JPS58118925A - サ−モグラフイ装置 - Google Patents
サ−モグラフイ装置Info
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- JPS58118925A JPS58118925A JP217682A JP217682A JPS58118925A JP S58118925 A JPS58118925 A JP S58118925A JP 217682 A JP217682 A JP 217682A JP 217682 A JP217682 A JP 217682A JP S58118925 A JPS58118925 A JP S58118925A
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- 239000003550 marker Substances 0.000 claims abstract description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 10
- 101100385296 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CRT10 gene Proteins 0.000 abstract 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/48—Thermography; Techniques using wholly visual means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被写体の温度分布パターンを取得するサーモグ
ラフィ装置に関し、特に温度分布パターン上で見つけた
異常点に対応する被写体上の点に光スポットを照射し得
る装置に関する。
ラフィ装置に関し、特に温度分布パターン上で見つけた
異常点に対応する被写体上の点に光スポットを照射し得
る装置に関する。
サーモグラフィ装置で取得した温度分布パターンに基づ
き、被写体上の異常高温部あるいは異常低温部を見つけ
ることが広く行わね、ているが、温度分布パターンは可
視光像と異なり被写体の輪郭や起伏がはつきりしないた
め、パターン上で見つけた異常点が被写体上のどの位置
に対応するかを正確に判断することは困難である。そこ
で従来は被写体上lこ反射率が高くてパターン上で黒点
として表示される様な部材(例えば小さく切ったアルミ
箔等)を貼りつけ、それを目印にしてパターン上の異常
点が被写体上でどの位置にあたるかを判断していたが、
パターンを観察しながらアルミ箔を移動させたりする必
要があり、作業が繁雑であった。
き、被写体上の異常高温部あるいは異常低温部を見つけ
ることが広く行わね、ているが、温度分布パターンは可
視光像と異なり被写体の輪郭や起伏がはつきりしないた
め、パターン上で見つけた異常点が被写体上のどの位置
に対応するかを正確に判断することは困難である。そこ
で従来は被写体上lこ反射率が高くてパターン上で黒点
として表示される様な部材(例えば小さく切ったアルミ
箔等)を貼りつけ、それを目印にしてパターン上の異常
点が被写体上でどの位置にあたるかを判断していたが、
パターンを観察しながらアルミ箔を移動させたりする必
要があり、作業が繁雑であった。
本発明はこの点に鑑みてなされたもので、温度分布パタ
ーンを表示する陰極線管(c■tq’)の画面上に該画
面上の任意位置を指定するマーカを表示する手段と、C
RTの垂直走査が該マーカ位置へ来た時lこ被写体を走
査する光学的走査機構による垂直走査を停止する手段と
、CRTの水平走査が上記マーカ位置へ来るたびに点灯
する光源を設け、該光源の儂を上記光学的走査機構を介
して被写体上に結像することにより、CRT上のマーカ
位置に対応する被写体上の位置に光スポットを投射し得
る様にした点に特徴を有する。以下図面を用いて本発明
を詳説する。
ーンを表示する陰極線管(c■tq’)の画面上に該画
面上の任意位置を指定するマーカを表示する手段と、C
RTの垂直走査が該マーカ位置へ来た時lこ被写体を走
査する光学的走査機構による垂直走査を停止する手段と
、CRTの水平走査が上記マーカ位置へ来るたびに点灯
する光源を設け、該光源の儂を上記光学的走査機構を介
して被写体上に結像することにより、CRT上のマーカ
位置に対応する被写体上の位置に光スポットを投射し得
る様にした点に特徴を有する。以下図面を用いて本発明
