JPH1187575A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH1187575A
JPH1187575A JP9246561A JP24656197A JPH1187575A JP H1187575 A JPH1187575 A JP H1187575A JP 9246561 A JP9246561 A JP 9246561A JP 24656197 A JP24656197 A JP 24656197A JP H1187575 A JPH1187575 A JP H1187575A
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JP
Japan
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cooling body
semiconductor device
ceramic substrate
metal film
fixed
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JP9246561A
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Atsushi Miyazawa
篤 宮澤
Akira Morozumi
両角  朗
Takeshi Iwaida
武 岩井田
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】放熱効率が高く、組立作業性が良く、電子装置
の小型化を可能とする半導体装置を提供すること。 【解決手段】セラミック基板2の回路配線パターンが形
成された金属膜2aの表面上に半導体チップ3をはんだ
20で固着し、半導体チップ3と回路配線パターン間を
ボンディングワイヤ5で接続する。またセラミック基板
2の金属膜2a上に外部導出端子4をはんだ20で固着
する。冷却体1の表面に凹部21を形成し、この凹部2
1の底面とセラミック基板2の裏面の金属膜2cとをは
んだ20で固着して、セラミック基板2と冷却体1とを
一体とする。さらに冷却体1の凹部21を封止樹脂部8
で閉蓋し、この樹脂封止部8で半導体チップ3の表面を
保護すると共に外部導出端子4を固定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、回路基板上に半
導体チップが実装され、樹脂封止されたモジュール構造
の半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のパワートランジスタモジュ
ールの要部構成断面図である。パワートランジスタモジ
ュールは、金属支持体30上にはんだ、接着剤などで固
着される金属膜をセラミックス板に貼り合わせたセラミ
ック基板2(CBC基板:Copper Bondin
g Ceramics基板など)と、この上にマウント
された半導体チップ3と、屈曲先端部がセラミック基板
2の表面に固着した金属膜2c(銅薄板)の回路配線パ
ターンにはんだ付けされた外部導出端子4と、複数の外
部導出端子4を相互固定する樹脂製の端子ブロック7
と、半導体チップ3と外部導出端子4の屈曲先端部が固
着した回路配線パターンとを接続するボンディングワイ
ヤ5と、金属支持体30と樹脂ケース6とを接着剤など
で固定し、その内部空間に充填されたゲル状樹脂9と、
樹脂ケース6を閉蓋する封止樹脂部8とを有している。
【0003】図3はパワートランジスタモジュールを冷
却体に固定した場合の要部構成図である。図2のパワー
トランジスタモジュールをAlやAlを主成分とした合
金材などで形成された冷却体10にネジ12で固定し、
電子機器に組み込まれる。このとき、パワートランジス
タモジュールの金属支持体30と冷却体10との各表面
には反りや小さな凹凸が少なからず存在している。この
ため、金属支持体30と冷却体10とを機械的に固定す
るだけでは、金属支持体30と冷却体10との接触面に
空隙が存在することになる。この空隙が存在すると熱伝
導が不均一となり良好な放熱が行われないため、従来よ
りこの空隙をなくするために、金属支持体30と冷却体
10との間にシリコーン系の放熱グリース11を介在さ
せてネジ12で固定するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記のように
パワートランジスタモジュールを放熱グリース11を介
して冷却体にネジ12で固定した場合つぎのような問題
がある。 (1)パワートランジスタなどの半導体チップ3の通電
動作に伴い多量の熱が発生し、この熱が金属支持体30
