JPS58101422A - 気相成長反応炉用サセプタ - Google Patents

気相成長反応炉用サセプタ

Info

Publication number
JPS58101422A
JPS58101422A JP20029681A JP20029681A JPS58101422A JP S58101422 A JPS58101422 A JP S58101422A JP 20029681 A JP20029681 A JP 20029681A JP 20029681 A JP20029681 A JP 20029681A JP S58101422 A JPS58101422 A JP S58101422A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
concaves
susceptor
phase growth
vapor growth
wafers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20029681A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Nakamura
純一 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP20029681A priority Critical patent/JPS58101422A/ja
Publication of JPS58101422A publication Critical patent/JPS58101422A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/12Substrate holders or susceptors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、気相成長反応炉用サセプタに関する。
発明の技術的背景及びその問題点 近年、半導体つ、ハの表面に所望の気相成長層を形成す
る九めに絡1図に示す如き、横型気相成長装置1、菖2
図に示す如き、縦m < lンケー=?il)気相成長
装置11第3図に示す如き、シリンダ型(バレルm>気
相成長装置互の3種類のものが主に使用されている。こ
れらの気相成長装置、J 、 j 、 Jでは、反応炉
Jl&、211゜1a内に設置するウェハ載置用サセプ
タJb。
jb、Jbの形状や反応炉1&、28.1a内への反応
ガスの導入の仕方4夫々異なる。而して、昇降温及び温
度制御が容易であり、かつ、成長条件の設定も容易でし
かも装置の価格が最も・安価である横型気相成長装置り
が一香よく使用されている。
横型気相成長装置は、一般に第4図及び第5図に示す如
く、石英反応炉5内の所定位置に石英スレ、Pt1Yr
介して平板状のサセプタ10片面し、このサセプタ10
表面上に気相成長処理【施すつac ”’ a t−載
置するようにした構造を有している。而して、石英反応
炉1の周囲を覆うように設けた高周波加熱フィル#によ
りてつ。
ハ1t−所定温度に加熱し、気相成長処理を施している
。しかしながら、サセプタ10片面@にのみウェイ・8
を載置するため、気相成長処理の施されるウェノ・8の
数が制約される欠点がある。
このような欠点を解消するために第6図及び第7図に示
す如く、周囲を高周波加熱コイル10で囲った石英反応
炉11内に1略三角柱状の基体JJI&の対向する傾斜
面に所定間隔でウェハ滑り止め片12bt−突出してこ
のつ、−滑り止め片xzbと傾斜面とでウェーI IY
r保持するようKしたサセプタ12を設置するようKし
たものが開発されている。しかしながら、このようなす
七ゲタ12では、傾斜面に保持された対向するつ、ハI
Jの間隔が、サセプタ12の上部と下部で異なるため、
全てのウェハIIYr均一に加熱することができなかっ
た。特に突出したつ、へ滑シ止め片11bが高温に加熱
され、ウェハ13の上端部が比較的低温になる傾向があ
った。その結果、つ、−13の表面に高品質の気相成長
層を形成できない問題があった。なお、If!8図に示
す如(、断面が略台形状の基体14を順次積層して各々
の基体14の側部にウェハ滑り止め片14&を突出した
サセプタ15も提案されているが、前述の略三角°柱状
の基体11&からなるサセプタ12と同様にサセプタ1
5の上部、と下部の体積が異なるため、ウェハ滑り止め
片14&が高温に加熱されつ、八13の上1部がこれに
比べて低温になり、高品質の気相成長層を形成できない
問題があった。
発明の目的 本発明は、全てのウェノ・全所定の温度で均一に加熱し
て高品質の気相成長層を容易に形成することができる気
相成長反応炉用サセプタを提供することをその目的とす
るものである。
発明の概要 本発明は、平板状基体の表裏面にウェj’?保持するた
めの凹部を形成して、表裏面側の対応するウェハ間の肉
厚會均−にするととKより、全てのウェノ・を所定の温
度に加熱して高品質の気相成長層を形成できるようにし
九気相成長反応炉用すセゾタである。
発明の実施例 第9図は、本発明の一実施例の断面図、第10図は、同
実施例の要部の正面図である1図中20は、平板状基体
である。平板状基体200表裏面には、気相成長処理の
施されるウェー・Jlの径よりも僅に大きな径で、かつ
、つ、)・11の肉厚とほぼ勢しいか若干浅い深さでつ
ハ21の嵌合用凹部12が所定間隔を設けて多数個形成
されている。凹部210周辺近傍には、凹部zzK恢合
されたウェー77を固定するための固定片2Jが凹部2
2内に臨むように形成されている。ここで、表面側の凹
部22とこの凹部12に対応する裏面側の凹部12間X
の平板状基体20の肉厚は、何れの箇所でも同じ大きさ
に設定されている。また、凹部22の深さ及び径は、ウ
ェIJ J 會確実に嵌合して固定できるように設定す
るのが望ましい、固定片23の大きさ及び数は、凹部2
2に嵌合されたウェーj J t−確iJ!に固定でき
る作用を発揮できる範囲で、小さくするのが望ましい。
而して、このように構成された気相成長反応炉用サセプ
タ75によれば、対応する凹部22間の肉厚が何れの箇
所でも等しい凹部22内につ、−11f嵌合して加熱す
るので、凹部22に保持された全てのつ、l−11f所
定の温度に均一に加熱することができる。また、固定片
23の大きさは可能な限り小さく設定されているので、
固定片230所で局所的に高温状態に加熱されるのを防
止することができる。その結果、全てのウェー・21を
所定の温度に均一に加熱することができるので、高品質
の気相成長層を容易に形成することができる。しかも、
平板状基体20の表裏、両面に凹部21が多数個形成さ
れているので、生産性を向上させることができる・ 因に1実施例の気相成長反応炉用サセプタ25によれば
、第6図乃至第8図に示す従来のサセプタ11!、II
K比べて、極めて高品質の発明の詳細 な説明した如く、気相成長反応炉用サセプタによれば、
全てのウェノ・を所定の温度で均一に加熱して高品質の
気相成長層を容易に形成することができるものである。
【図面の簡単な説明】
#!1図は、横型気相成長装置の概略構成を示す説明図
、第2図は、縦型気相成長装置の概略構成を示す説明図
、第3図は、シリンダ型気相成長装置の概略構成を示す
説明図、第4図は、横型気相成長装置の一部破断平面図
、第5図は、同横型気相成長装愛のV−V線に沿う断面
図、第6図は、略三角柱状の基体からなるサセプタを用
いた横型気相成長装置の一部破断平面図、第7図は、同
横型気相成長装蓋の■−■線に沿う断面図、第8図は、
略台形状の基体を積層してなるサセプタの斜視図、第9
図は、本発明の一実施例の断面図、第10図は、同実施
例の要部を示す平面図である。 20・・・平板状基体、21・・・ウェハ、22・・・
凹部、22・・・固定片、25・・・気相成長反応炉用
サセプタ。 第1図 第2図 フ 第3図 第4図 第5図 第8@1 第9図       第101!1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 平板状基体の表裏面に気相成長処理の施されるつ、八を
    濠合する凹部を、前記表裏面の対応する該凹部間の肉厚
    を均一にして多数個形成し、かつ、該凹部の周囲近傍に
    前記つ、ノ・の固定片【設は九ことt特徴とする気相成
    長反応炉用サセプタ・
JP20029681A 1981-12-12 1981-12-12 気相成長反応炉用サセプタ Pending JPS58101422A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20029681A JPS58101422A (ja) 1981-12-12 1981-12-12 気相成長反応炉用サセプタ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20029681A JPS58101422A (ja) 1981-12-12 1981-12-12 気相成長反応炉用サセプタ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58101422A true JPS58101422A (ja) 1983-06-16

