CN215894842U - 一种芯片测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试设备，包括机架，所述机架上固设有第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一测试平台、第二测试平台，所述第一循环换料装置与第二循环换料装置呈对角设置，所述第一测试平台与第二测试平台呈对角设置，所述第一机械臂与第二机械臂对称设置于机架的中部，架构布局设计合理，配合双转盘测试平台，每个平台设有多个测试工位，随平台转盘转动多个测试工位可以进行多步骤或工序的测试，各机构协调配合完成动作，布局结构紧凑减小了设备占用体积，充分利用机架上空间的同时缩短物料转运时间，提高了测试效率。

Description

一种芯片测试设备

技术领域

本实用新型涉及自动化设备技术领域，具体为一种芯片测试设备。

背景技术

随着移动互联网、云计算、物联网、大数据等新兴产业的增长，电子信息产业进入了新的发展阶段。控制、通信、人机交互和网络互联等融入了大量的新兴的电子技术，设备功能越来越复杂，系统集成度越来越复杂。新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要。

芯片在使用前需要进行测试，现有测试设备布局不合理导致效率低下，因此有必要设计一种芯片测试设备以解决以上技术问题。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型涉及了一种芯片测试设备，该结构简单、可靠，有效解决了上述技术问题，适合推广使用，为了实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现：

一种芯片测试设备，包括机架，所述机架上固设有第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一测试平台、第二测试平台，所述第一循环换料装置与第二循环换料装置呈对角设置，所述第一测试平台与第二测试平台呈对角设置，所述第一机械臂与第二机械臂对称设置于机架的中部。

在上述方案的基础上并作为上述方案的优选方案：所述第一循环换料装置与第一测试平台之间的位置设有第一角度调节机构，所述第二循环换料装置与第二测试平台之间的位置设有第二角度调节机构，所述第一角度调节机构与第二角度调节机构均用于对芯片的角度进行调整。

在上述方案的基础上并作为上述方案的优选方案：还包括固设于机架上的第一输送机构、第二输送机构，所述第一输送机构用于将第一角度调节机构上的芯片输送至第一测试平台，所述第二输送机构用于将第二角度调节机构上的芯片输送至第二测试平台。

在上述方案的基础上并作为上述方案的优选方案：所述第一测试平台包括多个第一测试工位，所述第二测试平台包括多个第二测试工位，若干所述第一测试工位围绕第一测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第一测试平台的中心对称轴转动，若干所述第二测试工位围绕第二测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第二测试平台的中心对称轴转动，所述第一测试平台的第一测试工位与第二测试平台的第二测试工位的动作分别与所述第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一角度调节机构、第二角度调节机构、第一输送机构、第二输送机构的动作相协调。

在上述方案的基础上并作为上述方案的优选方案：所述第一循环换料装置包括包括框架、第一支撑板、第二支撑板、第一驱动机构、第二驱动机构、直线位移机构、吸附机构，所述第一驱动机构与第二驱动机构并列设置在框架上，所述第一驱动机构的输出端与第一支撑板相连，并用于驱动第一支撑板上下往复移动，所述第二驱动机构的输出端与第二支撑板相连，并用于驱动第二支撑板上下往复移动，所述直线位移机构固设于框架上，所述直线位移机构与吸附机构固定连接并用于驱使吸附机构在第一支撑板及第二支撑板之间移动，所述第二循环换料装置的结构与第一循环换料装置相同。

在上述方案的基础上并作为上述方案的优选方案：所述吸附机构包括固定板，所述固定板与直线位移机构固定连接，所述固定板的下方平行设有两个安装板，每个所述安装板的两端固定安装有一个吸盘固定柱，所述吸盘固定柱的底端固设有吸盘，所述固定板的上方安装有真空发生器。

本实用新型相比现有技术突出且有益的技术效果是：

1.架构布局设计合理，配合双转盘测试平台，每个平台设有多个测试工位，随平台转盘转动多个测试工位可以进行多步骤或工序的测试，各机构协调配合完成动作，布局结构紧凑减小了设备占用体积，充分利用机架上空间的同时缩短物料转运时间，提高了测试效率；

2.循环换料装置的设计保证精确性的同时提高了上料、下料操作的效率，减少了工人取放料盘的次数，降低了工人的工作强度从而也降低了企业的用人成本，装置结构简单有效，可靠度较高。

附图说明

图1是本实用新型整体设备示意图；

图2是设备俯视示意图；

图3是第一循环换料装置示意图；

图4是第一循环换料装置底部示意图；

图5是吸附机构示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，然而，以下描述的具体实施方式和实施例仅是说明的目的，而不是对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图1所示的方向或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。

如图1-5所示，本实用新型涉及一种芯片测试设备，包括机架1，所述机架1上固设有第一循环换料装置2、第二循环换料装置3、第一机械臂4、第二机械臂5、第一测试平台6、第二测试平台7。