より放熱グリース11を介して冷却体に伝導し空間に放
熱されるが、放熱グリース11は金属支持体30および
冷却体10と比較して熱伝導率が2桁程小さいために、
半導体装置や冷却体10の熱抵抗を小さくしても、放熱
グリース11が熱伝導の妨げになり、半導体チップと冷
却体10間の熱抵抗が大きくなり、半導体装置を組み込
んだ電子機器全体の性能が低下するという問題があっ
た。 (2)半導体装置の金属支持体30をネジ12で固定す
る場合、冷却体10に存在する反りやうねりのために、
金属支持体30および金属支持体30に固着されたCB
C基板2、樹脂ケース6に曲げ応力が働く。この結果、
曲げ強度およびたわみ許容量の小さいセラミック基板や
樹脂ケースの場合、セラミック基板2にクラックまたは
割れが発生し、絶縁不良となったり、樹脂ケースに割れ
が発生し、ゲル状樹脂がもれ出したりする問題が発生す
る。 (3)それを防止するために、金属支持体30、冷却体
10の平坦度管理、セラミック基板2と樹脂ケース6の
強度管理およびネジ12のネジ締めトルク管理が必要と
なり、また組立工数が増大し、良品率の低下を招くとい
う問題があった。 (4)また半導体装置の金属支持体30を放熱グリース
11を介して冷却体10に固定する場合、放熱グリース
11はねばつくため、作業性が悪いという問題があっ
た。
【0005】この発明の目的は、前記の課題を解決し
て、放熱効率が高く、組立作業性が良く、電子装置の小
型化を可能とする半導体装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、両面に金属膜を有するセラミック基板と、半導体
チップおよび外部導出端子と該セラミック基板の一方の
面に固着され、該セラミック基板の他方の面と接合材を
介して固着される冷却体とからなる半導体装置におい
て、冷却体の表面に凹部が形成され、該凹部内にセラミ
ック基板の他方の面が接合材を介して固着され、さらに
該凹部が樹脂封止される構成とする。
【0007】このセラミック基板の他方の面と冷却体の
表面に形成された凹部とが接合材で固着され、該凹部が
樹脂封止される構成とするとよい。このセラミック基板
の一方の面の金属膜が回路配線パターンであるとよい。
前記の冷却体が、Al、CuおよびFeのいずれかの金
属あるいはAlを主成分とした合金材、Cuを主成分と
した合金材およびFeを主成分とした合金材のいずれか
で形成されるとよい。
【0008】前記の接合材が、SnおよびPbを主成分
とした「はんだ」などの合金材、Alを主成分とした合
金材、有機系耐熱性接着剤、および金属粒子を充填した
有機系耐熱性接着剤のいずれかであるとよい。この金属
粒子がAgなどであると効果的である。前記のように、
半導体チップが搭載されたセラミック基板(CBC基
板)と冷却体とが、はんだや有機系耐熱接着材により、
直接接合することで、機械的に固定するよりも大幅に熱
抵抗を低減できる。また冷却体に凹部を形成し、ケース
の外壁とし、この凹部にCBC基板を固着し、その後で
樹脂封止することで、冷却体と一体型のモジュール構造
とすることで、従来のモジュール構造より、組立工数を
低減できて、且つ、機械的強度も向上できる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一実施例の半導
体装置で、その要部構成断面図を示す。セラミック基板
2(CBC基板:Copper Bonding Ce
ramic基板など)は、セラッミック板2bなどの電
気的絶縁板の一方の面(表面)に回路配線パターンを金
属膜2a(0.3mm厚程度の銅薄板など)を貼付け、
他方の面(裏面)のほぼ全面に金属膜2c(0.3mm
厚程度の銅薄板など)を貼付けて形成される貼り合わせ
基板である。このセラミック基板2の回路配線パターン
が形成された金属膜2aの表面上にIGBT、ダイオー
ドなどの半導体チップ3をはんだ20で固着する。また
この半導体チップ3と回路配線パターン間をボンディン
グワイヤ5で接続し、さらにセラミック基板2の金属膜
2a上に外部導出端子4をはんだ20で固着する。また
冷却体1の表面に凹部21を形成し、この凹部21の底
面とセラミック基板2の裏面の金属膜2cとをはんだ2
0で固着する。その後で冷却体1の凹部21を封止樹脂
部8で閉蓋し、この樹脂封止部8で半導体チップ3の表
面を保護し、且つ外部導出端子4を固定する。この凹部
21は従来の樹脂ケース6に相当する。また、樹脂封止
する前に図2のようにゲル状樹脂9を充填し、その上を
樹脂封止部8で閉蓋しても勿論構わない。
【0010】このように、セラミック基板2と冷却体1
とを一体とすることで、放熱グリース11を不要とし、
熱抵抗を大幅に低減することができる。また、組立工数
