JPH0125331Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0125331Y2 JPH0125331Y2 JP1980169329U JP16932980U JPH0125331Y2 JP H0125331 Y2 JPH0125331 Y2 JP H0125331Y2 JP 1980169329 U JP1980169329 U JP 1980169329U JP 16932980 U JP16932980 U JP 16932980U JP H0125331 Y2 JPH0125331 Y2 JP H0125331Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- detected
- state
- photocoupler
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 101100464782 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CMP2 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100464779 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CNA1 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
本考案は、電気回路の状態変化を検出する検出
回路に関し、特に、ホトカプラを使用してブリツ
ジ回路によつて構成された状態変化検出回路に関
する。 従来、抵抗直の任意の限界値を越えた変化をホ
トカプラにより検出して３値の情報に変化し、且
つ被検出回路と絶縁された抵抗変化検出回路とし
て、第１図に示す如き回路が実用化されている。
第１図において、被検出回路の３状態、即ち、ス
イツチSWが“オフ”でスイツチSWの両端が
400Ωの抵抗にて終端されていて正常の場合、ス
イツチSWが“オン”している状態、及び被検出
回路のある部分が断線している状態をコンパレー
タCMP１，CMP２によつて検出し、それら２ビ
ツトの検出出力信号によつてホトカプラPC１，
PC２を作動せしめ、それら２ビツトのホトカプ
ラ出力に基づいて被検出回路の前記３状態を判断
していた。 しかしながら、第１図における従来回路ではコ
ンパレータに見られる如き活性素子を使用してい
るために、コスト高となるだけでなく、それらの
活性素子を保護する保護回路を必要とし、その構
成が複雑化する欠点があつた。 本考案は従来の上記欠点を解消する為になされ
たものであり、従つて本考案の目的は、活性素子
を用いたコンパレータ等を使用することなく被検
出回路の前記３状態を的確に検出できると共に、
極めて簡単にしかも廉価に構成できる新規な状態
変化検出回路を提供することにある。 本考案の上記目的は、抵抗ブリツジの一辺に被
検出回路としてスイツチと固定抵抗器の並列回路
を接続し、第１のホトカプラのダイオード側を前
記抵抗ブリツジの不平衡電圧検出回路に接続し、
第２ホトカプラのダイオード側を電源に対して前
記被検出回路と直列に接続し、前記第１のホトカ
プラの出力は前記被検出回路の状態変化に対応し
て“オン”、“オフ”し、前記第２のホトカプラの
出力は前記被検出回路が正常で電流が流れている
時には“オン”し且つ前記被検出回路が断線によ
り電流が流れなくなつた時に“オフ”となり、前
記被検出回路の状態変化に対応して被検出回路が
断線していなくてスイツチが“オン”の状態、被
検出回路が断線していなくてスイツチが“オフ”
の状態及び被検出回路が断線の３状態を検出する
状態変化検出回路、によつて達成される。 次に本考案をその良好な各実施例について図面
を参照しながら詳細に説明する。 第２図、第３図は本考案の基本構成を示す図で
ある。図において、参照符号PCAは第１のホトカ
プラ、PCBは第２のホトカプラ、RVは被検出回
路として用いられている可変抵抗器、R1〜R4は
抵抗器、E0は電源電圧を夫々示す。各要素はブ
リツジを形成している。第２図、第３図に示され
る如く、第１のホトカプラPCAはそのダイオード
側が抵抗ブリツジの不平衡電圧検出回路に抵抗器
R4と直列に接続されている。第２のホトカプラ
PCBは、第２図においては、そのダイオード側が
抵抗器R1と直列に接続され、第３図においては
そのダイオード側が被検出回路としての可変抵抗
器RVと直列に接続されている。 第４図は本考案の一実施例を示す構成図であ
る。本実施例は、被検出回路として抵抗器Ｒとス
イツチSWの並列回路を使用した場合の例であ
る。本実施例の動作は次の通りである。即ち、ス
イツチSWの“オン”、“オフ”及び被検出回路の
断線の状態変化によつて、点Ｐの電位が変化し、
それによつてホトカプラPCA，PCBの“オン”、
“オフ”状態が変化するから、点Ｐの電位の変化
に着目すればよい。動作状態を表にすれば第１表
に示すようになる。
回路に関し、特に、ホトカプラを使用してブリツ
