JPS5811742B2 - ウエハキヨウキユウソウチ - Google Patents

ウエハキヨウキユウソウチ

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JPS5811742B2
JPS5811742B2 JP753370A JP337075A JPS5811742B2 JP S5811742 B2 JPS5811742 B2 JP S5811742B2 JP 753370 A JP753370 A JP 753370A JP 337075 A JP337075 A JP 337075A JP S5811742 B2 JPS5811742 B2 JP S5811742B2
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wafer
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Publication of JPS5811742B2 publication Critical patent/JPS5811742B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は例えばIC等の半導体をマトリックス状等に多
数形成しであるウェハを、例えばウェハ自動検査装置(
電気特性検査装置)や、チップ分割(裁断)装置等に供
給する為の装置に適用するのに最適なウェハ供給装置に
関するものである。
周知の如くウェハ自動検査装置は、ウェハ載置台(検査
台)上に載置固定されたウェハの電気特性を自動的に検
査するものであって、ウェハのチップに接触された触針
と、チップの位置とをマトリックスライン(チップのま
す目)に沿って横方向及び/又は縦方向に順次相対的に
移動変更させながら、ウニへの多数のチップの電気特性
を1個づつ順次自動検査するものである。
なおこの装置においては、ウェハを載置上の所定位置に
位置決めした後は検査終了までの間無人稼動させること
が出来、検査中における監視は一切不要である。
しかしながらこの装置で最も難問題な作業に、ウェハ載
置台上へのウェハ供給作業がある。
即ち従来は操作者がウェハを直につまんで載置台上に供
給しているのであるが、この場合操作者の手指等がウェ
ハの半導体面上に直接触れないように充分な注意を払う
必要がある。
またウェハを載置台上で所定の基準位置に正確に位置決
めする必要がある為、従来は操作者が備え付けの顕微鏡
を見てウェハのマトリックスラインを拡大視しながら、
これを所定の縦横の基準線に位置合せするようにしてい
る。
しかるにこの作業は極めて困難であり、かつ多大の時間
を要するものであった。
そしてウェハの検査は無人稼動出来ても、ウェハの供給
作業は操作者に頼らなければならなかった為に、事実上
はこの装置を完全無人稼動させることは出来ず、例えば
無人稼動による終夜運転等を行ない難かった。
本発明は上述の如き実状に鑑み発明されたものであって
、 (a)位置決めの為の第】及び第2の構造部が形成され
、かつ上部にウェハが位置決めされて載置固定されて成
るパレット、 (b)上記位置決めの為の第1の構造部に係合して上記
パレットを順次積み重ねて蓄積保持する第1及び第2の
保持手段、 (c)上記位置決めの為の第2の構造部に係合して上記
パレットを所定状態に挾持して搬送する搬送手段、 とからなり、 (d)上記第1の保持手段に蓄積保持されている上記パ
レットを上記搬送手段にて順次挾持して所定位置へ供給
し、更にその供給された上記パレットを上記所定位置か
ら上記第2の保持手段へ搬送して蓄積保持させるように
構成したことを特徴とするウェハ供給装置である。
このように構成することにより、ウェハを所定位置へ順
次自動的に、しかも極めて正確に供給することが出来る
ので、例えばウェハ自動検査装置を完全無人稼動させる
ことが出来る。
以下本発明をウェハ自動検査装置に適用した実施例を図
面に付き述べる。
先ず第1図及び第2図によって本装置の全体に付き述べ
れば、1はベースであり、ウェハ自動検査装置2はこの
ベース1上に載置されている。
なおウェハ自動検査装置2は、ウェハ載置台12、その
上部に配置された多数の触針13等を有する検査ヘッド
14、更にその上部に配置された顕微鏡15等を具備し
ている。
そして後述するウェハをパレットを介してウェハ載置台
12上に載置して固定した状態で、検査ヘッド14を相
対的に下降させて触針13群をウェハの所定のパターン
上に接触させて、所定の電気特性検査を行なうように構
成されている。
なおこの検査はウェハのチップ1個づつについて順次行
なうから、1つのチップの検査終了の度に、ウェハ載置
台12をウェハのマトリックスライン(半導体のます目
)に沿って横方向及び/又は縦方向に順次所定ピッチづ
