JPS58133586A - シリコン製造時における廃ガスの処理方法 - Google Patents

シリコン製造時における廃ガスの処理方法

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JPS58133586A
JPS58133586A JP1338982A JP1338982A JPS58133586A JP S58133586 A JPS58133586 A JP S58133586A JP 1338982 A JP1338982 A JP 1338982A JP 1338982 A JP1338982 A JP 1338982A JP S58133586 A JPS58133586 A JP S58133586A
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JP
Japan
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waste gas
gas
treating waste
cooling
hydrogen
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JP1338982A
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光雄 斉藤
和廣 川尻
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Fujifilm Holdings Corp
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Fuji Photo Film Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はシリコン化合物O分解によルシリコンを製造す
る際に生ずる廃ガスの処理方法に関する。
特に本発明はシランOグロー放電分解によ如アモルファ
スシリコンを製造する際、又はシリコン化合物の熱分解
によってシリコン結晶をエピタキシャル成長させたシ、
ポリシリコン電極を形成させる際に生ずる廃ガスの処理
方法に関する。
アモルファスシリコンは太陽電池、電子写真感光材料そ
の他多くのエレクトロニクスの分野の材料として注目さ
れ、研究・開発が盛んに行われている。アモルファスシ
リコンは通常モノシラン(81H,)の如き水素化シリ
コンのグロー放電分解によって製造される(例えば、w
、 m、 5p8ar 。
P、G、Le  Oomber 、  B、Kinmo
nd  an4 M、LBrOclsk7 :  −ム
pp1.Phys、Lett、、  28. 105(
1976)参照)。一方、クロルシラン等のシリコン化
合物を熱分解してシリコンウェハー上にシリコン結晶を
エピタキシャル成長させる方法やポリシリコン倉形成さ
せる方法が現在、半導体分野において電装な工程となっ
ている(例えば柳井久義編、半導体ハンドブック、第2
版(オーム社1977年発行)参照)。
これらのシリコン材料は各分野で増々期待される材料で
あるが、特にアモルファスシリコンはコスト面に問題が
あるので、各材料の性質を改良すると共に製造コストを
下げる九めに大きな努力が払われている。現在、これら
のシリコン材料の特にアモルファスシリコン材料の製造
コストにおいて、廃ガスの処理がかなシ・の部分を占め
ている。
すなわち、例えばアモルファスシリコンを製造するには
、81H4等のシランを主原料とし、これにドープ材と
してホスフィン(PHm )やジボラン(n鵞H4) 
 等を加えて低圧下でグロー放電分解を行わせるが、一
般にこれらOシランやドープ材の変換効率は10襲以下
で大部分は廃ガスとして排出され、又、シラン等の放電
副生物としてH3やS1!4等が生じ、これらの11&
合ガスとして廃ガスが発生する。これらの廃ガスをその
ま\排出させようとすると反応室を荒ら引きした時に排
出される空気、配管からリークして入ってくる空気及び
廃ガス処理部の空気の逆拡散による空気等が81H4等
と反応して発火し、これがH2ガスに引火して配管中や
廃ガス処理部中で爆発を起ζすため、従来、絽1図に示
すように油回転ポンプO後に窒素ガスを希釈ガスとして
供給し、廃ガスを希釈している。
すなわち、図示のようにモノシランガスボンベ1、ドー