具体地，所述机架1的截面呈矩形，所述第一循环换料装置2与第二循环换料装置3呈对角设置，所述第一测试平台6与第二测试平台7呈对角设置，所述第一机械臂4与第二机械臂5对称设置于机架1的中部，第一测试平台6与第二测试平台7均位于机械臂的作业半径内，机械臂上固设有用于代抓取物料匹配的夹具，第一机械臂4与第二机械臂5分别按照设定节奏进行上料与下料，进一步的，所述第一循环换料装置2与第一测试平台6之间的位置设有第一角度调节机构8，所述第二循环换料装置3与第二测试平台7之间的位置设有第二角度调节机构9，所述第一角度调节机构8与第二角度调节机构9用于对芯片的角度进行调整矫正以进行后续测试，角度调节机构的具体结构以及工作原理均为现有技术，且可根据芯片的型号改变适应性的进行调整，本实用新型不再做进一步赘述。

进一步地，机架1上还设有第一输送机构10、第二输送机构11，第一输送机构10包括固设于机架1上的电控导轨1001以及与电控导轨1001滑动连接的滑座1002，通过滑座1002的移动可对芯片进行转移，第二输送机构11的结构与第一输送机构10相同，第一输送机构10用于将第一角度调节机构8上的芯片输送至第一测试平台6，第二输送机构11则用于将第二角度调节机构9上的芯片输送至第二测试平台7，进一步优选的，所述第一输送机构10包括第一中转抓取组件1003，所述第二输送机构包括第二中转抓取组件，所述第一中转抓取组件与第二中转抓取组件可完成抓取动作并进行升降。第一输送机构10与第二输送机构11分别按照设定节奏逐渐将物料逐个转移到第一测试平台6与第二测试平台7上。

所述第一测试平台6包括多个第一测试工位601，所述第二测试平台7包括多个第二测试工位701，若干所述第一测试工位601围绕第一测试平台6的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第一测试平台6的中心对称轴转动，若干所述第二测试工位701围绕第二测试平台7的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第二测试平台7的中心对称轴转动，所述第一测试平台6的第一测试工位601与第二测试平7台的第二测试工位701的动作分别与所述第一循环换料装置2、第二循环换料装置3、第一机械臂4、第二机械臂5、第一角度调节机构8、第二角度调节机构9、第一输送机构10、第二输送机构11的动作相协调。具体工作时，所述第一机械臂4先将第一循环换料装置2托盘上的产品夹取至第一角度调节机构8进行角度矫正，然后第一机械臂4继续将第一循环换料装置2的托盘内的产品夹取至第二角度调节机构9并持续按该节奏进行产品的转移，在间歇过程中，由第一输送机构10中的第一抓取组件1003抓取第一角度调节机构8中的产品并沿导轨方向移动将其转移至第一测试平台6上的一个第一测试工位601中，然后第一测试平台6的转盘发生转动，载有产品的第一测试工位601被相对应位置的测试组件进行测试，另一方面切换到下一个空的第一测试工位，然后第一输送机构10再次返回到第一角度调节机构8将已补充的产品再次转移至第一测试平台6上相对应空载的第一测试工位，第二角度调节机构9、第二输送机构11、第二中转抓取组件、第二测试平台7的动作节奏与上述过程相同，随着第一测试平台6内第一测试工位601的转动以及第二测试平台7内第二测试工位701的转动，第一测试工位、第二测试工位分别移动到与第二循环换料装置对应的位置时，第二机械臂运行依次将工位的产品抓取转移至第二循环换料装置上的空载托盘中完成下料，如此实现协调动作，架构布局设计合理，配合双转盘测试平台，每个平台设有多个测试工位，随平台转盘转动多个测试工位可以进行多步骤或工序的测试，各机构协调配合完成动作，布局结构紧凑减小了设备占用体积，充分利用机架上空间的同时缩短物料转运时间，提高了测试效率。

本实施例中进一步优选的是，所述第一循环换料装置2包括包括框架201、第一支撑板202、第二支撑板203、第一驱动机构204、第二驱动机构205、直线位移机构206、吸附机构207。

具体地，第一支撑板202与第二支撑板203均用于承载放置料盘，所述第一驱动机构204与第二驱动机构205并列设置在框架201上，所述第一驱动机构204包括第一电动推杆2041、第一导杆2042，所述第一电动推杆2041固设于框架201的底部且输出端与第一支撑板202固定连接，所述第一导杆2042通过第一导套2043与框架2011相连接，第一导杆2042可以在第一导套2043内沿轴向上下移动，所述第一导杆2042的顶端与第一支撑板202固定连接，所述第二驱动机构205包括第二电动推杆2051、第二导杆2052，所述第二电动推杆2051固设于框架201的底部且输出端与第二支撑板203固定连接，所述第二导杆2052通过第二导套2053与框架201相连接，第二导杆2052可以在第二导套2053内沿轴向上下移动，所述第二导杆2052的顶端与第二支撑板203固定连接，第一电动推杆2041与第二电动推杆2051分别用于驱动第一支撑板202、与第二支撑板203上下往复移动，第一导杆2042与第二导杆2052的设置既加强了机构运行的稳定性同时也提高了移动的精确性，保证移动精度。

