JP5009950B2 - 接地装置の試験方法及び装置 - Google Patents

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本発明は、変電所の接地装置を試験するための接地装置の試験方法及び装置に関する。
変電所には、構内の各機器を接地するための機器接地装置や、遠方監視制御装置との通信回線等を保護するための遠制接地装置が設置される。また、変電所には、構外から引き込まれている通信線を、構内における直流1500Vの地絡から保護するための保安器が設置される。
このような変電所にあっては、保安器で機器接地装置と遠制接地装置とが電気的に接続状態になってしまうと、各々の機器の機能を果たさなくなってしまい、地絡が生じた際に通信線の焼損を招く虞がある。このような状況を回避するための対策として、変電所では、機器接地装置や遠制接地装置の接地抵抗値を個別に測定したり、接地線の導通試験を行ったりしており、これらの試験結果に基づいて、個別の各接地装置の状態の良否が判断されている。
特開平06−308174号公報
しかし、上記のような各接地装置の接地抵抗値を個別に測定する試験では、機器接地装置と遠制接地装置とが保安器の配電盤内で誤配線され、電気的に接続状態となっていても、各々の接地装置の接地抵抗値に問題がなければ、正常と判定されてしまうという問題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる接地装置の試験方法及び装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための本発明に係る接地装置の試験方法は、変電所に設けられた設備を接地する3種類の接地装置の試験方法であって、3種類の接地装置のうちいずれか2種類の接地装置を1組とする3組の異なる組み合わせの接地装置に対し、試験用の入力電流を供給し、当該2種類の接地装置間の直列抵抗値を、入力電流の供給によって生じる電圧値と入力電流の電流値とを基に算出する直列接地抵抗測定ステップと、接地抵抗測定ステップで測定した3組の2種類の接地装置間の直列接地抵抗値から、各接地装置の個別の接地抵抗値を算出する算出ステップと、算出ステップで算出した各接地装置の個別の接地抵抗値に基づいて、各接地装置の良否を判定すると共に、接地抵抗測定ステップで測定した3組の2種類の接地装置間の直列接地抵抗値が所定値以下であれば、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態になっていると判定する判定ステップとを含む。
好ましくは、前記接地装置が2種類しかない場合に、前記変電所の構内に補助電極を設け、当該補助電極を前記3種類の接地装置のうちの1つとして扱うようにする。
上記課題を解決するための本発明に係る接地装置の試験装置は、変電所に設けられた設備を接地する3種類の接地装置の試験装置であって、3種類の接地装置のうちいずれか2種類の接地装置を1組とする3組の異なる組み合わせの接地装置に対し、試験用の入力電流を供給し、当該2種類の接地装置間の直列抵抗値を、入力電流の供給によって生じる電圧値と入力電流の電流値とを基に算出する直列接地抵抗測定部と、接地抵抗測定部が測定した3組の2種類の接地装置間の直列接地抵抗値から、各接地装置の個別の接地抵抗値を算出する算出部と、算出部が算出した各接地装置の個別の接地抵抗値に基づいて、各接地装置の良否を判定すると共に、接地抵抗測定部が測定した3組の2種類の接地装置間の直列接地抵抗値が所定値以下であれば、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態になっていると判定する判定部とを含む。
本発明によれば、変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる。
本実施の形態にかかる接地抵抗試験装置10の一例の構成を示す図である。 変電所における機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の態様を示す図である。 本実施形態に係る接地抵抗試験装置10の処理フローを示す図である。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施の形態にかかる接地抵抗試験装置10の一例の構成を示す。また、図2は、図1に示す接地抵抗試験装置10を利用して試験される変電所の各接地装置の態様を示す図である。
本実施形態に係る接地抵抗試験装置10は、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40を試験する。なお、機器接地装置20は、変電所構内の各機器を接地する接地装置である。また、遠制接地装置30は、遠方監視制御装置との通信回線等を保護するための接地装置である。また、基準接地装置40は、機器接地装置や遠制接地装置との間に電位差が得られるように設けられた接地装置である。
接地抵抗試験装置10は、定電流方式の3電極法、すなわち機器接地装置20と遠制接地装置30とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値、機器接地装置20と基準接地装置40とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値、及び遠制接地装置30と基準接地装置40とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値に基づいて、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の状態を判定する。
