JPH1167153A - メタルハライドランプ - Google Patents
メタルハライドランプInfo
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- JPH1167153A JPH1167153A JP9224674A JP22467497A JPH1167153A JP H1167153 A JPH1167153 A JP H1167153A JP 9224674 A JP9224674 A JP 9224674A JP 22467497 A JP22467497 A JP 22467497A JP H1167153 A JPH1167153 A JP H1167153A
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- metal halide
- molybdenum
- halide lamp
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J61/00—Gas-discharge or vapour-discharge lamps
- H01J61/02—Details
- H01J61/36—Seals between parts of vessels; Seals for leading-in conductors; Leading-in conductors
Landscapes
- Vessels And Coating Films For Discharge Lamps (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電極とリード線とがＭｏ箔にて接続され、該
Ｍｏ箔をピンチシールしたメタルハライドランプの長寿
命化を図る。 【解決手段】 ピンチシール部に埋設するＭｏ箔をＭｏ
−０．５％Ｙ2Ｏ3とすることにより、その再結晶粒の大
きさを５０μｍ以下とする。
Ｍｏ箔をピンチシールしたメタルハライドランプの長寿
命化を図る。 【解決手段】 ピンチシール部に埋設するＭｏ箔をＭｏ
−０．５％Ｙ2Ｏ3とすることにより、その再結晶粒の大
きさを５０μｍ以下とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電極とリード線と
をモリブデン箔（以下、「Ｍｏ箔」という。）によって
接続し、該Ｍｏ箔をピンチシールしたメタルハライドラ
ンプに関し、その長寿命化を図る技術に関する。
をモリブデン箔（以下、「Ｍｏ箔」という。）によって
接続し、該Ｍｏ箔をピンチシールしたメタルハライドラ
ンプに関し、その長寿命化を図る技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】メタルハライドランプは、放電空間を形
成するために、ガラス管の両端にピンチシール部が設け
られる。
成するために、ガラス管の両端にピンチシール部が設け
られる。
【０００３】ピンチシール部は放電空間内の電極に給電
するためのモリブデン箔及びリード線を挾持した状態で
ガラス管の両端部を圧潰することにより形成され、ガラ
ス管の内部を外気から遮断し、封入物質（キセノン、金
属ハロゲン化物、水銀）が外部に漏れないようにしてい
る。
するためのモリブデン箔及びリード線を挾持した状態で
ガラス管の両端部を圧潰することにより形成され、ガラ
ス管の内部を外気から遮断し、封入物質（キセノン、金
属ハロゲン化物、水銀）が外部に漏れないようにしてい
る。
【０００４】ところで、メタルハライドランプのガラス
管として、例えば、硬質ガラスを用いた場合には、管壁
の温度が９００℃程度と非常に高温になるため、変形、
失透など、耐熱の問題が発生する。また、そのガラス材
に添加物があるため、その添加物がアーク放電の時に、
発光してしまい所望の発光色を出せないという理由か
ら、一般に石英ガラスが用いられる。一方、硬質ガラス
は線膨張係数が５０×１０-7（１／℃）であるのに対
し、石英ガラスは約５．５×１０-7（１／℃）であるた
め、従来の白熱電球やハロゲン電球のように６０×１０
-7（１／℃）の線膨張係数をもつモリブデン製のリード
線を直接ピンチシールすることができない。同様に４０
×１０-7（１／℃）の線膨張係数をもつタングステン電
極も直接ピンチシールすることができない。
管として、例えば、硬質ガラスを用いた場合には、管壁
の温度が９００℃程度と非常に高温になるため、変形、