つ移動させ、これによって触針13群とチップとの相対
位置を順次ずらせるようになっている。
また前記パレットはウェハ載置台12上の所定位置に正
確に位置決めされて、例えば真空吸着装置によって固定
されるように構成されている。
上記ウェハ自動検査装置2の一側部(例えば図中右側)
には複数個のパレットを蓄積しておく為のパレット蓄積
装置3がベース1上に設置されている。
そしてパレットをこのパレット蓄積装置3とウェハ自動
検査装置2との間で搬送する為のパレット挾持搬送装置
4がベース1上に設置されている。
なおこXで云うウェハ6とは従来公知の如く薄いシリコ
ン板に例えばICの如き半導体のチップ6aを極めて多
数(例えば数100個分)マトリックス状に形成したも
のである。
またこ\で云うパレット7とは、上記ウェハ6を上面に
吸着して搬送するものであり、ウェハ6はこのパレット
7の上面の所定の基準位置に正確に位置決めされた状態
で真空吸着により固定されている。
なお各パレット7は夫々ビニールパイプ等の可撓パイプ
を介して真空ポンプ(何れも図示せず)に接続されてい
て、真空ポンプの吸引作用によって各ウェハ6が各パレ
ット7上に吸着されるように構成されている。
またパレット7の周面には90°間隔ではソ半円弧状を
なすパレット位置決めの為の凹部9a、9b、10a>
10bが形成されている。
次に第1図〜第3図によってパレット蓄積装置3の詳細
を説明する。
このパレット蓄積装置3は多数のパレット7を左右一対
のパレット搬送体(以下単に搬送体と記載)21a、2
Ib上に上下に積み重ねて蓄積させるようにしたもので
ある。
この搬送体21a。21bははソ方形状をなすベース板
22の上部に前後一対の支柱23at23bを植設した
ものである。
なおパレット7は前後一対の凹部9a。9bを両支社2
3a、23bの内側に嵌合させた状態でこの両支社23
a、23bに沿って上下に複数個積み重ねられる。
但しこのパレット7の積み重ね状態で各パレット7の下
面で周辺部に突設された複数個の突起29により上下パ
レット間には前記ウェハ6の厚さより若干大きな隙間3
0が出来る。
一方前記ベース1上には複数本の支柱24によってパレ
ット搬送体載置台(以下単に載置台と記載)25が所定
高さ位置に水平状に設置されている。
この載置台25は断面はソコ字状をなしていて、この載
置台25上に前記一対の搬送体21a。
21bが左右方向に並べた状態に着脱自在に載置される
なおこの載置状態では載置台25に設けられた前後各一
対の位置決め用鋼球26a。
26bが各搬送体21a、21bのベース板22の前後
面に形成された各一対の凹溝27a。
27bにバネ28a、28bにより弾性的に嵌合される
ことで、各搬送体21a、21bが載置台25上に安定
良く位置決めされる。
そして前記載置台25の下部には各搬送体21a、21
bに積み重ねられている複数個のパレット7を1段づつ
上昇又は下降させる為の一対のパレット昇降装置(以下
単に昇降装置と記載)31が設けられている。
これら両昇降装置31は、パレット群を昇降させる為の
昇降板32、この昇降板32を下から支える垂直支持体
33及び水平支持体34、この水平支持体34の前後両
端に夫々垂直状に固着されたガイド筒35及び筒状のナ
ツト36、ガイド筒35に挿通された垂直状のガイド軸
37、ナツト36に螺合された垂直状の送りネジ38二
送りネジ38を駆動する減速機付の同期モータ39、モ
ータ39の出力軸40と送りネジ38とを連動する歯車
41,42等から夫々構成されている。
しかしてモータ39が所定時間の開作動されると、出力
軸40によって歯車41,42を介して送りネジ38が
所定回転数回転駆動される。
この結果ナツト36が送りネジ3Bによって上方又は下
方に所定ピッチ分送られ、ガイド軸37及びガイド筒3
5にて案内されながら両支持体33゜34を介して昇降
板32が上方又は下方に所定ピッチ分(パレット1枚分
の厚さ)移動される。
なお両搬送体21a、21bのうち一方、例えば21a
側に蓄積されているパレット7上のウェハ6は検査前の
ウェハであり、他方、例えば2ib側に蓄積されている
ウニノロは検査済みのウェハである。
そして一方の搬送体21a側の昇降装置31は昇降板3
2を所定ピッチづつ間欠的に上昇させて、この搬送体2
1aに積み重ねられているパレット7群を1段づつ上昇
させることになる。
また他方の搬送体2Ib側の昇降装置31は昇降板32
を所定ピッチづつ間欠的に下降させて、この搬送体21
bに順次間欠的に供給されるパレット7を1段づつ下降
させることになる。
この為一方の搬送体21a側の昇降板32は最下部位置
から間欠的な上昇を開始し、他方の搬送体21i側の昇
降板32は最上部位置から間欠的な下降を開始すること
になる。
次に第1図、第2図、第4図、第5図、第6図、第7A
