JPS58115371A - 検出装置 - Google Patents
検出装置Info
- Publication number
- JPS58115371A JPS58115371A JP56210299A JP21029981A JPS58115371A JP S58115371 A JPS58115371 A JP S58115371A JP 56210299 A JP56210299 A JP 56210299A JP 21029981 A JP21029981 A JP 21029981A JP S58115371 A JPS58115371 A JP S58115371A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermistor
- voltage dividing
- temperature
- comparator
- resistance value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/22—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern involving the combination of more than one step according to groups G03G13/02 - G03G13/20
- G03G15/28—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern involving the combination of more than one step according to groups G03G13/02 - G03G13/20 in which projection is obtained by line scanning
- G03G15/30—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern involving the combination of more than one step according to groups G03G13/02 - G03G13/20 in which projection is obtained by line scanning in which projection is formed on a drum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検出鉄筺に関し、特に検出すべき状態に応じて
抵抗値が変化する検出素子を掘える検出装置に関する。
抵抗値が変化する検出素子を掘える検出装置に関する。
従来からたとえばサーミスタ金相いて温ｍｋ検出する装
置では、サーミスタの抵抗値が温度が大となるにつれて
小となること全利用している。ところが、検出すべき温
度が低温度でめると、サーミスタが尚抵抗値となるので
、サーミスタの朗縁によって高抵抗値となったのかどう
か一１１別し給いことがある。
置では、サーミスタの抵抗値が温度が大となるにつれて
小となること全利用している。ところが、検出すべき温
度が低温度でめると、サーミスタが尚抵抗値となるので
、サーミスタの朗縁によって高抵抗値となったのかどう
か一１１別し給いことがある。
不発明は上述の技術的蛛題會析次し、サーミスタなどの
検出素子の断線を容易に憔出し５るようにした検出装ｆ
ｉｔを提供することを目的とする。
検出素子の断線を容易に憔出し５るようにした検出装ｆ
ｉｔを提供することを目的とする。
以下、図面によって本発明の笑施例ケ祝明する。
第１図は本発明の一笑り例の回紀図でめる。サーミスタ
ｌは、たとえは静電式扱与徐の黙足〜装置の温ｉｔ−検
出すべく肢けられる。サーミス／ｌの抵抗値の温に変化
に応じて比軟ム２から処堆装倉３に与えられる２値化化
号が友化する０処理装置３の出力端子Ｑｌ＊ ＱＩ Ｑ
、３からは、順次的にハイレベルの信号が出力されてお
り、各ハイレベルの１６＋５か出力されるタイミングに
おける比較器２の出力信号金刊別することにより、前記
熱定着転置の温度か検出される。その検出温度に基づい
てヒータ制御子Ｊｆ４によって図示しないヒータの′喝
力竹努が匍」御される。
ｌは、たとえは静電式扱与徐の黙足〜装置の温ｉｔ−検
