから走査Ｈｔｎの時Ｂ＋ｏ＝
２１〜１１＝１０、となり以下Ｂ９’＝ ２１−１２
＝ ９、一杯ｔ；弓呼＝−赫＝明神−Ｂｏ’ ＝ ２
１−２１ ＝ ＯとなりＢｏ’〜Ｂ＋ｏ’ ｑ、Ｂ、−
Ｂ、ｏと同じ値を繰り返すことになる。さて最初の走査
線ｔＯ＋すなわちＢ＋＝１０の時、第３図のデータＡ、
−Ａ、、がそれぞれ画面におけるｄ０〜ｄ１２に対応す
るタイミングで読み出され第２図。
ド、・ト数によって決定される。したがって第４図によ
れば１走査線にｄ、−ｄ、２の１３ｄａｔ表わせるので
１チ−ヤネル分のデータとしてＡ、 −Ａ、！が読み出
される。行番号Ｂ１は先に述べたようにレジスタ４に設
定された基準値ｓ１からラインカウンタ５の値ｔＩを引
いた値であるから例えば１チヤネルめを表示していると
きは、 ８ｏ＝ＩＱ ＋ ｔｉ ” Ｑ ｒｌ、 ２．
−＝ １０より最初の走査線の時Ｂ＋ｏ”１０ ０＝１
ｏ、２番目の走査線の時Ｂｓ ＝ １０−１ ＝ ９
、以下Ｂ＋＋ ” ８１Ｂ７ ＝ ７ 、− Ｂｏ＝
ｏとなる。なお２チヤネルめの時の行番号Ｂ１は５Ｉ＝
１１Ｘ２−１＝２１となるから走査Ｈｔｎの時Ｂ＋ｏ＝
２１〜１１＝１０、となり以下Ｂ９’＝ ２１−１２
＝ ９、一杯ｔ；弓呼＝−赫＝明神−Ｂｏ’ ＝ ２
１−２１ ＝ ＯとなりＢｏ’〜Ｂ＋ｏ’ ｑ、Ｂ、−
Ｂ、ｏと同じ値を繰り返すことになる。さて最初の走査
線ｔＯ＋すなわちＢ＋＝１０の時、第３図のデータＡ、
−Ａ、、がそれぞれ画面におけるｄ０〜ｄ１２に対応す
るタイミングで読み出され第２図。
７の比較器で比較される。ｄｏではＡ。（００）が読み
出されＢＩＧ （” １０ ）と比較すると一致しない
のでｄ。
出されＢＩＧ （” １０ ）と比較すると一致しない
のでｄ。
はＣ１（Ｔ上にドツトとして表示されない。ＡＩ ＋−
に−ｒ−ＰＡ２．Ａ４・Ａ、もＢｏと一致しないので表
示されず次のＡ６とＢ、。を比較すると両者とも１０（
Ａ６の内容は１０進数では１０）であるため走査線ｔ。
に−ｒ−ＰＡ２．Ａ４・Ａ、もＢｏと一致しないので表
示されず次のＡ６とＢ、。を比較すると両者とも１０（
Ａ６の内容は１０進数では１０）であるため走査線ｔ。
上のｄ６のドツトは輝点として表示される。これ以降ん
。
。
Ａｓ ＋ Ａｇ ＋ ｋＩｏ ＋ Ａ＋＋ ＋ ｋＩ□
はすべてＢＩＯと一致せず結局ｌ。上の輝点としてＡ６
のデータによるｄ６のドツトだけが表示される。走査線
が２本め、すなわちｔ、の時Ｂ１は９となる。この値と
Ａｔを比較するとＡ５とＡ７がこの値と一致するのでこ
のデータが読み出される時のドツト位置ｄ、、ｄ、が輝
点として表示される。以降同じように１２＋ １３＋・
・・と動作を続け１チヤネルの最後の走査線２００にお
いてＡ。
はすべてＢＩＯと一致せず結局ｌ。上の輝点としてＡ６
のデータによるｄ６のドツトだけが表示される。走査線
が２本め、すなわちｔ、の時Ｂ１は９となる。この値と
Ａｔを比較するとＡ５とＡ７がこの値と一致するのでこ
のデータが読み出される時のドツト位置ｄ、、ｄ、が輝
点として表示される。以降同じように１２＋ １３＋・
・・と動作を続け１チヤネルの最後の走査線２００にお
いてＡ。
とＡ、２の値に対応するｄ、とｄ１□が表示されて１チ
ヤネル分の波形が描き終わる。続いて２チヤネルめの表
示が始まるが、この時、第２図のレジスタ４基準値が８
１＝ ２１となり、又波形データＡｔ はＡＩ３〜Ａ
２ Ｂまで−を読み出すことになる。２チヤネルめの
波形も１チヤネルめと同じ手順で表示が行なわれＣＲＴ
における最後の走査線ｔ３．の時、Ａ４の値に対応する
ｄ、が表示されてＣＲＴ上のアナログ波形表示が完成す
る。
ヤネル分の波形が描き終わる。続いて２チヤネルめの表
示が始まるが、この時、第２図のレジスタ４基準値が８
１＝ ２１となり、又波形データＡｔ はＡＩ３〜Ａ
２ Ｂまで−を読み出すことになる。２チヤネルめの
波形も１チヤネルめと同じ手順で表示が行なわれＣＲＴ
における最後の走査線ｔ３．の時、Ａ４の値に対応する
ｄ、が表示されてＣＲＴ上のアナログ波形表示が完成す
る。
第５図は第２図の基本回路に補間回路を付加したブロッ
ク図である。８はパ、ファであり、この働きは２のリフ
レッシュメモリのデータを取り込んでおき９次のデータ