図〜第7B図によってパレット挟持搬送装置4の詳細を
説明する。
このパレット挟持搬送装置4は一方の搬送体2Ia上に
積み重ねられているパレット7を両側から挾持して持上
げ、この後このパレット7を水平に搬送して、このパレ
ット7を前記ウエノ自動検査装置2のウェハ載置台12
上に供給し、しかる後挾持しているパレット7を離して
このパレット7をウェハ載置台12側の真空吸着装置に
よってその載置台12上に固定してウニ・自動検査装置
2横で待期し、所定のウェハ検査後に再びこのパンツド
アを両側から挾持して他方の搬送体21bまで逆搬送し
て、この搬送体21bに順次積み重ねるような動作を繰
り返すものである。
しかしてこのパレット挟持搬送装置4は、パレット挾持
装置(以下単に挾持装置と記載)51と、この挾持装置
51を昇降させる為の昇降装置52と、この昇降装置5
2を介して挾持装置51を支持しかつこの挟持装置51
を水平経路に沿って往復動させる為の往復駆動装置53
等から構成されている。
前記往復駆動装置53は、ベース1上に植設された左右
一対の支柱56a、56b間に水平に架設された上下一
対のガイド軸57at57b及びこれらの中間に水平に
架設された送りネジ58と、両ガイド軸57a、57b
にガイド筒59a。
59bにて挿通されかつ送りネジ58に筒状ナツト60
にて螺合された移動ブロック61と、送りネジ58を駆
動すべくベース1上にモータ支持台69を介して取付け
られたモータ62等から構成されている。
なおモータ62はその出力軸63を歯車64a、64b
を介して送りネジ58に連動されている。
そしてモータ62が正回転又は逆回転されると、その出
力軸63によって送りネジ58が正回転又は逆回転駆動
され、ナツト60部分で移動ブロック61がネジ送りさ
れ、移動ブロック61が両ガイド軸57a、57bに沿
って第3図右方向又は左方向に所定の速度で往復移動さ
れる。
なおこの移動ブロック61の移動経路に沿ってベース1
上にセンサ一台65が固設され、このセンサ一台65上
には4つのマグネセンサー66が取付けられている。
これらのマグネセンサー66は移動ブロック61に固着
されているマグネット67を検出し、この移動ブロック
61を2つの搬送体21a、21bの位置と、ウエノ自
動検査装置2のウェハ載置台12の位置と、このウェハ
自動検査装置2横の時期位置との3つの位置で正確に位
置決めすべくモータ62を制御する。
なおこの移動ブロック62の位置検出並びにモータ62
の制御には4つのマグネセンサー66に対応させてセン
サ一台65に取付けられた4つのマイクロスイッチ68
が並用される。
前記昇降装置52は前記挾持装置51を支持して昇降す
る昇降ブロック71と、この昇降ブロック71の昇降を
ガイドする昇降ガイド72と、この昇降ブロック71を
昇降駆動するエアーシリンダー装置73等から構成され
ている。
なお昇降ガイドT2は前記移動ブロック61に固設され
ている。
そして昇降ブロックT1と昇降ガイド72との互に対向
する左右両側面部分には垂直状をなして互に対向する名
一対のガイド溝(例えばV溝)74a、74b及び75
a、75bが形成されており、これらのガイド溝74a
と75aとの間及び74bと75bとの間には摺り抵抗
を小さくする為に夫々複数個の鋼球76at76bが遊
嵌されている。
従って昇降ブロック71はこれら両ガイド溝74at7
4bt75at75b及び鋼球76a、76bにて案内
されて昇降ガイド72に沿って上下に昇降される。
一方前記エアーシリンダー装置73は前記移動ブロック
61に形成された垂直状をなすシリンダー室77と、こ
のシリンダー室77内で上下動するピストン78と、こ
のピストン78に固着された垂直状のピストンロッド7
9等から構成されていて、ピストンロッドT9の上端は
前記昇降ブロック71の上面に固着された連結板80に
固着されている。
そしてピストン78をエアーにて昇降駆動することによ
り、ピストンロッドT8及び連結板80を介して昇降ブ
ロック71が昇降駆動されることになる。
前記挟持装置51はパレット7をその左右両側から挾持
するものであって、バレン)7の左右一対の凹部10a
t10bに嵌合する左右一対のバレン)挾持用ローラ8
3at83bが左右一対の挾持アーム84at84bの
先端下面に枢着又は固着されている。
これら両挾持アーム84a。84bは左右一対の移動ブ
ロック85at85bの先端に固着されている。
一方前記昇降プロック71にはは’N字状をなす左右一
対の支持板86at86bが対称状に固着されており、
これら両支持板86at86b間に所定間隔隔てられた
前F一対のガイド軸87a、87bが前記両ガイド軸5
7at57bと平行な水平状に架設されている。
なお一方のガイド軸87bのはソ中央部には位置決め用
のストッパー88が固着されている。
