JPH1173500A

JPH1173500A - イメージ処理方法及びイメージ処理装置

Info

Publication number: JPH1173500A
Application number: JP10190505A
Authority: JP
Inventors: Ji-Hoon Han; ジフンハン
Original assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Current assignee: Samsung Electronics Co Ltd
Priority date: 1997-07-04
Filing date: 1998-07-06
Publication date: 1999-03-16
Anticipated expiration: 2018-07-06
Also published as: DE69835560T2; KR19990008795A; EP0889642A2; US6282325B1; DE69835560D1; KR100222989B1; EP0889642B1; EP0889642A3; JP3004628B2

Abstract

(57)【要約】【課題】最小のメモリを使用して読み取られた原稿デ
ータを２値化して複合器の原価を節減するイメージ処理
装置及びイメージ処理方法を提供する。【解決手段】１スライス単位でシャットル運動しなが
らバンド読取するスキャニング装置において，原稿から
１スライスの画素を読取する読取部７１と，読み取られ
た１スライスの各々の画素をマスクを使用して２値化す
る処理部７２と，処理部により前記バンドに対する多数
個のスライスの各々の最終画素を２値化する過程中で生
成される誤り値演算結果を貯蔵する第１メモリ７３と，
処理部７２により読み取られた１スライスの各々の画素
に対する２値化する過程中で生成された誤り値演算結果
を貯蔵する第２メモリ７４とを具備させる。係る構成で
は，処理部７２は次のバンドの多数個のスライスの一番
目画素各々を２値化する時第１メモリ７３に貯蔵された
以前バンドの多数個のスライスの最終画素に対する誤り
値演算結果を判読して２値化し，第２メモリ７４を判読
して次の画素を２値化する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は，イメージ処理装置
及びイメージ処理方法に係り，より詳細には，複合器を
構成するシャットル（ｓｈｕｔｔｌｅ；シャトル）方式
の読取装置に適用可能な，読み取られたイメージ（例え
ば映像や影像や画像等の像を含む。）を少量のメモリを
使用して２値化する，イメージ処理装置及びイメージ処
理方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】複合器は，ファクシミリ機能，プリンタ
（ｐｒｉｎｔｅｒ）機能，スキャナ機能，複写器機能等
を有しており，一般的には，読取部とプリンタ及びモデ
ム（ｍｏｄｅｍ）とコンピュータ等を複合的に備えてい
る。かかる複合器の動作では，読取部で読み取られたイ
メージ又はモデムを通して他のシステム（ｓｙｓｔｅ
ｍ）から送られてきたデータが，プリンタで印刷された
り或いはコンピュータ内のハードディスクに貯蔵され
る。

【０００３】複合器は，シャットル方式のものとアレー
（ａｒｒｅｙ）方式のものとに大別することができる。
アレー方式の複合器は，原稿読取は速いが高価である。
一方のシャットル方式の複合器は，アレー方式のものに
比べて原稿読取時間は遅いが低価である。したがって，
従来，複合器としては，価格面等で有利なシャットル方
式のものが幅広く使用されている。

【０００４】以下，一般的なシャットル方式の読取につ
いて，図１１を参照しながら説明する。なお，図１１
は，一般的なシャットル方式の複合器における読取部の
読取実行過程についての説明図である。

【０００５】以下においては，複合機の読取部（図１１
では，該当する要素は示されていない。）による原稿の
一部分（図１１の読取面Ａ部分が該当する。）の読取単
位，即ち，読取部の取込単位がスライス（Ｓｌｉｃｅ）
に相当する。スライスの大きさは，一回で読み取られる
画素（Ｐｉｘｅｌ）数であり，一般に，読取部のヘッド
部分等に装着された例えばＣＣＤ（ＣｈａｇｅＣｏｕ
ｐｌｅｄｄｅｖｉｃｅ；電荷結合素子）等の撮像素子
の個数によって決定される。例えば，読取部において，
撮像素子が縦方向１６０個で横方向１個，即ち１６０行
１列のマトリクス状に装着されている場合には，単位ス
ライスの大きさは１６０×１画素になる。

【０００６】この時，読取部による原稿読取は，原稿最
左側端（ｍｏｓｔｌｅｆｔｅｄｇｅ）から開始され
てスライス単位で原稿最右側端（ｍｏｓｔｒｉｇｈｔ
ｅｄｇｅ）方向に読取部を移動させながら実行され
る。読取部は，原稿をバンド単位で分けて読取を実行す
る。ここで，読取部により横方向に原稿を１回読取した
量がバンドに相当する。原稿読取において，読取部は，
一のバンドの読取を原稿の最右側端まで行ったら，隣接
する他のバンドの読取を原稿の最左側端から始める。

【０００７】一方，読み取った原稿の情報をファクシミ
リを通じて遠距離に伝送するためには，複合器の読取部
は，読み取られた原稿の情報を０（ｚｅｒｏ）又は１の
２値化データに変換しなければならない。この時，読取
部に読み取られたデータは一般的にグレーカラー（ｇｒ
ａｙｃｏｌｏｒ）で０〜２５５までの値（即ち，これを
２進データに表現するためには，８ｂｉｔ必要であ
る。）を持ち，これを二進値に変換する作業が２値化
（Ｂｉｎａｒｉｚａｔｉｏｎ）作業である。