失透など、耐熱の問題が発生する。また、そのガラス材
に添加物があるため、その添加物がアーク放電の時に、
発光してしまい所望の発光色を出せないという理由か
ら、一般に石英ガラスが用いられる。一方、硬質ガラス
は線膨張係数が５０×１０-7（１／℃）であるのに対
し、石英ガラスは約５．５×１０-7（１／℃）であるた
め、従来の白熱電球やハロゲン電球のように６０×１０
-7（１／℃）の線膨張係数をもつモリブデン製のリード
線を直接ピンチシールすることができない。同様に４０
×１０-7（１／℃）の線膨張係数をもつタングステン電
極も直接ピンチシールすることができない。
【０００５】そのため、メタルハライドランプにあって
は、電極とリード線との間をＭｏ箔により接続し、該Ｍ
ｏ箔の部分をピンチシールすることが行われている。
は、電極とリード線との間をＭｏ箔により接続し、該Ｍ
ｏ箔の部分をピンチシールすることが行われている。
【０００６】ピンチシールされたＭｏ箔はピンチシール
部内（ガラス）において、膨張及び収縮が繰り返されて
もその形状が箔状であるため、両者の線膨張係数の差を
緩和する働きをし、これにより、上記リード線（線材）
をピンチシールしたものに比べ、ガラス材とＭｏ箔との
間にすべり及び間隙が生ずることを少なくでき、クラッ
クの発生及びこれによる封入ガスのリークの発生を少な
くすることができる。
部内（ガラス）において、膨張及び収縮が繰り返されて
もその形状が箔状であるため、両者の線膨張係数の差を
緩和する働きをし、これにより、上記リード線（線材）
をピンチシールしたものに比べ、ガラス材とＭｏ箔との
間にすべり及び間隙が生ずることを少なくでき、クラッ
クの発生及びこれによる封入ガスのリークの発生を少な
くすることができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記したよ
うな従来のメタルハライドランプにあっても、Ｍｏ箔と
ピンチシール部（ガラス）との線膨張係数の差により、
少なからず、すべり及び間隙が生じ、クラックの発生及
びこれによる封入ガスのリークが生じるため、メタルハ
ライドランプの寿命は、所望の寿命に対し、半分以下と
なっていた。
うな従来のメタルハライドランプにあっても、Ｍｏ箔と
ピンチシール部（ガラス）との線膨張係数の差により、
少なからず、すべり及び間隙が生じ、クラックの発生及
びこれによる封入ガスのリークが生じるため、メタルハ
ライドランプの寿命は、所望の寿命に対し、半分以下と
なっていた。
【０００８】そこで、出願人は、短寿命であったメタル
ハライドランプを解析した結果、以下のことが解った。
ハライドランプを解析した結果、以下のことが解った。
【０００９】（１）ピンチシール部に埋設されたＭｏ箔
は、その再結晶粒の大きさ（ｘ）が５０μｍ以上となっ
ている（図５参照）。尚、純モリブデン（９９．９５
％）の箔の場合は、５０＜ｘ＜１００μｍで、不純物を
多少含むモリブデン（９９．９０％）の箔の場合は、ｘ
≧１００μｍであった。
は、その再結晶粒の大きさ（ｘ）が５０μｍ以上となっ
ている（図５参照）。尚、純モリブデン（９９．９５
％）の箔の場合は、５０＜ｘ＜１００μｍで、不純物を
多少含むモリブデン（９９．９０％）の箔の場合は、ｘ
≧１００μｍであった。
【００１０】（２）また、隣接する再結晶粒との凹凸が
少なく、Ｍｏ箔の表面が結晶レベルで見て平滑面となっ
ている（図６参照）。
少なく、Ｍｏ箔の表面が結晶レベルで見て平滑面となっ
ている（図６参照）。
【００１１】このようなＭｏ箔がガラス材の中において
伸縮した場合、再結晶粒が大きい分その膨張による伸び
が大きくその方向も一致しているため、ガラス材に与え
る応力が大きく（図５参照）、ガラス材との接触部分に
おいてすべりが生じやすく、よって、Ｍｏ箔の伸縮が繰
り返されると、ガラス材とＭｏ箔との間のすべり及び間
隙が徐々に大きくなってしまう。
伸縮した場合、再結晶粒が大きい分その膨張による伸び
が大きくその方向も一致しているため、ガラス材に与え
る応力が大きく（図５参照）、ガラス材との接触部分に
おいてすべりが生じやすく、よって、Ｍｏ箔の伸縮が繰
り返されると、ガラス材とＭｏ箔との間のすべり及び間
隙が徐々に大きくなってしまう。
【００１２】そして、ランプの点灯時に放電空間内の内
部圧力が高くなると、電極周囲の間隙を縫ってその圧力
がピンチシール部におけるガラス材とＭｏ箔との間の間
隙に達し、上記クラックを助長するものと考えられる。
部圧力が高くなると、電極周囲の間隙を縫ってその圧力
