JPH1174147A - Ceramic capacitor - Google Patents

Ceramic capacitor

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JPH1174147A
JPH1174147A JP10001884A JP188498A JPH1174147A JP H1174147 A JPH1174147 A JP H1174147A JP 10001884 A JP10001884 A JP 10001884A JP 188498 A JP188498 A JP 188498A JP H1174147 A JPH1174147 A JP H1174147A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To lessen a ceramic capacitor in thermal and mechanical stress by a method, wherein metal terminals which are each possessed of a turn-up part located at an intermediate point and a terminal which is located at the tip of the turn-up part and connected to the outside, and the one ends of the metal terminals are each connected to terminal electrodes provided in the opposing edge faces of the ceramic capacitor. SOLUTION: Metal terminals 2 and 3 are possessed of turn-up parts 22 and 32 at intermediate points respectively, and terminals 23 and 33 connected to the outside are provided in the tips of the turn-up parts 22 and 32. The ends 21 and 31 of the metal terminals 2 and 3 are connected to the terminal electrodes 11 and 12 of a ceramic capacitor device 1. At this point, a distance from the terminals 23 and 33 connected to an external conductor, such as a board or the like to the one ends 21 and 31 of the metal terminals 2 and 3 connected to the terminal electrodes 11 and 12 of the ceramic capacitor device 1, is expanded by the turn-up parts 22 and 32 provided to the intermediate points respectively. Furthermore, the turn-up parts 22 and 32 act as a spring respectively. As a result of this setup, the distortion and thermal expansion of a board are absorbed by the turn-up parts 22 and 32, so that thermal and mechanical stresses generated in the ceramic capacitor device 1 are reduced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、セラミックコンデ
ンサに関する。本発明は、主に、スイッチング電源用の
平滑用コンデンサとして用いるのに適した積層チップ型
のセラミックコンデンサに関する。
[0001] The present invention relates to a ceramic capacitor. The present invention relates mainly to a multilayer chip type ceramic capacitor suitable for use as a smoothing capacitor for a switching power supply.

【0002】[0002]

【従来の技術】これまで、スイッチング電源用の平滑用
コンデンサとしては、アルミ電解コンデンサが主流であ
った。しかしながら、小型化、信頼性向上等の市場要求
が強まり、これに対応すべく、小型で高信頼性のセラミ
ックコンデンサの要求が高まっている。
2. Description of the Related Art Heretofore, as a smoothing capacitor for a switching power supply, an aluminum electrolytic capacitor has been mainly used. However, market demands for miniaturization, improved reliability, and the like have increased, and in response to this, there has been an increasing demand for small, highly reliable ceramic capacitors.

【0003】一般に、電源周辺は高熱を発するため、基
板は放熱性の良いアルミニウム基板が用いられる。しか
しながら、電源周辺では、電源のオン/オフによる温度
変化が大きく、熱膨張率の大きなアルミニウム基板上に
実装したセラミックコンデンサには大きな熱応力が発生
する。この熱応力は、セラミックコンデンサにクラック
を発生させ、ショート不良や、発火等のトラブルを発生
させる原因となる。
In general, since heat is generated around the power supply, an aluminum substrate having good heat dissipation is used as the substrate. However, a temperature change around the power supply due to turning on / off of the power supply is large, and a large thermal stress is generated in the ceramic capacitor mounted on the aluminum substrate having a high coefficient of thermal expansion. This thermal stress causes cracks in the ceramic capacitor and causes problems such as short-circuit failure and ignition.

【0004】発火等のトラブルを無くするためには、セ
ラミックコンデンサに発生する熱応力を緩和することが
重要である。熱応力を緩和する手段として、実公平5-46
258号公報、特開平4-171911号公報および特開平4-25920
5号公報等は、セラミックコンデンサの端子電極に金属
板をはんだ付けし、金属板をアルミニウム基板上に実装
することにより、セラミックコンデンサがアルミニウム
基板に直接はんだ付されるのを防ぐ構造を開示してい
る。
In order to eliminate troubles such as ignition, it is important to reduce thermal stress generated in a ceramic capacitor. As a means to reduce thermal stress,
No. 258, JP-A-4-171911 and JP-A-4-25920
No. 5 discloses a structure that prevents a ceramic capacitor from being directly soldered to an aluminum substrate by soldering a metal plate to a terminal electrode of the ceramic capacitor and mounting the metal plate on an aluminum substrate. I have.

【0005】通常、アルミニウム基板の膨張、収縮によ
る熱応力を充分に吸収するためには、アルミニウム基板
にはんだ付される端子部から、セラミックコンデンサと
の接続部分に至る金属板の脚部分を、できるだけ長くす
る必要がある。しかしながら、従来品では、金属板の脚
を長くすると、必然的にセラミックコンデンサの高さが
高くなる構造であるため、金属板の脚の長さを、基板に
おいて許容される許容高さ内の寸法となるように制限す
る必要がある。
Usually, in order to sufficiently absorb the thermal stress caused by expansion and contraction of the aluminum substrate, the leg portion of the metal plate from the terminal portion soldered to the aluminum substrate to the connection portion with the ceramic capacitor should be as small as possible. It needs to be longer. However, in the conventional product, when the length of the metal plate is lengthened, the height of the ceramic capacitor is inevitably increased. Therefore, the length of the metal plate leg is set to a size within the allowable height of the substrate. Need to be restricted to

【0006】このため、従来品では、金属板の脚の長さ
を大きくすることができず、電源周辺のような温度変化
の激しい環境下(−55〜125℃)で長期間使用し続
けると、セラミックコンデンサの端部付近にクラックが
発生し、発火する危険性が高く、信頼性に関する重大な
問題があるため十分普及するに至っていない。
For this reason, in the conventional product, the length of the legs of the metal plate cannot be increased, and if the product is used for a long time in an environment (-55 to 125.degree. In addition, cracks are generated near the ends of the ceramic capacitor, and there is a high risk of fire. There is a serious problem with respect to reliability.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、セラ
ミックコンデンサ素子にクラック、破損等が発生するの
を確実に阻止できるセラミックコンデンサを提供するこ
とである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a ceramic capacitor which can surely prevent cracks, breakage and the like from occurring in a ceramic capacitor element.

【0008】本発明のもう一つの課題は、セラミックコ
ンデンサ素子における熱応力および機械的応力を低減で
きるセラミックコンデンサを提供することである。
Another object of the present invention is to provide a ceramic capacitor capable of reducing thermal stress and mechanical stress in a ceramic capacitor element.

【0009】本発明のもう一つの課題は、金属端子につ
いて、高さを増大させずに、基板側端子部からセラミッ
クコンデンサ素子取り付け部までの長さを増大させたセ
ラミックコンデンサを提供することである。
Another object of the present invention is to provide a ceramic capacitor in which the length of a metal terminal from a substrate side terminal portion to a ceramic capacitor element mounting portion is increased without increasing the height. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、本発明に係るセラミックコンデンサは、少なくと
も1つのセラミックコンデンサ素子と、少なくとも一対
の金属端子とを含む。前記セラミックコンデンサ素子
は、相対する両側端面に端子電極を有する。
To solve the above-mentioned problems, a ceramic capacitor according to the present invention includes at least one ceramic capacitor element and at least one pair of metal terminals. The ceramic capacitor element has terminal electrodes on opposite side end faces.

【0011】前記金属端子のそれぞれは、一端が前記端
子電極の一つに接続され、中間部に折り返し部を有し、
折り返し部の先に外部と接続される端子部を有する。
Each of the metal terminals has one end connected to one of the terminal electrodes, and has a folded portion at an intermediate portion.
A terminal portion connected to the outside is provided at the end of the folded portion.

【0012】本発明に係るセラミックコンデンサにおい
て、少なくとも一対備えられる金属端子のそれぞれは、
一端が、コンデンサ素子の端子電極の一つに接続され、
中間部に折り返し部を有し、折り返し部の先に外部と接
続される端子部を有する。かかる構造の金属端子は、中
間部に設けられた折り返し部により、基板等の外部導体
と接続される端子部からセラミックコンデンサ素子の端
子電極に接続された一端までの長さが、中間部に設けら
れた折り返し部により拡大される。しかも、折り返し部
が一種のスプリング作用を奏する。このため、基板の撓
みおよび熱膨張を、確実に吸収し、セラミックコンデン
サ素子に生じる機械的応力および熱応力を低減し、セラ
ミックコンデンサ素子にクラックが発生するのを阻止す
ることができる。従って、アルミニウム基板に実装され
ることの多いスイッチング電源用平滑コンデンサとして
用いた場合でも、クラックの発生、それに起因する発火
の危険を回避することができる。
[0012] In the ceramic capacitor according to the present invention, each of at least one pair of metal terminals includes:
One end is connected to one of the terminal electrodes of the capacitor element,
A folded portion is provided at the intermediate portion, and a terminal portion connected to the outside is provided at the end of the folded portion. In the metal terminal having such a structure, the length from the terminal portion connected to the external conductor such as the substrate to one end connected to the terminal electrode of the ceramic capacitor element is provided in the intermediate portion by the folded portion provided in the intermediate portion. It is enlarged by the turned back part. In addition, the folded portion has a kind of spring action. Therefore, it is possible to reliably absorb the deflection and thermal expansion of the substrate, reduce the mechanical stress and the thermal stress generated in the ceramic capacitor element, and prevent the ceramic capacitor element from cracking. Therefore, even when used as a smoothing capacitor for a switching power supply, which is often mounted on an aluminum substrate, it is possible to avoid the occurrence of cracks and the danger of ignition caused by the cracks.

【0013】また、基板の撓みおよび熱膨張を、金属端
子に設けた折り返し部によって吸収し、セラミックコン
デンサ素子に機械的応力および熱応力を生じさせないよ
うにするものであり、折り返しによって、高さ増大を回
避することができる。このため、金属端子について、高
さを増大させずに、基板側端子部からセラミックコンデ
ンサ素子取り付け部までの長さを増大させ、基板の撓み
および熱膨張に対する吸収作用を改善し、セラミックコ
ンデンサ素子に発生する機械的応力、及び、熱応力を低
減することができる。
Further, the bending and thermal expansion of the substrate are absorbed by the folded portion provided on the metal terminal so as to prevent mechanical stress and thermal stress from being generated in the ceramic capacitor element. Can be avoided. For this reason, for the metal terminals, the length from the substrate side terminal portion to the ceramic capacitor element mounting portion is increased without increasing the height, the absorbing effect on the bending and thermal expansion of the substrate is improved, and the ceramic capacitor element is used. The generated mechanical stress and thermal stress can be reduced.

【0014】本発明の他の目的、構成及び利点について
は、添付図面を参照し、更に具体的に説明する。添付図
面は単に例を示すに過ぎない。
Other objects, configurations and advantages of the present invention will be more specifically described with reference to the accompanying drawings. The accompanying drawings merely show examples.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図1は本発明に係るセラミックコ
ンデンサの正面図、図2は図1に示したセラミックコン
デンサの正面断面図である。図示されたセラミックコン
デンサは、1つのセラミックコンデンサ素子1と、一対
の金属端子2、3とを含む。セラミックコンデンサ素子
1は、長さLの方向において相対する両側端面に端子電
極11、12を有する。
FIG. 1 is a front view of a ceramic capacitor according to the present invention, and FIG. 2 is a front sectional view of the ceramic capacitor shown in FIG. The illustrated ceramic capacitor includes one ceramic capacitor element 1 and a pair of metal terminals 2 and 3. The ceramic capacitor element 1 has terminal electrodes 11 and 12 on both end surfaces facing each other in the direction of the length L.

【0016】図2を参照すると、セラミックコンデンサ
素子1は、セラミック誘電体基体100の内部に多数
(例えば100層)の内部電極101、102を有す
る。内部電極101は一端が端子電極11に接続され、
他端が開放端になっており、内部電極102は一端が端
子電極12に接続され、他端が開放端になっている。端
子電極11、12、内部電極101、102およびセラ
ミック誘電体基体100の構成材料およびその製造方法
等は周知である。
Referring to FIG. 2, the ceramic capacitor element 1 has a large number (for example, 100 layers) of internal electrodes 101 and 102 inside a ceramic dielectric substrate 100. One end of the internal electrode 101 is connected to the terminal electrode 11,
The other end is an open end, one end of the internal electrode 102 is connected to the terminal electrode 12, and the other end is an open end. The constituent materials of the terminal electrodes 11 and 12, the internal electrodes 101 and 102, and the ceramic dielectric substrate 100, the manufacturing method thereof, and the like are well known.

