JPS58106435A - リ−クテスト装置及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はリークテスト装置、特に動的平衡リークテスト
を電子的に実施する方法及び装置に関するものであシ、
部品にテスト媒体が所定圧で充填、排出もしくは包囲さ
れある時間間隔にわたるその圧力すなわち真空度の変化
を基準圧と比較して測定する。実際のテストシーケンス
は被試験部品を空気や他のテスト媒体で充填、排出もし
くは包囲して所定テスト圧もしくは真空度とし、テスト
部品をテスト媒体源から切シ離したシ遮断することによ
シシステム自体が′°平衡°゛する短い時間を与え、大
気圧の変化、給気システムの変動、断熱、弁動作効果等
の寄生効果を解消し次に平衡時間後は真空度の読取シ等
の各テストに対して同じではなく、各テストごとに変化
してテスト装置内の実際の状態を反映するため゛ライプ
ゼロ１１　と呼ばれる。

所定テスト期間の終りに差圧が再び測定される。

６ 差圧読取りはテスト部品において圧力源に対して行われ
る。

テスト期間の初めと終シの差圧の差は１圧力変化１を構
成し、それはテスト部品のリークの測定値である。リー
クは欠陥のあるケーシングや機械、不適当な材料もしく
は同様な問題を示し、このようなリークが許容限界以上
である場合は部品を不合格とすることができる。

許容リーク量は経験及び部品が満足すべき要求に基いて
メーカが標準設定する。実験、仮設定標準に基ずく動作
、現場報告書の分析等をこのような標準の設定に先行さ
せることができる。

本出願の瞼受入は米国特許第３，２４８，９３１号及び
第３，３８７，６１９号に記載された空気圧装置を使用
してｍｇのために長年動的平衡リークテストを実施して
おシ、これらの装置の従来装置に対する利点が前記特許
の明細書に記載されておシ参照としてここに示す。

このような装置は現在得られるものの中では最も優れて
はいるが、このような装置で得られる最高感度は水０．
２５４ｍｍ　（０，０１インチ）である。

このような感度でもこのような装置は満足であ多数多く
のテストについて良好に作動するが、一層迅速且つ高感
度のリークテスト装置に対する要求が明らかになるにつ
れ出願人は一層迅速且つ高感度のリークテスト装置の必
要性に直面するに到った。

空気圧装置を一層高感度とするためのいくつかの試みが
なされたが、内部で使用する部品の体積と容積によシ感
度を著しく高める可能性は非常に小さく、出願人は電子
技術の発展と共に益々実用的になってきている電子的方
法をリークテストに使用して良好な感度上寿る試みを行
おうと決定した。

電子的装置を提供しようとする出願人の最初の試みは前
記リークテスト装置の空気回路ｋｉｔ子アナログ回路で
模似することであった。しかしながらドリフトの無い回
路が望ましいため、デジタルベースで計算を行うことが
望ましがった。そのため計舞器集積回路チップを使用し
てデジタル計算及び比較が行われた。しかし々から所望
の計算器集積回路チップを装置の他の部品とインターフ
ェイスさせるという大きな問題にじきに遭遇したためこ
の試みは成功しなかった。

これと同じ項電子分野ではマイクロプロセッサ及びマイ
クロプロセッサを使用したマイクロコンピュータの利点
が知られるようになっていた。これを知って出願人は満
足々リークテスト装置を得る試みにマイクロコンピュー
タを試用することを決心した。前記問題を考慮した時動
的平衡リークテスト装置にマイクロコンピュータシステ
ムを使用すれば最も満足が得られるものと思われた。多
くの努力の後この方法が正しいことが判シ出願人はここ
に開示及び特許請求する装置に到達した。

この方法をとることによシ出願人は後記するように現在
の電子リークテスト装置の感度問題の多くを低減もしく
は解消した。

今日の技術の典型的電子リークテスト装置ではテストを
実施する圧力が増大するにつれ絶対感度が低下する。動
的平衡リークテストを使用しない現在得られる一つの電
子テスト装置には通常２個のメータがあシ、一つは０％
から１００チまで５０の目盛付けが行われたチ圧カ計で
あり、１００％の読取りはテストを実施する圧力よシも
高いトランスジューサの全目盛圧に等しい。第２のメー
タは圧力変化全示しそれはゼロ中心目盛であシ左側に−
１，０から０までの２０個の目盛シがあシ右側にＯから
＋１．０までの２０個の目盛シがある。

この入手可能なテスト装置は全目盛の０．１％から１０
％までの感度選定を有し、最も鋭敏な感度範囲を使用し
た場合、例えば１００％圧（テスト圧）が１．４０　ｋ
ｇ／ｃｒｒＬ”　（２０ボンド／平方インチ）ゲージで
ある場合には感度は１．４０ｋｇ／α２（２０ポンド／
平方インチ）×感度（，１襲＝、０Ｃ１）÷圧力変化目
盛（２０）の半分の目盛数となる。

こうして読取可能な最小変化は（２０Ｘ、００１）／２
０＝［］、００１　ｐ、ｓ、１．（０，００００７ｋｇ
／ＣｒｆＬ２）となりこれは水０．７６２ｍｍ　（０，
０３インチ）に等しい。

ｏ、ｏ　ｏ　ｉ倍し２０で除した１００％圧読取りで９ ある７　ｋＩＩ／ｃｍ２（１００ｐ、ｅ、ｘ、　）でテ
ストを行う等しい。動的平衡を使用することにより出願
人は絶対感度のこの変化を解消した。

さらにアナログ電気信号を前例の実際の２０．０００の
アナログ部に分割する場合には、電気的ノイズが重要な
問題となる小さな信号が生じる。使用すゐトランスジュ
ーサが１０Ｖアナログ信号を出しそれがｏ、ｓｍｖの２
　［１，０００のアナログ部に分割される場合には、各
アナログ部を通常遭遇する大概の電気的ノイズよシも小
さな値となり読取シの精度が低下する。

今日の電子リークテスト方法のもう一つの欠点は異なる
テスト圧に対して異なるトランスジューサに変える必要
があることである。典型的に１．４に９／ｃｒＩＬ２（
２０ｐ、ｓ、ｉ、）　テテストｆ　ル場合に−ｔｄ、、
定格１．４　ｋｇ／ｃＩＩＬ”　（２０ｐ、ｅ、１．’
）の圧カドランスジューサを使用して可能な最高感度を
得る。（すなわち通常１．４　ｋｇ／　ｃｒｎ２（２０
ｐ、ｓ、ｉ、）　テｉｔ、　７　ｋｇ／０ ｃｍ２（１０１］　ｐ、ｅ、１．）　）　９　ン／（ジ
ュー？ｔ［用りない。）しかしながら装置を多くの異な
る圧力において多くの異なるテストに使用する場合、最
高感度を維持するにはトランスジューサを頻繁に変える
必要がある。

出願人が良好な装置を探求して気付いたもう一つの問題
は、前記したタイプの装置である圧力減衰リークテスト
装置において、動作状態の変化及び弁の動作によりトラ
ンスジューサの読取りに変化が生じその大きさは感度の
読取りを表わす信号の大きさに等しい場合があるため０
．１％感度の点も充分得られない。

こうして改良されたリークテスト方法を提供することが
本発明の一つの目的である。

改良された動的平衡リークテスト装置を提供することも
本発明の目的である。

パライデゼロ“１原理で作動する改良された動的平衡リ
ークテスト装置、すなわち所定圧す彦わち真空度に充填
され寄生状態（ライゾゼロ）を解消するように安定化し
た後圧力源に対するテスト部品の差圧を測定し、所定テ
スト時間後にテスト部品の差圧を再び測定しこうして得
られる２つの値から差圧の変化を決定する装置を提供す
ることも本発明の目的である。

テスト部品のＭ接圧力減衰読取りではなくテスト部品と
圧力源すなわち基準圧との間の測定圧力差に基いて作動
する改良型動的平衡リークテスト装置を提供することも
本発明の目的である。

テスト圧の変化に対してトランスジューサを変える必要
性を大きく解消した改良型電子動的平衡リークテスト装
置を提供することも本発明の目的である。

感度の改良された電子動的平衡リークテスト装置を提供
することも本発明の目的である。

装置の絶対感度がテスト圧の増大と共に低下しない前記
性質の電子動的平衡リークテスト装置を提供することも
本発明の目的である。

装置内の電気的ノイズを付随する問題を低減することに
より電子動的平衡リークテスト装置の感度及び精度金高
めることも本発明の目的である。

６ マイクロコンピュータを使用して装置内の弁を作動させ
、必要な計算を行い、テスト部品の合否を示す電子動的
平衡リークテスト装置を提供することも本発明の目的で
ある。

重子動的平衡リークテスト装置及び計算器集積回路チッ
プに依頼しないで計算？行う前記装置のｆ史用方法を提
供することも本発明の目的である。

従来の空気圧テスト装置の部品の体積と容積の影響を解
消する電子動的平衡リークテスト装置を提供することも
本発明の目的である。

現在の電子リークテスト装置に較べて構造が比較的簡単
で、耐久性及び信頼度の高い電子動的平衡リークテスト
装置を提供することも本発明の目的である。

比較的構造が簡単で動作の信頼性が高く広範な感度及び
テスト圧に対して容易にテスト部品を設定できる電子動
的平衡リーク平衡テスト装置を提供することも本発明の
目的である。

下記の特徴を持たない装置の通常の所要全テスト時間よ
りも前に部品の合否を予測できる電子動４ 的平衡リークテスト装置を提供することも本発明の目的
である。

圧力変化を表わす曲線の勾配がリークテスト中に連続的
に計算される前記性質のリークテスト装置を提供するこ
とも本発明の目的である。

被試験特定部品のリーク速度を表わす曲線の勾配が、曲
線の後続部の勾配の変化が例えば曲線の先行部の勾配の
１０チ以下となる点に達するまで実際のリークテストが
開始されない早期合格特性を有する動的平衡リークテス
ト装置を提供することも本発明の目的である。

特定部品のリーク速度全表わす曲線の勾配が例えば一つ
のテスト期間に対して１０％以上変化しない点から部品
の予測リーク速度を見い出すことができ、次に同じ部品
の実際のリーク速度を見つけて予測リークを実際のリー
クと比較し装置の発見する予測リークを確認するリーク
テスト装置を提供することも本発明の目的である。

本出願に使用する用語を理解する目的で、出願人は電子
技術で使用する用語を９、下に簡単に示すのが適当と考
える。これらの用語のいくつかは電子装置メーカによっ
て変ることがあり、本質的に同じ事項を示す二、三の用
語の中の一つであることもある。従ってここでは電子技
術で一般的に使用されている用語として理解されたい。

アナログ佃号一連続的に変化する電圧信号ビット−オン
もしくはオフ（オンはＭｌとも呼ばれる）の一般的に２
状態を有する 単一信号 ポード−印刷回路板の別名 チップ−印刷回路の別名 デジタル信号−多ビットを含む信号 ＦｔＰＲＯＭ−電気的にプログラム可能なＲＯＭ　（紫
外線を使用して消去可能） ＩＣ−通常チップ上の集積回路 工／〇−人出力 ｐｃ−必要な相互接続を含むポーＰ上の印刷回路 Ｐ工Ａ−モトローラ社製周辺インターフェイスアダプタ
。

他メーカも類似の用語を使用している。

ＲＡＭ−ランダムアクセスメモリ ＲＯＭ−読取専用メモリ 我々の改良型電子動的平衡リークテスト装置の概要ケ第
１図に示す。我々の装置においてテスト部品２５けテス
ト器具２６に封止して載ｔ−ｇれる。

第１のコンジット２７が器具２６及びテスト部品２５の
内部２５Ａと連絡ｊ７ている。

第１官路２７の他端には差圧トランスジューサ２９があ
る。差圧トランスジューサには前記圧力源２Ｂと連絡す
る第２の管路３５が接続されている。テスト圧源はテス
トするテスト部品、テスト部品をテストする媒体及び必
要なこのような媒体の体積に依存する。媒体は圧力源も
しくは真空源とすることができる。

非常に小さな部品を圧力の元でテストする場合、圧力源
２８は単に多くのテスト部品全力ロ圧するのに充分な体
積及び圧力を肩する圧縮空気槽とすることができる。テ
スト部品が中位のサイズでおる場合、圧力源は圧縮空気
槽に接続され実質的に均一な圧力に維持するようにされ
た空気圧縮機とすることができ、大きなテスト部品なテ
ストする場合にはＢ−１力源２８は複雑にして大月の媒
体を充分力圧力に維持し効率的なテスｌ−を行わなけれ
ばなら々い。しかしながら適正な圧力源を提供すること
は本技術において艮く知られているため、圧力源につい
て詳細に説明する必要はない。しかし々からテスト媒体
は空気に限定されず、いかなる実用的な流体でも艮い。

テスト部品２５と差圧トランスジューサ２９間において
第１管路２７内に充填弁３０が配置されている。テスト
媒体が圧力源２８からテスト部品２５に到達する径路を
設けるために、一般的に番号３１で示すバイパス管路が
設けられている。バイパス管路は第１部３２及び第２部
３３からなっている。

図示するようにバイパス管路３１の第１部３２はその一
端が圧力源２８と差圧トランスジューサ２９との間にお
いて第２のコンジット３５内に挿入され、その他端は平
衡弁３４の入力端に接続さｌ れている。バイパス管路３１の第２部３３はその一端が
差圧トランスジューサ２９と充填弁３０との間で第１の
コンジット２７に挿入され、他端は平衡弁３４の出力端
に接続されている。

テスト後にテスト部品２５が周囲状態に戻ることが出来
るように、充填弁３０とテスト部品２５０間で第１の管
路２γ内に排気弁３８が挿入されている。またほぼ同じ
位置に充填圧トランスジューサ４０も設けられている。

適正な動作を行うために平衡弁３４、差圧トランスジュ
ーサ２９、充填弁３０、充填圧トランスジューサ４０及
び排気弁３８け全て適正々電気的装置によシ一般的に番
号４２で示す装置キャビネットに収容された装置の電子
装置に接続されている。

キャビネットの前面パネル５６上には装置を保護するヒ
ユーズ４３、装置を起動停止するオンオフスイッチ４４
、装置の局部もしくは遠隔動作モードを選定する局部−
遠隔選定スイッチ４５、テスト装置か局部モードにある
時にリークテストを開始するのに使用するテスト開始ス
イッチ４６、８ マイクロコンピュータプログラムを初期状態にリセット
するのに使用するリセットスイッチ４８、及びバッテリ
がローの場合に起動するローバッテリ表示装置４７が配
置されている。

リークテストの進行と結果を示すためにテスト表示装置
４９、合格表示装置５０、不合格表示装置５１及び欠陥
表示装置５２がキャビネット４２の前面パネル５６上に
載置されている。テスト中のリークを示すために前面パ
ネル５６には差圧計５３も載置されている。所望する場
合交替差圧計７０も前記パネル上に載置することができ
る。

第１図に矢印で示すようにキャビネット内部にはさらに
部品が載置されておシそれらは本装置の動作を理解する
のに重要であり、それらの部品を第２図に示し本装置の
動作に関して後記する。

我々の改良型電子リークテスト法の主要な動作は第１図
及び第６図を参照して理解することができる。第６図の
フロー図を参照すればリークテストシーケンスが最初に
始動することが判る。手動モードにおいてこれはテスト
開始スイッチ４６を押下して達成される。これによって
実質的に同時に排気弁３８が閉成して充填弁３０が開放
され、平衡弁３４は開いたままである。これによって第
１部３２、平衡弁３４、第２部３３を含むバイパス管路
３１及び充填弁３０を通って圧力源２８から媒体が器具
２６を経てテスト部２５の内部２５Ａに通過することが
できる。

この時点において準備された充填遅延時間が桟状の電子
的平衡リークテスト装置にプログラムされて、テスト部
品のサイズ、テスト圧、圧力源のサイズ、断熱損失及び
他の要因を補償し、これはリークテスト技術に習熟した
人には良く知られていることである。

第１及び第２の管路２７及び３５は差圧トランスジュー
サ２９の両側に接続され、圧力は管路２７及び３５の全
部品と自由に連絡されるため、適正に設定されている場
合に充填時間の終シに差圧トランスジューサの両側に同
じ圧力が加わる。

実質的に同時に充填圧トランスジューサ４０によシ感知
されることによって充填圧がチェックされ、１ 平衡弁３４が閉じる。この時点においてテスト部品は圧
力源から有効に分離される。お判多いただけることと思
うが差圧トランスジューサの一方側にはテスト圧が加わ
シ、差圧トランスジューサの他方側にはテスト部品の圧
力が加わシ、この場合それは同じ圧力であるため差圧計
５３に示される差圧は実質的に０である。差圧計は差圧
トランスジューサによシ感知された差圧を示す。

しかしながらテスト部品２５がリークし且つ圧力源２８
が圧力源であって真空源ではない場合には、テスト部品
の圧力である差圧トランスジューサ２９の下流圧が小さ
くなυ、圧力源の圧力であるトランスジューサの上流圧
は一定となって差圧トランスジューサ２９から信号が供
給されその結果差圧計５３が移動してテスト部品のリー
クを示す。

実際の動作においては平衡弁の閉成後の短時間である平
衡遅延時間を使用してこれらの弁の閉成によるあらゆる
効果を解消し、テスト部品内の媒体を安定化させること
ができる。

２ 平衡遅延時間が終ると差圧トランスジューサ２９から初
期差圧読取シが得られる。テスト遅延時間中に弁は静止
状態に保持され、一実施例においてこの時間中にテスト
部品のリークが差圧計５３上に連続的に表示される。

テスト遅延時間後に最終差圧読取シが得られ、初期差圧
読取）からの差圧の変化が算出される。

差圧のこの変化が所定量を越えない場合には、ランプ５
０等の合格表示装置が合格品を表示する。

差圧の変化が所定限界を越える場合にはランプ５１等の
不合格表示装置が不合格部品を表示し、この場合にはテ
スト部品２５がテストに失敗したことが明白である。ラ
ンプ５２等の欠陥表示装置は不当なテスト状態を示す。

この場合合格、不合格及び欠陥表示装置をランプで示し
たが、テスト装置の使用者の希望に応じてベル、プデー
、サイレン等の他の装置を使用してさまざまな機能を示
すことができ、これが本文のある所では＋１表示装置°
′という用語を使用し他の所では゛ランプ゛１という用
語を使用してこのような装置を図示した理由である。

より複雑な装置では差圧の変化が交換差圧計７０上に表
示され、次のテストが開始されるまで保持される。

テストの終シに再び実質的に同時に充填弁３０が閉成さ
れ平衡弁３４が開いて差圧トランスジューサ２９を破損
するような大きな差圧の変化を防止し、排気弁３８が開
いてテスト部品２５から器具２６、管路２Ｔ及び排気弁
３８を介して圧力を逃がす。この時点においてテストが
完了する。もちろん全シーケンスを通じてヒユーズ４３
から上は作動状態にあわ、オンオフスイッチ４４はオン
位置に設定され局部−遠隔スイッチ４５は局部動作に設
定されているものとする。

前記さまざまな機能を制御するのにマイクロコンピュー
タシステム６０（第７図参照）を使用しているため、本
発明を理解する目的で第４図、第５図及び第６図に詳細
フロー図を示す。

フロー図を理解する助けとしてマイクロプロセッサの使
用に関する多くの研究を参照されたい。

その中には１９７８年インジアナ州インジアナポリスの
ホワードダプリュ・サムズ社刊行のエルマ・ポーの”　
６８００マイクロプロセツサの使用方法−がある。他に
も多くの研究かあυ以下の説明においてマイクロプロセ
ッサ技術に習熟した人には周知の用語を完全に理解でき
ない場合に参照して欲しい。

次に第４図に非常に基本的なテストシーケンスを示し、
リセットスイッチ４Ｂを押下するとマイクロコンぎニー
タブログラムが始動する。このような第１ステツプはス
タックポインタ全始動してマイクロコンピュータシステ
ム６０内に記憶することである。

スタックはＲＡＭメモリ７１Ａ内の領域であシ割込期間
中もしくはプログラムに使用される期間中にレジスタの
内容に対して保存される。メモリ内のその位置は任意で
あシ、選定位置はＲＡＭを含まなければならない事実を
考慮上てプログラムを準備した人が選定する。ＣＰＵ　
７２がプログラムを使用して次の命令位置を保持するよ
うに、これはス５ タックポインタを使用して次に使用可能なスタック位置
を保持する。スタックポインタは初期化してから使用し
なければならず、通常プログラムの開始時に初期化され
る。

スタックポインタの初期化に続いて本装置はデジタル人
力−出力周辺インターフェイスアダプタ（ＰＩＡ）６１
を初期化し、指軍周辺インターフェイスアダプタ６２を
初期化し、アナログ人力−出力周辺インターフェイスア
ダプタ６３を初期化する（第１４図及び第１８図参照）
。ＰＩＡの初期化は周辺インターフェイスアダプタに接
続された個々の信号の意図する用途、すなわちどの信号
が入力されどの信号が出力されるかを決めるのに使用さ
れる。その後テスト開始信号が存在する場合には第５図
及び第５Ａ図に示すリークテストサイクルサブルーチン
が呼出されて実施され、そのサブルーチンの完了後プロ
グラムはデジタル人力−出力周辺インターフェイスアダ
プタを初期化する直前の点に戻る。

指軍入力が行われるとマイクロコンピュータは６ データ入力サブルーチンに行きそこで貨車スイッチ６５
からのデータは後記する方法でメモリに記憶され、その
後データ入力サブルーチンは周辺インターフェイスアダ
プタ初期化ステップのすぐ前の動作に戻る。指軍入力が
行われていない場合には、プログラムは周辺インターフ
ェイスアダプタ初期化ステップのすぐ前の動作に戻る。

指軍入力が行われていない場合にはプログラムは周辺イ
ンターフェイスアダプタ初期化ステップ直前の動作に戻
る。

次に第５図及び第６図において、テスト部品２５が取付
具２６に載置されているものとするとリークテストサイ
クルサブルーチンの動作にょシ全ての表示装置がオフと
されて排気弁３８が閉じ、実質的に同時に充填弁３０を
開く。前記したようにこの動作期間中平衡弁３４は開い
た・ままである。

