JPH1190644A - 抵抗溶接方法およびその装置 - Google Patents

抵抗溶接方法およびその装置

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JPH1190644A
JPH1190644A JP9255650A JP25565097A JPH1190644A JP H1190644 A JPH1190644 A JP H1190644A JP 9255650 A JP9255650 A JP 9255650A JP 25565097 A JP25565097 A JP 25565097A JP H1190644 A JPH1190644 A JP H1190644A
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JP
Japan
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welding
thickness
workpiece
displacement
electrode tip
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JP9255650A
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English (en)
Inventor
Masayuki Sunamura
正幸 砂村
Hiroshi Inumaru
浩 犬丸
Noriaki Tsunoda
則章 角田
Kiyoshi Koyama
喜代志 甲山
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Seiwa Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Seiwa Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】溶接不良を防止し、溶接品質を向上させること
が可能な抵抗溶接方法およびその装置を提供する。 【解決手段】押圧機構を下降させて上部電極チップと下
部電極チップにより被溶接物を挟持する(領域96a、
96b)。スクイズ時間T1 だけこの状態を維持した後
(領域96c)、被溶接物の厚さDを磁気誘導型変位セ
ンサで測定し、被溶接物に不具合がないかどうかを判断
する(領域96d)。次いで、被溶接物の厚さDの変位
量ΔDを測定しながら上部電極チップと下部電極チップ
との間に溶接電流を流して溶接を行う(領域96e)。
被溶接物の厚さが徐々に薄くなり、その変位量ΔDが所
定の値になったら溶接電流を停止して溶接を完了する。
ホールド時間T2 だけ経過するのを待って被溶接物の溶
融した部位が固化したら(領域96f)、被溶接物の厚
さDを測定し、溶接品質の良否を判定する(領域96
g)。そして、押圧機構を上昇させて被溶接物を取り出
す(領域96g)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被溶接物の厚さを
測定することにより良好な溶接品質を得る抵抗溶接方法
およびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】抵抗溶接は、2種の被溶接物を接触させ
て機械的に加圧しながら大電流を通電することにより、
被溶接物相互間の加圧された部位の接触抵抗が他の金属
部分の接触抵抗より低くなり、溶接電流が集中してジュ
ール熱が発生し、この結果、金属部分の溶融状態が得ら
れ、加圧力と相俟って溶着するに至ることを基本原理と
している。
【0003】この場合、溶接強度を管理するために、溶
接電流の大きさを測定してその値から溶接強度を判断す
る方法がある。ところが、溶接電流は、被溶接物の機械
的精度、例えば、被溶接物の厚さのばらつきや、繰り返
し溶接を行うことに起因する電極チップの消耗等、相異
なる2種類以上の要因によってばらつくため、溶接電流
だけで溶接強度を完全に管理することができないという
問題があった。
【0004】そこで、被溶接物に対する電極の移動量を
溶接後において検出することで溶接強度を判断する方法
が提案されている(特公平2−48348号公報参
照)。すなわち、溶接が良好に行われた場合、図11B
に示すように、被溶接物2、4の間に所定の大きさのナ
