JPH11251176A - Ceramic electronic component - Google Patents

Ceramic electronic component

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JPH11251176A
JPH11251176A JP10049214A JP4921498A JPH11251176A JP H11251176 A JPH11251176 A JP H11251176A JP 10049214 A JP10049214 A JP 10049214A JP 4921498 A JP4921498 A JP 4921498A JP H11251176 A JPH11251176 A JP H11251176A
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JP
Japan
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electronic component
solder
terminal
ceramic electronic
terminal member
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Application number
JP10049214A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaru Takahashi
優 高橋
Takuji Nakagawa
卓二 中川
Giichi Takagi
義一 高木
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPH11251176A publication Critical patent/JPH11251176A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components
    • H05K3/3426Leaded components characterised by the leads

Landscapes

  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent an on-board ceramic electronic component from being damaged by stress due to the expansion or shrinkage of a wiring board through the changes in temperature. SOLUTION: A chip-shaped ceramic electronic component 12 is provided with terminal electrodes 21 at both ends. Terminal members 13 constituted of metal plates are connected to the terminal electrodes 21. Surfaces 28 lacking affinity for solder are formed on parts faced inside and protruding from connecting parts of the terminal members 13 to the terminal electrodes 21. A solder 30 for joint is prevented from rising along the surfaces faced inside of the terminal members 13 up to the electronic component 12 due to action of the surfaces 28 lacking affinity for the solder. Accordingly, deformation or action of the terminal members 13 for reducing stress will not be blocked by the solder 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、セラミック電子
部品に関するもので、特に、たとえば積層セラミックコ
ンデンサのようにチップ状のセラミック電子部品本体を
備えるセラミック電子部品の端子部分の構造に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a ceramic electronic component, and more particularly to a structure of a terminal portion of a ceramic electronic component having a chip-shaped ceramic electronic component body such as a multilayer ceramic capacitor.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば、熱放散性に優れたアルミニウ
ムからなる配線基板上に積層セラミックコンデンサのよ
うなセラミック電子部品を実装すると、アルミニウム基
板とセラミック電子部品との熱膨張の差が大きいため、
温度の上昇および下降を繰り返す温度サイクルにおい
て、セラミック電子部品の破壊等を生じやすい、という
問題がある。特に、電源市場で求められている高容量の
Pb系セラミック誘電体を用いた積層セラミックコンデ
ンサの場合には、その抗折強度が比較的低いため、この
問題がより生じやすい。
2. Description of the Related Art For example, when a ceramic electronic component such as a multilayer ceramic capacitor is mounted on a wiring board made of aluminum having excellent heat dissipation, a difference in thermal expansion between the aluminum substrate and the ceramic electronic component is large.
In a temperature cycle in which the temperature is repeatedly increased and decreased, there is a problem that the ceramic electronic component is likely to be broken. In particular, in the case of a multilayer ceramic capacitor using a high-capacity Pb-based ceramic dielectric required in the power supply market, this problem is more likely to occur because its bending strength is relatively low.

【0003】上述の問題を解決するため、図5に示すよ
うな構造のセラミック電子部品1が提案され、実用に供
されている。図5に示したセラミック電子部品1は、た
とえば積層セラミックコンデンサを構成する、2つのチ
ップ状のセラミック電子部品本体2を備え、各電子部品
本体2の両端部には、端子電極3が形成されている。こ
れら電子部品本体2は、上下に積み重ねられ、接着剤
(図示せず。)により互いに接合されている。
In order to solve the above problem, a ceramic electronic component 1 having a structure as shown in FIG. 5 has been proposed and put to practical use. The ceramic electronic component 1 shown in FIG. 5 includes, for example, two chip-shaped ceramic electronic component main bodies 2 constituting a multilayer ceramic capacitor, and terminal electrodes 3 are formed at both ends of each electronic component main body 2. I have. These electronic component bodies 2 are stacked up and down, and are joined to each other by an adhesive (not shown).

【0004】2つの電子部品本体2の各々の端子電極3
に共通に端子部材4が取り付けられている。より詳細に
は、端子部材4は、金属板をもって構成される。端子部
材4の一方端部は、その基部に対して折り曲げられ、そ
れによって、想像線で示す配線基板5への接続端子部6
を形成している。端子部材4は、その接続端子部6が、
下方に位置する電子部品本体2の下方に向く側面7に対
向して位置するように、その基部において各端子電極3
に接続される。この接続には、図示しないが、半田また
は導電性接着剤のような導電性接合材が用いられる。
[0004] Each terminal electrode 3 of two electronic component bodies 2
The terminal member 4 is commonly attached to the terminals. More specifically, the terminal member 4 is configured by a metal plate. One end of the terminal member 4 is bent with respect to its base, whereby the connection terminal portion 6 to the wiring board 5 indicated by an imaginary line is formed.
Is formed. The terminal member 4 has a connection terminal portion 6
Each terminal electrode 3 is located at the base of the electronic component body 2 at the base thereof so as to face the downward side surface 7 of the electronic component body 2 located below.
Connected to. Although not shown, a conductive bonding material such as solder or a conductive adhesive is used for this connection.

【0005】このようなセラミック電子部品1は、各端
子部材4の接続端子部6が半田8によって配線基板5に
半田付けされることによって実装状態とされる。このよ
うな半田付けを可能とするため、端子部材4のための金
属板は、半田付け性の良い金属、または少なくとも表面
において半田になじむ半田親和面を与えるように処理さ
れた金属から構成される。
[0005] The ceramic electronic component 1 is mounted by soldering the connection terminal portions 6 of the terminal members 4 to the wiring board 5 with solder 8. In order to enable such soldering, the metal plate for the terminal member 4 is formed of a metal having good solderability, or at least a metal which has been treated so as to provide a solder affinity surface which is compatible with solder on the surface. .

