JPS58104527A - 点滅型アナログデジタル変換器 - Google Patents

点滅型アナログデジタル変換器

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JPS58104527A
JPS58104527A JP57210540A JP21054082A JPS58104527A JP S58104527 A JPS58104527 A JP S58104527A JP 57210540 A JP57210540 A JP 57210540A JP 21054082 A JP21054082 A JP 21054082A JP S58104527 A JPS58104527 A JP S58104527A
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transistor
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signal
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JP57210540A
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English (en)
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アンドリユ・ゴ−ドン・フランシス・デイングウオ−ル
ビクタ−・ザズウ
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Original Assignee
RCA Corp
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/36Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type
    • H03M1/361Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type

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  • Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の関連する技術分野】 この発明は点滅型アナログデジタル変換器(以後AD変
換器と呼ぶ)に関する。 〔従来技術〕 公知の点滅型AD変換器は入力信号を多数の基準電位と
同時に比較する。6ビツトでオバーフローする変換器は
26すなわち64の同時比較を必要とし、8ビツトの変
換器では256の同時比較を必要とする。点滅型変換器
を扱い易い回路を用いて経済的に実現するために比較的
簡単な比較回路が利用される。少くとも6ビツトの変換
器で使用して成功した回路が米国特許第36’7670
2号明細書に開示されている。この米国特許の回路は加
算コンデンサの第1極板の電位をまず基準電位に、次に
信号電位にと交互に切換える。加算コンデンサの第2極
板はインバータ回路の入力に接続され、基準電位が印加
される度にトリップ点すなわち閾値電位に選択的にバイ
アスされる。入力信号と基準信号の間の非常に小さな差
も正確に決定され、すなわち入力信号が基準信号よりも
極めて僅かに大きくても(小さくても)インバータが負
(正)に転換する。 上記米国特許の回路は相補的電界効果トランジスタ(F
ET)を含む相補伝送ゲートを利用して加算コンデンサ
に基準電位と信号電位を交互に印加する。相補伝送ゲー
トは見掛は上そのトランジスタに固有の漂遊キャパシタ
ンスその他の不可避的キャパシタンスを介して加算コン
デンサに結合されるスイッチングパルス電位の値を低下
させる傾向がある。各伝送ゲートは並列に接続されてそ
の制御電極が相補スイッチングパルス信号によって同時
に付勢されるN型とP型のF’ETを含み、一方のFE
Tによって信号回路に結合されるスイッチングパルス信
号のいずれかに等しいものはすべて他方のFETによる
結合によって補償すなわち消去される。 公知の点滅型変換器の感度を制限する要因は基準はしご
型回路に流れる電流から生ずる。入力信号が低くなる場
合を考えると、この信号を比較サイクル中に印加するこ
とによりすべての加算コンデンサが放電するが、続いて
次のサイクルでこれを再充電すると、はしご回路に電流
が流れて変換器の周期を実質的に増大するか、周期が一
