JPS58118033A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS58118033A JPS58118033A JP21203581A JP21203581A JPS58118033A JP S58118033 A JPS58118033 A JP S58118033A JP 21203581 A JP21203581 A JP 21203581A JP 21203581 A JP21203581 A JP 21203581A JP S58118033 A JPS58118033 A JP S58118033A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- magnetic layer
- internal stress
- magnetic
- ground layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
- G11B5/85—Coating a support with a magnetic layer by vapour deposition
Landscapes
- Thin Magnetic Films (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
■ 発明の背景
IA技術分野
本発明は磁気記録媒体の製造方法に関する。
更に詳しくは、連続薄膜形の磁気記録媒体の製造方法の
改良に関する。
改良に関する。
rB先行技術
近年、真空蒸着、スパッタリング、イオンル−ティング
等の気相被着法により、金属磁性薄膜を磁性層とする連
続薄膜形の磁気記録媒体が注目を集めている。
等の気相被着法により、金属磁性薄膜を磁性層とする連
続薄膜形の磁気記録媒体が注目を集めている。
しかし、このような媒体において、例えば長尺の高分子
成型物等からなる可撓性の基体上に、気相被着法により
磁性層薄膜を形成すると、媒体の巾方向等にカールと称
される屈曲が生じ、周波数特性が悪く、また走行性が悪
く、さらにはいわゆるテープの鳴きが発生し、極端な場
合には、カセットハーフに巻込めないという不都合が生
じる。
成型物等からなる可撓性の基体上に、気相被着法により
磁性層薄膜を形成すると、媒体の巾方向等にカールと称
される屈曲が生じ、周波数特性が悪く、また走行性が悪
く、さらにはいわゆるテープの鳴きが発生し、極端な場
合には、カセットハーフに巻込めないという不都合が生
じる。
このような事情についてさらに詳細に説明するならば、
気相被着法として最も多用されている蒸着法では、磁性
層の成膜に際し、磁性層が内側になるようなカールが多
発する。 この場合、このカールは被着の際の熱変形と
いうよりは、成膜が収縮力をもつように行われるための
ものであると思料されるものである。
気相被着法として最も多用されている蒸着法では、磁性
層の成膜に際し、磁性層が内側になるようなカールが多
発する。 この場合、このカールは被着の際の熱変形と
いうよりは、成膜が収縮力をもつように行われるための
ものであると思料されるものである。
このような蒸着の際のカールを解消するためには、従来
、磁性層被着後、応力を加え、磁性層に1種のヒビ割れ
を生じさせたり、熱処理を行って、基体側を収縮させた
りしている。 しかし、これらはいずれも成膜の際のカ
ールを防止できるものではな(、生産性その他の点で欠
点が多い。
、磁性層被着後、応力を加え、磁性層に1種のヒビ割れ
を生じさせたり、熱処理を行って、基体側を収縮させた
りしている。 しかし、これらはいずれも成膜の際のカ
ールを防止できるものではな(、生産性その他の点で欠
点が多い。
なお、蒸着以外のその他の被着法、スパッタリンク、イ
オンンV−ディング等によるときにも、成膜の際のカー
ルはきわめて大きな問題であり、その十分な防止策は未
だ実現していない。
オンンV−ディング等によるときにも、成膜の際のカー
ルはきわめて大きな問題であり、その十分な防止策は未
だ実現していない。
■ 発明の目的
本発明は、このような実状に鑑みなされたものであって
、磁性層成膜の際のカールを防止できる方法を提供する
ことを、その主たる目的とする。
、磁性層成膜の際のカールを防止できる方法を提供する
ことを、その主たる目的とする。
本発明者らは、このような目的につき鋭慧研究を行った
結果、気相被着条件、特にアルゴンガス等の動作圧力に
よって、被着脱の成膜の際に生じる薄膜の内部応力が制
御できること、そして、可撓性基体に下地層を気相被着
し、この下地層上に磁性層を気相被着する際、両者にお