この時点においてソフトウェアにプログラムされている
のは充填遅延時間であり、適正に選定されるとテスト部
品を充填するのに充分な時間を装置に与える。この充填
遅延時間が終るとマイクロコンピュータは充填圧トラン
スジューサ４０の感知する充填力を読取シ、その圧力を
所定の所望圧限界と比較する。圧力が限界内に無い場合
には欠陥ランプ５２及び不合格ランプ５１が共に点灯す
る。これはテスト部品に穴がおいている場合のような大
まかなり−クを表わす。とかできる。充填圧が限界内に
ある場合には平鞠弁３４が閉じプログラムは平衡遅延時
間に等しい所定時間だけ停止する。これによって装置は
平衡してテスト部品の充填による断熱損失の効果や充填
及び平驚併等の開閉による体積の変化を最少限とする。

平衡遅延時間が後退した後マイクロコンピュータは差圧
トランスジユーザ２９から初期差圧値を読み取って記憶
する。次にこの値はアナログ／デジタル変換器９７から
得られる最小最大値と比較され、差圧トランスジューサ
の動作範囲にめるがどうかをナエックする。

この読取シがその最小もしく　ｔ；支亀大値に等しいか
もしくはそれを越える場合には、欠陥ランプ５２及び不
合格ランプ５１が共にオンとされ操作者が装置に来て内
部の問題を決定するまでテストが停止する。この読取シ
が動作範囲内にある場合にはテストランプ４９が点灯し
、ユニットはテスト遅延時間と呼ばれるプログラム部へ
行く。

テスト遅延時間が終るとマイクロコンピュータ装置は最
終差圧値を読み取って記憶し、漁圧の変化を計算する。

次に第６図において比較が行われ、差圧の変化が負であ
る場合には不合格ランプ５１の他に欠陥ランプ５２が点
灯し、テストランプ４９がオフとされ、排気及び平衡弁
３Ｂ及び３４が開き、同時に充填弁３０が閉じてテスト
が終了し、次にサブルーチンは主プログラムに戻υ操作
者が装置を手入れするまでテストが停止する。

第１の読取シからの差圧の変化が正である場合には正の
変化が所定限界と比較され、変化が大き過ぎて過剰なリ
ークを示す場合には不合格ランプ５１がオンと嘔れ、テ
ストランプンゾがオフとされ、平衡、排気及び充填弁が
前記したように作動（２てテストが終了しプログラムは
再びリークテストサ９ ブルーチンから王テストプログラムに戻る。

正の変化が大き過ぎる場合には装置は最終差圧値が最大
値であるかどうかをチェックする。そうでちれば前記欠
陥シーケンスが開始する。そうでない場合には合格ラン
プ５０がオンとされ、テストランプがオフとされ、平衡
、排気及び充填弁が前記したように作動［７てテストが
終了しプログラムは再びリークテストサブルーチンから
主テストプログラムに戻る。

前記したように欠陥ランプ５２がオンと々ると次のステ
ップの残りが行われる。欠陥ランプがオンと々るたびに
、プログラムのどの部分であるかに無関係に不合格ラン
プがオンとなシ、テストランプがオフと々す、充填弁が
閉じると共に排気及び平衡弁が開いてテストが終了し、
コンピュータプログラムはサブルーチンから主テストプ
ログラムへ戻る。これを第６図のフロー図に示す。

第７図にマイタロコンピュータシステムの動作について
前記したさｌざまな弁、トランスジューサ、ランプ及び
スイッチの相互接続を示す。また０ 矢印の方向によシこのような装置がマイクロコンピュー
タシステムに信号を供給するだけなのかあるいはこのよ
うな信号を受信するだけなのかを示す。

指軍スイッチアセンブリ６４、局部−遠隔選定スイッチ
４５、差圧計５３もしくは交替差圧計７０の無い最も基
本的な形状の装置を第７図に示す。

図示するようにマイクロコンピュータシステム６０はテ
スト開始スイッチ４６、リセットスイッチ４８、差圧ト
ランスジューサ２９及び充填圧トランスジューサ４０か
ら信号を受信するだけでおる。

マイクロコンピュータシステムから信号を受信するのは
夫々４９〜５２のテスト、合格、不合格及び欠陥ランプ
、平衡弁３４、充填弁３０、排気弁３８及びローバッテ
リランプ４Ｔである。

はぼ第７図と類似の第８図において、テストパラメータ
を変えたい場合には一般的に番号６４に示し指軍スイッ
チ６５及び指軍スイッチ押釦６６からなる最適指軍スイ
ッチアセンブリを使用し、局部−遠隔選定スイッチ４５
を適正なソフトウェア及びハードウェアと一緒に使用し
て装置を局部もしくは遠隔モードで作動させる。再びこ
れらの装置はマイクロコンピュータシステムに信号を供
給する。また差圧トランスジューサ２９から信号を受信
する差圧計５３も示されている。

第９図はほぼ第８図と同様であるがマイクロコンピュー
タシステムから信号を受信するように図示された交替差
圧計７０を有している。

第１０図においてマイクロコンピュータシステム６０は
メモリ部７１、中央処理ユニット０ＰＵ７２及びインタ
ーフェイス７３を肩している。信号はメモリと中央処理
ユニット間及び中央処理ユニットとインターフェイス間
を自由に通過することが判る。ＣＰＵ及びメモリは組合
わされて（ＣＰＵ）印刷回路板９８上に配置されている
。メモリＴ１はＲＡＭメモリ７１Ａ及びＫＰＲＯＭメモ
リ７１Ｂｅ有していることが判る。

第１０Ａ図においてＣＰＵ印刷回路板９Ｂは中央処理ユ
ニット７２、メモリ７１及び診断パッケージ１５５を有
することが判る。次に診断パッケージはＲＯＭメモリ１
５３、キーボード周辺インターフェイスアダプタＰ工Ａ
１５２及び診断キー＋］ぐ−ドヘの接続１５４をＭして
いる。これらのマイクロコンピュータ素子は信号パスに
よシ相互接続されておシ、それは多量の双方向４８号で
ある。これらの素子はアリシナ州フェニックスのモトロ
ーラセミコンダクタプロダクン社製６８００ファミリー
の一部である。

実際の応用において我々はモデルＡＭｃ６８０２０ＰＵ
　、モデル／１６　ＭＯＭ　２７１６　ａ　ｗＰｘｏＭ
メモリ、モデル／ｌ６Ｍ０Ｍ　６８１　Ｄ　ＲＡＭメモ
リを選んで使用した。

ＯＰＵ板９８はスキャンズアソシエイツ社からモデルＡ
３０１１９として市販されているが、他社の同等品で代
用して装置を同等に作動させることもできる。

第１１図において基本システムのインターフェイス７３
は次に番号７４で示すデジタル出力回路、番号７５で示
すデジタル入力回路、番号Ｔ６で示６ すアナログ入力回路及び番号９０で示す信号調整回路を
有している。

第１２図においてインターフェイス７３は６個の印刷回
路板、デジタル入出力（工１０）板７７、アナログ入出
力（Ｉｌｏ　’）板７８及び信号調整−バッテリバック
アップ印刷回路板９９を有している。第１２図は第８図
の装置と相関させることができ、矢印は第８図のマイク
ロコンピュータシステム６０の人出力に対応するインタ
ーフェイスの入出力を示す。さらに信号は信号バスを使
用して中央処理ユニットとさまざまな印刷回路板との間
を自由に通過することができる。

特に夫々番号４９〜５２に示すテスト、合格、不合格及
び欠陥ランプへの信号を充填弁３０、平衡弁３４、及び
排気弁３８への信号と同様にデジタル出力回路７４から
の出力として示されている。

指軍スイッチアセンブリ６４のみならずリセットスイッ
チ４８からの入力をデジタル入力回路への入力として示
す。テスト開始入力は局部−遠隔スイッチ４５を介して
デジタル入力回路に通される。

４ 差圧トランスジューサ２９及び充填圧トランスジューサ
４０からの信号は信号調整−バッテリバックアップ印刷
回路板９９への入力として示されておシ、アナログ入出
力板７８に供給される。信号調整板からの残シの出力は
ローバッテリランプ４７へ供給される。

次に第１６図は実質的に第１２図と同じであるがアナロ
グ入出力板Ｔ８上に載置され交替差圧計７０を駆動する
のに必要なアナログ出力回路８８が加えられている。こ
うして第１６図は第９図と相関させることができる。

第１４図はデジタル入出力（工／Ｑ）板７Ｔの回路図の
詳細を示す。中央処理装置７２に並列に指軍周辺インタ
ーフェイスアダプタ６２及びデジタル入出力周辺インタ
ーフェイスアダプタ（Ｐ工Ａ）６１が接続されている。

クロック１２４が０．１秒間隔のパルスを発生するため
に使用されている。クロックは基本的に良く知られてお
りモスチックモデルＡＭ　Ｋ５００９Ｆ集積回路に配線
されたモトローラに１１１Ａ１ＭＨ２局部発振器を有し
ている。本技術に習熟した人には良く知られていること
であるが、これら２素子の配線は供給されるクロック信
号を決定しこれらの装置から来る命令によＶ）　１００
　ｍｅクロック出力を得る方法が明らかにされる。

クロック出力は指軍スイッチ周辺インターフェイスアダ
プタ６２に直結されている。クロックパルスが周辺イン
ターフェイスアダプタ６２に供給されると、周辺インタ
ーフェイスアダプタ内部に１ビツトが設定される。この
ビットはＣＰＵ　７２の割込線に接続される。こうして
クロックがパルスを発生するたびにＣＰＵに割込みが入
多テストゾログ２ムは割込サービスルーチンに行く。我
々のサービスルーチンは特に最初Ａ　／　Ｄ変換器出力
を読み取って記憶し、次に０よす大きい場合に可変時間
の位置を減分し、次に割込ビットをクリアする。

本技術に習熟した人ならばこのようなルーチンを書くこ
とができる。

周辺インターフェイスアダプタに対して入出力する信号
は周辺インターフェイスアダプタの駆動及びロード能力
に一致するようにバッファ及び調整しなければならない
。本技術において良く知られているようにインターフェ
イシングと呼はれる適正なバッファリングもコンピュー
タシステムにおいて重要である。指軍スイッチアセンブ
リ信号はバッファリングを必要とせず従って指軍周辺イ
ンターフェイスアダプタ６２に直結されるようになって
いる。

ここに示すのは我々の改良型電子動的平衡ＩＪ−クチス
ト装置の実施例であり、排気弁、充填及び平衡弁、合格
、不合格、テスト及び欠陥ランプを駆動する信号を使用
し、局部−遠隔テスト開始、及び周辺インターフェイス
アダプタと両立する前にバッファしなければならないリ
セットスイッチから入力信号を受信する。本発明を具現
した装置は広範なリークテスト装置の制御に使用するこ
とができ、図示する特徴の全てを含まないものも図示せ
ぬ特徴を含むものも発明の範囲内とする。

一般的に第１４図において、所望数の出力信号を供給す
るタイプの出力バッファ８０がこの場合７ デジタル入出力周辺インターフェイスアダプタ６１に接
続されていて８個の出力信号を出し、その一つは使用さ
れずもう一つは排気弁の作動に使用され、さらに２個が
充填及び平衡弁の作動に使用され、残ｂｉ夫々テスト、
合格、不合格及び欠陥ランプ４９〜５２の作動に使用さ
れる。

デジタル入力回路７５内には入力バッファ８２から信号
を受信するデジタル入出力周辺インターフェイスアダプ
タ６１の一部があり、前記入力バッファ８２はリセット
スイッチ４８（第８図及び第９図参照）からの信号及び
装置に新しいリークテストの開始を告げるテスト開始信
号音受信するのに使用される。リセット及びテスト開始
信号は入力バッファ８２に入る前にシングルショット７
９に通される。

本技術に習熟した人には局部−遠隔選定スイッチ４５が
局部モードにある時にテスト開始スイッチ４６の瞬時押
下によシテスト開始信号が供給され、局部−速隔選定ス
イッチが遠隔モードにある時に外部装置からテスト開始
信号が供給されると８ とがお判如いただけることと思う。

局部−遠隔開始スイッチからの信号に対しては特殊な信
号調整が必要とされるため、これを第１７図に詳しく示
す。局部−遠隔スイッチ４５からの信号は最初に二重信
号ショット１８４０メーカがすすめる入力回路保護抵抗
器１７５に通過して、このようなシングルショットを過
渡入力尖頭値から保護する。回路保護抵抗器１７５を通
過した後、信号は符号１７６Ａに示す反転入力を介して
ＯＲ回路１７６に入る。反転入力は通常゛°フローなる
゛°倍信号ある回路保護抵抗器からの信号によｐｏＲ回
路１７６がハイとなるのを保証するために必要である。

反転入力が存在しない場合には□°コロ−なる°゛信号
ＯＲ回路に加えても図示するＯＲ回路への接続によって
何も生ぜず、接点を閉じてクロック１７７へのパルスヲ
発生するという我々の目的を否定する。

クロック１７７はＯＲ回路１７６から信号を受信し、ク
ロックは真偽出力金有し、この場合偽出力は使用されず
その結果ＯＲ回路１７６からの信号をクロック１７７が
受信すると入力バッファ８２にパルスが加えられる。共
通ＲＣ時定数回路を形成するタイミング抵抗器１７８及
びタイミングコンデンサ１７９の組合せによシ決定され
る時間に対してクロックからの信号はハイのままである
ことがお判如いただけることと思う。入力回路保護抵抗
器１７５０入力が１２ｖとなるのを保証するために、局
部−遠隔スイッチ４５からの信号源と入力回路保護抵抗
器１７５との間にゾルアップ抵抗器１８２を挿入しなけ
ればならない。モトローラ社からモデルＭ０１４５３８
として製作されている二重シングルショット１８２０片
方としてＯＲ回路１７６及びクロック１１７が市販され
ている。

バッファ８２０目的はデジタル入出力周辺インターフェ
イスアダプタ６１に信号を供給することであシ、これは
５ｖ信号を意味するためバッファはクロックからの１２
ｖのハイ信号に５ｖのハイ信号に変換してからデジタル
入出力周辺インターフェイスアダプタへ供給しなければ
ならず、これはエミッタフォロアトランジスタ１８１に
より達成される。クロック１７７からのパルスがエミッ
タフォロアトランジスタのペースに加わるとトランジス
タがオンとなるためエミッタフォロアトランジスタのエ
ミッタから５ｖ信号が出力されて５Ｖ信号がコレクタに
加えられエミッタを通りエミッタ抵抗１８０を介して接
地されエミッタ抵抗器１８０の両端間に５ｖパルスが生
じる。このパルスは周辺インターフェイスアダプタ６１
に接続される。

デジタル入出力周辺インターフェイスアダプタ６１に供
給されたパルス（第１４図診照）はクロック出力が１２
Ｖパルス信号を供給するたびに供給され、エミッタフォ
ロアトランジスタのエミッタとエミッタ抵抗との間で取
シ出される。これによってテスト開始信号が供給される
たびに適正な５ｖ信号パルスがデジタル入出力周辺イン
ターフェイスアダプタ６１に供給される。

良く知られているようにシステム／Ｓ−ドウエアに必要
なバッファリング技術は入出力信号の電圧のみならず使
用する正確なプロセスインターフェイスアダプタ及びシ
ステムに使用する正確なノ・−ドウエアによって変る。

実施例に使用できる６種の出力バッファを示しであるが
、本発明はこれら６種のバッファに限定されるものでは
ない。

第１５図、第１６図及び第１６Ａ図に第１４図に使用で
きる多種の出力バッファの中の６種類を一般的に番号８
０に示す。前記したようにバッファの特定形状は特定種
類の周辺インターフェイスアダプタもしくはバッファか
らの信号によシ駆動しようとする事項に依存する。

第１５図においてバッファは１１５ｖの交流により弁を
作動するように構成することができる。

このようなバッファはデジタル入出力周辺インターフェ
イスアダプタ６１から信号を受信してバッファ／ドライ
バ回路１２５の一人力に供給し次に固体リレー１２７に
供給してリレーに弁を励起させる。バッファ／ドライバ
回路の対応する出力と固体リレーの正入力との間には出
力バソファゾルソ１ アップ抵抗器１２６が挿入され、この場合直流１２Ｖと
することができる（図示せぬ）リークテスト装置の電源
に接続されている。固体リレー１２７の負入力は共通電
源に接続され、固体リレーの電力出力は１１５ｖ交流源
の一脚に接続され、負荷出力は弁の一方側に接続され弁
の他方側は１１５ｖ交流源の第２脚に接続されている。

バッファ／ドライバ回路１２５、固体リレー１２７及び
抵抗器１２６は市販品である。バッファ／ドライバ回路
１２５はカリフォルニア州マウンテンビューのフェアチ
ャイルドカメラインスッルメント社製モデル／Ｉ６７４
０７とすることかできる。固定リレーはマサチューセラ
州プレンツリーのシグマインスツルメンツ社製モデル／
１６２２６Ｒ１−５ＡＩとすることができる。また標準
特性の出力バッファプルアップ抵抗器１２６の値従って
モデルは出力バッファの特定構成に依存することも御理
解願いたい。

第１６図は異なる交流もしくは直流電圧のディスプレイ
ランプ（もしくは弁）を電気機械リレー２ によシ駆動する場合に使用できる出力バッファ８０の例
である。開放コレクタ反転バッファ／ドライバ回路１６
６の一人力もデジタル入出力周辺インターフェイスアダ
プタ６１に接続されている。

反転バッファ／ドライバ１６６の対応する出力が電子機
械リレー１２９の一方側に接続されておシ、それはイン
ジアナ州プリンストンのボッター及プラムフィールド社
製モデルＡＲ１０５−ｉｌ−Ｙ２−、ＴＩＫとすること
ができ、その他方側は電源に接続されている。再び反転
バックアブルアツブ抵抗器１６５がバッファ／ドライバ
回路の出力とリレー１２９との間に挿入され、装置の１
２ｖ給電源に接続されている。リレー１２９と並列にノ
イズ抑制ダイオード１２８が接続されておシ、その目的
はリレーを情動した時に大きなノイズ尖頭値が装置に入
るのを阻止することである。ディスプレイランプとの接
続に関して一線がランプ電源の負側に接続され他方の線
がリレー接点を介してランプ電源の正側に接続されてい
る。電圧の大きさは作動させる装置の種類に依存するこ
とが判る。

第１６Ａ図にディスプレイランプを駆動するのに使用で
きる出力バッファ８０のもう一つの例を示す。この場合
面数コレクタ反転バッファ１６６の一人力がデジタル入
出力周辺インターフェイスアダプタ６１に接続されてい
る。反転バッファ１６６の対応する出力が駆動しようと
するランプに接続されている。反転バツファゾルアツゾ
抵抗器１６５が反転バッファ１６６の出力とランプとの
間に挿入されている。

本技術に習熟した人であれば使用する特定周辺インター
フェイスアダプタ及び駆動しようとする特定装置に従っ
て必要とする特定バッファを設計することができる。図
示するようにバッファの電源は直流１２ｖもしくは使用
する論理装置の種類に応じて異なる電圧とすることがで
きる。

１１′。

第１８図にアナログ入出力印刷回路板７８を示しアナロ
グ入出力周辺インターフェイスアダプタ６３が中央プロ
セッサユニット７２に接続されている。アナログ入出力
板は基本的に２部分を有し、それはアナログ出力回路８
８及びアナログ入力回路７６である。最初にアナログ出
力回路について、アナログ入出力周辺インターフェイス
アダプタ６３にはデジタルラッチ８３が接続されており
それはアナログ周辺インターフェイスアダプタ６３から
のデジタル信号をラッチする、すなわちデジタルラッチ
は周辺インターフェイスアダプタからのデジタル信号を
記憶する。モトロー５セミ’：１７ダクタプロダクト社
製モデルＮｎ１４５０８とすることができるデジタルラ
ッチ８３の出力にはデシタル／アナログ（Ｄ／Ａ　）変
換器８４の対応する入力が接続されており、前記変換器
はこのようなデジタル信号をデジタル入力信号のデシタ
ル佃に比例したアナログ出力電圧信号に変換する。

モトローラ社製モデルＮｏ１４０８とすることかできる
デジタル／アナログ変換器８４の出力は次　Ａ ンコ に利得回路８７の入力に接続され、それはデジタル／ア
ナログ変換器８４の出力を所望の出力値にｌ整するのに
使用される。簡単な演３Ｉ増幅器回路とすることができ
る利得回路８７の出力は次に、交替差圧計７０に接続さ
れる。

次にアナログ入出力板７８のアナログ入力部７６を理解
するために、マルチプレクサ９４はアナログ入出力周辺
インターフェイスアダプタ６３に接続されたチャネル選
定入力を有している。チャネル選定入力の目的は２個の
アナログ信号入力のいずれがマルチプレクｖ９４を通っ
て回路の継続部に通過するかを選定することであり、次
にそれは信号がそこに入力される正確な時間にどの動作
を達成できるかに依存する。

例えばマルチプレク＋ｊ９４のチャネル１人力は差圧ト
ランスシューｖ２９の発生する差圧トランスジューサ信
号を通すことが望ｆしい。後記するように差圧トランス
シューｔ＋−２９の出力を校正及び調整するのが望まし
いため、トランスジューサ２９の出力にはバリダインモ
デルＮＱｃＤ１０１−４γ　Ｏ 等の差圧信号Ｘ部器１５８が接続さｊ、ている。バリダ
イン信号調整器を適正に使用しトランスシューｔ２９の
最大出力をｖ＠整して＋５　ｍＡの正の最大値を発生し
、負の最大値を−５ｍＡの伽に調整することができる。

電、流であるこの出カイ１号は信号調整器１０３に供給
される。差圧計５３を使用する１合には信号調整器１５
８からの出力信号は差圧計５３に接続さハ、次に信号Ｆ
Ａ整部器０３に接続される。信号調整器１０３は電流値
を比例した電圧信号に変換する抵抗＠を含み、それは第
１８Ｂ図に示すようなスパン及びセ゛ロ調整回路に供給
される。

マルチプレクサのチャネル０人力は光横圧トランスゾユ
ーサ４０の供給する充填圧信号に接続されている。前と
同様に調整及び校正によるｔ１其を容易にするために、
光横圧トランスシューｖ４０の出力を校正することも必
要である。選定された光横圧トランスジューサの飯大出
カスパンはおよそ１０Ｖで２．５Ｖのオフセットを有し
ており、バリダインカードのような市販の信号調整カー
ドが無いため、充填圧トランスジューサを一般的に番号
１０４で示す充填圧信号調整器を介してチャネル０人力
に接続しなければならない。