プ用ガスボンベ1’、  i’からの半導体製造用ガス
をグロー放電部2に導き、グロー放電分解によシアモル
ファスシリコンを作る。この場合、グロー放電部2ri
拡散ポンプ5及び油回転ポンプ4によル予め排気され、
グロー放電中に空気が混入しないようにする必要がある
。廃ガスは油回転ポンプ4によジグロー放電部2から排
出され、窒素ボンベ5から供給される窒素ガスによって
希釈され、廃ガス処理部6にて導管7からスプレーされ
る水と向流的に!I触し、無害なガス混合物として排出
管8から排出される。なお、水はドレーンとして排出管
9から排出される。
この場合、原料ガス、例えば5IH4rc対し、廃ガス
の安全性を確保する丸めの希釈に要する窒素ガスの量は
体積比で81114 /)h キα5優程度とされてお
シ、ま九反応開始前と反応終了後もしばらく流し続ける
ため81M4ガス蓋の約500倍位の窒素ガスを必要と
する。又、この方式では反応に与えない原料ガス(90
%以上)を水と反応させ排出している。従って、上記の
廃ガス処理は安全対策上は効果を生じるが、上記の如く
極めて大量の窒素ガスを消費してしまうので、使用され
る窒素ガスの価格は原料ガスの価格に匹敵するかあるい
はこれ以上となってしまい、これがアモルファスシリコ
ンの製造コスト【高くさせる最も大きな原因となってい
る。又、この窒素ガスの使用によるコストの高騰はシリ
コン化合物の熱分解によってシリコンを得る方法におい
ても原料ガスを用いてシリコンを得る場合に比して多少
影響が少ないもののほとんど同様である。
従って、本発明の目的はシリコン化合物の分解によシシ
リコンを製造する際に生ずる廃ガスを低コネトで処理す
る方法を提供するにある。
更に本発明の目的は、シリコン化合物の分解によシシリ
コンを製造する際に生ずる廃ガスから未反応原料ガス等
を回収し、小量の窒素ガスを希釈ガスとして、用いるだ
けで安全処理O可Hヒな廃ガスO処理方法【提供するに
ある。
本発明の他の目的はシラン化合物の分解によシ低コスト
でシリコンを製造する方法を提供するにある。
上記の目的は以下に述べる本発明の構成によって達成さ
れる。
すなわち、本発明は、ガス状シリコン化合物を分解して
シリコンを製造する際に生ずる未反応原料ガスと水素等
の分解−生成物ガスより主としてなる廃ガスの処理方法
において、分解部と分解部の排気用ポンプとの間に、液
体窒素を冷却源とする冷却トラップを設け、廃ガス中の
水素ガス以外のガス成分を液化トラップすることt特徴
とするシリコン製造時における廃ガスの処理方法である
本発明においては、冷却トラップを耐圧容器で作り、ト
ラップ後、トラップされた廃ガスをボンベ詰めし燃料と
して用いてもよく、また冷却トラップに分留機能を持良
せ、トラップされた液化ガスの気化amに応じ、夫々の
ガス成分に分留して回収、再使用して4よい。更に、ポ
ンプの後に水素吸蔵材料を用いた水素吸着部【設け、副
生じた水素を回収してもよく、ま九トラップされない廃
ガスを窒素ガスで希釈した後、必要なら廃ガス処理部で
従来のように水と接触させて無公害な物質に変換してか
ら排出させてもよい。更に又、本発明の好ましい態様に
おいては、上記の冷却トラップ2基を並列に設け、排ガ
ス通路の切シ替えを行い、排ガスの処理を連続的に行う
ことができる。
以下、本発明を添付図面に示す実施例について、モノシ
ラン(81Hi)を主原料とし、グロー放電分解してア
モルファスシリコンを製造する場合を例にとって説明す
る。
第2図は本発明方法の1実施態様を示す説明であって、
モノシランガスボンミ11、ドープ用ホスフィン(PH
s )ボンベ11′、及びドープ用ジボラン(BxHs
 )  ボンベ11′からのガス【クロー放電部12に
導き、こ\でグロー放電分解【生じさせ、ドープされた
アモルファスシリコンを製造する。この場合、グロー放
電部12t2拡散ポンプ13及び油回転ポンプ14によ
って予め排気し、グロー放電分解反応中に反応系に空気
が混入しないようにしである。こ\で拡散ポンプ1sは
グロー放電部12を反応前に高真空に排気するためのポ
ンプであって、廃ガスO排気は油回転ポンプ14のみに
よって行う。グロー放電部12と油回転ポンプ14と−
の間、好ましくは拡散ポンプ15と油回転ポンプ14と
の間に例えば液体窒素を冷却源とする冷却トラップ15
を設け、グロー放電分解による廃ガスtトラップする。
前記O如き原料ガスを用いた場合の廃ガスは、未反応0
81H4,PHs及びBxHs と反応副生成物のJ 