ゲット6が形成されることにより被溶接物2、4の溶接
ポイントの厚さが所定量変化する。ところが、例えば、
溶接時間が不足した場合は、図11Aに示すように、ナ
ゲット6が小さいため、被溶接物2、4の厚さの変化が
少なく、一方、溶接時間が長い場合は、図11Cに示す
ように、ナゲット6が大きく、溶けた母材が飛び散るこ
ともあり、被溶接物2、4の厚さが大きく変化する。
【0005】このため、電極の移動量を測定し、この移
動量が所定の範囲内であれば溶接が良好に完了したと判
断し、前記移動量が所定の範囲より小さい場合、または
大きい場合には溶接不良であると判断することができ
る。
【0006】また、特公平2−54194号公報には、
被溶接物の厚さの変位量を測定しながら溶接電流を流
し、前記変位量が所定値に達したら溶接電流を停止する
部材の接合方法および装置が開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、溶接前の被溶接物の厚さを測定してその
良否判定を行っていないため、厚さにばらつきがある場
合、電極の移動量が所定の範囲内であっても適正溶接状
態となる保証が得られなくなってしまう。このため、事
前に溶接不良を防止することができず、溶接品質を向上
させることができないという問題があった。また、溶接
後において、溶接の良否判定を行っていないため、例え
ば、溶接時間が極めて短い場合、厚さの変位量に基づく
溶接電流の制御精度が低くなり、溶接不良が惹起するに
も拘わらず、それを検出することはできなかった。
【0008】本発明は溶接不良を防止し、溶接品質を向
上させることが可能な抵抗溶接方法およびその装置を提
供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、抵抗溶接用の電極チップを被溶接物に
押圧する工程と、溶接前の被溶接物の厚さを測定する工
程と、前記厚さが許容範囲外であれば溶接を中止し、一
方、前記厚さが許容範囲内であれば、溶接電流を被溶接
物に通電して溶接を施す工程と、を有することを特徴と
する。
【0010】本発明によれば、溶接前に被溶接物の不具
合を検出することができ、溶接不良を防止することがで
きる。
【0011】また、本発明は、抵抗溶接用の電極チップ
を被溶接物に押圧する工程と、溶接前の被溶接物の厚さ
を測定する工程と、溶接電流を被溶接物に通電して溶接
を施す工程と、溶接後の被溶接物の厚さを測定して被溶
接物の厚さの変位量を求め、この変位量から溶接品質の
良否判定を行う工程と、を有することを特徴とする。
【0012】本発明によれば、溶接前と溶接後に被溶接
物の厚さを測定するため、適正な変位量で溶接が施され
たか否かを判断することができ、好適である。
【0013】この場合、被溶接物に溶接を施す工程で
は、被溶接物の厚さの変位量を測定するとともに、溶接
電流を被溶接物に通電して溶接を施す工程と、被溶接物
の厚さの変位量が所定の値に達したとき、溶接電流の通
電を停止する工程と、を有すると、変位量が所定の値に
達した時点で溶接電流の通電が停止されるため、良好な
溶接状態を得ることが可能である。
【0014】また、この場合、溶接前の被溶接物の厚さ
を測定する工程では、前記電極チップを被溶接物に押圧
し、その状態を所定時間維持した後、溶接前の被溶接物
の厚さを測定すると、被溶接物を電極チップで押圧した
ときに発生する被溶接物の振動が治まってからその厚さ
を測定することができるため、この振動による測定誤差
がなくなり、被溶接物の厚さを精度よく測定することが
可能である。
【0015】さらに、本発明は、抵抗溶接用の電極チッ
プを被溶接物に押圧する押圧機構と、前記電極チップが
装着され、弾性部材を介して前記被溶接物に付勢される
加圧力伝達シャフトと、前記加圧力伝達シャフトの変位
量を検出する変位センサと、前記電極チップの前記被溶
接物に対する押圧時における前記変位センサからの出力
から、前記被溶接物の厚さと、溶接中の前記被溶接物の
厚さの変位量とを求める検出手段と、を備えることを特
徴とする。
【0016】本発明によれば、溶接前に被溶接物の厚さ
を測定することが可能であるため、溶接前に溶接不良を
防止することができ、また、溶接中の被溶接物の厚さの
変位量を測定し、この変位量が所定の値となったときに
溶接を停止することにより、良好な溶接状態を得ること
が可能である。
【0017】この場合、前記変位センサが磁気誘導型変