【０００８】一般的に２値化作業には誤差拡散（ｅｒｒ
ｏｒｄｉｆｆｕｓｉｏｎ：ＥＤＦ，誤謬拡散）方式と
臨界値（ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ）方式とがあり，これに対
する詳細な説明はイメージ処理分野に属する当業者にと
っては通常の知識である。したがって，本明細書におい
ては，これら２値化作業の詳細については説明を省略す
る。

【０００９】一般的なシャットル方式で３×３マスク
（ｍａｓｋ）を使用した誤差拡散方式による２値化過程
について，図１２を参照しながら説明すると次のようで
ある。なお，図１２には，一般的なシャットル方式で３
×３マスクを使用した誤差拡散方式による２値化過程を
示す。

【００１０】図１２に示すように，まず，読み取られた
データの一画素を２値化するためその読み取られたデー
タの画素を３×３マスクの中央におく。次に，該一画素
を２値化することにより発生する誤差値を，該一画素に
隣接する８個の他の画素の値に，それぞれに対応する３
×３マスクの各マスクセル（ｍａｓｋｃｅｌｌ）の加重
値に応じて拡散させながら，順次読取データの２値化を
実行する。これが前述した誤差拡散方式によるデータ２
値化方式である。

【００１１】このように２値化を実行するためには，誤
差拡散作業を実行する前に隣接した画素値を把握する必
要があるため，従来は，一般に，図示されたＳ領域を含
む読み取られた一番目バンドデータと二番目バンドデー
タとを貯蔵管理してＰ領域はイメージ処理の原則によっ
て隣接画素値に代置して３×３マスクを構成してイメー
ジ処理を実行している。

【００１２】図１３はシャットル方式の読取部と印刷部
とを持つ一般的な複合器の正面図であり，図１４は図１
３の読取部を示す側面図である。図１３に示すように，
シャットル方式の読取部と印刷部とを持つ一般的な複合
器において，用紙にインクを噴射しながら印刷を実行す
るインクジエットプリントヘッドモジュール１１と原稿
からデータを読取する読取部１３は密着結合されて案内
軸１５に沿ってベルト１７を通して伝達される駆動モ−
タ１９の回転駆動力により左右に往復（ｓｈｕｔｔｌ
ｅ）運動しながら印刷及び読取を実行する。

【００１３】この時，印刷動作はインクジエットプリン
トヘッドモジュール１１と読取部１３とを左右に動かす
間インクジエットプリントヘッドモジュール１１内のイ
ンクをインクジエットプリントヘッド部１２を通して用
紙面１６に噴射しながら実行する。

【００１４】また，読取動作は，インクジエットプリン
トヘッドモジュール１１と読取部１３とが左右に動く
間，図１４に示す読取部モジュール１３内のランプ２３
が光を原稿１６の読取地点２４に照射し，読取地点２４
から読取部ガラス１４とレンズ２２を通過して光センサ
２１に到達する反射光によって原稿の読取を行う。この
ように読み取られたイメージデータは，２×３マスクを
使用した誤差拡散方式により２値化される。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら，従来の
イメージ処理方法及びイメージ処理装置は，読み取られ
た原稿の一の画素をイメージ処理するために，読み取ら
れた原稿をバンド単位で貯蔵するためのバンドメモリが
必要であった。したがって，適用される複合器の原価が
上昇した。

【００１６】また，従来のイメージ処理方法及びイメー
ジ処理装置では，一バンドに対して３×３マスクを利用
するとバンド最終部分と次のバンドの最初部分には読み
取られたデータがないため，各バンド間に境界が生じる
問題があった。

【００１７】本発明は，従来のイメージ処理方法及びイ
メージ処理装置が有する上記問題点に着眼して案出され
たものであり，一般的な３×３マスクを使用した読取デ
ータイメージ処理で要求される多量のバンドメモリを減
少させて，適用される複合器の原価を低減させることが
できる，新規かつ改良されたイメージ処理装置及びイメ
ージ処理法法を提供することを目的とする。

【００１８】さらに，本発明の他の目的は，各バンド間
に境界が生じるという問題を解決される，新規かつ改良
されたイメージ処理方法及びイメージ処理装置を提供す
ることである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】従来のイメージ処理方法
が有する上記課題を解決するために，請求項１に記載の
発明は，第１方向に読取部が移動して読取を行うバンド
を順次シフトさせながら原稿が読取部に対し第１方向と
垂直な方向に一定スキャンニング幅で移動して原稿上の
イメージをバンド単位で読取るイメージ読取装置におけ
る，イメージ処理方法であって：一定バンド内でターゲ
ット画素と当該ターゲット画素の隣接画素とを含む画素
群から成る２値化マスクを設定して，ターゲット画素を
一定バンド内で移動しながらターゲット画素のイメージ
の２値化を実行して；一定バンドの隣接バンドと接する
画素の２値化のための値をメモリに記憶させて；隣接バ
ンドの２値化マスクの画素の中で一部が一定バンドに属
する時，メモリに記憶させた２値化のための値を２値化
マスクに代入して２値化を実行する構成を採用する。