ける動作圧力を制御することにより、容易に両薄膜の内
部応力を異ならしめろことができ、そのときカールが所
望のとおり解消できることを見出し、本発明をなすに至
ったものである。
結果、気相被着条件、特にアルゴンガス等の動作圧力に
よって、被着脱の成膜の際に生じる薄膜の内部応力が制
御できること、そして、可撓性基体に下地層を気相被着
し、この下地層上に磁性層を気相被着する際、両者にお
ける動作圧力を制御することにより、容易に両薄膜の内
部応力を異ならしめろことができ、そのときカールが所
望のとおり解消できることを見出し、本発明をなすに至
ったものである。
すなわち、本発明は、可撓性基体上に、下地層を気相被
着し、当該下地層上に磁性層を気相被着するに際し、上
記下地j−と磁性層との気相被着の際の動作圧力を制御
して、上記下地層の内部応力と、上記磁性層の内部応力
とが正負逆の符号となるようにすることを特徴とする磁
気記録媒体の製造方法である。
着し、当該下地層上に磁性層を気相被着するに際し、上
記下地j−と磁性層との気相被着の際の動作圧力を制御
して、上記下地層の内部応力と、上記磁性層の内部応力
とが正負逆の符号となるようにすることを特徴とする磁
気記録媒体の製造方法である。
■ 発明の具体的構成
以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
本発明において用いる基体は非磁性で可撓性のイ)ので
あって、特に、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミド
等の高分子成形物のフィルムが好適である。 この場合
、その厚さは任意のものとすることができる。
本発明において用いる基体は非磁性で可撓性のイ)ので
あって、特に、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミド
等の高分子成形物のフィルムが好適である。 この場合
、その厚さは任意のものとすることができる。
本発明においては、このような可撓性基体上に、下地層
を被層する。
を被層する。
下地ノーは非磁性であればよ(、各種金属、例えばアル
ミニウム、銀、銅、クロム、チタン、マンガン、マダイ
・シウム、スズ、鉛等、するいは各種合金、Si 、
Ge等の各種牛金属、さらには、5I02At、、03
、’I’i02、Bi2O3、MyF2等の各種化合物
など、いずれであってもよい。
ミニウム、銀、銅、クロム、チタン、マンガン、マダイ
・シウム、スズ、鉛等、するいは各種合金、Si 、
Ge等の各種牛金属、さらには、5I02At、、03
、’I’i02、Bi2O3、MyF2等の各種化合物
など、いずれであってもよい。
また、これらを2層以上積層することもできる。
ただ、後述のように、磁性層をCo −Ni −Pまた
はCo −P系合金層とするときには、アルミニウム、
クロム、チタン、マグネシウム、するいはこれらの合金
、特にアルミニウム合金、クロム合金、チタン合金ある
いはマグネシウム合金であることが好ましい。
はCo −P系合金層とするときには、アルミニウム、
クロム、チタン、マグネシウム、するいはこれらの合金
、特にアルミニウム合金、クロム合金、チタン合金ある
いはマグネシウム合金であることが好ましい。
このような下地層を用いて、その上に上記のような組成
の#膜磁性層を形成するときには、他の下地層を用いる
ときと比較して、機械的強度が向上し、負荷を印加した
後の残留伸びがきわめて小さくなる。 また、下地層を
形成しないときには、B−11ループを測定したとき、
その形状が、連続被着擾手方向に亘って変化し、しばし
ばBHループの減磁曲線上に2つ以上の変曲点が生じ、
適旧バイアスの決定が離しくなる不都合もきわめて少な
くなる。
の#膜磁性層を形成するときには、他の下地層を用いる
ときと比較して、機械的強度が向上し、負荷を印加した
後の残留伸びがきわめて小さくなる。 また、下地層を
形成しないときには、B−11ループを測定したとき、
その形状が、連続被着擾手方向に亘って変化し、しばし
ばBHループの減磁曲線上に2つ以上の変曲点が生じ、
適旧バイアスの決定が離しくなる不都合もきわめて少な
くなる。
この場合、アルミニウム合金としては、アルミニウムを
主成分とする各種合金いずれであってもよいが、特に、
Si 、 Cu、 Mn%Zn、 CrおよびM2のう
ちの少なくとも1種を25wt%以下、好ましくは0.
1〜25wt%、より好ましくは1〜20wt%含むも
のが好適である。
主成分とする各種合金いずれであってもよいが、特に、
Si 、 Cu、 Mn%Zn、 CrおよびM2のう
ちの少なくとも1種を25wt%以下、好ましくは0.