そして両移動ブロック85atasbはこれらの前後両
端部に固着された一対のガイド筒、89at89b及び
90at90bによって両ガイド軸87at87bに挿
通され、これら両ガイド軸87at87bにて案内され
て互に遠近方向に往復動自在に構成されている。
なおこれら両移動ブロック85atssbはこれらの間
に設けられたエアーシリンダー装置91及び復動用のバ
ネ92の相互動作によって上記往復駆動される。
即ち両ガイド軸87a、87b間で一方の移動ブロック
85aにはこれら両ガイド軸87a。
87bと平行なシリンダー室93が形成されており、こ
のシリンダー室93内で往復動自在のピストン94に一
端が固着されたピストンロッド95の他端が他方の移動
ブロック85bに固着されている。
前記バネ92は圧縮バネにて構成されていて他方の移動
ブロック85bに形成された凹部96内に挿入され、か
つ一端が他方の支持板86bに押圧されている。
この為このバネ92の圧縮反撥力によって他方の移動ブ
ロック85bは第5図左側に摺動附勢されている。
しかしてこの挾持装置51は前記搬送体21a部分に蓄
積されているパレット7のうち、最上段に位置されてい
るパレット7をその両側から挾持するのであるが、この
パレット挟持動作は次のように行なわれる。
即ち挟持開始前の状態ではシリンダー室93の第5図左
側の分室93aにエアーが供給されていて、第5図仮想
線の如く一方の移動ブロック85aが一方の支持板85
a側に押しつけられ、他方の移動ブロック85bがピス
トン94及びピストンロッド95を介して他方の支持板
86b側に押しつけられている。
なおこの際バネ92は圧縮されている。
この結果両ローラ83at83bの間隔は第7A図の如
く最大に押し開かれた状態となっている。
そして挟持の開始は前記分室93a内のエアーを抜くこ
とで開始される。
先ずこの分室93a内のエアーを抜くと、バネ92の圧
縮反撥力によって他方の移動ブロック85bが第5図左
側に摺動され、ストッパー88に当接して位置決めされ
る。
なおこの時一方の移動ブロック85aは何等移動しない
この結果先ず他方のローラ83bが第7B図の如くパレ
ット7の他方の凹部10b内に嵌合する。
なおこのローラ83bはパレット7の位置決め基準とな
るものであり、このローラ83bの位置はストッパー8
8により正確に位置決めされる。
次にシリンダー室93の第5図右側の分室93b内にエ
アーを供給すると、このエアーによりピストン94には
第5図左側への押圧力が作用し、一方の移動ブロック8
5aには第5図右側への押圧力が作用する。
しかして他方の移動ブロック85bはストッパー88に
て止められているからピストン94は動き得す、この為
一方の移動ブロック85aのみが第5図右側に摺動され
る。
この結果一方のローラ83aが第7C図の如くパレット
7の一方の凹部10a内に嵌合し、この時点で両ローラ
83a、83bによってパレット7が左右両側から強力
に挾持される。
またこの際パレット7は他方のローラ83bを基準にし
て所定の基準位置に正確に位置決めされる。
なお挾持しているパレット7を離す時には、分室93b
内のエアーを抜き、分室93a内にエアーを供給すれば
、両ローラ83at83bが同時にかつ互に離れる方向
に移動して、これらの間隔が開き、パレット7が両ロー
ラ83a、83bから離れることになる。
次にパレット挾持搬送装置4によるウェハ自動検査装置
2へのパレット7の供給動作を説明する。
このパレット供給作業はその挾持装置51が一方の搬送
体21aに蓄積されているパレット7群の最上段のパレ
ット7を挾持する動作から開始される。
即ち第1図に仮想線で示されるように挾持装置51が一
方の搬送体21aの前側に位置している状態で、この挾
持装置51が昇降装置52によって所定量下降された後
前述の如きパレット7の挟持動作が行なわれて、この挟
持装置51によって最上段のパレット7が挾持される。
この後昇降装置52によって挟持装置が所定量上昇され
て元の所定高さに復帰されるが、この時挾持されたパレ
ット7が搬送体21aの両支柱23a、23bの間から
上方に抜き出されることになる。
なおこの際パレット7は他方のローラ83bを基準位置
としてこの挟持装置51の所定の基準位置に前述の如く
正確に位置決めされている。
この後挾持装置51が往復駆動装置53によって第1図
左方向に水平に移動され、挾持しているパレット7をウ
ェハ自動検査装置2のパレット載置台12の真上位置へ
所定高さに沿って水平に搬送する。
しかして第1図に点線で示されるようにパレットTがウ
ェハ載置台12の真上位置に達した時に挟持装置51の
移動が停止するが、この際の挾持装置51の停止位置が
正確であること、並びにパレット7がこの挾持装置51
の所定の基準位置に正確に位置決めされていることで、