【００２０】かかる構成を有する請求項１に記載の発明
は，２値化マスクの画素の中で一部が一定バンドに属す
る時にメモリに記憶させた２値化のための値を２値化マ
スクに代入することによって，境界部の画素イメージを
２値化する際でも，マスク内にデータの抜けた領域が生
じなくなる。即ち，各バンド間に境界を生じさせずに，
イメージ処理が実施できる。さらに，請求項１に記載の
発明においては，従来のように，一バンドの画素のデー
タを丸ごと貯蔵する必要はないため，必要なメモリ量を
減少させることができる。

【００２１】また，請求項２に記載の発明は，被読取対
象上のイメージをｍ行のバンドに分割しながらバンド単
位で走査し（ｍは，正の整数である），イメージに係る
画素データを取得して，画素データを周辺画素に係る画
素データと関連付けながら画素単位で２値化する，イメ
ージ処理方法であって：第ｉ行のバンドに係る画素デー
タに対し２値化を行う工程は（ｉは，ｉ＜ｍを満たす正
の整数である），第（ｉ＋１）行のバンドから第１の所
定距離内に在る第ｉ行のバンドの画素行について，当該
画素行を構成する各画素に係る所定の演算結果を貯蔵す
る，第１の工程を含み；第（ｉ＋１）行のバンドに係る
画素データに対し２値化を行う工程は，第ｉ行のバンド
から第１の所定距離内に在る第（ｉ＋１）行のバンドの
画素行について演算結果を用いて２値化を行う，第２の
工程を含む；構成を採用する。

【００２２】かかる構成を有する請求項２に記載の発明
は，相互に隣接する第（ｉ＋１）行のバンドと第（ｉ＋
１）行のバンドとで２値化処理時の境界問題を生じさせ
ずに，イメージ処理が実施できる。さらに，必要なメモ
リ量は，第（ｉ＋１）行のバンドから第１の所定距離内
に在る第ｉ行のバンドの画素行について当該画素行を構
成する各画素に係る所定の演算結果を貯蔵できる程度で
よい。したがって，従来のように一バンドの画素のデー
タを丸ごと貯蔵する必要はなく，必要なメモリ量を減少
させることができる。

【００２３】さらに，請求項３に記載の発明のように，
バンド単位の走査は，各バンドをｎ列のスライスに分割
しながらスライス単位で行われる構成とすれば，スライ
ス単位でイメージの取込が可能な読取部を使用して，請
求項２に記載の発明を実現することができる。

【００２４】なお，請求項４に記載の発明のように，第
ｊ列のスライスに係る画素データに対し２値化を行う工
程は（ｊは，ｊ＜ｎを満たす正の整数），第（ｊ＋１）
列のスライスから第２の所定距離内に在る第ｊ列のスラ
イスの画素列について，当該画素列を構成する各画素に
係る所定の演算結果を貯蔵する，第３の工程を含み；第
（ｊ＋１）列のスライスに係る画素データに対し２値化
を行う工程は，第ｊ列のスライスから第２の所定距離内
に在る第（ｉ＋１）列のスライスの画素列について演算
結果を用いて２値化を行う，第４の工程を含む；構成を
採用することが好適である。

【００２５】かかる構成においては，２値化処理のター
ゲットとなる画素が他スライスとの境界付近の画素であ
る場合にも，直前に２値化処理されたスライスの所定の
演算値が残っている。したがって，ターゲットとなる画
素の周辺画素との関連付けを確実に実施することができ
る。結果として，ターゲット画素の２値化データに対し
て正確なデータ修正が実施可能であり，より精度良くイ
メージ認識やイメージ伝送を行うことができる。

【００２６】また，例えば，請求項５に記載の発明のよ
うに，２値化において，周辺画素との関連付けはマスク
によって行われる構成を採用することで，周辺画素との
関連づけを行いながらのイメージの２値化を具現化する
ことができる。

【００２７】さらに，請求項６に記載の発明のように，
マスクは，２×３マスクであり，（水平座標値，垂直座
標値）で表示する時，第１位置は（２，１）で表示さ
れ，第２位置は（１，１）で表示され，第３位置は
（１，２）で表示され，第４位置は（１，３）で表示さ
れ，２値化する画素（Ｘ）の位置は（２，２）で表示さ
れる構成である構成とすることが好適である。

【００２８】さらにまた，請求項７に記載の発明のよう
に，２×３マスクを構成する段階は；第（ｉ＋１）行の
バンドの第（ｊ＋１）列のスライスにおける第１行画素
を２値化する時第１位置の値を第４位置にシフトして，
２値化する画素（Ｘ）に対応する第ｉ行のバンドの第
（ｊ＋１）列のスライスにおける最終行画素に対する所
定の演算結果を第１の工程で貯蔵された所定の演算結果
から判読して第１位置に入力する段階と，第４位置の値
を第３位置にシフトして，２値化する画素（Ｘ）の以前
画素に対する所定の演算結果を第３の工程で貯蔵された
所定の演算結果から判読して第４位置に入力する段階
と，２値化する画素（Ｘ）の値の読取信号が受信された
が第１位置が満たされなかった場合，同１スライスの２
値化する画素（Ｘ）の前の画素値を第１位置に満たして
次の２値化する画素を獲得する段階と，第１位置が満た
された場合，第４位置値を第３位置にシフトして，第３
位置値を第２位置にシフトして，第４位置に第ｊ列のス
ライスの画素の中で２値化する画素（Ｘ）より水平座標
が一つ大きい画素に対する所定の演算結果を入力する段
階とで構成されるイメージ処理方法を提供する。