がピンチシール部におけるガラス材とＭｏ箔との間の間
隙に達し、上記クラックを助長するものと考えられる。
【００１３】ところで、Ｍｏ箔は、圧延製造されるた
め、本来、その結晶粒は微細化（５〜３０μｍ）されて
いるが、ピンチシールを行うときに高温で軟化した石英
ガラスの間に挾持され圧潰されるため、Ｍｏ箔の結晶が
再結晶してしまうと考えられる。
め、本来、その結晶粒は微細化（５〜３０μｍ）されて
いるが、ピンチシールを行うときに高温で軟化した石英
ガラスの間に挾持され圧潰されるため、Ｍｏ箔の結晶が
再結晶してしまうと考えられる。
【００１４】すなわち、ピンチシールするときには、石
英ガラスを軟化温度以上の温度（１６００〜２０００
℃）に加熱してからＭｏ箔を挟持して圧潰するため、Ｍ
ｏ箔は１６００〜２０００℃に晒され、また、モリブデ
ンの再結晶は、約１３００℃より始まるため、Ｍｏ箔の
結晶粒は再結晶して粗大化（５０μｍ以上）してしま
う。
英ガラスを軟化温度以上の温度（１６００〜２０００
℃）に加熱してからＭｏ箔を挟持して圧潰するため、Ｍ
ｏ箔は１６００〜２０００℃に晒され、また、モリブデ
ンの再結晶は、約１３００℃より始まるため、Ｍｏ箔の
結晶粒は再結晶して粗大化（５０μｍ以上）してしま
う。
【００１５】このように、従来のメタルハライドランプ
にあっては、ピンチシールした状態で、Ｍｏ箔の結晶粒
が粗大化してしまっており、メタルハライドランプの点
灯を繰り返すことにより、Ｍｏ箔が伸縮して、ガラス材
に大きな応力がかかり、応力に耐えられなくなると、ガ
ラスと箔の間ですべりが生じ、すべりが生じたところの
間隙は大きくなってしまい、クラックの発生及びこれに
よる封入ガスのリークが生じるため、メタルハライドラ
ンプが短寿命となってしまうことが解った。
にあっては、ピンチシールした状態で、Ｍｏ箔の結晶粒
が粗大化してしまっており、メタルハライドランプの点
灯を繰り返すことにより、Ｍｏ箔が伸縮して、ガラス材
に大きな応力がかかり、応力に耐えられなくなると、ガ
ラスと箔の間ですべりが生じ、すべりが生じたところの
間隙は大きくなってしまい、クラックの発生及びこれに
よる封入ガスのリークが生じるため、メタルハライドラ
ンプが短寿命となってしまうことが解った。
【００１６】そこで、本発明は、電極とリード線とがＭ
ｏ箔にて接続され、該Ｍｏ箔をピンチシールしたメタル
ハライドランプの長寿命化を図ることを課題とする。
ｏ箔にて接続され、該Ｍｏ箔をピンチシールしたメタル
ハライドランプの長寿命化を図ることを課題とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明メタルハ
ライドランプは、上記した課題を解決するために、ピン
チシール部に埋設するＭｏ箔の結晶粒の大きさを５０μ
ｍ以下としたものである。
ライドランプは、上記した課題を解決するために、ピン
チシール部に埋設するＭｏ箔の結晶粒の大きさを５０μ
ｍ以下としたものである。
【００１８】従って、本発明メタルハライドランプによ
れば、ピンチシール部に埋設されたＭｏ箔の再結晶粒の
大きさを５０μｍ以下にしたので、メタルハライドラン
プの点灯を繰り返しても、Ｍｏ箔の伸縮による応力は、
Ｍｏ箔の再結晶粒がその応力を分散させることができ、
また、結晶粒界のすべりや結晶粒間の弾性によりガラス
に与える応力を減少させることができる。
れば、ピンチシール部に埋設されたＭｏ箔の再結晶粒の
大きさを５０μｍ以下にしたので、メタルハライドラン
プの点灯を繰り返しても、Ｍｏ箔の伸縮による応力は、
Ｍｏ箔の再結晶粒がその応力を分散させることができ、
また、結晶粒界のすべりや結晶粒間の弾性によりガラス
に与える応力を減少させることができる。
【００１９】また、再結晶粒が細かい場合、Ｍｏ箔の表
面に微細な凹凸があり、ガラスとの接合面積が増加する
ため、両者の接合強度を著しく増大させることになり、
これによっても、両者間の間隙から発生するクラックの
発生が減少するものと考えられる。
面に微細な凹凸があり、ガラスとの接合面積が増加する
ため、両者の接合強度を著しく増大させることになり、
これによっても、両者間の間隙から発生するクラックの
発生が減少するものと考えられる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下に、本発明メタルハライドラ
ンプの詳細を添付図面に示した実施例に従って説明す
る。
ンプの詳細を添付図面に示した実施例に従って説明す
る。
【００２１】尚、図面に示した実施例は、本発明メタル
