JPS58166227A - サ−モグラフイ装置 - Google Patents
サ−モグラフイ装置Info
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- JPS58166227A JPS58166227A JP57048510A JP4851082A JPS58166227A JP S58166227 A JPS58166227 A JP S58166227A JP 57048510 A JP57048510 A JP 57048510A JP 4851082 A JP4851082 A JP 4851082A JP S58166227 A JPS58166227 A JP S58166227A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J5/025—Interfacing a pyrometer to an external device or network; User interface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J5/026—Control of working procedures of a pyrometer, other than calibration; Bandwidth calculation; Gain control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
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- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
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- Human Computer Interaction (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は被写体の温度分布像を得るサーモグラフィ装置
に関し、特に測温レンジを被写体の温度に合わせて自動
的に調節することのできるサーモグラフィ装置に関する
。
に関し、特に測温レンジを被写体の温度に合わせて自動
的に調節することのできるサーモグラフィ装置に関する
。
一般にサーモグラフィ装置においては、視野内各点から
発生する赤外線を装胃集光して赤外線検出器に導入し、
得られた検出信号を上記走査と同期した陰極線管（ＣＲ
Ｔ）に輝度信号とじて送り、視野内の被写体の温度分布
像を得ている。そしてこの温度分布像の水平及び垂直方
向の任意切断線に沿った温度分布波形（夫々水平波形、
垂直波形）を例えば第１図に示す様に温度分布像Ｚと同
時に表示し、画像の立体的乃至は断面的な情報を得るよ
うｋした装置が実用化されている。同図において１は水
平波形１．２は該水平波形取得位置を示すマーカ線、３
は垂直波形、４は該垂直波形取得位置を示すマーカ線で
ある。
発生する赤外線を装胃集光して赤外線検出器に導入し、
得られた検出信号を上記走査と同期した陰極線管（ＣＲ
Ｔ）に輝度信号とじて送り、視野内の被写体の温度分布
像を得ている。そしてこの温度分布像の水平及び垂直方
向の任意切断線に沿った温度分布波形（夫々水平波形、
垂直波形）を例えば第１図に示す様に温度分布像Ｚと同
時に表示し、画像の立体的乃至は断面的な情報を得るよ
うｋした装置が実用化されている。同図において１は水
平波形１．２は該水平波形取得位置を示すマーカ線、３
は垂直波形、４は該垂直波形取得位置を示すマーカ線で
ある。
一方サーモグラフィ装置では測温範囲が例えば−４０℃
から２０００℃までと広（、赤外線強痕も大幅に変わる
ので全範囲を一度にカバーすることはできず、例えば低
３１（Ｌ）、中ｍ （Ｍ） 、高８！（Ｈ）の３つのレ
ンジに分割し一赤外線強度の大きくなるＭレンジ及びＨ
レンジの時は光学的アッテネータ（例えば絞り）を光路
に挿入するようにしている。従来この測温レンジの選択
はオペレータによって行われており、従ってオペレータ
は被写体の温度が変化して測温レンジから外れるたびに
レンジ切換を行わねばならず、操作部と表示部が離れて
いる場合にはレンジを変更するのに手間取る結果になっ
ていた。
から２０００℃までと広（、赤外線強痕も大幅に変わる
ので全範囲を一度にカバーすることはできず、例えば低
３１（Ｌ）、中ｍ （Ｍ） 、高８！（Ｈ）の３つのレ
ンジに分割し一赤外線強度の大きくなるＭレンジ及びＨ
