JPS58119009A - 制御装置 - Google Patents

制御装置

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Publication number
JPS58119009A
JPS58119009A JP57002101A JP210182A JPS58119009A JP S58119009 A JPS58119009 A JP S58119009A JP 57002101 A JP57002101 A JP 57002101A JP 210182 A JP210182 A JP 210182A JP S58119009 A JPS58119009 A JP S58119009A
Authority
JP
Japan
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value
circuit
current
output
difference
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Pending
Application number
JP57002101A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Kaneko
金子　精二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS58119009A publication Critical patent/JPS58119009A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02—Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0224—Process history based detection method, e.g. whereby history implies the availability of large amounts of data
    • G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
    • G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は不良判定機能を有する制御装置に関するもの
である。
従来、この種の装置としては、特定の入力に対する出力
を判定して制御不良を判定するか、あるいは制御装置の
出力が異常に大あるいは小であることにより制御不良を
判定していた。
このように従来の装置は、特定の入力を加えるために、
制御を中断する必要があった。また、制御装置の出力を
判定する方法も精度良く不良を検出するのは不可能であ
った。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去すべ
く、制御回路と全く独立して常時設定値と実測値を比較
することにより、制御内容を高精度に監視することので
きる制御装置を提供すること、を目的としている。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
図は本発明の交直変換器の定電流制御装置における一実
施例で、図中、（３）は絶対値をとる絶対値回路、（４
）はレベル判定をするレベル判定回路、（５）はタイマ
ー、（７）は定電流制御装置である。
また、図において、（１）を直流電流測定値、（２）を
直流電流設定値とすれば、絶対値回路（３）の出力は、
直流電流の設定値（２）と測定値（１）の差の絶対値で
ある。レベル判定回路（４）は、絶対値回路（３）′の
出力が一定値以上になると論理Ｉを出す。タイマー回路
（５）は、レベル判定回路（４）の出力が一定時限以上
継続すると論理１を出力し、タイマー（５）の出力が論
理Ｉとなった時、その制御が不良と判定される。
測定値として直流電流と対応のつく交流電流を用いても
良いことは明らかである。
上記設定値と上記測定値の差に応じて（６）で示すルー
トで（５）のタイマーの時限を制御して、上記差の大き
な時には、（５）のタイマーの時限を短縮して不良判定
の時限を縮めることも出きる。
以上の実施例では本発明は、オペアンプ、トランジスタ
等により構成される回路で示したが、計算機を用いてソ
フトウェアで容易に実現出来ることも明らかである。
以上のように、この発明によれば、制御装置の入力信号
だけで常時、精度の高い制御内容の監視ができ、極めて
信頼度の高い制御装置が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示す制御装置のブロック結線図
で、図中、（１）は直流電流測定値、（２）は直流電流
設定値、（３）は絶対値回路、（４）はレベル判定回路
、（５）はタイマー、（７）は定電流制御装置である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、制御装置の設定値と上記設定値に対応する測定値の
    差により、制御装置が不良であると判定することを特徴
    とする制御装置。 ２、上記設定値と上記測定値の差が一定値以上継続した
    ことを条件に、制御装置が不良であることを判定するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の制御装置。
JP57002101A 1982-01-08 1982-01-08 制御装置 Pending JPS58119009A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6019206A (ja) * 1983-07-12 1985-01-31 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 制御系監視装置
JPS6071907U (ja) * 1983-10-24 1985-05-21 理化工業株式会社 調節計
JPH07311620A (ja) * 1994-05-17 1995-11-28 Nec Corp 制御用コンピュータのための故障検出装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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