の削減と電子装置の小型化を図ることができる。さら
に、冷却体1に凹部21を形成し、樹脂ケース6の代わ
りをさせることで、ケース割れが起こらず、機械的強度
が向上する。そのため、ゲル状樹脂を使用しても、それ
が外部に漏れることはない。
【0011】尚、冷却体1の凹部21の底面とセラミッ
ク基板2の裏面と固着する接合材は、SnおよびPbを
主成分とした合金材、所謂、はんだ20の他に、Alを
主成分とした合金材、有機系耐熱性接着剤(エポキシ系
接着剤など)、またはAgなどの金属粒子を充填した有
機系耐熱性接着剤などを使用してもよい。有機系耐熱性
接着材を用いる場合はセラミック基板2の裏面の金属膜
2cは無くともよい。また、冷却体1の材料としては、
熱抵抗が小さく、機械的加工がしやすい、Al、Cu、
Feなどの金属やさらに機械的強度が強いAlを主成分
とした合金材、Cuを主成分とした合金材またはFeを
主成分とした合金材などを使用するとよい。
【0012】
【発明の効果】この発明によれば、半導体チップが搭載
されたセラミック基板と凹部を有する冷却体を接合材に
より接続し、さらに冷却体の凹部を樹脂封止して形成す
ることで、放熱グリースを介して冷却体にネジなどで金
属支持体を固定する従来方法と比べて、熱抵抗を大幅に
低減でき、且つ、冷却体とセラミック基板とが接合材で
固着され、一体構造となっているので、機械的強度が向
上する。さらに、冷却体一体型の半導体装置となってい
るので、この半導体装置が組み込まれる電子装置の小型
化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例の半導体装置で、その要部
構成断面図
【図2】従来のパワートランジスタモジュールの要部構
成断面図
【図3】パワートランジスタモジュールを冷却体に固定
した場合の要部構成図
【符号の説明】
1 冷却体 2 セラミック基板 2a 金属膜(回路配線パターン側) 2b セラミックス板 2c 金属膜 3 半導体チップ 4 外部導出端子 5 ボンディングワイヤ 6 樹脂ケース 7 樹脂ブロック 8 樹脂封止部 9 ゲル状樹脂 10 冷却体 11 放熱グリース 12 ネジ 20 はんだ 21 凹部 30 金属支持体

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】両面に金属膜を有するセラミック基板と、
    半導体チップおよび外部導出端子と該セラミック基板の
    一方の面に固着され、該セラミック基板の他方の面と接
    合材を介して固着される冷却体とからなる半導体装置に
    おいて、冷却体の表面に凹部が形成され、該凹部内にセ
    ラミック基板の他方の面が接合材を介して固着され、さ
    らに該凹部が樹脂封止されることを特徴とする半導体装
    置。
  2. 【請求項2】セラミック基板の一方の面の金属膜が回路
    配線パターンであることを特徴とする請求項1記載の半
    導体装置。
  3. 【請求項3】冷却体が、Al、CuおよびFeのいずれ
    かの金属あるいはAlを主成分とした合金材、Cuを主
    成分とした合金材およびFeを主成分とした合金材のい
    ずれかで形成されることを特徴とする請求項1記載の半
    導体装置。
  4. 【請求項4】接合材が、SnおよびPbを主成分とした
    合金材、Alを主成分とした合金材、有機系耐熱性接着
    剤、および金属粒子を充填した有機系耐熱性接着剤のい
    ずれかであることを特徴とする請求項1記載の半導体装
    置。
JP9246561A 1997-09-11 1997-09-11 半導体装置 Pending JPH1187575A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100341142C (zh) * 2004-08-06 2007-10-03 美丽微半导体股份有限公司 双金属与陶瓷组成的功率半导体及其制造方法
CN100345290C (zh) * 2003-11-04 2007-10-24 株式会社丰田自动织机 半导体器件
JP2016181549A (ja) * 2015-03-23 2016-10-13 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付きパワーモジュール用基板
JP2020072095A (ja) * 2018-10-29 2020-05-07 京セラ株式会社 パワーユニット、パワーユニットの製造方法、パワーユニットを有する電気装置及びヒートシンク

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