位センサであると、被溶接物の厚さの変化に対する電極
チップの応答性がよく、溶接をしながら被溶接物の厚さ
の変位量を高精度に測定することができ、好適である。
【0018】また、この場合、前記磁気誘導型変位セン
サに用いられる磁石を前記加圧力伝達シャフトに形成す
ることで軽量化が達成され、被溶接物の厚さの変化に対
する電極チップの応答性が一層向上し、好適である。
【0019】さらに、この場合、前記磁気誘導型変位セ
ンサが鉄または鉄合金で形成されたシールドによって覆
われると、電磁ノイズや磁気ノイズによって測定結果に
誤差が生じる懸念がなくなり、好ましい。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明に係る抵抗溶接方法および
その装置について、好適な実施の形態を挙げ、添付の図
面を参照しながら以下詳細に説明する。
【0021】図1において、参照符号10は、本発明の
第1の実施の形態に係る抵抗溶接装置を示す。この抵抗
溶接装置10は、上部電極チップ12を下部電極チップ
14に接近または離間する方向に変位させる変位ユニッ
ト16と、該変位ユニット16を制御するとともに、前
記上部電極チップ12の変位量を監視する変位量検出手
段であるコントローラ18と、前記上部電極チップ12
および下部電極チップ14に溶接電流を流す溶接電源2
0とを備える。
【0022】前記コントローラ18には、被溶接物の厚
さD、変位量ΔDや抵抗溶接装置10の運転状況等を示
すLCDディスプレイ18aと、抵抗溶接装置10の設
定や運転等を行うための複数のスイッチ18bが設けら
れる。
【0023】前記変位ユニット16は、図2に示すよう
に、基台22を備える。該基台22には下部電極ホルダ
24が固着され、該下部電極ホルダ24には前記下部電
極チップ14が固着される。前記下部電極ホルダ24に
は前記溶接電源20から前記下部電極チップ14に溶接
電流を供給する電線26が接続される。
【0024】前記基台22には支柱28が立設され、該
支柱28の側部にはレール部材30が垂直方向に延在し
て固着される。該レール部材30には複数のガイド部材
32が摺動自在に係合し、該ガイド部材32には変位部
材36が固着される。該変位部材36には前記支柱28
の上部に固着されたシリンダ38のシリンダロッド40
の端部が固着される。前記シリンダ38には、図1に示
すように、電磁弁41を介して圧縮空気供給源43が接
続され、前記電磁弁41は前記コントローラ18によっ
て制御される。
【0025】前記変位部材36には押圧機構42が固着
される。該押圧機構42は、図3に示すように、筐体4
4を備え、該筐体44の内部には室46が画成される。
前記筐体44は鉄または鉄合金で形成されたシールド4
8によって覆われ、電磁波や磁気等のノイズが筐体44
の内部に進入することが防止される。
【0026】前記筐体44には孔部50、51、52が
同軸的且つ垂直方向に延在して画成され、孔部50、5
1にはブシュ54、56が配設される。該ブシュ54、
56には加圧力伝達シャフト58が摺動自在に挿通す
る。該加圧力伝達シャフト58の下部には上部電極ホル
ダ60を介して前記上部電極チップ12が装着される。
前記上部電極ホルダ60には前記溶接電源20から前記
上部電極チップ12に溶接電流を供給する電線62が接
続される(図2参照)。前記加圧力伝達シャフト58の
上部にはフランジ部64が形成され、該フランジ部64
が前記ブシュ56の上部に当接することにより加圧力伝
達シャフト58が抜け止めされる。前記孔部52の内部
には前記フランジ部64の上部に弾性部材であるコイル
スプリング66が配設され、該コイルスプリング66の
上部は前記孔部52の内部に摺動自在に設けられた着座
部材68に着座する。
【0027】前記孔部52の上部には筒状部材70が固
着される。該筒状部材70の上部外周には雄ねじ72が
螺刻され、該雄ねじ72には摘み74が螺合する。該摘
み74の内部には前記筒状部材70の内部に挿入される
棒状の押圧部76が形成され、該押圧部76の下端部は
前記着座部材68に当接する。このため、摘み74を回
転させると押圧部76は筒状部材70の内部を上下方向
に変位して前記着座部材68を変位させる。
【0028】前記加圧力伝達シャフト58には前記室4
6の内部に配置される板状部材78が固着され、該板状
部材78には磁気誘導型変位センサ80を構成する棒状