を詳説する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。同図において1は走査鏡を用いた光学的走査機構で
あり、視野内各部から発生した赤外線は該走査機構1に
より順次赤外線検出器2へ集光される。該検出器2(l
!:走査機構1との間の光路には鏡3が挿入可能で、該
鏡3を挾んで検出器2と光学的に等価な位置にはスイッ
チ4によって点滅される発光ダイオード5が配置されて
いる。
る。同図において1は走査鏡を用いた光学的走査機構で
あり、視野内各部から発生した赤外線は該走査機構1に
より順次赤外線検出器2へ集光される。該検出器2(l
!:走査機構1との間の光路には鏡3が挿入可能で、該
鏡3を挾んで検出器2と光学的に等価な位置にはスイッ
チ4によって点滅される発光ダイオード5が配置されて
いる。
上記走査機構1による視野内走査に伴なって検出器2か
ら得られた赤外線映像信号は、増幅器6を介してリニア
ライザ、絶対温度再生回路等を含む処理回路7へ送られ
て温度とリニアな関係を有する信号に変換された後、ス
イッチ8.ドライブ回路9を介してCR’l’10へ輝
度信号として送られる。この時該CRT1Gの水平、垂
直偏向器11tl。
ら得られた赤外線映像信号は、増幅器6を介してリニア
ライザ、絶対温度再生回路等を含む処理回路7へ送られ
て温度とリニアな関係を有する信号に変換された後、ス
イッチ8.ドライブ回路9を介してCR’l’10へ輝
度信号として送られる。この時該CRT1Gの水平、垂
直偏向器11tl。
11Vには、前記走査機構1から発生する水平、垂直走
査に同期した水平、垂直同期信号に基づいて水平走査回
路12H2垂直走査回路12Vにおいて作成された水平
、垂直走査信号が切換スイッチ13H213V及びドラ
イブ回路14H,14Vを介して送られるため、CRT
IQの画面には第2図に示す様に被写体の温度分布像Z
が表示されることになる。
査に同期した水平、垂直同期信号に基づいて水平走査回
路12H2垂直走査回路12Vにおいて作成された水平
、垂直走査信号が切換スイッチ13H213V及びドラ
イブ回路14H,14Vを介して送られるため、CRT
IQの画面には第2図に示す様に被写体の温度分布像Z
が表示されることになる。
15は水平波形表示用の一致検出器であり、該検出器は
垂直走査信号と水平波形位置指定用ポテンショメータP
M1からの位置信号とを比較し、両者が一致した時に一
致パルスを発生する。タイミング回路16は該一致パル
スと水平走査信号を監視し、一致パルスが発生してから
最初の1回の水平走査期間に相当するサンプリング信号
を発生する。サンプリング回路17は該サンプリング信
号に基づいて上記1回の水平走査期間における映倫信号
換言すれば走査線1本分の映像信号を取り出す。該走査
線1本分の映倫信号は上記サンプリング信号によってそ
の期間だけ切換えられているスイッチ13Vを介してC
RTloの偏向器11vへ送られ、それと同時にCRT
IOには上記期間だけ切換えられるスイッチ8を介して
電源18からの一定輝度信号が供給されるため、該CR
TIQの画面には通常のオシロスコープと同様第2図に
示す様に1本分の映像信号波形(水平波形)WHが表示
される。尚19は電源20からの一定電圧をサンプリン
グされた映像信号に加算して波形表示位置を例えば第2
図に示す様に温度分布像zに重ならない位置ヘシフトす
るための加算器である。
垂直走査信号と水平波形位置指定用ポテンショメータP
M1からの位置信号とを比較し、両者が一致した時に一
致パルスを発生する。タイミング回路16は該一致パル
スと水平走査信号を監視し、一致パルスが発生してから
最初の1回の水平走査期間に相当するサンプリング信号
を発生する。サンプリング回路17は該サンプリング信
号に基づいて上記1回の水平走査期間における映倫信号
換言すれば走査線1本分の映像信号を取り出す。該走査
線1本分の映倫信号は上記サンプリング信号によってそ
の期間だけ切換えられているスイッチ13Vを介してC
RTloの偏向器11vへ送られ、それと同時にCRT
IOには上記期間だけ切換えられるスイッチ8を介して
電源18からの一定輝度信号が供給されるため、該CR
TIQの画面には通常のオシロスコープと同様第2図に
示す様に1本分の映像信号波形(水平波形)WHが表示
される。尚19は電源20からの一定電圧をサンプリン
グされた映像信号に加算して波形表示位置を例えば第2
図に示す様に温度分布像zに重ならない位置ヘシフトす
るための加算器である。