第１８Ａ図において充填圧トランスジューサからの入力
は第１の調整抵抗器１３７を介して第１の調整演算増幅
器１３０の負入力に接続されている。第１の調整ポテン
ショメータ１３８が第１の調整演算増幅器１３０の負入
力と出力間に接続されている。

第１の調整＠其増幅器の正入力には第２０訓整ポテンシ
ヨメータ１３９が接続さｎでいる。第１の調整演算増幅
器の出力には第２の調整抵抗器１３１を介して第２の調
整演算増幅器１３３の負入力が接続されている。第２の
調整演算増幅器１３３の正入力は接地されている。第６
の抵抗器１３４が第２の調整ｙＬ算増幅器１３３の負入
力と出力間に接続されている。このように構成する理由
は我々の回路か広範なトランスジューサに使用すること
ができ、しかもスパン及び０をＡ整して充填トランスジ
ューサが００時に直流０■の個を９ 有し光填トランスゾユーサが所望のフルスクールの時に
直流５■の出力を有するようにできるためである。

またトランスジューサの全範囲の一部のみを使用して結
果を得ることができる。例えば０〜１．０５１＆、ハ２
（０〜１５　ｐ、ｓ、ｉ　）の範囲に対して０〜２．１
し／＝−”　（０〜３　［］　ｐ、ｓ、ｉ　）の差圧ト
ランスジューサを使用したい時には、　　１．０５　Ｋ
ｐ／””（１５１）、８．１　）の読取りを得て５ｖの
信号を出すことができる。

充填圧トランスシュー″！７−４０からの信号は前記し
たように充填圧信号？＠部器１０４により調整された後
マルチプレク＋１−９４のチャネル０人力に加えられる
。次にこの信号はマルチプレクサ９４から非反転０及び
スパン調整信号１５９に供給される。

第１８Ｂ図においてマルチプレクサ９４０入方は第１の
利得入力抵抗器１８７を介してスパン及び０演算増幅器
１８８の負入力に接続される。利得帰還ポテンショメー
タ１８９がスパン及び０演００ 算増幅器１８８の負入力と出力間に接続されている。

スパン及び０演算増幅器の正入力には０人力抵抗器１９
０が接続されている。０人力抵抗器１９０の入力にはＯ
Ａ整ポテンショメータ１９１が接続されている。前記ス
パン及び０演算増幅器１８８の出力は第２のオＵ得入力
抵抗器１９２を介して反転増幅器１９３の負入力に接続
されている。前記増幅器の正入力は接地されており、利
得ＮＩ過低抵抗器９４が反転増幅器１９３の負入力と出
力間に接続されている。

素子１９２〜１９４を有する非反転０及びスパン調整回
路１５９部の機能は素子１８７〜１９１を有する回路部
から来る信号を再反転してマ丈チューセツ州マンスフイ
ールドのブチルインターシル社製モデル１ｍ　ＢＨＭ　
−１０１等のサンプルホールド回路９５０入力に非反転
０及びスパン調整信号を供給することである。サンプル
ホールド回路９５にはアナログ入出力周辺インターフェ
イスアダプタ６３からの信号も接続され、この信号の目
的はサンプルホールド回路にアナログ入力信号をサンプ
ルすなわち通過させることである。次にサンプルホール
ド回路９５の出力は利得回路９６０入力に供給され、そ
の目的はサンプルホールド回路９５からの信号を、電圧
値が信号を受けるアナログ／デジタル変換器９７と両立
する信号に調整することである。ブチルインターシル社
製モデルＮｈ　ＡＤＣ−ＢＵＴ　１Ｑ　ＢＣとすること
ができるＡ／Ｄ変換器もアナログ入出力周辺インターフ
ェイスアダプタ６３に接続されている。

この点においてマルチプレクサ９４の１チヤネルから取
り出された借上がアナログ／デジタル変換器９７を通過
した後アナログ電圧信号のデジタル表示としてアナログ
入出力周辺インターフェイスアダプタ６３にデータデジ
タル信号として供給される。適正なチャネル選定入力を
マルチプレクサ９４に且つ適正なザンゾル信号をサンプ
ルホールド回路９５に供給することにより、マルチプレ
クサへのチャネル０及びチャネル１人力がデジタル表示
に変換されて周辺インターフェイスアダプタロ３に供給
されソフトウェアの要求する差圧及び充填圧を供給する
２、 ２π１９図においてアナログ入出力＆７８と、差圧トラ
ンスジューサ２９と充填圧トランスジューサ４０との間
に差圧信号調整６１５８及び充填圧信号調整器１０４が
挿入されており、共に信号調整−バツテリバックアップ
印刷回路板９９及び信号Ａ部器１０３上に配置さ扛てい
る。

バッテリバックアップ回路１０５及７Ｊローバツテリ検
出器回路１０６も第１９図の信号調整器−バッテリバッ
クアップ印刷回路板９９上に示さｎている。バッテリバ
ックアップ回路の目的はシステム電力がオフとなるかも
しくは消失した場合にメモリの損失を防止することであ
る。この場合バッテリバックアップ回路（第２１図）は
ＣＰＵ　＆９８のランダムアクセスメモリ部７１ＡＫ電
圧を供給してシステム電力が回数する才でメモリを保持
する０バツテリバツクアツプシステムが存在せずにシス
テム電力が消失した場合には、システム限界、システム
公差及び充填時間を含むＲＡＭ内の０６ ステムに丹ロードしなけｎばならない。

ンステム内のバッテリが全電力状態に維持されるのを確
実にするために、父俣もしくは肯充電によりローバッテ
リ検出器回路１０６が供給される。

パッチ！Ｊ　ｙａ−ｂ　＊　ｉ’ａされる電圧が所足伽
以下に降下すると、ローバッテリ検出器回路がバツケリ
シンプ４７を魚釣して操作省にバッテリの交換もしくは
トＪ充電を必要とすることを狐・告する。

ローバッテリ検出器回路１０６を第２０図に示す。装置
の動作は比較的単純であり過圧な佃のシステム電力を分
圧器１１００入力に供給して装置の用力霜、圧ンこれ以
上１４丁させたくないバッテリ縦用に等しい値に低下さ
せれば良い。次に分圧器の出力は比較器１１１の第１人
力に接続され、（図示せぬ）バッテリρ・もの電力は比
較器°１１１の第２人力に接続される。

第２の入力電産が第１入力端子以下ＶＣ降下すると、比
較器１１１の出力は光ドライバ回路１１２０入力に（Ｆ
ｉ号を供給する。元ドライバ回路はその０４ 特定形状が特定電圧及び他のシステム条件に依存すると
いう点において前記出力バッファど本質的と同じであり
、その構造は本技術に習熟した人には良く知られている
。従って詳細説明は要しな１ハ。

元ドラ・ｆバの出力はローバッチリブ１７に接続さハて
いる。

バッテリバックアップ回路１０５の詳細を第２１図に示
す。バシテリバックアップ装置の中央にはバッテリバッ
ク“ｒツブトランジスタ１２１があり、それはエミッタ
、ベース及びコレククヲ有する％　）ローラセミコンダ
クタ社製モデル＋１０２　Ｎ　３９０５とすることがで
きる。コレクタには順次第１アノード１１Ｇ及び第２ダ
イオ−・−ド１１７が接続さノ１□、第１ダイオード１
１６のアノードには電力抵抗器１１５が接続されている
。雷、力抵技監１１５の他端は装置内のバッテリ電力に
接続さ４．ている。

トランジスタのペースには第３のダイオード１１８及び
第２の抵抗器１２２を介してシステム共通電源が接続さ
れている。ダイオード１１８のカソードと抵抗器１２２
どの間には２Ｘ　４のダ・イオ−４１１９のカン−Ｐへ
の接続が挿入されている。

第４のダイオード１１９０了ノー　ドは第５のダイオー
ド１２０のアノ−Ｖ及びシステム電源にうＵ続さｊてい
る。２Ｋ　５のダイオ−）７１２０のカソードはトラン
ジスタ１２１のエミッタとＲＡＭメモリ間に挿入されて
いる。

システム電力は供給さ才する限り第５のダイオード１２
０ケ介して直接ＲＡＮ、（メモリへ供給され、そわば第
４のダイオード１１９及び第２の抵抗器１２２を介して
共通電源に行くシステム電力は第３のダイオード１１８
を介［、てカソードからアノードへ通過することが防止
さ才するためであり、トランジスタ１２１を開スイッチ
として作動させてバッテリ電力がトランジスタ１２１を
介してＲＡＭメモリにＡ遇するのを防止する。

しかしながらシステム電力が消失される場合には第４の
ダイオード１１９を電流が流４ずトランジスタ１２１は
閉スィッチとして作動することができバッテリ電力は餌
、技監１１５、第１及び第２のダイオード１１６及び１
１７、）ランジスタ１２１を介してＲＡＭメモリに通過
スる。

ＲＡＭメモリは５ｖの電源を必要とし５ｖのバッテリが
得られないため回路に抵抗器１１５が挿入されている。

こうして使用するバッテリに応じてＲＡＭメモリに加わ
る電圧が所要の直流５■となるように抵抗器１１５の倫
を選定する。

第２２図は中央処理印刷回路板９８上に含テれた中央処
理装置を示し、デジタル入出力印刷回路板７７、アナロ
グ入出力印刷回路板７８及び信号調整バツテリバツクア
ツク板９９は全て印刷回路板と相互接続された裏板１０
２内に載置されている。このような裏板１０２は装置キ
ャビネット４２の内部を示す第２図には示されていない
。

前記説明の大部分は我々のリークテスト装置内のさ筐さ
まな素子の動作説明であった。次に全体装置の実際の動
作を理解するために、従来抄術で良く知られたいくつか
の刀法鴇いずれかＫよって装置に′直方を供絽すること
が必要である。

リセットスイッチ４８を瞬時押下した後筐だ入０７ カされていｔ「い場合には実７１１Ｉｉ＋、、　、にう
とする特定テストに所望さｊるテスト値をＲＡＭメモリ
に入力する必要がある。前記【またように使用者は浄去
の条件に基いたごわらの佃のいぐつかを指定し、イＩＦ
Ｊのイーを＃！￥験に基いて選定する。代表的なテスト
状態を得るには通常４個の指示値をｈ★るヅ要がある。

柳準温度及び圧力のテストと仮足すｊば、テスト体槓仙
、テスト圧の仙、最大リーク速ル゛及びテスト時間を求
める必晋がある。画型的かテスト例の指定伜は次のよう
である。

テスト体積１６５ｃ１１Ｌ３ テスト圧　　　　　　　１．０５Ｋｌ−、ん〜２（１５
ｐ、ｓ、ｉ　）瀞゛太リーク速度　　　　１眞３／分 テスト時間　　　　　　６秤 充填圧トランスジューサ範囲　１１〜１．４　ＫＰ／１
％”　（０〜２［１ｐ、ｓ、ｉＪ差圧トランスジューサ
範囲　水２．５４ｍ（１インチ）テスト体積は装置体積
及びテスト部品体積を含み使用する特定゛装置について
装置体積は知らｎているものとする。

所与の空胴の圧力リーク速度をテストするには０８ 指軍スイッチアセンブリ６４を介してマイクロコンピュ
ータシステム６０に次のデータを入力しなげねばならな
い。アセンブリ６４けＣＰＵと通信してＲＡＭメモリに
データを記憶する。４桁指軍スイッチ６５を使用する場
合、１０００の桁は入力データの行先の選定に使用され
次のようにコーげ化される。

１＝充填時間（０，１秒増分内のう ２−平衡時間（０６１秒増公的の） ６−テスト時間（０，１秒増分内の） ４−充填圧上限（フルスケールの０．１％内のｐ、ｓ、
ｉ、）５−充填圧上限（フルスケールのｎ、１チ内のｐ
、ｓ、ｉ、　）６−圧力変化限界（フルスケールの０．
１％ｆｆ１）差圧トランスジューサ範囲のフルスケール
の俤で示す圧力変化限界を除く前記所要値の大部分は経
験もしくは実験に基いて容易に決定される。差圧変化限
界を算出するために次式を使用する。

（１）　　　Ｄ　　Ｐ　　−（４０７，２ＸＬＲＸＴＴ
）／Ｃ６０ｘＴＢここにＬＲ−リーク速度（ＣＧ／分） ＴＶ−テスト体軸ＣＣＬ） ＴＴ−テスト時間（秒） ＤＰ−差圧（水インチ） 前例１ｃオイテＬ　Ｒ−１、ＴＶ−１３５、ＴＴ−３で
ありＤＰは水６．８１鵡（０，１５インチ）となる。水
２５．４ｆａ（１インチ）の範囲の差圧トランスジュー
サを使用して次式により圧力変化限界（ＰＯＬ）を算出
する。

（２Ｊ　　ＰＯＬ　−ＤＰ／　ＤＰＦＳここにＤＰＦＳ
　＝フルスケール差圧（水インチ）前例において圧力変
化限界はフルスケールの１５係（すなわち　、１５／１
）と算出される。

指軍スイッチアセンブリ６４の残りの６桁は所望値の入
力に使用される。例えば１０秒の充填時間に対して１０
秒は１００俳のｌ／１ｏ秒増分を含むため指軍スイッチ
６５に１１ｈ１１００を入力する必要がある。この後指
軍スイッチ押釦６６が瞬時的に押下され指軍スイッチア
センブリ６４からマイクロコンピュータシステム６０　
Ｉｆ！ｊＫ　ＲＡＭメモリに情報の転送が生じる。

これは拍車スイッチ押釦６６の押下と同時にこれが第４
図のフロー図の“イエス１人力として作動するために生
じ（第４図）、アセンブリ６６からの信号は第４図のデ
ータエントリサブルーチンに供給される。データエント
リサブルーチンはコンピュータ技術に習熟した人ならば
容易に曹げるプログラムであるため詳細説明は行わない
。最終プログラムはマイクロコンピュータメモリ内のど
こにデータをｎじ憶し７どのようにデータを記憶するか
に依存する。テストの実施中にデータエントリは行えｌ
Ｃい、画表の残りの事項も同様に入力され　□る。５秒
平衡時間を入力するには指軍スイッチ６５上の１Ｉ１１
２　（１５０を入力させて指軍スイッチ押釦６６を瞬時
的に押下する必要がある。

同様に６秒テスト時間が６０３０として入力され指軍ス
イッチ押釦６６を押下することにより３秒テスト時間が
（４！られる。

、９８〜・／鋸”　（１４ｐ、ｓ、ｉ、）の充填圧下限
により４７　ｎ　Ｏ（１４］）、ｓ、ｉ、／　２．Ｏｐ
、Ｌ３−ｊ、は７０％であり、１チの７００１ｔ１８ｉ
ｌの増分である）のエントリが生じ、５８００　（１６
ｐ−ｓ、ｉ、／　２０　ｐ、ｓ、：ｔ、　−１１ ８０４１）のエントリを行って指軍スイッチ押翰６６を
押下することにより１．１２ＫＰ／幌２（１６ｐ　、　
ＦＴ　、　ｉ、　、　、ｌの−Ｔ、＊圧上限がエントリ
される。

Ｎ＋１６１５ｎ（１５％はｒｌ、１　％の１５０個の増
分に等１．い）をエントリＩ−て押釦６６ケ押下するこ
とにより１５係フルスケールの圧力変化限界がエントリ
されろ、再びこれら全てのエントリにより指軍スイッチ
アセンブリ６４からマイクロコンぎユータシステム６０
％にＲＡＭメモリに第４図のデータエントリサブルーチ
ンを介（７て適正な信号が供細さ才ｔろ、 実際には指軍スイッチからの信号はマイクロコンピュー
タシステム６０のインターフェイス７３、％にデジタル
入出力叛７７のデジタル入力回路７５に通され、次にと
自１４図に示す指片、スイッチ周辺インターフェイスア
ダプタ６２にｊ１■され、そこから中央処理装置７２及
びＲＡＭメモ！Ｊ　７１　Ａに通される。実際−ヒイン
ターフェイスに行く一つの信号は指軍スイッチ６５の各
桁に対して４個及び指軍スイッチ押釦６６に対して１個
の計１７個の１２ 異なる信号からなっている。

指軍スイッチアセンブリのメーカの指示により本技術に
習熟した人ならば指軍スイッチの用途に応じてＰｌ′ｒ
望の特定相互接続を行うことができるため、これらの信
号の詳細説明は必要とは思えな＾。

コノ場合指軍スイッチはカリフォルニア州バサデナのデ
シトロン社製モデル１ｍ　４５０１　Ｄ　５−４とする
ことができる。

前記データエントリはテストの進行中にはエントリ出来
ないこともお判りいたたきたい。さらにエントリはＲＡ
Ｍメモリ７１Ａ内に記憶されるため各テストに対して丹
エントリする必要はなく、新しいテス）　’ｆｌｌ１品
をテストする場合もしくはＲＡＭメモリから児全に電力
を切り離した硼合等テスト状態を変えたい時のみ貴エン
トリする。

全エントリがなされると次のようにテストを進めること
が可能である。データエントリのみならずテストな実施
するプログラムもｌｎＦＲＯＭメモリ７１Ｂ内に記憶さ
れる。この棟のメモリは特殊な装置を使用しないと変え
ることができない。データエントリ中に値を変えたい場
合及びテスト中に得られた個を一時的に記憶させたい時
にＲＡＭメモリ７１Ａを使用する。

前記したように装置に電力を加えた後の第１の動作はリ
セットスイッチ４８′？：押下することである。これに
よって信号がインターフェイス７３に加えられる、特に
デジタル入出力印刷回路板７７を介してデジタル入力回
路７５０入カバツフア８２と、デジタル入出力周辺イン
ターフェイスアダプター６１に加えられ、次にＣＰＵ　
７２　Ｋ加えられマイクロコンピュータ−システム６０
に加えられる。これによって最初にスタックポインター
及びＰ工Ａを初期化し、次にこれら全てを第４図のフロ
ーズに従ってサイクルし続けることによりプログラムを
実行する事が出来る。

局部開始モードで、テストを開始するには局部−遠隔ス
イッチ４５を局部位置に設定する。コンピューター設計
技術に習熟した人ならば、これによって局部−遠隔スイ
ッチ４５からデシタル入力回路１５及びデジタル入出力
印刷回路板７７、入カバツファ−８２及びデジタル入出
力周辺インターフェイスアダプター６１ＣＭ８図、第１
０図−第１２図及び第１４図参照）を介してマイクロコ
ンピュータ−システム６０に遠隔開始信号か供給されな
い挙がおわｆＪ）り頂ける串と思う。

もちろん、我々の成子動的平衡リークテスト装置を大き
な機椋装置の一部として組み合せる場合のように遠隔１
６号を使用してテストヶ向始する場合には、局部−遠隔
スイッチ４５を遠隔位置に設定する事により逼隔侶号ヶ
人カバッファ−８２及びデシタル入出力インターフェイ
スアダプター６１にってマイクロコンピュータ−システ
ム６０に供給する事が出来る。

全ての押釦データエントリーが行なわれ局部−遠隔スイ
ッチが遠隔モードに設定されるとテスト關始スイッチ４
６が瞬時押下される。これにより信号がインターフェイ
ス７３特にデジタル入力回路７５、デジタル入出力目」
桐向路板７７及び入力バツファ−８２に供給されるため
中央処理装置７２を介してマイクロコンピュータシステ
ム６０１５ によりイば号が感知され次に信号をデジタル入出力周辺
インターフェイスアダプター６１に供給する。

再び第）３図、第１０−１２図及び第１４図を針照。

次にテスト開始スイッチ４６が瞬時押下され前記ハード
ウェア動作か行なわれると、第４図の１リークテストＩ
Ｐ４Ｎ？”の判助ブロックに１イエス１応答か供給さｎ
る。こ扛によってプログラムか第５図及び第６図のリー
クテストサイクルサブルーチンに転送され、それが装置
のハードウェア系子の動作をｔＷＩＩ飾する。充填弁３
０は常閉であり、平衡弁３４及びυト気弁３８はｎ開で
ある。

第５図に関して前記したように次の動作は第５図のおト
気弁の閉成及び１点弁の開放動作ブロックで示すように
排気及び雉点弁を励起する事である。

特にこれによってマイクロコンピュータ−システム６０
特にその中のＣＰＵ　７２７１）′−らデジタル入出力
周辺インターフェイスアダプター６１に信号が供給され
る。次に排気弁開成信号はデシタル入出力周辺インター
フェイスアダプター６１により演算されて出力バッファ
８０に供給されそこで１１接排１６ 気弁３８を励起出来る信号にかえられそれを賄しる。

出力バツファ−８０は第１５図に示すものとする事が田
来、島送インターフェイスアダプター６１７１）らの１
８号はバッファー／ドライバー回路１２５に供給され固
体リレー１２７を作動させて１１５■交流回路を閉じ弁
を直接励起１°る０光填弁に曲し充填弁ｈＦＪ放信号か
ＣＰＵ　７２ρ）らデシタル入出力周辺インターフェイ
スアダプター６１に供給され次に出カバソファ−８０に
供給されて充填弁３０を直接励起する。ｗＪ１５図は出
力パツファ−８０を示し周辺インターフェイスアダプタ
ー６１からの信号がバッファー／ドライバー回路１２５
にゆき固体リレーを作動させて１１５■交流回路を作動
させ弁を直接励起する。

第５図に関して前記したように平衡弁は前のテストから
開いたままである、すなわち常時情動状態にありその結
実現在それには信号が供給されないＯ この時点において第５図に示す充填遅延時間動作が生じ
る。実施例において充Ｓ遅延時間は１０秒であった事を
思い出していただきたい。充填遅延は０．１秒の増分内
の充填遅延として入力された数値を時間と呼はれるＲＡ
Ｍメモリー位置に写す拳により行なわれる。前記したよ
うに割込みが生じると時間に記憶された価が減分される
。割込みは０．１秒間隔で住じ、その結果時間に記憶さ
れた値が０　［等しくなるまでプロセスか継続する。

第５図に示すように充填遅延時間動作が完了すに示すよ
うに、こｊは第２６図に示すアナログ／デジタル（Ａ／
Ｄ　）サブルーチンを使用して行なわｔｌ、　ＣＰＵ　
７２により充填圧トランスジューサ４０からの読取りを
得る。