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、端子部
材4を取り付けた目的は、これら端子部材4の変形また
は動きによって、温度変化による配線基板5の膨張・収
縮に基づいて生じる応力を吸収し、電子部品本体2が熱
衝撃により破壊されることを防止しようとすることにあ
るにもかかわらず、実装のために付与される半田8は、
このような目的に反する挙動を示すことがある。
However, the purpose of attaching the terminal members 4 is to absorb the stress generated due to the expansion and contraction of the wiring board 5 due to the temperature change due to the deformation or movement of the terminal members 4, and Despite trying to prevent the component body 2 from being destroyed by thermal shock, the solder 8 applied for mounting is
Such a behavior may be contrary to the purpose.

【0007】すなわち、半田8は、図5に示したように
端子部材4の外側に向く面に付与されるだけでなく、端
子部材4における端子電極3への接続部分から張り出し
た部分であって内側に向く面上にも付与され、この後者
の半田8は半田付け性の良い表面を有する端子部材4に
沿って上昇し、端子部品本体2にまで届くことがある。
That is, the solder 8 is not only applied to the surface of the terminal member 4 facing the outside as shown in FIG. 5, but also the portion of the terminal member 4 which protrudes from the connection portion to the terminal electrode 3. The solder 8 is also provided on the surface facing inward, and the latter solder 8 rises along the terminal member 4 having a surface having good solderability, and may reach the terminal component body 2.

【0008】そのため、半田8が、端子電極3と配線基
板5とを直接接続し、温度変化による配線基板5の膨張
・収縮に基づいて生じる応力を吸収するための端子部材
4の変形または動きが阻害される状態となり、電子部品
本体2が熱衝撃により破壊されることを防止しようとす
る端子部材4を設けた目的が適正に達成されないことが
ある。
For this reason, the solder 8 directly connects the terminal electrode 3 and the wiring board 5, and the deformation or movement of the terminal member 4 for absorbing the stress caused by the expansion and contraction of the wiring board 5 due to the temperature change. In this case, the purpose of providing the terminal member 4 for preventing the electronic component body 2 from being broken by thermal shock may not be properly achieved.

【0009】また、半田8が、電子部品本体2に対して
熱衝撃を与え、これによって、電子部品本体2が破壊さ
れたり、その時点では破壊に至らなくても、後で及ぼさ
れる温度変化によって破壊をもたらす可能性のある応力
を電子部品本体2に与えてしまうことがある。これらの
問題は、特に、熱膨張係数の大きいアルミニウム基板を
配線基板5として用いた場合や、Pb系セラミック誘電
体を用いた積層セラミックコンデンサのように抗折強度
の比較的低い電子部品本体2を備える場合において、よ
り深刻である。
Further, the solder 8 gives a thermal shock to the electronic component main body 2, whereby the electronic component main body 2 is destroyed. In some cases, stress that may cause destruction may be applied to the electronic component body 2. These problems are particularly caused by the use of an aluminum substrate having a large thermal expansion coefficient as the wiring board 5 or the use of the electronic component main body 2 having a relatively low bending strength such as a multilayer ceramic capacitor using a Pb-based ceramic dielectric. It is more serious when preparing.

【0010】上述した問題を解決するためには、端子部
材4における端子電極3への接続部分から張り出した部
分の長さをより長くすることが有効である。しかしなが
ら、このような解決手段を採用したときには、電子部品
本体2が横からの力9を受けたとき、端子部材4が容易
に変形してしまうという問題に遭遇する。このように端
子部材4が変形したときには、端子部材4が配線基板5
上の不所望な部分に接触したり近づいたり、あるいは他
の電子部品に接触したり近づいたりして、電気的特性の
変動がもたらされたり、ショート不良が発生したりす
る。
In order to solve the above-mentioned problem, it is effective to increase the length of the portion of the terminal member 4 that protrudes from the portion connected to the terminal electrode 3. However, when such a solution is adopted, a problem is encountered that the terminal member 4 is easily deformed when the electronic component body 2 receives the force 9 from the side. When the terminal member 4 is deformed in this way, the terminal member 4
Contacting or approaching the above undesired portion, or contacting or approaching another electronic component, causes variation in electrical characteristics or short-circuit failure.

【0011】また、端子部材4の張り出す部分の長さが
長くされると、実装高さが高くなり、体積実装密度が低
下するという問題も引き起こす。そこで、この発明の目
的は、上述したような問題を解決し得るセラミック電子
部品を提供しようとすることである。
Further, when the length of the protruding portion of the terminal member 4 is increased, the mounting height is increased, and a problem that the volume mounting density is reduced is caused. Accordingly, an object of the present invention is to provide a ceramic electronic component that can solve the above-described problems.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明は、相対向する
2つの端面およびこれら2つの端面間を連結する側面を
有し、かつ少なくとも各端面上に端子電極が形成され
た、チップ状のセラミック電子部品本体と、金属板をも
って構成され、かつその一方端部がその基部に対して折
り曲げられて配線基板への接続端子部を形成し、この接
続端子部が電子部品本体の側面に対向して位置するよう
に基部において各端子電極に接続された、端子部材とを
備える、セラミック電子部品に向けられるものであっ
て、上述した技術的課題を解決するため、少なくとも接
続端子部における側面に対向する面には、半田になじま
ない半田非親和面が形成されていることを特徴としてい
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to a chip-shaped ceramic having two opposite end faces and a side face connecting the two end faces, and having at least a terminal electrode formed on each end face. An electronic component body and a metal plate, one end of which is bent with respect to the base to form a connection terminal portion to the wiring board, and the connection terminal portion faces the side surface of the electronic component body. A terminal member connected to each terminal electrode at a base portion so as to be positioned, and is directed to a ceramic electronic component, and is opposed to at least a side surface of the connection terminal portion in order to solve the technical problem described above. The surface is characterized in that a solder non-affinity surface that is not compatible with solder is formed.