ハライドランプを車両前照灯用メタルハライドランプに
適用したものである。
ハライドランプを車両前照灯用メタルハライドランプに
適用したものである。
【００２２】図１は、車輌前照灯用メタルハライドラン
プ１の全体を示す縦断面図である。２は石英ガラスから
成るガラス球であり、楕円球状の放電空間３と該放電空
間３の長軸方向における両端から突出したピンチシール
部４、４が形成されている。
プ１の全体を示す縦断面図である。２は石英ガラスから
成るガラス球であり、楕円球状の放電空間３と該放電空
間３の長軸方向における両端から突出したピンチシール
部４、４が形成されている。
【００２３】５、５は上記ピンチシール部４、４内に埋
設されたＭｏ箔であり、該Ｍｏ箔はモリブデン（Ｍｏ）
に、イットリア（Ｙ2Ｏ3）を０．５％（ドープ）添加し
たもの（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）を用いる。尚、Ｍｏ箔
へのイットリア（Ｙ2Ｏ3）の添加量は０．５％に限ら
ず、０．１％〜２％の添加量であっても、多くの再結晶
粒の大きさを５０μｍ以下とすることができたが、安定
した長寿命化を得るには、０．５％の添加量がもっとも
好ましい。
設されたＭｏ箔であり、該Ｍｏ箔はモリブデン（Ｍｏ）
に、イットリア（Ｙ2Ｏ3）を０．５％（ドープ）添加し
たもの（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）を用いる。尚、Ｍｏ箔
へのイットリア（Ｙ2Ｏ3）の添加量は０．５％に限ら
ず、０．１％〜２％の添加量であっても、多くの再結晶
粒の大きさを５０μｍ以下とすることができたが、安定
した長寿命化を得るには、０．５％の添加量がもっとも
好ましい。
【００２４】６、６はタングステン製の電極棒であり、
これら電極棒６、６の一端は上記Ｍｏ箔５、５の一端に
連結され、他端は上記放電空間３の両端部に突出してい
る。この放電空間３内に突出した電極棒６、６の他端は
他の部分の直径より大きい直径を有する球体７、７が形
成されており、電極棒６、６の他端と球体７、７とによ
って放電電極８、８が形成されている。
これら電極棒６、６の一端は上記Ｍｏ箔５、５の一端に
連結され、他端は上記放電空間３の両端部に突出してい
る。この放電空間３内に突出した電極棒６、６の他端は
他の部分の直径より大きい直径を有する球体７、７が形
成されており、電極棒６、６の他端と球体７、７とによ
って放電電極８、８が形成されている。
【００２５】９、９はモリブデン製のリード線であり、
その一端部が上記ピンチシール部４、４の外端から突出
した状態で一部がピンチシール部４、４に埋着され、か
つ、一端が前記Ｍｏ箔５、５の他端に接続されている。
その一端部が上記ピンチシール部４、４の外端から突出
した状態で一部がピンチシール部４、４に埋着され、か
つ、一端が前記Ｍｏ箔５、５の他端に接続されている。
【００２６】また、ガラス球２の放電空間３内には水銀
と一乃至複数の金属沃化物が封入され、かつ、始動用ガ
スとしてアルゴン、キセノン、クリプトン等の不活性ガ
スを単独又はこれらの混合物が所定の圧力で充填されて
いる。
と一乃至複数の金属沃化物が封入され、かつ、始動用ガ
スとしてアルゴン、キセノン、クリプトン等の不活性ガ
スを単独又はこれらの混合物が所定の圧力で充填されて
いる。
【００２７】そして、このようなメタルハライドランプ
１は、従来の製造方法と同様にして製造されるが、ピン
チシール部４、４に埋着されるＭｏ箔５、５の材質が、
Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3であるため、ピンチシール時に高
温（１６００〜２０００℃）に晒されても、微細化され
たＭｏ箔の結晶は再結晶しにくく、かつ、再結晶しても
結晶粒が粗大化しにくいため、ピンチシール後のＭｏ箔
５、５の再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とすることが
できる。
１は、従来の製造方法と同様にして製造されるが、ピン
チシール部４、４に埋着されるＭｏ箔５、５の材質が、
Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3であるため、ピンチシール時に高
温（１６００〜２０００℃）に晒されても、微細化され
たＭｏ箔の結晶は再結晶しにくく、かつ、再結晶しても
結晶粒が粗大化しにくいため、ピンチシール後のＭｏ箔