出すべく肢けられる。サーミス／ｌの抵抗値の温に変化
に応じて比軟ム２から処堆装倉３に与えられる２値化化
号が友化する０処理装置３の出力端子Ｑｌ＊ ＱＩ Ｑ
、３からは、順次的にハイレベルの信号が出力されてお
り、各ハイレベルの１６＋５か出力されるタイミングに
おける比較器２の出力信号金刊別することにより、前記
熱定着転置の温度か検出される。その検出温度に基づい
てヒータ制御子Ｊｆ４によって図示しないヒータの′喝
力竹努が匍」御される。
貝ｋ ％ ｍ ５には分圧抵抗６．７から成る直列回路
、ならびにサーミスタｌおよび分圧回路２ｏから成る直
夕１ｊ回鮎が並列に接続される。分圧回路２０は分圧抵
抗８，９，１０．ｌｌ’に直列に接続して４４４敗され
る。また分圧抵抗９゜１０．１１から取る収タリ回路部
分にはトランジスタ１２が並列に接続され、分圧抵抗ｔ
ｏ、１１がら成る直列回路節分にはトランジスタ１３が
並列に接続式れ、分圧伍ｋｌ ＩＫはトランジスタ１４
が並列に接続される。各トランジスタ１２，１３．１４
のベースには処理装置ｊｔ３の出力端子Ｑ ｌ ｅ Ｑ
２ ＊ Ｑ３が抵抗１５，１６．１７ｉ弁してそれぞ
れ個別に接続でれる。
、ならびにサーミスタｌおよび分圧回路２ｏから成る直
夕１ｊ回鮎が並列に接続される。分圧回路２０は分圧抵
抗８，９，１０．ｌｌ’に直列に接続して４４４敗され
る。また分圧抵抗９゜１０．１１から取る収タリ回路部
分にはトランジスタ１２が並列に接続され、分圧抵抗ｔ
ｏ、１１がら成る直列回路節分にはトランジスタ１３が
並列に接続式れ、分圧伍ｋｌ ＩＫはトランジスタ１４
が並列に接続される。各トランジスタ１２，１３．１４
のベースには処理装置ｊｔ３の出力端子Ｑ ｌ ｅ Ｑ
２ ＊ Ｑ３が抵抗１５，１６．１７ｉ弁してそれぞ
れ個別に接続でれる。
比較器２の非反転入力端子には、サーミスタｌおよび分
圧抵抗８の接続点１８が接続される。また反転入力端子
には分圧抵抗６．７の桜す患１９が接続される。したが
って比較器２の反転入力端子には基準電圧が与えられて
いることになり、非反転入力端子に与えら、れる電圧が
前記基準電圧のレベルで弁別される。比較器２は、非反
転入力端子の電圧が基準電圧以下のときに＠理「０」の
信号を出力し、また非反転入力端子の電圧が基準電圧を
超えたときに論理ｒｌＪの信号全出力する０このような
比較器２の出力信号は処理装置３の入力端子ＩＮに与え
られる。
圧抵抗８の接続点１８が接続される。また反転入力端子
には分圧抵抗６．７の桜す患１９が接続される。したが
って比較器２の反転入力端子には基準電圧が与えられて
いることになり、非反転入力端子に与えら、れる電圧が
前記基準電圧のレベルで弁別される。比較器２は、非反
転入力端子の電圧が基準電圧以下のときに＠理「０」の
信号を出力し、また非反転入力端子の電圧が基準電圧を
超えたときに論理ｒｌＪの信号全出力する０このような
比較器２の出力信号は処理装置３の入力端子ＩＮに与え
られる。
処理装置ｊｉ３は、その出力端子Ｑ、１．Ｑ２．Ｑ３か
ら第２図で示すように、ハイレベル信号を順次的に出力
する。すなわち、出力端子Ｑ、ｌからは、第２図（１）
で示すようにパルス幅Ｔｌｉ有するハイレベルの信号が
一定周期Ｔで導出されるＱｌだ出力端子Ｑ２からは、第
２図（２）で示すように、パルス幅’ｒ２１有するハイ
レベルの信号が前記出力端子Ｑｌの出力信号の立ち下り
に工６じて導出される〇さらに出力端子Ｑ３からは、第
２図（３）で示すように、パルス−Ｔ３’に’！するハ
イレベルの信号が、出力−子Ｑ２の出力信号の立ち下り
に応じて導出δれる。しかも剖記谷パルス幅Ｔｌ、Ｔ２
．Ｔ３Ｖ工同−でめり、かつ周期Ｔの１／４に選ばれて
ぃ心Ｏ 分圧体ナル６〜１１の抵抗値は、各タイミングＴＭｌ−
″−ＴＭ４において比軟ム２の出力信号が論理１−１」
となったときに、各タイミングＴＭＩ〜ＴＭ４に対応し
て設定された温度を超えたことになるように逃ばれる。
ら第２図で示すように、ハイレベル信号を順次的に出力
する。すなわち、出力端子Ｑ、ｌからは、第２図（１）
で示すようにパルス幅Ｔｌｉ有するハイレベルの信号が
一定周期Ｔで導出されるＱｌだ出力端子Ｑ２からは、第
２図（２）で示すように、パルス幅’ｒ２１有するハイ
レベルの信号が前記出力端子Ｑｌの出力信号の立ち下り
に工６じて導出される〇さらに出力端子Ｑ３からは、第
２図（３）で示すように、パルス−Ｔ３’に’！するハ