パレット7はウェハ載置台12に対して所定の基準位置
に正確に位置決めされる。
またウェハ6はパレット7上の所定の基準位置に予め正
確に位置決めされて固定されているから、結果としてウ
ェハ6がウェハ載置台12の所定の基準位置に正確に位
置決めされた状態に供給されることになる。
なおこの後ウェハ載置台12が所定量上昇されてパレッ
ト7の下面に密着され、この載置台12の真空吸着装置
によってパレット7がとの載置台12上に真空吸着にて
固定される。
そして挾持装置51が前述の如くパンツ)7を離した後
、このウェハ載置台12は所定量下降される。
この後挾持装置51は往復駆動装置53によって第1図
に実線で示される時期位置まで逆搬送されて停止し、ウ
ェハ6の前述の如き電気特性検査が終了されるまで時期
する。
この状態でウェハ載置台12及び検査ヘッド14の相互
の上昇並びに下降動作によって、検査ヘッド14の触針
13群がウェハ6の所定のパターンに接触されて前述の
如き所望の検査が行なわれる。
そしてウェハ6の電気特性検査作業が終了すると、検査
ヘッド14が上昇復帰すると共にウェハ載置台12が下
降復帰し、挟持装置51が再びつエバ載置台12の上部
位置へ移動する。
この後ウェハ載置台12によってパレット7が再び所定
高さに上昇され、挾持装置51によって前述の如くパレ
ット7が挾持される。
なおこの後ウェハ載置台12の真空吸着が断だれてパレ
ット7がこの載置台12から離され、この載置台12は
元の位置に下降される。
この後挾持装置51が往復駆動装置53によって第1図
右方向に水平に移動され、挾持しているパレット7を他
方の搬送体21bの真上位置へ所」定高さに沿って水平
に搬送する。
この後挾持装置51が昇降装置52によって所定量下降
されて、挾持されているパレット7が両支柱23a、2
3b間に上方から挿入される。
そしてこのパレット7が搬送体21bの最上段に載置さ
れた状態で、挾持装置51が前述の如くパレット7を離
す。
以上により一連のパレット搬送動作が終了するが、この
後挾持装置51は昇降装置52によって再び所定高さに
上昇されてから、往復駆動装置53によって一方の搬送
体21aの前位置まで搬送されて停止し、次の作業に備
えることになる。
しかして以上の如きパレット搬送作業は総て自動制御さ
れて自動的に行なわれるから、ウェハ自動検査装置2へ
のパレット供給を無人稼動で行なうことが出来る。
そしてこの結果ウェハ自動検査装置2を完全に無人稼動
出来て、例えば無人稼動による終夜運転が可能となる。
但し検査前のウェハを蓄積した搬送体21aをパレット
搬送体載置台25上に供給したり、検査済みのウェハが
蓄積された搬送体21bを取り除いて、空の搬送体21
bをパレット搬送体載置台25上に供給する作業は人手
に由らなければならない。
次にウェハ6をそのマトリックス方向の基準線である縦
方向及び横方向(以下これらをX方向及びY方向と記載
する。
)に沿って移動させる為の駆動状況を説明する。
第8図はウェハ載置台12のX方向及びY方向への駆動
方法の一例を説明する概略図である。
ウェハ載置台12は、パルスモータ102が正転又は逆
転駆動されることにより、ピニオン103及びラック1
04を介してX方向スライダー101によってX方向に
正送り又は逆送りされる。
またウェハ載置台12はパルスモータ105が正転又は
逆転駆動されることにより、ピニオン106及びラック
104を介してY方向スライダー108によってY方向
に移動される。
なお、ウェハ6のマトリックスラインの縦横のます目は
、上記X方向及びY方向と平行となっている。
従ってウェハ載置台12がX方向又はY方向に移動する
ことにより、との載置台12上に前述の如くパレット7
を介して載置固定されているウェハ6は、そのマトリッ
クスラインと平行に上記X方向並びにY方向に正送り又
は逆送りされることになる。
次に検査ヘッド14の触針13群を、ウェハ6の各チッ
プ6aのパターンの所定位置に順次接触させて前述の如
き電気特性検査を行なう為のスキャニング動作を第9図
〜第11図にもとづいて説明する。
先ずこのスキャニング動作はウニノロをウェハ載置台1
2の前述の如き駆動によって触針13に対して間欠的に
蛇行駆動することによって行なわれる。
なおこ\で云う触針13は位置検出用のセンサーを兼ね
ているものとする。
この場合ウェハ自動検査装置2のスタートスイッチをオ
ンすると、パルスモータ102又は105が正転又は逆
転駆動されて、ウェハ6が前述の如きX方向又はY方向
に移動される。
この結果触針13がウェハ6の外周の近傍位置、例えば
第9図に示すα点にまで移動する。
なおこの場合ウェハ自動検査装置2に設けられたストッ
プスイッチがオンとなることで、ウェハ6に対する触針
13の位置が確認されて、ウェハ6の上記移動が停止す