５、５の再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とすることが
できる。
【００２８】
【表１】
【００２９】表１は、メタルハライドランプの加速寿命
試験の結果で、Ｍｏ箔５、５の再結晶粒の大きさ、サン
プル数、メタルハライドランプの平均寿命を表わしたも
のである。
試験の結果で、Ｍｏ箔５、５の再結晶粒の大きさ、サン
プル数、メタルハライドランプの平均寿命を表わしたも
のである。
【００３０】尚、本表において、（ａ）は従来のＭｏ箔
であり、不純物が多少含まれたＭｏ箔、（ｂ）は別の従
来のＭｏ箔であり、純度９９．９５％の純Ｍｏ箔、
（ｃ）は本発明に係るＭｏ箔（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）
を示す。
であり、不純物が多少含まれたＭｏ箔、（ｂ）は別の従
来のＭｏ箔であり、純度９９．９５％の純Ｍｏ箔、
（ｃ）は本発明に係るＭｏ箔（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）
を示す。
【００３１】また、係る加速寿命試験は、図２のタイム
チャート図に示すように、１４０秒点灯−１０秒消灯−
４０秒点灯−２５０秒消灯を１サイクルとして、これを
くり返して、どのくらいでメタルハライドランプ１の不
具合、すなわち、封入物質のリークが発生するかを試験
したものである。
チャート図に示すように、１４０秒点灯−１０秒消灯−
４０秒点灯−２５０秒消灯を１サイクルとして、これを
くり返して、どのくらいでメタルハライドランプ１の不
具合、すなわち、封入物質のリークが発生するかを試験
したものである。
【００３２】この表１から明らかなように、不純物が多
少含まれたＭｏ箔の場合（再結晶粒サイズ：ｘ≧１００
μｍ）では、４個のサンプル数でその平均寿命は１１３
hours、純Ｍｏ箔の場合（再結晶粒サイズ：５０＜ｘ＜
１００μｍ）では、５個のサンプル数でその平均寿命は
３４１hours、Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3箔の場合（再結晶
粒サイズ：ｘ≦５０μｍ）では、１０個のサンプル数で
その平均寿命は１０８４hours、という結果を得た。
少含まれたＭｏ箔の場合（再結晶粒サイズ：ｘ≧１００
μｍ）では、４個のサンプル数でその平均寿命は１１３
hours、純Ｍｏ箔の場合（再結晶粒サイズ：５０＜ｘ＜
１００μｍ）では、５個のサンプル数でその平均寿命は
３４１hours、Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3箔の場合（再結晶
粒サイズ：ｘ≦５０μｍ）では、１０個のサンプル数で
その平均寿命は１０８４hours、という結果を得た。
【００３３】表１の結果から、ピンチシール部４、４に
埋着されたＭｏ箔５、５の再結晶粒の大きさが５０μｍ
以下の場合には、その寿命が長くなることが解る。
埋着されたＭｏ箔５、５の再結晶粒の大きさが５０μｍ
以下の場合には、その寿命が長くなることが解る。
【００３４】これは、Ｍｏ箔５、５の再結晶粒が小さい
と、そのＭｏ箔５、５の表面が結晶レベルで見て凹凸と
なり（図４参照）、そのため、各結晶粒に生ずる応力の
方向もまちまちで、応力は分散され（図３参照）、ま
た、結晶粒界のすべりや結晶粒間の弾性により、全体と
してガラス材に与える応力が減少するからであると考え
られる。
と、そのＭｏ箔５、５の表面が結晶レベルで見て凹凸と
なり（図４参照）、そのため、各結晶粒に生ずる応力の
方向もまちまちで、応力は分散され（図３参照）、ま
た、結晶粒界のすべりや結晶粒間の弾性により、全体と
してガラス材に与える応力が減少するからであると考え
られる。
【００３５】また、Ｍｏ箔５、５の表面が結晶レベルで
見て微細な凹凸となっていると、ガラス材との接合面積
が増加して、両者の接合強度を著しく増大させることに
なり、これによっても、両者間のすべり及び間隙から発
生するクラックの発生が減少するものと考えられる。
見て微細な凹凸となっていると、ガラス材との接合面積
が増加して、両者の接合強度を著しく増大させることに
なり、これによっても、両者間のすべり及び間隙から発
生するクラックの発生が減少するものと考えられる。
【００３６】しかして、上記メタルハライドランプ１に
よれば、従来のＭｏ箔を用いた場合に比べ、３〜１０倍
もの長寿命を達成することができた。