【００２９】さらに，請求項８に記載の発明のように，
所定の演算結果は，誤り値である構成とすることで，本
発明を誤差拡散方式の２値化処理に適用することが可能
となる。

【００３０】また，従来のイメージ処理装置が有する上
記課題を解決するために，請求項９に記載の発明は，被
読取対象上のイメージをバンド単位で走査しイメージに
係る画素データを取得する読取部と，画素データを周辺
画素に係る画素データと関連付けながら画素単位で２値
化する処理部とを備えるイメージ処理装置であって：２
値化が行われているバンドにおいて当該バンドの次に２
値化が行われる隣接バンドから所定距離内に在る画素行
について，画素行を構成する各画素に係る所定の演算結
果を貯蔵する，メモリを備える構成を採用する。

【００３１】かかる構成においては，一のバンドの２値
化処理時に次に２値化処理が行われるバンド側の所定の
演算結果を数画素分のメモリによって記憶することで，
バンド境界での２値化処理の不連続性を解消することが
できる。なお，例えば所定の演算結果を読取誤差の演算
結果とすると誤差拡散方式のデータ修正を適用したイメ
ージ処理装置となる。

【００３２】さらに，上記課題を解決するためには，以
下のような構成も可能である。なお，本構成では，読取
部（スキャナ）のヘッド部分に，ｍ行ｎ列のマトリクス
状配列で撮像素子が装着される（ｍ，ｎは，正の整
数。）。かかる場合，読取対象上のイメージは，一の撮
像素子で取り込まれる画素単位に格子状分割されたディ
ジタル画像とみることができ，かかるディジタル画像に
おいて，スライスは読取部によって一度に取り込まれる
ｍ行ｎ列の画素群から構成され，更にバンドは画素配列
の行方向に直列に並ぶスライス群から構成される。本構
成では，前記画素配列の行方向にスライス単位で副走査
が行われ，前記画素配列の列方向にバンド単位で主走査
が行われる。ここで，副走査を原稿上で右方向から左方
向へ実施するか或いは左方向から右方向へ実施するかと
いうことと，主走査を原稿上で上方向から下方向へ実施
するか或いは下方向から上方向へ実施するかということ
とは，共に設計事項である。本構成についての以下の説
明においては，読取部における前記撮像素子の配列にお
いて，行と列とを，走査が進められる順に第１行〜最終
行と第１列〜最終列と称する。

【００３３】本構成においては，最終行側の数列を構成
する各撮像素子で取り込まれたイメージの２値化の際に
生成される各演算結果をバンド単位で貯蔵する。なお，
さらに，最終列側の数列を構成する各撮像素子で取り込
まれたイメージの２値化の際に生成される各演算結果を
スライス単位で貯蔵することが，好適である。また，貯
蔵する演算結果を何列分及び何行分とするかは，２値化
の際に使用するマスクによって決定されるものであり，
設計事項である。かかる構成においては，現在処理が進
められているバンドにおいて，一つ前に２値化処理され
たバンドの最終行側の数列に係る演算結果群を用いて，
各スライスの第１行の２値化処理を順次進めることがで
きる。したがって，従来，イメージ処理時にバンド境界
で生じていた処理の不連続性を解消することが可能であ
る。さらに，一バンドに係るイメージの２値化データを
貯蔵していた従来のイメージ処理装置やイメージ処理方
法よりも遥かに小規模のメモリしか必要が無くなる。か
かるメモリとしては，例えば，ＤＲＡＭやＳＤＲＡＭ或
いはＦＥＲＡＭ等の各種のメモリを使用することができ
る。

【００３４】

【発明の実施の形態】以下に，添附図面を参照しなが
ら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明す
る。なお，以下の説明及び添付図面においては，同一の
機能及び構成を有する構成要素については，同一の符号
を付することにより，重複説明を省略する。また，以下
に説明する実施の形態においては，横方向の読取は原稿
の左方向から右方向へ順番に行っておりまた縦方向の読
取は原稿の上方向から下方向へ順番に行っているが，こ
れらは単に設計事項に過ぎない。したがって，横方向の
読取を原稿の右方向から左方向へ順番に行ったり或いは
縦方向の読取を原稿の下方向から上方向へ順番に行うこ
とも可能である。さらに，以下に説明する実施の形態に
おいては，誤差拡散方式の２値化処理を行っているが，
本発明においては他の２値化処理が可能であることはい
うまでもない。本発明においては，貯蔵する演算結果
は，誤り値に限られず，例えば取り込んだ画像データや
２値化結果そのもの等であっても構わない。

【００３５】図１には，本実施の形態にかかるイメージ
処理に適用可能な２×３マスクの概略構成を示す。図１
を参照しながら，本実施の形態にかかるイメージ処理に
適用可能な２×３マスクについて説明すると，各々の数
に該当する位置にマスク値を各々満たしてＸに該当する
誤り値演算を実行する。本実施の形態にかかる前記マス
ク上の各位置を（水平座標値，垂直座標値）で表示する
と，第１位置は（２，１）で表示され，第２位置は
（１，１）で表示される。また，第３位置は（１，２）
で表示され，第４位置は（１，３）で表示される。さら
に，２値化する画素（Ｘ）は（２，２）で表示される。

