JP2006053148A - 差電圧評価を用いてセンサを監視する方法 - Google Patents

差電圧評価を用いてセンサを監視する方法 Download PDF

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Abstract

【課題】従来技術のセンサの監視方法で生じていたエラーが生じないようにすること。
【解決手段】アース及び/又は給電電圧Uへの短絡を検出するために、差電圧評価を用いてセンサを監視する方法に関する。センサには、第1の抵抗R及び第2の抵抗Rが配属されている。和電圧をセンサの一方の端子の一方の電圧U及び他方の端子の他方の電圧Uとから求めて、当該和電圧を給電電圧Uと比較される。その後、求めた和電圧と給電電圧Uとの比aが形成される。比aの値に依存して、センサでのプラス端子及び/又はマイナス端子での分路の生起が検出される。
【選択図】図1

Description

本発明は、アース又は給電電圧Uへの短絡を検出するために、差電圧評価を用いてセンサを監視する方法であって、センサには、第1の抵抗R及び第2の抵抗Rが配属されている方法に関する。
温度値の検出のために、抵抗依存の半導体構成素子(PCT素子)が使用され、この半導体構成素子が、マイクロプロセッサのアナログ入力側を介して評価される。精度を高めるために、差評価が行われ、それによって障害となるアース作用を除去することができる。温度は、制御装置内で行うべき計算を実行することができるためには、制御装置の内部で必要とされる。
差電圧評価方法は、殊に自動車産業で、エンジン又はトランスミッション温度を評価及び測定する際に広く用いられている。
温度センサによって検出される温度のエラー検出を回避するために、温度センサの作動具合が監視される。温度検出にエラーがある場合、制御装置内で誤った計算が実行され、乃至、間違った特性曲線が使用されることになる。一般的には、差電圧評価時にアースへの短絡、給電電圧Uへの短絡、及び、断線が検出される。従来技術で使用されているセンサの監視方法では、分路は、これまで検出されてこなかった。分路によって、エラーのある差電圧が形成され、それによって、温度検出にエラーが生じ、その結果、温度センサの監視は、アースへの短絡、給電電圧Uへの短絡、並びに、断線の検出では、一般的に十分ではない。
本発明の課題は、従来技術のセンサの監視方法で生じていたエラーが生じないようにすることである。
この課題は、本発明によると、和電圧をセンサの一方の端子の一方の電圧U及び他方の端子の他方の電圧Uとから求めて、当該和電圧を給電電圧Uと比較し、求めた和電圧と給電電圧Uとの比aを形成し、比aの値に依存して、センサでの分路の生起を検出することによって解決される。
本発明により提案されている解決手段によると、センサ、例えば、温度センサでの分路が、センサでの電圧値の算出を介して検出される。センサのプラス端子及びマイナス端子の抵抗が同じ状態では、センサでの電圧は、給電電圧に相応する。従って、和電圧と給電電圧との比は、抵抗RR乃至Rが同じという前提では、1に等しい。
この状況により、殊に、分路抵抗の診断手段が改善される。診断評価のためには、例えば、以下の比aの値の許容偏差間隔が有意義である:比aが0.95〜1.05で動く限り、比aが値0.95を下回るか、又は、例えば、値1.05を上回ると即座に、分路エラーの生起が検出される。ここで、例として挙げた比0.95乃至1.05の値の代わりに、例えば、温度センサに設定される精度要求に依存して、例えば、値0.9乃至1.1を選定してもよい。検出される温度の精度に関する要求乃至仕様に依存して、比aを、使用される抵抗R乃至Rに依存して決めてもよい。
図1には、一方では給電電圧源と接続されていて、他方では2つの抵抗と接続されているセンサ装置の略図が示されている。
図1に可変センサ手抵抗Rによって示されているセンサ1は、一方では、給電電圧Uによって示され給電電圧源と接続されており、他方では、アース4に接続されている。センサ1には、一方で、アース4とセンサのマイナス端子3との間に接続された抵抗Rがアース側に接続されており、センサ1には、他方で、プラス端子2と給電電圧Uとの間に接続された第1の抵抗Rが給電電圧源側に接続されている。プラス端子2の分路は、同様にアース4に接続されている分路抵抗Rによって示されており、センサ1のマイナス端子3の分路は、マイナス端子での分路抵抗Rによって示されており、その際、分路抵抗Rは、同様にアース4に接続されている。分路抵抗R乃至Rは、以下のように作用する抵抗のことである。つまり、例えば、センサでの導電性の汚濁によって生じたり、又は、欠陥のあるセンサケーブルでのクリープ電流によって生じたりする。以下示す計算では、分路抵抗R乃至Rは、オーム性実抵抗である。分路抵抗R乃至Rの値は、未知である。システム全体で、センサの一方の端子2の一方の電圧U及び他方の端子3の他方の電圧Uと及び給電電圧源の電圧Uが測定され、それらの各値から比aが算出される。それから、比aの値は、所定の限界値と比較される。
図1を用いて、以下の各事例について区別して説明する:
事例1(分路抵抗がない場合):
この場合には、マイナス端子3に電圧Uが調整され、この電圧は、以下の関係式から得られ:
[1] U=U・R/(R+R+R
そして、センサ1のプラス端子2には、電圧Uが調整され、この電圧は、以下の関係式によって得られる:
[2] U=U・(R+R)/(R+R+R