【0013】この発明による好ましい実施形態におい
て、上述した半田非親和面を与えるため、次のような構
成が採用される。すなわち、端子部材を構成する金属板
は、半田付け性の悪い表面を与える金属からなり、半田
非親和面は、この金属板の表面自身によって与えられ、
少なくとも端子部材における端子電極への接続部分から
張り出した部分であって外側に向く面には、半田になじ
む半田親和面を与えるため、半田親和層が形成される。
半田親和層は、たとえば、半田、Ag、Au、Sn等の
金属をめっき等により金属板の表面に付与することによ
って形成されることができる。
In a preferred embodiment according to the present invention, the following configuration is employed to provide the above-mentioned solder non-affinity surface. In other words, the metal plate constituting the terminal member is made of a metal that provides a surface having poor solderability, and the non-solder compatible surface is provided by the surface itself of the metal plate.
A solder-affinity layer is formed on at least a portion of the terminal member that protrudes from a portion connected to the terminal electrode and faces outward, in order to provide a solder-affinity surface that is compatible with solder.
The solder affinity layer can be formed, for example, by applying a metal such as solder, Ag, Au, or Sn to the surface of the metal plate by plating or the like.

【0014】この発明において、半田非親和面は、端子
部材における端子電極への接続部分から張り出した部分
であって内側に向く面の全面またはほぼ全面に形成され
ていることが好ましい。また、この発明において、端子
部材は、電子部品本体における接続端子部に対向する側
面を受けるため、金属板の一部を折り曲げることによっ
て形成された棚状部分を備えていてもよい。
[0014] In the present invention, it is preferable that the non-solder compatible surface of the terminal is a portion of the terminal member protruding from a portion connected to the terminal electrode and is formed on the entire surface or almost the entire surface facing inward. In the present invention, the terminal member may include a shelf-like portion formed by bending a part of the metal plate to receive the side surface of the electronic component body facing the connection terminal portion.

【0015】上述のように、棚状部分を備える場合、こ
の棚状部分における接続端子部に対向する面にも半田非
親和面が形成されることが好ましい。また、この発明に
おいて、電子部品本体における接続端子部に対向する側
面上には、端子電極が形成されないようにすることが好
ましい。また、この発明に係るセラミック電子部品は、
複数の電子部品本体を備え、これら複数の電子部品本体
の各々の端子電極に端子部材が共通に接続されている構
造を有していてもよい。
As described above, when a shelf portion is provided, it is preferable that the surface of the shelf portion facing the connection terminal is also formed with a solder non-affinity surface. Further, in the present invention, it is preferable that no terminal electrode is formed on the side surface of the electronic component body facing the connection terminal portion. Further, the ceramic electronic component according to the present invention,
A structure may be provided in which a plurality of electronic component bodies are provided, and a terminal member is commonly connected to each terminal electrode of the plurality of electronic component bodies.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図1は、この発明の一実施形態に
よるセラミック電子部品11の外観を示す斜視図であ
る。このセラミック電子部品11は、たとえば積層セラ
ミックコンデンサを構成する、2つのチップ状のセラミ
ック電子部品本体12と、金属板をもって構成された2
つの端子部材13とを備えている。
FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of a ceramic electronic component 11 according to an embodiment of the present invention. The ceramic electronic component 11 includes, for example, two chip-shaped ceramic electronic component main bodies 12 constituting a multilayer ceramic capacitor and a metal plate.
And two terminal members 13.

【0017】図2は、一方の端子部材13を単独で示す
斜視図であり、図3は、端子部材13を得るために用意
される金属板14を示す平面図である。図4は、図1に
示した一方の電子部品本体12を単独で示す斜視図であ
る。特に図4によく示されているように、電子部品本体
12は、相対向する2つの端面15および16ならびに
これら端面15および16間を連結する4つの側面1
7、18、19および20を有している。また、電子部
品本体12の端面15および16上には、ハッチングを
施すことによりその形成領域を示すように、端子電極2
1が形成されている。端子電極21は、スパッタリン
グ、蒸着、めっき等の薄膜形成技術により形成されて
も、導電性ペーストを付与し焼き付ける厚膜形成技術に
より形成されても、さらには、厚膜形成技術により形成
された厚膜上にめっきを施すことによって形成されても
よい。
FIG. 2 is a perspective view showing one terminal member 13 alone, and FIG. 3 is a plan view showing a metal plate 14 prepared for obtaining the terminal member 13. FIG. 4 is a perspective view showing one electronic component main body 12 shown in FIG. 1 alone. As particularly shown in FIG. 4, the electronic component body 12 has two end faces 15 and 16 facing each other and four side faces 1 connecting the end faces 15 and 16.
7, 18, 19 and 20. On the end surfaces 15 and 16 of the electronic component body 12, the terminal electrodes 2 are formed by hatching so as to indicate the formation regions.
1 is formed. The terminal electrode 21 may be formed by a thin-film forming technique such as sputtering, vapor deposition, or plating, may be formed by a thick-film forming technique of applying and baking a conductive paste, or may be formed by a thick-film forming technique. It may be formed by plating the film.

【0018】この実施形態では、端子電極21は、端面
15および16上だけでなく、端面15および16に隣
接しながら互いに対向する側面18および20上にまで
延びるように形成されるが、同じく端面15および16
に隣接しながら互いに対向する側面17および19上に
までは延びないように形成されている。端子電極21
は、少なくとも端面15および16上に形成されれば足
り、たとえば、端面15および16上にのみ形成されて
いてもよい。
In this embodiment, the terminal electrode 21 is formed so as to extend not only on the end faces 15 and 16 but also on the side faces 18 and 20 which are adjacent to the end faces 15 and 16 and face each other. 15 and 16
Are formed so as not to extend to the side surfaces 17 and 19 facing each other while being adjacent to the. Terminal electrode 21
May be formed at least on the end faces 15 and 16, for example, may be formed only on the end faces 15 and 16.

【0019】2つの電子部品本体12は、図1に示すよ
うに、同じ姿勢で配向されながら上下に積み重ねられ、
たとえば接着剤(図示せず。)により接合されている。
端子部材13は、前述したように、金属板14をもって
構成される。端子部材13は、金属板14の一方端部を
図3において破線で示した折り曲げ線22を介して基部
に対して折り曲げることによって、配線基板23(図1
において想像線で示す。)への接続端子部24を形成し
ている。
As shown in FIG. 1, the two electronic component bodies 12 are vertically stacked while being oriented in the same posture.
For example, they are joined by an adhesive (not shown).
The terminal member 13 is configured by the metal plate 14 as described above. The terminal member 13 is formed by bending one end of the metal plate 14 with respect to the base via a bending line 22 shown by a broken line in FIG.
Is shown with imaginary lines. ) Is formed.