21は垂直波形表示用の一致検出器であり、該検出器2
1は第3図(a)に示す様な水平走査信号と垂直波形位
置指定用ポテンショメータPM2からの位置信号りとを
比較し、同図(b)に示す様に1回の水平走査毎に両者
が一致した時点で一致パルスを発生する。サンプルホー
ルド回路22は該一致パルスに基づき、第3図(C)に
示す様な映像信号からその瞬間の信号値を同図(d)に
示す様に取出しサンプルホールドする。1回の水平走査
毎にサンプルホールドされた映像信号値は加算器23を
介して切換スイッチ13Hへ送られるが、該スイッチ1
3Hはタイミング回路24において水平走査信号に基づ
いて作成された第3図(e)に示す様な水平帰線期間毎
のタイミング、Nllルスによって極く短い期間のみ加
算器23の側へ切換えられるため、その短い期間上記ホ
ールドされた信号値がCR,T10の偏向器11Hへ送
られる。それと同時に該タイミングパルスによって切換
スイッチ8が電源1B側に倒され、該電源かtの一定輝
度信号がcR’l”1Gへ送られるため、CRTloの
画面には第2図においてW■で示す様に各水平帰線期間
毎−こ輝点が表示される。該輝点は映像信号値に応じて
水平方向位置が異なるため、輝点の連なりとして垂直波
形を観察することができる。尚25は輝点表示位置を像
Zと重ならないようにシフトするための1を源である。
1は第3図(a)に示す様な水平走査信号と垂直波形位
置指定用ポテンショメータPM2からの位置信号りとを
比較し、同図(b)に示す様に1回の水平走査毎に両者
が一致した時点で一致パルスを発生する。サンプルホー
ルド回路22は該一致パルスに基づき、第3図(C)に
示す様な映像信号からその瞬間の信号値を同図(d)に
示す様に取出しサンプルホールドする。1回の水平走査
毎にサンプルホールドされた映像信号値は加算器23を
介して切換スイッチ13Hへ送られるが、該スイッチ1
3Hはタイミング回路24において水平走査信号に基づ
いて作成された第3図(e)に示す様な水平帰線期間毎
のタイミング、Nllルスによって極く短い期間のみ加
算器23の側へ切換えられるため、その短い期間上記ホ
ールドされた信号値がCR,T10の偏向器11Hへ送
られる。それと同時に該タイミングパルスによって切換
スイッチ8が電源1B側に倒され、該電源かtの一定輝
度信号がcR’l”1Gへ送られるため、CRTloの
画面には第2図においてW■で示す様に各水平帰線期間
毎−こ輝点が表示される。該輝点は映像信号値に応じて
水平方向位置が異なるため、輝点の連なりとして垂直波
形を観察することができる。尚25は輝点表示位置を像
Zと重ならないようにシフトするための1を源である。
ところで上述した説明では省略したが、サンプルホール
ド回路22がサンプリングしている期間はC1(T10
へ送られる輝度信号がブランキング状態又は白レベル状
態になるようにされており、従って垂直波形W■を構成
する各点を抜き取った位置Iこ黒点又は白点の連なりi
こよる直線がマーカ線随として表示される。又水平波形
WHを表示している間両像中のその位置の走査線が抜け
るため、黒線(マーカ線鳩)が表示されることになる。
ド回路22がサンプリングしている期間はC1(T10
へ送られる輝度信号がブランキング状態又は白レベル状
態になるようにされており、従って垂直波形W■を構成
する各点を抜き取った位置Iこ黒点又は白点の連なりi
こよる直線がマーカ線随として表示される。又水平波形
WHを表示している間両像中のその位置の走査線が抜け
るため、黒線(マーカ線鳩)が表示されることになる。
そり、TPMl及びPM2を操作することによりマーカ
、liJM、の表示位置は平行移動され、その位置にお
ける水平波形及び垂直波形を観察することができる。
、liJM、の表示位置は平行移動され、その位置にお
ける水平波形及び垂直波形を観察することができる。
上述したこれまでの説明によって第2図に示す様に温度
分布(1,水平波形WH,垂直波形w■。
分布(1,水平波形WH,垂直波形w■。
マーカ線Ms、Phを表示する構成を述べたが、本実施
例はこの水平及び垂直波形表示用の位置指定手段PMl
、PM2及び−紙検出器15.21を利用し、該−紙
検出器15の出力とスタート信号Sがクロック端子、D
端子へ夫々供給されるD−フリップフロップ(F’F’
)26と、該F’F26の出力に基づき前記走査機構1
の垂直走査駆動部1Vへ供給される電流を連断し垂直走
査を停止させるためのスイッチ27、前記−紙検出器2
1の出力とFF26の出力(又はスタート信号Sでも良
