JPH04364432A - 温度センサの劣化検知装置 - Google Patents
温度センサの劣化検知装置Info
- Publication number
- JPH04364432A JPH04364432A JP14033491A JP14033491A JPH04364432A JP H04364432 A JPH04364432 A JP H04364432A JP 14033491 A JP14033491 A JP 14033491A JP 14033491 A JP14033491 A JP 14033491A JP H04364432 A JPH04364432 A JP H04364432A
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- JP
- Japan
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- deterioration
- temperature sensor
- thermistor
- temperature
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- 230000006866 deterioration Effects 0.000 title claims abstract description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、温度センサの劣化を検
知するための装置に関する。
知するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、サーミスタを使用した温度セ
ンサの異常を検知するに当たって、温度センサからの出
力が所定の上下限値を越えるか否かにより、温度センサ
が断線していないかどうかと、ショートによる接地状態
になっていないかどうかとを検知していた。
ンサの異常を検知するに当たって、温度センサからの出
力が所定の上下限値を越えるか否かにより、温度センサ
が断線していないかどうかと、ショートによる接地状態
になっていないかどうかとを検知していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、温度センサ
が劣化すると、特性に異常を来し、正確な温度を検出す
ることができなくなる。しかし、従来は、この温度セン
サの劣化を検知することができなかった。
が劣化すると、特性に異常を来し、正確な温度を検出す
ることができなくなる。しかし、従来は、この温度セン
サの劣化を検知することができなかった。
【０００４】そこで、温度センサにおいて劣化が生じて
いるか否かを検知することのできる温度センサの劣化検
知装置を提供することを目的として本発明を完成した。
いるか否かを検知することのできる温度センサの劣化検
知装置を提供することを目的として本発明を完成した。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】かかる目的を達
成するためになされた本発明の温度センサの劣化検知装
置は、複数個の温度検出素子と、これら複数の温度検出
素子全体での電位と一部の温度検出素子での電位とを検
出する電位検出手段と、温度検出素子全体での電位と一
部の温度検出素子での電位とが所定の比例関係にない場
合は温度センサにおいて劣化が生じていると判定する劣
化判定手段とを備えている。
成するためになされた本発明の温度センサの劣化検知装
置は、複数個の温度検出素子と、これら複数の温度検出
素子全体での電位と一部の温度検出素子での電位とを検
出する電位検出手段と、温度検出素子全体での電位と一
部の温度検出素子での電位とが所定の比例関係にない場
合は温度センサにおいて劣化が生じていると判定する劣
化判定手段とを備えている。
【０００６】温度センサの劣化の原因は、そこに使用さ
れる温度検出素子の劣化にある。温度検出素子が劣化し
た場合には、特性が変化し、端子電圧が変化する。一方
、こうした劣化は複数個の温度検出素子では異なって生
じて来る。本発明の装置はこれを利用したものであり、
温度検出素子全体での電位と一部の温度検出素子に基づ
く電位とが、本来あるべき所定の比例関係にない場合に
は、温度センサにおいて劣化が生じていると判定するの
である。
れる温度検出素子の劣化にある。温度検出素子が劣化し
た場合には、特性が変化し、端子電圧が変化する。一方
、こうした劣化は複数個の温度検出素子では異なって生
じて来る。本発明の装置はこれを利用したものであり、
温度検出素子全体での電位と一部の温度検出素子に基づ
く電位とが、本来あるべき所定の比例関係にない場合に
は、温度センサにおいて劣化が生じていると判定するの
である。
【０００７】例えば、同一種類の二個のサーミスタを直
列に接続して二個のサーミスタによる電位と一個のサー
ミスタによる電位とを比較すればちょうど２：１の関係
が得られるはずである。ところが、劣化が生じて来ると
、この関係が得られなくなるのである。
列に接続して二個のサーミスタによる電位と一個のサー
ミスタによる電位とを比較すればちょうど２：１の関係
が得られるはずである。ところが、劣化が生じて来ると
、この関係が得られなくなるのである。
【０００８】また、同様のことは三個以上を直列に接続
した場合にも起こる。加えて、直列ではなく並列に接続
したものを用いてもよく、その場合は、必要に応じて一
部のサーミスタの接続を絶つ様にする手段を設ければよ