【0020】図1に示すセラミック電子部品11を得る
ため、端子部材13は、接続端子部24が下方の電子部
品本体12の下方に向く側面19に対向して位置するよ
うに基部において各端子電極21に接続される。この接
続には、たとえば、半田または導電性接着剤のような導
電性接合材が用いられる。導電性接合材として半田が用
いられる場合、端子部材13を取り付けるため、半田浸
漬法や半田リフロー法を採用することができる。このよ
うにして、2つの電子部品本体12の各々の端子電極2
1に端子部材13が共通に接続される。
In order to obtain the ceramic electronic component 11 shown in FIG. 1, the terminal member 13 is provided with each terminal electrode at the base such that the connection terminal portion 24 is located facing the lower side surface 19 of the lower electronic component body 12. 21. For this connection, for example, a conductive bonding material such as solder or a conductive adhesive is used. When solder is used as the conductive bonding material, a solder immersion method or a solder reflow method can be employed to attach the terminal member 13. Thus, each terminal electrode 2 of the two electronic component bodies 12
1 is connected to the terminal member 13 in common.

【0021】図3に示すように端子部材13となる金属
板14の各側部には、L字状に延びる切り込み25が設
けられる。これら切り込み25によって囲まれた部分
は、破線で示す折り曲げ線26を介して折り曲げられ、
図2によく示されているような棚状部分27が形成され
る。これら棚状部分27は、図1に示すように、下方の
電子部品本体12における接続端子部24に対向する側
面19を受けるためのもので、これによって、電子部品
本体12と端子部材13との位置合わせが容易になる。
As shown in FIG. 3, an L-shaped notch 25 is provided on each side of the metal plate 14 serving as the terminal member 13. The portion surrounded by these cuts 25 is bent through a bending line 26 shown by a broken line,
A shelf 27 as shown in FIG. 2 is formed. As shown in FIG. 1, these shelf portions 27 are for receiving the side surfaces 19 of the lower electronic component body 12 facing the connection terminals 24, whereby the electronic component body 12 and the terminal member 13 are connected to each other. Positioning is facilitated.

【0022】図2および図3において、ハッチングを施
すことによって、半田になじまない半田非親和面28お
よび29が形成された領域を示している。半田非親和面
28は、少なくとも接続端子部24における電子部品本
体12の側面19に対向する面に形成されていればよい
が、この実施形態では、端子部材13における端子電極
21への接続部分から張り出した部分であって内側に向
く面の全面またはほぼ全面に形成されている。また、棚
状部分27における接続端子部24に対向する面にも半
田非親和面29が形成されると、なお好ましい。
FIGS. 2 and 3 show the regions where the solder non-affinity surfaces 28 and 29 which are not compatible with solder are formed by hatching. The solder non-affinity surface 28 may be formed at least on the surface of the connection terminal portion 24 that faces the side surface 19 of the electronic component body 12. In this embodiment, the solder non-affinity surface 28 extends from the connection portion of the terminal member 13 to the terminal electrode 21. The overhanging portion is formed on the entire or almost entire surface facing inward. Further, it is more preferable that the solder non-affinity surface 29 is also formed on the surface of the shelf portion 27 facing the connection terminal portion 24.

【0023】上述した半田非親和面28および29を与
えるため、この実施形態では、次のような方法が採用さ
れている。すなわち、金属板14は、半田付け性の悪い
表面を与える金属から構成される。たとえば、ステンレ
ス鋼、ニッケル−鉄合金等の金属が、金属板14の材料
として用いられる。そして、半田非親和面28および2
9は、この金属板14の表面自身によって与えられる。
他方、金属板14のそれ以外の表面は、半田になじむ半
田親和面とされ、この半田親和面を与えるため、たとえ
ば、半田引き、あるいは半田、銀、金、錫等のめっきに
よる半田親和層が形成される。より具体的な実施形態で
は、半田親和層は、端子部材13における端子電極21
への接続部分から張り出した部分であって外側に向く面
に形成されていれば足り、また、端子部材13と端子電
極21とが半田付けされる場合には、半田親和層は、端
子部材13における端子電極21との接続部分にも形成
される。
In order to provide the above-mentioned solder non-affinity surfaces 28 and 29, this embodiment employs the following method. That is, the metal plate 14 is made of a metal that provides a surface with poor solderability. For example, a metal such as stainless steel or a nickel-iron alloy is used as the material of the metal plate 14. Then, the solder non-affinity surfaces 28 and 2
9 is given by the surface of the metal plate 14 itself.
On the other hand, the other surface of the metal plate 14 is a solder-affinitive surface that is compatible with solder, and in order to provide this solder-affinitive surface, for example, a solder-affinity layer formed by soldering or plating with solder, silver, gold, tin, etc. It is formed. In a more specific embodiment, the solder affinity layer is provided with the terminal electrode 21 on the terminal member 13.
If the terminal member 13 and the terminal electrode 21 are to be soldered, it is sufficient if the terminal member 13 and the terminal electrode 21 are soldered. Are also formed at the connection portion with the terminal electrode 21 at

【0024】上述のような半田非親和面28および29
を与えるための方法に代えて、次のような方法が採用さ
れてもよい。すなわち、金属板14を、半田付け性の良
好な表面を与える金属から構成する。半田非親和面28
および29は、この金属板14の表面を半田になじまな
いように処理することによって形成され、半田親和面
は、この金属板14の表面自身によって与えられる。半
田非親和面28および29とするための上述した処理と
しては、より具体的には樹脂等を含む材料からなる半田
非親和層を形成したり、金属板14の表面を酸化すると
いった化学的処理を施したりする方法がある。なお、こ
の場合であっても、金属板14の、半田親和面を形成す
べき面は、さらなる半田付け性の向上のため、たとえ
ば、半田引き、あるいは半田、銀、金、錫等のめっきを
施してもよい。
The solder non-affinity surfaces 28 and 29 as described above
The following method may be employed instead of the method for providing That is, the metal plate 14 is made of a metal that provides a surface with good solderability. Solder non-affinity surface 28
And 29 are formed by treating the surface of the metal plate 14 so as not to fit into the solder, and the solder affinity surface is provided by the surface of the metal plate 14 itself. More specifically, as the above-described treatment for forming the solder non-affinity surfaces 28 and 29, a chemical treatment such as forming a solder non-affinity layer made of a material containing a resin or the like or oxidizing the surface of the metal plate 14 is performed. There is a method of giving. Even in this case, the surface of the metal plate 14 on which the solder affinity surface is to be formed is, for example, solder-plated or plated with solder, silver, gold, tin, or the like to further improve solderability. May be applied.