【0017】好ましくは、内部電極101は、その開放
端と端子電極12との間に、間隔△L1が生じるように
形成する。内部電極102は、その開放端と端子電極1
1との間に、間隔△L2が生じるように形成する。間隔
△L1および△L2は、開放端と端子電極11、12と
の間の最短距離で与えられる。具体的には、間隔△L1
は、端子電極12の内、セラミック誘電体基体100の
表面および裏面に付着されている垂れ部分121の先端
からセラミック誘電体基体100の厚み方向に引かれた
線分S11と、開放端の先端からセラミック誘電体基体
100の厚み方向に引かれた線分S12との間の間隔と
して与えられる。間隔△L2は、端子電極11の内、セ
ラミック誘電体基体100の表面および裏面に付着され
ている垂れ部分111の先端からセラミック誘電体基体
100の厚み方向に引かれた線分S21と、開放端の先
端からセラミック誘電体基体100の厚み方向に引かれ
た線分S22との間の間隔として与えられる。
Preferably, the internal electrode 101 is formed such that a gap ΔL 1 is generated between the open end thereof and the terminal electrode 12. The internal electrode 102 has an open end and a terminal electrode 1.
1 so that an interval ΔL2 is generated. The intervals ΔL1 and ΔL2 are given by the shortest distance between the open ends and the terminal electrodes 11 and 12. Specifically, the interval △ L1
The line segment S11 drawn in the thickness direction of the ceramic dielectric substrate 100 from the tip of the hanging portion 121 attached to the front and back surfaces of the ceramic dielectric substrate 100 in the terminal electrode 12, and the line segment S11 It is given as an interval between the ceramic dielectric substrate 100 and a line segment S12 drawn in the thickness direction. The interval ΔL2 is a line segment S21 drawn in the thickness direction of the ceramic dielectric substrate 100 from the tip of the hanging portion 111 attached to the front and back surfaces of the ceramic dielectric substrate 100, among the terminal electrodes 11, and the open end. From the tip of the ceramic dielectric substrate 100 in the thickness direction of the ceramic dielectric substrate 100.

【0018】図2において、セラミックコンデンサ素子
1は、内部電極101、102の電極面が水平面と平行
となる横配置となっているが、図2の位置からセラミッ
クコンデンサ素子1を約90度回転させて、内部電極1
01、102の電極面が水平面に対して垂直となる縦配
置としてもよい。
In FIG. 2, the ceramic capacitor element 1 has a horizontal arrangement in which the electrode surfaces of the internal electrodes 101 and 102 are parallel to the horizontal plane. The ceramic capacitor element 1 is rotated by about 90 degrees from the position shown in FIG. And internal electrode 1
The vertical arrangement may be such that the electrode surfaces of 01 and 102 are perpendicular to the horizontal plane.

【0019】金属端子2は、一端21が端子電極11に
接続され、中間部に折り返し部22を有し、折り返し部
22の先に、外部と接続される端子部23を有する。金
属端子3も、一端31が端子電極12に接続され、中間
部に折り返し部32を有し、折り返し部32の先に外部
と接続される端子部33を有する。金属端子2、3は電
気抵抗が低く、しかもバネ性に優れた材料によって構成
する。代表例としては燐青銅の板材がある。板厚は、限
定するものではないが、代表的には0.1mm程度であ
る。
The metal terminal 2 has one end 21 connected to the terminal electrode 11, a folded portion 22 at an intermediate portion, and a terminal portion 23 connected to the outside beyond the folded portion 22. The metal terminal 3 also has one end 31 connected to the terminal electrode 12, a folded portion 32 at an intermediate portion, and a terminal portion 33 connected to the outside beyond the folded portion 32. The metal terminals 2 and 3 are made of a material having low electric resistance and excellent spring properties. A representative example is a phosphor bronze plate material. The thickness is not limited, but is typically about 0.1 mm.

【0020】金属端子2、3の一端21、31は、接合
材4、5によって端子電極11、12に接続されてい
る。
One ends 21 and 31 of the metal terminals 2 and 3 are connected to terminal electrodes 11 and 12 by bonding materials 4 and 5.

【0021】図3は図1及び図2に示したセラミックコ
ンデンサを回路基板上に実装した時の状態を示す部分断
面図である。セラミックコンデンサは、回路基板70の
上に搭載されている。回路基板70の表面にには導体パ
ターン71、72が設けられている。セラミックコンデ
ンサに備えられた金属端子2の端子部23がはんだ81
によって導体パターン71にはんだ付けされ、金属端子
3の端子部33がはんだ82によって導体パターン72
にはんだ付けされされている。
FIG. 3 is a partial sectional view showing a state when the ceramic capacitor shown in FIGS. 1 and 2 is mounted on a circuit board. The ceramic capacitor is mounted on the circuit board 70. Conductive patterns 71 and 72 are provided on the surface of the circuit board 70. The terminal portion 23 of the metal terminal 2 provided on the ceramic capacitor is
The terminal portion 33 of the metal terminal 3 is soldered to the conductor pattern 71 by solder 82.
Soldered to.

【0022】ここで、本発明に係るセラミックコンデン
サにおいて、少なくとも一対備えられる金属端子2、3
のそれぞれは、一端21、31が、セラミックコンデン
サ素子1の端子電極11、12に接続され、中間部に折
り返し部22、32を有し、折り返し部22、32の先
に外部と接続される端子部23、33を有する。かかる
構造の金属端子2、3は、中間部に設けられた折り返し
部22、32により、基板等の外部導体と接続される端
子部からセラミックコンデンサ素子1の端子電極11、
12に接続された一端までの長さ(高さ)が、中間部に
設けられた折り返し部22、32により拡大される。
Here, in the ceramic capacitor according to the present invention, at least one pair of metal terminals 2, 3
Are connected to the terminal electrodes 11 and 12 of the ceramic capacitor element 1 at one ends 21, 31 and have folded portions 22 and 32 at an intermediate portion, and a terminal connected to the outside beyond the folded portions 22 and 32. Parts 23 and 33 are provided. The metal terminals 2 and 3 having such a structure are connected to the terminal electrodes 11 of the ceramic capacitor element 1 from the terminal portions connected to the external conductor such as the substrate by the folded portions 22 and 32 provided at the intermediate portion.
The length (height) to one end connected to 12 is enlarged by the folded portions 22 and 32 provided at the intermediate portion.

【0023】例えば、端子部23、33を基準として、
接合材4、5による金属端子2、3の接続位置までの高
さは、折り返し部22、32を持たない従来の場合、部
品高さHとなるが、本発明においては、折り返し部2
2、32の頂部までの経路長hとなり、高さ寸法が大幅
に大きくなる。経路長hは、折り返し部22、32の頂
部の位置を調整することにより、全長Lのセラミックコ
ンデンサに許容される部品高さHよりも、低く抑えるこ
とができる。
For example, with reference to the terminal portions 23 and 33,
The height to the connection position of the metal terminals 2 and 3 by the joining materials 4 and 5 is the component height H in the conventional case without the folded portions 22 and 32, but in the present invention, the folded portion 2 is
The path length h to the top of 2, 32 becomes the length, and the height dimension is greatly increased. By adjusting the positions of the tops of the folded portions 22 and 32, the path length h can be suppressed to be lower than the component height H allowed for the ceramic capacitor having the entire length L.

【0024】しかも、折り返し部22、32が一種のス
プリング作用を奏する。このため、回路基板70の撓み
および熱膨張を、折り返し部22、32のスプリング作
用によって吸収し、セラミックコンデンサ素子1に発生
する機械的応力、及び、熱応力を低減することができ
る。折り返し部22、32の構造、形状の選択により、
回路基板70に取り付けられる端子部23、33からセ
ラミックコンデンサ素子1の端子電極11、12との取
り付け部までの距離を、従来の2〜5倍も長くして、セ
ラミックコンデンサ素子1にクラックが発生するのを阻
止することができる。このため、アルミニウム回路基板
70に実装されることの多いスイッチング電源用平滑コ
ンデンサとして用いた場合でも、クラックの発生、それ
に起因する発火の危険を回避することができる。
Moreover, the folded portions 22, 32 have a kind of spring action. Therefore, the bending and thermal expansion of the circuit board 70 are absorbed by the spring action of the folded portions 22 and 32, and the mechanical stress and the thermal stress generated in the ceramic capacitor element 1 can be reduced. By selecting the structure and shape of the folded portions 22 and 32,
The distance between the terminal portions 23 and 33 attached to the circuit board 70 and the attachment portions to the terminal electrodes 11 and 12 of the ceramic capacitor element 1 is set to be two to five times longer than in the past, and cracks occur in the ceramic capacitor element 1. Can be prevented. For this reason, even when used as a smoothing capacitor for a switching power supply, which is often mounted on the aluminum circuit board 70, it is possible to avoid the occurrence of cracks and the danger of fire resulting from the cracks.

【0025】また、回路基板70の撓みおよび熱膨張
を、金属端子2、3に設けた折り返し部22、32によ
って吸収するものであり、折り返し部22、32によっ
て、高さ増大を回避することができる。実施例の場合、
スプリング作用を奏する経路長hは、折り返し部22、
32の頂部の位置を調整することにより、全長Lの当該
セラミックコンデンサの部品高さHよりも、低く抑える
ことができる。このため、金属端子2、3について、部
品高さHを増大させずに、回路基板70側端子部23、
33からセラミックコンデンサ素子取り付け部までの経
路長hを増大させ、金属端子2、3による回路基板70
の撓みおよび熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコ
ンデンサ素子1に発生する機械的応力、及び、熱応力を
低減することができる。
The bending and thermal expansion of the circuit board 70 are absorbed by the folded portions 22 and 32 provided on the metal terminals 2 and 3, and the folded portions 22 and 32 prevent the height from being increased. it can. In the case of the embodiment,
The path length h that exerts the spring action is determined by the folded portion 22,
By adjusting the position of the top of the ceramic capacitor 32, it is possible to keep the overall length L lower than the component height H of the ceramic capacitor. For this reason, with respect to the metal terminals 2 and 3, without increasing the component height H, the terminal portion 23 on the circuit board 70 side
33, the path length h from the mounting portion of the ceramic capacitor element is increased.
Of the ceramic capacitor element 1 can be reduced, and the mechanical stress and the thermal stress generated in the ceramic capacitor element 1 can be reduced.

【0026】折り返し部22、33は、頂部がセラミッ
クコンデンサ素子1の頂部よりも低い位置にある。即
ち、h<Hである。このような構造であると、部品高さ
Hを低く抑えることができる。
The folded portions 22 and 33 are located at positions where the tops are lower than the tops of the ceramic capacitor element 1. That is, h <H. With such a structure, the component height H can be kept low.

【0027】金属端子2、3および端子電極11、12
を接合する接合材4、5としては、樹脂含有する導電性
接着剤またははんだを用いることができる。金属端子
2、3および端子電極11、12を、樹脂を含有する導
電性接着剤でなる接合材4、5によって接続する接続構
造によれば、熱衝撃をほとんど与えないため、使用前に
セラミックコンデンサ素子1に、クラックが入っている
危険が無い。このため、信頼性が高くなる。
Metal terminals 2 and 3 and terminal electrodes 11 and 12
As the joining materials 4 and 5 for joining the conductive materials, a resin-containing conductive adhesive or solder can be used. According to the connection structure in which the metal terminals 2 and 3 and the terminal electrodes 11 and 12 are connected by the bonding members 4 and 5 made of a conductive adhesive containing a resin, since almost no thermal shock is applied, the ceramic capacitor before use is used. There is no danger that the element 1 has a crack. Therefore, the reliability is improved.

【0028】導電性接着剤は、導電成分として、銀粒子
を含むことが望ましい。銀粒子であると、導電性を向上
させることができる。特に、粒径3μm以上の扁平状の
銀粒子が好ましい。かかる粒径及び形状の銀粒子である
と、樹脂に対する銀粒子の充填量を高め、良好な導電性
を確保することができる。但し、銀粒子の粒径が大きく
なり過ぎると樹脂に対する分散性が悪くなり、接着強度
が低下するので、接着強度を考慮して、用いるべき銀粒
子の最大粒径を定める必要がある。
The conductive adhesive desirably contains silver particles as a conductive component. When the particles are silver particles, the conductivity can be improved. In particular, flat silver particles having a particle diameter of 3 μm or more are preferable. With silver particles having such a particle size and shape, the filling amount of silver particles in the resin can be increased, and good conductivity can be secured. However, if the particle size of the silver particles is too large, the dispersibility in the resin becomes worse and the adhesive strength is reduced. Therefore, it is necessary to determine the maximum particle size of the silver particles to be used in consideration of the adhesive strength.