い。
した場合にも起こる。加えて、直列ではなく並列に接続
したものを用いてもよく、その場合は、必要に応じて一
部のサーミスタの接続を絶つ様にする手段を設ければよ
い。
【０００９】
【実施例】次に、本発明を適用した実施例を説明する。
実施例の温度センサの劣化検知装置１は、図１に示す様
に、電源電圧Ｖｃｃと、グランドＧＤとの間に、上流側
から分圧用抵抗器３，第１サーミスタ５及び第２サーミ
スタ７を直列に配設し、分圧用抵抗器３と第１サーミス
タ５の間及び第１サーミスタ５と第２サーミスタ７の間
から、それぞれ抵抗器９，１１を介して端子電圧を入力
されるＡ／Ｄコンバータ１３を接続すると共に、Ａ／Ｄ
コンバータ１３から入力される端子電圧Ｖ１ ，Ｖ２
（以下、全体電圧Ｖ１ 、部分電圧Ｖ２という）に基づ
いて温度検出やセンサの劣化判定等を実行するマイクロ
コンピュータ１５を備えたものである。また、マイクロ
コンピュータ１５は、異常検知ランプ１７とも接続され
ており、温度センサにショート，オープン又は劣化の異
常が生じていることを検知した場合にはこれを点灯する
。
に、電源電圧Ｖｃｃと、グランドＧＤとの間に、上流側
から分圧用抵抗器３，第１サーミスタ５及び第２サーミ
スタ７を直列に配設し、分圧用抵抗器３と第１サーミス
タ５の間及び第１サーミスタ５と第２サーミスタ７の間
から、それぞれ抵抗器９，１１を介して端子電圧を入力
されるＡ／Ｄコンバータ１３を接続すると共に、Ａ／Ｄ
コンバータ１３から入力される端子電圧Ｖ１ ，Ｖ２
（以下、全体電圧Ｖ１ 、部分電圧Ｖ２という）に基づ
いて温度検出やセンサの劣化判定等を実行するマイクロ
コンピュータ１５を備えたものである。また、マイクロ
コンピュータ１５は、異常検知ランプ１７とも接続され
ており、温度センサにショート，オープン又は劣化の異
常が生じていることを検知した場合にはこれを点灯する
。
【００１０】マイクロコンピュータ１５は、図２に示す
手順にて温度センサの異常検知処理を実行している。こ
の処理においては、まず、全体電圧Ｖ１ と、部分電圧
Ｖ２ とを入力する（Ｓ１）。次に、全体電圧Ｖ１ 及
び部分電圧Ｖ２ がいずれも上限値Ｖｍａｘ と下限値
Ｖｍｉｎ との間に入っているか否かを判断する（Ｓ２
，Ｓ３）。どちらかが上下限範囲内にない場合は、ショ
ート又はオープンが生じているものと判断し、異常検知
ランプ１７を点灯する（Ｓ４）。そして、センサ異常時
のフェイルセーフ用に設定されたフェイルセーフ値を温
度検出値として採用する（Ｓ５）。
手順にて温度センサの異常検知処理を実行している。こ
の処理においては、まず、全体電圧Ｖ１ と、部分電圧
Ｖ２ とを入力する（Ｓ１）。次に、全体電圧Ｖ１ 及
び部分電圧Ｖ２ がいずれも上限値Ｖｍａｘ と下限値
Ｖｍｉｎ との間に入っているか否かを判断する（Ｓ２
，Ｓ３）。どちらかが上下限範囲内にない場合は、ショ
ート又はオープンが生じているものと判断し、異常検知
ランプ１７を点灯する（Ｓ４）。そして、センサ異常時
のフェイルセーフ用に設定されたフェイルセーフ値を温
度検出値として採用する（Ｓ５）。
【００１１】一方、全体電圧Ｖ１ 及び部分電圧Ｖ２
が共に上下限範囲内に収まっている場合は、全体電圧Ｖ
１ を部分電圧Ｖ２ で割った値が値「２」とほぼ等し
くなっているか否かを判断する（Ｓ６）。この判断が否
定判断の場合には、温度センサに劣化が生じているもの
と判断してＳ４，Ｓ５の処理へ進む。
が共に上下限範囲内に収まっている場合は、全体電圧Ｖ
１ を部分電圧Ｖ２ で割った値が値「２」とほぼ等し
くなっているか否かを判断する（Ｓ６）。この判断が否
定判断の場合には、温度センサに劣化が生じているもの
と判断してＳ４，Ｓ５の処理へ進む。
【００１２】しかし、Ｓ６において肯定判断された場合
は、劣化は生じておらず、またショートやオープンも生
じていないと判断し、異常検知ランプ１７を消灯し（Ｓ
７）、Ａ／Ｄコンバータに入力された全体電圧Ｖ１ に
基づく値を温度検出値として採用する（Ｓ８）。
は、劣化は生じておらず、またショートやオープンも生
じていないと判断し、異常検知ランプ１７を消灯し（Ｓ
７）、Ａ／Ｄコンバータに入力された全体電圧Ｖ１ に
基づく値を温度検出値として採用する（Ｓ８）。
【００１３】この様に、本実施例によれば、ショート及
びオープン以外に、温度センサの劣化をも検知すること
ができ、温度検出値の信頼性がより向上する。以上本発
明の一実施例を説明したが、本発明はこれに限定されず
、本発明の要旨を逸脱しない範囲内の種々なる態様を採
用することができる。
びオープン以外に、温度センサの劣化をも検知すること
ができ、温度検出値の信頼性がより向上する。以上本発
明の一実施例を説明したが、本発明はこれに限定されず
、本発明の要旨を逸脱しない範囲内の種々なる態様を採
用することができる。
【００１４】例えば、三個以上のサーミスタを直列に接
続し、全体電圧と部分電圧との間に３：１あるいは３：
２の関係が認められるか否かに応じて劣化を検知する構
成とすることもできる。また、二個のサーミスタを並列
に接続し、その内の一方をスイッチングトランジスタな
どの操作によって必要に応じてカットできる様にしてお
き、全体電圧と部分電圧の比が１：２になっているか否
かにより劣化を検知しても構わない。逆に、普段は一個
で温度検出をし、劣化検査時にスイッチングトランジス
タをオンにするという構成も採用し得る。
続し、全体電圧と部分電圧との間に３：１あるいは３：
２の関係が認められるか否かに応じて劣化を検知する構
成とすることもできる。また、二個のサーミスタを並列