【００３６】図２は，本実施の形態にかかる２×３マス
クを使用して，バンド境界でのイメージ処理実行過程に
ついての例示図である。図２に示すように，２値化作業
では，このような２×３マスクＮＷをスライスの縦方向
に画素単位で移動しながら誤り値演算を通して，イメー
ジを２値化する。

【００３７】図３は，シャットル方式の読取装置で読み
取られたイメージを２値化するための本実施の形態にか
かるイメージ処理装置の概略構成を説明するためのブロ
ック図である。図３に示すイメージ処理装置は，まず，
原稿からスライス単位で画素を読取する読取部７１と，
読取部７１で読み取られた一スライス分の各々の画素を
マスクを使用して２値化する処理部７２とを備えてい
る。さらに，処理部７２によりバンドに対する多数個の
スライスの各々の最終画素を２値化する過程中で生成さ
れる誤り値演算結果を貯蔵する第１メモリ７３と，処理
部７２により読み取られた１スライスの各々の画素に対
して２値化する過程中で生成された誤り値演算結果を貯
蔵する第２メモリ７４とを備えている。さらにまた，イ
メージ処理のためのプログラムとデータを貯蔵する第３
メモリ７６と，データ２値化のための同期信号を発生す
る信号発生部７５と，読取部７１により読み取られたス
ライスの個数を計数する計数器７７とを備えている。

【００３８】以上のように，読取部７１と処理部７２と
第１メモリ７３と第２メモリ７４と第３メモリ７６と信
号発生部７５と計数器７７とから構成された図３に示す
イメージ処理装置において，処理部７２は，次のバンド
の多数個のスライスそれぞれの一番目画素を２値化する
時に，第１メモリ７３に貯蔵された以前バンドの多数個
の最終画素に対する誤り値演算結果を判読して２値化し
て，第２メモリ７４を判読して次の画素を２値化する。
ここで，次のバンドとは，例えば，複数行１列の撮像素
子が装着されたｎ×１読取部に対しては構成スライスに
おいて現に処理が行われているバンドをいい，以前バン
ドとは，例えば，ｎ×１読取部に対しては次のバンドの
直前に処理が行われたバンドをいう。また，一番面画素
とは，例えば，ｎ×１読取部に対しては各スライスにお
いて一番最初に処理される画素をいい，最終画素とは，
例えば，ｎ×１読取部に対しては各スライスにおいて一
番最後に処理される画素をいう。

【００３９】図４及び図５は，本実施の形態にかかるシ
ャットル方式の読取装置で読み取られたイメージを２値
化するためのイメージ処理方法を示す流れ図である。図
４及び図５に示すように，シャットル方式の読取装置で
読み取られたイメージを２値化するための本実施の形態
にかかるイメージ処理方法は，Ｓ８１段階〜Ｓ９４段階
から構成される。

【００４０】図４に示すように，本実施の形態にかかる
イメージ処理方法において，Ｓ８１段階では，１スライ
スに該当する原稿データを読取した後第１メモリ読取信
号Ｌ−Ｍｅｎ−ｒｄが受信されたかを判断する。Ｓ８２
段階では，第１メモリ判読信号Ｌ−Ｍｅｍ−ｒｄが受信
された場合マスクの第１位置の値を第４位置にシフトし
て，２値化する画素に該当する以前バンドのスライスの
最終画素に対する誤り値を第１メモリ７３から判読して
マスクの第１位置に入力する。

【００４１】Ｓ８３段階では，第２メモリ判読信号Ｓ−
Ｍｅｍ−ｒｄが受信されたかを判読する。Ｓ８４段階で
は，第２メモリ判読信号Ｓ−Ｍｅｍ−ｒｄが受信された
場合第４位置の値を第３位置にシフトして，２値化する
画素（Ｘ）の以前画素に対する誤り値を第２メモリ７４
から判読して第４位置に入力する。Ｓ８５段階では，２
値化する画素値読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−ｒ
ｄが受信されたかを判読する。

【００４２】Ｓ８６段階では，マスクの第１位置が満た
されたかを確認する。Ｓ８７段階では，２値化する画素
値読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−ｒｄが受信され
たがマスクの第１位置が満たされなかった場合同１スラ
イスの２値化する画素（Ｘ）の前の画素値をマスクの第
１位置に満たして２値化する画素を読取する。さらに，
図５に示すように，Ｓ８８段階では，マスクの第１位置
が満たされた場合マスクの第４位置の値を第３位置にシ
フトして，第３位置の値を第２位置にシフトして，マス
クの第４位置に前のスライスの画素の中で２値化する画
素（Ｘ）より水平座標が一つ大きい画素に対する誤り値
を入力する。

【００４３】Ｓ８９段階では，構成されたマスクを利用
して現在画素の値を２値化させて誤り値を演算する。Ｓ
９０段階では，第２メモリ７４に誤り値演算結果を貯蔵
する。Ｓ９１段階では，現在２値化した画素がスライス
の最終画素であるかを判断して，最終画素ではない場合
２値化する画素値読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−
ｒｄが受信されたかを判断するＳ８５段階にリターンす
る。

【００４４】Ｓ９２段階では，最終画素である場合第１
メモリ７３の現在スライスに該当する位置に誤り値を貯
蔵する。Ｓ９３段階では，現在バンド処理が終了された
かを判断してバンド処理が終了されなかった場合画素値
読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−ｒｄが受信された
かを判断してＳ８５段階にリターンする。Ｓ９４段階で
は，バンド処理は終了されたが読取作業が終了されなか
った場合第１メモリ判読信号Ｌ−Ｍｅｍ−ｒｄが受信さ
れたかを判読するＳ８１段階にリターンする。