る。
そしてこの時点から、ウェハ自動検査装置2に内装され
たパルス発振器(図示せず)から、第11A図に示すパ
ルス信号が端子109に供給される。
また第11B図に示すパルス信号は端子110及び11
2に供給され、第11F図に示すパルス信号は端子11
1に供給される。
そして第11A図に示す第1のパルス信号Aは、アンド
回路114の一方の入力端子に供給されると共に、フリ
ップフロップ回路118の入力端子に供給される。
しかしアンド回路114の一方の入力端子110には、
レベル″1”の入力信号が供給されていない為アンド回
路114の出力信号は0”である。
従ってパルスモータ105にパルス信号Aが供給される
ことはなく、上記パルスモータ105は停止状態を続け
る。
一方フリップフロップ回路119は、パルス信号Aによ
って位相反転し、この時の出力信号にもとづきパルスモ
ータ102に内装されたスイッチ回路121を、例えば
接点aに切換える。
次に端子111に第11F図に示すパルス信号A′が供
給される。
なおこのパルス信号A′は上記パルス信号Aに比較し、
t1時間遅延したものである。
この時端子112に供給されている信号のレベルは”0
”であるが、インバータ123の動作によってアンド回
路115の一方の入力端子に第11G図に示すレベル″
1”の信号が供給される。
従って上記アンド回路115の他の入力端子に、上記の
パルス信号A′が供給されると、その出力信号のレベル
は第11H図に示す如く1”となり、この信号はアンド
回路118の入力端子に供給される。
この時増巾回路115の出力信号はレベル″0”である
から、インバータ123によって第111図に示す如く
レベル″1”に変換され、アンド回路118の一方の入
力端子に供給される。
故にアンド回路118の出力信号のレベルは第11J図
に示す如く1”となり、スイッチ回路121を介してパ
ルスモータ102に供給され、前記パルスモータ102
を例えば正転方向に駆動する。
パルスモータ102の回転角度は、供給されるパルス信
号のパルス巾に対応するものであり、本実施例において
は、ウェハ6を第9図のX方向に距離126a分例えば
正送りするように設定されている。
このようにして一方向の移動が終了した時、ウェハ載置
台12が触針13に当接する高さ迄垂直に上昇する。
しかしウェハ6が触針13と水平方向に位置づれしてい
る場合には、ウェハ6と触針13とが接触することがな
く、ウェハ載置台12はそのま\もとの高さ迄垂直に下
降する。
次に端子109にパルス信号Bが供給され、これと同時
に端子110に第11B図に示すパルス信号TAが供給
されると、アンド回路114の出力信号は”1”となる
この信号はアンド回路117の入力端子に供給されるが
、この時アンド回路117の一方の入力端子には、既に
インバータ125によって″】”なる信号が供給されて
いるから、上記アンド回路117の出力信号のレベルも
第11E図に示すように1”となり、このパル子巾に対
応してパルスモータ105が例えば正方向に所定角度回
転する。
この結果ウェハ6は第9図に示すようにY方向に所定距
離127移動する。
そして既述の如くウェハ載置台12が垂直に上昇し、触
針13に当接しない場合には、そのま\下降してもとの
位置で停止する。
またパルス信号Bが供給されて上述の動作が成されてい
る間、上記パルス信号Bによってフリップフロップ回路
119が位相反転する。
そしてフリップフロップ回路119の出力信号によって
、スイッチ回路121の可動接点が接点すに切換えられ
る。
次に端子111にパルス信号B′が供給されると、アン
ド回路115は既述の如き動作を行ないその出力信号は
第11H図に示すようにレベル″】”となり、この信号
はアンド回路118に供給される。
そしてアンド回路11Bも既述の如き動作を行ない、そ
の出力信号はスイッチ回路121のb接点を介してパル
スモータ102に供給Tれる。
この為にパルスモータ102は、パルス信号B’のパル
ス巾に対応した時間、逆方向に回転する。
従ってウェハ6はX方向に所定距離126b分例えば逆
送りされてα点と同一位相位置であるα′点で停止する
そして概述の如くにウェハ載置台12が垂直に所定高さ
上昇する。
この間端子109にはパルス信号Cが供給されて、フリ
ップフロップ回路119を位相反転させ、これにともな
いスイッチ回路121の可動接点を接点aに切換える。
また上記ウェハ載置台12が垂直に上昇して触針13に
当接すると、端子113に信号が供給される。
この信号は増巾器116によってレベル“1”に増巾さ
れ、各インバータ124,125の入力端子に供給され
る。
この為インバータ回路124゜125の出力信号は第1
1D図及び第111図に示すように”1”となりアンド
回路117゜118のそれぞれの出力信号のレベルは第
