KR840002351Y1 - 회로 접속 검사회로 - Google Patents

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KR840002351Y1
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박천용
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삼성전자공업주식회사
강진구
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G01R31/2812—Checking for open circuits or shorts, e.g. solder bridges; Testing conductivity, resistivity or impedance
    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음.

Description

회로 접속 검사회로
첨부된 도면은 본 고안의 회로도이다.
본 고안은 단자의 접속여부와 단자선의 도중 연결 상태를 체크하는 회로에 관한 것이다.
일반적으로 앰프 같은 경우 프리 앰프(pre Amp) 메인 앰프(main Amp) 스피커 등으로 복잡하게 연결 구성되어 있기 때문에 각부의 접속이 완전치 못하여 접속이 안된 부분을 찾고자 함에 있어서는 단자 하나 하나를 모두 검사해 보아야만 하는 등 많은 불편한 점이 있었다.
본 고안은 이러한 불편을 해소시키고자 단자간의 임피이던스를 OP. Amp(operational smplfier)의 비반전단(non rnverter port)의 입력임피이던스(Impedance)로 이용하여 단자간의 접속여부를 LED(Lignt Emitting diode)로 표시될 수 있도록 고안된 것으로 이를 상세히 설명하면 다음과 같다.
첨부된 도면과 같이 OP. Amp와 LED를 두어 전원(+B)이 OP. Amp의 반전단(Invert port)과 비반전단에 동일하게 저항(R1)(R2)을 통하여 입력되도록 하는 한편, LED의 애노오드(anode) 측에 인가시키고, 반전단의 저항(R1)(R2) 사이에 전원(+B)을 분압하여 기준전압(v2)이 설정되도록 저항(R3)을 접지시키며, OP. Amp의 출력단과 LFD의 캐소오드(Catnode)측 사이에 스위칭용 트랜지스터(TR)를 두되 OP. Amp의 출력단에서 역방향 전류흐름을 방지하기 위한 다이오드(D)를 거쳐 저항(R4)를 접지시키는 한편, 저항(R5)를 거쳐 베이스에 연결하며, 콜렉터에는 저항(R6)를 거쳐 LED의 캐소오드축에 연결시키고 에미터는 접지시켜서 된 것으로 단자의 접속여부를 검사하기 위한 접속단자간의 임피이던스는 OP. Amp의 비반전단에 연결되는 저항(R1)(R2)의 접속점에 연결되어 입력 임피이던스로 이용된다.
이와 같이 구성된 본 고안의 동작상태를 설명하면 정상적인 상태 즉, 단자가 접속되어 있을 때, 테스트 하기 위한 단자간 저항을 Rx라 하면 Rx<<R3이므로 반전단에 걸리는 전압(v2)이 비반전단에 걸리는 전압(v1)보다 커서 OP. AmP의 출력은 -(negatiive)로 된다. 이때, 트랜지스터(TR)의 베이스 전위는 -가 되어 트랜지스터(TR)를 OFF 시키므로 LED는 점등되지 않으나, 단자가 접속되지 않았을 경우에는 단자간 저항(Rx)이 ∞가 되는 관계로 Rx>>R3, 따라서 OP Amp의 비반전단에 걸리는 전압(v1)은 B+ 전압이 걸리게되어 반전단의 전압(v2)보다 높기 때문에 OP. Amp의 출력은 +(positrve)로 된다. 이때, 트랜지스터(TR)는 ON 되어서 B+ 전원 전류는 LED를 거쳐 저항(R6) 및 트랜지스터(TP)의 콜렉터와 에미터로 흐르므로 LED가 점등되는 것이다.
이상과 같은 본 고안에 있어서는 단자가 접속되는 도중에 열결선이 개방되었을 때에는 LED가 점등되기 때문에 앰프등 복잡한 구성으로 결합되는 기기에 있어서 결합되는 단자간의 접속에 이상이 발생했을 경우에 각 구성부분마다 접속여부를 검사할 필요가 없이 접속이상이 생긴 부위를 외부에 나타내므로 사용자로 하여금 손쉽게 각부 접속여부를 검사할 수 있게되는 유익한 특징을 지닌 것이다.

Claims (1)

  1. 비교기로서의 통상의 OP Amp를 두고, 그 입력단에는 전원(B+)으로 부터 저항(R1), (R2)을 동일하게 연결하되, 반전단(-)의 저항(R1, R2) 접속점(V2)에는 저항(R3)을 두어 접지시키고, 비반전단(+)의 저항(R1, R2) 접속된(V1)에는 시험단자의 임피이던스가 주어지도록하며, 상기 OP Amp의 출력단에는 다이오드(D)와 저항(R4, R5)을 거쳐 트랜지스터(TR)의 베이스에 연결하고, 에미터를 접지시키며, 콜렉터에는 저항(R6)을 거쳐 전원(B+)사이에 LED를 연결하여서 된 회로 접속 검사회로.
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