【００４５】以下，本実施の形態にかかるシャットル方
式の読取装置で読み取られたイメージを２値化するため
のイメージ処理装置の作用について，主に図３と図５〜
図１０とを参照しながら説明する。ここで，図６〜図９
は，本実施の形態にかかる第１メモリと第２メモリとを
使用して２×３マスクＮＷを構成する過程についての説
明図であり，図１０は，本実施の形態にかかる信号発生
部により発生した信号の同期過程を示すタイミングチャ
ート図である。

【００４６】図１０に示すように，まず，２値化イメー
ジ処理開始を示すＩＷＡＮ信号が信号発生部７５から発
生する前に，以前バンドを処理した後貯蔵された各々の
スライスの最終画素の誤り値を貯蔵した第１メモリ７３
から誤り情報を判読するための第１メモリ判読信号Ｌ−
Ｍｅｍ−ｒｄが信号発生部７５から発生されたかを，判
断する（Ｓ８１段階）。本実施の形態にかかる好適な実
施例において，一番目バンドの一番目スライスの画素を
２値化する時，既演算された誤り値が第１メモリ７３と
第２メモリ７４に設定されていないため，これらの値を
全て０で初期化（基礎化）して２値化する。ここで，一
番目バンドとは，例えば，ｎ×１読取部に対しては最初
に処理されるバンドをいい，また，一番目スライスと
は，ｎ×１読取部に対しては各バンドにおいて最初に処
理されるスライスをいう。

【００４７】図６に示すように，かかる判断の結果，第
１メモリ判断信号Ｌ−Ｍｅｍ−ｒｄが発生した場合，図
１に示すマスクの第１位置の値を第４位置にシフトし
て，２値化する画素に該当する以前バンドの誤り値を第
１メモリ７３から判読してマスクの第１位置に入力する
（Ｓ８２段階）。即ち，図６において，「○で囲まれた
１」の処理と「○で囲まれた２」の処理とを実行する。

【００４８】マスクの第１位置と第４位置とに値を入力
した後，１スライスの各々の画素に対して２値化する過
程中で生成された誤り値演算結果を貯蔵する第２メモリ
７４から，マスク構成のための誤り情報を得るため，第
２メモリ判読信号Ｓ−Ｍｅｍ−ｒｄが信号発生部７５を
通して発生されたかを判断する（Ｓ８３段階）。本実施
の形態にかかる好ましい実施例で第１メモリ判読信号Ｌ
−Ｍｅｍ−ｒｄと第２メモリ判読信号Ｓ−Ｍｅｍ−ｒｄ
とは処理部７２が受信して，これによってマスクを構成
する。

【００４９】図６に示すように，かかる判断の結果，第
２メモリ判読信号Ｓ−Ｍｅｍ−ｒｄが発生した場合，マ
スクＮＷの第４位置の値を第３位置にシフトして，マス
クＮＷの第４位置に２値化する画素（Ｘ１）の以前画素
に対する誤り値を入力する（Ｓ８４段階）。即ち，図６
において，「○で囲まれた３」の処理と「○で囲まれた
４」の処理とを実行する。

【００５０】次に，マスクＮＷの第１位置と第３位置と
第４位置とに誤り値を入力した後，２値化する画素値読
取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−ｒｄが受信されたか
を判断した後（Ｓ８５段階），マスクの第１位置が満た
されたかを確認する（Ｓ８６段階）。

【００５１】かかる判断の結果，２値化する画素値読取
信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕｅ−ｒｄは受信されたがマ
スクの第１位置が満たされなかった場合現在画素の以前
画素値をマスクの第１位置に満たして２値化する画素を
読取する（Ｓ８７段階）。即ち，Ｘ１→マスクの第１位
置，読み取られた画素値→現在２値化する画素位置（例
えば，Ｘ２）に同時に入力する。

【００５２】もし，マスクの第１位置が満たされた場
合，マスクの第４位置の値を第３位置にシフトして，第
３位置の値を第２位置にシフトして，マスクＮＷの第４
位置に前のスライスの現在位置の次の画素に該当する誤
り値を入力する（Ｓ８８段階）。即ち，図７において，
「○で囲まれた１」の処理と「○で囲まれた２」の処理
と「○で囲まれた３」の処理とを実行する。

【００５３】このように２値化する一つの画素に該当す
るマスクを構成した後構成されたマスクを利用して現在
画素値を２値化し誤り値を演算する（Ｓ８９段階）。本
実施の形態にかかる好適な実施例で使用した２値化方法
は誤差拡散方式を使用したものであり，該当画素に該当
する誤り値を隣接した画素に拡散する。

【００５４】誤り値を演算した後，第２メモリ７４の現
在画素に該当する位置に誤り値演算結果（Ｓ１）を貯蔵
する（Ｓ９０段階）。即ち，図６の「○で囲まれた８」
の処理を実行してマスクを一画素縦方向にシフトさせた
後，マスクを構成した後演算された結果を図７の「○で
囲まれた４」の処理を実行する。