【0029】本発明に係るセラミックコンデンサは、−
55〜125℃の広範囲の温度領域で使用されるもので
あるため、導電性接着剤を構成する樹脂としては、この
ような温度範囲に対して安定な耐温度特性を有する熱硬
化性樹脂が適している。具体的には、エポキシ樹脂系、
ウレタン樹脂系、ポリイミド樹脂系またはアクリル樹脂
系熱硬化性樹脂をあげることができる。
The ceramic capacitor according to the present invention comprises:
Since it is used in a wide temperature range of 55 to 125 ° C., a thermosetting resin having stable temperature resistance characteristics in such a temperature range is suitable as a resin constituting the conductive adhesive. ing. Specifically, epoxy resin type,
Examples include urethane resin-based, polyimide resin-based, or acrylic resin-based thermosetting resins.

【0030】金属端子2、3および端子電極11、12
を接続する接合材4、5としては、上述した導電性接着
材の他、はんだを用いることもできる。融点200℃以
上400℃以下のはんだが特に適している。
Metal terminals 2 and 3 and terminal electrodes 11 and 12
May be used as the bonding materials 4 and 5 for connecting the above, in addition to the conductive adhesive described above. A solder having a melting point of 200 ° C. or more and 400 ° C. or less is particularly suitable.

【0031】図3に示したように、当該セラミックコン
デンサを回路基板70にはんだ付けする際、200℃前
後の温度ではんだ付け処理が行なわれる。このはんだ付
処理において、金属端子2、3及び端子電極11、12
を接続している接合材4、5が溶融してはならない。従
って、接合材4、5として、250℃以上の融点を有す
るはんだを用いることが必要である。
As shown in FIG. 3, when the ceramic capacitor is soldered to the circuit board 70, a soldering process is performed at a temperature of about 200.degree. In this soldering process, the metal terminals 2, 3 and the terminal electrodes 11, 12
The joining materials 4, 5 connecting the two must not melt. Therefore, it is necessary to use solder having a melting point of 250 ° C. or more as the bonding materials 4 and 5.

【0032】但し、接合材4、5として、400℃以上
の融点を有するはんだを用いた場合、金属端子2、3を
端子電極11、12にはんだ付けする際、セラミックコ
ンデンサ素子1に400℃以上の熱が加わり、セラミッ
クコンデンサ素子1にサーマルクラックが入る。従っ
て、400℃以下の融点を有するはんだを用いる。
However, when solder having a melting point of 400 ° C. or more is used as the joining materials 4 and 5, when the metal terminals 2 and 3 are soldered to the terminal electrodes 11 and 12, the ceramic capacitor element 1 is heated to 400 ° C. or more. Is applied, and a thermal crack occurs in the ceramic capacitor element 1. Therefore, a solder having a melting point of 400 ° C. or less is used.

【0033】接合材4、5として、はんだを用いた場
合、金属端子2、3は、少なくとも端子部23、33の
外部接続面とは反対側の面に、はんだに対して非付着性
を示す被覆膜を有することが好ましい。この点につい
て、図4を参照して説明する。
When solder is used as the joining materials 4 and 5, the metal terminals 2 and 3 have non-adhesiveness to the solder at least on the surface opposite to the external connection surfaces of the terminal portions 23 and 33. It is preferable to have a coating film. This will be described with reference to FIG.

【0034】図4に示された実施例では、基体200を
燐青銅または鉄ーニッケル合金等でなる板材で構成する
と共に、外部に対してはんだ接続される外部接続面側
(外側とする)は、はんだ付性の良好な金属膜201を
し、反対側の内側ははんだが付着しないか、または、付
着しにくい被覆膜202を付着させてある。このような
金属端子2、3を用いると、図3にも図示されているよ
うに、端子部23、33の表面にはんだが付着しないの
で、端子部23、33と端子部23、33との間が、は
んだによって満たされることがない。このため、金属端
子2、3のスプリング性が損なわれることがない。
In the embodiment shown in FIG. 4, the base 200 is made of a plate made of phosphor bronze or an iron-nickel alloy or the like, and the external connection surface side (outside) to be soldered to the outside is: A metal film 201 having good solderability is provided, and a coating film 202 to which no solder adheres or which is difficult to adhere is adhered to the inside on the opposite side. When such metal terminals 2 and 3 are used, solder does not adhere to the surfaces of the terminal portions 23 and 33 as shown in FIG. The space is not filled with solder. Therefore, the spring properties of the metal terminals 2 and 3 are not impaired.

【0035】はんだが付着しないか、または、付着しに
くい被覆膜202は、金属端子2、3の全長にわたって
付着させてもよいし、端子部23、33を含んで部分的
に付着させてもよい。被覆膜202は金属酸化膜または
ワックス、樹脂もしくはシリコンオイルから選択された
一種で構成され得る。金属酸化膜を形成する手段として
は、基体200の表面に酸化し易い金属膜、例えばNi
またはCu等をメッキによって付着させ、自然放置等に
よって酸化させる手法を採用できる。金属膜201は、
SnまたはPb−Snのメッキ膜として構成することが
できる。
The coating film 202 to which the solder does not adhere or hardly adheres may be applied over the entire length of the metal terminals 2 and 3 or may be applied partially including the terminal portions 23 and 33. Good. The coating film 202 may be formed of a metal oxide film or one selected from wax, resin, or silicone oil. As a means for forming the metal oxide film, a metal film which is easily oxidized on the surface of the base 200, for example, Ni
Alternatively, a method in which Cu or the like is adhered by plating and oxidized by natural leaving or the like can be adopted. The metal film 201
It can be configured as a plating film of Sn or Pb-Sn.

【0036】再び、図1及び図2を参照して説明する。
端子部23、33はセラミックコンデンサ素子1の下側
に間隔をおいて配置されている。このような構造である
と、端子部23、33による基板占有面積の増大を抑
え、実装面積を最小にしたコンデンサを得ることができ
る。
The description will be continued with reference to FIGS. 1 and 2 again.
The terminal portions 23 and 33 are arranged at intervals below the ceramic capacitor element 1. With such a structure, an increase in the area occupied by the substrate due to the terminal portions 23 and 33 can be suppressed, and a capacitor with a minimum mounting area can be obtained.

【0037】図1および図2に示したセラミックコンデ
ンサにおいて、金属端子2の折り返し部22は、第1の
曲げ部221と、第2の曲げ部222とを含んでいる。
第1の曲げ部221では、端子電極11から遠ざかる方
向に折り曲げられ、第2の曲げ部222では、第1の曲
げ部221から間隔を隔て、端面と平行する方向に折り
曲げられている。金属端子2は、先端部から第1の曲げ
部221に至る部分が、端子電極11に接続されてい
る。
In the ceramic capacitor shown in FIGS. 1 and 2, the folded portion 22 of the metal terminal 2 includes a first bent portion 221 and a second bent portion 222.
The first bent portion 221 is bent in a direction away from the terminal electrode 11, and the second bent portion 222 is bent at a distance from the first bent portion 221 in a direction parallel to the end face. The portion of the metal terminal 2 from the tip to the first bent portion 221 is connected to the terminal electrode 11.

【0038】同様に、金属端子3の折り返し部32は、
第1の曲げ部321と、第2の曲げ部322とを含んで
いる。第1の曲げ部321では、端子電極12から遠ざ
かる方向に折り曲げられ、第2の曲げ部322では、第
1の曲げ部321から間隔を隔て、端面と平行する方向
に折り曲げられている。金属端子3は、先端部から第1
の曲げ部321に至る部分が、端子電極12に接続され
ている。
Similarly, the folded portion 32 of the metal terminal 3 is
It includes a first bent portion 321 and a second bent portion 322. The first bent portion 321 is bent in a direction away from the terminal electrode 12, and the second bent portion 322 is bent at a distance from the first bent portion 321 in a direction parallel to the end face. The metal terminal 3 is first
The portion reaching the bent portion 321 is connected to the terminal electrode 12.

【0039】上記構造によれば、第1の曲げ部221、
321、第2の曲げ部222、322から端子部23、
33に至る部分が、スプリング作用を持つようになり、
そのスプリング作用によって、基板の撓みおよび熱膨張
を吸収することができる。
According to the above structure, the first bent portion 221,
321, the second bent portions 222 and 322 to the terminal portion 23,
The part that reaches 33 has a spring action,
The spring action can absorb the deflection and thermal expansion of the substrate.

【0040】金属端子2は、第3の曲げ部223を有す
る。第3の曲げ部223は折り返し部22と端子部23
とを区画する。また、金属端子3は、第3の曲げ部32
3を有する。第3の曲げ部323は折り返し部32と端
子部33とを区画する。従って、第1の曲げ部221、
321から第3の曲げ部223、323に至る部分が、
スプリング作用を持つようになり、そのスプリング作用
によって、基板の撓みおよび熱膨張を吸収することがで
きる。
The metal terminal 2 has a third bent portion 223. The third bent portion 223 includes the folded portion 22 and the terminal portion 23.
And partition. In addition, the metal terminal 3 has a third bent portion 32.
3 The third bent part 323 partitions the folded part 32 and the terminal part 33. Therefore, the first bent portion 221,
The portion from 321 to the third bent portions 223 and 323 is
It comes to have a spring action, and the deflection and thermal expansion of the substrate can be absorbed by the spring action.

【0041】金属端子2、3のそれぞれは、第3の曲げ
部223、323において、端子部23、33がセラミ
ックコンデンサ素子1に近付づく方向に折り曲げられて
いる。金属端子2、3の端子部23、33は、セラミッ
クコンデンサ素子1の下側に間隔G01、G02をおい
て配置されており、これにより、端子部23、33によ
る基板占有面積の増大を抑え、実装面積を最小にしてあ
る。
The metal terminals 2 and 3 are bent at the third bent portions 223 and 323 in a direction in which the terminal portions 23 and 33 approach the ceramic capacitor element 1. The terminal portions 23 and 33 of the metal terminals 2 and 3 are arranged at intervals G01 and G02 below the ceramic capacitor element 1, thereby suppressing an increase in the area occupied by the substrate due to the terminal portions 23 and 33. The mounting area is minimized.

【0042】更に、内部電極101の開放端と端子電極
12との間に、間隔△L1が生じさせ、内部電極102
の開放端と端子電極11との間に、間隔△L2が生じさ
せている構造の場合、クラックや、破壊等を生じ易い金
属端子と導電性接着剤との界面、および、導電性接着剤
の塗布領域付近に、内部電極101と内部電極102の
重なりが存在しない。このため、クラックによるショー
ト、および、それに起因する発火等を生じる危険性が激
減する。
Further, a gap ΔL1 is generated between the open end of the internal electrode 101 and the terminal electrode 12, and the internal electrode 102
In the case of the structure in which the gap ΔL2 is generated between the open end of the metal terminal and the terminal electrode 11, the interface between the metal terminal and the conductive adhesive, which is liable to crack, break, etc., and the conductive adhesive There is no overlap between the internal electrodes 101 and 102 near the application area. For this reason, the risk of a short circuit due to a crack and the occurrence of ignition or the like due to the short circuit is drastically reduced.

【0043】図1および図2において、第1の曲げ部2
21、321および第2の曲げ部222、322は、ほ
ぼ90度の角度で曲げられているが、90度以外の角度
であってもよい。更に、第1の曲げ部221、321お
よび第2の曲げ部222、322において、明確な角度
を持たない形状、例えば、円弧状に曲げてもよい。
In FIGS. 1 and 2, the first bent portion 2
The first and second bent portions 222 and 322 are bent at substantially 90 degrees, but may be formed at angles other than 90 degrees. Further, the first bent portions 221 and 321 and the second bent portions 222 and 322 may be bent into a shape having no definite angle, for example, an arc shape.

