KR870005238A - 광학적 물체검지장치 - Google Patents

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KR870005238A
KR870005238A KR860009945A KR860009945A KR870005238A KR 870005238 A KR870005238 A KR 870005238A KR 860009945 A KR860009945 A KR 860009945A KR 860009945 A KR860009945 A KR 860009945A KR 870005238 A KR870005238 A KR 870005238A
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와타루 하야카와
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가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼
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Abstract

내용 없음

Description

광학적 물체검지장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a, 1b도는 본원 발명의 가장 간단한 실시예를 나타낸 회로도.
제1c도는, 전기제어수단의 예를 설명하는 도면.
제2도는, 제1b도의 실시예의 일례를 나타낸 도면.
제3a, 3b도는 광학적 능동소자와 저항과의 병렬회로를 광원과 직렬로 접속한 실시예의 회로도.
제4a, 4b도는 발광다이오드(LED)의 부하에 정전압소자와 광학적 능동소자와의 병렬회로를 사용한 실시예를 나타낸 도면.
제5a, 5b도는 수광소자가 가변임피던스를 제어하는 실시예의 회로도.
제6a도 내지 제6c도는 가변임피던스의 예를 나타낸 도면.
제7도는 본원 발명의 일실시예에 의한 광학적 물체검치장치의 사시도.
제8a, 8b도는 제7도의 회로도.
제9도는 제8a, 제8b도의 회로의 동작설명을 위해 회로중의 여러 장소에서의 전류 및 전압파형도.
제10도는 본원 발명의 다른 실시예를 나타낸 회로도.
제11도는 본원 발명의 또 다른 실시예의 구성도.
제12도는 종래의 광학적 물체검지장치의 사시도.
제13도는 제12도의 장치의 회로도.

Claims (20)

  1. 제1기준전압으로 유지되는데 적합한 제1의 단자와, 부하를 통해 제2기준전압으로 유지되는데 적합한 제2의 단자와, 상기 제1 및 제2의 단자간에 접속된 발광회로에서 전기적 여기(勵起)에 의해 빛을 발하는 광원과, 가변임피던스의 부하에 의하여 광원을 여기하는 전류를 변화시키기 위한 가변임피던스수단과의 직렬접속을 포함하며, 상기 광원에서 발하여지며, 광로를 통과한 빛을 수광하기 위한 수광회로에서 상기 가변임피던스의 여기전류를 제어하기위한 출력을 발생하는 수광회로를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 가변임피던스수단은 포토센시티브 레지스터를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 가변임피던스수단은 제1전류로와 제2전류로와의 병렬접속을 포함하며, 상기 제2전류로는 인가된 바이어스에 의해 가변임피던스를 변화시키는 능동소자를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1전류로는 정전압소자 또는 저항을 포함하는 광학적 물체검지장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제1전류로는 양단 전압이 소정전압이상으로 되었을때 급격히 전류를 증대시키는 정전압소자를 포함하며, 상기 제2전류로는 상기 수광회로로부터의 출력을 받아, 능동소자가 구동될 때 임피던스로 되어 그 단자전압이 상기 소정전압 이하로 되는 3단자 능동소자를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 정전압소자는 최소한 하나이상의 다이오드를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 정전압소자는 최소한 하나이상의 제너다이오드인 광학적 물체검지장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 3단자 능동소자는 최소한 하나이상의 바이폴라접합트랜지스터인 광학적 물체검지장치.
  9. 제5항에 있어서, 상기 3단자 능동소자는 최소한 하나이상의 전계효과트랜지스터인 광학적 물체검지장치.
  10. 제5항에 있어서, 상기 수광회로는 상기 3단자 능동소자의 제어단자와 상기 제1 또는 제2의 단자의 어느 하나의 사이에 접속되는 광학적 물체검지장치.
  11. 한쌍의 전원단자와, 상기 한쌍의 전원단자간에 접속된 발광부와 바이어스부와의 직렬접속과, 상기 발광부는 전류와 함께 발광량이 증대하는 발광소자를 포함하며, 상기 발광소자를 통과한 전압강하는 전류에 관계없이 거의 불변이며, 상기 바이어스부는 통과전류가 소정레벨이상일 때 소정레벨 이상의 전압강하를 발생하게 하는 것이며, 능동소자를 포함하고, 상기 바이어스부를 바이패스하는 단락로와, 상기 발광소자로부터의 빛을 수광하는 수광소자를 포함하며, 출력전류를 상기 단락로에 공급하는 수광부를 포함하며, 상기에 의해 발광소자로부터의 빛이 수광소자에 수광되면 단락로의 상기 능동소자가 더욱 도전력이 있게 되어, 이것에 의해 상기 발광소자의 발광량이 증대하고, 정귀환에 의해 상기 능동소자가 충분히 턴온하며, 상기 발광소자로부터의 빛이 차단되어 상기 수광소자에 수광되지 않으면 상기 능동소자가 턴오프하여 상기 발광부를 통과하는 전류는 상기 바이어스부를 통과하는 광학적 물체검지장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 바이어스부가 정전압회로인 광학적 물체검지장치.
  13. 제12항에 있어서, 상기 정전압회로는 제너다이오드를 포함하는 광학적 물체검지장치.
  14. 제12항에 있어서, 상기 정전압회로는 복수의 다이오드의 직렬접속을 포함하는 광학적 물체검지장치.
  15. 제11항에 있어서, 상기 바이어스부, 상기 단락부, 상기 수광부가 단일기판상에 집적되어 있는 광학적 물체검지장치.
  16. 주전류를 통과시키기 위한 두 전극을 가지며, 통과전류레벨과 함께 발광량을 증대시키는 발광소자와, 주전류를 통과시키기 위한 두 단자를 가지며, 그 두 단자중의 하나가 상기 두 전극중의 하나에 접속되고, 제어신호에 따라 변화하는 임피던스를 나타내기 위한 가변 임피던스 수단으로 이루어지는 전자부품.
  17. 제16항에 있어서, 상기 제어신호가 광신호이며, 상기 가변임피던스수단이 포토센시티브소자로 이루어진 전자부품.
  18. 제16항에 있어서, 상기 제어신호가 외부로부터 인가되는 전기신호이며, 상기 가변임피던스수단이 상기 제어신호를 받는데 적합한 제어단자를 포함하는 전자부품.
  19. 제18항에 있어서, 상기 가변임피던스수단이 한쌍의 전류단자와 상기 제어단자를 포함하는 능동회로와 한쌍의 전류단자를 갖는 부하임피던스와의 병렬접속을 포함하는 전자부품.
  20. 제19항에 있어서, 상기 부하임피던스가 정전압 특성을 갖는 전자부품.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860009945A 1985-11-27 1986-11-25 광학적 물체검지장치 KR900001583B1 (ko)

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