JPS5810696B2 - 放電型ひび割れ検出回路 - Google Patents
放電型ひび割れ検出回路Info
- Publication number
- JPS5810696B2 JPS5810696B2 JP3157275A JP3157275A JPS5810696B2 JP S5810696 B2 JPS5810696 B2 JP S5810696B2 JP 3157275 A JP3157275 A JP 3157275A JP 3157275 A JP3157275 A JP 3157275A JP S5810696 B2 JPS5810696 B2 JP S5810696B2
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- Japan
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- circuit
- detection circuit
- electrodes
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、タイル等の絶縁体のひび割れを検出するた
めの放電型ひび割れ検出回路に関する。
めの放電型ひび割れ検出回路に関する。
この放電型ひび割れ検出回路は、タイル、プラスチック
板等の絶縁体を電極ではさみ、この電極に高電圧を印加
し、前記の絶縁体にピン・ホールあるいはひび割れ等の
欠陥があった場合に、前記電極間で火花放電を起すこと
により欠陥を検出するものである。
板等の絶縁体を電極ではさみ、この電極に高電圧を印加
し、前記の絶縁体にピン・ホールあるいはひび割れ等の
欠陥があった場合に、前記電極間で火花放電を起すこと
により欠陥を検出するものである。
ところで、絶縁体に高電圧を印加した場合、電圧がある
程度高圧になると火花放電以前にコロナ放電がおこる。
程度高圧になると火花放電以前にコロナ放電がおこる。
このコロナ放電は火花放電に比べ電流は少ないがひび割
れ等の欠陥の無い部分でもおこる。
れ等の欠陥の無い部分でもおこる。
さらに、電極に高電圧を供給するためのケーブルの途中
でも同様のコロナ放電が起こる可能性があり、かつ、電
源供給ラインによるもれ抵抗によるもれ電流が流れる恐
れがある。
でも同様のコロナ放電が起こる可能性があり、かつ、電
源供給ラインによるもれ抵抗によるもれ電流が流れる恐
れがある。
したがって、これらの雑音成分と火花放電の信号成分と
を区別する必要がある。
を区別する必要がある。
さらに、高電圧側において生じた信号を処理する回路と
の間で絶縁分離する必要性がある。
の間で絶縁分離する必要性がある。
したがって、この発明はノイズ対策と、絶縁分離とを同
時に達成し、信頼性の高い放電型ひび割れ検出回路を提
供することを目的とする。
時に達成し、信頼性の高い放電型ひび割れ検出回路を提
供することを目的とする。
この発明による放電型ひび割れ検出回路は被検出物をは
さんで配置された電極と、この電極に高電圧を印加する
電源と、前記電極に流れる電流を流すために直列接続さ
れた非直線素子と発光素子との直列回路と、この発光素
子の発光に応じて動作するよう光結合された受光回路と
を有し、前記非直線素子により検出電流が所定以上にな
った場合、前記発光素子を動作させるようにしたことを
特徴とする。
さんで配置された電極と、この電極に高電圧を印加する
電源と、前記電極に流れる電流を流すために直列接続さ
れた非直線素子と発光素子との直列回路と、この発光素
子の発光に応じて動作するよう光結合された受光回路と
を有し、前記非直線素子により検出電流が所定以上にな
った場合、前記発光素子を動作させるようにしたことを
特徴とする。
この発明によれば、被検出物にひび割れがある場合にの
み、火花放電により発光素子が動作し、雑音によって発
光素子が動作することなく、受光回路によりひび割れの
有無を正しく検出することができる。
み、火花放電により発光素子が動作し、雑音によって発
光素子が動作することなく、受光回路によりひび割れの
有無を正しく検出することができる。
以下、この発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第1図は実施例の回路を示すブロック図で、この図にお
いてタイル・プラスティック板等の絶縁体の被検出物1
が、電極2,3ではさまれるようにして配置されている
。
いてタイル・プラスティック板等の絶縁体の被検出物1
が、電極2,3ではさまれるようにして配置されている
。
この電極2,3には所定のきわめて高い電圧を供給する
電源4が接続されている。
電源4が接続されている。
負側の電源供給ラインに電流を検出する回路5が直列接
続されている。
続されている。
この回路5において、ツェナーダイオード7と発光ダイ
オード8などの発光素子が直列接続され、この2つの素
子の直列回路に並列に抵抗6が接続されている。
オード8などの発光素子が直列接続され、この2つの素
子の直列回路に並列に抵抗6が接続されている。
前記の電極2,3間に流れる電流は抵抗6とツェナーダ
イオード7および発光ダイオード8の直列回路とを並列
に流れる。
イオード7および発光ダイオード8の直列回路とを並列
に流れる。
この発光ダイオードと光結合するようにフォト・トラン
ジスタ9などの受光素子が配置されている。
ジスタ9などの受光素子が配置されている。
このフォト・トランジスタ9は正の直流電源から抵抗1
0を介して電力が供給されており、そのコレクタ端子か
ら出力が生じるようになっている。
0を介して電力が供給されており、そのコレクタ端子か
ら出力が生じるようになっている。
この出力は増幅器および波形整形回路等を含む制御回路
(図示しない)に送られ、制御信号として機能する。
(図示しない)に送られ、制御信号として機能する。
さて、ここで、火花放電による電流は約100mA程度
流れ、コロナ放電による電流は数10mA程度である。
流れ、コロナ放電による電流は数10mA程度である。
したがって、火花放電によるものと他の信号(ノイズ)
等を区別するため回路の各定数を定める。
等を区別するため回路の各定数を定める。
ここで信号成分(火花放電による信号)の電流を■1と
し、雑音成分(コロナ放電などによるもの)の電流を■
2とする。
し、雑音成分(コロナ放電などによるもの)の電流を■
2とする。
発光ダイオード8のスレッシュホールド電流をIDとし
、ここのIDを前記■1と■2の中間に設定しておけば
、火花放電による信号(信号成分)のみが、発光ダイオ
ード8を動作させることになり、雑音成分では動作しな
い。