【0044】図5は本発明に係るセラミックコンデンサ
の別の実施例を示す正面図である。図において、図1お
よび図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。この実施例では、樹脂を含有する
接合材4、5は、端子電極11、12に部分的に付着さ
れている。このような構造であると、スプリング作用を
生じる経路長hは、端子部23、33から第2の曲げ部
222、322までの経路長h1と、第1の曲げ部22
1、321から取り付け部までの経路長h2を加算した
値(h=h1+h2)となる。この経路長hは、部品高
さHの寸法よりも大きくなる。従って、金属端子2、3
について、部品高さHを増大させずに、基板側端子部2
3、33からセラミックコンデンサ素子取り付け部まで
の経路長hを増大させ、基板の撓みおよび熱膨張に対す
る吸収作用を改善できる。
FIG. 5 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the drawings, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In this embodiment, the joining materials 4 and 5 containing a resin are partially attached to the terminal electrodes 11 and 12. With such a structure, the path length h causing the spring action is determined by the path length h1 from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322 and the first bent portion 22.
A value (h = h1 + h2) obtained by adding the path length h2 from 1, 321 to the attachment portion. This path length h is larger than the dimension of the component height H. Therefore, the metal terminals 2, 3
For the board-side terminal portion 2 without increasing the component height H.
The path length h from 3, 33 to the ceramic capacitor element mounting portion can be increased, and the effect of absorbing substrate flexure and thermal expansion can be improved.

【0045】図6は本発明に係るセラミックコンデンサ
の別の実施例を示す正面図である。図において、図1お
よび図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。
FIG. 6 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the drawings, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.

【0046】金属端子2は、先端部から第1の曲げ部2
21に至る部分に、別の曲げ部224を有し、別の曲げ
部224から第1の曲げ部221に至る部分が、セラミ
ックコンデンサ素子1の側端面と間隔G1を隔てて対向
し、先端部と別の曲げ部224との間が端子電極11に
接続されている。金属端子3は、先端部から第1の曲げ
部321に至る部分に、別の曲げ部324を有し、別の
曲げ部324から第1の曲げ部221に至る部分が側端
面と間隔G2を隔てて対向し、先端部と別の曲げ部32
4との間が端子電極12に接続されている。
The metal terminal 2 is connected to the first bent portion 2
21 has another bent portion 224, and the portion extending from the other bent portion 224 to the first bent portion 221 is opposed to the side end surface of the ceramic capacitor element 1 with a gap G1 therebetween. And another bent portion 224 is connected to the terminal electrode 11. The metal terminal 3 has another bent portion 324 at a portion from the tip portion to the first bent portion 321, and a portion from another bent portion 324 to the first bent portion 221 has an interval G2 with the side end face. The distal end portion and another bent portion 32 facing each other at a distance
4 is connected to the terminal electrode 12.

【0047】この構造によれば、別の曲げ部224、3
24から第3の曲げ部223、323に至る部分が、ス
プリング作用を持つようになり、そのスプリング作用を
生じる長さが拡大されるので、基板の撓みおよび熱膨張
を吸収する作用が更に増す。実施例の場合、スプリング
作用を生じる経路長hは、端子部23、33から第2の
曲げ部222、322までの経路長h1≦Hと、第1の
曲げ部221、321から取り付け部までの経路長h2
を加算した値(h=h1+h2)となる。この経路長h
は、部品高さHの寸法よりも大きくなる。従って、金属
端子2、3について、部品高さHを増大させずに、基板
側端子部23、33からセラミックコンデンサ素子取り
付け部までの経路長hを増大させ、基板の撓みおよび熱
膨張の吸収作用を改善できる。
According to this structure, another bent portion 224, 3
The portion from 24 to the third bent portions 223 and 323 has a spring action, and the length of the spring action is increased, so that the action of absorbing the deflection and thermal expansion of the substrate is further increased. In the case of the embodiment, the path length h at which the spring action occurs is determined by the path length h1 ≦ H from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322 and the path length h1 from the first bent portions 221 and 321 to the mounting portion. Path length h2
(H = h1 + h2). This path length h
Is larger than the dimension of the component height H. Therefore, for the metal terminals 2 and 3, the path length h from the board-side terminal portions 23 and 33 to the ceramic capacitor element mounting portion is increased without increasing the component height H, and the bending and thermal expansion of the board are absorbed. Can be improved.

【0048】図7は本発明に係るセラミックコンデンサ
の更に別の実施例を示す斜視図、図8は図7に示したセ
ラミックコンデンサの正面図である。この実施例に示さ
れたセラミックコンデンサでは、2個のセラミックコン
デンサ素子110、120を備える。セラミックコンデ
ンサ素子110、120は順次に積層され、端子電極1
1、12が、接合材4、5によって、並列に接続されて
いる。金属端子2、3の端子部23、33は、セラミッ
クコンデンサ素子110、120の内、最下層に位置す
るセラミックコンデンサ素子120の下側に間隔G0
1、G02をおいて配置されており、これにより、端子
部23、33による基板占有面積の増大を抑え、実装面
積を最小にしてある。
FIG. 7 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention, and FIG. 8 is a front view of the ceramic capacitor shown in FIG. The ceramic capacitor shown in this embodiment includes two ceramic capacitor elements 110 and 120. The ceramic capacitor elements 110 and 120 are sequentially laminated, and the terminal electrode 1
1 and 12 are connected in parallel by bonding materials 4 and 5. The terminal portions 23 and 33 of the metal terminals 2 and 3 are spaced apart from each other by a distance G0 below the lowermost ceramic capacitor element 120 of the ceramic capacitor elements 110 and 120.
1 and G02, so that an increase in the area occupied by the terminals 23 and 33 on the substrate is suppressed, and the mounting area is minimized.

【0049】金属端子2、3の折り返し部22、32
は、第1の曲げ部221、321と、第2の曲げ部22
2、322とを含む。第1の曲げ部221、321で
は、端子電極11、12から遠ざかる方向に折り曲げら
れ、第2の曲げ部222、322では、第1の曲げ部2
21、321から間隔を隔て、セラミックコンデンサ素
子110、120の側端面と平行する方向に折り曲げら
れている。
Folded portions 22, 32 of metal terminals 2, 3
Are the first bent portions 221 and 321 and the second bent portion 22
2, 322. The first bent portions 221 and 321 are bent in a direction away from the terminal electrodes 11 and 12, and the second bent portions 222 and 322 are bent in the first bent portion 2.
21 and 321, and are bent in a direction parallel to the side end surfaces of the ceramic capacitor elements 110 and 120.

【0050】金属端子2、3のそれぞれは、先端部から
第1の曲げ部221、321に至る部分が、セラミック
コンデンサ素子110、120の側端面に形成された端
子電極11、12に接続されている。金属端子2、3と
端子電極11、12との接続、および、セラミックコン
デンサ素子110、120の相互接続には、はんだまた
は樹脂を含有する導電性接着剤でなる接合材4、5を用
いる。
In each of the metal terminals 2, 3, a portion extending from the tip to the first bent portion 221, 321 is connected to terminal electrodes 11, 12 formed on the side end surfaces of the ceramic capacitor elements 110, 120. I have. For the connection between the metal terminals 2 and 3 and the terminal electrodes 11 and 12 and the interconnection between the ceramic capacitor elements 110 and 120, bonding materials 4 and 5 made of a conductive adhesive containing solder or resin are used.

【0051】図7および図8に示した実施例によれば、
図1および図2を参照して説明した作用効果のほか、2
つのセラミックコンデンサ素子110、120のそれぞ
れの静電容量値を加算した大きな静電容量が取得でき
る。
According to the embodiment shown in FIGS. 7 and 8,
In addition to the functions and effects described with reference to FIGS.
A large capacitance obtained by adding the capacitance values of the two ceramic capacitor elements 110 and 120 can be obtained.

【0052】図9は本発明に係るセラミックコンデンサ
の更に別の実施例を示す斜視図、図10は図9に示した
セラミックコンデンサの正面図である。図において、図
7および図8と同一の構成部分には、同一の参照符号を
付してある。この実施例では、金属端子2、3のそれぞ
れは、先端部から第1の曲げ部221、321に至る部
分が、セラミックコンデンサ素子110の側端面に形成
された端子電極11、12にのみ接続されている。この
実施例によれば、図7および図8に示した実施例と同様
の作用効果が得られる。
FIG. 9 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention, and FIG. 10 is a front view of the ceramic capacitor shown in FIG. In the figure, the same components as those in FIGS. 7 and 8 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, each of the metal terminals 2 and 3 has a portion from the tip to the first bent portion 221 or 321 connected to only the terminal electrodes 11 and 12 formed on the side end surfaces of the ceramic capacitor element 110. ing. According to this embodiment, the same operation and effect as those of the embodiment shown in FIGS. 7 and 8 can be obtained.

【0053】図11は本発明に係るセラミックコンデン
サの更に別の実施例を示す正面図である。図において、
図7〜図10と同一の構成部分には、同一の参照符号を
付してある。この実施例では、金属端子2、3のそれぞ
れは、先端部から第1の曲げ部221、321に至る部
分が、セラミックコンデンサ素子120の側端面に形成
された端子電極11、12にのみ接続されている。
FIG. 11 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure,
The same components as those in FIGS. 7 to 10 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, each of the metal terminals 2 and 3 has a portion from the tip to the first bent portion 221 or 321 connected to only the terminal electrodes 11 and 12 formed on the side end surfaces of the ceramic capacitor element 120. ing.

【0054】この実施例において、スプリング作用を生
じる経路長hは、端子部23、33から第2の曲げ部2
22、322までの経路長h1と、第1の曲げ部22
1、321から取り付け部までの経路長h2を加算した
値(h=h1+h2)となる。従って、金属端子2、3
について、基板側端子部23、33からセラミックコン
デンサ素子取り付け部までの経路長hを増大させ、基板
の撓みおよび熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコ
ンデンサ素子110、120に発生する機械的応力、及
び、熱応力を低減することができる。
In this embodiment, the path length h for generating the spring action is determined by the second bent portion 2 from the terminal portions 23 and 33.
22, the path length h1 to the first bent portion 22
A value (h = h1 + h2) obtained by adding the path length h2 from 1, 321 to the attachment portion. Therefore, the metal terminals 2, 3
With respect to the above, the path length h from the substrate side terminal portions 23, 33 to the ceramic capacitor element mounting portion is increased, the bending action of the substrate and the action of absorbing thermal expansion are improved, and the mechanical stress generated in the ceramic capacitor elements 110, 120 is reduced. And thermal stress can be reduced.

【0055】図12は本発明に係るセラミックコンデン
サの更に別の実施例を示す斜視図である。図において、
図8〜図11と同一の構成部分には、同一の参照符号を
付してある。この実施例では、金属端子2、3は、折り
返し部22、32の幅方向の中間部に、切り抜き部22
5、325を有する。このような切り抜き部225、3
25があると、金属端子2、3からセラミックコンデン
サ素子110、120への熱伝導が低下するので、セラ
ミックコンデンサ素子110、120における熱応力を
緩和できる。また、金属端子2、3の剛性が低下するの
で、基板の撓みおよび熱膨張を吸収するのに適したスプ
リング作用を得ることができる。
FIG. 12 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure,
8 to 11 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, the metal terminals 2 and 3 are provided at the middle portions in the width direction of the folded portions 22 and 32 by the cutout portions 22.
5, 325. Such cutouts 225, 3
When there is 25, the heat conduction from the metal terminals 2 and 3 to the ceramic capacitor elements 110 and 120 decreases, so that the thermal stress in the ceramic capacitor elements 110 and 120 can be reduced. In addition, since the rigidity of the metal terminals 2 and 3 is reduced, a spring action suitable for absorbing the bending and thermal expansion of the substrate can be obtained.

【0056】図13は本発明に係るセラミックコンデン
サの更に別の実施例を示す正面図である。図において、
図8〜図12と同一の構成部分には、同一の参照符号を
付してある。この実施例では、金属端子2、3のそれぞ
れは、先端部から第1の曲げ部221、321に至る部
分が、セラミックコンデンサ素子110の側端面に形成
された端子電極11、12にのみ接続されている。スプ
リング作用を生じる経路長hは、端子部23、33から
第2の曲げ部222、322までの長さとなる。従っ
て、端子部23、33を基準としたとき、接合材4、5
による金属端子2、3の接続位置までの長さは、折り返
し部22、32を持たない従来の高さh0(図1等参
照)よりも大きな経路長hとなる。このため、基板の撓
みおよび熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコンデ
ンサ素子110〜140に発生する機械的応力、及び、
熱応力を低減することができる。
FIG. 13 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure,
8 to 12 are denoted by the same reference numerals. In this embodiment, each of the metal terminals 2 and 3 has a portion from the tip to the first bent portion 221 or 321 connected to only the terminal electrodes 11 and 12 formed on the side end surfaces of the ceramic capacitor element 110. ing. The path length h that causes the spring action is the length from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322. Therefore, when the terminal portions 23 and 33 are used as a reference, the bonding materials 4 and 5
Is a path length h larger than the conventional height h0 (see FIG. 1 and the like) having no folded portions 22 and 32. For this reason, the bending action of the substrate and the action of absorbing the thermal expansion are improved, and the mechanical stress generated in the ceramic capacitor elements 110 to 140, and
Thermal stress can be reduced.