の磁石82が前記加圧力伝達シャフト58と平行に固着
される。該磁石82は前記筐体44に固着された磁気誘
導型変位センサ80のコイル84の内部を挿通可能に構
成される。前記コイル84には、図示しないが、1次コ
イルと2次コイルが巻回され、1次コイルに前記コント
ローラ18から正弦波等の交流の基準電圧が印加される
と、2次コイルに前記磁石82の変位量に対応して前記
基準電圧から位相が偏位した交流信号が出力される。
【0029】また、前記板状部材78には棒状部材86
が前記加圧力伝達シャフト58と平行に固着され、前記
加圧力伝達シャフト58が変位すると前記棒状部材86
は前記筐体44に固着されたマイクロスイッチ88をオ
ンまたはオフにする。この場合、前記マイクロスイッチ
88と前記棒状部材86はフォトセンサと遮光板であっ
てもよい。
【0030】第1の実施の形態に係る抵抗溶接装置10
は、基本的には以上のように構成されるものであり、次
にその動作について、第1の実施の形態に係る抵抗溶接
方法との関連で、図4、図5のフローチャートを参照し
て説明する。
【0031】先ず、押圧機構42の摘み74を所定の方
向に回転させると、押圧部76が下降して着座部材68
を押圧し、コイルスプリング66が縮退する(図3参
照)。このため、コイルスプリング66によって加圧力
伝達シャフト58を押圧する力が大きくなり、溶接する
際に上部電極チップ12によって被溶接物90、92を
押圧する力が強くなる。そこで、上部電極チップ12に
よって被溶接物90、92を押圧する力が所定の大きさ
となるように摘み74をこの押圧力に対応する位置まで
回転させる。
【0032】以上のような準備段階を経て、抵抗溶接装
置10を付勢すると、該抵抗溶接装置10はキー入力待
ちとなる(図4中、ステップS1)。次に、コントロー
ラ18上のスイッチ18bにより「設定」を選択すると
(ステップS2)、上部電極チップ12と下部電極チッ
プ14とによって被溶接物90、92を挟持してから被
溶接物90、92の厚さを測定するまでのスクイズ時間
1 、溶接完了から溶融したナゲット94が固化するま
でのホールド時間T2 、溶接前の被溶接物90、92の
厚さの許容最小値Damin 、許容最大値Damax 、溶接
後の被溶接物90、92の厚さの許容最小値Dbmin
許容最大値Dbmax 、および溶接完了のときの被溶接物
90、92の厚さの変位量設定値ΔD1 をそれぞれ設定
する(ステップS3)。
【0033】一方、ステップS1において、変位ユニッ
ト16の上部電極チップ12と下部電極チップ14との
間に2種の被溶接物90、92が重ねられた状態で配設
され、コントローラ18上のスイッチ18bにより「溶
接開始」が選択されると(ステップS2)、コントロー
ラ18は電磁弁41を制御して圧縮空気供給源43から
シリンダ38に圧縮空気を導入し、押圧機構42を下降
させる(ステップS4、図6中、領域96a、96
b)。このため、上部電極チップ12は被溶接物92の
上面に当接し、被溶接物90、92は上部電極チップ1
2と下部電極チップ14とに挟持される(図7A参
照)。
【0034】さらなる押圧機構42の下降作用下に加圧
力伝達シャフト58がコイルスプリング66の弾発力に
抗して相対的に上昇し(図3参照)、棒状部材86がマ
イクロスイッチ88を押圧して該マイクロスイッチ88
をオンにする(ステップS5)。このため、コントロー
ラ18は電磁弁41を制御して押圧機構42の下降を停
止させる(ステップS6)。このとき、被溶接物90、
92には上部電極チップ12と下部電極チップ14とに
挟持されたときの衝撃により振動等が発生している懸念
がある。
【0035】そこで、被溶接物90、92に発生した振
動等を収束させるため、前記ステップS3で設定された
スクイズ時間T1 だけこの状態を維持する(ステップS
7、領域96c)。そして、磁気誘導型変位センサ80
によって被溶接物90、92の厚さDを測定する(ステ
ップS8、領域96d)。この厚さDが前記許容最小値
Damin と許容最大値Damax との範囲内かどうかを判
断する(図5中、ステップS9)。もし、厚さDが許容
範囲外であった場合、コントローラ18のLCDディス
プレイ18aに被溶接物90、92に不具合があること
を表示し(ステップS10)、押圧機構42を上昇させ
る(ステップS18)。一方、厚さDが許容最小値Da