ジ回路によつて構成された状態変化検出回路に関
する。 従来、抵抗直の任意の限界値を越えた変化をホ
トカプラにより検出して３値の情報に変化し、且
つ被検出回路と絶縁された抵抗変化検出回路とし
て、第１図に示す如き回路が実用化されている。
第１図において、被検出回路の３状態、即ち、ス
イツチSWが“オフ”でスイツチSWの両端が
400Ωの抵抗にて終端されていて正常の場合、ス
イツチSWが“オン”している状態、及び被検出
回路のある部分が断線している状態をコンパレー
タCMP１，CMP２によつて検出し、それら２ビ
ツトの検出出力信号によつてホトカプラPC１，
PC２を作動せしめ、それら２ビツトのホトカプ
ラ出力に基づいて被検出回路の前記３状態を判断
していた。 しかしながら、第１図における従来回路ではコ
ンパレータに見られる如き活性素子を使用してい
るために、コスト高となるだけでなく、それらの
活性素子を保護する保護回路を必要とし、その構
成が複雑化する欠点があつた。 本考案は従来の上記欠点を解消する為になされ
たものであり、従つて本考案の目的は、活性素子
を用いたコンパレータ等を使用することなく被検
出回路の前記３状態を的確に検出できると共に、
極めて簡単にしかも廉価に構成できる新規な状態
変化検出回路を提供することにある。 本考案の上記目的は、抵抗ブリツジの一辺に被
検出回路としてスイツチと固定抵抗器の並列回路
を接続し、第１のホトカプラのダイオード側を前
記抵抗ブリツジの不平衡電圧検出回路に接続し、
第２ホトカプラのダイオード側を電源に対して前
記被検出回路と直列に接続し、前記第１のホトカ
プラの出力は前記被検出回路の状態変化に対応し
て“オン”、“オフ”し、前記第２のホトカプラの
出力は前記被検出回路が正常で電流が流れている
時には“オン”し且つ前記被検出回路が断線によ
り電流が流れなくなつた時に“オフ”となり、前
記被検出回路の状態変化に対応して被検出回路が
断線していなくてスイツチが“オン”の状態、被
検出回路が断線していなくてスイツチが“オフ”
の状態及び被検出回路が断線の３状態を検出する
状態変化検出回路、によつて達成される。 次に本考案をその良好な各実施例について図面
を参照しながら詳細に説明する。 第２図、第３図は本考案の基本構成を示す図で
ある。図において、参照符号PCAは第１のホトカ
プラ、PCBは第２のホトカプラ、RVは被検出回
路として用いられている可変抵抗器、R1〜R4は
抵抗器、E0は電源電圧を夫々示す。各要素はブ
リツジを形成している。第２図、第３図に示され
る如く、第１のホトカプラPCAはそのダイオード
側が抵抗ブリツジの不平衡電圧検出回路に抵抗器
R4と直列に接続されている。第２のホトカプラ
PCBは、第２図においては、そのダイオード側が
抵抗器R1と直列に接続され、第３図においては
そのダイオード側が被検出回路としての可変抵抗
器RVと直列に接続されている。 第４図は本考案の一実施例を示す構成図であ
る。本実施例は、被検出回路として抵抗器Ｒとス
イツチSWの並列回路を使用した場合の例であ
る。本実施例の動作は次の通りである。即ち、ス
イツチSWの“オン”、“オフ”及び被検出回路の
断線の状態変化によつて、点Ｐの電位が変化し、
それによつてホトカプラPCA，PCBの“オン”、
“オフ”状態が変化するから、点Ｐの電位の変化
に着目すればよい。動作状態を表にすれば第１表
に示すようになる。
【表】
従つて、ホトカプラPCA，PCBの出力状態を何
らかの方法によつて、監視していれば、スイツチ
SWの３つの状態、即ち、被検出回路の３つの状
態に対応して変化する２ビツトのデイジタル信号
が得られ、それによつて、被検出回路の３つの状
態の判別を行うことが可能となる。 第５図は本考案の第２の実施例を示す回路構成
図である。本実施例は、被検出回路として可変抵
抗器RVを使用した場合の例である。即ち、可変
抵抗器RVの抵抗値の変化、及び被検出回路の断
線の状態変化によつて、点Ｐの電位が変化し、そ
れに従つてホトカプラPCA，PCBの“オン”、“オ
フ”状態が変化するから、第４図の場合と同様
に、点Ｐの電位の変化に着目することができる。
その動作状態を表にすれば第２表の通りである。
らかの方法によつて、監視していれば、スイツチ
SWの３つの状態、即ち、被検出回路の３つの状
態に対応して変化する２ビツトのデイジタル信号
が得られ、それによつて、被検出回路の３つの状
態の判別を行うことが可能となる。 第５図は本考案の第２の実施例を示す回路構成
図である。本実施例は、被検出回路として可変抵
抗器RVを使用した場合の例である。即ち、可変
抵抗器RVの抵抗値の変化、及び被検出回路の断
線の状態変化によつて、点Ｐの電位が変化し、そ
れに従つてホトカプラPCA，PCBの“オン”、“オ
フ”状態が変化するから、第４図の場合と同様
に、点Ｐの電位の変化に着目することができる。
その動作状態を表にすれば第２表の通りである。
【表】
従つて、ホトカプラPCA，PCBの出力状態を何
らかの方法によつて監視することにより、被検出
回路の前記３つの状態に対応して変化する２ビツ