1〜25wt%、より好ましくは1〜20wt%含むも
のが好適である。
また、クロム合金としては、クロムを主成分とする各種
合金いずれであってよいが、特に、MOlTi 、 F
e%CoオよびNi )うちの少なくとも1種を、5Q
wt%以下、好ましくは0,1〜5Qwt%、より好ま
しくは1〜5 Q wt%含むものが好適である。
合金いずれであってよいが、特に、MOlTi 、 F
e%CoオよびNi )うちの少なくとも1種を、5Q
wt%以下、好ましくは0,1〜5Qwt%、より好ま
しくは1〜5 Q wt%含むものが好適である。
さらに、チタン合金としては、チタンを主成分とする各
種合金いずれであってもよいが、特に、At、Mn、V
、CrおよびFeノうちの少なくとも1種を、4. Q
wt%以下、好ましくは0.1〜4Qwt%、より好
ましくは1〜3Qwt%含むものが好適である。
種合金いずれであってもよいが、特に、At、Mn、V
、CrおよびFeノうちの少なくとも1種を、4. Q
wt%以下、好ましくは0.1〜4Qwt%、より好
ましくは1〜3Qwt%含むものが好適である。
加えて、マグネシウム合金としては、マグネシウムを主
成分とする各種合金いずれであってもよいが、特に、A
t、 Zn 、 Z、r 、 Mnおよび希土類元素の
うち01種以上を、3Qwt%以下、好ましくは01〜
30W[%、より好ましくは1〜20wt%宮むものか
好適である。
成分とする各種合金いずれであってもよいが、特に、A
t、 Zn 、 Z、r 、 Mnおよび希土類元素の
うち01種以上を、3Qwt%以下、好ましくは01〜
30W[%、より好ましくは1〜20wt%宮むものか
好適である。
さらに、磁性層を、Co −PまたはCo −N1−p
系のスパッタ#:膜とするときには、上記した下地層の
うち、”アルミニウムM、クロム合金、チタン合金また
はマグネシラノ・合金であることが好ましい。
系のスパッタ#:膜とするときには、上記した下地層の
うち、”アルミニウムM、クロム合金、チタン合金また
はマグネシラノ・合金であることが好ましい。
このような場合、保磁力が向上する。 また磁性層表面
の表向性が良好であり、ヘッドタッチが向上し、置載の
出力がきわめて高い。 そして、残留のびがきわめて少
なく、B Hルーズの変形もきわめて少ない等、総合的
にみて、きわめて良好な特性を発揮する。
の表向性が良好であり、ヘッドタッチが向上し、置載の
出力がきわめて高い。 そして、残留のびがきわめて少
なく、B Hルーズの変形もきわめて少ない等、総合的
にみて、きわめて良好な特性を発揮する。
このような下地層は、一般に50〜5000A程度の厚
さに形成される。
さに形成される。
下地層の形成は、真空蒸着、スパッタリング、イオノブ
レーティング等種々の気相被着法によることができる。
レーティング等種々の気相被着法によることができる。
このような下地層上には、磁性層が形成される。
磁性層の組成としては、Co−Ni糸、Co −tte
系、Co −1to系、Co −P系、Co −Ni
−P系、Mn −At、糸許柚々のものであってよい。
系、Co −1to系、Co −P系、Co −Ni
−P系、Mn −At、糸許柚々のものであってよい。
また磁性層の厚さについては、特に制限はなく、磁気記
録媒体がアナログ記録を行うものであるか、あるいはど
σ)ような用途が等に応じ、種々の厚さとすればよい。
録媒体がアナログ記録を行うものであるか、あるいはど
σ)ような用途が等に応じ、種々の厚さとすればよい。
ただ、通常は、500A〜数μm程度の厚さの連続薄
膜として形成されるものである。
膜として形成されるものである。
磁性層の形成法は、気相被着法に従い、垂直入射蒸着な
いし斜め蒸着等の蒸着、スパッタリング、イオンフレー
ティング等の中から選択される。
いし斜め蒸着等の蒸着、スパッタリング、イオンフレー
ティング等の中から選択される。
この場合、磁性層の形成は、媒体特性と、製造上の有利
さからすると、スパッタリングにより行うことが好まし
い。
さからすると、スパッタリングにより行うことが好まし
い。
スパックリンクにより、磁性層を形成するときには、そ
の組成は、特性上、Co −PまたはCo→i −P系
合金であることが好ましい。
の組成は、特性上、Co −PまたはCo→i −P系