【0025】このように構成されたセラミック電子部品
11は、図1に示すように、配線基板23上に実装され
る。この実装にあたり付与される半田30は、端子部材
13の接続端子部24の外面側に付与され、実装を達成
する。他方、端子部材13の内面側には、半田非親和面
28および29が形成されているので、半田30がこの
部分に回り込むことはない。したがって、半田30が端
子部材13の内面に沿って上昇し、電子部品本体12に
まで届くことも防止できる。したがって、半田30が電
子部品本体12に接触することによって、電子部品本体
12が熱衝撃を受け損傷されることを防止できるととも
に、半田30が配線基板23と電子部品本体12とを直
接接続し、そのため、配線基板23から及ぼされる応力
を緩和するための端子部材13の変形または動きを阻害
することが防止される。
The ceramic electronic component 11 configured as described above is mounted on a wiring board 23 as shown in FIG. The solder 30 applied in this mounting is applied to the outer surface side of the connection terminal portion 24 of the terminal member 13 to achieve the mounting. On the other hand, since the solder non-affinity surfaces 28 and 29 are formed on the inner surface side of the terminal member 13, the solder 30 does not go around this portion. Therefore, it is possible to prevent the solder 30 from rising along the inner surface of the terminal member 13 and reaching the electronic component body 12. Therefore, it is possible to prevent the electronic component main body 12 from being damaged by thermal shock due to the contact of the solder 30 with the electronic component main body 12, and the solder 30 directly connects the wiring board 23 and the electronic component main body 12, Therefore, it is possible to prevent the deformation or movement of the terminal member 13 for alleviating the stress applied from the wiring board 23 from being hindered.

【0026】上述したような効果は、半田非親和面28
が少なくとも接続端子部24における側面19に対向す
る面にさえ形成されていれば達成可能であるが、この実
施形態のように、半田非親和面28が端子部材13にお
ける端子電極21への接続部分から張り出した部分であ
って内側に向く面の全面またはほぼ全面に形成されてい
たり、半田非親和面29が棚状部分27における接続端
子部24に対向する面にも形成されていたり、端子電極
21が電子部品本体12における接続端子部24に対向
する側面19上には形成されないようにされていたりす
ると、このような効果の達成のより完璧化を図ることが
できる。
The effect as described above is obtained by using the solder non-affinity surface 28.
Can be achieved as long as it is formed on at least the surface of the connection terminal portion 24 facing the side surface 19. However, as in this embodiment, the solder non-affinity surface 28 is connected to the terminal member 13 by the connection portion to the terminal electrode 21. A portion that protrudes from the surface and is formed on the entire surface or almost the entire surface facing inward, a solder non-affinity surface 29 is also formed on a surface of the shelf 27 that faces the connection terminal portion 24, or a terminal electrode If the electronic component 21 is not formed on the side surface 19 of the electronic component body 12 facing the connection terminal portion 24, it is possible to achieve more complete achievement of such an effect.

【0027】上述のように、半田30の電子部品本体1
2に向かっての上昇を有利に防止できるので、配線基板
23上での電子部品本体12の高さを、問題なく低くす
ることができる。したがって、セラミック電子部品11
の体積実装密度を高めることができるとともに、電子部
品本体12の横からの力31に対しても端子部材13が
容易には変形しないようにすることができる。図1に示
した配線基板23と電子部品本体12の下方の側面19
との間の距離aは、好ましくは、1mm以下で、より好
ましくは0.5mm以下とされる。
As described above, the electronic component body 1 of the solder 30
2 can be advantageously prevented, so that the height of the electronic component body 12 on the wiring board 23 can be reduced without any problem. Therefore, the ceramic electronic component 11
And the terminal member 13 can be prevented from being easily deformed even by a force 31 from the side of the electronic component body 12. Wiring board 23 and lower side surface 19 of electronic component body 12 shown in FIG.
Is preferably 1 mm or less, more preferably 0.5 mm or less.

【0028】以下に、この発明の効果を確認するために
実施した実験例について説明する。この実験例では、図
1に示すようなセラミック電子部品11を作製した。図
4に示すように、対向する端面15および16ならびに
側面18および20に端子電極21が形成され、長手方
向寸法が5.7mm、幅方向寸法が5.0mm、厚み方
向寸法が2.5mmとされた積層セラミックコンデンサ
となるべき2つのセラミック電子部品本体12を用意し
た。これら2つの電子部品本体12を、エポキシ系接着
剤を介して重ね合わせて接合した。
An experimental example conducted to confirm the effects of the present invention will be described below. In this experimental example, a ceramic electronic component 11 as shown in FIG. 1 was manufactured. As shown in FIG. 4, terminal electrodes 21 are formed on opposite end surfaces 15 and 16 and side surfaces 18 and 20, and have a longitudinal dimension of 5.7 mm, a width dimension of 5.0 mm, and a thickness dimension of 2.5 mm. And two ceramic electronic component bodies 12 to be the laminated ceramic capacitors thus prepared. These two electronic component bodies 12 were overlapped and joined via an epoxy adhesive.