定の場合には変換器の感度が低下する。 〔発明の開示〕 この発明による点滅型AD変換器は、漸増する基準電位
を与える基準抵抗回路と、複数個の選択的自己バイアス
インバータ回路の各入力に直列に接続された複数個の加
算コンデンサと、信号入力と、各基準電位または上記信
号入力からの入力信号を上記各加算コンデンサに交互に
順次接続する複数個のスイッチ手段とを具え、上記スイ
ッチ手段が、最も正の基準電位の規定範囲の基準電位を
受入れるよう接続され牟そのスイッチ手段に付随する加
算コンデンサが上記信号入力への所定の第1の電2位よ
り低い入力信号電位の印加によって上記所定の第1電位
以下に放電しないよう、かつ最も負の基準電位の規定範
囲の基準電位を受入れるよう接続されたそのスイッチ手
段に付随する加算コンデンサが上記信号入力への所定の
第2の電位より高い入力信号電位の印加により上記所定
の第2電位以上に充電されないようになっている。 この発明のI実施例では信号入力端子と加算コンテ゛ン
サとの間に伝送ゲートを配置し、これがンースホロワモ
ードで働くように電源電位の上下両眼のいずれかに近い
基準電位で動作するようにすることによって加算コンデ
ンサの充電電流が制限されている。このような動作によ
ってそのトランジスタがその閾値電位以下にコンデンサ
を放電するのが防がれ、従って残留電荷が保持されて次
のサイクルで再充電する必要はない。 公知の点滅型−AD変換器の回路測定をすると、スイッ
チングパルス信号が実際には完全に消去されず、加算コ
ンデンサに電荷が蓄積することがわかる。これは「電荷
のポンピング」す々わ゛ち、トランジスタが遮断された
時または自己補償トランジスタ相互のゲート・ドレン間
キャパシタンスカ等しくない時にFETスイッチの反転
層の電荷示基板とそのドレン電極に分散することにより
起ることがある。後者の場合はゲートスイッチング電圧
がゲート・ドレン間型なりキャパシタンスとゲート電極
下のドレン・基板間空乏層キャパシタンスとによってド
レン電極に結合される。従ってこの発明ではこれをさら
に発展させて、後者の2つの効果を克服するためにFE
Tスイッチの下層のシリコン基板をトランジスタの点火
電位を下げると共に反転層の電荷を増すよう選択的にド
ーピングしている。この反転層は入力接続点または基準
電位接続点のいずれかに接続されたFETρソース電極
に木質的に短絡されているので、そのFETのドレン領
域をゲー゛ハ ドレン間の容量結合から遮蔽することに
なる。ドレン電極はゲート電位が閾値以下になって反転
層がくずれるまではゲート電位の変化に影響されない。 これが起るまでゲート電位の振れは実質的に完全で、残
留振れはドレン電位にほとんど影響を与えない。電荷の
ポンピング現象に関しては、基板のドーヒング量を少く
するほど基板空乏層厚が増大して基板への反転層電導を
妨害し、ドレン電極の変調を減する。 この発明の推奨実施例では、公知形式の点滅型AD変換
器における過渡充電効果を減するだめに、比較器の伝送
ゲート構造が電位基準はしご回路上の特定のゲート位置
に対応する基準電位に対して調整されている。低い基準
電位範囲で作動する伝送ゲート構体はそれぞれ制御電極
が相補信号で付勢される2個の並列接続N型トランジス
タを含み、その一方のトランジスタはそのスイッチが常
に閉じないようにドレンを接続せずに浮かされているが
、両トランジスタのドレン・ソース接続点は加算コンデ
ンサに結合されている。 通常のN型閾値電位を越える例えば約1〜2ボルトの電
位に接続された伝送ゲートはそれぞれそのP型トランジ
スタのドレン電極を接続せずに浮かした相補型トランジ
スタ対を含んでいる。この各N型トランジスタの閾値電
圧はそれぞれの基板のドーピング濃度を下げると低下す
る。 基準電位の抵抗性はしご回路の中間域では、云 20送
ゲートは導電するように接続されたN型およびPW)ラ
ンジスタの相補構体である。N型トランジスタの基板の
ドーピング濃度は前述のN型装置と同様に低くすること
によりそのトランジスタの閾値電圧をさらに低くしてい
る。 最も正の基準電位範囲の伝送ゲートは並列接続のP型ト
ランジスタを含んでいるが、その一方のP型トランジス
タのドレン電極は未接続のままで、2つのトランジスタ
の制御電極は相補スイッチング信号で付勢される。これ
らおよび中間域の装置の間では、伝送ゲートがN型トラ
ンジスタのドレン電極を未接続の1ま残した並列相補装
置を含んでいる。この伝送ゲート構体の分類ではN型ト
ランジスタのシリコン基板のドーピング濃度を前述のN