合金であることが好ましい。
Co −PまたはCo −Ni −P系合金の組成とし
ては、XP(,1μしXはCo、もしくはc。
ては、XP(,1μしXはCo、もしくはc。
too−y Y
およびNiまたはこれらと他の蓋移金属元素の1種以上
との組合せである。)と衣わされるものであることが好
ましい。 この場合、X中におけるCo / (Co−
1−Ni ) 重量比X&″!、oまたは35M址%以
下であることが好ましい。 35重童%を超えると、
磁気特性、thに保磁力Hcが低下してしまうからであ
る。 この場合、保磁力HCO点テ、x ′b: 0〜
30 L量%、特にo〜28N量%であれば、より好ま
しい結果を得る。
との組合せである。)と衣わされるものであることが好
ましい。 この場合、X中におけるCo / (Co−
1−Ni ) 重量比X&″!、oまたは35M址%以
下であることが好ましい。 35重童%を超えると、
磁気特性、thに保磁力Hcが低下してしまうからであ
る。 この場合、保磁力HCO点テ、x ′b: 0〜
30 L量%、特にo〜28N量%であれば、より好ま
しい結果を得る。
一方、y、すなわちP含量は、0より大で、8重量%以
下であることが好ましい。 8重量%を超えると、やは
り磁気特性、特に保磁力f(cが低下してしまう。 こ
の場合、保磁力Hc。
下であることが好ましい。 8重量%を超えると、やは
り磁気特性、特に保磁力f(cが低下してしまう。 こ
の場合、保磁力Hc。
点では、yが1〜8重景%、より好ましくは1.5〜7
重量%であれば、好ましい結果を得る。
重量%であれば、好ましい結果を得る。
なお、上記のようなCo −PまたはCo−N1−P系
合金中には、更に、例えばCo、Ni以外の他の遷移金
禍元累等、例えばFe、 Cr、 Mn、Moなとの1
種見、上が、全体の10重量%以下の範囲で含有されて
も、しい。
合金中には、更に、例えばCo、Ni以外の他の遷移金
禍元累等、例えばFe、 Cr、 Mn、Moなとの1
種見、上が、全体の10重量%以下の範囲で含有されて
も、しい。
一方、スパッタリングを用いる場合、スパッタリング方
式としては、いわゆるRFスパッタであっても、又いわ
ゆるDCスパッタであってもよく、その装置構成も2惨
、4極等いずれであってもよい。 史には、いわゆるマ
グネトロンスパッタを用いてもよく、又場合によっては
、Pを含むガスを流しながら行う、いわゆる反応性スパ
ッタによることもできる。
式としては、いわゆるRFスパッタであっても、又いわ
ゆるDCスパッタであってもよく、その装置構成も2惨
、4極等いずれであってもよい。 史には、いわゆるマ
グネトロンスパッタを用いてもよく、又場合によっては
、Pを含むガスを流しながら行う、いわゆる反応性スパ
ッタによることもできる。
用いるターゲットとじては、通常の場合は、Co −N
1−P等の焼結体などを用いればよい。
1−P等の焼結体などを用いればよい。
一方、衝撃イオンのイオン源としては、通常、Ar、K
r、Xeなどの不活性ガス等を用いればよい。 そして
、これらの不活性ガスは、動作時において、 2X10
−2J’orr以上の圧力に維持することか好ましい。
r、Xeなどの不活性ガス等を用いればよい。 そして
、これらの不活性ガスは、動作時において、 2X10
−2J’orr以上の圧力に維持することか好ましい。
このような圧力未満では、得られる磁性博膜の磁気特
性、特に保磁力Heが低下してしまうからである。
一方、動作時の圧力を上げれば、スパッタレートは低下
してしまう。 こσ)ため、動作時の圧力は、一般にf
iX1+]”〜2X]0 ”l’orr程度とすること
が好ま1−い。
性、特に保磁力Heが低下してしまうからである。
一方、動作時の圧力を上げれば、スパッタレートは低下
してしまう。 こσ)ため、動作時の圧力は、一般にf
iX1+]”〜2X]0 ”l’orr程度とすること
が好ま1−い。
このような前徒において、本発明においては、下地層お
よび磁性層の一被着の1躾の動作圧力を制御して、磁性
層の内部応力と下地層の内部応力とが正負逆の符号とな
るようにする。
よび磁性層の一被着の1躾の動作圧力を制御して、磁性
層の内部応力と下地層の内部応力とが正負逆の符号とな
るようにする。
この場合、面層の内部応力は、実際と同一条件にて、剛