トランスジューサ信号は常にマルチプレクサ−９４に存
在する事が解る。充填圧トランスシューｖ４０から得ら
れる信号は充填圧信号調整器１０４に供給される。

信号調整器１０４は充填圧トランスシューサ４０からの
信号な第１８図に示すアナログ人出力板７８と両立出来
るものに賀る。先に進む前に充填圧信号調整器１０４は
信号調整−バッテリバックアップ印刷回路板９９上に収
容され、七オｔは第１１図に示すようにマイクロコンピ
ュータ−システム６００１都であるインターフェイス７
３の１都としてｊ（又呑さ才している事をおＷｅすＪ只
ざたい。

サンプルボールド回路９５はアナログ入出力周辺インタ
ーンエイスアダプター６３カ）ら信号を受信し、入力電
圧を出力に供給するように告は画成スイッチとして機能
する。

この信号が第１８図のマルチゾレクザー回路のチャネル
０人力に存在すると、第２６図に示すＡ／Ｄサブルーチ
ンを使用してこのような信号を読みとる挙が出来るＣ第
２６図のアナログ／デジタル変換サブルーチンについて
述べると、このＡ／Ｄサブルーチンを使用する前に変換
を要求するルーチンによりチャネル選定及びサンプルホ
ールドプロセスが行われる。Ａ　／　Ｄは連続的に変換
を行うように構成されているため、開始トリガーは必１
９ 要とセーず且つ゛１史用中も＋、　＜はｌ＆換先光１１
１号使用されない。最初に行うべき動作はアナログ入出
力周辺インターフェイスアダプター６３を初期化する事
でありそｉ’Ｌ　ｃでよってデジタル入出力周辺インタ
ーフェイスアダプター６１が設定されてそれをアナログ
／デジタル変換に使用して信号を耽＝７）−取ろ事が出
来るようにする。これが行なわれるとマルチプレク°丈
テップ９４のチャネル選定入力がアナログ入出力周辺イ
ンターフェイスアダプター６３から信号を受１言してチ
ャネルピロ入力に人力された＋Ｊ圧？スルプツトするよ
うに告ける。事実そハはチャネル−ピロを選定している
。

マルチプレクサ９４′ｆＪ′−らの信号はゼロ及びスパ
ン調整回路１５９及びサンプルホールド回路９５、及び
オｌＩ得回ｗＩ９６に通過してアナログ／デシタル変換
器９７に人力する事が出来る。次にアナログ入出力周辺
インターフェイスアダプター６３によりホールドが選定
され、ブンフ０ルホールド回路９５からＡ／Ｄ変換器に
供給される信号を安定化しその変＆！＋’ｒ防止する。

２０ アナログ／デジタル変換器を工人カアナログ信号を連続
的に変洪するモードにあり、変換開始信号は使用せず変
換先了信号も発生しない。九横赴延後にチャネル０の甑
取りが行わｆ（変数Ｐ１として自己憶される。

次にＡ／Ｄサゾルーチ／から第５図のフロー図に戻ると
、その上の判断部により充填圧が限界内にあるか否かの
装量が出されることが判る。この時点において充填圧限
界は口１１例の検討時に指軍スイッチアセンブリ６４を
使用してｆｌＡＭメモリに予め読み込んだものであり、
この場合それは充填圧下限に対しては０．９８ν／−″
（１４ｐ、θ、１．）であり充填圧下限に対しては１．
１２　Ｋｐ／−”−”　（１６ｐ、ｓ、ｉ、）であるこ
とを思い出していただきＴこい。

充填圧がこれらの限界内にない場合には欠陥を示し、Ｃ
ＰＵ　７２はプログラムを第６図の欠陥シーケンスに移
し、欠陥ランプ５２を点灯し、不合格ランプ５１を点灯
し、テストランプ４９を消灯して夫々平衡及び排気弁３
４及び３８を開き、光横升３０を賄じプログラムを第４
図のアイドルループにＭｊ。この欠陥シーケンスはこの
種の欠陥中に虞灯してはならないテストランプの消灯等
のいくつかのステップを実施できない場合にも生じる。

欠陥ランプは排気弁の融成及び充填弁の開放について前
記したステップと実質的に同様に点灯され、中央処理装
置７２からデジタル入出力周辺インターフェイスアダプ
タ６１に信号か供給され（第１４図参照）そ几は次に出
力バッファ８０に信号を惧紬する。周辺インターフェイ
スアダプタ６１からの信号はバッファ／ドライバ回路１
２５の人力に供給され、次にバッファの出力は電子機械
リレー１２９に供給さｎで接点を閉じて欠陥ランプ５２
への電源回路を児成し次にそれがオンとされる。

不合格ランプ５１も同様にオンとさｎる。ＣＰＵ７：ｌ
）らデジタル入出力周辺インターフェイスアダプタに信
号を供給することにより充填弁が閉じて排気弁が釦き、
次に出力バッファから信号が除去されて弁を油動する。

朽び第５図において充填圧が限界内であれは前配したよ
うに′Ｍｉｌ＋８テスト′１０Ｊ）ら開放されたまプで
ある平角３ｆ３４か閉成する。平衡弁の〜１成方法は排
気弁及び充填弁の励起と同様に行われるため計則に説明
する必要はない。

この時点において平衡遅延時間が装置にプログラムさｎ
ｌそれは目ｉＪ記したように升の開Ｍによる空気圧的効
果を考慮するのに充分１工休止乞装置の動作に与える力
泳である。１ｂ車スイツチ６５上の２０５［）を入力し
指軍スイッチ押釦６６を舟下することにより装置にプロ
グラムさ７″ｌた本例において５秒である平衡遅延時Ｉ
ＭＪが経過づ−ると、ＣＰＵ７２は初期差圧脱取りン侍
てそれを記憶する。

貴び第１８図におい℃初期差圧脱取りを得るプロセスは
前記充填圧トランスシューｖ４０の読取りを得るのと実
質的に同じ方法で生じる。唯一の違いはアナログ人出力
絢辺インターフエイスアタ゛ブタ６３からマルチプレク
サ９４のチャネル選定入力への信号はマルチプレクサか
チャオ・ル１人力に存在する信号をスループットするよ
うになっている点である、甑取りを侍るとその価は変数
Ｐよ２３ としてＲＡＭメモリ内に一時的に記憶される。

初ルｊ走圧はメモリ７１の一福であるバＡＭメモリ７１
ＡＫＢ己１息され心。孜々の１史用するＡ／Ｄ変紬恭は
１０ビツトユニツトとして知られているものであり、こ
れらの値は１０ビツト＋＃報として記憶される。全ビッ
トがオンすなわち１の状態にあれは、トランスジューサ
の価は最大イｍもしくはそれ以上であり、充填圧か限界
内になげれば前記したように欠陥シーケンスに入る。全
ビットがオフすなわち０状態であ■ば、こＴ＋は負のオ
フスケールに取りに対応し前と同様に欠陥シーケンスと
なる。

ＯＰ’ＬＪ　７２がテストシーケンスの実際のリークテ
スト部を開始したという表示として、プログラムは前記
欠陥ランプ５２と不合格ランプ５１ぞオンにするのと同
じ方法でテストランプ４９をオンとする工程に進む。次
にＣＰＵはテスト違蝙時間動作に進む。交替差圧計１０
を使用しない電子動的平角リークテスト装′Ｉｋを使用
している場合には、単にもう一つのテスト遅延時間ルー
プを使用してこれを行う。テスト遅延時１…の検りにＣ
ＰＵは厳終差２４ 比を待て記憶する。

差圧計算動作は初期圧とに科走圧の胱取りを行って差を
決定することを含んでいる。この拳法は本技術に習熟し
た人ならは容易にプログラムすることができ、これらの
イｌを割算するプログラムの詐＃Ｉ説明は不便とＭｓわ
れる。

差圧の変化が正であればこれは通常予期されるある程度
の圧力損失馨意体する。この時点において次の判断段階
に入り、゛°全差圧か差圧限界よりも大きいか？°゛と
いう装量か何われ、これは我々の前例において圧力変化
眼界を越えたかという質問をしていることになる。この
場合プログラムは差圧の変化がフルスケールの１５条よ
りも大きいかを顎間していることになり、笑施例におい
ては水２５．４１１Ｊｌ（１インチ〕の差圧トランスシ
ューブを為えているため水３．８１　ｍ　（０，１５イ
ンチ〕に対応している。

″全差圧が差圧限界よりも大きいρ・？゛′という質問
の答が゛イエス・“であ４ば、これは不合格品を示し前
記不合格シーケンスに入る。不合格ランプ５１を魚釣し
、テストランプ４９を消灯し、平角及び排気弁３４．３
８を開いてリークテストサブルーチンから主テストグロ
ダラムに戻る。

第２４図においてこの如太仙チェックの必要性か明白と
なる。第２４Ａ図〜第２４Ｆ図には後記する交替差圧計
ＴＯのみならすさ筐さまな差圧計５３ケ示す。

フルスクール読取りとして０〜１００の耽取りを使用す
れは、０中心メータ′？：便用して右側に０力）ら＋１
００葉でのフルスケール圧力読取りを行い、左側に０か
ら−１００１での負の差圧変化値を読取りそれを負のフ
ルスクール読取りとすることができる。水２５．４ｍ（
１インチ〕の差圧胱堆りを行うため＋１００は水２５．
４ｍ（１インチ）の１００％を示し−１００は水２５．
４論（１インチ）の負の１００％を示す〇 従来技術の例において０〜１００のフルスケール読取り
は１．０５警／眞に（１５ｐ、ＥＪ、ｉ、）を示す。

１．０５Ｋｚ／嬬”（１５ｐ、β、１．）はおよそ水１
，０５５眞（４１！ｂ、５インチ）に等しく、こうして
従来技術のトランスジューサは扶々の便用する差圧トラ
ンスジューサよりも４１５．５倍小さい分解Ｗｅのフル
スケール院堆りを有している。最高でも従来技術の感度
は１／　２　！ｌ　＋。。０すなわち水０．５［１８訃
（［＋、０２０インチ）であった。

我々の改良型装置において分解能は前記したように１０
ビツトバイポーラｍＡ／Ｄ変換器のものであり、およそ
’／１０２４　（”／　ｉｏ　）であることを意味する
。出水２５．４緬（１インチノの範囲を有するバリダイ
ン差圧トランスジューサを選建した。

Ａ／Ｄ変換器の感度をさらに説明するために最初１ビツ
ト型について考える。細流０〜１０Ｖの電圧範囲であハ
ば１ビット信号はオンもしくはオフであるため１ビツト
変換器は２つの状態０〜５ｖ（０）もしくは５〜１０Ｖ
（ＩＪを検出することができる。２ビツト変換器の場合
にはもう一つのビットにより分解能が２倍になり、４つ
の状態、０〜２．５Ｖ　（０、ｆＪ　）、２．５〜ｂ、
ＯＶ　（０、１人５．０〜７．５　Ｖ　Ｃ１、０）もし
くは７．５〜１０．０　Ｖ（１，ＩＪを選定することが
できる。分５Ｉ＃ＨＰは１２７ ビット付加するたびに有効に２倍とされ２のべきにより
決定さハる、すなわち１０ピツ）Ａ／Ｄ変換器の場合感
度はｌ／　１０　ｊなわち１／、。２４である。

しかしながら算術処理な容易にするため１０００の目盛
を使用して水−２５，４Ｍ（−１インチ）から水＋２５
．４ｗｔｂ　（＋１インチ）のトランスシューブ範囲の
変換を行った。こうして我々の感度は水５０．８ｍ（２
インチ）の全トランスジューサスパンに対しては１００
０目盛である、すなわち１目掛当り水、０５０８怒（０
，００２インチ）である。

これは従来技術の１０倍である。

選定したモデル及び実施例は１０ピツ）　Ａ　／　Ｄ変
換器を考慮しているか、例えば１２ビツトもしくは１４
ピツ）Ａ／Ｄ変換器も発明の範囲に入る。

従来技術で良く知られているように１０ビツトＡ　／　
Ｄ　’１　洪器が最大価であれは、全ビットがオンであ
りその１０進数は１０２３である。我々は指事スイッチ
を使用してさまさｆなパラメータ数を入力し差圧計５３
及び′９：、換差圧計７０の圧力変化を表示した。

２８ 再び第２４図において符号工（初Ｊ４ＪＪ　）及びＦ（
最１Ｆ’、）は第２４Ａ図〜第２４Ｅ図のメータの下、
すなわち夫々・差圧側・１及び・交換差圧Ｎ１・・の列
の下に付されている。法例において差圧Ｈ」５３は差圧
の面接読取りを与え、交換差圧計７０はフルスケールの
係で笑隊の変化を示すマイクロコンピュータ計算値を表
示し、それは差圧計の初期（１）及び服ｉ　（Ｆ）読取
り位置に無関係に行われる。

理想状態か存在しリークが生じない場合には、初期及び
最長差圧読取りな示す工及びＦは差圧計及び父換赤圧削
上の０点にある。

しかしながらこれはめったに生じないため第２４Ａ図〜
第２４Ｆ図には示されていない。第２４Ａ図に示されて
いるのはＯの初期差圧脱取り、差圧計上の＋１４の取終
差圧読取り及び交替差圧側・７０上の＋１４の′に糾仙
である。最初の計算はテスト遅延時間の開始直後に行わ
れるため、差圧読取りの初期変化は常［０である。

テスト圧源とテスト部品とは升の閉成後は等しくなけれ
ばならず従って００差圧衣示を出すため、理想状態下に
おける初期読取りは０でなければならない。テストが理
想的であれば断熱、体極変化及びテスト部品からのリー
クは０であり、最終差圧計表示は０となる。テスト中は
通常テスト部品力）ら幾分かのリークがあるため、最終
読取りは初期読取りから幾分変化する。Ａ例においてフ
ルスケールの１４％の最終差圧トランスジューサ読取り
が示され、差圧の変化は＋１４の最終値と０の初期佃と
の差すなわち交替差圧計上の＋１４０ｔｔｒｃ俄りであ
る。我々の例において限界は１５であるため、これは合
格テスト部品となり合格ランプが点灯する。

第２４Ｂ図に通常発生することを示す。平衡時間中の遅
延により初期読取りは差圧計５３上の０点以外の点にあ
る。この場合テスト遅延後に初期読取りは＋１０となり
、これは交替差圧計７０上のＯＡを表わす。最終読取り
は＋２４となり差圧側５３上の＋１０から＋２４の損失
は交替差圧計７０上の＋１４の成泡りを表わす。合格価
が１５であれば合格品となる。

もう一つの合格テスト部品を第２４０図に示し、多くの
理由から初期耽織りは−１０となり最終読取りは＋４と
なる。交替差圧計７０は＋１４の最ｉ耽堆りを示し、差
圧限界が１５であればこれは合格テスト部品である。し
かしながらテスト部品が合格か否力・上目でにρ）める
ことカニーｉ＋：富に困難であるような耽取りを与える
合格品か生じることも明白である。

ある場合（第２４Ｂ図）には正の初期価で開始し別の場
合（第２４０図）ＶＣは負の初期値で開始・する理由乞
理解１−るには平衡時間の概念を理触しなければならな
い。テスト部品がそれ自体の温度置注を持たず（例えば
周囲温度よりも脇かＶｃ暖力）いかあるいは冷い）且つ
鼓動特性ケ有するものと仮定すると、平衡時間の使用は
表示されない。テスト８品にリークがあるものとしてこ
のような状態の元で平衡時間′４！：便用すると、初期
読取りに正のオフセットが住じる。こうして温度特性や
波面特性が存在ぜず大きな正の初期（１）酷、取りが存
在する場合には、平衡時間の低減劣考慮しなければなら
ない。

しかしながら１品度もしくは波面特性が存在する場合に
は、峙足テスト部品に応じて正もしくは負の初ルｊ読取
りを完全に適正なものとすることができる。本技術に習
熟した人ならば正確な補償＋胴上決定して正確な平衡時
間を得ることかできる。

こうして第２４Ｂ図及び第２４０図はＥＩＩＪ能な広範
なテスト部品及び状悪な示す。

存在できる一種の状況は差圧計５３がテスト期間内に負
方向にオンスケール読取りを示す。これは圧力源の圧力
損失もしくは不適正な充填時間が与えろ７１ている過度
に暖いテスト部品により生じ且つこれらの状態は容易に
確認できるため、負のフルスケール読取りを与えるテス
ト部品乞即座に不合格とはしたくない。従ってこれらは
常に欠陥として示される（第２４Ｆ図）。

逆の状況では正のフルスケール読取りにより欠陥表示は
生ぜず、・その理由はこのような読取りは不適正な充填
時間か与えろｉる過度に冷いテスト部品もしくは過度な
リーク速厩によってのみ生じ１５す るためである。これら２つの状態間の差は基本的装置の
容量を越え後記する動作方法を必要とするため、正のフ
ルスケール読取りは常に不合格となる。

しかしながら次側においてなせ差圧の初期及び最終個を
比較してそれらが最大餉もしくはそｉｔを越えないこと
を確かめなければならないかが明白となる。こｎは良も
しくは不良テス）　ｄｓ品に差圧計５３上のオンスケー
ル読取りを与え、差圧限界と比較した時に交替差圧計７
０上に不合＆を示すことが１」訃なためである。

第２４Ｄ図にこの状況を示し、初期読取りは＋５０最終
勧１取りは多分＋９０である。差圧限界が１５チである
場合交替差圧Ｒ１°は＋４０％の差を示すため、不合格
品が表示される。

第２４Ｅ図において冷いテスト部品もしくは過度な平衡
時間により初期圧力値は＋５０％となる。

最終読取りは＋６０褒に主じる。差圧限界か１０チより
大きい場合にはこれは合格品となる。

こうしてテストの終りに交替差圧組は差圧の変′１５／ 化の大きさをアナログ形式で示す。操作者が指軍スイッ
チアセンブリ６４によりメータの読取りと装置に設定さ
れた仕様を比較することにより、操作者はテスト部品が
全体として不合格であるのか単なる失敗にすぎないのか
を決定することができる。交替差圧ｆｆｔ　７０及び従
来技術で得られる電子う一つの問題が解決された。

我々の改良型動的平衡リークテスト装置の動作において
遭遇するさ捷さまな例に対して蓋圧変化の計算方法につ
いて記載し、標準差圧計に対してリークテスト装置に交
替差圧計を使用する場合の利点について検討し、さらに
これが現在の装置よりも邊かに優れていることを示した
。

頻繁な交換を必要とし且つ意味のある感度ケ得るには出
力を多くの部分に分割しなけれはならない伯接設取圧力
トランスゾユーサを放棄して替りに例えば水±２５．４
Ｍｋ（１インチ）の遥かにｌトさな軸回を有し例えば１
０００の遥かに小さな数で分割しても戎かに良好な感度
が得られる差圧トランスジューサを１史用することによ
りこれらの利点が得られる点を強調し過ぎることはでき
ない。本例（〆こおいて０．１条の感度と仮定すると現
在の状態の装置は１−４　”ｐ／　ｚｍ”　（２０１：
□、ａコ、、）の面接断取トランスジューサを使用しこ
の読取り’＆２（１，ｎｏＯで除して水０．５０８ＨＩ
Ｌ（０，０２インチ）の感度が潜られ、我々の差圧トラ
ンスジューサと我々の１０ビツト型Ａ／Ｄ変挾器の場合
にはテスト圧に無関係π水０．０５０８雁（０，００２
インチ）の感度が得られる。１０００部の１０　ｍＶに
分割さハだアナログ信号は蓬かにノイズが少く、従って
アナログ信号を２０，０００部の０．２５　ｍＶに分割
して最°良の感度を得る現在の鉄部に対して利廓が得ら
れる。

トランスジューＶを交換する要求及び従来技術の装置を
故莱して電子動的平衡リークテスト装置を使用すること
により遥かに矢きな感度を傅るという双求は少い。ｆた
我々の装置は動的〔ｌすなわち゛′ライブセ゛口″゛と
叶ふ浮動０を有し、そｊは央６５ 隙の差圧値における初期差圧＆取りを得、差圧引上００
位［において理想状態の元でテストな開始し℃より大き
な感度を得ようとすものではない。

シミｊ示した装置の異なる動作力法を使用することによ
り、前記し１こものよりも速いテストが装置にテスト糺
呆を予測させることによつで得らｊ、こうしで合札、不
合格を早用ｊｌｃ表示することができる。

絽２５図に本発明に使用する差圧トランスジューサ２９
からの実際のＸ−Ｙ座標な表わ第６つの曲線を示す。１
祠は基本的に１大勾白Ｌ１及び１１」・・勾装置の２部
分からなっている。もちろん勾配はＹ座像の変化値をＸ
厘標の変化値で除したもので表わされ、勾＾じを表わす
数が比較的太きいために１大勾配置部とＩＩ？ばれ、１
小勾配部部は比較的小さな数に等しい勾配値を有し１い
る。

発明式は平衡弁の閉成のすぐ後に続く曲線わμで表わさ
れる曲線の初期大勾配は平ｔｈ遅延時間の不完全な選択
、Ｉ！１熱効来、平絢弁の誇ｊ成［、、にる体粕の物理
的変化によって住じるものとＧ（じている。

６６ 曲−〇小勾配部は安定した彼の装置を示しテスト部品の
実際Ｑ）リークのみ？考慮している。しかしながら差圧
トランスシュー＋ｊ２９か内のリーク速度が第２６図に
示ｊある群の一連の鼻術曲）尿に酷似していることに気
付くまで長い間これらの特性をどのように１吏用するか
ということを発明者は見逃・して藝定。事実第２５図の
曲縁１，２及び３は第２６図の曲ｉ１　Ｃ＋　Ｄ及びＥ
Ｋ酷似しておりそれ１うの表わ丁数式ｒ曲−の終端に隣
接して示しである１ さらに実験・ど′１″ｉって第２７図のグラフが得られ
第２６図の曲線の勾配変化％の比較を表わしている。、
勾配変化曲縁は一定勾配で収尿しようとし第２５図の曲
線１，２及び３に最も近い数学関数ケ表わす曲７ＪＯ，
Ｄ及びＥの勾配変化曲縁は一定の勾配で一点に収尿する
。