型装置と同様に低くしである。 次にこの発明を添付図面を参照しつつその実施例につい
て詳細に説明する。 〔発明の実施例〕 第1図は最大許容入力信号(すなわち動作可能な入力電
圧範囲)を256個すなわち52 個の漸増値に割当て
ることに対応する並列の8ビツト2進出力信号AOない
しAノを発生し得る代表的な点滅型AD変換器を示す。 この動作はツェナー基準回路1oによって生じた既知の
電圧を直列基準抵抗器20の両端間に印加し、その両端
間で降下した電位を256個の等間隔タップからとり出
すことによって行なわれる。抵抗器のタップ1〜256
はそれぞれ順次増大する基準電圧を発生する。信号入力
電圧は並列に動作する256個の比較器15によって各
タップの基準電圧と比較される。入力電位以下の基準電
圧値を有する基準タップに接続されたすべての比較器の
出力は1つの出力状態(「低」)を示し、残りの比較器
は第2出力状態(「高」)を示す。 比較器15は入力信号を所定間隔でサンプリングすなわ
ち比較するようにクロッキングされている。 サンプリング期間の終端で各比較器の出力状態が256
個の並列ランチ回路16にそれぞれ記憶される。 記憶された出力信号はそれぞれ1つの反転入力を有する
255個の並列3人力負論理アンド回路1フに印加され
る。各アンド回路は隣接する3つの比較器の状態を検査
し、それに接続されたラッチ回路の隣接する2つが「高
」出力状態を示し、高位側の1つが「低」出力状態を示
す状態に対してのみ出力信号を発生する。この構成によ
って255個のアンド回路の中の1個のみが所定の入力
サンプルに対して出力信号を発生する。 アンド回路17の各出力端子はそのとき「低」出力信号
を発生しているアンド回路に関する並列8ビツト2進数
出力信号AO−A、7を発生するプログラミング可能の
論理配列(以後PLAと呼ぶ)1Bに印加される。 第2図はAD変換器に使用する比較回路を示す。 抵抗器30は基準電圧を発生する基準抵抗器20の一部
で、256個の基準電位の特定の1つがタップ31に得
られる。 比較器は正電位VDDと接地点との間に並列に接続され
たP型トランジスタ40とN型トランジスタ42から成
る相補対称型すなわち0MO8型のインバータ45を有
する。P型トランジスタ43とN型トランジスタ44を
含む相補トランジスタスイッチ4′7は、それぞれ制御
信号Vとφに応じてインバータの出力端子41をその入
力端子39に選択的に接続する。 これによりインバータはその中点すなわち切換点で自己
バイアスされる。 インバータ41の出力電位が入力端子39とコンデンサ
38に送還される間、P型トランジスタ34とN型トラ
ンジスタ35から成る第2の相補トランジスタスイッチ
48がそれぞれ制御信号7とφに応じて接続点3Iの基
準電位を加算コンデンサ3日の他端32に選択的に印加
する。次にスイッチ4’7.48が遮断されたとき、イ
ンバータ45はその切換点にバイアスされたまま残シ、
点32には基準電位が蓄積されている。 この直後にP型トランジスタ36とN型トランジスタ3
7を有する第3の相補トランジスタスイッチ49がそれ
ぞれ制御信号−′とφ′に応じて端子33の入力信号を
点32に印加する。この入力信号が基準電位より大きい
かまたは小さければ、その電位差が加算コンデンサ3日
を介してインバータ入力接続点39に印加される。この
インバータの利得は極めて高く、どのように小さな偏位
が自己バイアス電位に起っても出力を「高」状態(Vr
ef )Vin )まだは「低」状態(Vref < 
Vin )に転換する。その出力状態はラッチ回路16
′に印加され、下向きの制御信号グに応じてここに記憶
される。 上述の回路と動作の説明は比較回路の信号サンプリング
サイクルの完全なIサイクルに関するもので、インバー
タは各サイクル中自身を自己バイアスして諸因子の変動
による安定性の問題をなくする。制御信号φと7は相補
信号であり、制御信号φ′と7′はそれぞれ信号φと7
に持続時間と位相が実質的に同じ相補信号である。一般
にこれらの信号の持続時間はその系が軽度のパルスの重
なりで動作し得る場合にもスイッチ49の導通前にスイ
ッチ1148が遮断されるように設計される。 スイッチ4日、49に対応する各比較器のスイッチはこ
の発明により装置の感度を低下させる不都合なスイッチ
ング効果を減するよう改変されている。 第3図は点滅型AD変換器に使用される比較器スイッチ
の一部を示す。各比較器に対応するスイッチはそれらが
接続されている基準電位の範囲に調整されている。この
図では基準電位が5つの群または範囲■〜Vに分割され