接地抵抗試験装置10は、制御部11、接地抵抗測定部12、算出部13、及び判定部14を備える。制御部11は、例えば、マイクロプロセッサ及びメモリ等を有して接地抵抗試験装置10内の各部の動作を制御する。接地抵抗測定部12は、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40のうち2種類の接地装置が電気的に接続された状態で、試験用の入力電流を供給する。そして、接地抵抗測定部12は、試験中に入力電流によって生じる電圧値と入力電流の電流値から2種類の接地装置を電気的に接続したときの直列接地抵抗値を算出する。
そして、算出部13は、接地抵抗測定部12が測定した機器接地装置20と遠制接地装置30とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値、機器接地装置20と基準接地装置40とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値、及び遠制接地装置30と基準接地装置40とを電気的に接続したときの直列接地抵抗値から、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の個別の接地抵抗値を算出する。判定部14は、算出部12が算出した機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の個別の接地抵抗値に基づいて、その良否を判定する。
以上の構成により接地抵抗試験装置10は、接地抵抗測定部12が測定した2種類の接地装置を電気的に接続したときの直列接地抵抗値と、当該2種類の接地装置間の接地抵抗値の測定と同様に測定された、3種類の接地装置のうち他の2つの組み合わせの2種類の接地装置間の各接地抵抗値から、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の接地抵抗値を算出する。そして、接地抵抗試験装置10は、その算出結果を用いて、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の良否を判定する。
図3は、本実施形態に係る接地抵抗試験装置10の処理フローを示す図である。
次に、図3を参照して、接地抵抗試験装置10が、変電所における機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の状態の良否を判定する手順について説明する。
以下の説明では、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の接地抵抗値を、それぞれR20、R30、R40とする。また、以下の説明では、実測抵抗値による機器接地装置20と遠制接地装置30間の直列抵抗をR20・30とする。また、以下の説明では、実測抵抗値による機器接地装置20と基準接地装置40間の直列抵抗をR20・40とする。また、以下の説明では、実測抵抗値による遠制接地装置30と基準接地装置40間の直列抵抗をR30・40とする。
まず、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験用の入力電流を供給するための図示しない電流供給用端子を、機器接地装置20、及び遠制接地装置30の抵抗部分が電気的に接続された状態で、機器接地装置20と遠制接地装置30間に試験用の入力電流を供給する(S101)。次に、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験中に入力電流に応じた機器接地装置20と遠制接地装置30間の接地抵抗値R20・30を測定する(S102)。次に、接地抵抗試験装置10の制御部11は、接地抵抗測定部12が測定した機器接地装置20と遠制接地装置30間の接地抵抗値R20・30を一時的に記憶する(S103)。
同様にして、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験用の入力電流を機器接地装置20と基準接地装置40間に供給する(S104)。次に、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験中に入力電流に応じた機器接地装置20と基準接地装置40間の接地抵抗値R20・40を測定する(S105)。次に、接地抵抗試験装置10の制御部11は、接地抵抗測定部12が測定した機器接地装置20と基準接地装置40間の接地抵抗値R20・40を一時的に追加記憶する(S106)。
同様にして、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験用の入力電流を遠制接地装置30と基準接地装置40間に供給する(S107)。次に、接地抵抗試験装置10の接地抵抗測定部12は、試験中に入力電流に応じた遠制接地装置30と基準接地装置40間の接地抵抗値R30・40を測定する(S108)。次に、接地抵抗試験装置10の制御部11は、接地抵抗測定部12が測定した遠制接地装置30と基準接地装置40間の接地抵抗値R30・40を一時的に追加記憶する(S109)。
次に、接地抵抗試験装置10の測定部12は、制御部11が記憶する各接地装置間の接地抵抗値R20・30と、R20・40と、R30・40をそれぞれ読み出す(S110)。そして、接地抵抗試験装置10の測定部12は、これらの接地抵抗値を基に、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の各接地抵抗値R20、R30、R40を算出する(S111)。具体的には、接地抵抗試験装置10の測定部12は、式(1)乃至(3)の計算アルゴリズムに基づいて、各接地抵抗値R20、R30、R40を算出する。
ここで、各接地抵抗値R20、R30、R40を算出するための計算アルゴリズムについて説明する。各接地装置間の接地抵抗値R20・30と、R20・40と、R30・40は、各接地抵抗値R20、R30、R40との間に、式(1)乃至(3)に示すような関係が成立する。