レンジの時は光学的アッテネータ（例えば絞り）を光路
に挿入するようにしている。従来この測温レンジの選択
はオペレータによって行われており、従ってオペレータ
は被写体の温度が変化して測温レンジから外れるたびに
レンジ切換を行わねばならず、操作部と表示部が離れて
いる場合にはレンジを変更するのに手間取る結果になっ
ていた。
ところで、水平及び垂直波形の取得位置を示す２本のマ
ーカ線の交点（第１図における０点）は通常、視野内の
最も観察したい位置に配置されることが多い。従って該
点は画面上で最も重要な点であると言うことができる。
ーカ線の交点（第１図における０点）は通常、視野内の
最も観察したい位置に配置されることが多い。従って該
点は画面上で最も重要な点であると言うことができる。
本発明はこの点に鑑み、２本のマーカ線の交点に対応す
る被写体部分の温度信号値を取出す手段と、取出された
温度信号値が予め定められた上限値に一致又は上限値を
越えたことを検出する比較手段と、取出された温度信号
値が予め定められた下限値に一致又は下限値を下＠りた
ことを検出する比較手段と、該２つの比較手段からの判
別信号に基づき前記赤外線検出器へ入射する光量を変化
させるレンジ切換手段を設けることにより、測温レンジ
を自動的に切換えることのできるサーモグラフィ装置を
提供することを目的としている。以下図面を用（Ｘで本
発明を詳説する。
る被写体部分の温度信号値を取出す手段と、取出された
温度信号値が予め定められた上限値に一致又は上限値を
越えたことを検出する比較手段と、取出された温度信号
値が予め定められた下限値に一致又は下限値を下＠りた
ことを検出する比較手段と、該２つの比較手段からの判
別信号に基づき前記赤外線検出器へ入射する光量を変化
させるレンジ切換手段を設けることにより、測温レンジ
を自動的に切換えることのできるサーモグラフィ装置を
提供することを目的としている。以下図面を用（Ｘで本
発明を詳説する。
第２図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。同図において５は走査鏡を用しまた光学的走査機構
であり、視野内各部力箋ら発生した赤外線は該走査機構
５により順次赤外線検出器６へ集光される。該検出ＩＩ
６から得られた検出信号＆ｊ増幅器７を介してリニアラ
イザ８へ送られ、該署ノニアライザにより温度とリニア
な関係を有する湿度信号に変換されて差動増幅器９へ送
られる。差動増幅器９の他方の入力端子には中心温度設
定用ポテンショメータＰＭ１からの中心濃度信号が供給
されており、該差動増幅器９の出力としてＩマ濃度信号
から中心温度信号を差引いた差信号が得られる。該差信
号はレベルシフト回路１０によりその零レベル（中心温
度信号レベル）がＣＲＴの白レベルと黒レベルの閣の半
分のＩｌ痕即ち中心輝度を与える様な輝度信号レベルに
シフトされたのら、切換スイッチ１１及びドライブ回路
１２を介してＣＲＴ１３のグリッド１４へ送られる。
る。同図において５は走査鏡を用しまた光学的走査機構
であり、視野内各部力箋ら発生した赤外線は該走査機構
５により順次赤外線検出器６へ集光される。該検出ＩＩ
６から得られた検出信号＆ｊ増幅器７を介してリニアラ
イザ８へ送られ、該署ノニアライザにより温度とリニア
な関係を有する湿度信号に変換されて差動増幅器９へ送
られる。差動増幅器９の他方の入力端子には中心温度設
定用ポテンショメータＰＭ１からの中心濃度信号が供給
されており、該差動増幅器９の出力としてＩマ濃度信号
から中心温度信号を差引いた差信号が得られる。該差信
号はレベルシフト回路１０によりその零レベル（中心温
度信号レベル）がＣＲＴの白レベルと黒レベルの閣の半
分のＩｌ痕即ち中心輝度を与える様な輝度信号レベルに
シフトされたのら、切換スイッチ１１及びドライブ回路
１２を介してＣＲＴ１３のグリッド１４へ送られる。
、この時該ＣＲＴの水平、垂直偏向器１５Ｈ１１５Ｖ・
には、前記走査機構５から発生する水平、垂直走査に同
期した水平、垂直同期信号に基づいて水平走査回路１６
Ｈ１垂直走査回路１６Ｖにおいて作成された水平、垂直
走査信号が切換スイッチ１７Ｈ１１７Ｖ及（Ｆｔ’５イ
ア回路１８Ｈ，１８Ｖを介して送られるため、ＣＲＴ１
３の画面には第１図に示す様な温度分布像Ｚが表示され
ることとなる。
には、前記走査機構５から発生する水平、垂直走査に同
期した水平、垂直同期信号に基づいて水平走査回路１６
Ｈ１垂直走査回路１６Ｖにおいて作成された水平、垂直
走査信号が切換スイッチ１７Ｈ１１７Ｖ及（Ｆｔ’５イ