い)とのAND出力を得るAND回路2Bを設け、該A
ND回路28の出力により前記スイッチ47,0N−O
FFして光源5を点滅させることを特徴としている。
例はこの水平及び垂直波形表示用の位置指定手段PMl
、PM2及び−紙検出器15.21を利用し、該−紙
検出器15の出力とスタート信号Sがクロック端子、D
端子へ夫々供給されるD−フリップフロップ(F’F’
)26と、該F’F26の出力に基づき前記走査機構1
の垂直走査駆動部1Vへ供給される電流を連断し垂直走
査を停止させるためのスイッチ27、前記−紙検出器2
1の出力とFF26の出力(又はスタート信号Sでも良
い)とのAND出力を得るAND回路2Bを設け、該A
ND回路28の出力により前記スイッチ47,0N−O
FFして光源5を点滅させることを特徴としている。
即ち、鐘3を光路から除いた状態で第2図に示す様な温
度分布像Zを観察し、像中の異常点Iこマーカ線■、鳩
の交点Cを一致させた後、@3を光路に挿入すると共に
スタート信号Sを’1″Jこすると、F’F2 Gの出
力はcRTlo(及びそれと同期している走査機構1)
の垂直走査がマーカ線■の位置へ来た時1c“1″とな
り、該出力lこよってスイッチ27がOFFとなって走
査機構1による垂直走査は該マーカ@■の位置で停止す
ることになる。そしてその位置で水平走査はくり返し行
われるが、AND回路28はFF26の出力(又はスタ
ート信号S)によりONになっているので、−紙検出器
21から水平走査が点Cに来る毎に発生する一致(,4
号(第3図(b))は該AND回路28を通過してスイ
ッチ4へ送られる。従って発光ダイオード5は該一致信
号によって水平走査が点Cに来る毎にパルス的に点灯さ
れる。
度分布像Zを観察し、像中の異常点Iこマーカ線■、鳩
の交点Cを一致させた後、@3を光路に挿入すると共に
スタート信号Sを’1″Jこすると、F’F2 Gの出
力はcRTlo(及びそれと同期している走査機構1)
の垂直走査がマーカ線■の位置へ来た時1c“1″とな
り、該出力lこよってスイッチ27がOFFとなって走
査機構1による垂直走査は該マーカ@■の位置で停止す
ることになる。そしてその位置で水平走査はくり返し行
われるが、AND回路28はFF26の出力(又はスタ
ート信号S)によりONになっているので、−紙検出器
21から水平走査が点Cに来る毎に発生する一致(,4
号(第3図(b))は該AND回路28を通過してスイ
ッチ4へ送られる。従って発光ダイオード5は該一致信
号によって水平走査が点Cに来る毎にパルス的に点灯さ
れる。
ところで、この時上記発光ダイオード5は鏡3を挾んで
赤外線検出器2と光学的に略等価な位置にあるので、該
発光ダイオード5の像スポットはCRTloの画面上の
マーカ線鳩に対応する被写体上の位置でくり返し水平走
査されてあり、しかも該発光ダイオード5は水平走査が
画面上の点Cに来るたびに点灯される。従ってその時の
光は画面上の点Cに対応する被写体上の点に届き、その
点が光ることになり、操作者は被写体上のその光スポッ
トがあたった場所が温度異常点であると即座に判断する
ことができる。
赤外線検出器2と光学的に略等価な位置にあるので、該
発光ダイオード5の像スポットはCRTloの画面上の
マーカ線鳩に対応する被写体上の位置でくり返し水平走
査されてあり、しかも該発光ダイオード5は水平走査が
画面上の点Cに来るたびに点灯される。従ってその時の
光は画面上の点Cに対応する被写体上の点に届き、その
点が光ることになり、操作者は被写体上のその光スポッ
トがあたった場所が温度異常点であると即座に判断する
ことができる。
以上詳述した如く本発明によれば、CRT上のマーカに
よって指定された点に対応する被写体上の位置に光スポ
ットが投射されるため、例えば壁の様にコントラストの
ない物が被写体の場合でも温度異常点を的確に知ること
ができる。
よって指定された点に対応する被写体上の位置に光スポ
ットが投射されるため、例えば壁の様にコントラストの
ない物が被写体の場合でも温度異常点を的確に知ること
ができる。
本発明は上述した実施例に限定されることなく変形が可
能である。例えば、上述した実施例では水平及び垂直波
形表示機能を有する装置であるため波形表示用のマーカ
線JMjの交点で異常点の位置を示すことができ、しか
もポテンショメータPMI 、PM2、−紙検出器15
.21を共用することができたが、この様な機能を持た
ない装置ではPMl 、PM2、−紙検出器15.21
を設け、PMl 、PM2で指定した位置にマーカ線随