性の基板上に被着を行って、その際の内部応力を測定し
、両者が正負逆になるよう決定される。 このような内
部応力の測定は、ヤング率既知の剛性の基板を用い、上
記のように被着を行ったのち、いわゆる片もち法により
、基板のソリを測定し、算出される。
性の基板上に被着を行って、その際の内部応力を測定し
、両者が正負逆になるよう決定される。 このような内
部応力の測定は、ヤング率既知の剛性の基板を用い、上
記のように被着を行ったのち、いわゆる片もち法により
、基板のソリを測定し、算出される。
このような場合、両層の内部応力が正負逆の符弓となり
さえすれば、カールは格段と減少するが、特K、正負逆
であり、一方の絶対値と膜厚との積が、他方のそれの5
0〜150%程度であると、カールはほとんどなくなる
。
さえすれば、カールは格段と減少するが、特K、正負逆
であり、一方の絶対値と膜厚との積が、他方のそれの5
0〜150%程度であると、カールはほとんどなくなる
。
磁性層と下地層との内部応力を正負逆にするには、気相
被着の成膜動作圧力の制御によって行うことができる。
被着の成膜動作圧力の制御によって行うことができる。
すなわち、例えばRFスパッタリングによるときには、
2〜4 X 10 ” Torrの動作力では、はぼ
面方向内部応力はOとなる。 そして、これ以上の動作
圧では内部応力が負となり、収縮力となり、またこれ以
下の動作圧では内部応力が正となり、伸長力となる。
2〜4 X 10 ” Torrの動作力では、はぼ
面方向内部応力はOとなる。 そして、これ以上の動作
圧では内部応力が負となり、収縮力となり、またこれ以
下の動作圧では内部応力が正となり、伸長力となる。
従って、磁性層および下地層のいずれか一方ヲ2X10
”Torr以下の圧力にてスパッタリングにより形
成するときには、他方の成膜は4×1.0 ”Torr
以上の圧力にてスパッタリングを行えばよい。
”Torr以下の圧力にてスパッタリングにより形
成するときには、他方の成膜は4×1.0 ”Torr
以上の圧力にてスパッタリングを行えばよい。
なお、他のスパッタリングや蒸着、イオンブレーティン
グによるときも、面方向の内部応力がOとなる条件は、
上記とほぼ同様の動作圧力であり、これは実験により容
易に求めることができる。
グによるときも、面方向の内部応力がOとなる条件は、
上記とほぼ同様の動作圧力であり、これは実験により容
易に求めることができる。
このような後、必要に応じ、保護層を設層したり、所定
の形状加工等を施し、磁気記録媒体が製造される。
の形状加工等を施し、磁気記録媒体が製造される。
このようにして製造される本発明における磁気記録媒体
は、アナログないし、ディジタルの磁気記録を行う、各
種磁気デー1、フレキシブルディスク等として、有用で
ある。
は、アナログないし、ディジタルの磁気記録を行う、各
種磁気デー1、フレキシブルディスク等として、有用で
ある。
■ 発明の具体的効果
本発明によれば、カールはきわめて小さくなる。
本発明者らは、本発明の効果を確認するため種々実験を
行った。 以下にその1例を示す。
行った。 以下にその1例を示す。
実験例1
可撓性基体として、連続長尺の6μ悔厚のポリエチレン
テレフタレートフィルムを用意した。
テレフタレートフィルムを用意した。
このフィルム4種K、一つには、何ら下地層を形成せず
、また他の3棟には、下記表1に示される動作アルゴン
圧にてDCスパッタによりAt下地層を2500A厚に
て形成した。
、また他の3棟には、下記表1に示される動作アルゴン
圧にてDCスパッタによりAt下地層を2500A厚に
て形成した。
次いで、これらの上に、対応する焼結体を用い、(C0
Q85NiQ5 )96 P4組成の磁性層を、)tF
スパッタにより、下記表1に示される動作アルゴン圧力
にて、3500A厚に形成した。
Q85NiQ5 )96 P4組成の磁性層を、)tF
スパッタにより、下記表1に示される動作アルゴン圧力
にて、3500A厚に形成した。
表 1
動作アルゴン圧力(Torr )
下地層 磁性層
本発明 5X10−3 7X10 ”比較1
7X10−2比較2 3X10→
7X10 ”比較3 7XlO−27XIQ −
2次に、上記各試料の下地層または磁性層スパッタリン