トのデイジタル信号が出力され、それによつて、
被検出回路の３状態の判別を行うことができる。 前記の被検出回路として、実用上、サーミス
タ、圧力センサ等に置換することができるから、
温度、圧力等の検出装置に本考案を適用すれば、
その検出装置が正常に運用されているのか、又は
異常状態にあるのか、或いは障害が発生している
のかを例えばコンピユータ等によりホトカプラに
よる前記２ビツトの信号を常時監視し、検出する
ことにより、容易に判断することができる。 以上説明した様に、本考案によれば、活性素子
を用いたコンパレータ等を使用しないで、被検出
回路の前記３つの状態を的確に検出、判断するこ
とができる状態変化検出回路を極めて簡単に、し
かも廉価に構成できる効果が生ずる。
らかの方法によつて監視することにより、被検出
回路の前記３つの状態に対応して変化する２ビツ
トのデイジタル信号が出力され、それによつて、
被検出回路の３状態の判別を行うことができる。 前記の被検出回路として、実用上、サーミス
タ、圧力センサ等に置換することができるから、
温度、圧力等の検出装置に本考案を適用すれば、
その検出装置が正常に運用されているのか、又は
異常状態にあるのか、或いは障害が発生している
のかを例えばコンピユータ等によりホトカプラに
よる前記２ビツトの信号を常時監視し、検出する
ことにより、容易に判断することができる。 以上説明した様に、本考案によれば、活性素子
を用いたコンパレータ等を使用しないで、被検出
回路の前記３つの状態を的確に検出、判断するこ
とができる状態変化検出回路を極めて簡単に、し
かも廉価に構成できる効果が生ずる。
第１図は従来における状態変化検出回路の構成
図、第２図、第３図は本考案に係る状態変化検出
回路の基本構成を示す図、第４図は本考案の一実
施例を示す回路構成図、第５図は本考案の他の実
施例を示す回路構成図である。 CMP１，CMP２……コンパレータ、PC１，
PC２，PCA，PCB……ホトカプラ。
図、第２図、第３図は本考案に係る状態変化検出
回路の基本構成を示す図、第４図は本考案の一実
施例を示す回路構成図、第５図は本考案の他の実
施例を示す回路構成図である。 CMP１，CMP２……コンパレータ、PC１，
PC２，PCA，PCB……ホトカプラ。
Claims (1)
- 抵抗値の任意の限界値を超えた変化をホトカプ
ラにより検出して３値の情報に変換し且つ被検出
回路と絶縁する回路において、抵抗ブリツジの一
辺に被検出回路としてスイツチと固定抵抗器の並
列回路を接続し、第１のホトカプラのダイオード
側を前記抵抗ブリツジの不平衡電圧検出回路に接
続し、第２のホトカプラのダイオード側を電源に
対して前記被検出回路と直列に接続し、前記第１
のホトカプラの出力は前記被検出回路の状態変化
に対応して“オン”、“オフ”し、前記第２のホト
カプラの出力は前記被検出回路が正常で電流が流
れている時には“オン”し且つ前記被検出回路が
断線により電流が流れなくなつた時に“オフ”と
なり、前記被検出回路の状態変化に対応して被検
出回路が断線していなくてスイツチが開の状態、
被検出回路が断線していなくてスイツチが閉の状
態及び被検出回路が断線の３状態を検出すること
を特徴とした状態変化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980169329U JPH0125331Y2 (ja) | 1980-11-26 | 1980-11-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980169329U JPH0125331Y2 (ja) | 1980-11-26 | 1980-11-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5792174U JPS5792174U (ja) | 1982-06-07 |
| JPH0125331Y2 true JPH0125331Y2 (ja) | 1989-07-28 |
Family
ID=29527852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980169329U Expired JPH0125331Y2 (ja) | 1980-11-26 | 1980-11-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0125331Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55103568U (ja) * | 1979-01-12 | 1980-07-19 |
-
1980
- 1980-11-26 JP JP1980169329U patent/JPH0125331Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5792174U (ja) | 1982-06-07 |
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