min と許容最大値Damax との範囲内であるなら、この
ときの磁気誘導型変位センサ80の出力を基準値0に設
定する(ステップS11)。このため、これ以降、磁気
誘導型変位センサ80の出力は被溶接物90、92の厚
さの変位量ΔDを示すことになる。
【0036】次いで、コントローラ18は溶接電源20
に溶接指令信号を出力する(領域96e)。そこで、溶
接電源20は前記溶接指令信号に従い、上部電極チップ
12と下部電極チップ14との間に溶接電流を通電し、
被溶接物90、92に対する溶接が開始される(ステッ
プS12)。このとき、磁気誘導型変位センサ80は被
溶接物90、92の厚さDの変位量ΔDを測定し続け
る。
【0037】溶接が進むにつれて被溶接物90、92に
ナゲット94が形成されて該被溶接物90、92の厚さ
Dは徐々に薄くなり、磁気誘導型変位センサ80の出力
である変位量ΔDが大きくなる。この場合、変位量ΔD
は、図7Bに示すように、一方の被溶接物90の厚さD
の変位量ΔDd と他方の被溶接物92の変位量ΔDu
の和である。
【0038】そして、変位量ΔDが変位量設定値ΔD1
以上となったら(ステップS13)、ナゲット94が良
好な大きさとなったと判断することができるため、コン
トローラ18は溶接電源20に対する溶接指令信号の出
力を停止する。このため、溶接電源20は上部電極チッ
プ12、下部電極チップ14に流している溶接電流を停
止し、溶接が完了する(ステップS14)。このとき、
被溶接物90、92に形成されたナゲット94は溶融状
態にある。そこで、ホールド時間T2 の経過を待つこと
でナゲット94が固化する(ステップS15、領域96
f)。
【0039】次に、被溶接物90、92の厚さDを測定
し(ステップS16、領域96g)、この厚さDが前記
許容最小値Dbmin と許容最大値Dbmax との範囲内か
どうかを判断する(ステップS17)。もし、厚さDが
許容範囲外であった場合、コントローラ18のLCDデ
ィスプレイ18aに被溶接物90、92に不具合がある
ことを表示し(ステップS10)、押圧機構42を上昇
させる(ステップS18)。一方、厚さDが許容最小値
Dbmin と許容最大値Dbmax との範囲内であるなら、
コントローラ18は電磁弁41を制御して押圧機構42
を上昇させ、溶接が完了した被溶接物90、92が取り
出される(ステップS18、領域96h)。
【0040】以上のように、溶接前に被溶接物90、9
2の厚さDを測定することにより、事前に溶接不良を防
止することができ、また、溶接後に被溶接物90、92
の厚さを測定することにより、溶接品質の良否判定を行
うことができる。また、被溶接物90、92の変位量Δ
Dを測定しながら溶接を行い、変位量ΔDが変位量設定
値ΔD1 となったときに溶接を停止すると、溶接時間の
過不足の懸念がなくなり、良好な溶接状態で溶接を終了
することができる。
【0041】また、上部電極チップ12の変位量ΔDを
応答性のよい磁気誘導型変位センサ80によって測定し
ているため、短い溶接時間に拘わらず正確に変位量ΔD
を測定することができる。
【0042】さらに、磁気誘導型変位センサ80はシー
ルド48に覆われているため、電磁ノイズや磁気ノイズ
によって磁気誘導型変位センサ80の出力信号に誤差が
発生する懸念もない。
【0043】次に、第2の実施の形態に係る抵抗溶接装
置100について、図8を参照して説明する。なお、第
1の実施の形態に係る抵抗溶接装置10と同様の構成要
素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略す
る。以下、他の実施の形態についても同様である。
【0044】この抵抗溶接装置100の押圧機構102
は2つの上部電極チップ104a、104bを備える。
押圧機構102の筐体106はシールド107によって
覆われている。前記筐体106の下部には孔部108
a、108bが画成され、該孔部108a、108bに
はブシュ110a〜110dが設けられる。該ブシュ1
10a〜110dには加圧力伝達シャフト111a、1
11bが挿通し、該加圧力伝達シャフト111a、11
1bの下端部には上部電極ホルダ113a、113bを
介して前記上部電極チップ104a、104bが装着さ
れる。前記加圧力伝達シャフト111a、111bの上
部には板状部材112が橋架され、該板状部材112の
中央部には磁気誘導型変位センサ114を構成する棒状