ク条件と全く同一の条件にて、スライドグラス上にスパ
ッタリングを行い、片もち法にて、ソリを測定し、それ
ぞれの内部応力を測定した。 結果を表2に示す。 こ
の場合、内部応力の負符号は、面方向収縮力であること
を表わし、正符号は前方向伸長力であることを表わす。
7X10−2比較2 3X10→
7X10 ”比較3 7XlO−27XIQ −
2次に、上記各試料の下地層または磁性層スパッタリン
ク条件と全く同一の条件にて、スライドグラス上にスパ
ッタリングを行い、片もち法にて、ソリを測定し、それ
ぞれの内部応力を測定した。 結果を表2に示す。 こ
の場合、内部応力の負符号は、面方向収縮力であること
を表わし、正符号は前方向伸長力であることを表わす。
表 2
内部応力(dyne la! )
下地層 磁性層
本発明 +8XlOI′ −8;109比較1 −
−8X109 比較2 =o −8XI09比戟3 −8
X10” −8X10gさらに、上記各試料につき
、それぞれを3.81■幅、70m長にスリットし、マ
イクロカセットテープMC−90を作製した。
−8X109 比較2 =o −8XI09比戟3 −8
X10” −8X10gさらに、上記各試料につき
、それぞれを3.81■幅、70m長にスリットし、マ
イクロカセットテープMC−90を作製した。
これら各マイクロカセットテープにつき、カールの曲率
半径、QdB入力での315 Hzと10KHzの周波
数特性および片面45分分間性時の鳴きの数を測定した
。 結果を下記表3に示す。
半径、QdB入力での315 Hzと10KHzの周波
数特性および片面45分分間性時の鳴きの数を測定した
。 結果を下記表3に示す。
表 3
カール 周波数特性 テープ
曲率半径 I QKHz / 315Hz 鳴 き
(P++) (dB) (回)本発明
の +50 比較1 23 − 6比較2 2
0 +1 5比較3 8 −1
0 10表3に示される結果から、本発明の効果
が明白である。
(P++) (dB) (回)本発明
の +50 比較1 23 − 6比較2 2
0 +1 5比較3 8 −1
0 10表3に示される結果から、本発明の効果
が明白である。
さらに、上記本発明のサンプルにつき、下地層アルミニ
ウムを、重量%にて、At −1,2Mn、At−4M
?−0.8Mn−Q、3 Si、 Cr−25)
’e −] 5Mo 、 Ti −5At−3Mn
、およびMグー10 At−0,IMnKかえて、他は
全く同様に作製したところ、上記と全く同等の結果を得
た。
ウムを、重量%にて、At −1,2Mn、At−4M
?−0.8Mn−Q、3 Si、 Cr−25)
’e −] 5Mo 、 Ti −5At−3Mn
、およびMグー10 At−0,IMnKかえて、他は
全く同様に作製したところ、上記と全く同等の結果を得
た。
他方、各テープの保磁力1−1cを測定したところ、下
記表4に示される値を得た。 なお、表4には下地層な
しの場合の値も併記される。
記表4に示される値を得た。 なお、表4には下地層な
しの場合の値も併記される。
次に、これら各テープに8 K11z 、 OdBのシ
グナルを記録した後、再生しくテープ速度4.76゜/
5ec)、C−90テープでの出力変動中(VU)を測
定し、主として磁性層膜厚のバラツキに起因する出力変
動の大小を評価した。 結果を表4に示す。
グナルを記録した後、再生しくテープ速度4.76゜/
5ec)、C−90テープでの出力変動中(VU)を測
定し、主として磁性層膜厚のバラツキに起因する出力変
動の大小を評価した。 結果を表4に示す。
また主として、表面性の何如によって生じるヘッドタッ
チを評価するため、14KHzMOLを測定した。 結
果を表4に示す。
チを評価するため、14KHzMOLを測定した。 結
果を表4に示す。
次いで、テープ強度を評価するため、各テープを1m表
に裁断し、その一端を固定してつるし、他端に、200
vの荷重を1分間かけ、その後の伸びを測定した。 こ
のようにして測定した残留伸び(%)を、表4に示す1
、これとは別に、磁性層の接着性を評価するため、谷カ
セットテープに記録を行った後、25℃、相対湿度60
%にて、4.76cm/ Secの走行を500回行い
、その後再生して、5dB以下のレベル低下が何回ある
かを測定した。 結果を表4に示す。