和電圧と給電電圧との比aは:
[3] a=(U+U)/U
によって決められる。
式[1]及び式[2]を式[3]に用いると、比aに対して:
a=[(R+R)+R]/(R+R+R)=(2R+R)/(R+R+R
が得られる。
=R=Rの場合には、常に比a=1となる。
事例2(マイナス端子3に分路抵抗Rがある場合):
簡単にするために:
=R‖R=R/(R+R
とする。
比aは、上述のようにして得られ:
a=(2R+R)/(R+R+R
そして、この式から、
a=[2R+R(R+R)]/[R(R+R)+R(R+R)+R]=[R(2R+R)+R]/[R(R+R+R)+R(R+R)]
が得られる。
=R=Rが成り立つならば、比aは:
a=[R(2R+R)+RR]/[R(2R+R)+R(R+R)]
と得られる。
=∞となる場合には、ここでも、比aは、値1となる。
事例3(プラス端子2に分路抵抗Rがある場合):
センサ1のプラス端子2に分路抵抗Rが図1に示したように位置している場合には、以下が成り立つ:
=U{[R(R+R)]/(R+R+R)}/{[R(R+R)]/(R+R+R)+R}}
従って、U即ち、プラス端子2に印加される電圧Uが得られる:
[1] U=U[R(R+R)]/[R(R+R)+R(R+R+R)]
マイナス端子3に印加される電圧Uは、
[2] U=U(R)/(R+R
給電電圧用の和電圧の比aは:
a=[U+U(R)/(R+R)]/U=U[1+R/(R+R)]/U
式[1]を用いると、比aは:
a=R(2R+R)/[R(R+R+R)+R(R+R)]=R(2R+R)/[R(R+R)+R(R+R+R)]
となる。
第1の抵抗Rが第2の抵抗Rに等しい場合:
=R=R:
となる。
従って、和電圧と給電電圧との比aは
a=R(2R+R)/[R(2R+R)+R(R+R)]
が値∞をとる場合には、和電圧と給電電圧との比aの値は、値1が調整される。
分路抵抗、即ち、R乃至Rが給電電圧Uに接続されると、比は反転し、その結果、比aの値>1となる。診断評価のため、例えば、後述の値は有意義であるが、例として挙げたにすぎない:
比aの値≦1.05、但し、≧0.95である場合、即ち、0.95≦a≦1.05の場合、「分路なし」と分かる。
比aの値が0.95以下、又は、1.05以上になると、分路エラーが生起していることが分かり、即ち、a<0.95又はa>1.05である。
図2には、分路抵抗Rの分路の場合の比aが、分路抵抗Rの種々の値に亘って記載されている。種々異なる特性曲線は、50,100,200,400,600,800,1000,1200,1400,1600,1800乃至2kΩの可変のセンサ抵抗の場合に記載されており、第1の抵抗R乃至第2の抵抗Rの値は、それぞれ1kΩである。
表Iは、この場合に調整される各値が、1つの値表に示されており、その際、値表の第1の行には、50Ω〜2kΩのセンサ抵抗RSの個別値が記載されており、最も外側の左側の欄には、0〜50000の分路抵抗Rの各値が記載されている。
図3には、センサ1のプラス端子2での分路抵抗Rの分路がある場合の比aの経過が示されている。図3の場合には、センサ抵抗Rは、50Ω、100Ω、200Ω、400Ω、600Ω、800Ω、1000Ω、1200Ω、1400Ω、1600Ω、1800Ω乃至2kΩの値をとり、その際、比aは、0.8〜1である。図3の特性曲線の場合でも、第1の抵抗R乃至第2の抵抗Rの値は、それぞれ1kΩである。
図3に示されている、プラス端子2での、抵抗Rの分路で調整される比aの各値は、表IIから分かる。表Iと同様に、表IIでも、左側の最も外側には、0〜50000Ωで変化する分路抵抗Rが記載されており、表IIの最も上の行には、50,100,200,400,600,800Ω、1kΩ、1.2kΩ、1.4kΩ、1.6kΩ、1.8kΩ、並びに、2kΩの可変のセンサ抵抗Rが記載されている。表IIからは、プラス端子2に分路抵抗Rの分路がある場合の比aの経過が分かる。図2,3と同様に、分路抵抗Rがある場合も、分路抵抗Rがある場合も(0〜50kΩに選択される)、比aに対して、それぞれ調整される特性曲線は、特性曲線群となることが明らかである。これら各特性曲線群は全て、漸近経過で値1に近づく強い勾配によって特徴付けられて移行する。
センサ評価にとって有意義な比aの値は、前述のように、0.95〜1.05で、即ち、分路抵抗R乃至分路抵抗R≧10kΩであるような領域内に位置している。
未だ、センサ評価が行われる必要があるaの正確な境界は、全システムにたてられる精度要求に依存している。値aが、この定義された領域の外側に位置している場合、分路抵抗が全システムに及ぼす影響は著しく大きく、その結果、センサの評価は、もはや有意義ではなく、場合によっては、センサの等価値に切り換えることができる。センサの診断により、この場合、分路エラーが検出される。
センサに配属した抵抗R乃至Rを有するセンサの接続回路の略図。 抵抗Rの分路での比aの特性を示す図。 抵抗Rの分路での比aを示す図。 分路抵抗Rの分路の場合の比aが、分路抵抗Rの種々の値に亘って記載されている図2の場合に調整される各値が記載されている表。 図3に示されている、プラス端子2での、抵抗Rの分路で調整される比aの各値が記載されている表。
符号の説明
1 温度
2 プラス端子センサ
3 マイナス端子センサ
第1の抵抗
第2の抵抗
4 アース
センサ抵抗
マイナス端子での分路抵抗
プラス端子での分路抵抗
プラス端子での電圧
マイナス端子での電圧
給電電圧