の磁石116が固着される。該磁石116は前記筐体1
06に設けられた磁気誘導型変位センサ114を構成す
るコイル118の内部に挿通自在である。前記加圧力伝
達シャフト111a、111bの上端部にはローラ12
0a、120bが回転自在に軸支される。
【0045】前記筐体106には孔部122が画成さ
れ、該孔部122にはブシュ124a、124bが設け
られる。該ブシュ124a、124bにはシャフト12
6が摺動自在に挿通し、該シャフト126の下端部には
揺動部材128が揺動自在に設けられる。該揺動部材1
28には前記ローラ120a、120bが当接自在であ
り、このため、前記上部電極チップ104a、104b
が傾斜して被溶接物90、92に当接した場合でも、前
記シャフト126の上部に設けられたコイルスプリング
66の押圧力が前記揺動部材128および前記ローラ1
20a、120bによって略同一の力に分割されて上部
電極チップ104aと104bに伝達される。従って、
上部電極チップ104aと104bは略同一の力で被溶
接物90、92に押圧され、略同一の溶接条件となる
(図9参照)。
【0046】この押圧機構102は、第1の実施の形態
と同様に、変位ユニット16に装着される(図1参
照)。また、押圧機構102には、図9に示すように、
一方の上部電極チップ104aに溶接電源20の一方の
溶接電流端子20aが接続され、他方の上部電極チップ
104bに他方の溶接電流端子20bが接続される。変
位ユニット16の平板状に形成された下部電極チップ1
32には前記上部電極チップ104a、104bに対応
した突部134a、134bが形成される。
【0047】この抵抗溶接装置100によって溶接を行
う場合、第1の実施の形態と同様に、コントローラ18
によってシリンダ38を付勢し、押圧機構102を下降
させる(領域96a、96b)。上部電極チップ104
a、104bが被溶接物90、92に当接したら、スク
イズ時間T1 だけこの状態を維持した後(領域96
c)、磁気誘導型変位センサ114によって被溶接物9
0、92の厚さDを測定する(領域96d)。この厚さ
Dが許容最小値Damin と許容最大値Damax との範囲
内であれば、磁気誘導型変位センサ114の出力を0に
設定し、被溶接物90、92の厚さDの変位量ΔDを測
定しながら溶接電源20から上部電極チップ104a、
104bに溶接電流を流す(領域96e)。このため、
図9中、矢印で示すように、被溶接物90、92に溶接
電流が流れ、溶接が開始される。被溶接物90、92の
厚さDが薄くなり、変位量ΔDが変位量設定値ΔD1
達すると、溶接電流を停止させる。
【0048】そして、ホールド時間T2 だけ待って溶融
したナゲット94が固化したら(領域96f)、被溶接
物90、92の厚さDを測定する(領域96g)。この
厚さDが許容最小値Dbmin と許容最大値Dbmax との
範囲内であれば、押圧機構102を上昇させ(領域96
h) 、被溶接物90、92を取り出す。
【0049】この場合、一方の溶接電流端子20aに一
方の上部電極チップ104aを接続し、他方の溶接電流
端子20bに他方の上部電極チップ104bを接続した
が、一方の溶接電流端子20aを両方の上部電極チップ
104a、104bに接続し、他方の溶接電流端子20
bを下部電極チップ132に接続してもよい。
【0050】第2の実施の形態では、2つの上部電極チ
ップ104a、104bにより1回の溶接作業で2個所
の溶接を行うことができ、作業効率が向上する。
【0051】次いで、第3の実施の形態に係る抵抗溶接
装置200について、図10を参照して説明する。
【0052】この抵抗溶接装置200の押圧機構202
は筐体204を備え、該筐体204の内部には室206
が画成される。前記筐体204は鉄または鉄合金で形成
されたシールド208によって覆われ、このため、電磁
波や磁気等のノイズが筐体204の内部に進入すること
がシールド208によって防止される。
【0053】前記筐体204には孔部210、211、
212が垂直方向に延在して画成され、孔部210、2
11にはブシュ214a、214bが配設される。該ブ
シュ214a、214bには加圧力伝達シャフト216
が摺動自在に挿通する。該加圧力伝達シャフト216の
下部には上部電極ホルダ218を介して上部電極チップ
220が装着される。前記加圧力伝達シャフト216の