がリフレアノーメモリから来ると前のデータを出力し、
再び新しいデータを取り込むことである。９は７と同じ
く比較器であり、現在７の比較器で比較されているリフ
レッシュメモリのデータＡ＋のひとつ前のデータＡ Ｉ
−＋と行番号Ｂ＋の大小を比較する。１０はＡＮＤゲー
トであって、 ｋＩ＞Ａｌ−１＋ １の時ＡＩとＡＩ−
、によってＣＲＴ上に表示される２点の間のとぎれを補
間する信号を出力する。１１もＡＮＤゲート１０と同じ
（ＡＮＤゲートで、ＡＩ、 （ＡＩ−＋ −１の時Ａｔ
とＡ Ｉ−ｒによってＣＲＴ上に表示される２点の間の
とぎれを補間する信号を出力する。１２はＯＲゲートで
あって、Ａｉによる表示と補間処理回路による表示を合
成する。第６図は第４図の１チヤネルめの波形に補間処
理を加えた時に表示される波形である。以降第５図、第
６図を用いて動作を説明する。
ク図である。８はパ、ファであり、この働きは２のリフ
レッシュメモリのデータを取り込んでおき９次のデータ
がリフレアノーメモリから来ると前のデータを出力し、
再び新しいデータを取り込むことである。９は７と同じ
く比較器であり、現在７の比較器で比較されているリフ
レッシュメモリのデータＡ＋のひとつ前のデータＡ Ｉ
−＋と行番号Ｂ＋の大小を比較する。１０はＡＮＤゲー
トであって、 ｋＩ＞Ａｌ−１＋ １の時ＡＩとＡＩ−
、によってＣＲＴ上に表示される２点の間のとぎれを補
間する信号を出力する。１１もＡＮＤゲート１０と同じ
（ＡＮＤゲートで、ＡＩ、 （ＡＩ−＋ −１の時Ａｔ
とＡ Ｉ−ｒによってＣＲＴ上に表示される２点の間の
とぎれを補間する信号を出力する。１２はＯＲゲートで
あって、Ａｉによる表示と補間処理回路による表示を合
成する。第６図は第４図の１チヤネルめの波形に補間処
理を加えた時に表示される波形である。以降第５図、第
６図を用いて動作を説明する。
１（Ｂ ＡＨ，１２の走査線上における表示点は第２図
の動作と全く同じ手順で表示される。次に走査線ｔ３の
時を考えると、まずＢ７＝７゜この時データＡｏ、Ａ＋
、、Ａ２．Ａ３と読み出していき１次にＡ４を読み出す
とＡ、の１直は８だからＡ４ ＞ Ｂ７であり、さらに
Ａ３の値は５であるからＡ、（Ｂ、となる。 したがっ
て１０のＡＮＤゲートが開き、この結果ＣＦｔＴ上ｔ、
の走査線のｄ、の位置にｅｏが表示されることになる。
の動作と全く同じ手順で表示される。次に走査線ｔ３の
時を考えると、まずＢ７＝７゜この時データＡｏ、Ａ＋
、、Ａ２．Ａ３と読み出していき１次にＡ４を読み出す
とＡ、の１直は８だからＡ４ ＞ Ｂ７であり、さらに
Ａ３の値は５であるからＡ、（Ｂ、となる。 したがっ
て１０のＡＮＤゲートが開き、この結果ＣＦｔＴ上ｔ、
の走査線のｄ、の位置にｅｏが表示されることになる。
この後ＡＳ、 Ａ、、 Ａ７＋ Ａ４と読み出してＡ。
まで読み出すと、Ａ、の値は５だからＡ、’ （Ｂ、で
あり、更にＡｓＯ値は８であるからＡ８）Ｂ、となる。
あり、更にＡｓＯ値は８であるからＡ８）Ｂ、となる。
したがって１１のＡＮＤゲートが開き、この結果。
ＣＲＴ上ｔ３゛の走査線のｄｏの位置にｆ。が表示され
る。これ以降ｔ４においてはｅｌ＋ ｆｌ＋ １６にお
いてはｅ２＋ ｆ２＋ １７においてはｅ３＋ ｆ３が
それぞれ補間点として表示される。
る。これ以降ｔ４においてはｅｌ＋ ｆｌ＋ １６にお
いてはｅ２＋ ｆ２＋ １７においてはｅ３＋ ｆ３が
それぞれ補間点として表示される。
第７図は第５図の回路に位相補正機能を持たせたプロン
ク図である。第７図、１′から送られてくるデータ量の
密には第５図、１から送られてくるデータ密度の位相数
倍多い。この例では仮りに位相数を４としているので第
７図、１′のデータ密度は第５図１のデータ密度の４倍
となっている。
ク図である。第７図、１′から送られてくるデータ量の
密には第５図、１から送られてくるデータ密度の位相数
倍多い。この例では仮りに位相数を４としているので第
７図、１′のデータ密度は第５図１のデータ密度の４倍
となっている。
第７図、 ２’のリフレッシュメモリは第５図リフレッ
シュメモリ２の働きと９本質的には変わらないが、デー
タ密度が４倍になった分だけメモリ容量・が４倍となっ
ている。第７図、３′のクロック発生部によるクロック