これによって発明者は曲１藏上の漬が数式の勾配にほぼ
等しくなるｆで差圧トランスシュー′Ｆｊ２９ρ）ら傅
ら第１る値により生じるリーク速度ａＩＩ麿の勾配な連
続ｌ村にチェックできＪｌ、ば、第２５図の軸ｔその点
まで上昇させることができ、火線のリーク速度にりいて
テストが・１」ｋ４され、二三の伽の一１ｉ−ｖｔ基い
て早ル」にも格、不合格ｔ理想することができ、早期合
格特性を有しない装置について前記したテスト時間より
も長かに時間が短くなると信するに到った。算術的ｖｃ
第２７図の勾配曲線はジル２７図の曲線上の別の点の勾
配の前記点の勾配からの賦化か１０％以下となるようｒ
Ｃ収束し、我々はこの特性を使用して装置に早ルＪ自格
−早Ｍす不合格特性ケ１じさぜｔ：。

石２８図に第６図に示すＩ′励的予枦１］１“特性を有
しｉｒい我々の基本的リークテスト装置〜と大部分同じ
ではあるが、早ル」合格及び不合格特性な有する手Ｅ　
Ａの鮨；子動的平衡リーク７スト装置の変形により使用
さ才するもう一つの主動作を示１フロー図を示す。この
場合平妬九延ブロック筐では第６図に示すｉｌｊ記装置
で使用した全ステップはそのブまである。平衡遅延は再
び泥２５図の″大勾配°１と同径；な曲線を生じる。

同和［第２８Ａ図は大部分第４図と［ｈ」じであるが、
“動的予測”型リークテストを笑施する我々の装置に必
要なもう一つの製作を示している。

筐た第２８Ｂ−及び第２８０図は大部分第５図及び第６
図と同じであるか、予測型テストに必要なもう一つの動
作を示している。

我々の装置か第２５図に記載した軸の趣ｗＪを使用して
予御ｊＶ−り速度を得、動的予測を行うには、罰記した
ものとは幾分異なった指軍スイッチの設定か必要である
。前と１ｂＪ＆に拍車スイッチ６５の１０００桁を使用
して入力の行先を選定し、扶々の装置では予測リーク速
度を得るのに使用されるため次のようにコード化されて
いる。

０−モード（００〇−全テスト、００１−予測テスト） １−９９．９の最大価を１する０、１秒増分内の充填時
開［等しい。

２−９９．９の取太イ■を有する０、１秒増分内の平衡
時間に等しい。。

３＝９９．９の最大価を有する０、１秒増分内のテスト
時間［’ＳＬい。

３９ ４−０．１％フルスクール内の圧力充填下限（ｐ、ａ、
ｉ、）に寺しい。

５−　［Ｊ、１％フルスクール内の圧力充填上限（ｐ、
ｕ、ｉ、〕に等しい。

６−フルスケールの０．１伽内の差圧限界の変化に等し
い。

７−子絢ナスト時間に等しい。（ｍ敵の春、例えば７秒
＝Ｏ／Ｄ） 操作油がこれらの変更乞行った後光横圧トランスジュー
サｆｆ１号か＋５ｖのフルレスケール佃を有するように
校正され差圧トランスジューサが＋５ｖのフルスケール
出力を有１゛るように枚重されていることか確めろＴＩ
ると、本表置は後記する勅しい方法による動作準備光子
となる。この２Ｐ、法は基本的ＶＣ第５図に示１−もの
と１０Ｊじステップを使用して開んされ、最初に全ての
ランプを消灯することを宮むＯ 次のステップは排気弁を閉じ、充填弁を開いてＮｏ記し
たように九填遅処時間及び平賀遅延時間を待つことであ
る。第２９図に示すように平衡遅延４０ １９間（封ｋｒ二装Ｕは入力されンτ二限界左圧を励作
左圧に校正しくブロック２０１）、Ｓｌ馨＋１１１１に
、ＰＩＹ−５００に、＠合祖″を−５００に、°基準゛
′Ｙ　−５１２ｋ’−’４ｊＪＫ’３化す’）　（２ｕ
　２／。

次のステップ２０３は後記する目的でパスカウンタを１
０に設定し、その後に可変時間（タイム）を操作者が予
め指軍スイッチで入力したテスト時間に等しく設定する
ステップ２０４が続く。

次のブロック２０５においてタイマが作動可能と嘔れる
。最初の通過と仮定すると使用するルーチンの次のブロ
ック２０６は（前の圧力を表わす）Ｐ２の値をＰｌに等
しく設定する。もちろんこの場合Ｐ１は−５００に等し
く設定されているため、この点においてＰ、及びＰ□は
共に−５００に等しい。ブロック２０７はチャネル１上
の信号をサンプルホールドを介してアナログ／デジタル
変換器に通す。ブロック２０８はサンプルホールドの出
力に存在する信号を定常状態に保持して正確な変換を行
う。

ブロック２０９は０．１秒間隔タイマからの割込みを可
能とする。ステップ２１０はタイマからの次の割込みを
待つ。割込サービスルーチンはサンプルホールド回路に
より保持されているアナログ信号をデジタル値に変換し
てこの変換をＰユに記憶する。割込ルーチンはまたタイ
ムに残存するカウントを調べて、０より大きい場合には
それを減分する。こうしてステップ２１１は割込サービ
スルーチンにより達成畑れる。判り易くするために第６
４図に代表的曲線を示し、それは差圧トランスジューサ
２９から得られる代表的Ｘ−Ｙ曲線である。図示するよ
うに差圧トランスジューサからのＹ曲線てより表わされ
るＰｏの第１値は６５の値を有している。ステップ２１
２は６５の読取りがトランスジューサ範囲の外かどうか
を質問する。

デルタＰトランスジューサの最大出力を５ｖを表わすよ
うに校正したことを考えると、これはでらにＡ　／　Ｄ
変換器の１カウントが０．０１　Ｖに等しいＡ　／　Ｄ
変換器の５００カウントを表わすと言える。

差圧に対して得られた我々の第１値は６５でありそれは
Ａ　／　Ｄ変換器の６５カウントを表わすため。

本当に質問しているのは１１６５は＋５００より太きい
かもしくは−５００より””””：Ｊ’＜　＃いか？　
＋＋ということである。全てが正常に作動しておれば答
は１１ノー１１であり、それは適正なテスト状態の元で
差圧トランスジューサ２９の範囲超過は考えられないた
めである。第１の読取りがトランスジューサがオフスケ
ールであるというこのような大きな圧力変化を示す場合
には、平衡時間、充填時間等の選定に誤差があるものと
考えられ、判断ブロックの１１イ工ス１１分岐から後記
する欠陥サブルーチン（第６２図）に進む。

しかしながら全てが正常に動作しているものとすれば１
判断ブロック２１２の出した質問に対して装置は１１ノ
ー１１の返答を出し１次のブロック２１５に進んで１１
パスカウンタは１０に等しいか？１１を質問する。答が
１１イエス１１であれば制御はブロック２１８に移てれ
る。ブロック２１８はｓ　２＝＝８゜を設定しＳ２は１
１１１となる。

我々が実際に行おうとしているのはこの点における差圧
トランスジューサ２９のＸ　−Ｙ　曲線（７）勾配を計
算することであり、最も最近得られた曲線部の勾配を計
算上なければならない。勾配はＸ座標の変化（時間の変
化）で除したＸ座標の変化（圧力変化）に等しいことを
思い出していただき４３ たい。最初の例において圧力変化はＰ□−Ｐ２＝６５−
（−５００）＝５６５であり時間の変化は０．１秒であ
り従って勾配は５６５１０．１　＝　５６５０となる。

しかしながら勾配の計算を容易にするために我々は常に
同じ０゜１秒の時間で除しているが。

０．１の替りに１で除して勾配をＰ、−Ｐ、＝５６５に
等しくシＳ１は５６５に等しく８２は１１１１に等しく
する。

次にブロック２２０によりパスカウンタ力１０に等しい
かという質問が行われ、それは前にこの値に初期化され
ているためであり従って判断ブロックの＋１イ工ス１１
分岐に入り次のブロック２２１が０．９　Ｘ　Ｓ２（０
゜９ｘ１１１１＝９９９゜９）を計算する。ブロック２
２２で知りたいことは継続する曲線部の勾配の値の直前
の曲線部の値からの変化が１０％以下であるような曲線
部にあるかどうかということである。この場合状々は非
常に高い勾配５６５を有する曲線部にあることが判り。

肌９　Ｘ　ｓ２＝　９９９．９である。これによってリ
ークテスト及び装置を開始させる適正な曲線部に到４４ していないことが判り、従って判断ブロックの１１イ工
ス１１分岐に従ってＰ２をＰｏに等しく設定する動作ブ
ロック２０６の直前の点に行く。

我々は曲線の次の部分の勾配の値を求めたいのであり我
々の例においてそれは殊（０，１）公的分において生じ
るため、前の差圧値を表わすＰ２を得られたばかりのＰ
ｌの値に設定し、従ってこの場合マイクロコンピュータ
はＰ２を６５に等しく設定してＰｌの新しい値を得る。

次にチャネル１人力が読み出されてｋ　（ｏ、ｉ　）秒
後にＡ　／　Ｄ変換器上の１１０カウント値を得、マイ
クロコンピュータは再びブロック２１２をチェックして
トランスジューサが範囲外かどうかを調べる。範囲外で
はないため判断ブロックの１１ノ−Ｉ＋分岐に入り、次
ニマイクロコンピュータはブロック２１９において８２
をＳｌに等しく設定して新しいＳｌを”１−　”２　ｊ
なわち１１０−６５＝４５に設定する。

前と同様に１１パスカウンタは１０に等しいか？＋１と
いう質問がブロック２２０において行われ、そうである
ためゾログラムはｓ２５６５に。９を乗じ。

それは５０８．５に等しく、それが４５よりも大きいか
どうか質問でれ、答は明らかに１１イエス１１であるた
めプログラムは前の差圧値を表わすＰ２が現在の差圧値
を表わすＰｌに等しく設定てれるブロック２０６の直前
のサブルーチン部に戻る。

表 １５係として入力した差圧限界−１５０作動差圧：１５
０÷２ニア５ Ａ　／　Ｄ変換器１カウント＝　ｏ、ｏ　ｉ　ｖゼロ及
びスパンを介して入力を調整する。

各チャネル調整 その結果　＋５．００　Ｖ　＝＋フルスケール〃−５゜
ＯＱ　Ｖ　＝　−ｔｔ こうして　１カウント＝。２％フルスケール５カウント
−１，０チ　　〃 ５００カウント＝　１．［］”’０．０係　〃上記表及
び第３３図の曲線を使用して第７計算が行われるまでは
０．９８２はＳｏよりも大きくないことが判る、事実第
７回の試みに対して６個の値を使用することによりＰ２
は１８８に等しく、Ｐｌは１９９に等しく、Ｓ２は１２
に等しく、Ｓ工は１１に等しく、０゜９　Ｓ２は１０．
８に等しくそれは１１よりも大きくないことが判る。こ
の時点において我々は座標を１１動的予測１１で表ねて
れる点に移動式せ、Ｐ］が１９９に等しいグラフ上の用
語１１開始１１が我々のＩＩ　ＱＩＩ点すなわち曲線の
限定点となりその点から交替差圧計７０の読取りを行う
。

一定勾配すなわち０勾配に対してはＩＩ　Ｑ　ＩＩ点は
２つの読取りに見い出される。ＩＩ　Ｑ　１１点が迅速
に見つからない場合にはトランスジューサは範囲を外れ
て欠陥ルーチンに行く、 ＩＩ　Ｑ　１１点を見い出した後テストランプを点灯し
て新しい変数１１基準１１すなわちＩｆ　ＲｅｆＩｆＯ
値をＰｌに等しく設定し、この場合１１基準１１は１９
９に等しく　Ｐ、を初期化した時に実施したのと同じ新
しい初期化ステップを実施するのと同じである。

４７ 次に我々はパスカウンタを１だけ減分してそれを９に等
しく設定し１次にループバックしてＰ２をＰｏに等しく
設定しＰ２は１９９に等しくなる。

次ニマイクロコンピュータは差圧トランスジューサ上の
次の値を読み取り、それは２０９に等しくＡ　／　Ｄ変
換器の２０９カウントである。これも再び範囲内である
ため新しいＰｌを２０９に等しく設定する。

次にマイクロコンピュータは１１Ｐ１カドランスジユー
サの範囲外か？　ＩＩという質問を行い答は否である。

次に１１パスカウンタは１０に等しいか？１１を質問す
る。この場合否であるため前に通ったブロックは通らず
、新しい曲線部にあるためこれは論理的である。

次にブロック２１６において合計を（Ｐ、−Ｒθｆ）に
等しく設定する。次にブロック２１７において！１合計
は一５００以下か７　Ｉｆを調べ答は否である。

１１ノー＋＋エグジツトを使用してブロック２１８に分
岐が行われて８２ヲＳ工に等しく設定し、その後ブロッ
ク２１９においてＳよを（、”１−　Ｐ２　）に等４８ しく設定する。

次のブロック２２０で１１パスカウンタ＝１０か？１１
という質問が行われる。パスカウンタは１０であったが
ブロック２２６により減分されているため９である。従
ってブロック２２２に分岐が行われて１１パスカウンタ
ーＤか７１１という質問が行われる。この場合パスカウ
ンタは９に等しいためプログラムは判断ブロックの１１
ノ一１１分岐に従って前に通ったブロック２２６に行き
、再びパスカウンタを減分する。従ってパスカウンタは
８となりブロック２０６にループが戻りＰ２はＰｏすな
わち２０９に設定てれる。

次にブロック２０６〜２１１によりチャネル１人力の次
の値を読み取り、それは本例において２１８である。こ
の値はトランスジューサの範囲内であるため、１１ノー
１１エグジツトを使用してブロック２１２を離れてブロ
ック２１５に行きそこで１１パスカウンタ＝１０か？　
１１の質問が行われる。

パスカウンタは８に等しいため１１ノー１１エグジツト
はブロック２１６に分岐され合計を（Ｐｚ−Ｅ（ｅｆ　
）に等しく設定する。これにブロック２１７が続き１１
合計は一５００以下か？１１チェッつてれる。

！１合計１１は（Ｐｌ−Ｒｅｆ　）であるため１１合計
１１は２１８−１９９すなわち１９に等しくこれは−５
００より太きい。ブロック２１８は５２＝１３゜に設定
し、ブロック２１９はＳｌを（”ｘ−Ｐ２）に等しく設
定し次に判断ブロック２２０に入り１１パスカウンタは
１０に等しいか？１１を質問する。

これは８であるため答はもちろん否であり、従って次の
判断ブロックに入って１１パスカウンタは０より太きい
か？１１を質問する。もちろん８は０に等しくないため
ブロック２２６に分岐してパスカウンタを再び７に減分
しブロック２０６に戻る。

この動作は１０サンプルて対して合計１秒間継続され、
この時点において判断ブロック２２２で１１パスカウン
タは０に等しいか７　Ｉｆが質問式れ答は１１イエス１
１であるためループが停止する。ブロック２２７に分岐
てれて１１合計１′＋１は（Ｐｚ−Ｒｅｆ）に等しく設
定される。次にブロック２２８において１１テストはフ
ルタイムテストか７　ＩＩという質問５１ が行われる。モード制御のパラメータエン）　ＩＪが０
００１として入力てれておれば、予測テストが選定され
ている。この場合ブロック２２８の答は１１ノー１１で
ある。従ってブロック２３０に入って１１合計ＩＩ　＝
　Ｉ＋合計１１×Ｔ工ＭＥＰに設定する。すなわち合計
予測値は差圧トランスジューサの勾配曲線が（基準点に
おいて）１秒後で限定てれる時点からの差圧の総変化×
予測テストがプログラムでれる秒数に等しい。次にこの
合計がブロック２３２でテストされる。予測された合計
が入力てれた差圧変化の限界よりも大きい場合には、ブ
ロック２３３に分岐されそれは不合格ブロックである。

さもなくばテスト部品が許容限界内にあるという決定が
なされブロック２３４すなわち合格ルーチンに分岐でれ
る。

ブロック２２８に戻ってモードパラメータのエントリが
００００であればフルタイムテストモードな示す。従っ
てブロック２２９に分岐てれ１１合計（Ｐ□−Ｒｅｆ　
）が差圧変化限界よりも大きいか？１１という質問がな
てれる。そうであれば不合格が示５２ 芒れブロック２３３に分岐妊れる。ブロック２２９の答
が１１ノー１１であれば、ブロック２３２は１１時間が
ＯＫ等しいか（テストは終ったか）？１１を質問する。

答が１１ノー１１であればＰｌが範囲外となるまでテス
トが継続でれてブロック２１３に欠陥を生じるか、ある
いはブロック２１３のテストの結果合計が一５００以下
になれば欠陥を生じてブロック２１３で終るか、もしく
はブロック２２９において合計が差圧変化限界よりも大
きくなってから不合格ルーチンに分岐するか、もしくは
ブロック２３２においてテスト時間が０になってからブ
ロック２３４で合格ルーチンを行う。

予測テストの後にフルタイムテストを行ってフルスケー
ルのチとして予測式れたリーク速度がフルテストタイム
に対してテストを行ったものとほぼ同じであることが判
ると、装置の予測モードを確認することができる。

実施例の説明を完了するには前記合格、不合格及び欠陥
サブルーチンについて説明する必要があり、事実これら
は全て第１３Ａ図のサブルーチンで生じる。合格ザブル
ーチンへのエントリを要する判断ブロックの分岐にある
場合、プログラムは第５１Ａ図の１１合格二合格ランプ
を点灯する１１サブルーチンに入り、その結果サブルー
チンは合格ランプを点灯してすぐにナストランプを消灯
するように分岐し、充填弁を閉じ、平衡弁を開き、遅延
時間を待ち、排気弁を開き、第２８図に示すようにテス
ト開始に戻る。

テスト部品を不合格とする必要のあるいずれかの判断ブ
ロックの分岐にある場合には、プログラムは第３１Ａ図
の１１不合格：不合格ランプを点灯する１１ブロツクの
サブルーチンに入り、それは不合格ランプを点灯するサ
ブルーチンを示しすぐにテストランプを消灯するように
分岐し、充填弁を閉じ、平衡弁を開き、遅延時間を待ち
、排気弁を開き、テスト開始に戻る。

欠陥サブルーチンのエントリを必要とする判断ブロック
のいずれかの分岐にある場合には、第３１Ａ図の１１欠
陥：欠陥及び不合格ランプを点灯する１１ブロツクに示
すサブルーチンに入り、その結果サブルーチンは欠陥及
び不合格ランプを点灯してテストランプを消灯する動作
に進み、それに充填弁の閉成動作、平衡弁の開放、排気
弁の開放が続きテスト開始に戻る。

合格、不合格及び欠陥サブルーチンの作動方法及び合格
、不合格及び欠陥表示を我々の進んだ動的予測リークテ
スト装置の差圧計５３及び交替差圧計７０とどのように
組合せて使用してテスト部品がリークする理由を決定す
る方法について調べてきた。

次に第６４Ａ図〜第３５に図に実用上遭遇する差圧及び
交替差圧計の一連の読取りを示す。

第３４Ａ図は熱効果を補償するために充分長い充填時間
を使用し、テスト部品に波動効果が考へられないために
最小平衡時間を使用したテスト結果を示す。これによっ
てメータ５３及び７０上に同じ０の初期及び限定（Ｑ）
点が生じる。交替差圧計は１４チフルスケールの結果を
示すため、前の１５係限界を使用した場合テスト部品は
合格となる。事実１４％以上のあらゆる限界に対してメ
ータは合格を示した。

第３４１３図は正常よりも熱いテスト部品をこのような
事態を補償するのに充分大きくないフルタイムでテスト
する場合に存在するメータ状態を示す。これは初期（１
）及び限定（Ｑ）点のメータ上の負の移動により示δれ
る。この場合負のオフスケール読取りにより不合格状態
を作るのに充分な移動ではなく且つ交替差圧計７３は５
０係よりも大きい限界に対しては合格状態を示すためテ
ストをさらに実施することができる。

次に第３４０図において全リークテストが差圧計５３の
負側で行われることが判る。熱効果により工及びＱの負
の移動が生じ且つ存在するリークはメータを正とするの
に充分なほど大きくない点において図示する状態は第３
６Ｂ図に示すものと幾分類似している。再び交替差圧計
７３上の読取りは４０％よりも大きい限界に対する合格
品を示す。

第３４Ｄ図はテスト時間が終る前で差圧限界に達する前
に生じる正のオフスケール読取りにより５５ 生じる欠陥状態を示す。前記したようにこれは差別する
のが困難なため過度に冷いテスト部品もしくは全体的リ
ークによって生じ、テスト部品の欠陥が探でれさらにテ
ストを行うことができる。

またこのような大きな正のドリフトが生じるため、この
ようなメータのディスプレイは平衡時間を低減し、大き
な充填時間を使用するすなわち大きなトランスジユーザ
範囲を必要とする表示として使用できる。

第６４Ｅ図は曲線が限定てれないような太き式の正の移
動により生じる欠陥を示す。これは通常全体のリークを
示すが、平衡もしくは充填時間の変化もしくは大きなト
ランスジューサ範囲の使用を示すことができる。

第３４Ｆ図は曲線が限定される前に生じる大きさの負の
オフスケール読取りを示す。これは通常過度に暖いテス
ト部品を示すが圧力源の圧力損失もしくは不適正な平衡
もしくは充填時間により生じることもある。操作者は問
題を決定するためにテスト部品の欠陥を調べる。

５６ 第３４Ｇ図は熱効果により小さな負の移動を生じ同時に
リークが存在する場合に生じることを示す。負の移動は
過度に暖いテスト部品により圧力が蓄積して生じるため
、リーク速度が圧力蓄積速度を越す時間までリークがマ
スクされる。この点において曲線が限定式れ限定及び初
期値間で生じる最終値でテストを開始できる。

この時初期点ではなく限定点からの交替差圧計の始動読
取値を有していることが明白である。そうでない場合に
はフルスケールの一２０係の読取りでありそれは＋６０
係のフルスケールではなく実際に生じたものの誤表示で
あり、良品を受容するのではなく少くともテスト部品の
欠陥を調べるかもしくは平衡もしくはテスト時間を延ば
す。