ている。説明のため、基準抵抗20の両端に印加される
電位Vugm(−)とV RK F (+)はスイッチ
ングトランジスタのゲート電極に印加される2レベル制
御信号の振幅に対応する接地電位とVDDに対応すると
仮定すると共に、正規の回路トランジスタは閾値すなわ
ち点火電位VTが例えばlボルトの増強型素子とする。 第1の基準電位範囲工は接地電位からN型増強トランジ
スタの代表的閾値電位であるVTNよシ僅かに高い電位
までである。同様に第5の基準電位の範囲VはVDDか
ら(VDD −VTP )までで、VTPはP型増強ト
ランジスタの代表的閾値電位である。第3の範囲■はV
nn/2の両側に等距離法がり、vnzy(+)−VR
EF(→の25鴫を含むよう任意に選択されている。 範囲■と■は範囲■と■の問および範囲■とVの間を満
す。図では例として、vREIF(→〒VRmp(→が
5ボルトで、その回路が8ビツト変換器すなわち全部で
256個の比較器すなわち256組のスイッチを持つも
のと仮定した。これらの明細を考えると、範囲■、■、
vはそれぞれ256組のスイッチの25%を含み、範囲
■、■はそれぞれ256組のスイッチの12.5%を含
む。これらは近似値である。 各スイッチ構体にこの構成のスイッチ対を選択した理由
を理解するため、各トランジスタスイッチ対は第2図の
スイッチ49と同じ相補スイッチ対から成るものとする
。第3図の各トランジスタはソース電極もドレン電極も
その基板に接続されていないことに注意されたい。 通常一方のトランジスタがソースホロワとして動作し、
他方のトランジスタが並列接続されだソース電極とドレ
ン電極に印加される電位に依存する共通ソーストランジ
スタとして動作する。代表例として第3図のスイッチ構
体50をとり、これが範囲■とVで動作する場合を考え
る。また端子99の入力信号値が低いと仮定する。トラ
ンジスタ55(N型)が導通すると、点53は入力電圧
まで完全に放電されるが、次にトランジスタ52の導通
に・よって点53に基準電位が印加されたときコンテ゛
ンサ59が完全に再充電される必要がある。このために
は基準抵抗20にかなり大きい電流を流す必要があるが
、範囲■、■の各スイッチ構体に対応するコンデンサは
この充放電サイクルを受けるので、全体として充電電流
は抵抗器のはしご回路5日に瞬間的に流れ、その回路の
精度と最大動作速度を害する。これは映像帯域幅の4倍
ないし6倍でサンプリングしたい場合には重要な因子と
なる。 次に第3図の構成のスイッチ60、すなわちトランジス
タ55がP型の場合を考える。ここでも入力信号が低く
、点53がそれぞれの基準電圧まで再充電されていると
仮定する。このバイアス条件では点53に接続されたト
ランジスタ55の電極はソース電極として動作し、トラ
ンジスタ55は実効的にソースホロワとして動作する。 点53がコンデンサ59に著しい残留電荷を残してP型
トランジスタ55の閾値電位まで放電すると、トランジ
スタ55は遮断される。次に点53が基準電位にまで再
充電される20ときに必要な充電電流は著しく少さく々
す、はしご回路の負荷条件が少なくなる。 スイッチ構体50のスイッチ対60.61はそれぞれ2
個のP型トランジスタから成り、6対の一方のトランジ
スタのンース、ドレン電極はその回路内では接続されて
いない。これは各トランジスタ対のゲート電極が相補信
号で駆動されて、加算コンデンサ59に対するスイッチ
ング信号の結合を打消すため必要である。スイッチ構体
50の各スイッチ対のトランジスタが両方ともその回路
内で接続されると、そのトランジスタの何れか一方が常
に導通状態になるのでそのスイッチは決して開放されな
い。 範囲工のスイッチ構体80は同じ理由でP型トランジス
タを含まない。この群では基準電位は比較的低く、高い
すなわちV RK yp (+)電位に近い入力信号に
対して、P型トランジスタは加算コンデンサを入力電位
まで充電し、次にそれぞれの基準値まで放電する必要が
あるため、全放電電流が基準抵抗器20を流れることに
なる。一方、入力端子と加算コンデンサとの間に接続さ
れたN型トランジスタはこのバイアス条件ではソースホ
ロワとして動作する。加算コンデンサに印加される最大
電位はダート電位とN型トランジスタ閾値VTNの差に
制限され、これによって次に放電すべき電位を低下させ
、基準抵抗器60への負荷効果を低減する。 範囲■およびHの各基準電位は比較的低いためN型スイ
ッチトランジスタが比較的高度に導通する。同様に範囲
■と■の各基準電位は比較的高いだめP型スイッチトラ