のサイクルは第５図のクロック発生部３クロックサイク
ルの４倍の速さとなっている。
シュメモリ２の働きと９本質的には変わらないが、デー
タ密度が４倍になった分だけメモリ容量・が４倍となっ
ている。第７図、３′のクロック発生部によるクロック
のサイクルは第５図のクロック発生部３クロックサイク
ルの４倍の速さとなっている。
第８図は第７図のりフレッシュメモリ２′に格納されて
いるデータの例である。
いるデータの例である。
第９図は第８図のデータの内容によって（３ＲＴに表示
される波形の例である。第９図の実線で等分された枠は
第４図、第６図に示していた１ドント存の大きさ、及び
その位置を示している。以下この動作を説明する。基本
的な動作は第５図の場合と全く同じなのでこれと異なる
事項をとりあげる。
される波形の例である。第９図の実線で等分された枠は
第４図、第６図に示していた１ドント存の大きさ、及び
その位置を示している。以下この動作を説明する。基本
的な動作は第５図の場合と全く同じなのでこれと異なる
事項をとりあげる。
第７図クロック発生部３′のクロックによって。
第７図りフレノ／ユメモリ２′から波形データが第５図
、２のリフレッシュメモリの４倍の速度で読み出されて
くるため第９図のＡ８．Ａ、、Ａ、 の表示点に表わ
されるように見かけ上水平方向の分解能は４倍に改善さ
れたかのようにふる１う。ただし１ドツトを表示するド
ツト幅は以前のドツト幅と変わりが無いためＡ、・Ａ、
のように同じ値が連続すると９本来２つのドツトが重な
りあって１つのドツトとして表示されてしまう。
、２のリフレッシュメモリの４倍の速度で読み出されて
くるため第９図のＡ８．Ａ、、Ａ、 の表示点に表わ
されるように見かけ上水平方向の分解能は４倍に改善さ
れたかのようにふる１う。ただし１ドツトを表示するド
ツト幅は以前のドツト幅と変わりが無いためＡ、・Ａ、
のように同じ値が連続すると９本来２つのドツトが重な
りあって１つのドツトとして表示されてしまう。
位相補正を行なう場合、ＣＲＴのスキャン方式をインタ
レースにしておいて波形表示のだめのデータを１フレー
ムめと２フレームめで異なるものを用意し、（、ＲＴの
垂直方向の分解能を２倍に改善する方法が考えられる。
レースにしておいて波形表示のだめのデータを１フレー
ムめと２フレームめで異なるものを用意し、（、ＲＴの
垂直方向の分解能を２倍に改善する方法が考えられる。
第１０図はこの表示方式のためのりフレソシーメモリの
データ構造である。
データ構造である。
第１１図は第１０図のデータによってＣＲＴに表示され
る波形の例である。この動作は第１１図に示すようにま
ず１フレームめでｔ。ＫＡｓが表示され。
る波形の例である。この動作は第１１図に示すようにま
ず１フレームめでｔ。ＫＡｓが表示され。
ｔ、に人テが表示され以下同様にしていって１フレーム
最終のｔ６にＡ、が表示されたあとｔ。′にＡ８′が表
示される。この時Ａ６．Ａ、によって表示されるドツト
とＡ８によって表示されるドツトとは水平方向に対して
２クロック分離れているかＡ８′によってこの間を埋め
るような表示が可能となり、垂直方向の分解能が上がる
。
最終のｔ６にＡ、が表示されたあとｔ。′にＡ８′が表
示される。この時Ａ６．Ａ、によって表示されるドツト
とＡ８によって表示されるドツトとは水平方向に対して
２クロック分離れているかＡ８′によってこの間を埋め
るような表示が可能となり、垂直方向の分解能が上がる
。
以上説明したごとく本発明によればアナログ波形をラス
クスキャン方式のＣＲＴにグラフィックディスプレイす
る場合、波形を表示するためのりフレノンユメモリを大
幅に減らすことができ、かつ高速なアナログ波形をリア
ルタイム表示することが可能となる。（例： ５１２
Ｘ ５１２ドツトの解像度のＣＲＴに１チャネル当りの
縦の分解能を１２８段階として４チャネル表示できるよ
うにした場合。
クスキャン方式のＣＲＴにグラフィックディスプレイす
る場合、波形を表示するためのりフレノンユメモリを大
幅に減らすことができ、かつ高速なアナログ波形をリア
ルタイム表示することが可能となる。（例： ５１２
Ｘ ５１２ドツトの解像度のＣＲＴに１チャネル当りの
縦の分解能を１２８段階として４チャネル表示できるよ