よれば、従来のＭｏ箔を用いた場合に比べ、３〜１０倍
もの長寿命を達成することができた。
【００３７】尚、Ｍｏ箔の再結晶粒の大きさを、５０μ
ｍ以下とする手段として、Ｍｏに０．５％のイットリア
（Ｙ2Ｏ3）をドープしたものについて説明したが、本発
明は、これに限らず、ピンチシール時の温度を低下させ
たり、ピンチシール時間を短縮することにより、従来の
Ｍｏ箔の成分でありながら、ピンチシール時にその再結
晶を極力防ぎ、これにより、ピンチシール後のＭｏ箔の
再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とするようにしても良
い。
ｍ以下とする手段として、Ｍｏに０．５％のイットリア
（Ｙ2Ｏ3）をドープしたものについて説明したが、本発
明は、これに限らず、ピンチシール時の温度を低下させ
たり、ピンチシール時間を短縮することにより、従来の
Ｍｏ箔の成分でありながら、ピンチシール時にその再結
晶を極力防ぎ、これにより、ピンチシール後のＭｏ箔の
再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とするようにしても良
い。
【００３８】
【発明の効果】以上に記載したところから明らかなよう
に、請求項１に記載の本発明によれば、Ｍｏ箔の再結晶
粒の大きさを５０μｍ以下としたので、Ｍｏ箔の伸縮が
繰り返されても、Ｍｏ箔とガラス材との間にすべり及び
間隔の発生によるクラックが生じにくく、メタルハライ
ドランプの長寿命化を実現することができる。
に、請求項１に記載の本発明によれば、Ｍｏ箔の再結晶
粒の大きさを５０μｍ以下としたので、Ｍｏ箔の伸縮が
繰り返されても、Ｍｏ箔とガラス材との間にすべり及び
間隔の発生によるクラックが生じにくく、メタルハライ
ドランプの長寿命化を実現することができる。
【００３９】請求項２に記載の本発明によれば、Ｍｏ箔
に０．５％のイットリア（Ｙ2Ｏ3）をドープしたので、
従来と同様な製造工程であっても、ピンチシール後のＭ
ｏ箔の再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とすることがで
き、従来の製造設備などをそのまま利用してもメタルハ
ライドランプの長寿命化を図ることができる。
に０．５％のイットリア（Ｙ2Ｏ3）をドープしたので、
従来と同様な製造工程であっても、ピンチシール後のＭ
ｏ箔の再結晶粒の大きさを５０μｍ以下とすることがで
き、従来の製造設備などをそのまま利用してもメタルハ
ライドランプの長寿命化を図ることができる。
【００４０】尚、前記した実施例において示した各部の
具体的な形状乃至構造は、本発明を実施するに当たって
の具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらに
よって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されることが
あってはならないものである。
具体的な形状乃至構造は、本発明を実施するに当たって
の具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらに
よって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されることが
あってはならないものである。
【図１】図３及び図４と共に、本発明メタルハライドラ
ンプの実施の一例を示すもので、本図は全体を示す縦断
面である。
ンプの実施の一例を示すもので、本図は全体を示す縦断
面である。
【図２】加速寿命試験の方法を示すタイムチャート図で
ある。
ある。
【図３】本発明に係るメタルハライドランプのＭｏ箔の
拡大断面図である。
拡大断面図である。
【図４】図３を更に拡大して示すＭｏ箔の拡大断面図で
ある。
ある。
【図５】図６と共に、従来のメタルハライドランプのＭ
ｏ箔の拡大断面図である。
ｏ箔の拡大断面図である。
【図６】図５を更に拡大して示すＭｏ箔の拡大断面図で
ある。
ある。
１…メタルハライドランプ、４…ピンチシール部、５…
モリブデン箔（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）、８…放電電
極、９…リード線（Ｍｏ）
モリブデン箔（Ｍｏ−０．５％Ｙ2Ｏ3）、８…放電電
極、９…リード線（Ｍｏ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大島 由隆 静岡県清水市北脇500番地 株式会社小糸 製作所静岡工場内