【0029】他方、厚み0.1mm、幅5.0mmの金
属板14から図2に示すような形状の端子部材13を作
製した。なお、この端子部材13に関して、金属板14
としてはニッケル−鉄合金を主材料とするものを用い、
この発明に係る実施例では、端子部材13の内側に向く
面には、半田非親和面28を除いて半田めっきし、外側
に向く面には、半田非親和面28の裏側にあたる部分に
のみ半田めっきした。他方、比較例では、端子部材13
の内側に向く面には、全面に半田めっきし、外側に向く
面には、実施例と同様、半田非親和面28の裏側にあた
る部分にのみ半田めっきした。
On the other hand, a terminal member 13 having a shape as shown in FIG. 2 was prepared from a metal plate 14 having a thickness of 0.1 mm and a width of 5.0 mm. In addition, regarding the terminal member 13, the metal plate 14
As the one using nickel-iron alloy as the main material,
In the embodiment according to the present invention, the surface facing the inside of the terminal member 13 is plated with solder except for the solder non-affinity surface 28, and the surface facing the outside is soldered only to the portion corresponding to the back side of the solder non-affinity surface 28. Plated. On the other hand, in the comparative example,
The surface facing inward was solder-plated on the entire surface, and the surface facing outward was solder-plated only on the back side of the solder non-affinity surface 28 as in the example.

【0030】次いで、端子部材13を電子部品本体12
の端子電極21に半田を用いて接続し、試料となる各セ
ラミック電子部品11を作製した後、各セラミック電子
部品11を、アルミニウム基板で構成される配線基板2
3上に半田リフロー法によって半田付けした。このと
き、実施例および比較例の各々について、配線基板23
と電子部品本体12の側面19との間の距離aが、それ
ぞれ、0.1mm(実施例1および比較例1)、0.2
mm(実施例2、比較例2)、0.3mm(実施例3、
比較例3)、0.4mm(実施例4、比較例4)とな
る、4種類の試料を作製した。
Next, the terminal member 13 is connected to the electronic component body 12.
After connecting each of the ceramic electronic components 11 as a sample to the wiring substrate 2 made of an aluminum substrate,
3 was soldered by a solder reflow method. At this time, for each of the example and the comparative example,
And the side a between the side surface 19 of the electronic component body 12 are 0.1 mm (Example 1 and Comparative Example 1) and 0.2, respectively.
mm (Example 2, Comparative Example 2), 0.3 mm (Example 3,
Four types of samples having a thickness of 0.4 mm (Example 4 and Comparative Example 4) were produced.

【0031】このようにして得られた実施例1、2、3
および4、ならびに比較例1、2、3および4に係る各
試料について、熱衝撃サイクル試験およびせん断強度試
験を実施した。熱衝撃サイクル試験においては、−25
℃と150℃との熱衝撃サイクルを1000回付与する
ことによって、特性が所定以上に劣化した試料の割合を
不良率として求め、せん断強度試験においては、図1に
おいて、矢印31で示した横方向の力を加えたときの強
度が所定値以下を示した試料の割合を不良率として求め
た。これらの結果が、以下の表1に示されている。
Examples 1, 2 and 3 thus obtained
And 4, and each of the samples according to Comparative Examples 1, 2, 3, and 4, were subjected to a thermal shock cycle test and a shear strength test. In the thermal shock cycle test, -25
By applying a thermal shock cycle of 1000 ° C. and 150 ° C. 1000 times, the percentage of the sample whose properties have deteriorated to a predetermined value or more is determined as a defective rate. In the shear strength test, the horizontal direction indicated by an arrow 31 in FIG. The percentage of the samples in which the strength when the force was applied was less than a predetermined value was determined as the defective rate. The results are shown in Table 1 below.

【0032】[0032]

【表1】 [Table 1]

【0033】表1からわかるように、比較例では、端子
部材13の内側に向く面に沿って実装のための半田30
が上昇することから、距離aが短くなるに従って、熱衝
撃サイクル試験での不良率が高くなっているが、この発
明に係る実施例では、端子部材13の内側に向く面に沿
う半田30の上昇が防止されるので、距離aが実施例1
のように0.1mmにまで短くされても、熱衝撃サイク
ル試験において不良は発生しなかった。また、せん断強
度試験では、実施例と比較例との間で有意差は認められ
なかった。
As can be seen from Table 1, in the comparative example, the solder 30 for mounting is arranged along the surface facing the inside of the terminal member 13.
As the distance a becomes shorter, the failure rate in the thermal shock cycle test becomes higher. However, in the embodiment according to the present invention, the solder 30 rises along the surface facing the inside of the terminal member 13. Is prevented, the distance a is reduced to
No defect occurred in the thermal shock cycle test even if the length was reduced to 0.1 mm as in the above. In the shear strength test, no significant difference was observed between the example and the comparative example.

【0034】以上、この発明を特定的な実施形態に関連
して説明したが、この発明の範囲内において、その他、
種々の変形例が可能である。たとえば、図1に示したセ
ラミック電子部品11は、2つの電子部品本体12を備
えていたが、電子部品本体の数は任意に変更でき、3つ
以上であっても、単に1つであってもよい。
Although the present invention has been described with reference to the specific embodiments, other within the scope of the present invention,
Various modifications are possible. For example, the ceramic electronic component 11 shown in FIG. 1 has two electronic component main bodies 12, but the number of electronic component main bodies can be arbitrarily changed, and even if it is three or more, it is only one. Is also good.