、ここのIDを前記■1と■2の中間に設定しておけば
、火花放電による信号(信号成分)のみが、発光ダイオ
ード8を動作させることになり、雑音成分では動作しな
い。
したがって、たとえば、と設定すると、この場合には抵
抗6の値Rは■D:発光ダイオード8とツェナーダイオ
ード7との直列回路のスレッシュホールド電圧となるよ
うに設定しておくとよい。
抗6の値Rは■D:発光ダイオード8とツェナーダイオ
ード7との直列回路のスレッシュホールド電圧となるよ
うに設定しておくとよい。
さらに前記のツェナーダイオード7を所定のスイッチン
グ特性を有するスイッチングダイオード等のスイッチン
グ素子におきかえれば更に安定に火花放電による電流の
みが発光ダイオード8を動作させるようにできる。
グ特性を有するスイッチングダイオード等のスイッチン
グ素子におきかえれば更に安定に火花放電による電流の
みが発光ダイオード8を動作させるようにできる。
この第1図の高電圧電源4がパルス・トランスによるも
のの場合には火花放電による電流は正のパルスと負のパ
ルスが生じる。
のの場合には火花放電による電流は正のパルスと負のパ
ルスが生じる。
したがってこの正および負のパルスの検出するため、第
2図のようにして電流検出回路21を構成する。
2図のようにして電流検出回路21を構成する。
すなわち、抵抗6の両端にツェナーダイオード11と、
ダイオード13と、発光ダイオード15とを直列接続し
た直列回路と、ツェナダイオード12と、ダイオード1
4と、発光ダイオード16とを直列接続した直列回路、
この2つの直列回路を並列に接続する。
ダイオード13と、発光ダイオード15とを直列接続し
た直列回路と、ツェナダイオード12と、ダイオード1
4と、発光ダイオード16とを直列接続した直列回路、
この2つの直列回路を並列に接続する。
この各ツェナーダイオード、ダイオード、発光ダイオー
ドは各直列回路において、逆極性に接続されている。
ドは各直列回路において、逆極性に接続されている。
したがって、正のパルスが到来した時には、例えは一方
の発光ダイオード15が発光し、負のパルスが到来した
時には他方の発光ダイオード16が発光する。
の発光ダイオード15が発光し、負のパルスが到来した
時には他方の発光ダイオード16が発光する。
こうして、正負両方のパルスを検出することができる。
この両全光ダイオード15.16はそれぞれフォトトラ
ンジスタ17.18に光結合している。
ンジスタ17.18に光結合している。
以上実施例に従って説明してきたが、この発明は上記の
実施例にのみ限定されるものではないことはもちろんで
ある。
実施例にのみ限定されるものではないことはもちろんで
ある。
第1図はこの発明の一実施例を示すブ1ツク図第2図は
第1図の電流検出回路の他の実施例を示す回路図である
。 1・・・・・・被検出物、2,3・・・・・・電極、4
・・・・・・高圧電源、5,21・・・・・・電流検出
回路、6,10・・・・・・抵抗、7,11.12・・
・・・・ツェナー・ダイオード、13.14・・・・・
・ダイオード、8,15.16・・・・・・発光ダイオ
ード、9,17.19・・・・・・フォト・トランジス
タ。
第1図の電流検出回路の他の実施例を示す回路図である
。 1・・・・・・被検出物、2,3・・・・・・電極、4
・・・・・・高圧電源、5,21・・・・・・電流検出
回路、6,10・・・・・・抵抗、7,11.12・・
・・・・ツェナー・ダイオード、13.14・・・・・
・ダイオード、8,15.16・・・・・・発光ダイオ
ード、9,17.19・・・・・・フォト・トランジス
タ。
Claims (1)
- 1 被検出物をはさんで配置される電極と、この電極に
高電圧を印加する電源と、前記電極に流れる電流を流す
ために直列接続された非直線素子と発光素子との直列回
路と、前記直列回路に並列に接続される抵抗と、前記発
光素子の発光に応じて動作するよう光結合された受光回
路とを有し、前記非直線素子により検出電流が所定以上
になった場合、前記発光素子を動作させるようにした放
電型ひび割れ検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3157275A JPS5810696B2 (ja) | 1975-03-14 | 1975-03-14 | 放電型ひび割れ検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3157275A JPS5810696B2 (ja) | 1975-03-14 | 1975-03-14 | 放電型ひび割れ検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS51106486A JPS51106486A (en) | 1976-09-21 |
JPS5810696B2 true JPS5810696B2 (ja) | 1983-02-26 |
Family
ID=12334877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3157275A Expired JPS5810696B2 (ja) | 1975-03-14 | 1975-03-14 | 放電型ひび割れ検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5810696B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6289988U (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-09 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2743532B2 (ja) * | 1989-11-17 | 1998-04-22 | 東洋製罐株式会社 | 有機被膜層の欠陥検査方法 |
-
1975
- 1975-03-14 JP JP3157275A patent/JPS5810696B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6289988U (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-09 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS51106486A (en) | 1976-09-21 |
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