ア回路１８Ｈ，１８Ｖを介して送られるため、ＣＲＴ１
３の画面には第１図に示す様な温度分布像Ｚが表示され
ることとなる。
１９は水平波形表示用の一致検出器であり、該検出器１
９は垂直走査信号と水平波形位置指定用ポテンショメー
タＰＭ２からの位置信号とを比較し、両者が一致した時
に一致パルスを発生する。
９は垂直走査信号と水平波形位置指定用ポテンショメー
タＰＭ２からの位置信号とを比較し、両者が一致した時
に一致パルスを発生する。
タイミング回路２０は該一致パルスと水平走査信号を監
視し、一致パルスが発生してから最初の１回の水平走査
期間に相当するサンプリング信号を発生する。サンプリ
ング回路２１は該サンプリング信号に基づいて上記１回
の水平走査期間における温度信号換言すれば走査線１本
分の温度信号を゛取り出す。該走査線１本分の温度信号
は上記サンプリング信号によってその期間だけ切換えら
れているスイッチ１７Ｖを介してＣＲＴ１３の偏向器１
５Ｖへ送られ、それと同時にＣＲＴ１３には上記期間だ
け切換えられるスイッチ１１を介して電源２２からの一
定輝度信号が供給されるため、該ＣＲＴ１３の画面には
通常のオシロスコープと同様に１本分の濃度信号波形（
水平波形）が表示される。尚２３は電１１２４からの一
定電圧をサンプリングされた温度信号に加算して波形表
示位置を例えば第１図に示す様に温度分布像Ｚと重なら
ない位置ヘシフトするための加算器である。
視し、一致パルスが発生してから最初の１回の水平走査
期間に相当するサンプリング信号を発生する。サンプリ
ング回路２１は該サンプリング信号に基づいて上記１回
の水平走査期間における温度信号換言すれば走査線１本
分の温度信号を゛取り出す。該走査線１本分の温度信号
は上記サンプリング信号によってその期間だけ切換えら
れているスイッチ１７Ｖを介してＣＲＴ１３の偏向器１
５Ｖへ送られ、それと同時にＣＲＴ１３には上記期間だ
け切換えられるスイッチ１１を介して電源２２からの一
定輝度信号が供給されるため、該ＣＲＴ１３の画面には
通常のオシロスコープと同様に１本分の濃度信号波形（
水平波形）が表示される。尚２３は電１１２４からの一
定電圧をサンプリングされた温度信号に加算して波形表
示位置を例えば第１図に示す様に温度分布像Ｚと重なら
ない位置ヘシフトするための加算器である。
２５は垂直波形表示用の一致検出器であり、該検出！１
２５は第３図（ａ）に示す様な水平走査信号と垂直波形
位置指定用ポテンショメータＰＭ３からの位置信号りと
を比較し、同図（ｂ ）に示す様に１回の水平走査毎に
両者が一致した時点で一致パルスを発生する。サンプル
ホールド回路２６は該一致パルスに基づき、第３図（Ｃ
）に示す様な温度信号からその瞬間の温度信号値を同図
（ｄ ）に示す様に取出しサンプルホールドする。１回
の水平走査毎にサンプルホールドされた温度信号値は加
算器２７を介して切換スイッチ１７Ｈへ送られるが、該
スイッチ１７Ｈはタイミング回路２８において水平走査
信号に基づいて作成された第３図（ｅ）に示す様な水平
帰線期間ごとのタイミングパルスによって極く短い期間
のみ加算器２７の側へ切換えられるため、その短い期間
上記ホールドされた温度信号値がＣＲＴの偏向器１５Ｈ
へ送られる。それと同時に該タイミングパルスによって
切換スイッチ１１が電源２２側に倒され、該電源からの
一定輝度信号がＣＲＴ１３へ送られるため、ＣＲＴ１３
の画面には第１図において３で示す様に各水平帰線期間
毎に輝点が表示される。該輝点は温度信号値に応じて水
平方向位置が異なるため、輝点の連なりとして垂直波形
を観察することができる。尚２９は輝点表示位置を像Ｚ
と重ならないようにシフトするための電源である。
２５は第３図（ａ）に示す様な水平走査信号と垂直波形
位置指定用ポテンショメータＰＭ３からの位置信号りと
を比較し、同図（ｂ ）に示す様に１回の水平走査毎に
両者が一致した時点で一致パルスを発生する。サンプル
ホールド回路２６は該一致パルスに基づき、第３図（Ｃ
）に示す様な温度信号からその瞬間の温度信号値を同図
（ｄ ）に示す様に取出しサンプルホールドする。１回
の水平走査毎にサンプルホールドされた温度信号値は加
算器２７を介して切換スイッチ１７Ｈへ送られるが、該
スイッチ１７Ｈはタイミング回路２８において水平走査
信号に基づいて作成された第３図（ｅ）に示す様な水平
帰線期間ごとのタイミングパルスによって極く短い期間
のみ加算器２７の側へ切換えられるため、その短い期間
上記ホールドされた温度信号値がＣＲＴの偏向器１５Ｈ
へ送られる。それと同時に該タイミングパルスによって
