JPS58135471A - 複数負荷駆動回路の異常検出方法 - Google Patents

複数負荷駆動回路の異常検出方法

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Publication number
JPS58135471A
JPS58135471A JP57017755A JP1775582A JPS58135471A JP S58135471 A JPS58135471 A JP S58135471A JP 57017755 A JP57017755 A JP 57017755A JP 1775582 A JP1775582 A JP 1775582A JP S58135471 A JPS58135471 A JP S58135471A
Authority
JP
Japan
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load
resistor
loads
converter
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP57017755A
Other languages
English (en)
Inventor
Sokichi Funabashi
船橋 壮吉
Kazuo Watanabe
一夫 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP57017755A priority Critical patent/JPS58135471A/ja
Publication of JPS58135471A publication Critical patent/JPS58135471A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/16571Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明・は、同一電源に接続された複数の電気的負荷を
所定のシーケンスで駆動する複数負荷駆動回路における
異常検出方法に関する。
従来の複数負荷駆動回路においては、複数の負荷が接続
された電源の出力電流を監視し、これが一定値を越えた
とき、異常であると判断し、電源の出り路をヒユーズ、
ブレーカ等により遮断したり、あるいは、各負荷に、よ
って異常とされる電流値に大きな遠いがある場合にあっ
ては、各負荷ごとに異常電流検知回路を設けて、負荷に
流れる電流を監視し、異常を検出すると、その電流供給
を遮断していた。
しかしながら、前者の異常検出方法では、各負荷ごとの
負荷電流監視をきめ細かく行えず、又、後者の異常検出
方法では、多数の異常電流検知回路を必要とし、構成が
複雑となり全体として高価になるという問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、構成を複雑にすることなく、きめ細かな異常
検出を行える異常検出方法を提供することにある。
この目的を達成する本発明の異常検出方法は、複数の負
荷の共通の電源線に抵抗器を挿入接続し、該抵抗器に流
れる電流値が、実行中のシーケンスでの正常範囲を越え
るか否かを判別し、越えた場合に、異常と判断すること
を特徴とするものである。
以下、図面を参照し本発明の詳細な説明する。
図は本発明方法を実施した複数負荷駆動回路の一実施例
を示す要部構成図である。図において、1は抵抗器、2
は差動増幅器、3はアナログ・ディジタル変換器(以下
、AD変換器と略t)、4はマイクロコンピュータの中
央処理装置等からなる制御部(以下、CPUと略す)、
51.52.53.・・・は電気的負荷、6重、621
631・・・はスイッチング素子としてのトランジスタ
、7はメモリ、8は電源、9+ 、92 。
93、・・・はバッファである。電源8は、抵抗器1を
介して各負荷5s + 52 + 5s J・・・に共
通に接続され、又、各負荷5+ 、52.53は、トラ
ンジスタ6+ 、62.6sを介して、接地されている
。抵抗器1に生ずる電圧降下は、差動増幅器2で検出さ
れ、そのアナログ電圧は、AD変換器3においてディジ
タル量に変換される。CP’U4は、AD変換器3の出
力を読み取り、メモリ7に予め記憶された異常基準−と
比較し、その基準値を越えた場合には、異常検知信号を
出力するものである。この、異常検知信号は、図示しな
い警報装置に与えられ、そこでランプ表示等により、異
常表示若しくは警報が発せられるようになっている。尚
、CPLj4は、所定のシーケンスでもって、トランジ
スタ61゜62 + 6i *・・・をON・0FFL
、負結51゜52 、53 、・・・を駆動することを
主たる任務とするもので、この駆動のための出力信号は
、それぞれバッファ91*92+93+・・・を介して
、トランジスタ6r + 62 + 6s *・・・の
各ベースに供給されている。
このような構成の複数負荷駆動回路における異常検出動
作を次に説明する。先ず、CPU4により負荷の1つだ
けが駆動されている場合について述べる。今、トランジ
スタ61のみが付勢されON状態にあるとすると、負荷
51が通電状態にあり、抵抗器1には負荷51の負荷電
流に比例した電圧降下が生じ、この電圧が差動増幅器2
で検出され、適宜に増幅された後、AD変換器3でディ
ジタル信号に変換される。CPU4は、この値(負荷電
流に対応する値)を読み込むと銭に、メモリ7に予め記
憶された負?R51の異常基準値を読み出し、両者の大
小を比較する。AD変換器3の出力が前記基準値を越え
ている場合は、負荷51への通電を中止するため、トラ