* 811−等0Il1合物である。これらのガスの液
化温度及び固化温度は夫々、5tH4(−112℃及び
−185℃)%PH1(−87,7℃及び−155℃)
、B、H4(−92,5℃及び−165℃)、H,(−
2519℃及び−259℃)、81意−(−15℃及び
−15z5℃)であシ、一方冷却源として液体窒素を用
いた場合の温度が一197℃であるので、US  以外
のガスは殆んど液体窒素トラップによってトラップされ
る。なお、トラップ効率【上げる為に、冷却トラップ1
5内のガス通路に多くのフィンを設け、ガスとトラップ
の接触面積を大きくすることがトラップ効率上好ましい
本発明O−り01℃嫌においては、冷却トラップ151
耐圧容器で作り、トラップの前後にパルプを設け、廃ガ
スが一定量トラップされたらバルブを閉ぢて昇温昇圧し
、これに連結され九ボンベにボンベ詰めし燃料や更に純
化1て原料811L4 ガスに再生して用いることがで
きる。
トラップ中、一部O液体窒素は気化し、窒素ガスとなる
が、これを窒素ボンベ16に貯え、ポンプ4からO未ト
ラップ廃ガスO希釈用に用いることができる。本発明に
よれば、”H冨 以外の廃ガスは殆んどトラップされ、
未トラップの分は少量であるので、従来法のように別O
窒素ボンベを用いる必要はなく、冷却トラップの冷却に
用いた液体窒素からO窒素ガスで十分目的を達成するこ
とができる。このようにして希釈されたガスに廃ガス処
理部17において管18からスプレーされる水と接触さ
せ、無害な物質に変換後排出管19から排出される。水
はドレーンとして排出管20から排出される。なお、こ
の場合、廃ガス処理部で処理される未トラップ廃ガスは
その量が非常に少いから、廃ガス処理部のキャパシティ
ーを従来のものと効べてかなシ小さくすることができる
また、上記の方法において、冷却トラフ1150代DK
mS図に示す如く、冷却トラップ2基15′及び15′
を並列に設け、一方のトラップでトラップされた廃ガス
θ量が一定量に達し九ら他方のトラップに切シ代えると
とによシ反応室での反応を連続的に行うことができる。
氷見#4の他の態様においては第4図に示す如く、第2
図に示した系において油回転ポンプ14の後に水素吸蔵
材料を充填した水素吸蔵部21を設け、未トラップガス
中O水素ガスt−吸蔵回収することができる。なお、こ
の場合、油回転ポンプ14からO油ミストが水素吸着部
21に入るOを防ぐために油ミストトラップ22をポン
プ14と水素吸着[21の間に設けることが好ましい。
こ\で用いられる水素吸蔵材料としては、Mg、  G
o−Mg系、Ti−Co系、F・−Ti系、ミツシュメ
タル系、Mg−Mn系、Mg−0a系、T1−ムjl−
Re系、T1−ムjl−Mg系、Ti−Mn系合金等を
用いることができる。この場合の希釈ガスは前記と同欅
、冷却トラップ用の液体窒素が気化した窒素ガスで十分
であるが、希釈ケ所は水素吸蔵部21の後方で行うこと
が好ましい。それは、希釈されたガスを送ると、水素の
分圧が低下し、水素吸蔵材料へ0吸蔵効率が低下するた
めである。
第4図に示した態様においても、第3図に示す如く、冷
却トラップ12基並列に設け、連続運転し得ることは勿
論である。
本発明の更に他の態様においては、上記faz図〜第4
図に示される各m様において、冷却トラップに分留機能
を持たせ、前記した如く、トラップされ良各液化ガスの
液化温駅が異なるので、これt分留し、例えば81H4
を分IN@収して再使用に供することができる。得られ
た81114は、必要なら特殊処理したゼオライト系吸
着剤によってM慶してもよい。冷却トラップの分留機能
としては、例えば、熱伝導によるトラップ−加熱ヒータ
ー機構が用いられる。
なお、この分留機能を有する冷却トラップの加熱ヒータ
ーを停止させると液体窒素温度となって廃ガスOトラッ
プが行われ、加熱ヒーターを作動させると温度が上昇し
、トラップされ良液化ガスの分留が行われる。
また、PH3やB、14はドープ材として用いられ、通
常81H4の10−4〜10″″丁原子比と極く少量で
あるO″e5分留後回収することなく廃ガス処理器で処
理して廃棄してもよい。
上記oys憾によれば、未反応となった使用原料の90
−以上の81114が回収されるのでアモルファスシリ
コンの製造コストの低下に貢献している。
以上はjiiH4を原いてグロー放電分解によってアモ
ルファスシリコンの製造時における廃ガスの処理につい