【0035】また、電子部品本体12は、積層セラミッ
クコンデンサを構成するものであったが、他の機能を有
するセラミック電子部品のための電子部品本体を構成す
るものであってもよい。また、図示の電子部品本体12
は、少なくとも両端面15および16上に端子電極21
を形成するものであったが、少なくとも両端面に端子電
極を形成している限り、中間部等の他の部分にさらに端
子電極を形成するものでもよい。
Although the electronic component body 12 constitutes a multilayer ceramic capacitor, the electronic component body 12 may constitute an electronic component body for a ceramic electronic component having other functions. Also, the illustrated electronic component body 12
Has terminal electrodes 21 on at least both end faces 15 and 16.
However, as long as the terminal electrodes are formed on at least both end surfaces, a terminal electrode may be further formed on another portion such as an intermediate portion.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、少な
くとも各端面上に端子電極が形成されたチップ状のセラ
ミック電子部品本体を備えるとともに、配線基板上に実
装された状態において、このような電子部品本体の損傷
をもたらす、温度変化による配線基板の膨張および収縮
に基づく応力の電子部品本体への伝達を緩和するため、
金属板をもって構成され、かつその一方端部がその基部
に対して折り曲げられて配線基板への接続端子部を形成
し、この接続端子部が電子部品本体の側面に対向して位
置するように基部において各端子電極に接続された、端
子部材を備える、そのようなセラミック電子部品におい
て、少なくとも接続端子部における電子部品本体の側面
に対向する面には、半田になじまない半田非親和面が形
成されているので、実装のために付与される半田が電子
部品本体にまで届くように上昇することが防止され、こ
のような半田によって、配線基板と電子部品本体とを直
接接続したり、上述の応力の伝達を緩和するための端子
部材の変形または動きを阻害したりすることが防止され
る。したがって、端子部材を設けた本来の意義が減殺さ
れることがない。
As described above, according to the present invention, a chip-shaped ceramic electronic component body having terminal electrodes formed at least on each end face is provided, and the chip-shaped ceramic electronic component body is mounted on a wiring board. In order to alleviate the transmission of stress to the electronic component body based on the expansion and contraction of the wiring board due to temperature changes that cause damage to the electronic component body,
One end of the base is bent with respect to the base to form a connection terminal to the wiring board, and the base is positioned so as to face the side surface of the electronic component body. In such a ceramic electronic component having a terminal member connected to each terminal electrode, at least the surface of the connection terminal portion facing the side surface of the electronic component body has a solder-incompatible surface that does not fit into the solder. Therefore, the solder applied for mounting is prevented from rising so as to reach the electronic component main body, and the solder directly connects the wiring board and the electronic component main body or prevents the above-described stress. To prevent deformation or movement of the terminal member for alleviating the transmission of power. Therefore, the original significance of providing the terminal member is not diminished.

【0037】また、上述のように、実装のための半田が
端子部材に沿って不所望にも上昇することが防止される
ので、このような半田の上昇に煩わされることなく、端
子部材における端子電極への接続部分から張り出した部
分の長さをより短くすることができる。そのため、電子
部品本体に対して横方向の力が加わったときの端子部材
の不所望な変形を防止できる程度にその張り出した部分
の長さを短くでき、また、セラミック電子部品の実装高
さをより低く、かつ体積実装密度をより向上させること
ができる。
As described above, since the solder for mounting is prevented from undesirably rising along the terminal member, the terminal in the terminal member is not bothered by such rising of the solder. The length of the portion protruding from the connection portion to the electrode can be further reduced. Therefore, the length of the overhanging portion can be reduced to the extent that undesired deformation of the terminal member can be prevented when a lateral force is applied to the electronic component body, and the mounting height of the ceramic electronic component can be reduced. It can be lower and the volume mounting density can be further improved.

【0038】この発明において、端子部材を構成する金
属板が、半田付け性の悪い表面を与える金属からなり、
半田非親和面が、この金属板の表面自身によって与えら
れ、少なくとも端子部材における端子電極への接続部分
から張り出した部分であって、外側に向く面に、半田に
なじむ半田親和面を与えるために、半田親和層が形成さ
れていると、半田非親和面を形成することが容易である
とともに、実装にあたって、半田親和層による良好な半
田付け性を確保することができる。
In the present invention, the metal plate constituting the terminal member is made of a metal giving a surface having poor solderability,
In order to provide a solder affinity surface which is provided by the surface itself of the metal plate and which at least protrudes from the connection portion to the terminal electrode in the terminal member and which faces outward, the surface having no affinity for solder is provided. When the solder affinity layer is formed, it is easy to form a solder non-affinity surface, and at the time of mounting, good solderability by the solder affinity layer can be secured.

【0039】また、この発明において、半田非親和面
が、端子部材における端子電極への接続部分から張り出
した部分であって内側に向く面の全面またはほぼ全面に
形成されていると、上述したような半田の不所望な上昇
を防止する効果がより高められる。また、この発明にお
いて、端子部材が、電子部品本体における接続端子部に
対向する側面を受けるため、金属板の一部を折り曲げる
ことによって形成された棚状部分を備えていると、電子
部品本体と端子部材との適正な位置合わせが容易になる
とともに、このような位置合わせの容易さから上述した
ような半田非親和面を所望の領域に部分的に形成するこ
とが容易になる。
Further, in the present invention, as described above, the solder non-affinity surface is formed on the entire surface or almost the entire inward surface of the terminal member that protrudes from the connection portion to the terminal electrode. The effect of preventing undesired rise of solder is further enhanced. Further, in the present invention, when the terminal member has a shelf-like portion formed by bending a part of the metal plate to receive the side surface facing the connection terminal portion in the electronic component body, Appropriate alignment with the terminal member is facilitated, and such ease of alignment facilitates partial formation of the above-mentioned solder non-affinity surface in a desired region.

【0040】また、上述したように棚状部分を備える場
合、半田非親和面が、この棚状部分における接続端子部
に対向する面にも形成されると、端子部材に沿って半田
が不所望にも上昇することを防止する効果をより完璧に
達成することができる。また、この発明において、端子
電極が、電子部品本体における接続端子部に対向する側
面上には形成されないようにすると、この場合にも、半
田の不所望な上昇を防止する効果のより完璧化を図るこ
とができる。
In the case where the shelf portion is provided as described above, if the solder non-affinity surface is also formed on the surface of the shelf portion facing the connection terminal portion, undesired solder is not formed along the terminal member. The effect of preventing the rise can be more completely achieved. Further, in the present invention, when the terminal electrode is not formed on the side surface of the electronic component body facing the connection terminal portion, in this case, the effect of preventing the undesired rise of the solder is more perfected. Can be planned.