所述直线位移机构206固设于框架201上，所述直线位移机构206与吸附机构207固定连接并用于驱使吸附机构207在第一支撑板202及第二支撑板203之间移动，进一步地，本实施例中所述吸附机构207包括固定板2071，所述固定板2071与直线位移机构206固定连接，所述固定板2071的下方平行设有两个安装板2072，每个所述安装板2072的两端固定安装有一个吸盘固定柱2073，所述吸盘固定柱2073的底端固设有吸盘2074，所述固定板2071的上方安装有真空发生器2075，吸盘固定柱2073的上方设有气管口接口并用于与真空发生器2075相连接，通过真空发生器2075调节吸盘2074的真空度从而来实现料盘的搬运，通过四组吸盘2074确保吸附的稳定性。

优选地，还包括固设于框架上的限位机构208，所述限位机构208包括电动夹爪机构2081、限位板2082，所述电动夹爪机构2081包括两个可相互靠近或相互远离的夹块2083，每个所述夹块2083与一个限位板2082固定连接并相互垂直，优选的，所述限位机构208还包括滑块2084、滑轨2085，每个所述限位板2082的两端分别与一个滑块2084固定连接，所述滑轨2085固定安装在框架1的顶部，所述滑块2084与所述滑轨2085滑动连接且滑块2084的滑动方向与夹块2083的移动方向相同，当两个夹块2083相互靠近时驱使两个限位板2082靠近，从而在第二支撑板3的上方形成限位，当堆叠的料盘在第二支撑板3上上移时顶层料盘会与限位板2082的底面接触从而将其压平保证其平整度，同时以限位板2082的底面作为基准面保证每个料盘达到的高度一致，保证了料盘上料过程中的精确性，当两个夹块2083相互远离使即使两个限位板2082相互远离解除限位，进而使得后续可以转移顶层的料盘，具体地，工作人员完成料盘上料，使若干料盘在第二支撑板203上堆叠，第二电动推杆2051驱动第二支撑板203上移，顶层的料盘达到预设位置，等待第一机械臂取走料盘内的产品后料盘被吸附机构207吸附并被转移至升起的第一支撑板202上，最终由工作人员取走料盘，如此往复操作运行，提高了整体的上料效率，减少了工人取放料盘的次数，降低了工作强度，装置结构简单有效，可靠度较高，第二循环换料装置的结构与第一循环换料装置相同，差别在于，第二循环换料装置用于下料，检测后的芯片由第二机械臂夹持送至后放入空载料盘，并被吸附机构转移至另一侧送出，本实用新型涉及的循环换料装置提高了上料、下料操作的效率，减少了工人取放料盘的次数，降低了工人的工作强度从而也降低了企业的用人成本，降低了工作强度，装置结构简单有效，可靠度较高。

上述实施例仅为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：所属技术领域的技术人员凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种芯片测试设备，其特征在于：包括机架，所述机架上固设有第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一测试平台、第二测试平台，所述第一循环换料装置与第二循环换料装置呈对角设置，所述第一测试平台与第二测试平台呈对角设置，所述第一机械臂与第二机械臂对称设置于机架的中部。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一循环换料装置与第一测试平台之间的位置设有第一角度调节机构，所述第二循环换料装置与第二测试平台之间的位置设有第二角度调节机构，所述第一角度调节机构与第二角度调节机构均用于对芯片的角度进行调整。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于：还包括固设于机架上的第一输送机构、第二输送机构，所述第一输送机构用于将第一角度调节机构上的芯片输送至第一测试平台，所述第二输送机构用于将第二角度调节机构上的芯片输送至第二测试平台。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一测试平台包括多个第一测试工位，所述第二测试平台包括多个第二测试工位，若干所述第一测试工位围绕第一测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第一测试平台的中心对称轴转动，若干所述第二测试工位围绕第二测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第二测试平台的中心对称轴转动，所述第一测试平台的第一测试工位与第二测试平台的第二测试工位的动作分别与所述第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一角度调节机构、第二角度调节机构、第一输送机构、第二输送机构的动作相协调。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一循环换料装置包括包括框架、第一支撑板、第二支撑板、第一驱动机构、第二驱动机构、直线位移机构、吸附机构，所述第一驱动机构与第二驱动机构并列设置在框架上，所述第一驱动机构的输出端与第一支撑板相连，并用于驱动第一支撑板上下往复移动，所述第二驱动机构的输出端与第二支撑板相连，并用于驱动第二支撑板上下往复移动，所述直线位移机构固设于框架上，所述直线位移机构与吸附机构固定连接并用于驱使吸附机构在第一支撑板及第二支撑板之间移动，所述第二循环换料装置的结构与第一循环换料装置相同。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述吸附机构包括固定板，所述固定板与直线位移机构固定连接，所述固定板的下方平行设有两个安装板，每个所述安装板的两端固定安装有一个吸盘固定柱，所述吸盘固定柱的底端固设有吸盘，所述固定板的上方安装有真空发生器。

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