【0057】図14は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す正面図である。金属端子2、3の
それぞれは、先端部から第1の曲げ部221に至る部分
に、別の曲げ部224、324を有し、別の曲げ部22
4、324から第1の曲げ部221に至る部分が、セラ
ミックコンデンサ素子110、120の側端面と間隔G
1、G2を隔てて対向し、先端部と別の曲げ部224、
324との間が端子電極11、12に接続されている。
更に詳しくは、金属端子2において、先端部と別の曲げ
部224との間が、セラミックコンデンサ素子110の
端子電極11と、セラミックコンデンサ素子120の端
子電極11との間に配置され、はんだまたは樹脂を含有
する導電性接着剤でなる接合材4によって、端子電極1
1、11に接続固定されている。金属端子3において、
先端部と別の曲げ部324との間が、セラミックコンデ
ンサ素子110の端子電極12と、セラミックコンデン
サ素子120の端子電極12との間に配置され、はんだ
または樹脂を含有する導電性接着剤でなる接合材5によ
って、端子電極12、12に接続固定されている。
FIG. 14 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. Each of the metal terminals 2, 3 has another bent portion 224, 324 in a portion extending from the tip end portion to the first bent portion 221.
4 and 324 to the first bent portion 221 are spaced from the side end surfaces of the ceramic capacitor elements 110 and 120 by a distance G.
1, opposite to G2, the tip and another bent portion 224,
324 is connected to the terminal electrodes 11 and 12.
More specifically, in the metal terminal 2, a portion between the tip portion and another bent portion 224 is arranged between the terminal electrode 11 of the ceramic capacitor element 110 and the terminal electrode 11 of the ceramic capacitor element 120, Terminal electrode 1 by a bonding material 4 made of a conductive adhesive containing
1 and 11 are connected and fixed. In the metal terminal 3,
A portion between the tip portion and another bent portion 324 is disposed between the terminal electrode 12 of the ceramic capacitor element 110 and the terminal electrode 12 of the ceramic capacitor element 120, and is made of a conductive adhesive containing solder or resin. The bonding material 5 is connected and fixed to the terminal electrodes 12, 12.

【0058】スプリング作用を生じる経路長hは、端子
部23、33から第2の曲げ部222、322までの経
路長h1と、第1の曲げ部221、321から別の曲げ
部224、324までの経路長h2を加算した値(h=
h1+h2)となる。従って、金属端子2、3につい
て、基板側端子部23、33からセラミックコンデンサ
素子取り付け部までの経路長hを増大させ、基板の撓み
および熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコンデン
サ素子110、120に発生する機械的応力、及び、熱
応力を低減することができる。
The path length h causing the spring action is determined by the path length h1 from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322 and the path length h1 from the first bent portions 221 and 321 to the other bent portions 224 and 324. (H = h)
h1 + h2). Therefore, for the metal terminals 2 and 3, the path length h from the substrate side terminal portions 23 and 33 to the ceramic capacitor element mounting portion is increased, the bending and thermal expansion of the substrate are improved, and the ceramic capacitor elements 110 and 120 are improved. Mechanical stress and thermal stress generated in the substrate.

【0059】図15は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す正面図である。この実施例では、
金属端子2において、先端部と別の曲げ部224との間
が、最下層のセラミックコンデンサ素子110の端子電
極11を受けるように配置され、はんだまたは樹脂を含
有する導電性接着剤でなる接合材4によって、端子電極
11に接続固定されている。金属端子3において、先端
部と別の曲げ部324との間が、セラミックコンデンサ
素子110の端子電極12を受けるようにに配置され、
んだまたは樹脂を含有する導電性接着剤でなる接合材5
によって、端子電極12に接続固定されている。
FIG. 15 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In this example,
In the metal terminal 2, a joining material made of a conductive adhesive containing solder or resin is arranged so as to receive a terminal electrode 11 of the lowermost ceramic capacitor element 110 between a tip portion and another bent portion 224. 4 is connected and fixed to the terminal electrode 11. In the metal terminal 3, a portion between the tip portion and another bent portion 324 is arranged to receive the terminal electrode 12 of the ceramic capacitor element 110,
Material 5 made of conductive adhesive containing solder or resin
Thus, it is connected and fixed to the terminal electrode 12.

【0060】スプリング作用を生じる経路長hは、端子
部23、33から第2の曲げ部222、322までの経
路長h1と、第1の曲げ部221、321から別の曲げ
部224、324までの経路長h2を加算した値(h=
h1+h2)となる。従って、金属端子2、3につい
て、基板側端子部23、33からセラミックコンデンサ
素子取り付け部までの経路長hを増大させ、基板の撓み
および熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコンデン
サ素子110、120に発生する機械的応力、及び、熱
応力を低減することができる。
The path length h causing the spring action is determined by the path length h1 from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322, and the path length h from the first bent portions 221 and 321 to the other bent portions 224 and 324. (H = h)
h1 + h2). Therefore, for the metal terminals 2 and 3, the path length h from the substrate side terminal portions 23 and 33 to the ceramic capacitor element mounting portion is increased, the bending and thermal expansion of the substrate are improved, and the ceramic capacitor elements 110 and 120 are improved. Mechanical stress and thermal stress generated in the substrate.

【0061】図16は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す正面図である。この実施例では、
4個のセラミックコンデンサ素子110〜140を順次
に積層し、端子電極11ー11、12ー12間を、はん
だまたは樹脂を含有する導電性接着剤でなる接合材4、
5によって接着する。また、金属端子2において、先端
部と第1の曲げ部221との間を、はんだまたは樹脂を
含有する導電性接着剤でなる接合材4によって、端子電
極11に接続固定する。金属端子3において、先端部と
第1の曲げ部321との間を、はんだまたは樹脂を含有
する導電性接着剤でなる接合材5によって、端子電極1
2に接続固定する。
FIG. 16 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In this example,
Four ceramic capacitor elements 110 to 140 are sequentially laminated, and a bonding material 4 made of a conductive adhesive containing solder or resin is provided between the terminal electrodes 11-11 and 12-12,
Adhere with 5. Further, in the metal terminal 2, a portion between the front end portion and the first bent portion 221 is connected and fixed to the terminal electrode 11 by a bonding material 4 made of a conductive adhesive containing solder or resin. In the metal terminal 3, the terminal electrode 1 is connected between the tip portion and the first bent portion 321 by a bonding material 5 made of a conductive adhesive containing solder or resin.
2 and fixed.

【0062】図16に示された実施例によれば、図1〜
図15に示した実施例よりも、更に大きな静電容量を取
得できる。セラミックコンデンサ素子110〜140の
個数は、要求される静電容量に応じて更に増加できる。
According to the embodiment shown in FIG.
A larger capacitance can be obtained than in the embodiment shown in FIG. The number of ceramic capacitor elements 110 to 140 can be further increased according to the required capacitance.

【0063】スプリング作用を生じる経路長hは、端子
部23、33から第2の曲げ部222、322までの経
路長h1と、第1の曲げ部221、321から別の曲げ
部224、324までの経路長h2を加算した値(h=
h1+h2)となる。従って、金属端子2、3につい
て、基板側端子部23、33からセラミックコンデンサ
素子取り付け部までの経路長hを増大させ、基板の撓み
および熱膨張の吸収作用を改善し、セラミックコンデン
サ素子110〜140に発生する機械的応力、及び、熱
応力を低減することができる。
The path length h causing the spring action is determined by the path length h1 from the terminal portions 23 and 33 to the second bent portions 222 and 322 and the path length h1 from the first bent portions 221 and 321 to the other bent portions 224 and 324. (H = h)
h1 + h2). Therefore, for the metal terminals 2 and 3, the path length h from the substrate side terminal portions 23 and 33 to the ceramic capacitor element mounting portion is increased, the bending and thermal expansion of the substrate are improved, and the ceramic capacitor elements 110 to 140 are improved. Mechanical stress and thermal stress generated in the substrate.

【0064】図17は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す正面断面図である。図において、
図1および図2と同一の構成部分には、同一の参照符号
を付し、説明は省略する。この実施例では、端子電極1
1、12は、側端面のみに形成されている。このような
構造であると、内部電極101と端子電極12との間隔
△L1及び内部電極102と端子電極11との間の間隔
△L2を、セラミック誘電体基体100の側端面を基準
にして設定すればよいので、内部電極101と内部電極
102との重なり面積を増大させ、より大きな取得容量
を確保できる。
FIG. 17 is a front sectional view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure,
1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In this embodiment, the terminal electrode 1
1 and 12 are formed only on the side end surfaces. With such a structure, the distance ΔL1 between the internal electrode 101 and the terminal electrode 12 and the distance ΔL2 between the internal electrode 102 and the terminal electrode 11 are set with reference to the side end surface of the ceramic dielectric substrate 100. Therefore, the overlapping area between the internal electrode 101 and the internal electrode 102 can be increased, and a larger acquisition capacity can be secured.

【0065】図18は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す正面断面図である。図において、
図17と同一の構成部分には、同一の参照符号を付し、
説明は省略する。図18に示す実施例では、2個のセラ
ミックコンデンサ素子110、120を備える。セラミ
ックコンデンサ素子110、120は順次に積層され、
端子電極11、12が、接合材4、5によって、並列に
接続されている。端子電極11、12は、セラミック誘
電体基体100の側端面のみに形成されている。この実
施例よれば、図17との比較において、より大きな静電
容量を取得できる。
FIG. 18 is a front sectional view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure,
The same components as those in FIG. 17 are denoted by the same reference numerals,
Description is omitted. In the embodiment shown in FIG. 18, two ceramic capacitor elements 110 and 120 are provided. The ceramic capacitor elements 110 and 120 are sequentially laminated,
The terminal electrodes 11 and 12 are connected in parallel by bonding materials 4 and 5. The terminal electrodes 11 and 12 are formed only on the side end surfaces of the ceramic dielectric substrate 100. According to this embodiment, a larger capacitance can be obtained as compared with FIG.

【0066】図19は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す斜視図である。図において、図1
および図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。この実施例では、金属端子2は、
抜き部24を有する。抜き部は、端子電極11を取り付
けた取り付け部に向き合う。図示されていないが、金属
端子3も、同様に、抜き部34を有する。抜き部34
は、端子電極12を取り付けた取り付け部に向き合う。
FIG. 19 is a perspective view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure, FIG.
The same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In this embodiment, the metal terminal 2 is
It has a punched portion 24. The cutout portion faces the mounting portion to which the terminal electrode 11 is mounted. Although not shown, the metal terminal 3 also has a cutout 34. Punching part 34
Faces the mounting portion to which the terminal electrode 12 is mounted.

【0067】上記構造であると、金属端子2、3を端子
電極11、12に接続する作業において、金属端子2、
3の抜き部24、34を通して、金属端子2、3の取り
付け部を押さえ、端子電極11、12に接触させ、接続
作業を容易に行なうことができる。また、抜き部24、
34を通して、均一な力で取り付け部を端子電極11、
12に接着することができる。
With the above structure, in the operation of connecting the metal terminals 2 and 3 to the terminal electrodes 11 and 12,
The mounting portions of the metal terminals 2 and 3 are pressed through the cutout portions 24 and 34 of the third terminal 3 and brought into contact with the terminal electrodes 11 and 12, so that the connection operation can be easily performed. Also, the punched portion 24,
34, the mounting portion is connected to the terminal electrode 11 with a uniform force.
12 can be glued.

【0068】図20は本発明に係るセラミックコンデン
サの別の実施例を示す底面図である。図において、図1
および図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。この実施例では、金属端子2の端
子部23は、2つの穴231、232を有する。同様
に、金属端子3の端子部33は、2つの穴331、33
2を有する。穴数は任意である。
FIG. 20 is a bottom view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure, FIG.
The same components as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In this embodiment, the terminal portion 23 of the metal terminal 2 has two holes 231 and 232. Similarly, the terminal portion 33 of the metal terminal 3 has two holes 331, 33
2 The number of holes is arbitrary.