【００５５】次に，現在画素に対する誤り値演算結果を
第２メモリ７４に貯蔵した後，現在２値化した画素がス
ライスの最終画素であるかを判断する（Ｓ９１段階）。

【００５６】かかる判断の結果，最終画素ではない場
合，２値化する画素値読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖａｌｕ
ｅ−ｒｄが受信されたかを判断するＳ８５段階にリター
ンして現在スライスに対するイメージ処理を継続実行す
る。

【００５７】現在２値化する画素がスライスの最終画素
であるかを判断した結果最終画素である場合，第１メモ
リ７３の現在スライスに該当する位置に誤り値（Ｓ２）
を貯蔵する（Ｓ９２段階）。即ち，図８の「○で囲まれ
た５」の処理を実行する。

【００５８】次に，第１メモリ７３の現在スライスに該
当する位置に誤り値を貯蔵した後，現在バンド処理が終
了されたかを判断する（Ｓ９３段階）。

【００５９】かかる判断の結果，バンド処理が終了され
なかった場合，画素値読取信号Ｃｅｎｔｅｒ−ｖｌａｕ
ｅ−ｒｄが受信されたかを判断するＳ８５段階にリター
ンしてイメージ処理を継続実行する。

【００６０】もし，バンド処理は終了されたが読取作業
が終了されなかった場合，第１メモリ判読信号Ｌ−Ｍｅ
ｍ−ｒｄが受信されたかを判断するＳ８１段階にリター
ンしてイメージ処理を継続実行する。図９は，バンド最
終スライスの最終画素に対する誤り値を演算した結果を
第１メモリ７３と第２メモリ７４に貯蔵する過程（「○
で囲まれた４」の処理と「○で囲まれた５」の処理とを
指す。）を示す。

【００６１】このように本実施の形態にかかると，横方
向の原稿の大きさの画素数ほどのｂｙｔｅを持つ第１メ
モリ７３と，１スライスほどのｂｙｔｅが貯蔵できる第
２メモリ７４だけで各バンド間に境界イメージを生成せ
ず原稿データが２値化できる。

【００６２】また，本実施の形態にかかる好ましい実施
例図で，読取した原稿の大きさがＡ４で，読取部の性能
が３００ＤＰＩである場合，第１メモリ７３は２５００
画素が貯蔵できる２５００ｂｙｔｅの貯蔵用量が要求さ
れて，読取部が１６０画素の読取素子を持つ場合，第２
メモリ７４は１６０ｂｙｔｅの貯蔵容量が要求される。
これは従来必要とした一バンドメモリ（２５００ｂｙｔ
ｅ×１６０ｂｙｔｅ）の貯蔵容量とマスクを構成するた
めの基本画素値を貯蔵するメモリの貯蔵容量を合わせた
ほどのメモリ空間に比して少量のメモリを要求する。

【００６３】以上，本発明の好適な実施の形態につい
て，添付図面を参照しながら説明したが，本発明はかか
る構成に限定されない。当業者であれば，特許請求の範
囲に記載された技術的思想の範囲を離脱せずに本発明を
多様に変形又は変更して実施できる。即ち，当業者であ
れば，特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇に
おいて，各種の変更例及び修正例に想到し得るものであ
り，それら変更例及び修正例についても本発明の技術的
範囲に属するものと了解される。

【００６４】

【発明の效果】以上のように本発明によるシャットル方
式の読取装置における読み取られたイメージを２値化す
るためのイメージ処理装置及び方法によると，最小のメ
モリを使用して読み取られた原稿データが２値化できる
ことにより複合器の原価節減の效果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用可能なイメージ処理に使用するマ
スクの概略的な構成図である。