ンジスタが比較的高度に導通する。一方、中間範囲すな
わち範囲■では、大きい入力信号がP型トランジスタの
導通を制限し、低い入力電位がN型トランジスタの導通
を制限するため、そのスイッチ対は相補トランジスタを
使用することが望ましい。 典型的なN型トランジスタはP型トランジスタより大き
いゲート・ドレン間貫通結合を生成する。 本願発明者はN型装置の閾値電位を低下させることによ
ってトランジスタのゲート・ドレン間貫通結合が減るこ
とを見出した。これは第4図を参照すると良く分る。 第4図は導通状態にある金属酸化物半導体(MOS)ト
ランジスタの断面図である。第1の導電型のソース領域
101とドレン領域102が相補導電型の基板100内
に拡散またはイオ゛ン注入によって形成され、そのソー
ス領域とドレン領域の間の基板上に誘電材料104が被
着され、その誘電材料104上にゲート電極103が形
成されている。ゲート、ドレン間の結合を小さくするた
めゲート電載の端はソース領域およびドレン領域に重な
らないようにされている。公知のように、反対の導電型
の半導体材料の接合の附近の基板には空乏領域105が
形成され、その空乏層の幅はその接合の両端に印加され
る電位とそれぞれの領域のP羽およびN型原子の相対的
濃度とに飲存する。同様に、ソース領域とドレン領域に
はそれぞれ空乏層lO′7と106とが形成される。 空乏層は可動電荷キャリアを含まず、従ってその両面間
に容量を呈する。ゲート電極1o3、誘電体304およ
び半導体表面はコンデンサを形成し、その一部分110
は基板の空乏層容量IIIによってド1/ン電極l○2
に直列に結合されている。ゲート電極にそのトランジス
タの導通方向の電位を印加すると、その電位の一部は直
列に接続された容量を介してドレン領域に印加される。 ゲート電位がそのトランジスタの閾値レベルに達した時
、電荷キャリア層108(反転層)がソース領域とドレ
ン領域の間の誘電体・基板界面に形成される。この層の
インピーダンスは結合コンデンサのインピーダンスより
遥かに小さく、ゲート・ドレン間結合をさらに禁止する
。実際上ドレンはソースに短絡され、比較的小さい容量
を介する結合によって影響されない。 そのトランジスタが遮断されると、ゲート電位の振動は
、ダート電位が閾値まで降下したとき生ずる反転層の分
散までドレンに結合されず、その後で閾値電位と接地電
位との間のダート電位の振動が一部ドレン電極に結合さ
れる。従って閾値電位が低下するとゲート電位の振動の
ドレンに結合される部分が低下することは明らかである
。 ソース領域と基板との間の逆バイアスが増大す2るとそ
のトランジスタの実効閾値電位も増大することが知られ
ている。この条件ははしご回路の上位位置にあるN型ス
イッチトランジスタと下位位置にあるP型スイッチトラ
ンジスタに対して行われる。従って範囲■のN型トラン
ジスタは範囲■のN型トランジスタや範囲■のN型トラ
ンジスタ等よりも大きなゲート・ドレン貫通結合を示す
。 この基板効果によって増大する貫通効果を減するため、
正常なN型増強トランジスタの閾値電位(例えば、約1
ボルト)より高い基準電位に接続されたスイッチ構体で
はN型トランジスタの閾値電位が低くなっている。この
閾値の調節によりN型トランジスタを有害な漏洩効果を
伴なわずにわずかに空乏モードにおくことのできること
が分った。 P型トランジスタのゲート・ドレン間貫通度は通常低い
ので、少、くとも8ピツトのAD変換器ではVRIIF
 (+)−VTPより低い基準電位に接続されたスイッ
チ構体に対するP型トランジ゛スタの閾値電位の調節は
必要ないことが分った。しかし、分解能を大きくするだ
めにはこのような調節をして、スイッチ65と95のP
型トランジスタの導通電位をスイッチ50のトランジス
タより低くする必要があることもある。 第3図に戻って、範囲■、■、■、■の補償トランジス
タはそれぞれのソース、ドレン電極がそれぞれの加算コ
ンデンサに接続されている。これは加算コンデンサで貫
通の相殺を行うだめである。 信号入力インピーダンスが十分低いため入力端子への貫
通はサンプリング期間の相当部分の量大力信号に影響し
ないと推定される。同じことが基準抵抗器20への接続
に対しても考えられる。 第3図ではトランジスタのソース電極とドレン電極はど
ちらも基板に接続されていないのでそのように示されて
いない。MOS )ランジスタは双方向性導電装置であ
るから、印加される入力信号によりソース領域とドレン
領域がその役割を交代することがある。通常のゲートの