て説明したが、氷見#4はこれに@定されるものではな
く、例えばクロルシラン等のシリコン化合物を熱分解に
よってシリコン結晶をエピタキシャル成長させた)、ポ
リシリコンを形成させる場合にも適用できる。なお、ク
ロルシラン1用いる場合には04ガスが副生するが液化
温度が−5407℃であるので本発明による冷却トラッ
プによってトラップされる。
以上述べたように本発明による場合には、(1)希釈用
窒素ガスの量を従来法に較べて著しく減少させることが
できる。
(2)  廃ガス中の81H4,al、−等燃料として
用いるか、分留して原料として再使用することができる
(3)廃ガス中の多量のHl  ガスが回収され、クリ
ーンエネルギーとして利用できる。
(4)液体窒素等の冷却源【トラップとして用いている
ので、油蒸気の真空系へO再拡散が少なく、又8111
a郷が油回転ポンプに入シ、油中で8102粉を作多油
の劣化【生ずるOを防ぐことができ、油交換の回数を減
少させ、ポンプon命を長くすることができる 等の効果を有し、従って、従来法の欠点であう九廃ガス
処理に要する゛dストを大幅に低下させ、アモルファス
シリコン等の製造コストを低下させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のシリコン製造時における廃ガス処理装置
o概略図、第2図乃至第4図は本発明に用いられる廃ガ
ス処理装置の概略図である。 11:ボンベ     12ニゲロ一放電部13:拡散
ポンプ   14:油回転ポンプ15:冷却トラップ 
 16:窒素ポンベ17:廃ガス処理部 代理人 弁理士(8107)佐々木 清 隆(ほか3名

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)ガス状シリコン化合物を分解してシリコンを製造す
    る際に生ずる未反応原料ガスと分解副生成物として水素
    郷のガスよ)主としてなる廃ガスの処理方法において、
    分解部と分解部の排気用ポンプとの間に、−112℃以
    下の冷却源倉有する冷却トラップを設は廃ガス中0水素
    以外のガス成分を液化トラップすることを特徴とするシ
    リコン製造時における廃ガスの処理方法。 2)冷却トラップでトラップしきれない廃ガスを希釈ガ
    スで希釈するiとを特徴とする特許請求の範囲(1)項
    記載のシリコン製造時における廃ガスの処理方法。 3)希釈ガスが冷却トラップの冷却源の気化したガスで
    あることに%黴とする特許請求の範囲(22項記載のシ
    リコン製造時における廃ガスの処理方法。 4)冷却トラップが耐圧容器よルな)、液化もしくは固
    化してトラップされ九廃ガスを燃料として用いる特許請
    求の範1i!fi (1)項記載のシリコン製造時にお
    ける廃ガスの処理方法。 5)冷却トラップが分留機能を有し、液化もしくは固化
    してトラップされた廃ガスを分留して回収する特許請求
    の範囲(1)項記載のシリコン製造時における廃ガスの
    処理方法。 6)排気用ポンプの後に水素吸着材料を含む水素吸着部
    を設け、未トラップ排ガス中の水素を特徴とする特許請
    求の範囲(1)項に記載のシリコン製造時における廃ガ
    スの処理方法。 7)冷却トラップを並列に2基設け、両トラップを通る
    排ガスの通路を切〕代え可能にした特許請求の範囲(1
    )項乃至(6)項の倒れかに記載のシリコン製造時にお
    ける廃ガスの処理方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05226251A (ja) * 1991-06-14 1993-09-03 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 高品質成膜方法及びigfetの作製方法
US6051053A (en) * 1996-12-16 2000-04-18 Ebara Corporation Trapping device and method of operation therefor
US6158226A (en) * 1996-12-16 2000-12-12 Ebara Corporation Trapping device

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