Claims (8)

  1. アース(4)又は給電電圧Uへの短絡を検出するために、差電圧評価を用いてセンサを監視する方法であって、前記センサには、第1の抵抗R及び第2の抵抗Rが配属されている方法において、
    和電圧をセンサの一方の端子(2)の一方の電圧U及び他方の端子(3)の他方の電圧Uとから求めて、当該和電圧を給電電圧Uと比較し、
    求めた前記和電圧と前記給電電圧Uとの比aを形成し、
    前記比aの値に依存して、前記センサでの分路の生起を検出する
    ことを特徴とする方法。

  2. a=(U+U)/U
    が、第1の抵抗R及び第2の抵抗Rの同じ値で値1をとるようにする請求項1記載の方法。
  3. マイナス端子(2)での、センサのアース(4)への分路の生起を、関係式:
    a=[R(2R+R)+RR]/[R(2R+R)+R(R+R)]
    但し、R=R=R
    を用いて比aによって求める請求項1記載の方法。
  4. プラス端子(3)での、センサのアース(4)への分路の生起を、関係式:
    a=R(2R+R)/[R(2R+R)+R(R+R)]
    但し、R=R=R
    を用いて比aによって求める請求項1記載の方法。
  5. マイナス端子(2)での、センサの給電電圧Uへの分路の生起を1/aから求める請求項3記載の方法。
  6. プラス端子(3)での、センサの給電電圧Uへの分路の生起を1/aから求める請求項4記載の方法。
  7. 0.95≦a≦1.05の値で、分路が生じていないことを推定する請求項1〜6迄の何れか1記載の方法。
  8. a<0.95又はa>1.05で、センサのプラス端子(3)又はマイナス端子(2)での分路を検出する請求項1〜7迄の何れか1記載の方法。
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