11D図及び第11J図に示すように0”となる。
そして各パルスモータ120,122は回転を停止する
この時ウェハ載置台12が上昇し、触針13を介してウ
ェハ6に形成されたチップ6aの1つをスキャンしてそ
の電気特性を検査する。
このようにしてチップ6aのスキャンが終了するとウェ
ハ載置台12は再び下降する。
チップ6aと触針13とが離れると、端子113に供給
される検出信号のレベルは再び0″となる。
従ってアンド回路117,118のそれぞれの入力端子
の一端には、インバータ124,125の動作によって
レベル″1”の信号が供給される。
次に第11i図に示すパルス信号C′が入力端子111
に供給される。
そしてパルスモータ102は、パルス信号C′のパルス
巾に対向した時間回転し再び停止する。
この後既述の如くウニ・載置台12が上昇し触針13が
チップ6aに当接し、このチップ6aのスキャンを行な
う。
上述の如き一連の動作が成されている間、パルスモータ
105を駆動するだめのパルス信号り。
E、Fは、すべてアンド回路117によって阻止T激、
上記パルスモータ120は駆動しない。
そしてチップ6aのテストをX方向に順次行な。
つた後、第9図γ点に達した時ウニ・載置台12が上昇
してもウェハ6は触針13に当接しない。
この時第10図に示す回路は初期状態に復帰し、ウェハ
載置台12はY方向に1ピツチ移動する。
この時ウェハ載置台12が上昇して触針13に当接すれ
ば、第11A図に示したパルス信号Cについて述べた動
作が再び行なわれ、ウェハ載置台12はX方向にのみ順
次例えば逆送りされて前述の如きチップ6aのスキンが
継続される。
そしてこの一連の動作の繰返しによって、ウェハ6の全
チップが順次スキャンされて所望の電気特性検査が行な
われることになる。
本発明は上述の如く、 (a)位置決めの為の第1及び第2の構造部が形成され
、かつ上部にウェハが位置決めされて載置固定されて成
るパレット、 (b)上記位置決めの為の第1の構造部に係合して上記
パレットを順次積み重ねて蓄積保持する第1及び第2の
保持手段、 (c)上記位置決めの為の第2の構造部に係合して。
上記パレットを所定状態に挾持して搬送する搬送手段、 とからなり、 (d)上記第1の保持手段に蓄積保持されている上記パ
レットを上記搬送手段にて順次挾持して所定位置へ供給
し、更にその供給された上記パレットを上記所定位置か
ら上記第2の保持手段へ搬送して蓄積保持させるように
構成したことを特徴とするウェハ供給装置である。
従って本発明によれば、予めウェハをパレット上に位置
決めして固定しておくだけで、後はそのパレットによっ
てウェハを所定位置へ順次自動的に搬送して供給するこ
とが出来るので、操作者の手指等がウニ・の半導体面上
に不測に触れるような不都合を全く生じない。
しかもパレットを第1の保持手段に順次積重ねて蓄積保
持している状態から所定位置へ供給し、更に所定位置か
ら第2の保持手段へ搬送して再び順次積み重ねて蓄積保
持する迄の間、一貫してパレットを所定状態に正確に位
置決めしておくことが出来、特に、所定位置へ供給され
たパレットが所定状態に正確に位置決めされていること
によって、ウェハを極めて正確に位置決めさせた状態で
所定位置へ供給することが出来る。
この結果所定位置にてウェハをその都度位置合せするよ
うな、誠に面倒なウニ・位置合せ作業を一切性う必要が
なくて、作業時間を飛躍的に短縮させることが出来る。
従って実施例の如く本発明によるウェハ供給装置を用い
て例えばウニ・自動検査装置へのウェハ自動供給作業を
行なうようにすれば、とのウェハ自動検査装置を完全無
人稼動させることが出来て、工数低減による人件費の節
約、装置の稼動工率向上に伴う原価償却効率向上等大き
な実用性を発揮する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明をウェハ自動検査装置に適用した一実施例
を示したものであって、第1図は装置全体の斜視図、第
2図は同上の正面図、第3図はパレット蓄積装置部分の
断面図、第4図はパレット挟持搬送装置における往復駆
動装置部分の断面図、第5図はパレット挟持搬送装置部
分におけるパレット挟持装置部分の断面図、第6図は第
5図V−■線断面図、第7A図〜第7C図はパレット挟
持動作を説明する平面図、第8図はウェハ載置台の駆動
系の概略を説明する平面図、第9図はウェハ載置台の移
動状態を説明する平面図、第10図はパルスモータを駆
動するだめの制御回路図、第11A図〜第11J図は制
御回路を説明するためのパルス信号の波形図である。 なお図面に用いられている符号において、2はウェハ自
動検査装置、3はパレット蓄積装置、4はパレット挟持
搬送装置、6はウェハ、9a。 9bは位置決めの為の第1の構造部である凹部、10a
、10bは位置決めの為の第2の構造部である凹部、1