イレベルの信号が、出力−子Ｑ２の出力信号の立ち下り
に応じて導出δれる。しかも剖記谷パルス幅Ｔｌ、Ｔ２
．Ｔ３Ｖ工同−でめり、かつ周期Ｔの１／４に選ばれて
ぃ心Ｏ 分圧体ナル６〜１１の抵抗値は、各タイミングＴＭｌ−
″−ＴＭ４において比軟ム２の出力信号が論理１−１」
となったときに、各タイミングＴＭＩ〜ＴＭ４に対応し
て設定された温度を超えたことになるように逃ばれる。
第１タイミングＴＭＩに対応しては、恋矩されつる最低
温度よりもさらに低い温度たとえは−２００に設定され
る。すなわち、弔ｌタイミングＴＭＩにおいて比較器２
の出力信ちか論理「０」となったときには、サーミスタ
ｌ〃・叩（紛したときであり、それによってサーミスタ
ｌの断ハ妙全検出することかできる。
温度よりもさらに低い温度たとえは−２００に設定され
る。すなわち、弔ｌタイミングＴＭＩにおいて比較器２
の出力信ちか論理「０」となったときには、サーミスタ
ｌ〃・叩（紛したときであり、それによってサーミスタ
ｌの断ハ妙全検出することかできる。
第２〜第４タイミングＴＭ２〜ＴＭ４に対応しては、制
御すべき値付近の温度がそれぞれ設定され／８ｏこの笑
ｙｌ！１？ｌＩにおいては、男２タイミングＴＭ２に対
応してたとえば１９０ｆ：！が改定され、第３タイミン
クＴＭ３に対応してｔｓｏｃが数足され、第４タイミン
グＴＭ４に対応して１６０（！が設屋される。したがっ
てｗＪ２タイミングＴＭ２において比ＩＩＲ器２の出力
信号が調理「１」となったときにはａ度が１９００會超
えたことが検出されることになり、第３タイミングＴＭ
３において比較器２の出力信号が論理「ｌ」となったと
きには温度がｔｓｏｃｖｍえたことが検出されることに
なり、さらに第４タイミングＴＭ４において比較器２の
出力信号が論理「ｌ」となったときには温度が１６００
ｉｉ！！ｉえたことが検出されることになる０ 処理装置３は、上述のととく〉検出された温Ｉ随に基づ
いて出力部子ＯＵＴから匍」餌１６号τヒータ制御手段
４に与え、それによってＦＫ’ｌ雉膚°装置の温度かた
とえは１８００程度に市り伽ちれる０上述のごとくこの
央にνＯによれは、第１タイミングＴＭＩで比ｅ器２の
出力信号か論理「０」となることにより、サーミスタｌ
の断鹸會懐めて谷易に検出することができるｏしかもサ
ーミスタｌが断線していれば常温の状態でも比４１２儀
２の出力１６号が論理「０」となるので、従来の静電式
複写機のようにヒータの電力付勢後に予め設定された時
間をめけてから温度検出を開始しなければならないよう
なことがなく、温度検出を直ちに開始することができる
。またサーミスタｌと比較器２の信号ラインが単一でろ
るので、比較器２の故障をも検出することができる。さ
らに各タイミングＴＭ ｌ −Ｔ Ｍ ４に対応した温
度は、分圧抵抗６〜ｌｌの抵抗値を選定することにより
自在に設定されるので、広い範囲にわたって温度を検出
することができる。
御すべき値付近の温度がそれぞれ設定され／８ｏこの笑
ｙｌ！１？ｌＩにおいては、男２タイミングＴＭ２に対
応してたとえば１９０ｆ：！が改定され、第３タイミン
クＴＭ３に対応してｔｓｏｃが数足され、第４タイミン
グＴＭ４に対応して１６０（！が設屋される。したがっ
てｗＪ２タイミングＴＭ２において比ＩＩＲ器２の出力
信号が調理「１」となったときにはａ度が１９００會超
えたことが検出されることになり、第３タイミングＴＭ
３において比較器２の出力信号が論理「ｌ」となったと
きには温度がｔｓｏｃｖｍえたことが検出されることに
なり、さらに第４タイミングＴＭ４において比較器２の
出力信号が論理「ｌ」となったときには温度が１６００
ｉｉ！！ｉえたことが検出されることになる０ 処理装置３は、上述のととく〉検出された温Ｉ随に基づ
いて出力部子ＯＵＴから匍」餌１６号τヒータ制御手段
４に与え、それによってＦＫ’ｌ雉膚°装置の温度かた
とえは１８００程度に市り伽ちれる０上述のごとくこの
央にνＯによれは、第１タイミングＴＭＩで比ｅ器２の
出力信号か論理「０」となることにより、サーミスタｌ
の断鹸會懐めて谷易に検出することができるｏしかもサ
ーミスタｌが断線していれば常温の状態でも比４１２儀
２の出力１６号が論理「０」となるので、従来の静電式
複写機のようにヒータの電力付勢後に予め設定された時
間をめけてから温度検出を開始しなければならないよう
なことがなく、温度検出を直ちに開始することができる