Claims (2)
- 【請求項１】 電極とリード線とがモリブデン箔にて接
続され、該モリブデン箔がピンチシール部に埋設状に設
けられたメタルハライドランプであって、 上記モリブデン箔の再結晶粒の大きさを５０μｍ以下と
したことを特徴とするメタルハライドランプ。 - 【請求項２】 モリブデン（Ｍｏ）にイットリア（Ｙ2
Ｏ3）をドープしたことを特徴とする請求項１に記載の
メタルハライドランプ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9224674A JPH1167153A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | メタルハライドランプ |
| US09/136,688 US5962976A (en) | 1997-08-21 | 1998-08-19 | Molybdenum foils with yttrium oxide and recrystallization grains no more than 50 microns within the pinch seals of a metallic halide lamp |
| DE19837904A DE19837904B4 (de) | 1997-08-21 | 1998-08-20 | Verfahren zum Herstellen verbesserter Molybdänfolien innerhalb der Quetschdichtungen einer Metallhalogenidlampe |
| NL1009910A NL1009910C2 (nl) | 1997-08-21 | 1998-08-20 | Verbeterde molybdeenfolies binnen de vastklemafdichtingen van een metaalhalogenidelamp. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9224674A JPH1167153A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | メタルハライドランプ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1167153A true JPH1167153A (ja) | 1999-03-09 |
Family
ID=16817450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9224674A Pending JPH1167153A (ja) | 1997-08-21 | 1997-08-21 | メタルハライドランプ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5962976A (ja) |
| JP (1) | JPH1167153A (ja) |
| DE (1) | DE19837904B4 (ja) |
| NL (1) | NL1009910C2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1997
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1998
- 1998-08-19 US US09/136,688 patent/US5962976A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-08-20 NL NL1009910A patent/NL1009910C2/nl not_active IP Right Cessation
- 1998-08-20 DE DE19837904A patent/DE19837904B4/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19837904A1 (de) | 1999-04-08 |
| NL1009910A1 (nl) | 1999-02-23 |
| US5962976A (en) | 1999-10-05 |
| DE19837904B4 (de) | 2012-06-28 |
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