に接続し、その内の一方をスイッチングトランジスタな
どの操作によって必要に応じてカットできる様にしてお
き、全体電圧と部分電圧の比が１：２になっているか否
かにより劣化を検知しても構わない。逆に、普段は一個
で温度検出をし、劣化検査時にスイッチングトランジス
タをオンにするという構成も採用し得る。
【００１５】
【発明の効果】以上の如く本発明の温度センサの劣化検
知装置によれば、温度センサにおいて劣化が生じている
か否かを検知することができ、温度センサの検出値の信
頼性を向上させることができる。
知装置によれば、温度センサにおいて劣化が生じている
か否かを検知することができ、温度センサの検出値の信
頼性を向上させることができる。
【図１】 実施例の温度センサの劣化検知装置の概略
構成図である。
構成図である。
【図２】 その温度センサの異常検知処理のフローチ
ャートである。
ャートである。
１・・・温度センサの劣化検知装置、３・・・分圧用抵
抗器、５・・・第１サーミスタ、７・・・第２サーミス
タ、１３・・・Ａ／Ｄコンバータ、１５・・・マイクロ
コンピュータ、１７・・・異常検知ランプ１７。
抗器、５・・・第１サーミスタ、７・・・第２サーミス
タ、１３・・・Ａ／Ｄコンバータ、１５・・・マイクロ
コンピュータ、１７・・・異常検知ランプ１７。
Claims (1)
- 【請求項１】 複数個の温度検出素子と、これら複数
の温度検出素子全体での電位と一部の温度検出素子での
電位とを検出する電位検出手段と、温度検出素子全体で
の電位と一部の温度検出素子での電位とが所定の比例関
係にない場合は温度センサにおいて劣化が生じていると
判定する劣化判定手段とを備えた温度センサの劣化検知
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14033491A JPH04364432A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 温度センサの劣化検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14033491A JPH04364432A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 温度センサの劣化検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04364432A true JPH04364432A (ja) | 1992-12-16 |
Family
ID=15266412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14033491A Pending JPH04364432A (ja) | 1991-06-12 | 1991-06-12 | 温度センサの劣化検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04364432A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006053148A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-02-23 | Robert Bosch Gmbh | 差電圧評価を用いてセンサを監視する方法 |
| WO2011129339A1 (ja) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
| US20150168235A1 (en) * | 2012-08-02 | 2015-06-18 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Multi-lead measurement apparatus for detection of a defective temperature-dependent resistance sensor |
-
1991
- 1991-06-12 JP JP14033491A patent/JPH04364432A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006053148A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-02-23 | Robert Bosch Gmbh | 差電圧評価を用いてセンサを監視する方法 |
| WO2011129339A1 (ja) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
| JP2011220916A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Nidec-Read Corp | 検査装置 |
| US20150168235A1 (en) * | 2012-08-02 | 2015-06-18 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Multi-lead measurement apparatus for detection of a defective temperature-dependent resistance sensor |
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