【0069】図21は図20に示したセラミックコンデ
ンサを回路基板70に実装した状態を示す部分断面図で
ある。図21に示すように、図20に図示されたセラミ
ックコンデンサを、回路基板70に設けられた導体パタ
ーン71、72にはんだ付けする際、端子部23、33
の穴231、232、331、332に、はんだ82
1、811を充填し、セラミックコンデンサを回路基板
70に確実にはんだ付けすることができる。
FIG. 21 is a partial sectional view showing a state where the ceramic capacitor shown in FIG. As shown in FIG. 21, when the ceramic capacitor shown in FIG. 20 is soldered to the conductor patterns 71 and 72 provided on the circuit board 70, the terminal portions 23 and 33 are soldered.
Holes 821, 232, 331, and 332
1, 811 so that the ceramic capacitor can be securely soldered to the circuit board 70.

【0070】図22は、本発明に係るセラミックコンデ
ンサの別の実施例を示す正面図である。図において、図
1及び図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。この実施例では、金属端子2の折
り返し部22は、鋭角曲げ部221を含み、鋭角曲げ部
221では、セラミックコンデンサ素子1の端面とほぼ
対向する方向に鋭角に折り曲げられている。同様に、金
属端子3の折り返し部32も、鋭角曲げ部321を含
み、鋭角曲げ部321では、セラミックコンデンサ素子
1の端面とほぼ対向する方向に鋭角に折り曲げられてい
る。
FIG. 22 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In this embodiment, the folded portion 22 of the metal terminal 2 includes an acute-angle bent portion 221, and the acute-angle bent portion 221 is bent at an acute angle in a direction substantially facing the end face of the ceramic capacitor element 1. Similarly, the folded portion 32 of the metal terminal 3 also includes an acute angle bent portion 321, and the acute angle bent portion 321 is bent at an acute angle in a direction substantially opposite to the end face of the ceramic capacitor element 1.

【0071】上記構造によれば、図1及び図2に示した
セラミックコンデンサと同様に、曲げ位置221、32
1から端子部23、33に至る部分が、スプリング作用
を持つようになり、そのスプリング作用によって、基板
の撓みおよび熱膨張を吸収することができる。
According to the above-described structure, the bending positions 221 and 32 are similar to those of the ceramic capacitors shown in FIGS.
A portion from 1 to the terminal portions 23 and 33 has a spring action, and the deflection and thermal expansion of the substrate can be absorbed by the spring action.

【0072】金属端子2、3は、折り曲げにより生じる
2つの対向部分間の最大の隙間dが300μm以下とす
ることが好ましい。隙間dが小さいほど、金属端子2、
3の共振点が高周波数側に移動する。通常の電源では、
20〜200Hzの振動が発生する可能性があるため、
共振点が200Hz以上になるように、隙間dを小さく
することが望ましい。隙間dが300μm以下であれ
ば、このような条件を満たすことができる。表1は図2
2に図示された構造のセラミックコンデンサにおいて、
間隔dを変え、10〜500Hzの周波数で2時間加振
したときのクラック発生率(%)を示す試験データであ
る。試験に供されたセラミックコンデンサは、各間隔d
毎に100個である。
It is preferable that the maximum gap d between the two opposing portions of the metal terminals 2 and 3 caused by bending is 300 μm or less. As the gap d is smaller, the metal terminal 2
The resonance point 3 moves to the high frequency side. With a normal power supply,
Because vibration of 20 to 200 Hz may occur,
It is desirable to reduce the gap d so that the resonance point is 200 Hz or higher. If the gap d is 300 μm or less, such a condition can be satisfied. Table 1 is FIG.
In the ceramic capacitor having the structure shown in FIG.
It is test data which shows the crack generation rate (%) when the interval d is changed and a vibration is applied at a frequency of 10 to 500 Hz for 2 hours. The ceramic capacitors subjected to the test have a distance d
There are 100 for each.

【0073】表1に示されるように、間隔dが300μ
mを越える370μmにおいて、クラック発生率は85
〜100%に達する。これに対して、間隔d(μm)が
300μm以下である70μm、90μmの場合は、ク
ラックを発生しない。
As shown in Table 1, the distance d was 300 μm.
At 370 μm exceeding 300 m, the crack occurrence rate was 85
Reaches ~ 100%. On the other hand, when the distance d (μm) is 70 μm or 90 μm, which is 300 μm or less, no crack occurs.

【0074】図23は、本発明に係るセラミックコンデ
ンサの別の実施例を示す正面図である。図において、図
1及び図2と同一の構成部分には、同一の参照符号を付
し、説明は省略する。金属端子2、3の折り返し部2
2、32は、弧状に折り曲げられている。この実施例に
おいても、図1及び図2の実施例と同様の作用効果を奏
する。
FIG. 23 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention. In the figure, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Folded part 2 of metal terminals 2 and 3
2, 32 are bent in an arc shape. In this embodiment, the same operation and effect as those of the embodiment of FIGS.

【0075】重複説明を回避するため、図示は省略する
けれども、図22及び図23に示した金属端子2、3を
用いた場合にも、図3〜図21に図示された使用態様及
び実施例を採用し得ることは自明である。また、図示は
されていないが、実施例の組み合わせが多数存在するこ
とはいうまでもない。
Although illustration is omitted in order to avoid redundant description, even when the metal terminals 2 and 3 shown in FIGS. 22 and 23 are used, the usage modes and embodiments shown in FIGS. It is obvious that can be adopted. Although not shown, it goes without saying that there are many combinations of the embodiments.

【0076】次に具体的な実施例および比較例のクラッ
ク発生率試験データを示す。
Next, crack occurrence rate test data of specific examples and comparative examples will be shown.

【0077】実施例1 定格電圧25Vで静電容量22μF、温度特性Eを有す
る 5.6×5.0×2.3mmのセラミックコンデンサ素子を2
個用意した。
Example 1 A 5.6 × 5.0 × 2.3 mm ceramic capacitor element having a rated voltage of 25 V, an electrostatic capacity of 22 μF, and a temperature characteristic E was used.
I prepared them.

【0078】上記セラミックコンデンサ素子は、鉛系複
合ペロブスカイトのセラミック誘電体の内部にAgーP
dよりなる内部電極を有し、セラミック誘電体の相対す
る両側端部にガラスブリットを含んだAgペーストの焼
き付け電極でなる端子電極を有する。
The above ceramic capacitor element is composed of a lead-based composite perovskite having a Ag-P
and an internal electrode made of Ag paste, which is an electrode baked with an Ag paste containing glass bullets, on both opposite ends of the ceramic dielectric.

【0079】上記セラミックコンデンサ素子の2個を、
端子電極を揃えて重ね合わせ、かつ、端子電極に銀粉を
分散させた導電性接着剤を塗布して固定した。次に、銀
めっき処理(中間層はニッケル、NiーAg)した厚さ
0.1mmの金属板(リン青銅製)の内側に折り曲げられ
た部分のみを二段積みされたセラミックコンデンサの下
方部の端部電極側面に、所定の圧力で押し付けた。この
状態で、150℃で1時間加熱して導電性接着剤を熱硬
化させて、2個のセラミックコンデンサ素子と金属端子
が端部で固着した複合セラミックコンデンサを作製し
た。金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素
子に対する金属端子の取り付け構造を、図15に図示し
た態様とした。
Two of the above ceramic capacitor elements are
The terminal electrodes were aligned and overlaid, and the terminal electrodes were fixed by applying a conductive adhesive in which silver powder was dispersed. Next, the lower part of the ceramic capacitor in which only the portion bent inside the metal plate (made of phosphor bronze) having a thickness of 0.1 mm and subjected to silver plating (the intermediate layer is nickel, Ni-Ag) is stacked in two stages is provided. A predetermined pressure was applied to the side surface of the end electrode. In this state, the conductive adhesive was thermally cured by heating at 150 ° C. for 1 hour to produce a composite ceramic capacitor in which two ceramic capacitor elements and metal terminals were fixed at the ends. The shape of the metal terminal and the structure for attaching the metal terminal to the ceramic capacitor element were as shown in FIG.

【0080】実施例2 金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素子に
対する金属端子の取り付け構造を、図7および図8に図
示した態様とした。他は実施例1と同様にして、セラミ
ックコンデンサを作成した。
Example 2 The shapes of the metal terminals and the structure for attaching the metal terminals to the ceramic capacitor element were as shown in FIGS. 7 and 8. Others were the same as in Example 1 to produce a ceramic capacitor.

【0081】実施例3 金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素子に
対する金属端子の取り付け構造を、図11に図示した態
様とした。他は実施例1と同様にして、セラミックコン
デンサを作成した。
Example 3 The shape of the metal terminal and the structure for attaching the metal terminal to the ceramic capacitor element were as shown in FIG. Others were the same as in Example 1 to produce a ceramic capacitor.

【0082】実施例4 金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素子に
対する金属端子の取り付け構造を、図12および図13
に図示した態様とした。他は実施例1と同様にして、セ
ラミックコンデンサを作成した。
Example 4 FIGS. 12 and 13 show the shape of the metal terminal and the structure for attaching the metal terminal to the ceramic capacitor element.
The embodiment shown in FIG. Others were the same as in Example 1 to produce a ceramic capacitor.

【0083】比較例1 金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素子に
対する金属端子の取り付け構造は、図24に図示した従
来技術の態様とした。他は実施例1と同様にして、セラ
ミックコンデンサを作成した。図24において、図1と
同一の構成部分には、同一の参照符号を付してある。
Comparative Example 1 The shape of the metal terminal and the structure for attaching the metal terminal to the ceramic capacitor element were the same as those of the prior art shown in FIG. Others were the same as in Example 1 to produce a ceramic capacitor. 24, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0084】比較例2 金属端子を用いずに、実施例1〜4に述べた手段に従っ
て、セラミックコンデンサを作成した。
Comparative Example 2 A ceramic capacitor was prepared according to the means described in Examples 1 to 4 without using a metal terminal.

【0085】実施例1〜4および比較例1、2につい
て、ヒートサイクル試験後のクラック発生状況を表2に
示す。
Table 2 shows the occurrence of cracks after the heat cycle test in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 and 2.

【0086】表2に示すように、本発明に係る実施例1
〜4では、クラックの発生は認められなかった。比較例
1では、40サイクル後に30%、100サイクル後に
100%のクラック発生率であった。金属端子を持たな
い比較例2では、40サイクル後および100サイクル
後の何れにおいても、100%のクラック発生率であっ
た。
As shown in Table 2, Example 1 according to the present invention
In Nos. To 4, no crack was observed. In Comparative Example 1, the crack occurrence rate was 30% after 40 cycles and 100% after 100 cycles. In Comparative Example 2 having no metal terminal, the crack occurrence rate was 100% both after 40 cycles and after 100 cycles.

【0087】実施例5〜7 定格電圧16Vで静電容量6.8μF、温度特性Eを有
する 3.2×2.5×1.0 mmのセラミックコンデンサ4個を
用意した。
Examples 5 to 7 Four 3.2 × 2.5 × 1.0 mm ceramic capacitors having a rated voltage of 16 V, a capacitance of 6.8 μF, and a temperature characteristic E were prepared.

【0088】セラミックコンデンサ素子は、鉛系複合ペ
ロブスカイトのセラミック誘電体にAgーPd内部電極
を埋設し、相対する両側端面にガラスブリットを含んだ
Agペーストの焼き付け電極でなる端子電極を有する。
The ceramic capacitor element has a terminal electrode formed by burying an Ag-Pd internal electrode in a ceramic dielectric material of a lead-based composite perovskite, and baking electrodes of an Ag paste containing glass bullets on opposite end surfaces.

【0089】上述した4個のセラミックコンデンサ素子
を、端子電極を揃えて積層し、かつ、端子電極に、銀粉
を分散させた導電性接着剤を塗布し、セラミックコンデ
ンサ素子を固定した。次に、図16に図示された構造お
よび配置で、金属端子を取り付けた。金属端子は、銀め
っき処理(中間層はニッケル、NiーAg)した厚さ
0.1mmの金属板(リン青銅製)を用いた。金属端子の
先端部に位置する端子部を、四段積みされたセラミック
コンデンサ素子の内、最下層に位置するセラミックコン
デンサ素子の端子電極の側面に、所定の圧力で押し付け
た。この状態で、150℃で1時間加熱して導電性接着
剤を熱硬化させて、4個のセラミックコンデンサ素子と
金属端子とを、端子電極の部分で固着した複合セラミッ
クコンデンサを作製した。
The above-mentioned four ceramic capacitor elements were stacked with their terminal electrodes aligned, and a conductive adhesive in which silver powder was dispersed was applied to the terminal electrodes to fix the ceramic capacitor elements. Next, metal terminals were attached in the structure and arrangement shown in FIG. As the metal terminal, a metal plate (made of phosphor bronze) having a thickness of 0.1 mm and having been subjected to silver plating (the intermediate layer was nickel, Ni-Ag) was used. The terminal portion located at the tip of the metal terminal was pressed with a predetermined pressure against the side surface of the terminal electrode of the ceramic capacitor element located at the lowermost layer of the ceramic capacitor elements stacked in four stages. In this state, the conductive adhesive was thermally cured by heating at 150 ° C. for 1 hour to produce a composite ceramic capacitor in which four ceramic capacitor elements and metal terminals were fixed at terminal electrode portions.