Family

ID=16421951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20029681A Pending JPS58101422A (ja) 1981-12-12 1981-12-12 気相成長反応炉用サセプタ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58101422A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0147967A2 (en) * 1983-12-09 1985-07-10 Applied Materials, Inc. Induction heated reactor system for chemical vapor deposition

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS492257B1 (ja) * 1970-07-06 1974-01-19
JPS4967882A (ja) * 1972-11-02 1974-07-01
JPS55110031A (en) * 1979-02-19 1980-08-25 Fujitsu Ltd Method for vapor growth

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS492257B1 (ja) * 1970-07-06 1974-01-19
JPS4967882A (ja) * 1972-11-02 1974-07-01
JPS55110031A (en) * 1979-02-19 1980-08-25 Fujitsu Ltd Method for vapor growth

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0147967A2 (en) * 1983-12-09 1985-07-10 Applied Materials, Inc. Induction heated reactor system for chemical vapor deposition

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7104476B2 (en) Multi-sectored flat board type showerhead used in CVD apparatus
JPH05166741A (ja) 熱処理装置用基板支持具
TWI278935B (en) Process and system for heating semiconductor substrates in a processing chamber containing a susceptor
CN109385624A (zh) 辐射屏障
KR102164610B1 (ko) 기판 캐리어 베이스 상에 장착될 수 있는 기판 캐리어 링을 구비한 열 처리 장치
KR20180130854A (ko) 기판 지지 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US20030150386A1 (en) Apparatus for fabricating a semiconductor device
JPH0878347A (ja) エピタキシャル成長装置のサセプタ
TW201732077A (zh) 用於最小化跨基板的溫度分布的具有凹槽的平板基座
JP3004846B2 (ja) 気相成長装置用サセプタ
US20140182516A1 (en) Apparatus for fabricating ingot
JPS58101422A (ja) 気相成長反応炉用サセプタ
JPS63102225A (ja) 縦形半導体熱処理装置のウエ−ハボ−ト
KR0176296B1 (ko) 냉벽식 기상 성장 장치
US20190096736A1 (en) Waffer pedestal and support structure thereof
JP3388668B2 (ja) 熱処理用ボ−ト及び縦型熱処理装置
JPH0727870B2 (ja) 減圧気相成長方法
JP2986112B2 (ja) 熱処理装置
JP2534674Y2 (ja) 縦形cvdボ−ト
JP3023977B2 (ja) 縦型熱処理装置
JPS6046183B2 (ja) 基板上での珪素のエピタキシヤル析出法及び装置
KR20110009358A (ko) 보트
JPS5950095A (ja) 化学反応器
JPH0982695A (ja) 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
US6544339B1 (en) Rectilinear wedge geometry for optimal process control in chemical vapor deposition and rapid thermal processing