切換スイッチ１１が電源２２側に倒され、該電源からの
一定輝度信号がＣＲＴ１３へ送られるため、ＣＲＴ１３
の画面には第１図において３で示す様に各水平帰線期間
毎に輝点が表示される。該輝点は温度信号値に応じて水
平方向位置が異なるため、輝点の連なりとして垂直波形
を観察することができる。尚２９は輝点表示位置を像Ｚ
と重ならないようにシフトするための電源である。
ところで上述した説明では省略したが、サンプルホール
ド回路２６がサンプリングしている期間はＣＲＴ１３へ
送られる輝度信号はブランキング状態又は白レベル状態
になるようにされており、従って垂直波形３を構成する
各点を抜き取った位置に黒点又は白点の連なりによる直
線がマーカ線４として表示される。又水平波形１を表示
している間両像中のその位置の走査線が抜けるため黒線
（マーカ線２）が表示されることになる。そしてＰＭ２
及びＰＭ３を操作することによりマーカ線２．４の表示
位置は平行移動され、その位置にお【プる水平波形及び
垂直波形を観察することができる。
ド回路２６がサンプリングしている期間はＣＲＴ１３へ
送られる輝度信号はブランキング状態又は白レベル状態
になるようにされており、従って垂直波形３を構成する
各点を抜き取った位置に黒点又は白点の連なりによる直
線がマーカ線４として表示される。又水平波形１を表示
している間両像中のその位置の走査線が抜けるため黒線
（マーカ線２）が表示されることになる。そしてＰＭ２
及びＰＭ３を操作することによりマーカ線２．４の表示
位置は平行移動され、その位置にお【プる水平波形及び
垂直波形を観察することができる。
上述したこれまでの説明によって第１図に示す様に温度
分布像Ｚ１水平波形１、垂直波形３、マーカ１２．４を
表示する構成を述べたが、本発明はこの水平及び垂直波
形表示用の構成を利用し、一致検出器１９．２５の出力
のＡＮＤ出力を得るＡＮＤ回路３０．該ＡＮＤ回路３０
の出力パルスに基づいて温度信号をサンプルホールドす
るサンプルホールド回路３１、ホールドされた温度信号
値を所定の上限値と比較する比較器３２、同じく所定の
下限値と比較する比較器３３、及び該２つの比較器が発
生する判別信号に基づき光量調節用絞り３４を光路上に
挿脱する絞り移動機構３５を設けたことに特徴を有する
。
分布像Ｚ１水平波形１、垂直波形３、マーカ１２．４を
表示する構成を述べたが、本発明はこの水平及び垂直波
形表示用の構成を利用し、一致検出器１９．２５の出力
のＡＮＤ出力を得るＡＮＤ回路３０．該ＡＮＤ回路３０
の出力パルスに基づいて温度信号をサンプルホールドす
るサンプルホールド回路３１、ホールドされた温度信号
値を所定の上限値と比較する比較器３２、同じく所定の
下限値と比較する比較器３３、及び該２つの比較器が発
生する判別信号に基づき光量調節用絞り３４を光路上に
挿脱する絞り移動機構３５を設けたことに特徴を有する
。
即ちＡＮＤ回路３０の出力としては水平波形１上で且つ
垂直波形３上にある点即ち２つのマーカ線の交点Ｃに対
応する垂直波形上の輝点Ｃ−の湿度信号をサンプリング
するための検出器２５からの一致パルスが取出される。
垂直波形３上にある点即ち２つのマーカ線の交点Ｃに対
応する垂直波形上の輝点Ｃ−の湿度信号をサンプリング
するための検出器２５からの一致パルスが取出される。
サンプルホールド回路３１は該一致パルスに基づいて温
度信号をサンプリングし、そのサンプリングされたａ！
度信号値を少なくとも１フレームホールドする。このｍ
度信号値が画面上で最も重要な点に関するものであるこ
とは先に述べた。この温度信号値は比較器３２．３３へ
送られるが、仮りにリニアライザ８の出力端での温度信
号のダイナミックレンジがＯＶ〜５ｖであったとすると
、比較器３２には上限値として例えば４．５■のリファ
レンス電圧が供給されており、比較器３３には下限値と
して例えば０．５Ｖのリファレンス電圧が供給されてい
る。
度信号をサンプリングし、そのサンプリングされたａ！
度信号値を少なくとも１フレームホールドする。このｍ
度信号値が画面上で最も重要な点に関するものであるこ
とは先に述べた。この温度信号値は比較器３２．３３へ
送られるが、仮りにリニアライザ８の出力端での温度信
号のダイナミックレンジがＯＶ〜５ｖであったとすると
、比較器３２には上限値として例えば４．５■のリファ
レンス電圧が供給されており、比較器３３には下限値と
して例えば０．５Ｖのリファレンス電圧が供給されてい
る。
又比較器３２は上記ホールドされた温度信号値が４．５
Ｖと等しいか、４．５Ｖを上回った時レンジアップ信号