上部にはフランジ部222が形成され、該フランジ部2
22が前記ブシュ214bに当接することにより加圧力
伝達シャフト216が抜け止めされる。前記孔部212
には前記フランジ部222の上部にコイルスプリング2
24が配設され、該コイルスプリング224の上部は前
記孔部212の内部に摺動自在に設けられた着座部材2
25に着座する。
【0054】前記孔部212の上部には筒状部材226
が固着され、該筒状部材226の上部には雄ねじが螺刻
され、該雄ねじには摘み228が螺合する。該摘み22
8の内部には前記筒状部材226の内部に挿入される棒
状の押圧部230が形成され、該押圧部230の下端部
は前記着座部材225に当接する。
【0055】前記室206の内部には前記加圧力伝達シ
ャフト216に板状部材232が固着され、該板状部材
232にはガイド棒234が前記加圧力伝達シャフト2
16と平行に固着され、該ガイド棒234は前記筐体2
04に画成されたガイド孔236の内部に摺動自在に挿
入される。
【0056】前記筐体204には前記加圧力伝達シャフ
ト216が挿通する磁気誘導型変位センサ238のコイ
ル240が固着され、前記加圧力伝達シャフト216の
前記コイル240に対応する領域に磁化処理により磁石
242が形成される。
【0057】このように、加圧力伝達シャフト216に
は磁気誘導型変位センサ238の磁石242を加圧力伝
達シャフト216と別体で設ける必要がないため、押圧
機構202を構成する部品点数が減少し、該押圧機構2
02を小型に構成することができ、さらに、製造コスト
を低廉化することができる。また、加圧力伝達シャフト
216、上部電極チップ220等の可動部が軽量となる
ため、被溶接物90、92の厚さDの変化に対して加圧
力伝達シャフト216が遅れなく追従し、短い溶接時間
で変位量ΔDが変位量設定値ΔD1 に達する場合にも磁
気誘導型変位センサ238は遅れなく変位量ΔDを測定
することが可能である。この結果、溶接電流の通電停止
タイミングを高精度に制御し、極めて良好な溶接状態を
得ることができる。
【0058】第3の実施の形態では加圧力伝達シャフト
216に磁化処理により磁石242を形成したが、磁石
242をリング状に形成して加圧力伝達シャフト216
に嵌合させてもよい。
【0059】
【発明の効果】本発明に係る抵抗溶接方法およびその装
置によれば、以下のような効果ならびに利点が得られ
る。
【0060】溶接前に被溶接物の厚さを測定し、その厚
さによって被溶接物の不具合を検出することができるた
め、事前に溶接不良を防止することができ、また、溶接
後に被溶接物の厚さを測定するため、溶接品質の良否を
判定することが可能となる。
【0061】また、例えば、応答性のよい磁気誘導型変
位センサを用いて被溶接物の厚さの変位量を測定しなが
ら溶接し、この変位量が所定の値になったら溶接電流を
停止して溶接を完了するため、溶接時間の過不足が発生
する懸念がなくなり、良好な溶接状態で溶接を終了する
ことができる。従って、溶接不良が発生する懸念が払拭
され、溶接品質を向上させることが可能となる。
【0062】さらにまた、被溶接物の厚さにばらつきが
ある場合であっても、その厚さに対する変位量を測定す
るため、被溶接物の厚さのばらつきに拘わらず良好な溶
接を施すことが可能である。
【0063】またさらに、加圧力伝達シャフトに磁気誘
導型変位センサの磁石を形成することにより、押圧機構
の製造コストを低廉化して該押圧機構を小型に形成する
ことができ、また、可動部が軽量化されるため、被溶接
物の厚さの変化に対する上部電極チップの追従性が向上
し、短い溶接時間であっても遅れなく変位量を測定する
ことが可能となり、従って、被溶接物に対して良好な溶
接を施すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る抵抗溶接装置
を示す概略ブロック図である。
【図2】図1の抵抗溶接装置の駆動ユニットを示す側面
図である。
【図3】図1の抵抗溶接装置の押圧機構を示す縦断面図
である。
【図4】本発明の第1の実施の形態に係る抵抗溶接方法
を示すフローチャートである。
【図5】本発明の第1の実施の形態に係る抵抗溶接方法
を示すフローチャートである。
【図6】本発明の第1の実施の形態に係る抵抗溶接方法
によって溶接される手順を示すタイミングチャートであ
る。
【図7】図1の抵抗溶接装置によって溶接される被溶接