【0090】上述のようにして得られた試料について、
スプリング作用を生じる経路長hを変えた。こうして得
られた試料を、実施例5〜7とする。
The sample obtained as described above was
The path length h that causes the spring action was changed. The samples thus obtained are referred to as Examples 5 to 7.

【0091】比較例3 金属端子の形状、および、セラミックコンデンサ素子に
対する金属端子の取り付け構造は、図24に図示した従
来技術の態様とした。他は、実施例5〜7と同様とし
た。
Comparative Example 3 The shape of the metal terminal and the structure for attaching the metal terminal to the ceramic capacitor element were the same as those of the prior art shown in FIG. Others were the same as Examples 5-7.

【0092】比較例4 金属端子を用いずに、実施例5〜7に述べた手段に従っ
てセラミックコンデンサを作成した。
Comparative Example 4 A ceramic capacitor was prepared according to the means described in Examples 5 to 7 without using metal terminals.

【0093】実施例5〜7および比較例3、4につい
て、ヒートサイクル試験後のクラック発生状況を表3に
示す。
Table 3 shows the occurrence of cracks after the heat cycle test in Examples 5 to 7 and Comparative Examples 3 and 4.

【0094】表3に示すように、本発明に係る実施例5
〜7では、クラックの発生は認められなかった。比較例
3では、40サイクル後に15%、100サイクル後に
100%のクラック発生率であった。金属端子を持たな
い比較例2では、40サイクル後および100サイクル
後の何れにおいても、100%のクラック発生率であっ
た。
As shown in Table 3, Example 5 according to the present invention
In Nos. To 7, no crack was observed. In Comparative Example 3, the crack occurrence rate was 15% after 40 cycles and 100% after 100 cycles. In Comparative Example 2 having no metal terminal, the crack occurrence rate was 100% both after 40 cycles and after 100 cycles.

【0095】実施例8 定格電圧25Vで静電容量22μF、温度特性Eを有す
る 5.6×5.0×2.3mmのセラミックコンデンサ素子を4個
用意した。セラミックコンデンサ素子を4個用意した。
セラミックコンデンサ素子は、鉛系複合ペロブスカイト
のセラミック誘電体にAgーPd内部電極を埋設し、相
対する両側端面にガラスブリットを含んだAgペースト
の焼き付け電極でなる端子電極を有する。
Example 8 Four ceramic capacitor elements of 5.6 × 5.0 × 2.3 mm having a rated voltage of 25 V, a capacitance of 22 μF, and a temperature characteristic E were prepared. Four ceramic capacitor elements were prepared.
The ceramic capacitor element has a terminal electrode formed by burying an Ag-Pd internal electrode in a ceramic dielectric of a lead-based composite perovskite, and being a baked electrode of an Ag paste containing glass bullets on opposite side end surfaces.

【0096】上述した4個のセラミックコンデンサ素子
を、端子電極を揃えて積層し、かつ、端子電極に、銀粉
を分散させた導電性接着剤を塗布し、セラミックコンデ
ンサ素子を固定した。次に、図16に図示された構造お
よび配置で、金属端子を取り付けた。金属端子は、銀め
っき処理(中間層はニッケル、NiーAg)した厚さ
0.1mmの金属板(リン青銅製)を用いた。金属端子の
先端部に位置する端子部を、四段積みされたセラミック
コンデンサ素子の内、最下層に位置するセラミックコン
デンサ素子の端子電極の側面に、所定の圧力で押し付け
た。この状態で、150℃で1時間加熱して導電性接着
剤を熱硬化させて、4個のセラミックコンデンサ素子と
金属端子とを、端子電極の部分で固着した複合セラミッ
クコンデンサを作製した。
The above-mentioned four ceramic capacitor elements were laminated with their terminal electrodes aligned, and a conductive adhesive in which silver powder was dispersed was applied to the terminal electrodes to fix the ceramic capacitor elements. Next, metal terminals were attached in the structure and arrangement shown in FIG. As the metal terminal, a metal plate (made of phosphor bronze) having a thickness of 0.1 mm and having been subjected to silver plating (the intermediate layer was nickel, Ni-Ag) was used. The terminal portion located at the tip of the metal terminal was pressed with a predetermined pressure against the side surface of the terminal electrode of the ceramic capacitor element located at the lowermost layer of the ceramic capacitor elements stacked in four stages. In this state, the conductive adhesive was thermally cured by heating at 150 ° C. for 1 hour to produce a composite ceramic capacitor in which four ceramic capacitor elements and metal terminals were fixed at terminal electrode portions.

【0097】比較例5 定格電圧25Vで静電容量22μF、温度特性Eを有す
る 5.6×5.0×2.3 mmの2個のセラミックコンデンサ素
子を用意した。セラミックコンデンサ素子は、鉛系複合
ペロブスカイトのセラミック誘電体に、AgーPdでな
る内部電極を有し、セラミック誘電体の相対する両側端
面にガラスブリットを含んだAgペーストの焼き付け電
極でなる端子電極を有する。
Comparative Example 5 Two 5.6 × 5.0 × 2.3 mm ceramic capacitor elements having a rated voltage of 25 V, a capacitance of 22 μF, and a temperature characteristic E were prepared. The ceramic capacitor element has an internal electrode made of Ag-Pd on a ceramic dielectric material of a lead-based composite perovskite, and a terminal electrode made of a baked electrode of Ag paste containing glass bullets on both opposite end surfaces of the ceramic dielectric material. Have.

【0098】上記した2個のセラミックコンデンサ素子
を、端子電極を揃えて重ね合わせ、かつ、端子電極に、
銀粉を分散させた導電性接着剤を塗布し、めっき処理し
た厚さ0.1mmの金属板(リン青銅製)を、図24に図
示する従来構造において、所定の圧力で押し付けた。こ
の状態で、150℃で1時間加熱して、導電性接着剤を
熱硬化させて、2個のセラミックコンデンサ素子と、金
属端子とを、端子電極で固着した複合セラミックコンデ
ンサを作製した。
The above-mentioned two ceramic capacitor elements are overlapped with their terminal electrodes aligned, and
A 0.1 mm-thick metal plate (made of phosphor bronze) coated with a conductive adhesive in which silver powder was dispersed and plated was pressed with a predetermined pressure in the conventional structure shown in FIG. In this state, the conductive adhesive was heated and cured at 150 ° C. for 1 hour to produce a composite ceramic capacitor in which two ceramic capacitor elements and metal terminals were fixed with terminal electrodes.

【0099】比較例6 定格電圧16Vで静電容量6.8μF、温度特性Eを有
する 3.2×2.5×1.0mmの4個のセラミックコンデンサ素
子を用意した。セラミックコンデンサ素子は、鉛系複合
ペロブスカイトのセラミック誘電体の内部にAgーPd
でなる内部電極を有し、ガラスフリットを含んだAgペ
ーストの焼き付け電極でなる端子電極を有する。
Comparative Example 6 Four 3.2 × 2.5 × 1.0 mm ceramic capacitor elements having a rated voltage of 16 V, a capacitance of 6.8 μF, and a temperature characteristic E were prepared. The ceramic capacitor element contains Ag-Pd inside the ceramic dielectric of the lead-based composite perovskite.
, And a terminal electrode which is a baked electrode of an Ag paste containing a glass frit.

【0100】上述した4個のセラミックコンデンサ素子
を、端子電極を揃えて重ね合わせ、かつ、銀粉を分散さ
せた導電性接着剤を端子電極に塗布し、その上に、金属
端子を、図24の従来例に示す態様で配置し、所定の圧
力で押し付けた。金属端子は、めっき処理した厚さ0.
1mmの金属板(リン青銅製)である。
The above-mentioned four ceramic capacitor elements are overlapped with the terminal electrodes aligned, and a conductive adhesive in which silver powder is dispersed is applied to the terminal electrodes. They were arranged in the manner shown in the conventional example and pressed at a predetermined pressure. The metal terminals have a plating thickness of 0.1 mm.
It is a 1 mm metal plate (made of phosphor bronze).

【0101】この状態で、150℃で1時間加熱して導
電性接着剤を熱硬化させて、4個のセラミックコンデン
サ素子と、金属端子とを、端子電極の部分で固着した複
合セラミックコンデンサを作製した。
In this state, the conductive adhesive was thermally cured by heating at 150 ° C. for 1 hour to produce a composite ceramic capacitor in which four ceramic capacitor elements and metal terminals were fixed at terminal electrode portions. did.

【0102】実施例8および比較例5、6に従って得ら
れた試料を用いて、その金属端子の端子部を、アルミニ
ウム基板にはんだ付けし、冷熱衝撃試験槽に投入し、冷
熱衝撃試験を行なった。冷熱衝撃試験は、125℃〜
(−55℃)〜125℃を一サイクルとして、40サイ
クルおよび100サイクルの各サイクルで行なった。そ
して、試験前および試験後において、セラミックコンデ
ンサ素子の内部に存在するクラックの有無を調べた。
Using the samples obtained according to Example 8 and Comparative Examples 5 and 6, the terminal portions of the metal terminals were soldered to an aluminum substrate and placed in a thermal shock test tank to conduct a thermal shock test. . Thermal shock test is 125 ° C ~
(-55 ° C.) to 125 ° C. as one cycle, each cycle of 40 cycles and 100 cycles. Then, before and after the test, the presence or absence of cracks present inside the ceramic capacitor element was examined.

【0103】本発明に係る実施例8では、クラックの発
生は認められなかったが、比較例5、6ではクラックに
よる破壊が認められた。破壊位置は、全て、金属端子と
導電性接着剤との界面、および、導電性接着剤の塗布領
域付近であった。
In Example 8 according to the present invention, no cracks were found, but in Comparative Examples 5 and 6, breakage due to cracks was found. All the breaking positions were at the interface between the metal terminal and the conductive adhesive and near the area where the conductive adhesive was applied.

【0104】[0104]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果が得られる。 (a)セラミックコンデンサ素子にクラック、破損等が
発生するのを確実に阻止できるセラミックコンデンサを
提供することができる。 (b)セラミックコンデンサ素子における熱応力および
機械的応力を低減できるセラミックコンデンサを提供す
ることができる。 (c)金属端子について、高さを増大させずに、基板側
端子部からセラミックコンデンサ素子取り付け部までの
長さを増大させたセラミックコンデンサを提供すること
ができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) It is possible to provide a ceramic capacitor that can reliably prevent cracks, breakage, and the like from occurring in the ceramic capacitor element. (B) A ceramic capacitor capable of reducing thermal stress and mechanical stress in a ceramic capacitor element can be provided. (C) It is possible to provide a ceramic capacitor in which the length from the substrate-side terminal portion to the ceramic capacitor element mounting portion is increased without increasing the height of the metal terminal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るセラミックコンデンサの正面図で
ある。
FIG. 1 is a front view of a ceramic capacitor according to the present invention.

【図2】図1に示したセラミックコンデンサの正面断面
図である。
FIG. 2 is a front sectional view of the ceramic capacitor shown in FIG. 1;

【図3】図1及び図2に示したセラミックコンデンサを
回路基板上に実装した時の状態を示す部分断面図であ
る。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a state when the ceramic capacitor shown in FIGS. 1 and 2 is mounted on a circuit board.

【図4】本発明に係るセラミックコンデンサに用いられ
る金属端子の一例を示す拡大断面図である。
FIG. 4 is an enlarged sectional view showing an example of a metal terminal used in the ceramic capacitor according to the present invention.

【図5】本発明に係るセラミックコンデンサの別の実施
例を示す正面図である。
FIG. 5 is a front view showing another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図6】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別の
実施例を示す正面図である。
FIG. 6 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図7】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別の
実施例を示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図8】図7に示したセラミックコンデンサの更に別の
実施例を示す正面図である。
FIG. 8 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor shown in FIG. 7;

【図9】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別の
実施例を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図10】図9に示したセラミックコンデンサの正面図
である。
FIG. 10 is a front view of the ceramic capacitor shown in FIG. 9;

【図11】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 11 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図12】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図13】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 13 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図14】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 14 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図15】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 15 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図16】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 16 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図17】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面断面図である。
FIG. 17 is a front sectional view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図18】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面断面図である。
FIG. 18 is a front sectional view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図19】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す斜視図である。
FIG. 19 is a perspective view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図20】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す底面図である。
FIG. 20 is a bottom view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図21】図20に示したセラミックコンデンサの実装
例を示す部分断面図である。
21 is a partial cross-sectional view showing a mounting example of the ceramic capacitor shown in FIG.