ンジスタ6□をOFF状態にする。
又、これと同時に、外部に異常検知信号を出力し、異常
を表示・警報する。
他の負荷が駆動されている場合であっても、上述と同様
な動作を行って、該当負荷の異常を検出する。尚、この
異常検出は各負荷が単独で駆動されているに限らず、同
時に2つ以上の負荷が駆動されている場合についても行
われる。
この場合は、AD変換器3の出力と、該当負荷の各基準
値の和とを比較することにより、異常を検出する。
次に、具体的数値例によって異常検出方法を説明する。
抵抗器1の抵抗値を0.10、差動増幅器2の増幅率を
19.6倍とし、又、AD変換器3は入力5vのとき8
ビツトで’ F F ”(16進表記)を出力するもの
とする(従って、抵抗器1に2.55A流れたとき、A
D変換器3の入力は5VとなりCPU4には°“FF”
が入力される)。又、異常基準値を、負荷51について
は、0.8A(16進数で“50”)、負荷52につい
ては1.2A(16進数で“78”)とする。尚、正常
時の電流は、負荷51が0.5A1負荷52が0.8A
であるものとする。
このような条件の下で、負荷電流に対するCPU4の処
理の関係を示せば次表の通りである。
表中、*印は異常を示す。
場合5及び6のように、2つの負荷が通電状態にある場
合は、異常基準値としては’ 50 ”ト” 78”の
和゛C8”を採用して一比較することとなる。
尚、電源出力電圧が定電圧化されていない場合は、負荷
電圧の変動を測定し、異常基準値を補正することにより
、異常基準値と通常値とのマージンを小さくし、異常検
出を精密に行うことができる。
又、抵抗器に流れる電流と異常基準値との比較はCPU
で行ってもよいが、CPU以外で行ってもよい。この場
合は、例えばAD変換器は除去し、CPUに読み出され
たメモリ内の基準値をディジタル・アナログ変換器を介
してアナログ信号に変換し、これをアナ[1グ比較器に
おいて差動増幅器の出力と比較するように構成する。
更に、上記実施例では負荷電流の増加についての異常の
みを検出する場合を示したが、負荷電流の減少について
の異常についても同様に検出できる。
又、前述の異常検知のための抵抗は、一つの機器中一つ
に限るものではなく、各々駆動口荷をブロックに分け、
最適の異常基準値をそれぞれに設定してもよい。
以上説明したように、本発明方法によれば、構成を複雑
にすることなく、きめ細かな異常検出を行うことができ
る。
更に、これらの複数負荷駆動回路を有する種々の機器に
おいて、複写装置等における非複写動作時の如く、非動
作時に本発明の複数負荷駆動回路異常検出方法を用いる
ことができることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
図は本発明方法を実施した複数負荷駆動回路の一実施例
を示す要部構成図である。 1・・・抵抗器     2・・・差動増幅器3・・・
AD変換器   4・・・CPU51+152.5 s
・・・電気的負荷61.62.6s・・・トランジスタ 7・・・メモリ     8・・・電源9s 、92.
93.・・・バッファ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 同一電源に接続された複数の電気的負荷を所定のシーケ
    ンスで駆動する複数負荷駆動回路において、前記複数の
    負荷の共通の電源線に抵抗器を挿入接続し、該抵抗器に
    流れる電流値が、実行中のシーケンスでの正常範囲を越
    えるか否かを判別し、越えた場合に、異常と判断するこ
    とを特徴とする複数負荷駆動回路の異常検出方法。
JP57017755A 1982-02-05 1982-02-05 複数負荷駆動回路の異常検出方法 Pending JPS58135471A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57017755A JPS58135471A (ja) 1982-02-05 1982-02-05 複数負荷駆動回路の異常検出方法

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JP57017755A JPS58135471A (ja) 1982-02-05 1982-02-05 複数負荷駆動回路の異常検出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58135471A true JPS58135471A (ja) 1983-08-12

Family

ID=11952541

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57017755A Pending JPS58135471A (ja) 1982-02-05 1982-02-05 複数負荷駆動回路の異常検出方法

Country Status (1)

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JP (1) JPS58135471A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6909275B2 (en) * 2003-02-24 2005-06-21 Elmos Semiconductor Ag Electrical circuit for driving a load

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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