。またサーミスタｌと比較器２の信号ラインが単一でろ
るので、比較器２の故障をも検出することができる。さ
らに各タイミングＴＭ ｌ −Ｔ Ｍ ４に対応した温
度は、分圧抵抗６〜ｌｌの抵抗値を選定することにより
自在に設定されるので、広い範囲にわたって温度を検出
することができる。
第１図および第２図の実施例において、基準温度設定レ
ベル用の抵抗８，９．１０の抵抗値は比戦的小であり、
また断−検知用の抵抗１１の抵抗１μは比載的大たとえ
ば数ＭΩでるる。なお断線を導出するための第１タイミ
ングＴＭＩにおいては、抵抗８，９．ｔｏｅ ｉｉの合
成抵抗となるが、主として抵抗１１が作用する。したが
って、各トランジスタ１２，１３．１４が導通している
各タイミングＴＭ２．ＴＭ３．ＴＭ４において、分圧回
路。
ベル用の抵抗８，９．１０の抵抗値は比戦的小であり、
また断−検知用の抵抗１１の抵抗１μは比載的大たとえ
ば数ＭΩでるる。なお断線を導出するための第１タイミ
ングＴＭＩにおいては、抵抗８，９．ｔｏｅ ｉｉの合
成抵抗となるが、主として抵抗１１が作用する。したが
って、各トランジスタ１２，１３．１４が導通している
各タイミングＴＭ２．ＴＭ３．ＴＭ４において、分圧回
路。
２０、における抵抗８，９．１０の抵抗値が比械的小で
めることに起因して、サーミスタｌに流れる電流が大と
なってサーミスタｌが自己発熱してしまい正確な温度検
出が困難になるおそれがめる。また第１タイミングＴＭ
Ｉにおいて線抵抗ｌｌＯ高インピーダンスにより、比較
６２の入力インピーダンスが高くなり過ぎて、誤動作音
生じるおそれがるる。そこで、上述のような問題ｔｍ決
した他の実施例を次に説明する。
めることに起因して、サーミスタｌに流れる電流が大と
なってサーミスタｌが自己発熱してしまい正確な温度検
出が困難になるおそれがめる。また第１タイミングＴＭ
Ｉにおいて線抵抗ｌｌＯ高インピーダンスにより、比較
６２の入力インピーダンスが高くなり過ぎて、誤動作音
生じるおそれがるる。そこで、上述のような問題ｔｍ決
した他の実施例を次に説明する。
第３図は本発明の他の実施例の同略図でめり、前述の実
施例に対応する部分には則−の参照符を付す。この実施
例では、比較器２の基準電圧を与えるために、分圧抵抗
６ｗ７＊２１が直列に接続され、分圧抵抗６，７．の接
続点が比ＩＩＲ器２の反転入力端子に接続される。また
分圧抵抗２１にはトランジスタ２２が並列に接続され、
このトランジスタ２２のベースに線抵抗２３を介して処
理装置３の出力端子Ｑ４が接続される。
施例に対応する部分には則−の参照符を付す。この実施
例では、比較器２の基準電圧を与えるために、分圧抵抗
６ｗ７＊２１が直列に接続され、分圧抵抗６，７．の接
続点が比ＩＩＲ器２の反転入力端子に接続される。また
分圧抵抗２１にはトランジスタ２２が並列に接続され、
このトランジスタ２２のベースに線抵抗２３を介して処
理装置３の出力端子Ｑ４が接続される。
処理装置１３の出力端子Ｑ ｌ ＊ Ｑ ２− Ｑ ３
・Ｑ４からは、第４図で示すように１ハイレベル信号か
順法的に出力される。すなわち第１タイミングＴＭｌで
は第４図（４）で示すように出力端子Ｑ４の出刃がハイ
レベルとなシ、第２、第３、第４の各タイミングＴＭ２
．ＴＭ３．ＴＭ４においては第４図＋１１ 、 第４図
（２）、第４図（３）で示すようにハイレベル毎号がそ
れぞれ導出される。
・Ｑ４からは、第４図で示すように１ハイレベル信号か
順法的に出力される。すなわち第１タイミングＴＭｌで
は第４図（４）で示すように出力端子Ｑ４の出刃がハイ
レベルとなシ、第２、第３、第４の各タイミングＴＭ２
．ＴＭ３．ＴＭ４においては第４図＋１１ 、 第４図
（２）、第４図（３）で示すようにハイレベル毎号がそ
れぞれ導出される。
このように第１タイミングＴＭＩでトランジスタ２２を
導通して比較器２の基準電圧を変化することにより、抵
抗８，９．１０の抵抗値を比較的大に選び、抵抗１１の
抵抗値を比軟的小に選ぶことができる。したがって抵抗
８，９．１０の抵抗値が小でるることによるサーミスタ
ｌの自己発熱で１抵抗１１の抵抗値が大であることによ
る誤動作が防止され、正確な温度検出を行なうことがで
きる。
導通して比較器２の基準電圧を変化することにより、抵
抗８，９．１０の抵抗値を比較的大に選び、抵抗１１の
抵抗値を比軟的小に選ぶことができる。したがって抵抗
８，９．１０の抵抗値が小でるることによるサーミスタ