を発し、比較器３３は同じり０．５Ｖと等しいか０．５
■を下回った時レンジダウン信号を発する。
Ｖと等しいか、４．５Ｖを上回った時レンジアップ信号
を発し、比較器３３は同じり０．５Ｖと等しいか０．５
■を下回った時レンジダウン信号を発する。
ここで第２図に示される様に絞り３４が光路から抜き出
されている状態が［レンジ、絞り３４の第１の絞り孔Ｐ
１が光路に挿入されている状態がＭレンジ、較り３４の
第２の絞り孔Ｐ２が光路に挿入されている状態がＨレン
ジに夫々対応し、絞り移動機構３５はレンジアップ信号
が送られると、測温レンジが［からＭへ又はＭからＨへ
変わるように絞り３４を１ステツプ移動させ、レンジダ
ウン信号が送られると、測温レンジがＨからＭへ又はＭ
からしへ変わるように絞り３４を１ステツプ移動させる
。従って温度信号がダイナミックレンジから外れること
のないように、測温レンジは被写体の温度に応じて自動
的に切換えられることになる。
されている状態が［レンジ、絞り３４の第１の絞り孔Ｐ
１が光路に挿入されている状態がＭレンジ、較り３４の
第２の絞り孔Ｐ２が光路に挿入されている状態がＨレン
ジに夫々対応し、絞り移動機構３５はレンジアップ信号
が送られると、測温レンジが［からＭへ又はＭからＨへ
変わるように絞り３４を１ステツプ移動させ、レンジダ
ウン信号が送られると、測温レンジがＨからＭへ又はＭ
からしへ変わるように絞り３４を１ステツプ移動させる
。従って温度信号がダイナミックレンジから外れること
のないように、測温レンジは被写体の温度に応じて自動
的に切換えられることになる。
以上詳述した如く本発明によれば、測温レンジが被写体
の上の最も重要な部分の温度に応じて自動的に切換えら
れ、実用上の効果は極めて大きい。
の上の最も重要な部分の温度に応じて自動的に切換えら
れ、実用上の効果は極めて大きい。
尚上記実施例では絞り３４のみを切換えたが、絞りを切
換えると温度信号と実際の温度との関係も変わるので、
リニアライザその他も各レンジ用のものを用意し、連動
して切換えることが望ましい。
換えると温度信号と実際の温度との関係も変わるので、
リニアライザその他も各レンジ用のものを用意し、連動
して切換えることが望ましい。
又上記実施例では上限値と下限値を１つずつ設定したた
め、夫々の伯の近辺で温度信号値が変動した時、各レン
ジ間で頻繁に切換が行われてしまう恐れがある。それを
防ぐためには、しレンジ用上限値９Ｍレンジ用上限値＋
Ｍ’レンジ用上下限値Ｈレンジ用下限値を夫々別個に
定め、使用しているレンジの上限値及び又は下限値と温
度信号値を比較するようにすれば良い。この様にすれば
、例えばＬレンジは一４０℃から１２０℃まで、Ｍレン
ジは１００℃から５００℃まで、Ｈレンジは３００℃か
ら２０００℃までという様に各レンジに重なりを持たせ
て切換えることができる。
め、夫々の伯の近辺で温度信号値が変動した時、各レン
ジ間で頻繁に切換が行われてしまう恐れがある。それを
防ぐためには、しレンジ用上限値９Ｍレンジ用上限値＋
Ｍ’レンジ用上下限値Ｈレンジ用下限値を夫々別個に
定め、使用しているレンジの上限値及び又は下限値と温
度信号値を比較するようにすれば良い。この様にすれば
、例えばＬレンジは一４０℃から１２０℃まで、Ｍレン
ジは１００℃から５００℃まで、Ｈレンジは３００℃か
ら２０００℃までという様に各レンジに重なりを持たせ
て切換えることができる。
更に上記実施例は温度信号をアナログ信号のまま扱った
が、デジタル画像メモリに一旦温度信号を格納する場合
であっても・、メモリからマーカ線の交点Ｃに該当する
データを読出してデジタル比較器と比較するようにすれ
ば良い。この比較もコンピュータを用いて行うようにし
ても良い。
が、デジタル画像メモリに一旦温度信号を格納する場合
であっても・、メモリからマーカ線の交点Ｃに該当する
データを読出してデジタル比較器と比較するようにすれ
ば良い。この比較もコンピュータを用いて行うようにし
ても良い。
第１図はＣＲＴ画面の表示状態を示す図、第２図は本発
明の一実施例の構成を示す図、第３図はその動作を説明
するための波形図である。 １：水平波形、２．４：マーカ線、３：垂直波形、５：
光学的走査機構、６：赤外線検出器、１６Ｈ，１６Ｖ：
走査回路、１９．２５ニ一致検出器、３０：ＡＮＤ回路
、３１：サンプルホールド回路、３２．３３：比較器、
３４：絞り、３５：絞り移ｌ］ｍ構、ＰＭ１〜３：ポテ
ンショメータ。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 加勢 忠雄
明の一実施例の構成を示す図、第３図はその動作を説明