物を示す一部拡大縦断面図であり、図7Aは、被溶接物
を上部電極チップと下部電極チップとで挟持した状態を
示し、図7Bは、被溶接物が溶接された状態を示す。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る抵抗溶接装置
の押圧機構を示す縦断面図である。
【図9】図8の押圧機構が被溶接物に溶接を施した状態
を示す部分拡大縦断面図である。
【図10】本発明の第3の実施の形態に係る抵抗溶接装
置の押圧機構を示す縦断面図である。
【図11】従来技術に係る抵抗溶接方法によって溶接さ
れた被溶接物を示す縦断面図であり、図11Aは、溶接
時間が不足した状態を示し、図11Bは、溶接時間が適
正な状態を示し、図11Cは、溶接時間が長い状態を示
す。
【符号の説明】
10、100、200…抵抗溶接装置 12、104a、104b、220…上部電極チップ 14、132…下部電極チップ 18…コントローラ 42、102、202…押圧機構 48、107、208…シールド 58、111a、111b、216…加圧力伝達シャフ
ト 80、114、238…磁気誘導型変位センサ 82、116、242…磁石 84、118、240…コイル 90、92…被溶接物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 甲山 喜代志 東京都三鷹市下連雀8丁目7番3号 株式 会社セイワ製作所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】抵抗溶接用の電極チップを被溶接物に押圧
    する工程と、 溶接前の被溶接物の厚さを測定する工程と、 前記厚さが許容範囲外であれば溶接を中止し、一方、前
    記厚さが許容範囲内であれば、溶接電流を被溶接物に通
    電して溶接を施す工程と、 を有することを特徴とする抵抗溶接方法。
  2. 【請求項2】抵抗溶接用の電極チップを被溶接物に押圧
    する工程と、 溶接前の被溶接物の厚さを測定する工程と、 溶接電流を被溶接物に通電して溶接を施す工程と、 溶接後の被溶接物の厚さを測定して被溶接物の厚さの変
    位量を求め、この変位量から溶接品質の良否判定を行う
    工程と、 を有することを特徴とする抵抗溶接方法。
  3. 【請求項3】請求項1または2記載の抵抗溶接方法にお
    いて、 被溶接物に溶接を施す工程では、被溶接物の厚さの変位
    量を測定するとともに、溶接電流を被溶接物に通電して
    溶接を施す工程と、 被溶接物の厚さの変位量が所定の値に達したとき、溶接
    電流の通電を停止する工程と、 を有することを特徴とする抵抗溶接方法。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3のいずれか1項に記載の抵
    抗溶接方法において、 溶接前の被溶接物の厚さを測定する工程では、 前記電極チップを被溶接物に押圧し、その状態を所定時
    間維持した後、溶接前の被溶接物の厚さを測定すること
    を特徴とする抵抗溶接方法。
  5. 【請求項5】抵抗溶接用の電極チップを被溶接物に押圧
    する押圧機構と、 前記電極チップが装着され、弾性部材を介して前記被溶
    接物に付勢される加圧力伝達シャフトと、 前記加圧力伝達シャフトの変位量を検出する変位センサ
    と、 前記電極チップの前記被溶接物に対する押圧時における
    前記変位センサからの出力から、前記被溶接物の厚さ
    と、溶接中の前記被溶接物の厚さの変位量とを求める検
    出手段と、 を備えることを特徴とする抵抗溶接装置。
  6. 【請求項6】請求項5記載の抵抗溶接装置において、 前記変位センサは磁気誘導型変位センサであることを特
    徴とする抵抗溶接装置。
  7. 【請求項7】請求項5または6記載の抵抗溶接装置にお
    いて、 前記磁気誘導型変位センサに用いられる磁石は前記加圧
    力伝達シャフトに形成されることを特徴とする抵抗溶接
    装置。
  8. 【請求項8】請求項5乃至7のいずれか1項に記載の抵
    抗溶接装置において、 前記磁気誘導型変位センサは鉄または鉄合金で形成され
    たシールドによって覆われることを特徴とする抵抗溶接
    装置。
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