に裁断し、その一端を固定してつるし、他端に、200
vの荷重を1分間かけ、その後の伸びを測定した。 こ
のようにして測定した残留伸び(%)を、表4に示す1
、これとは別に、磁性層の接着性を評価するため、谷カ
セットテープに記録を行った後、25℃、相対湿度60
%にて、4.76cm/ Secの走行を500回行い
、その後再生して、5dB以下のレベル低下が何回ある
かを測定した。 結果を表4に示す。
さらに、これとは別に、デー11巻につき、80mおと
に90箇所ザンプリンクして、そのBHループを測定し
、BHループの減磁曲線に2つ以上の変曲点があられれ
る変形箇所の数を測定した。 結果を表4に示す。
に90箇所ザンプリンクして、そのBHループを測定し
、BHループの減磁曲線に2つ以上の変曲点があられれ
る変形箇所の数を測定した。 結果を表4に示す。
11開昭58−118033 (6)
表4に示される結果から、At、Cr、’riないしM
2合金下地層のすぐれた効果があきらかである。
2合金下地層のすぐれた効果があきらかである。
実験例2
下記表5に示されるようにして、各種サンプルを作製し
、表5に示される結果を得た。
、表5に示される結果を得た。
表5に示される結果から本発明にオ6げる各種合金下地
層の効果が明日である。
層の効果が明日である。
なお、これら各ヅンブルは、保磁力、出力変動rlJ、
] 4 KHz MOL、残留伸び、接着劣化、BHル
ーグ変形とも、きわめて良好な特性を示した。
] 4 KHz MOL、残留伸び、接着劣化、BHル
ーグ変形とも、きわめて良好な特性を示した。
実験例3
下記表6に示されるようにして各抽ザングルを作製し、
表6に示される結果を得た。
表6に示される結果を得た。
表6に示される結果から、本発明の効果が明白である。
代理人 弁理士 石 井 陽 −
04)
手続″Ir1i正書く自発)
特許庁長官 島 1)春 樹 殿
1、事件の表示
昭和56年特許願第212035号
2、発明の名称
磁気記録媒体の製造方法
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住所 東京都中央区日本橋−丁目13番1号氏名(
名称) (306)東京電気化学111i株式会社代
表者 索 野 福次部 4、代理人〒104 住所 東京都中央区築地二丁目15番14号明細書 6、補正の内容
名称) (306)東京電気化学111i株式会社代
表者 索 野 福次部 4、代理人〒104 住所 東京都中央区築地二丁目15番14号明細書 6、補正の内容
Claims (1)
- 可撓性基体上に、下地層を気相被着し、当該下地層上に
磁性層を気相被着するに際し、上記下地層と磁性層との
気相被着の際の動作圧力を制御して、上記下地層の内部
応力と、上記磁性層の内部応力とが正負逆の符号となる
ようにすることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21203581A JPS58118033A (ja) | 1981-12-31 | 1981-12-31 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21203581A JPS58118033A (ja) | 1981-12-31 | 1981-12-31 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58118033A true JPS58118033A (ja) | 1983-07-13 |
Family
ID=16615784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21203581A Pending JPS58118033A (ja) | 1981-12-31 | 1981-12-31 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58118033A (ja) |
-
1981
- 1981-12-31 JP JP21203581A patent/JPS58118033A/ja active Pending
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