【図22】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 22 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図23】本発明に係るセラミックコンデンサの更に別
の実施例を示す正面図である。
FIG. 23 is a front view showing still another embodiment of the ceramic capacitor according to the present invention.

【図24】従来のセラミックコンデンサを示す正面図で
ある。
FIG. 24 is a front view showing a conventional ceramic capacitor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、110〜140 セラミックコンデンサ
素子 2、3 金属端子 21、31 一端 22、32 折り返し部 23、33 端子部
1, 110-140 Ceramic capacitor element 2, 3 Metal terminal 21, 31 One end 22, 32 Folded part 23, 33 Terminal part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 板倉 俊二 東京都中央区日本橋1丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Shunji Itakura TDK Corporation, 1-13-1 Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo

Claims (29)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも1つのセラミックコンデンサ
素子と、少なくとも一対の金属端子とを含むセラミック
コンデンサであって、 前記セラミックコンデンサ素子は、相対する両側端面に
端子電極を有しており、 前記金属端子のそれぞれは、先端部が前記端子電極の一
つに接続され、中間部に折り返し部を有し、前記折り返
し部の後方に外部と接続される端子部を有するセラミッ
クコンデンサ。
1. A ceramic capacitor comprising at least one ceramic capacitor element and at least one pair of metal terminals, wherein said ceramic capacitor element has terminal electrodes on opposite side end faces, Each of the ceramic capacitors has a tip portion connected to one of the terminal electrodes, a folded portion at an intermediate portion, and a terminal portion connected to the outside behind the folded portion.
【請求項2】 請求項1に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記金属端子および前記端子電極は、樹脂を含有する導
電性接着剤によって接続されているセラミックコンデン
サ。
2. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the metal terminal and the terminal electrode are connected by a conductive adhesive containing a resin.
【請求項3】 請求項2に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記導電性接着剤は、導電成分として、粒径3μm以上
の銀粒子を含むセラミックコンデンサ。
3. The ceramic capacitor according to claim 2, wherein the conductive adhesive contains silver particles having a particle diameter of 3 μm or more as a conductive component.
【請求項4】 請求項2または3の何れかに記載された
セラミックコンデンサであって、 前記導電性接着剤の前記樹脂は、エポキシ樹脂系、ウレ
タン樹脂系、ポリイミド樹脂系またはアクリル樹脂系熱
硬化性樹脂から選択された少なくとも一種を主成分とす
るセラミックコンデンサ。
4. The ceramic capacitor according to claim 2, wherein said resin of said conductive adhesive is thermosetting epoxy resin, urethane resin, polyimide resin or acrylic resin. Ceramic capacitor mainly composed of at least one selected from conductive resins.
【請求項5】 請求項1に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記金属端子および前記端子電極は、はんだによって接
続されているセラミックコンデンサ。
5. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the metal terminal and the terminal electrode are connected by solder.
【請求項6】 請求項5に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記はんだは、融点が200℃以上400℃以下の範囲
にあるセラミックコンデンサ。
6. The ceramic capacitor according to claim 5, wherein the solder has a melting point in a range of 200 ° C. or more and 400 ° C. or less.
【請求項7】 請求項5または6の何れかに記載された
セラミックコンデンサであって、 前記金属端子は、少なくとも前記端子部の外部接続面と
は反対側の面に、はんだに対して非付着性を示す被覆膜
を有するセラミックコンデンサ。
7. The ceramic capacitor according to claim 5, wherein the metal terminal does not adhere to solder at least on a surface of the terminal portion opposite to an external connection surface. A ceramic capacitor having a coating film that exhibits properties.
【請求項8】 請求項7に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記被覆膜は、金属酸化膜で構成されているセラミック
コンデンサ。
8. The ceramic capacitor according to claim 7, wherein the coating film is made of a metal oxide film.
【請求項9】 請求項7に記載されたセラミックコンデ
ンサであって、 前記被覆膜は、ワックス、樹脂またはシリコンオイルか
ら選択された一種でなるセラミックコンデンサ。
9. The ceramic capacitor according to claim 7, wherein the coating film is made of one of wax, resin, and silicone oil.
【請求項10】 請求項1乃至9の何れかに記載された
セラミックコンデンサであって、 前記金属端子の前記折り返し部は、少なくとも一の曲げ
部を含み、 前記金属端子のそれぞれは、前記折り返し部の最初の曲
げ部と、前記先端部とのの間の部分が、前記端子電極に
接続されているセラミックコンデンサ。
10. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the folded part of the metal terminal includes at least one bent part, and each of the metal terminals is formed by the folded part. A portion between the first bent portion and the tip portion is connected to the terminal electrode.
【請求項11】 請求項10に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子の前記折り返し部は、2つの曲げ部を有す
るセラミックコンデンサ。
11. The ceramic capacitor according to claim 10, wherein the folded portion of the metal terminal has two bent portions.
【請求項12】 請求項11に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子の前記折り返し部は、第1の曲げ部と、第
2の曲げ部とを含み、 前記第1の曲げ部では、前記端子電極から遠ざかる方向
に折り曲げられ、第2の曲げ部では、前記第1の曲げ部
から間隔を隔て、前記端面と対向する方向に折り曲げら
れているセラミックコンデンサ。
12. The ceramic capacitor according to claim 11, wherein the folded portion of the metal terminal includes a first bent portion and a second bent portion, wherein the first bent portion includes a first bent portion and a second bent portion. A ceramic capacitor that is bent in a direction away from the terminal electrode, and is bent in a second bent portion in a direction facing the end face at an interval from the first bent portion.
【請求項13】 請求項10に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子の前記折り返し部は、一つの曲げ部で構成
され、鋭角に折り曲げられているセラミックコンデン
サ。
13. The ceramic capacitor according to claim 10, wherein the folded portion of the metal terminal is formed of a single bent portion and is bent at an acute angle.
【請求項14】 請求項13に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子は、前記折り曲げにより生じる2つの対向
部分間の最大隙間が300μm以下であるセラミックコ
ンデンサ。
14. The ceramic capacitor according to claim 13, wherein the metal terminal has a maximum gap between two opposing portions caused by the bending of 300 μm or less.
【請求項15】 請求項10に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子の前記折り返し部は、弧状に折り曲げられ
ているセラミックコンデンサ。
15. The ceramic capacitor according to claim 10, wherein the folded portion of the metal terminal is bent in an arc shape.
【請求項16】 請求項1乃至15の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記端子部は、前記セラミックコンデンサ素子の内、最
下層に位置するセラミックコンデンサ素子の下側に間隔
をおいて配置されているセラミックコンデンサ。
16. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the terminal is spaced below a ceramic capacitor element located at a lowermost layer among the ceramic capacitor elements. The ceramic capacitor that is placed.
【請求項17】 請求項1乃至15の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記金属端子は、前記端子部から、前記端子電極を取り
付けた取り付け部までの経路長が、前記端子部を基準に
した部品高さ寸法よりも大きいセラミックコンデンサ。
17. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein a path length of the metal terminal from the terminal portion to a mounting portion to which the terminal electrode is mounted is the terminal portion. Ceramic capacitors larger than the component height dimensions based on
【請求項18】 請求項1乃至15の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記折り返し部は、頂部が前記セラミックコンデンサ素
子の頂部よりも低い位置にあるセラミックコンデンサ。
18. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein a top of the folded portion is lower than a top of the ceramic capacitor element.
【請求項19】 請求項1乃至18の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記金属端子のそれぞれは、前記折り返し部と前記端子
部との間に曲げ部を有するセラミックコンデンサ。
19. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein each of said metal terminals has a bent portion between said folded portion and said terminal portion.
【請求項20】 請求項19に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子のそれぞれは、前記折り返し部と前記端子
部との間の前記曲げ部において、前記端子部が前記セラ
ミックコンデンサ素子に近付づく方向に折り曲げられて
いるセラミックコンデンサ。
20. The ceramic capacitor according to claim 19, wherein each of the metal terminals is such that the terminal portion is connected to the ceramic capacitor element in the bent portion between the folded portion and the terminal portion. A ceramic capacitor that is bent in the direction of approach.
【請求項21】 請求項1乃至20の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記金属端子のそれぞれは、先端部から前記折り返し部
の最初の曲げ部に至る部分に、別の曲げ部を有し、前記
別の曲げ部から前記最初の曲げ部に至る部分が前記側端
面と間隔を隔てて対向し、前記先端部と前記別の曲げ部
との間が前記端子電極に接続されているセラミックコン
デンサ。
21. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein each of the metal terminals has a different bent portion from a tip portion to a first bent portion of the folded portion. A portion from the another bent portion to the first bent portion faces the side end face at an interval, and a portion between the tip portion and the another bent portion is connected to the terminal electrode. Are ceramic capacitors.
【請求項22】 請求項1乃至21の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記セラミックコンデンサ素子は、複数個であり、順次
に積層され、前記端子電極が並列に接続されているセラ
ミックコンデンサ。
22. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the plurality of ceramic capacitor elements are stacked one after another, and the terminal electrodes are connected in parallel. Capacitors.
【請求項23】 請求項22に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記金属端子のそれぞれは、前記複数のセラミックコン
デンサ素子の少なくとも1つの前記端子電極に接続され
ているセラミックコンデンサ。
23. The ceramic capacitor according to claim 22, wherein each of said metal terminals is connected to at least one of said terminal electrodes of said plurality of ceramic capacitor elements.
【請求項24】 請求項23に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記先端部と前記別の曲げ部との間が、2つのセラミッ
クコンデンサ素子の端子電極間に配置され、かつ、両端
子電極に接続されているセラミックコンデンサ。
24. The ceramic capacitor according to claim 23, wherein a portion between the tip portion and the another bent portion is disposed between terminal electrodes of two ceramic capacitor elements, and both terminal electrodes are provided. Ceramic capacitor connected to.
【請求項25】 請求項23に記載されたセラミックコ
ンデンサであって、 前記先端部と前記別の曲げ部との間が、前記複数のセラ
ミックコンデンサ素子の内の最下層のセラミックコンデ
ンサ素子の端子電極を支えるように配置され、かつ、そ
の端子電極に接続されているセラミックコンデンサ。
25. The ceramic capacitor according to claim 23, wherein a terminal electrode of a lowermost ceramic capacitor element of the plurality of ceramic capacitor elements is provided between the tip portion and the another bent portion. A ceramic capacitor that is arranged to support and that is connected to its terminal electrode.
【請求項26】 請求項1乃至25の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記セラミックコンデンサは、セラミック誘電体基体の
内部に複数の内部電極を有しており、 前記内部電極は、一端が前記端子電極の一方に接続さ
れ、他端が前記端子電極の他方との間に間隔を有し、前
記間隔は前記他端から前記セラミック誘電体基体の厚み
方向に引かれた垂線が前記端子電極に交わらない寸法に
設定されているセラミックコンデンサ。
26. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the ceramic capacitor has a plurality of internal electrodes inside a ceramic dielectric substrate, wherein the internal electrodes are: One end is connected to one of the terminal electrodes, the other end has an interval between the other end of the terminal electrode, and the interval is a perpendicular line drawn from the other end in the thickness direction of the ceramic dielectric substrate. Ceramic capacitors set to dimensions that do not cross the terminal electrodes.
【請求項27】 請求項1乃至26の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記端子電極は、前記側端面のみに形成されるセラミッ
クコンデンサ。
27. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the terminal electrode is formed only on the side end surface.
【請求項28】 請求項1乃至27の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記金属端子は、少なくとも1つの抜き部を有し、 前記抜き部は、前記端子電極を取り付けた取り付け部に
向き合うセラミックコンデンサ。
28. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the metal terminal has at least one cutout, and the cutout is a mounting portion to which the terminal electrode is mounted. Facing ceramic capacitors.
【請求項29】 請求項1乃至28の何れかに記載され
たセラミックコンデンサであって、 前記端子部は、少なくとも1つの穴を有するセラミック
コンデンサ。
29. The ceramic capacitor according to claim 1, wherein the terminal has at least one hole.
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