20+R30=R20・30 …(1)
20+R40=R20・40 …(2)
30+R40=R30・40 …(3)
したがって、上記式(1)乃至(3)に示す関係に基づいて、各接地抵抗値R20、R30、R40は、各接地装置間の各接地抵抗値R20・30と、R20・40と、R30・40から、以下のようにして算出することができる。
20=(R20・30−R30・40+R20・40)/2
30=(R20・30+R30・40−R20・40)/2
40=(R20・40−R20・30+R30・40)/2
次に、接地抵抗試験装置10の判定部14は、接地抵抗試験装置10の測定部12が算出した機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の各接地抵抗値R20、R30、R40が正常値の範囲内であるか否かによって、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の状態の良否を判定する(S112)。
例えば、機器接地装置20については、接地抵抗値R20が5Ω以下であれば良判定とし、それ以上であれば不良判定とする。また、遠制接地装置30については、接地抵抗値R30が20Ω以下であれば良判定とし、それ以上であれば不良判定とする。また、基準接地装置については、接地抵抗値R40が100Ω以下であれば良判定とし、それ以上であれば不良判定とする。また、上記測定において各接地装置間が導通しない場合、例えば、電流が流れない場合と、各接地装置間の抵抗値が5Ω以下の場合は、各接地装置が正常でないと判定する。
このように、接地抵抗試験装置10によれば、機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40のうち2種類の接地装置を1組とする3組の組み合わせの接地装置同士の直列接地抵抗値から各接地装置の接地抵抗値を求めることができるように、3電極法を利用して機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の接地抵抗値をそれぞれ算出し、その状態の良否を判定する。その結果、変電所における機器接地装置20と遠制接地装置30が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる。
上記実施形態では、変電所に機器接地装置20、遠制接地装置30、及び基準接地装置40の3種類の接地装置が設置されている場合について説明してきたが、変電所によっては、基準接地装置40を設置しないこともある。その場合、上記試験にあたっては、変電所の構内に補助電極を打設し、当該補助電極を基準接地装置40の代用とする。
また、上記実施形態では、各接地装置間の接地抵抗値の測定にあたり、機器接地装置20と基準接地装置40間の接地抵抗値R20・40、遠制接地装置30と基準接地装置40間の接地抵抗値R30・40、遠制接地装置30と基準接地装置40間の接地抵抗値R30・40の順に測定するように説明した。しかし、各接地装置間の測定の順序は、この順序でなくても構わない。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
10 接地抵抗試験装置
11 制御部
12 接地抵抗測定部
13 算出部
14 判定部
20 機器接地装置
30 遠制接地装置
40 基準接地装置

Claims (3)

  1. 変電所に設けられた設備を接地する3種類の接地装置の試験方法であって、
    前記3種類の接地装置のうちいずれか2種類の接地装置を1組とする3組の異なる組み合わせの接地装置に対し、試験用の入力電流を供給し、当該2種類の接地装置間の直列抵抗値を、前記入力電流の供給によって生じる電圧値と前記入力電流の電流値とを基に算出する直列接地抵抗測定ステップと、
    前記接地抵抗測定ステップで測定した3組の前記2種類の接地装置間の直列接地抵抗値から、前記各接地装置の個別の接地抵抗値を算出する算出ステップと、
    前記算出ステップで算出した前記各接地装置の個別の接地抵抗値に基づいて、前記各接地装置の良否を判定すると共に、前記接地抵抗測定ステップで測定した3組の前記2種類の接地装置間の直列接地抵抗値が所定値以下であれば、前記接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態になっていると判定する判定ステップと
    を含む接地装置の試験方法。
  2. 前記接地装置が2種類しかない場合に、前記変電所の構内に補助電極を設け、当該補助電極を前記3種類の接地装置のうちの1つとして扱う
    請求項1に記載の接地装置の試験方法。
  3. 変電所に設けられた設備を接地する3種類の接地装置の試験装置であって、
    前記3種類の接地装置のうちいずれか2種類の接地装置を1組とする3組の異なる組み合わせの接地装置に対し、試験用の入力電流を供給し、当該2種類の接地装置間の直列抵抗値を、前記入力電流の供給によって生じる電圧値と前記入力電流の電流値とを基に算出する直列接地抵抗測定部と、
    前記接地抵抗測定部が測定した3組の前記2種類の接地装置間の直列接地抵抗値から、前記各接地装置の個別の接地抵抗値を算出する算出部と、
    前記算出部が算出した前記各接地装置の個別の接地抵抗値に基づいて、前記各接地装置の良否を判定すると共に、前記接地抵抗測定部が測定した3組の前記2種類の接地装置間の直列接地抵抗値が所定値以下であれば、前記接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態になっていると判定する判定部と
    を含む接地装置の試験装置。
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