【図２】図１に示すマスクを使用してバンド境界で行わ
れるイメージ処理の実行過程の例示図である。

【図３】本発明を適用可能なイメージ処理装置について
のブロック図である。

【図４】本発明を適用可能なイメージ処理方法を示す一
のフローチャート図である。

【図５】本発明を適用可能なイメージ処理方法を示す他
のフローチャート図である。

【図６】本発明を適用可能なイメージ処理に使用される
マスク構成過程についての一の説明図である。

【図７】本発明を適用可能なイメージ処理に使用される
マスク構成過程についての他の説明図である。

【図８】本発明を適用可能なイメージ処理に使用される
マスク構成過程についての他の説明図である。

【図９】本発明を適用可能なイメージ処理に使用される
マスク構成過程についての他の説明図である。

【図１０】本発明を適用可能なイメージ処理における発
生信号の同期過程を示すタイミングチャート図である。

【図１１】従来のシャットル方式の読取実行過程につい
ての説明である。

【図１２】従来のシャットル方式で３×３マスクを使用
した誤差拡散方式による２値化過程を示す説明図であ
る。

【図１３】シャットル方式の読取部と印刷部とを持つ一
般的な複合器の概略構成を示す正面図である。

【図１４】図１３に示す読取部の概略構成を示す側面図
である。

【符号の説明】

７１読取部７２処理部７３第１メモリ部７４第２メモリ部７５信号発生部７６第３メモリ部７７計数部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】第１方向に読取部が移動して前記読取を
行うバンドを順次シフトさせながら原稿が読取部に対し
前記第１方向と垂直な方向に一定スキャンニング幅で移
動して前記原稿上のイメージをバンド単位で読取るイメ
ージ読取装置における，イメージ処理方法であって：一
定バンド内でターゲット画素と当該ターゲット画素の隣
接画素とを含む画素群から成る２値化マスクを設定し
て，ターゲット画素を一定バンド内で移動しながらター
ゲット画素のイメージの２値化を実行して；前記一定バ
ンドの隣接バンドと接する画素の２値化のための値をメ
モリに記憶させて；前記隣接バンドの２値化マスクの画
素の中で一部が前記一定バンドに属する時，前記メモリ
に記憶させた２値化のための値を前記２値化マスクに代
入して２値化を実行することを特徴とする，イメージ処
理方法。
【請求項２】被読取対象上のイメージをｍ行のバンド
に分割しながら前記バンド単位で走査し（ｍは，正の整
数である），前記イメージに係る画素データを取得し
て，前記画素データを周辺画素に係る画素データと関連
付けながら画素単位で２値化する，イメージ処理方法で
あって：第ｉ行の前記バンドに係る画素データに対し前
記２値化を行う工程は（ｉは，ｉ＜ｍを満たす正の整数
である），第（ｉ＋１）行の前記バンドから第１の所定
距離内に在る前記第ｉ行のバンドの画素行について，当
該画素行を構成する各画素に係る所定の演算結果を貯蔵
する，第１の工程を含み；前記第（ｉ＋１）行のバンド
に係る画素データに対し前記２値化を行う工程は，前記
第ｉ行のバンドから前記第１の所定距離内に在る前記第
（ｉ＋１）行のバンドの画素行について前記演算結果を
用いて前記２値化を行う，第２の工程を含む；ことを特
徴とする，イメージ処理方法。
【請求項３】前記バンド単位の走査は，前記各バンド
をｎ列のスライスに分割しながら前記スライス単位で行
われることを特徴とする，請求項２に記載のイメージ処
理装置。
【請求項４】第ｊ列の前記スライスに係る画素データ
に対し前記２値化を行う工程は（ｊは，ｊ＜ｎを満たす
正の整数），第（ｊ＋１）列の前記スライスから第２の
所定距離内に在る前記第ｊ列のスライスの画素列につい
て，当該画素列を構成する各画素に係る前記所定の演算
結果を貯蔵する，第３の工程を含み；前記第（ｊ＋１）
列のスライスに係る画素データに対し前記２値化を行う
工程は，前記第ｊ列のスライスから前記第２の所定距離
内に在る前記第（ｉ＋１）列のスライスの画素列につい
て前記演算結果を用いて前記２値化を行う，第４の工程
を含む；ことを特徴とする，請求項３に記載のイメージ
処理方法。
【請求項５】前記２値化において，周辺画素との関連
付けはマスクによって行われることを特徴とする，請求
項２，３又は４のいずれかに記載のイメージ処理方法。
【請求項６】前記マスクは，２×３マスクであり，
（水平座標値，垂直座標値）で表示する時，第１位置は
（２，１）で表示され，第２位置は（１，１）で表示さ
れ，第３位置は（１，２）で表示され，第４位置は
（１，３）で表示され，２値化する画素（Ｘ）の位置は
（２，２）で表示される構成であることを特徴とする，
請求項５に記載のイメージ処理方法。
【請求項７】前記２×３マスクを構成する段階は；前
記第（ｉ＋１）行のバンドの第（ｊ＋１）列のスライス
における第１行画素を２値化する時前記第１位置の値を
前記第４位置にシフトして，前記２値化する画素（Ｘ）
に対応する前記第ｉ行のバンドの第（ｊ＋１）列のスラ
イスにおける最終行画素に対する前記所定の演算結果を
前記第１の工程で貯蔵された所定の演算結果から判読し
て前記第１位置に入力する段階と，前記第４位置の値を
前記第３位置にシフトして，前記２値化する画素（Ｘ）
の以前画素に対する前記所定の演算結果を前記第３の工
程で貯蔵された所定の演算結果から判読して前記第４位
置に入力する段階と，前記２値化する画素（Ｘ）の値の
読取信号が受信されたが前記第１位置が満たされなかっ
た場合，同１スライスの２値化する画素（Ｘ）の前の画
素値を前記第１位置に満たして次の２値化する画素を獲
得する段階と，前記第１位置が満たされた場合，前記第
４位置値を前記第３位置にシフトして，前記第３位置値
を前記第２位置にシフトして，前記第４位置に第ｊ列の
スライスの画素の中で前記２値化する画素（Ｘ）より水
平座標が一つ大きい画素に対する所定の演算結果を入力
する段階と，で構成されることを特徴とする，請求項４
及び６に記載のイメージ処理方法。
【請求項８】前記所定の演算結果は，誤り値であるこ
とを特徴とする，請求項２，３，４，，５，６又は７の
いずれかに記載のイメージ処理方法。
【請求項９】被読取対象上のイメージをバンド単位で
走査し前記イメージに係る画素データを取得する読取部
と，前記画素データを周辺画素に係る画素データと関連
付けながら画素単位で２値化する処理部とを備えるイメ
ージ処理装置であって：前記２値化が行われているバン
ドにおいて当該バンドの次に前記２値化が行われる隣接
バンドから所定距離内に在る画素行について，前記画素
行を構成する各画素に係る所定の演算結果を貯蔵する，
第１のメモリを備えることを特徴とする，イメージ処理
装置。