。
能である。例えば、上述した実施例では水平及び垂直波
形表示機能を有する装置であるため波形表示用のマーカ
線JMjの交点で異常点の位置を示すことができ、しか
もポテンショメータPMI 、PM2、−紙検出器15
.21を共用することができたが、この様な機能を持た
ない装置ではPMl 、PM2、−紙検出器15.21
を設け、PMl 、PM2で指定した位置にマーカ線随
。
■を表示するか、その交点Cのみを光らせるようにする
小、その他位置を指定するマーカを表示する必要がある
ことは言うまでもない。
小、その他位置を指定するマーカを表示する必要がある
ことは言うまでもない。
又、発光ダイオード5を検出器2と入れ換えて配置でき
るようにすれば晴3は必ずしも必要でなく、更に鏡3を
赤外線は透過するが可視光は反射する様な部材で作成す
れば、常に光路中に挿入しておくことが可能である。
るようにすれば晴3は必ずしも必要でなく、更に鏡3を
赤外線は透過するが可視光は反射する様な部材で作成す
れば、常に光路中に挿入しておくことが可能である。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図はCRT画面の導水状態を示す図、第3図は動作説
明のための波形図である。 1:光学的走査機構、2:赤外線検出器、3:鏡、4.
8.13H,13v、27 :xイ”y−1−15:発
光ダイオード、I Q :CR,T111H,IIV:
偏向器、12H,12V:走査回路、15,21ニ一致
検出器、26:D−7リツプフロツプ、28:AND回
路、PMl、PM2:ポテンショメータ。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者加勢忠雄
2図はCRT画面の導水状態を示す図、第3図は動作説
明のための波形図である。 1:光学的走査機構、2:赤外線検出器、3:鏡、4.
8.13H,13v、27 :xイ”y−1−15:発
光ダイオード、I Q :CR,T111H,IIV:
偏向器、12H,12V:走査回路、15,21ニ一致
検出器、26:D−7リツプフロツプ、28:AND回
路、PMl、PM2:ポテンショメータ。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者加勢忠雄
Claims (1)
- 赤外線検出器と、該検出器の儂を被写体上で水十醍び垂
直走査するための光学的走査機構と、該走査機構と同期
して水平及び垂直走査されると共に上記検出器から得ら
れた赤外線映像信号が輝度信号として供給される陰極線
管とを備えたサーモグラフィ装置において、前記陰極線
管画面上の任意位置を指定するためのマーカを該画面上
に表示する手段と、陰極線管の垂直走査が上記マーカ位
置へ来た時に前記光学的走査機構による垂直走査を停止
させる手段と、陰極線管の水平走査が上記マーカ位置へ
来るたびに点灯し且つ前記赤外線検出器と光学的に略等
価な位置に配置された光源を設けたことを特徴とするサ
ーモグラフィ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP217682A JPS58118925A (ja) | 1982-01-09 | 1982-01-09 | サ−モグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP217682A JPS58118925A (ja) | 1982-01-09 | 1982-01-09 | サ−モグラフイ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58118925A true JPS58118925A (ja) | 1983-07-15 |
Family
ID=11522049
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP217682A Pending JPS58118925A (ja) | 1982-01-09 | 1982-01-09 | サ−モグラフイ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58118925A (ja) |
-
1982
- 1982-01-09 JP JP217682A patent/JPS58118925A/ja active Pending
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