【0041】また、この発明に係るセラミック電子部品
が複数のセラミック電子部品本体を備え、これら複数の
電子部品本体の各々の端子電極に端子部材が共通に接続
されていると、端子部材によって、これら電子部品本体
相互を電気的に接続しかつ機械的に固定する機能も果た
させることができる。
Further, when the ceramic electronic component according to the present invention includes a plurality of ceramic electronic component bodies, and the terminal members are commonly connected to the respective terminal electrodes of the plurality of electronic component bodies, the terminal members may A function of electrically connecting the electronic component bodies to each other and mechanically fixing them can also be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態によるセラミック電子部
品11の外観を示す斜視図であり、想像線で配線基板2
3への実装状態を併せて示している。
FIG. 1 is a perspective view showing an appearance of a ceramic electronic component 11 according to an embodiment of the present invention, and shows a wiring board 2 by imaginary lines.
3 also shows the mounting state.

【図2】図1に示した一方の端子部材13を単独で示す
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing one terminal member 13 shown in FIG. 1 alone.

【図3】図2に示した端子部材13を得るために用意さ
れる金属板14を示す平面図である。
3 is a plan view showing a metal plate 14 prepared to obtain the terminal member 13 shown in FIG.

【図4】図1に示したセラミック電子部品本体12を単
独で図解的に示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view schematically showing the ceramic electronic component body 12 shown in FIG. 1 alone.

【図5】この発明にとって興味ある従来のセラミック電
子部品1の外観を示す斜視図であり、想像線で配線基板
5への実装状態を併せて示している。
FIG. 5 is a perspective view showing the appearance of a conventional ceramic electronic component 1 which is of interest to the present invention, and also shows a mounting state on a wiring board 5 by imaginary lines.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 セラミック電子部品 12 セラミック電子部品本体 13 端子部材 14 金属板 15,16 端面 17,18,19,20 側面 21 端子電極 22,26 折り曲げ線 23 配線基板 24 接続端子部 25 切り込み 27 棚状部分 28,29 半田非親和面 30 半田 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Ceramic electronic component 12 Ceramic electronic component main body 13 Terminal member 14 Metal plate 15, 16 End face 17, 18, 19, 20 Side surface 21 Terminal electrode 22, 26 Folding line 23 Wiring board 24 Connection terminal part 25 Cutout 27 Shelf part 28, 29 Solder non-affinity surface 30 Solder

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 相対向する2つの端面および前記2つの
端面間を連結する側面を有し、かつ少なくとも各前記端
面上に端子電極が形成された、チップ状のセラミック電
子部品本体と、 金属板をもって構成され、かつその一方端部がその基部
に対して折り曲げられて配線基板への接続端子部を形成
し、前記接続端子部が前記側面に対向して位置するよう
に前記基部において各前記端子電極に接続された、端子
部材とを備え、 少なくとも前記接続端子部における前記側面に対向する
面には、半田になじまない半田非親和面が形成されてい
る、セラミック電子部品。
1. A chip-shaped ceramic electronic component body having two opposite end faces and a side face connecting the two end faces, and having at least a terminal electrode formed on each of the end faces, and a metal plate. And one end portion thereof is bent with respect to the base portion to form a connection terminal portion to the wiring board, and each of the terminals at the base portion is positioned such that the connection terminal portion is opposed to the side surface. A ceramic electronic component, comprising: a terminal member connected to an electrode; and at least a surface facing the side surface of the connection terminal portion is formed with a solder non-affinity surface that is not compatible with solder.
【請求項2】 前記金属板は、半田付け性の悪い表面を
与える金属からなり、前記半田非親和面は、前記金属板
の表面自身によって与えられ、少なくとも前記端子部材
における前記端子電極への接続部分から張り出した部分
であって外側に向く面には、半田になじむ半田親和面を
与えるため、半田親和層が形成されている、請求項1に
記載のセラミック電子部品。
2. The metal plate is made of a metal that provides a surface with poor solderability, and the solder non-affinity surface is provided by the surface of the metal plate itself, and at least the terminal member is connected to the terminal electrode. 2. The ceramic electronic component according to claim 1, wherein a solder affinity layer is formed on an outwardly facing surface, which is a portion protruding from the portion, so as to provide a solder affinity surface compatible with solder. 3.
【請求項3】 前記半田非親和面は、前記端子部材にお
ける前記端子電極への接続部分から張り出した部分であ
って内側に向く面の全面またはほぼ全面に形成されてい
る、請求項1または2に記載のセラミック電子部品。
3. The solder incompatible surface is a portion of the terminal member that protrudes from a portion connected to the terminal electrode and is formed on the entire surface or substantially the entire surface facing inward. 3. The ceramic electronic component according to 1.
【請求項4】 前記端子部材は、前記電子部品本体にお
ける前記接続端子部に対向する前記側面を受けるため、
前記金属板の一部を折り曲げることによって形成された
棚状部分を備える、請求項1ないし3のいずれかに記載
のセラミック電子部品。
4. The terminal member receives the side surface of the electronic component body facing the connection terminal portion.
The ceramic electronic component according to claim 1, further comprising a shelf portion formed by bending a part of the metal plate.
【請求項5】 前記半田非親和面は、前記棚状部分にお
ける前記接続端子部に対向する面にも形成されている、
請求項4に記載のセラミック電子部品。
5. The solder non-affinity surface is also formed on a surface of the shelf portion facing the connection terminal portion.
The ceramic electronic component according to claim 4.
【請求項6】 前記端子電極は、前記電子部品本体にお
ける前記接続端子部に対向する前記側面上には形成され
ない、請求項1ないし5のいずれかに記載のセラミック
電子部品。
6. The ceramic electronic component according to claim 1, wherein said terminal electrode is not formed on said side surface of said electronic component main body which faces said connection terminal portion.
【請求項7】 複数の前記電子部品本体を備え、前記複
数の電子部品本体の各々の前記端子電極に前記端子部材
が共通に接続されている、請求項1ないし6のいずれか
に記載のセラミック電子部品。
7. The ceramic according to claim 1, further comprising a plurality of said electronic component main bodies, wherein said terminal member is commonly connected to each of said terminal electrodes of said plurality of electronic component main bodies. Electronic components.
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