次に第３４Ｉ（図において熱特性によるもう一つの負の
オフセットに寄与する不完全な充填時間もしくは平衡時
間を有する暖いテスト部品を想定すると、最終読取りは
予測モードで行われるため桟状の装置でテスト部品をテ
ストすることができる。

この場合毎秒のＡＰの１０％の変化に予測テスト時間（
例えば５秒）を乗じて５０％の予測リーク速度を得る。

限界を５０チ以上と考へるとテスト部は合格となる。

第３４工図〜第３４Ｊ図にテスト時間が我々の予測結果
に与える影響を示す。予測テスト時間を９秒３５Ｇに延
ばした場合には、差圧メータ限界が９０％以上の時のみ
テスト部品は合格となる。

予測テスト時間を妊らに１１秒に延ばした場合には、予
測リークが１００％を越し交替差圧計７０がオフスケー
ルとなるためテスト部品は不合格となる。こうしてテス
ト時間は重要なパラメータであり、テスト部品のメーカ
は慎重に選定しなければならない。

第３４に図の予測モードにおいてテスト部品を充填する
と、平衡時間は充填後に生じそれによってリークはＯか
らオフセットてれた初期読取り。

すなわち３５にとなるようなディスプレイを生じること
ができる。平衡期間の直後に行われた初期読取りにより
フルスケールの７０％孔等しい圧力変化が生じる。

５９ リーク勾配曲線はフルスケールの８０％に等しい点（Ｉ
Ｉ　ＱＩＩ点）に限定でれるようになっている。

嘔らに１０個の読取りを行った後フルスケールの９０％
において最終読取りが行われる。次に装置によりリーク
速度の予測が行われる。これは合計をとり（最終読取り
とＩＩ　Ｑ　１１点との差）それに第７パラメータとし
て入力された整数秒数を乗じて行われる。

次にこの積は第６パラメータとして入力されている差圧
限界と比較てれる。本例において差圧限界がフルスケー
ルの５０％より大きい場合には。

テスト中のテスト部品は良品と決定され合格表示・器が
これを示す。第６パラメータの値が５０％もしくはそれ
以下であれば、テスト部品は不良品すなわち不合格と決
定され、不合格表示器がこれを示す。予測時間はＩＩ　
Ｑ　１１点に達した時に開始され９９秒までの整数とす
ることができる。

子側工程はＩＩ　Ｑ”　ｊ、１点後に必要な１０回のサ
ンプルを行うのに要する時間（１秒）よりも幾分長い時
間を要し、フルテストを行うのに要する時間よ６０ りも遥かに短い。本例においてディスプレイがフルスケ
ールの８０チのＩＩ　Ｑ　１１点からフルスケールの９
０チの最終読取りまで１秒で行くような速度でテスト中
のテスト部品がリークした場合には、合計テスト時間が
２秒を越えるならばトランスジューサ出力はフルスケー
ル変位（１００＝ｆｉ）を越える。これによって自動的
に欠陥決定が行われ欠陥表示器がこれを示す。

しかしながら予測を使用すればトランスジューサ出力が
フルスケール範囲を越える１秒前にＩＩ　Ｑ　１１点に
達すれば、トランスジューサフルスケール限界、平衡遅
延による初期オフセット、不完全充填、ブリードバック
時間による実際の限界に無関係に合格もしくは不合格の
決定を行うことができる。従ってこの方法により受信デ
ータを予測することによりテスト部品の評価性能が与え
られ。

限界と比較した場合従来要した時間よりも前にテスト部
品が良品か不良品かを決定することができる。こうして
本装置により１１早期合格１１もしくは１１早期不合格
１１を決定することができる。

我々の改良型リークテスト装置の用途を知らせるための
充分な例を与えようと試みてきたが、遭遇するテスト部
品やテスト状態は美大な数になるため、全ての例を与え
ることは不可能である。本技術に習熟した人ならばこれ
らの実施例により。