2はウェハ載置台、21aは第1の保持手段であるパレ
ット搬送体、21bは第2の保持手段であるパレット搬
送体、51はパレット挟持装置、52は昇降装置、53
は往復駆動装置、83a、83bはパレット挟持用ロー
ラ、88は位置決め用ストッパーである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 (a)位置決めの為の第1及び第2の構造部が形成
    され、かつ上部にウェハが位置決めされて載置固定され
    て成るパレット、 (b)上記位置決めの為の第1の構造部に係合して上記
    パレットを順次積み重ねて蓄積保持する第1及d第2の
    保持手段、 (c)上記位置決めの為の第2の構造部に係合して上記
    パレットを所定状態に挾持して搬送する搬送手段、 とからなり、 (d)上記第1の保持手段に蓄積保持されている上記パ
    レットを上記搬送手段にて順次挾持して所定位置へ供給
    し、更にその供給された上記パレットを上記所定位置か
    ら上記第2の保持手段へ搬送して蓄積保持させるように
    構成したことを特徴とするウェハ供給装置。
JP753370A 1974-12-28 1974-12-28 ウエハキヨウキユウソウチ Expired JPS5811742B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP753370A JPS5811742B2 (ja) 1974-12-28 1974-12-28 ウエハキヨウキユウソウチ
CA242,588A CA1044379A (en) 1974-12-28 1975-12-24 Wafer transfer device
GB53002/75A GB1531429A (en) 1974-12-28 1975-12-29 Apparatus for handling semi-conductor wafers to facilitate making electrical tests on semiconductor devices and testing method
US05/645,020 US4103232A (en) 1974-12-28 1975-12-29 Wafer transfer device
NL7515149A NL7515149A (nl) 1974-12-28 1975-12-29 Inrichting voor het hanteren van wafels van halfgeleidend materiaal.
DE19752558963 DE2558963A1 (de) 1974-12-28 1975-12-29 Vorrichtung zur anbringung von halbleiterplaettchen

Applications Claiming Priority (1)

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JP753370A JPS5811742B2 (ja) 1974-12-28 1974-12-28 ウエハキヨウキユウソウチ

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Publication Number Publication Date
JPS5178691A JPS5178691A (ja) 1976-07-08
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ID=11555450

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5421174A (en) * 1977-07-18 1979-02-17 Tokyo Ouka Kougiyou Kk Plasma reaction processor
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JPS5851521A (ja) * 1981-09-24 1983-03-26 Hitachi Ltd 半導体ウェハのダイシング方法
JPS5877045U (ja) * 1981-11-16 1983-05-24 リコーエレメックス株式会社 半導体封止用織布含浸レジンの位置決構造

Non-Patent Citations (1)

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Title
IBM TECHNICAL DISCLASURE BULLETIN=1973 *

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