するための波形図である。 １：水平波形、２．４：マーカ線、３：垂直波形、５：
光学的走査機構、６：赤外線検出器、１６Ｈ，１６Ｖ：
走査回路、１９．２５ニ一致検出器、３０：ＡＮＤ回路
、３１：サンプルホールド回路、３２．３３：比較器、
３４：絞り、３５：絞り移ｌ］ｍ構、ＰＭ１〜３：ポテ
ンショメータ。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 加勢 忠雄
Claims (1)
- 被写体か、ら発生する赤外線を走査集光して赤外線検出
器に導入し、！ｑられた温度信号を上記走査と同期した
表示装置粁輝度信うとして導入し被写体の温度分布像を
再生すると共に、該像の直交する２方向の切断面に沿っ
た前記温度信号の強反波形と上記２方向の切断面位置を
示す２本のマーカ線とを前記表示装置上に表示する様←
したサーモ点に対応する被写体部分の温度信号値を取出
す手段と、取出された温度信号、値が予め定められた上
限値に一致又は上限値を越えたことを検出する比較手段
と、μ出され々温度信号値、が予め定められた下限値に
一弊又は下限値牽上回ったことを検出する比較手段件１
．該２つの比較手段からの判別信号に基づき前記赤外線
検出器へ入射すや光量を変化させるレンジ切換手段を設
けたことを特徴とするサーモグラフィ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57048510A JPS58166227A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | サ−モグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57048510A JPS58166227A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | サ−モグラフイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58166227A true JPS58166227A (ja) | 1983-10-01 |
| JPH029292B2 JPH029292B2 (ja) | 1990-03-01 |
Family
ID=12805364
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57048510A Granted JPS58166227A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | サ−モグラフイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58166227A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS614932A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-10 | Nippon Abionikusu Kk | 赤外線映像装置 |
| US6154252A (en) * | 1996-11-13 | 2000-11-28 | Nec Corporation | Imaging device for use as radiation detector |
-
1982
- 1982-03-26 JP JP57048510A patent/JPS58166227A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS614932A (ja) * | 1984-06-19 | 1986-01-10 | Nippon Abionikusu Kk | 赤外線映像装置 |
| JPH053534B2 (ja) * | 1984-06-19 | 1993-01-18 | Nippon Avionics Co Ltd | |
| US6154252A (en) * | 1996-11-13 | 2000-11-28 | Nec Corporation | Imaging device for use as radiation detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH029292B2 (ja) | 1990-03-01 |
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