差圧計５３及び交替差圧計７０上に生じる読取りの意味
を解釈できることと思う。

こうして従来のリークテスト構成を放棄し替りに動的予
測リーク速度能力を有する電子動的平衡型リークテスト
装置を提供することにより、著しく改善きれた感度従っ
て著しく改善された精度を有する著しく改善されたリー
クテスト装置が提供式れ、従って本発明の目的及び他の
多くの利点が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は我々の改良型電子動的平衡リークテスト装置を
具現した構造の概要図、第２図は第１図に示す装置キャ
ビネットの内部の部分的透視図。 第６図は我々の電子動的平衡リークテスト装置を使用し
て改良てれたリークテスト法を行う際の主動作シーケン
スを示すフロー図、第４図は我々の新しい装置に使用し
てｍ６図に示す主動作を行うマイクロコンピュータが実
施する主ステツプシーケンスを示すフロー図、第５図は
第４図のフロー図のリークテストサイクルサブルーチン
において装置が実施する主ステツプシーケンスの一部を
示すフロー図、第６図は第５図のステップの直後に行わ
れ第４図のフロー図のリークテストサイクルサブルーチ
ンにより実施きれる主ステツプの平衡を示す図、第７図
は基本電子動的平衡リークテスト装置の概要図、第８図
は第７図と同様であるが所望する場合には我々の基本的
電子動的平衡リークテスト装置に付加できる直接読取差
圧計、リークテスト装置に値をプログラムする指軍スイ
ッチアセンブリ及び局部もしくは遠隔テスト開始入力選
定スイッチを示す第１図の装置の素子の概要図。 第９図は大部分第８図と同様ではあるがサイクルのテス
ト部品中の差圧変化な゛示すもう一つのメータを示す図
、第１０図は中央処理ユニツ）　（ＣＰＵ）。 メモリ及びインターフェイスを含む第８図のマイロ５ クロコンぎユータ装置の概要図、第１０Ａ図は第１０図
に示すＣＰＵ印刷回路板の概要図、第１１図は第１０図
のマイクロコンピュータ装置のインターフェイス部、第
１２図は第１１図のマイクロコンピュータインターフェ
イスに使用するデジタル。 アナログ及び信号調整印刷回路板を示す図、第１３図は
大部分第１２図と同じであるが嘔らに第１０図のインタ
ーフェイスのアナログ出力部を示す回路図、第１４図は
第１２図及び第１６図のデジタル入出力（Ｉｌｏ）印刷
回路板の回路図、第１５図は第１４図の回路に使用でき
る出力バッファの回路図、第１６図は第１４図の回路に
使用できるもう一つの出力バッファの回路図、第１６Ａ
図は第１４図の回路に使用できるもう一種の出力バッフ
ァの回路図、第１７図は第１４図の回路に使用さレルシ
ングルショットの回路図、＄１８図は充填圧信号調整装
置及び圧カドランスジューサ信号調整装置を示す第１２
図及び第１′５図のアナログ入力印刷回路板の概要図、
第１８Ａ図は第１８図の充填圧信号調整器の回路図、第
１８Ｂ図は第１８６４ 図の非反転ゼロ及びスパン調整回路の回路図、第１９図
は第１１図、第１２図及び第１６図に示す信号調整−バ
ッテリバックアップ印刷回路板の概要図％第２０図は第
１９図の低バッテリ検出器回路の回路図、第２１図は第
１９図のバッテリバックアップ回路の回路図、第２２図
は第２図のテストキャビネット内部に示す４個の印刷回
路板の立面図、第２３図は本装置に使用するアナログデ
ジタル変換サブルーチンが実施する主ステツプのシーケ
ンスを示すフロー図、第２４図は合格部品。 テストの欠陥もしくは不合格部品を表わすさまざまな状
態を示す本装置で使用する差圧計及び交換差圧計の一連
のさまざまな読取りを示す図。 第２５図は本発明の装置を使用した６つの実際のリーク
テスト結果を示すグラフ、第２６図は数式により発生し
第２５図の曲線に極めて類似した一連の曲線を示す図、
第２７図は第２６図の対応する数式の勾配を示すグラフ
、第２８図は１１動的予測１１を使用して改良リークテ
スト法を実施し１１早期合格１１及び／もしくは１１早
期不合格１１の表示な得るようにされた電子動的平衡リ
ークテストの一変形により使用嘔れる主動作シーケンス
を有する第６図と一部類似したフロー図、第２８Ａ図は
桟状の新しい装置で使用するマイクロコンピュータによ
り実施されて第２８図に示す主動作を実施するもう一つ
の主ステツプを示す第４図と類似のフロー図、第２８Ｂ
図は第２８Ａ図のフロー図に示す装置が実施する主ステ
ツプの部分的詳細シーケンスを示すフロー図、第２８０
図は第２８Ｂ図のステップのすぐ後に行われ第２８図の
リークテスト装置が実施するもう一つのステップのフロ
ー図。 第２９図は第２８図のフロー図に示す装置が実施する主
ステツプのシーケンスの一部を示すフロー図、第６０図
は第２９図のすぐ後に続き第２８図のリークテスト装置
が実施するもう一つのステップを示すフロー図、第５１
図は第３０図の動作のすぐ後に行われ第２８図のフロー
図に示すリークテスト装置が実施する主ステツプの平衡
を示すフロー図、第６２図は第３２図に矢印で示す第２
９図、第６０図及び第６１図の装置により入力できる合
格、欠陥及び不合格サブルーチンを示すフロー図、第６
６図は本発明が実施するリークテストの動的予測部の開
示を示すグラフ、第５４図は動的投影モードで作動して
ＩＩ早期合格＋１もしくは１１早期不合格１１を予想で
きるように修正されている時に我々の改良型リークテス
ト装置に生じる。 本発明に使用する差圧計及び交換差圧計の一連のぜまざ
まは読取りを示す図であり、使用する差圧計は合格部品
、テストの欠陥もしくは不合格部品を表わす状態を示す
ことができる。 符号の説明 ２５・・・テスト部 ２６・・・テスト器具 ２７・・・第１管路 ２８・・・圧力源 ２９・・・差圧トランスジューサ ３０・・・充填弁 ３１・・・バイパス管路 ３４・・平衡弁 ３５・・・第２管路 ３８・・・排気弁 ４０・・・充填圧トランスジューサ ４２・・・装置キャビネット ４３・・・ヒユーズ ４４・・・オンオフスイッチ ４５・・・局部−遠隔選定スイッチ ４６・・・テスト開始スイッチ ４７・・・ローバッテリ表示装置 ４８・・・リセットスイッチ ４９・・・テストランプ ５０・・・合格表示ランプ ５１・・・不合格表示ランプ ５２・・・欠陥表示ランプ ５３・・・差圧計 ７０・・・交換差圧計 ６４・・・指軍スイッチアセンブリ ６５・・・指軍スイッチ ７Ｔ・・・デジタルＩ１０板 ７８・・・アナログＩ１０板 ９８・・・ＣＰＵ板 ６７ ９９・・・信号調整−バツテリバツクアッグ印刷回路板 代理人　浅　村　　　皓 外４名 ６８ 特開昭５８−１０６４３５　（４４） ９９１ｉ Ｆｔ’ｇ−２０ Ｌトで 痕圧玄士　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　ケ１ｔガ瓜意寸特開昭５８−１０６４３５（５５） 特開昭５８−１０６４３５（５ω 第１頁の続き ０発　明　者　チャールズ・ニドワード・フォースター
・ジュニア アメリカ合衆国ミシガン州ノー スピル・コンノート３８０２８ ０発　明　者　デスラ・ノーベル・ハーブスト・ジュニ
ア アメリカ合衆国オハイオ州スプ リング・バレー・ファイル・ラ ン１０７９ ０発　明　者　ロナルド・キット・マッシアメリカ合衆
国ミシガン州ブラ イトン・ビレツジ・スフウェア １０２６４ ０発　明　者　リチャード・ローレンス・スミス アメリカ合衆国ミシガン州リボ ニア・シックス・マイル・ロー ド３２９８０　　　″ ０発　明　者　フランク・リチャード・ヤングアメリカ
合衆国ミシガン州フラ ンクリン・エベリン・コート２６ ９１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）　　電子的に部品のリークをテストする方法にお
   いて、 （ａ）　　所定の所望圧もしくは所望真空度のテスト　
   ・媒体源を設け、 （ｂ）　　テスト部品を前記テスト媒体源に接続し、（
   Ｃ）　　前記テスト部品を一時的に前記テスト媒体源か
   ら分離し、 （ｄ）　　前記テスト媒体源と前記テスト部品間に存在
   する差圧を測定し、 （ｅ）　　前記テスト部品を切り離している時の差圧変
   化を計算し、 （ｆ）　　前記差圧及び前記差圧変化を使用して、前記
   テスト部品が合格か、不合格かもしくはテストに欠陥が
   あるかを決定する段階を有することを特徴とする電子的
   リークテスト方法。 （２、特許請求の範囲第（１）項記載の方法において、
   前記テスト媒体源を前記テスト部品に接続する段階は （ａ）　　前記テスト部品を封止し且つ取外し可能に取
   付けるテスト器具を設け、 （ｂ）　　両端を有する第１の管路を設け、（Ｃ）　　
   前記管路の一端を前記テスト器具に接続し、（ｄ）　　
   両端を有する第２の管路を設け、（ｅ）　　前記第２の
   管路の一端を前記テスト媒体源に接続し、他端を前記第
   １の管路の他端に接続し、 （ｆ）　　前記第１の管路内に充填弁を設け、前記充填
   弁は開放した時に前記テスト媒体を前記テスト媒体源か
   ら前記テスト部品へ通すようにされている段階を有する
   ことを特徴とする電子的リークテスト方法。 （３）特許請求の範囲第（２）項記載の方法において、
   前記テスト部品を前記テスト媒体源から分離する段階は
   、 （ａ）　　前記充填弁と前記第２の管路に接続された前
   記第１の管路の一端との間にバイパス管路の第１部分を
   挿入し、 （ｂ）　　前記第２の管路内にバイパス管路の第２部分
   を挿入し、 （Ｃ）　　バイパス管路の前記第１部分とバイパス管路
   の前記第２部分との間に平衡弁を接続し、前記充填弁及
   び前記平衡弁が開いた時に前記テスト媒体は前記テスト
   媒体源から前記テスト部品に通過することが出来るが、
   前記平衡弁が閉じた時に前記テスト媒体源から前記テス
   ト部品を分離するようにされている段階を有することを
   特徴とする電子的リークテスト方法。 （４）　　特許請求の範囲第（３）項記載Ｑノ方法にお
   いて、前記テスト媒体源と前日上テスト部品間に存在す
   る差圧を測定する段階は、 （ａ）前記第１及び第２の管路間に差圧トランスジュー
   サを挿入し、 （１））充填圧トランスジユニ・すを設ける段階を有す
   ることを特徴とする電子的リークテスト方法０ 差圧変化を計算する段階は （ａ）　　前記リークテストサイクルを開始する、（ｂ
   ）　　前記充填弁と前記テスト部品間に排気弁を挿入す
   る、 （Ｃ）　　前記排気弁を閉じる、 （ｄ）　　前記充填弁を開いて前記テスト媒体源からの
   前記テスト媒体を前記テスト部品と一様にする（すなわ
   ち真空度もしくは圧力）、（ｅ）前記充填圧トランスジ
   ューサから読取しを得て所定限界と比較し、前記読取シ
   が前記限界内にある場合のみ前記リークテストヲ進める
   、 （ｆ）　　前記平衡弁を閉じて前記テスト部品を前記テ
   スト媒体源から分離する、 （ｇ）　　平衡遅延時間を与える、 （ｈ）　　前記差圧トランスジューサから少くとも１個
   の差圧読取シを得る、 （１）テスト遅延時間を与える、 （ｊ）　　前記差圧トランスジューサからさらに少くと
   も１個の差圧読取！ｌｌを得て、前記もう一つの読取シ
   が前記差圧トランスジューサの範囲を越えない場合に前
   記リークテストを進める、（ｋ）　　前記テスト遅延時
   間後に得られる前記もう一つの差圧読取りと前記テスト
   遅延時間の前に得られる前記差圧読取りとの間の差圧変
   化を計算する段階を有することを特徴とする電子的リー
   クテスト方法。 （６１特許請求の範囲第（５）項記載の方法において、
   差圧読取りを得る段階は （ａ）　　マイクロコンピュータ装置を設け、（ｂ）　
   　前記マイクロコンピュータ装置を作動させるようにさ
   れたプログラムを設け、 （Ｃ）　　前記テストプログラム及び前記マイクロコン
   ピュータ装置を使用して前記差圧読取シを得る段階を有
   することを特徴とする電子的リークテスト方法。 （刀　特許請求の範囲第（６）項記載の方法において、
   少くとも一つの差圧読取りを得る段階は（ａ）　　ＡＨ
   ｄマイクロコンＶユータ装置の一部としてアナログ／デ
   ジタル変換器と、マルチプレクサと、サンプルホールド
   集積回路を含むアナログ入力回路を設け、 （ｂ）　　前記テストプログラムの一部としてアナログ
   ／デジタル変換器サブルーチンを設け、（Ｃ）前記アナ
   ログ／デジタル変換器サブルーチンを入力し、 （ｄ）　　前記マルチプレクサ上の適正なチャネル入力
   を選定してデータを取得し、 （ｅ）　　前記サンプルホールド集積回路にサンプル信
   号を出力してアナログ信号を前記差圧トランスジューサ
   から前記サンプルホールド集積回路を経て前記アナログ
   ／デジタル変換器に通し、 （ｆ）　　データ取得遅延を与え、 （ｇ）　　前記サンプル信号をオフとして前記アナログ
   信号をホールドし、前記アナログ／デジタル変換器にこ
   れ以上信号を通さず、 （ｈ）　　前記マイクロコンピュータ装置から前記アナ
   ログ／デジタル変換器に信号を出力して前ｆｉＥ２　Ａ
   　／　Ｄ変換器から前記マイクロコンピュータ装置に信
   号を供給可能とし、 （１）前記アナログ／デジタル変換器から前記マイクロ
   コンピュータ装置へのデータを読取シ、（ｊ）　　前記
   アナログ／デジタル変換器サブルーチンを去る段階を有
   することを特徴とする電子的リークテスト方法。 （８）特許請求の範囲第（力項記載の方法において、差
   圧変化を計算する段階はさらに （ａ）　　前記テストプログラムの一部としてリークテ
   ストサイクルサブルーチンを与え、 （ｂ）　　前記テストプログラムの一部として所定限界
   を与え、 （ｃ）充填圧トランスジューサを設け、（ｄ）　　テス
   ト表示装置を設け、 （ｅ）前記リークテストサイクルサブルーチンを使用し
   て前記排気弁、前記充填弁及び前記平衡弁を作動させて
   前記デ゛スト媒体を前記テスト部に送シ、 （ｆ）　　充填遅延時間を与え、 を得、 （ｈ）　　＃配充填圧読取りが限界内にあるかを決定し
   、帥記充填圧読取シが限界内にある場合には前記平衡弁
   を閉じ、 （１）平衡遅延時間を与え、 （ｊ）　　初期差圧読取りを得て記憶し、（ｋ）　　前
   記初期差圧値が最大値であるかを調べ、最大値でなけれ
   ば前記テスト表示装置をオンとし、 （１）　　前記テスト遅延時間を待ち、（ＩｒＩ）最終
   差圧読取シを得て記憶し、（ｎ）前記初期差圧読取シ、
   前記最終差圧読取シ、前記マイクロコンピュータ装置及
   び前記リークテストサイクルサブルーチンを使用して差
   圧変化を計算する段階を有することを特徴とする電子的
   リークテスト方法。 （９）特許請求の範囲第（８）項記載の方法において、
   前記テスト部品が合格であるか否かを決定する段階は、 （ａ）　　合格表示装置を設け、 （ｂ）　　前記最終差圧読取りが前記差圧トランスジュ
   ーサの範囲外であることを決定し、 （Ｃ）　　前記差圧変化が前記所定限界内にあるかどう
   かを決定し、 （ｄ）　　前記合格表示装置をオンとし、（ｅ）　　前
   記テスト表示装置をオフとし、（ｆ）　　前記平衡弁を
   開き、 （ｇ）　　前記充填弁を閉じ、 （ｈ）前記排気弁を開き、 （１）　　内■己す−クテストサイクルサプルーチ／を
   離れる段階を有することを特徴とする電子的り。 −クチスト方法。 （１０）特許請求の範囲第（８）項記載の方法において
   、前記テスト部品が不合格かどうかを決定する段階は、 （ａ）　　不合格表示装置を設け、 （ｂ）　　前記差圧変化が前記所定限界よシも大きいこ
   とを決定し、 （Ｃ）前記不合格表示装置をオンとし、（ｄ）　　前記
   テスト表示装置をオフとし、（、）　　前記平衡弁を開
   き、 （ｆ）　　前記充填弁を閉じ、 （ｇ）　　前記排気弁を開き、 （ｈ）　　前記リークテストサイクルサプルーテ／を離
   れる段階を有することを特徴とする電子的リークテスト
   方法。 ０υ　特許請求の範囲第（８）項記載の方法において、
   前記テストが欠陥かどうかを決定する段階は、（ａ）不
   合格表示装置を設け、 （ｂ）　　欠陥表示装置を設け、 （Ｃ）　　前記充填圧が前記所定限界外にあり、圧力変
   化が前記トランスジューサ範囲を越えることを決定し、 （ｄ）　　前記欠陥表示装置をオンとし、（、）　　前
   記不合格表示装Ｗ７ｔ、をオ／とし、（ｆ）　　前記テ
   スト表示装置をオンとし、（ｇ）　　前記平衡弁を開き
   、 （ｈ）　　前記充填弁を閉じ、 （１）　　前記排気弁を開き、 （ｊ）　　前ｉ己す−クテストサイクルサブルーチン離
   れる段階を有することを特徴とする電子的リークテスト
   方法。 α２、特許請求の範囲第（８）項記載の方法において、
   前記テストが欠陥かどうかを決定する段階は、（ａ）　
   　不合格表示装置を設け、 （ｂ）　　欠陥表示装置を設け、 （Ｃ）　　前記充填圧が前記所定限界にあり前記初期差
   圧読取シが最大値であることを決定し、（ｄ）　　前記
   欠陥表示装置をオンとし、（ｅ）　　前記不合格表示装
   置をオンとし、（ｆ）　　前記テスト表示装置をオフと
   し、（ｇ）　　前記平衡弁を開き、 （ｈ）　　前記充填弁を閉じ、 （１）　　前記排気弁を開き、 （ｊ）　　Ｍ記すークテストサイクルサブルーチ／を離
   れる段階を有することを特徴とする電子的リークテスト
   方法。　　− （１３Ｊ　　特許請求の範囲第（８）項記載の方法にお
   いて、前記テストが欠陥であることを決定する段階は、
   （ａ）　　不合格表示装置を設け、 （ｂ）　　欠陥表示装置を設け、 （Ｃ）前記充填圧が帥配所定限界内にあり、前記初期差
   圧読取りが最大値ではなく、前記差圧変化が負であるこ
   とを決定し、 （ｄ）　　前記欠陥表示装置をオンとし、（ｅ）　　前
   記不合格表示装置をオンとし、（ｆ）　　前記テスト表
   示装置をオフとし、（ｇ）　　前記排気弁を開き、 （ｈ）　　前記平衡弁を開き、 （１）　　前記充填弁を閉じ、 （ｊ）　　前記リークテストサイクルサブルーチンを離
   れる段階を有することを特徴とする電子的リークテスト
   方法。 α力　特許請求の範囲第（８）項記載の方法において、
   前記テストが欠陥であるかどうかを決定する段階は、 （１）　　不合格表示装置を設け、 （ｂ）　　欠陥表示装置を設け、 （Ｃ）前記充填圧が前記所定限界内にあり、前記１ 初期差圧読取りが最大値ではなく、前記差圧変化が限界
   内にあり、前記最終差圧読取シが最大値であることを決
   定し、 （ｄ）　　前記欠陥表示装置をオンとし、（ｅ）　　前
   記不合格表示装置をオンとし、（ｆ）　　前記テスト表
   示装置をオフとし、（ｇ）　　前記平衡弁を開き、 （ｈ）　　ｍ記充填弁を閉じ、 （１）　　前記排気弁を開き、 （ｊ）　　前配りークチストサイクルサブルーチンを離
   れることを特徴とする電子的リークテスト方法。 ０５）特許請求の範囲第（９）項〜第ａ力項のいずれか
   一項に記載の方法において、前記テスト遅延時間を与え
   る段階は、 （ａ）　　差圧読取シを得、 （ｂ）　　差圧変化を計算し、 （Ｃ）　　交替差圧計を設け、 （ｄ）＃記差圧変化の読取９を前記交替差圧計に出力し
   、 ２ （ｅ）差圧読取υを得、差圧変化を計算し、新しいテス
   トが開始されるまで前記差圧変化を前記交替差圧計に出
   力し、 （ｆ）　　最終差圧の読取シを記憶する段階を有するこ
   とを特徴とする電子的リークテスト方法。 ０６）特許請求の範囲第（８）項記載の方法において、
   所定限界を与える段階は、 （ａ）　　指軍スイッチアセンブリを設けてテスト限界
   を前記マイクロコンピュータに入力し、前記指軍スイッ
   チアセ／プリを前記マイクロコンピュータに接続し、 （ｂ）　　データエントリサブルーテ／を与え、（ｃ）
   　　前記テストプログラムを使用して前記リークテスト
   が進行していないことをチェックし、前記指軍スイッチ
   アセンブリから指軍エントリが行われたかどうかをチェ
   ックし、前記データエントリサブルーチンを使用して前
   記指軍工／トリを限界として記憶する段階を有すること
   を特徴とする電子的リークテスト方法。 （１７１（ａ）　　所定の所望圧もしくは真空度のテス
   ト媒体源を設ける装置と、 （ｂ）　　テスト部品を前記テスト媒体源に接続する装
   置と、 （Ｃ）　　前記テスト部品を前記テスト媒体源から離す
   装置と、 （ｄ）　　前記テスト媒体源と前記テスト部品間に存在
   する差圧を測定する装置と、 （ｅ）　　前記テスト部品か離されている時に差圧変化
   を計算する装置と、 （ｆ）　　前記差圧測定値及び前記差圧変化を使用して
   前記テスト部品が合格か、不合格かあるいはテストが欠
   陥であるかを決定する段階を有することを特徴とする電
   子的リークテスト装置。 ０８＋　　特許請求の範囲第（１７１項記載の装置にお
   いて、前記テスト部品を前記テスト媒体源に接続する前
   記装置は、 （ａ）　　前記テスト部品を封止し且つ可動的に取付け
   ることができるテスト器具と、 （ｂ）　　両端を有し、一端が前記テスト器具に接続さ
   れている第１の管路と、 （Ｃ）　　両端を有し、一端が前記テスト媒体源に接続
   され他端が前記第１の管路の他端に接続されている第２
   の管路と、 （ｄ）前記第１の管路内に挿入され、開放された時に前
   記テスト媒体を前記テスト媒体源から前記テスト部品に
   通すことが出来る充填弁とを有することを特徴とする電
   子的リークテスト装置。 餞　特許請求の範囲第（１８１項記載の装置において、
   前記テスト部品を前記テスト媒体源から離す前記装置は
   、 （ａ）両端を有し、その一端は前記充填弁と前記第２の
   管路に接続された前記第１の管路の前記一端との間に挿
   入されているバイパス管路の第１部分と、 （ｂ）　　両端を有し、その一端は前記第２の管路内に
   挿入されているバイパス管路の第２部分と、（Ｃ）　　
   動作上バイパス管路の前記第１部分とバイパス管路の前
   記第２　ｆｌｓ分との間に接続され、５ 前記充填弁及び前記平衡弁が開いた時に前記テスト媒体
   が前記テスト媒体源から前記テスト部品へ通ることが出
   来るが、前記平衡弁が閉じた時に前記テスト部品を前記
   テスト媒体源から離すようにされている平衡弁とを有す
   ることを特徴とする電子リークテスト装置。 （２、特許請求の範囲第（１９）項記載の装置において
   、前記差圧測定装置は動作上前記第１及び第２管路間に
   接続される差圧トランスジューサを有することを特徴と
   する電子リークテスト装置。 （２、特許請求の範囲第（２ｔｌ１９１記載の装置にお
   いて、前記テスト部品が離されている時に差圧変化を計
   算する装置は動作上前記充填弁、前記バイパス弁及び前
   記差圧トランスジューサに接続され、前記テスト部品が
   離されている時に差圧変化を計算するようにされている
   マイクロコンピュータ装置を有することを特徴とする電
   子リークテスト装置。 （２２１特許請求の範囲第（２υ項記載の装置において
   、前記マイクロコンピュ−タｉ置は、 （ａ）　　中央処理装置と、 ６ （ｂ）　　メモリと、 （ｃ）　　インターフェイスと、 （ｄ）　　前記中央処理装置を作動させるようにされた
   テストプログラムとを有することを特徴とする電子リー
   クテスト装置。 （２３１特許請求の範囲第（２２）項記載の装置におい
   て、前Ｈａ　−ｒ　イクロコンピュータ装置の前記イン
   ターフェイスは、 （ａ）　　デジタル出力回路と、 （ｂ）　　デジタル入力回路と、 （Ｃ）　　信号調整回路と、 （ｄ）　　アナログ入力回路とを有することを特徴とす
   る電子リークテスト装置。 （財）特許請求の範囲第（２３）項記載の装置において
   、（１）　　前記第１管路内に挿入され動作上前記マイ
   クロコンピュータ装置に接続される排気弁と、（ｂ）　
   　前記充填弁のすぐ下流の前記第１の管路内に挿入され
   た充填圧トランスジューサと、（Ｃ）　　動作上曲記マ
   イクロコンピュータ装置に接続されるナスＩ４示装置と
   、 （ｄ）　　動作上前記マイクロコンピュ−タ装置に接続
   される不合格表示装置と、 （ｅ）　　動作上前記マイクロコンピュータ装置に接続
   される欠陥表示装置と、 （ｆ）　　動作上前記マイクロコンピュータ装置に接続
   される合格表示装置と、 （ｇ）　　動作上前記マイクロッ／ピユータ装置に接続
   されるテスト開始装置と、 （ｈ）　　動作上前記マイクロコンピュータ装置に接続
   されるテストリセット装置とを有することを特徴とする
   電子リークテスト装置。 （２、特許請求の範囲第（財）項記載の装置において、
   前記中央処理装置は、 （、）　　信号バスと、 （ｂ）　　動作上前記信号バスに接続される中央処理装
   置と、 （Ｃ）動作上前記信号パスに接続されるランダムアクセ
   スメモリと、 （ｄ）　　前記信号パスに接続された電子的プログラマ
   ブル読取専用メモリとを有することを特徴とする電子リ
   ークテスト装置。 （２８）　　特許請求の範囲第（２５ｊ項記載の装置に
   おいて、前記デジタル入力回路及び前記デジタル出力回
   路は、 （ａ）動作上前記中央処理装置に接続されるデジタル入
   出力周辺インターンエイスアダプタと、（ｂ）　　動作
   上前記デジタル入出力インターフェイスアダプタと前記
   排気弁との間に接続される複数個の出力バッファと、 （Ｃ）　　前記充填弁、前記平衡弁、前記合格表示装置
   、前記テス１［水装置、前記欠陥表示装置及び前記不合
   格表示装置と、 （ｄ）　　動作上前記デジタル入出力周辺インター７エ
   イスアダプタ及び前記テスト開始釦及び前記リセット釦
   に接続される入力バッファとを有することを特徴とする
   電子リークテスト装置。 （２、特許請求の範囲第（２６）項記載の装置において
   、前記信号調整回路は、 （ａ）　　動作上前記差圧トランスジューサ及び前記１
   　ソ アナログ入力回路に接続される差圧信号調整器と、 （ｂ）　　！ｌ１１１作上前記充横圧トランスジューサ
   及び前記アナログ入力回路に接続される充填圧信号調整
   器とを有することを特徴とする電子リークテスト装置。 （２８）　　特許請求の範囲第（２７）項記載の装置に
   おいて、前記アナログ入力回路Ｆｉさらに （ａ）　　動作上前記中央処理装置に接続されるアナロ
   グ入出力周辺インターンエイスアダプタと、（ｂ）　　
   動作上前記アナログ入出カイ／ターフェイスアダプタに
   接続されてそこからチャネル選定信号を受信し、チャネ
   ルＯ入力は前記差圧トランスジューサに接続され、チャ
   ネル１人力は前記充填圧トランスシューブに接にされ、
   使用されないチャネル２人力と、使用されないチャネル
   ３人力と出力回路とを有するマルチプレクサと、 （Ｃ）　　前記マルチプレクサに接続された入力と出力
   とを有する非反転増幅器と、 ０ （ｄ）　　動作上前記入出力周辺インターフェイスに接
   続されてそこからサンプルホールド制御信号を受信し、
   且つ入出力を有し前記入力は動作上前記非反転増幅器の
   前記出力に接続されるサンプルホールド回路と、 （ｅ）　　入出力を有し、前記入力は動作上前記サンプ
   ルホールド回路の前記出力に接続されるアナログ入力利
   得回路と、 （ｆ）　　動作上前記デジタル入出力周辺インターフェ
   イスアダプタに接続されてそこからイネーブル出力デー
   タ信号を受信し、そこへデータ信号を供給し、且つ動作
   上前記サンプルホールド回路の前記出力に接続されるア
   ナログ／デジタル変換器とを有することを特徴とする電
   子リークテスト装置。 （ハ）特許請求の範囲第（ＪＢＪ項記載の装置において
   、前記複数個の出力バッファは、 （ａ）　　入出力を有し、前記入力は動作上前記デジタ
   ル入出力周辺インターフェイスアダプタに接続されるバ
   ッファ／ドライバと、 （ロ）正負の入力と電源と負荷出力とを有し、前記正の
   入力は前記バッファ／ドライバ回路の前記出力に接続さ
   れ、前記負入力は共通に接続され、前記電源出力は父流
   １１５■に接続され、負荷出力は＃紀装置によシ作動さ
   れる装置に接続されている固体リレーと、 （Ｃ）　　両端を有し、一端は紡１ピバンンア／ドライ
   バ回路の前記出力と前記固体リレーの前記正入力との間
   に挿入され、他端は電源に接続されている出カバソファ
   プルアップ抵抗器とを有することを特徴とする電子リー
   クテスト装置。 Ｃ３０）特許請求の範囲第Ｃ１！８１項記載の装置にお
   いて、前記複数個の出力バッファは、 （１）　　入出力を有し前記入力は動作上＃紀デジタル
   入出力周辺インターフェイスアダプタに接続されるバッ
   ファ／ドライバ回路と、 （ｂ）　　両端を有し、その一端は装置の電源に接続さ
   れている出カバソファプルアップ抵抗器と、（Ｃ）正負
   の入力と、−組のリレー接点とを有すドライバ回路の出
   力が前記電子−機械リレーの前記負入力に接続され、前
   記出力バッファプルアップ抵抗器の他端が前記バッファ
   ／ドライバ回路の前記出力と前配電＋機械リレーの＠韻
   負入力との間に挿入され、前記電子−機械リレーの前記
   正入力は装置の電源に接続され、前記電子−機械リレー
   の前記一方のリレー接点は電源に接続され前記電子−機
   械リレーの前記他方のリレー接点は作動される装置に接
   ＠されている電子−機械リレーと、（ｄ）　　動作上＠
   配電子−機械リレーコイルに並列に接続されるノイズ抑
   制ダイオードとを有することを特徴とする電子リークテ
   スト装置。 Ｃｌ１ｌ　　％許詣求の範囲第（２８）項記載の装置に