ｌの自己発熱で１抵抗１１の抵抗値が大であることによ
る誤動作が防止され、正確な温度検出を行なうことがで
きる。
本発明の他の実施例として、サーミスタｌに代えて、熱
電対を用いてもよく、また湿度などを検出する高子を用
いてもよく、本発明は検出すべき状態に応じて抵抗値が
変化する検出素子ｆｔ用いる検出装置に関連して広く実
施されうる。
電対を用いてもよく、また湿度などを検出する高子を用
いてもよく、本発明は検出すべき状態に応じて抵抗値が
変化する検出素子ｆｔ用いる検出装置に関連して広く実
施されうる。
また、上述の実施例ではスイッチング手段としてトラン
ジスタ１２．ｔ３ｅ １４に用いたが他のスイッチング
手段全用いてもよく、さらに４以外の複数のタイミング
で比較器２の出力伯ｇを判定するようにしてもよい。
ジスタ１２．ｔ３ｅ １４に用いたが他のスイッチング
手段全用いてもよく、さらに４以外の複数のタイミング
で比較器２の出力伯ｇを判定するようにしてもよい。
上述のごとく本発明によれば、各スイッチング手段のス
イッチング態様が変化する各タイミングにおいて、レベ
ル弁別結果全判別するようにしたので、温度などを容易
に検出することができ、しかも各スイッチング手段が鍵
断しているタイミングにおいて前記レベル弁別結果を判
別することにより、極めて容易に検出素子の断ｍｔ検出
することができる。
イッチング態様が変化する各タイミングにおいて、レベ
ル弁別結果全判別するようにしたので、温度などを容易
に検出することができ、しかも各スイッチング手段が鍵
断しているタイミングにおいて前記レベル弁別結果を判
別することにより、極めて容易に検出素子の断ｍｔ検出
することができる。
第１図は本発明の一実施例の回―凶、第２図は動作を軌
間するためのタイミングチャート、第３図は本発明の他
の夾り例の（ロ）略図、ｗＩ４図は第３図の実施例の製
作を説明するためのタイミンクチヤードでるるＯ １・・・サーミスタ、２・・・比＊ｂｘ３−・・処理回
路、６〜１１．２１・・・分圧抵抗、１２〜ｔ４．２２
・・・トランジスタ、１８・・・接続点、２０・・・分
圧回路代理人 弁理士 西教圭一部
間するためのタイミングチャート、第３図は本発明の他
の夾り例の（ロ）略図、ｗＩ４図は第３図の実施例の製
作を説明するためのタイミンクチヤードでるるＯ １・・・サーミスタ、２・・・比＊ｂｘ３−・・処理回
路、６〜１１．２１・・・分圧抵抗、１２〜ｔ４．２２
・・・トランジスタ、１８・・・接続点、２０・・・分
圧回路代理人 弁理士 西教圭一部
Claims (1)
- 恢田されるべき状態に応じて抵抗値が変化する検出素子
と、複数の抵抗’ｔＩＬ列に接続して成る分圧回路とが
直列に接続され、前記分圧回路の抵抗値全没化すべく前
記分圧回路において順次異なる１ρｊ数の抵抗から成る
直列回路部分にはスイッチング手段が並夕１ｊにそれぞ
れ接続され、＝’ｌＩ記検出素子と分圧回路との接続点
における分圧電圧を弁別する手段〃・収けられ、ＮＵｋ
もスイッチング手段のスイッチング態様を順次的に切換
えるための匍号會出力するとともに前記レベル弁別結果
を判別する処九（←１−が設けられ、前記分圧回路にお
ける抵抗１鳳は、谷スイッチング手Ｒが過鰍［している
タイミングにおいてＭ’ｌｌ ｉ己検出素子の想足され
つる鰍大抵仇狐のときの前記分圧電圧よシも前記−厘し
ベ′ルカ・大となるように違はれることｔ％黴とする検
出ｋｔｔｔ。
Priority Applications (13)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210299A JPS58115371A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 検出装置 |
| US06/451,184 US4551009A (en) | 1981-12-21 | 1982-12-20 | Electrostatic copying apparatus |
| EP89101621A EP0321450B1 (en) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Electrostatic copying apparatus |