うにした場合。
メモリ容量は従来の方式の約１８分の１になる。）又本
発見の基本回路に補間処理１位相補正回路を付加するこ
とにより１表示される波形の分解能。
発見の基本回路に補間処理１位相補正回路を付加するこ
とにより１表示される波形の分解能。
なめらかさ、連続性が改善され１画像品質を向上させる
ことができる。
ことができる。
第１図は従来のグラフィ、クディスプレイ方式における
リフレッシュメモリのデータ構造とＵＲ’ｌ’の表示内
蓉テ第２図は本発明の基本回路のブロック図、第３図は
第２図中のりフレッシュメモリのデータの構造図、第４
図は第３図のデータを第２図の回路でＣＲＴに表示した
時の例を示す図、第５図は第２図の基本回路に補間処理
回路を付加した時のプロ、り図、第６図は第５図の補間
処理回路によって、第４図がどのように補間されてＣＲ
Ｔに表示されるかの例を示す図、第７図は第５図の回路
に位相補正処理機能を付加した時のブロック図、第８図
は恒相補正を行なう時のリフレッシュメモリのデータ構
造例を示す図、第９図は第８図のデータでＯＲ，Ｔに位
相補正表示した時の例を示す図、第１０図は位相補正を
行ない、更にインタレース表示する時のりフレッシュメ
モリのデータ構造図、第１１図は第１０図のデータで位
相補正、及びインタレース表示した時のＣＲＴ表不表金
例す図。 ２２′：リフレッシュメモリ、３．３’：クロック発生
部、４：レジスタ、５：カウンタ、６：演算器。 ７：比較器、８；バッファ、９：比較器、 １０．１
１：人ＮＤゲー）、１２：ＯＲ，ゲート 第７図
リフレッシュメモリのデータ構造とＵＲ’ｌ’の表示内
蓉テ第２図は本発明の基本回路のブロック図、第３図は
第２図中のりフレッシュメモリのデータの構造図、第４
図は第３図のデータを第２図の回路でＣＲＴに表示した
時の例を示す図、第５図は第２図の基本回路に補間処理
回路を付加した時のプロ、り図、第６図は第５図の補間
処理回路によって、第４図がどのように補間されてＣＲ
Ｔに表示されるかの例を示す図、第７図は第５図の回路
に位相補正処理機能を付加した時のブロック図、第８図
は恒相補正を行なう時のリフレッシュメモリのデータ構
造例を示す図、第９図は第８図のデータでＯＲ，Ｔに位
相補正表示した時の例を示す図、第１０図は位相補正を
行ない、更にインタレース表示する時のりフレッシュメ
モリのデータ構造図、第１１図は第１０図のデータで位
相補正、及びインタレース表示した時のＣＲＴ表不表金
例す図。 ２２′：リフレッシュメモリ、３．３’：クロック発生
部、４：レジスタ、５：カウンタ、６：演算器。 ７：比較器、８；バッファ、９：比較器、 １０．１
１：人ＮＤゲー）、１２：ＯＲ，ゲート 第７図
Claims (4)
- （１）アナログ波形を適当な間隔でサンプリングし。 この量子化されたデータをもとにラスタスキャン方式の
ＣＲＴに前記アナログ波形を表示する装置において、リ
フレ、／ユメモリに格納されたＣＦｔＴにおける縦方向
の位置を示す量子化データを、走査線に対応して画面を
構成するド・・トのサイクルで読み出し、この値とＣＲ
Ｔが現在スキャンしている走査線から算出される行番号
の唾とを比較して１両者が一致した時ビデオ信号として
高輝度を与えＣＲＴ上に波形の表示ポイントを指定する
ことを特徴とするラスタスキャン方式ＣＲＴによるアナ
ログ波形表示方式。 - （２）アナログ波形を適当な間隔でサンプリングし。 この量子化されたデータをもとにラスタスキャン方式の
ＣＲＴに前記アナログ波形を表示する装置において、リ
フレッシュメモリに格納されたＣＲＴにおける縦方向の
位置を示す量子化データを走査線に対応して画面と構成
するド、トのサイクルで読み出し、この値とＣＲＴが現
在スキャンしている走査線から算出される行番号の値と
を比較して１両者が一致した時ビデオ信号として高輝度
を与えｃＲＴｔ＜波形の表示ポイントを指定し、現在読
み出しているデータの１つ前のデータを保持し、この１
つ前のデータと行番号とを比較し、この比較結果から前
述のサンプリングされたデータ点の間に付加データ点を
与えることを特徴とするアナログ波形表示方式。 - （３）アナログ波形を適当な間隔でサンプリングし。 この量子化されたデータをもとにラスタスキャン方式の