記号で示されたトランジスタは通常のCMOS回路で使
用されている普通の増強型装置であり、ゲート電極上に
黒い矩形を付記したトランジスタは、半導体処理技術分
野で公知のように隣接基板中の不純物濃度を低下させる
ことによって閾値電位を低下させた装置である。集積回
路で基板の不純物濃度を低下させるには余分な工程を必
要とし、従って高価になる。このようにするとはしご回
路の一端から他端に向って各装置の閾値に傾斜をつけに
くくなるが、8ビツト装置の場合は範囲II、DI、I
Vの全N型スイッチトランジスタの閾値を均一に低くす
ることにより所要の分解能が充分得られることが分って
いる。 範囲Hのトランジスタスイッチ対は導通するように接続
されたN型トランジスタチャンネルを具えた相補装置か
ら成る。P型トランジスタチャンネルの一端は接続され
ていないが、この電極を接続しても性能には影響がない
と思われる。範囲Hのスイッチ構体75の他の構成がス
イッチ構体75′として示されているが、このトランジ
スタはどちらもN型である。しかし、6対の一方のトラ
ンジスタの導電チャンネルは接続しないままにしておく
必要がある。 範囲■のトランジスタスイッチ対は入力側が接続されて
いないN型トランジスタを有する相補トランジスタ対か
ら成る。このN型トランジスタは性能を落さずにP型ト
ランジスタと並列に接続することができるが、もし閾値
調節によって空乏モードに近づくならば、そのトランジ
スタが遮断されたときソース、ドレン間の漏洩を防ぐた
めそのトランジスタの一端を接続しないことが好ましい
。 範囲■の他のスイッチ構体が65′で示されているが、
ここでは各トランジスタ対が両方ともP型である。この
例では、6対の一方のトランジスタの加算コンデンサか
ら最も遠いドレ/、ソース電極はその回路から切断され
ていなければならない。 構体45′のP型トランジスタは閾値電位を低下させた
ものとして示されている(注、P型トランジスタの閾値
電圧は負の値をとるため低下したすなわあより低いP型
閾値は実際にはよシ正の数値になる)が、8ピツ)AD
変換器回路ではこれらの装置が正規の閾値をとることも
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は8ビット点滅型AD変換器のブロック図、第2
図は点滅型AD変換器に使用するためPET回路で構成
された比較回路の1つの回路図、第3図は点滅型AD変
換器の性能を向上させるように構成されたこの発明を実
施する比較器の伝送ゲートの配置を示す回路図、第4図
は絶縁ゲート電界効果トランジスタの断面略図である。 lO・・・ツェナー基準回路、15・・・比較器、la
・・・ランチ回路、17・・アンド回路、18・・・プ
ログラミング可能の論理回路、20・・・基準抵抗回路
、49.50.65、’10 、’i’5.80.、・
・・スイッチ手段、59・・・加算コンデンサ、99・
・・信号入力。 特許出願人    アールシーニー コーポレーション
化 理 人  清 水   哲 ほか2名才1図 13図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)漸増する基準電位を発生する基準抵抗回路と、同
    じ複数個の選択的自己バイアスインバータ回路の各入力
    に直列に接続された複数個の加算コンデンサと、信号入
    力と、上記基準電位のそれぞれまたは上記信号入力から
    の入力信号を上記加算コン1o  デンサのそれぞれの
    ものに交互に順次接続する複数個のスイッチ手段とを有
    し、上記スイッチ手段が、最も正の基準電位の規定範囲
    の基準電位を受入れるように結合されたそのスイッチ手
    段に付随する加算コンデンサが上記信号人力に所定の第
    1の電位より小さい入力信号電位の印加によりその所定
    の第1の電位以下に放電しないよう、かつ最も負の基準
    電位の規定範囲の基準電位を受入れるように結合された
    上記スイッチ手段に付随する加算コンデンサが上記信号
    入力に所定の第2の電位より大きな入力信号電位の印加
    によシその所定の第2の電位以上に充電されないように
    なっていることを特徴とする点滅型アナログデジタル変
    換器。
JP57210540A 1981-11-30 1982-11-29 点滅型アナログデジタル変換器 Pending JPS58104527A (ja)

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