| DE8686102749T DE3280320D1 (de) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Elektrostatisches kopiergeraet. |
| DE8686102750T DE3280140D1 (de) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Elektrostatisches kopiergeraet. |
| EP82111857A EP0082531B1 (en) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Electrostatic copying apparatus |
| DE8282111857T DE3276915D1 (en) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Electrostatic copying apparatus |
| DE89101621T DE3280441T2 (de) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Elektrostatisches Kopiergerät. |
| EP86102750A EP0193915B2 (en) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Electrostatic copying apparatus |
| EP86102749A EP0193914B2 (en) | 1981-12-21 | 1982-12-21 | Electrostatic copying apparatus |
| US06/762,739 US4668075A (en) | 1981-12-21 | 1985-08-05 | Electrostatic copying apparatus |
| US06/762,738 US4642448A (en) | 1981-12-21 | 1985-08-05 | Electrostatic copying apparatus |
| US06/762,670 US4650347A (en) | 1981-12-21 | 1985-08-05 | Temperature detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210299A JPS58115371A (ja) | 1981-12-29 | 1981-12-29 | 検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58115371A true JPS58115371A (ja) | 1983-07-09 |
Family
ID=16587094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56210299A Pending JPS58115371A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-29 | 検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58115371A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02148113A (ja) * | 1988-11-29 | 1990-06-07 | Mita Ind Co Ltd | ヒータ制御装置およびその異常検出装置 |
| JPH04285831A (ja) * | 1991-03-15 | 1992-10-09 | Funai Electric Co Ltd | 加熱調理装置における測温回路 |
| CN113809418A (zh) * | 2020-12-22 | 2021-12-17 | 珠海迈巨微电子有限责任公司 | 电池管理芯片、系统及方法 |
-
1981
- 1981-12-29 JP JP56210299A patent/JPS58115371A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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