   おいて、動作上前記マイクロコンぎユータ装置に接続さ
   れるローバッテリ表示器を有することを特徴とする電子
   リークテスト装置。 （３２１特許請求の範囲第（３１）項記載の装置におい
   て、（ａ）　　動作上装置の電源、バッテリ電源及び前
   記５ 中央処理装置に接続されるバッテリバックアップ回路と
   、 （ｂ）　　動作上前ｄピバッテリ電源、前記装置電源及
   び前記ローバッテリ表示器に接続されるローバッテリ検
   出器回路とを有することを特徴とする電子リークテスト
   装置。 （３３）特許請求の範囲第（３２＋項記載の装置におい
   て、前記ローバッテリ検出器回路は、 （ａ）　　入出力を有し、前記入力は前記装置電源に接
   続されている分圧器と、 （ｔ））　　出力及び夫々前記分圧器の出力と前記バッ
   テリ電源に接続された一対の入力を有する比較器と、 （ｃ）入出力を有し、前記入力は前記比較器の前記出力
   に接続され、前記出力は前記ローバッテリ氷水ランプに
   接続されている光ドライバとを有することを特徴とする
   電子リークテスト　装６−［。 ０４）特許請求の範囲第（３３）項記載の装置において
   、前記パンテリバンクアンプ回路は、 ４ （ａ）　　エミッタ、ベース及びコレクタを有するトラ
   ンジスタと、 （ｂ）　　入出力を有し、前記入力はバッテリ電源に接
   続されている電力抵抗器と、 （ｃ）　　アノード及びカッ〜ドを有し、前記アノード
   は前記電力抵抗器の前記出力に接続されている第１のダ
   イオードと、 （ｄ）　　アノード及びカソードを廟し、前記アノード
   は前記第１のダイオードの前記カソードに接続され、前
   記カッ〜ドは前記トランジスタの前記コレクタに接続さ
   れている第２のダイオードと、 （ｅ）　　アノード及びカソードを有し、前記アノード
   は前記トランジスタの前記ベースに接続されている第６
   のダイオードと、 （ｆ）　　入出力を有し、前記入力は装置の共通に接続
   され、前記出力は前記第３のダイオードのカソードに接
   続されている第２の抵抗器と、（ｇ）　　カソード及び
   アノードを有し、前記カソードは前記第６のダイオード
   のカソードに接続され、前記アノードは前記装置の電源
   に接続されている第４のダイオードと、 （ｈ）　　アノード及びカソードを有し７、前記カソー
   ドは的配トランジスタのエミッタに接続され、前記７ノ
   ードは＃記装置の電源に接続されている第５のダイオー
   ドとを有することを特徴とする電子リークテスト装置。 （３５＋　　特許請求の範囲第（２８１項記載のリーク
   テスト装置において、前記テスト媒体源と前記テスト部
   品の前記圧力との差圧を示す装置を有すること全特徴と
   するリークテスト装置。 （３６）特許請求の範囲第０５１項８［２載の装置にお
   いて、前記差圧光示装置は正の目盛部と負の目盛部とを
   有するＯ中心メータであることを特徴とするリークテス
   ト装置。 （３７）特許請求の範囲第（２８）項記載の装置におい
   て、前記テスト部品を離している時に生じる差圧の変化
   を示す装置を有することをｔ￥ｊ徴とするリークテスト
   装置。 Ｃ３８）特許請求の範囲第（２８＋項記載の装置におい
   て、差圧変化表示装置は正の目盛部と、負の目盛部とを
   有するＯ中心メータであることを特徴とするリークテス
   ト装置。 （３９）　　特許請求の範囲第（３８＋項記載の装置に
   おいて、前記マイクロコンピュータ装置の前記インター
   フェイスはアナログ出力回路を有することを特徴とする
   リークテスト装置。 （４０）　　特許請求の範囲第０９ｉ項記載の装置にお
   りて、前記アナログ入力回路は、 （ａ）　　入出力を有し、前記入力は動作上前記デジタ
   ル入出力周辺インターフェイスアダプタに接続されるラ
   ッチチップと、 （ｂ）　　入出力を有ｌ〜、前記入力は前記ラッチチッ
   プの出力に接続されているデジタル／アナログ変換器と
   、 （Ｃ）入出力を有し、前記入力は前記デジタル／アナロ
   グ変換器の出力に接続されているアナログ出力利得回路
   とを有することをｔｐ！ｊｅとするリークテスト装置。 （４１）特許請求の範囲第（２８１功記載の装置におい
   て、７ （ａ）動作上前記マイクロコンピュータ装置に接続され
   て一連の値を前記メモリに入力する指軍スイッチアセン
   ブリを有することを特徴とするリークテスト装置。 （４２１特許請求の範囲第（４１）項記載の装置におい
   て、前記指軍スイッチアセンブリは、 （ａ）４桁指沖スイッチと、 （ｂ）　　指軍データ入力スイッチとｋｍすることを特
   徴とするリークテスト装置。 （４皺　　特許請求の範囲第（４４項記載の装置におい
   て、前記デジタル入力回路は、 （ａ）　　動作上前記中央処理装置及び前記指軍スイッ
   チアセ／プリに接続される指軍スイッチ周辺インターフ
   ェイスアダプタを有することを特徴とするリークテスト
   装置。 （４４）特許請求の範囲第（２８＋項記載の装置におい
   て、局部−遠隔始動選定スイッチを有することを特徴と
   するリークテスト装置。 （４５）特許請求の範囲第（４４＋項記載の装置におい
   て、前記デジタル入力回路は局部−遠隔信号駒整器を８ 有し、該局部−遠隔信号調整器は、 （ａ）　　入出力を有し、該入力は前記局部−遠隔始動
   選定スイッチの出力に接続されているシングルショット
   と、 （ｂ）　　前記入出力接続間に挿入された限流抵抗器と
   、 （Ｃ，ｌ　　両端を有し、その一端は装置の電源に接続
   され、他端は前記局部−遠隔始動選定スイッチに接続さ
   れているプルアップ抵抗器と、（ｄ）　　エミッタ、ベ
   ース及びコレクタを有し、前記ペースは前記シングル７
   ヨツトの出力に接続され、前記エミッタはデジタル入出
   力周辺インターフェイスアダプタに接続されているトラ
   ンジスタと、 （ｅ）＠記トランジスタと装置の共通との間に接続され
   た負荷抵抗器とを有することを特徴とするリークテスト
   装置。 （４６）　　部品のリークテスト方法において、（ａ）
   　　所定の所望圧すなわち真空度のテスト媒体源を設け
   、 （ｂ）　　テスト部品を前記テスト媒体源に接続１〜、
   （Ｃ）前記テスト部品を一時的に前記テスト媒体源から
   離し、 （ｄ）　　前記テスト媒体源と前記テスト部品との間に
   存在する差圧を測定１〜、 （＝）　　前記テスト部品を離している時の差圧変化の
   予測値を計算し、 （ｆ）　　前記差圧変化の予測値を使用してテスト部品
   が合格か、不合格かあるいはテスト状態が受画でないか
   を決定する段階を有すること全特徴とするリークテスト
   方法。 （４７）特許請求の範囲第（４６）項記載の方法におい
   て、前記テスト部品を前記テスト圧源に接続する段階は
   、 （１）　　前記テスト部品を封止し且つ移動可能に取り
   つけるテスト器具を設け、 （ｂ）　　両端を有する第１の管路を設け、（Ｃ）　　
   前記管路の一端を前記テスト器具に接続し、（ｄ）　　
   両端を有する第２のＶ路を設け、（ｅ）前記第２の管路
   の一端を前記テスト圧源に接続し他端を前記第１の管路
   の他端に接続し、（ｆ）　　開いた時に前記テスト媒体
   を前記テスト圧源から前記テスト部品に通す充填弁を前
   記第１の管路内に設ける段階を有することを特徴とする
   リークテスト方法。 （４８）特許請求の範囲第（４７）項記載の方法におい
   て、前記テスト部品を前記テスト圧源から離す段階は、
   （１）　　前記充填弁と前記第２の管路に接続された前
   記第１の管路の前記一端との間にバイパス管路の第１部
   分を挿入し、 （ｂ）　　前記第２の管路内にバイパス管路の第２部分
   を挿入し、 （ｃ）バイパス管路の前記第１部分とバイパス管路の前
   記第２部分との間に平衡弁を接続し、前記充填弁及び前
   記平衡弁が開いた時に前記テスト媒体は前記テスト圧源
   から前記テスト部品に通ることが出来るが前記平衡弁が
   閉じた時は前記テスト部品を前記テスト媒体源から離す
   段階を有することを特徴とするリークテスト方法。 １ （４９）特許請求の範囲第（４８）項記載の方法におい
   て、前記テスト部品が離されている時に予測差圧変化を
   計算する段階は、 （ａ）　　充填遅延時間を入力し、 （ｂ）　　平衡遅延時間を入力し、 （Ｃ）差圧限界を入力し、 （ｄ）　　予測計算時間を入力し、 （ｅ）　　充填圧限界を入力し、 （ｆ）　　低充填圧限界を入力し、 （ｇ）　　予測モード選定を入力し、 （ｈ）　　前記リークテストを開始し、（１）＠記排気
   弁を閉じ、 （ｊ）　　前記充填弁を開いて前記テスト媒体全前記テ
   スト圧源から前記テスト部品へ通し、（ｋ）　　充填遅
   延の終了を待ち、 （１）充填圧をチェックして平衡弁を閉じ、（ｍ）平衡
   遅延の終了を待ち、 （ｎ）　　前記差圧トランスジューサの変化速度がリー
   ク速度として限定されるのを待ち、 （ｏ）　　前記テストランプをオンとし、２ （ｐ）　　前記変化速度がリーク速度として限定された
   後の一定期間に対し一定間隔でトランスジューサの所定
   数の読取シを行い、 （ｑ）　　限定された後の前記一定期間に対して取られ
   た前記トランスジューサの読取りから所望時間に対する
   リーク速度の予測を得る段階を有することを特徴とする
   リークテスト方法。 （５１１１特許請求の範囲第（４９）項記載の方法にお
   いて、予測差圧読取り？：得る段階は、 （ａ）　　マイクロコンピュータ装置を設け、（ｂ）　
   　前記マイクロコンピュータ装置を作動するようにされ
   たテストプログラムを与え、（Ｃ）　　前記テストプロ
   グラム及び前記マイクロコンピュータ装置を使用して前
   記予測差圧読取りを得る段階を有することを特徴とする
   リークテスト方法。 （５］Ｊ　　特許請求の範囲第（５０）　項記載の方法
   において、前記予測差圧読取シの計算に使用する差圧読
   ＊シを得る段階は、 （ａ）　　前記マイクロコンピュータ製麹の一部として
   アナログ／デジタル変換器を含むアナログ入力回路と、
   マルチプレクサとサンプルホールド集積回路と、 （ｂ）　　前記テストプログラムの一部としてアナログ
   ／デジタル変換器サブルーチンを与え、（Ｃ）前記アナ
   ログ／デジタル変換器サブルーチンを入力し、 （ｄ）　　前記マルチプレクサ上の適正なチャネル入力
   を選定してデータを取得し、 （ｅ）　　前記サンプルホールド集積回路にす／ゾル信
   号を出力して前記差圧トランスジューサからのアナログ
   信号を前記サンプルホールド集積回路を介して前記アナ
   ログ／デジタル変換器に通し、 （ｆ）　　データ取得遅延を与え、 （ｇ）　　前記サンプル信号をオフとして前記アナログ
   信号をホールドし、それ以上前記アナログ／デジタル変
   換器に信号を通さす、 （ｈ）　　前記マイクロコンピュータ装置から前記アナ
   ログ／デジタル変換器に信号を出力して、前記Ａ／Ｄ変
   換器から前記マイクロコンピュータ装置に信号を印加可
   能とし、 （１）前記アナログ／デジタル変換器から前記マイクロ
   コンピュータ装置にデータを読取り、（ｊ）　　前記ア
   ナログ／デジタル変換器サブルーチンを離れる段階を有
   することを特徴とするリークテスト方法。。 （５渇　　特許請求の範囲第６υ項記載の方法において
   、予測差圧を計算する段階はさらに （ａ）　　差圧変化の所定限界を与え、（ｂ）　　充填
   圧トランスジューサを設け、（Ｃ）　　テスト表示装置
   を設け、 （ｄ）　　前記テストサブルーチンを開始して前記排気
   弁を作動させ、前記充填弁及び前記平衡弁が前記テスト
   媒体を前記テスト部に通すようにし、 （、）　　充填遅延時間を与え、 （ｆ）　　前記装置゛の動作モードを選定し、（ｇ）　
   　前の勾配価の’／１．０がテスト部品のリーク速度を
   表わす現在の勾配値よりも大きくないよ６り うな値に勾配値を初期化し、 （ｈ）　　パスカウンタを１０の値に初期化し、（１）
   °“時間１変数を予測テスト時間値に初期化し、 （ｊ）　　圧力を表わす第２の変数値を圧力を表わす第
   １の変数値に設定し、 （ｋ）　　前記差圧トランスジューサを読み取シ、（１
   ）前記差圧の読取υが前記差圧トランスジューサの範囲
   外かどうかを決定し、 （ｍ）　　前記差圧の読取シが前記トランスジューサの
   範囲外であれに１、欠陥ルーチンに進み、（ｎ）差圧の
   読取シが前記差圧の範囲外でなけれは、圧力を表わす第
   １の変数値を前記差圧からの値に設定し、 （０）圧力を表わす前記第１の変数値がデルタＰトラン
   スジューサの負の範囲と等しいかもしくはそれよシも大
   きいかを質関し、 （ｐ）　　差圧を表わす第１の変数値がデルタＰの負の
   範囲限界値よりも小さい場合には欠陥ルーチンに入り、
   さもなくば次の段階に進み、６ （ｑ）　　現在の差圧を表わす変数値が第２の差圧を表
   わす変数値よりも小さい場合には、勾配を表わす第２の
   変数値を勾配を表わす第１の変数値に等しく設定し、 （ｒ）　　差圧を表わす前記第２の変数値を現在の差圧
   を衣わす値から減算することによシ現在の勾配を表わす
   変数の新しい値を計算し、（８）　　前記バスカラ／り
   が１０に等しいかどうかを決定する段階を有することを
   特徴とするリークテスト方法。 ６３）特許請求の範囲第６２項記載の方法において、前
   記バスカウンタが１０に等しい場合には、前記差圧の前
   記予測値を決定する方法はさらに、（ａ）　　前記前の
   勾配を表わす変数値に０．９ｅ乗じ、（ｂ）　　こうし
   て得られた値が前の勾配を表わす値よシも大きいかどう
   かを決定し、 （Ｃ）　　前記値が前の勾配値よシも大きい場合には連
   続的にすぐ前の差圧を表わす値を現在の差圧値に等しく
   設定し、新しい差圧を得て現在の差圧を衣わす変数値が
   前の差圧を表わす値よ）も小すくすいことを決定し、 （ｄ）　　前の勾配を表わす変数値を現在の勾配を弄わ
   す変数値に等しく設定し、前の圧力を表わす変数値を現
   在の圧力を表わす値から減じて現在の勾配の新しい値を
   計算し、 （ｅ）バスカウンタが１０に等しいことを決定し、前の
   勾配値に０．９を乗じた値が８１よシも小さくなるまで
   前記乗算を行い、 （ｆ）　　前記時間０．９８２が８１よりも小さくなる
   まで前記テストランプをオンとする段階を有することを
   特徴とするリークテスト方法。 ５ａ　　特許請求の範囲第（５３）項記載の方法におい
   て、さらに （ａ）　　前１己テストランプをオンとし、（ｂ）　　
   第１の新しい変数値を現在の圧力ｆ：衣わす初期変数値
   に等しく設定し、 （Ｃ）　　前記指軍スイッチによ多入力されたパラメー
   タをチェックすることによシ前記テストがフルテストか
   予測テストかを決定する段階を有することを特徴とする
   リークテスト方法。 このようなテストはフルテストではないことが決定され
   、従って （ａ）　　前記バスカウンタを減分して前記サブルーチ
   ンに戻り、現在及び前のテスト圧を表わす新しい変数値
   を計算し、且つ前記前の勾配及び前記初期勾配を表わす
   新しい変数値を計算し続け、 （ｂ）　　前記バスカウンタがＯに等しくなるまで計算
   し続ける段階を有することを特徴とするリークテスト方
   法。 （５６）特許請求の範囲第５５）項記載の方法において
   、（ａ）　　前台己テストがフルタイムテストがどうカ
   ラ決定する段階を有することを特命とするリークテスト
   方法。 （５η　特許請求の範囲第（至））項記載の方法におい
   て、（ａ）第２の新しい変数値を現在の圧力を衣わす現
   在の変数値マイナス前記第１の新しい変数値に等しく設
   定し、 （ｂ）＠記載２の新しい変数値が交換差圧計の前５ソ 記所定限界よりも大きいかどうかを決定する段階を有す
   ることを特徴とするリークテスト方法。 （５８１特許請求の範囲第５７）項記載の方法において
   、（１）　　前記第４の新しい変数値が交換差圧計の前
   記所定限界よシも小ざいことを決定し、（ｂ）　　前記
   合格サブルーチンに入る段階を有することを特徴とする
   リークテスト方法。 （５９１特許請求の範囲第（５７）項記載の方法におい
   て、（ａ）　　前記第４の新しい変数値か交換差圧計の
   所定限界よシも大きいことを決定し、 （ｂ）　　前記不合格サブルーチンに入る段階を有する
   ことを特徴とするリークテスト方法。 （６０）　　特許請求の範囲第（５η項記載の方法にお
   いて、（ａ）　　前記差圧トランスジューサからの前記
   差圧読取シが前記トランスジューサ範囲外であることを
   決定し、 （ｂ）　　前記欠陥サブルーチンに入る段階を有するこ
   とを特徴とするリークテスト方法。 （６］１　　特許請求の範囲第６〃項記載の方法におい
   て、０ （ａ）　　前記前の差圧読取りを表わす前記変数値が前
   記変数読取り及び前記現在の差圧読取りよりも小さいこ
   とを決定し、 （ｂ）　　前記欠陥サブルーチンに入る段階を有するこ
   とを特徴とするリークテスト方法。 （６２１特許請求の範囲第（６１項記載の方法において
   、前記トランスジューサ読取シは前記トランスジューサ
   の範囲外であシ前記欠陥サブルーチンに入ることを特徴
   とするリークテスト方法。 （６３）特許請求の範囲第６１Ｊｊ４記載の方法におい
   て、現在の差圧を表わす変数値は前の差圧を表わす変数
   の現在値よシも小さく、前記欠陥サブルーテ／に入るこ
   とを特徴とするリークテスト方法。 （６４）特許請求の範囲第一項、第一項、第（６２）項
   もしくは第（６３）項のいずれか一項に記載の方法にお
   いて、欠陥サブルーチンは、 （ａ）　　前１己ランゾをオンとし、 （ｂ）　　前記不合格う／プをオンとし、（Ｃ）前記テ
   ストランプをオフとし、 （ｄ）　　前記充填弁を閉じ、 （、）　　前記平衡弁を開き、 （ｆ）　　前記排気弁を開き、 （ｇ）　　前記テストザブルーチンに戻る段階を有す（
   ａ）　　前記不合格ランプをオ／とし、（ｂ）　　前記
   テストランプをオフとし、（Ｃ）　　前記充填弁を閉じ
   、 （ｄ）　　前記平衡弁を開き、 （ｅ）　　前記排気弁を開き、 ０）　前記テストサブルーテ／に戻る段階を有すること
   を特徴とするリークテスト方法。 （６ｂ）特許請求の範囲第５榎項記載の方法において、
   前記合格サブルーチンは、 （ａ）合格ランプをオンとし、 （ｂ）　　テストランプをオフとし、 （Ｃ）充填弁を閉じ、 （ｄ）　　平衡弁を開き、 （ｅ）排気弁を開き、 （ｆ）　　前記テストサブルーテ／に戻る段階を有する
   ことを特徴とするリークテスト方法。 （６７）　　リークテスト装置において、（ａ）　　テ
   スト部品に接続されるようにされた所定の所望圧すなわ
   ち真空度のテスト媒体源と、（ｂ）　　テスト部品を前
   記テスト媒体源に接＠する装置と、 （ｃ）　　前記テスト部品を前記テスト媒体源から一時
   的に離す装置と、 （ｄ）　　前記テスト媒体源と前記テスト部品との間に
   存在する差圧を測定する装置と、 （ｅ）　　前記テスト部品が離されている時に予測差圧
   変化を計算する装置と、 （イ）　前記予測差圧変化を使用してテスト部品が合格
   か不合格かあるいはテスト部品が妥当でないかを決定す
   る装置とを有することを特徴とするリークテスト装置。 （６ａ１　　特許請求の範囲第（６η項記載の装置にお
   いて、テスト部品を前記テスト媒体源に接続する装置は
   、（ａ）　　前記テスト部品を封止し且つ移動可能に取
   りつけるテスト器具と、 ５ （ｂ）　　両端を有しその一端が前記テスト器具に接続
   されている第１の管路と、 （ｃ）両端を有しその一端が前記テスト媒体源に接続さ
   れ他端が前記第１の管路に接続されている第２の管路と
   、 （ｄ）　　開いた時に前記テスト媒体を前記テスト媒体
   源から＠記テスト部品へ通すようにされた前記第１の管
   路内の充填弁とを有することを特徴とするリークテスト
   装置。 （６９）％許請求の範囲第（６８項記載の装置において
   、前記テスト部品を前記テスト媒体源から離す前記装置
   は （ａ）　　前記充填弁と前記第２の管路に接続された前
   記第１の管路の前記一端との間に挿入されたバイパス管
   路の第１部分と、 （ｂ）＠記載２の管路内に挿入されたバイパス管路の第
   ２部分と、 （Ｃ）　　バイパス管路の前記第１部分とバイパス管路
   の前記第２ＦＡ分との間に接続された平衡弁とを有し、
   前記充填弁及び前記平衡弁が開い４ た時に前記テスト媒体は前記テスト媒体のから前記テス
   ト部品へ通ることはできるが前記平衡弁が閉じた時は前
   記テスト部品を前記テスト媒体源から離すことを特徴と
   するリークテスト装置。 （７０）特許請求の範囲第（６９）項記載の装置におい
   て、前記テスト部品が離されている時に予測差圧変化を
   計算する装置は、 （ａ）　　前記リークテスト装置始する装置と、（ｂ）
   　　前記充填弁と前記テスト部品との間に挿入された排
   気弁と、 （ｃ）前記排気弁を閉じる装置と、 （ｄ）　　前記充填弁を開いて前記テスト媒体を前記テ
   スト媒体源から前記テストＦ！ｔＩ３品に通す装置と、 （ｅ）　　充填遅延時間を入力する装置と、（ｔ′）平
   衡遅延時間を入力する装置と、（ｇ）　　充填遅延時間
   を待つ装置と、（ｈ）　　充填圧をチェックして平衡弁
   を閉じる装置と、 （１）平衡遅延時間を待つ装置と、 （３）予測差圧変化を得る装置とを有することを特徴と
   するリークテスト装置。 （７１）　　特許請求の範囲第（７０）項記載の装置に
   おいて、前記予測差圧読取りｆ！ｒ得る装置は、（ａ）
   　　マイクロコンピュータ装置と、（ｂ）　　前記マイ
   クロコンピュータ装置を作動するようにされたテストプ
   ログラムと、 （Ｃ）　　前記テストプログラム及び前記マイクロコン
   ピュータ装置を使用して前記予測差圧＝取りを得る装置
   とを有することを特徴とするリークテスト装置。 （７２１特許請求の範囲第（７］）項記載の装置におい
   て、前記差圧を測定する前記装置は、 （ａ）　　アナログ／デジタル変換器と、マルチプレク
   サと、す／７°ルホールド集積回路を含むアナログ入力
   回路と、 （ｂ）　　前記アナログ／デジタル変換器を作動するよ
   うにされたアナログ／デジタル変換器サプルーチ／と、 （Ｃ）　　前記マルチプレクサ上の適正なチャネル入力
   を選定してデータを取得する装置と、（ｄ）　　前記サ
   ンプルホールド集積回路にサンプル信号を出力して、ア
   ナログ信号を前記差圧トランスジューサから前記サンプ
   ルホールド集積回路を介して前記アナログ／デジタル変
   換器に通す装置と、 （ｅ）　　テゝ゛−タ取得遅延を出す装置と、（ｆ）　
   　前記サンプル信号をオフとして前記アナログ信号をホ
   ールドし、これ以上信号を前記アナログ／デジタル変換
   器に通さないようにする装置と、 （ｇ）　　前記アナログ／デジタル変換器に変換開始パ
   ルスを出力してアナログ／デジタル変換を行う装置と、 （ｈ）＠記アナログ／デジタル変換器から前記マイクロ
   ッ／ピユータシステムにデータを耽込む装置と、　″ （ｉ）　　ｍ　記７ナログ／デジタル変換器サブルーチ
   ンを離れる装置とを有することを特徴とする７ リークテスト装置。 ｆｆ３）　　特許請求の範囲第（７２項記載の装置にお
   いて、前記予測差圧を計算する装置は、 （ａ）　　父換差圧計の変化の所定限界と、（ｂ）　　
   充填圧トランスジューサと、（Ｃ）　　テスト表示装置
   と、 （ｄ）　　前記テストサブルーチンに前記排気弁、前記
   充填弁及び前記平衡弁を作動させて、前記テスト媒体を
   前記テスト部品に通す装置と、（ｅ）　　モード選定ス
   イッチと、 （ｆ）　　欠陥サブルーチンとを有することを特徴とす
   るリークテスト装置。 ６４）特許請求の範囲第（７３１項記載の装置において
   、（ａ）　　指軍スイッチを壱することを特徴とするリ
   ークテスト装置。 ０５）　　特許請求の範囲第（７４）項記載の装置にお
   いて、（ａ）　　合格サブルーチンを有することを特徴
   とするリークテスト装置。 （７６）％許賄求の範囲第（７５１項記載の装置におい
   て、（ａ）　　欠陥サブルーチンを有することを特徴と
   す８ るリークテスト装置。 σ７）　特許請求の範囲第σｂ）項記載の装置において
   、（ａ）　　タイマーを鳴することを特徴とするリーク
   テスト装置。。 （７８）　　％許請求の範囲第（７９項記載の装置にお
   いて、（ａ、）　　欠陥ランプと、 （ｂ）　　不合格ランプと、 （Ｃ）テストランプとを有することを特徴とするリーク
   テスト装置。 σ９）選定されたテスト媒体源からの選定されたテスト
   媒体を使用するリークテスト方法において、（ａ）　　
   テスト部品に所定テスト圧を加え、（ｂ）　　テスト部
   品に圧力を加えながらテスト部品を選定されたテスト媒
   体から離し、 （Ｃ）　　テスト媒体源の圧力とテスト部品の圧力との
   間の第１の差圧を感知し、 （ｄ）選定された時間間隔を待ち、 （ｅ）テスト媒体源の圧力とテスト部品の圧力との間の
   第２の差圧を感知し、 （ｆ）　　第１及び第２の感知された差圧間の変化の大
   きさを決定し、 （ｇ）　　第１及び第２の感知された差圧間の変化を所
   定値と比較し、 （ｈ）　　第１及び第２の差圧間の変化の大きさと所ボ
   値との比較に基いてテスト部品を合格もしくは不合格と
   する段階を有することを特徴とするリークテスト装置。 （８０）選定されたテスト媒体源からの選定されたテス
   ト媒体を使用してリークテスト’を行う装置において、 （ａ）　　制御装置と、 （ｂ）　　前記制御装置に接続されテスト部品に所定テ
   スト媒体圧を加える装置と、 （Ｃ）　　前記制御装置に接続されテスト部品に圧力を
   加え続けながらテスト媒体圧源からテスト部品を離す装
   置と、 （ｄ）　　前記制御装置に接続されテスト部品の選定圧
   のデジタル表示を発生する電子装置を含むテスト部品の
   選定圧感釦装置と、 （ｅ）　　前記制御装置は前記テスト部品に所定テスト
   媒体を加える装置及び前記テスト部品を所定テスト媒体
   から離す装置を夫々作動させて、前記感知及び前記発生
   装置に第１の感知された選定圧のデジタル表示を発生さ
   せるようにされており、さらに （ｆ）　　前記制御装置に接続され第１の感知された選
   定圧のテゝ゛ジタル表示を記憶するようにされた記憶装
   置と、 （ｇ）　　Ａ定時間間隔が経過したことを決定する装置
   とを梅腰 （ｈ）　　前記制御装置は選定時間間隔の経過を感知し
   て、前記感知及び発生装置に第２の感知された選定圧の
   デジタル表示を発生させるようにされておシ、さらに （１）前記制御装置に接続され前記第１及び第２の感知
   された選定圧のデジタル表示間の差を形成してその差の
   選定された２進表示を発生する装置と、 （ｊ）　　第１及び第２の感知された選定正量の前記差
   を所定値と比較して前記比較の結果に対応１ した電気的信号を発生してテスト部品の合格もしくは不
   合格を示す比較装置とを有することを特徴とするリーク
   テスト装置。 （８Ｉ）　　テスト部品がリークテストに合格するか否
   かを動的に予測する方法において、 （ａ）　　テスト部品にテスト媒体源からの所定圧を加
   え、 （ｂ）　　テスト用５品に圧力を加え続けながらテスト
   部品をテスト媒体源から離し、 （Ｃ）テスト媒体源とテスト部品間の差圧を選定速度で
   連続的に感知し、 （ｄ）　　選定速度で感知された差圧に基いて差圧変化
   速度を連続的に形成し、 （ｅ）形成された差圧変化速度を所定値と連続的に比較
   して本質的に定辰状態に達したかどうかを決定し、 （ｆ）　　本質的に定詣状態に達していない場合には所
   定時間後にテスト部品を不合格とし、（ｇ）　　一度本
   質的に短筒状態に達した後は選定された差圧測定値を結
   合して、テスト部品がテ２ ストに合格するかどうかの予測に使用可能な値を形成し
   、 （ｈ）　　予測に基いてテスト部品を合格もしくは不合
   格とする段階を有することを特徴とする動的予測方法。 （８２）　　テスト部品がリークテストに合格するか否
   かを動的に予測する装置において、 （ａ）接続されたテスト源を有し、テスト部品に所定テ
   スト媒体圧を加える装置と、 （ｂ）　　テスト部品に圧力を加え続けながらテスト部
   品をテスト媒体源から離す装置と、 （Ｃ）前記テスト媒体源とそれに接続されたテスト部品
   間の差圧を選定速度で連続的に感知する装置と、 （ｄ）選定速度で感知された増分圧に基いて差圧の変化
   速度を連続的に形成する装置と、（ｅ）形成された差圧
   の変化速度を所定値と比較して、本質的に定常状態に達
   したかどうかを決定する装置と、 （ｆ）　　本質的に定常状態に達していない場合には所
   定時間後にテスト部品を不合格とする装置と、 （ｇ）　　−駄本質的な定常状態に達したら選定された
   差圧測定値を結合して、テスト部品がリークテストに合
   格するか否かの予測に使用可能な飴を形成する装置と、 （ｈ）　　前記比較装置に接続され予測に基いてテスト
   部品を合格もしくは不合格とする装置とを肩することを
   特徴とするリークテスト装置。 、１