ＣＲＴに前記アナログ波形を表示する装置において、リ
フレ、シュメモリに格納されたＣＲＴにおける縦方向の
位置を示す量子化データを走査線に対応して画面を構成
するドリトのサイクルで読み出し、この値とＯＲ，Ｔが
現在スキャンしている走査線から算出される行番号の値
とを比較して１両者が一致した時ビデオ信号とし２て高
輝（資）を与えＣＲＴ上に波形の表示ポイントを指定し
、現在読み出しているデータの一つ前のデータを保持し
、この１つ前のデータと行番号とを比較し、この比較結
果から前述のサンプリングされたデータ点の間に付加デ
ータ点を与えるとともに位相補正用データを前記リフレ
ッシュメモリに格納し各表示点の位相補正を行うことを
特徴とするアナログ波形表示方式。 - （４） アナログ波形を適当な間隔でサンプリングし
。 この量子化されたデータをもとにインタレースラスタス
キャン方式のＣＲＴに前記アナログ波形を表示する装置
において、リフレッシュメモリに格納されだ２フレ一ム
分のＣＲＴにおける縦方向の位置を示す量子化データを
走査線に対むして画面を構成するドツトのサイクルで読
み出し、この値とＣＲＴが現在スキャンしている走査線
から算出される行番号の値とを比較して。 両者が一致した時ビデオ信号として高輝度を与えＣＲＴ
上に波形の表示ポイントを指定し、現在読み出している
データの１つ前のデータを保持し。 この１つ前のデータと行番号とを比較し、この比較結果
から前述のサンプリングされたデータ点の間に付加デー
タ点を与えるとともに位相補正用データを前記リフレッ
シュメモリへ格納し各表示点の位相補正を行うことを特
徴とするアナログ波形方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027488A JPS58144757A (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | アナログ波形表示方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027488A JPS58144757A (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | アナログ波形表示方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58144757A true JPS58144757A (ja) | 1983-08-29 |
Family
ID=12222511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57027488A Pending JPS58144757A (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | アナログ波形表示方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58144757A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273268U (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-11 | ||
| JPH01304645A (ja) * | 1988-06-01 | 1989-12-08 | Hitachi Ltd | 走査形電子顕微鏡 |
-
1982
- 1982-02-24 JP JP57027488A patent/JPS58144757A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273268U (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-11 | ||
| JPH01304645A (ja) * | 1988-06-01 | 1989-12-08 | Hitachi Ltd | 走査形電子顕微鏡 |
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