JPH1164660A - 光導波路の製造方法 - Google Patents

光導波路の製造方法

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JPH1164660A
JPH1164660A JP21628497A JP21628497A JPH1164660A JP H1164660 A JPH1164660 A JP H1164660A JP 21628497 A JP21628497 A JP 21628497A JP 21628497 A JP21628497 A JP 21628497A JP H1164660 A JPH1164660 A JP H1164660A
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JP
Japan
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substrate
groove pattern
layer
optical waveguide
manufacturing
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JP21628497A
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Inventor
Tatsushi Hasegawa
達志 長谷川
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 工程時間の短縮化、クラックの発生の抑制お
よび加工精度の維持を図る。 【解決手段】 石英ガラス基板20の上面20aに第1
溝パタン24を形成する。また、石英ガラス基板34の
上面34aに第1溝パタンの反転パタンに相当する第2
溝パタン36を形成する。続いて、第1溝パタンに第1
予備コア層28a〜28cを埋め込み形成する。また、
第2溝パタンに第2予備コア層40aを埋め込み形成す
る。次に、石英ガラス基板20の上面20aと石英ガラ
ス基板34の上面34aとを対向させて位置合せを行
う。そして、位置合せを行った状態で石英ガラス基板2
0と石英ガラス基板34とを接合することにより、第1
予備コア層と第2予備コア層とを一体化してコア層42
を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光導波路の製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】光通信システムの大容量化および高機能
化が求められる一方で、光ファイバネットワークの低コ
スト化が強く要求されている。光導波路は、光デバイス
の小型化、高集積化および低コスト化に必要不可欠なも
のである。現在、光導波路の材料としては、石英系、強
誘電体系、半導体系、有機系などの材料が主として用い
られている。この中では、石英系の材料は光伝搬損失が
小さく、低損失の光デバイスが実現される。
【0003】従来の光導波路の製造方法は、例えば文献
「Optical and Quantum Elec
tronics 22(1990),pp.391−4
16」に開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光導波路の製造方法では、比較的長時間を要する工程を
含むので、低コスト化を図ることが困難である。次に、
従来の光導波路の製造方法につき、図5を参照して説明
する。図5は、従来の光導波路の製造工程を示す断面図
である。
【0005】先ず、石英基板10の上面にSiO2 のコ
ア材料層12を成膜する(図5(A))。石英系の厚膜
を作成する技術としては、火炎堆積法やCVD法などが
ある。ここでは、屈折率の制御に優れたCVD法を例に
して説明する。
【0006】コア材料層12を形成するためには、シリ
コン源として有機シリコン材料であるTEOS(テトラ
エトキシシラン)を用い、酸素源としてO3 ガスあるい
はO2 ガスを用いている。また、屈折率を制御するため
の不純物としてゲルマニウムやリンをドーピングする。
このため、テトラメトキシゲルマニウムやトリメチルフ
ォスフェートなどを原料ガスに添加している。成膜速度
は数100〜1000Å(オングストローム)/分程度
である。
【0007】次に、コア材料層12のパターニングを行
い、所定の平面パタンのコア層12aを得る(図5
(B))。このため、反応性エッチングなどによりコア
材料層12の不要な部分を除去する。エッチングは石英
基板10の上面の一部が露出するまで行い、直方体形状
のコア層12aを形成する。エッチングガスとしてはC
4 ガスなどを用いる。この場合のエッチング速度は、
数100〜1000Å/分程度である。
【0008】次に、コア材料層12を成膜したのと同じ
方法で上部クラッド層14を形成する。尚、屈折率が石
英基板10と同じ屈折率となるように不純物のドープ量
を調節している。
【0009】以上説明した製造工程により、石英基板1
0、コア層12aおよび上部クラッド層14を具えた石
英系光導波路が作成される。この構成例では、石英基板
10が下部クラッド層を兼ねている。コア層12aは石
英基板10と上部クラッド層14との間に形成されてい
る。コア層12aの屈折率は、石英基板10および上部
クラッド層14の屈折率に比べて0.2〜1%程度高く
してある。このため、導波される光は、コア層12a内
に閉じ込められる。
【0010】尚、低損失の石英系光導波路を得るために
は、上部クラッド層および下部クラッド層の各々の膜厚
を10μm以上に形成することが必要である。また、光
ファイバとの結合ロスを考慮すれば、コア層の厚さは5
μm以上必要である。
【0011】標準的な値として、コア層12aの膜厚を
8μmとし、上部クラッド層14の膜厚を25μmとす
る。そして、コア材料層12および上部クラッド層14
の成膜速度を共に800Å/分とし、コア材料層12の
エッチング速度を1000Å/分とする。従って、コア
材料層12の成膜時間、コア材料層12のエッチング時
間および上部クラッド層14の成膜時間は、それぞれ1
00分、80分および313分となる。
【0012】このように、通常の光導波路を形成するに
は、比較的多大な時間が必要である。光デバイスの低コ
スト化のためには、これら成膜時間およびエッチング時
間の大幅な短縮が必要である。
【0013】また、上述の例のように、数10μmもの
厚さの膜を成膜するとき、往々にしてクラック(ひび割
れ)が発生してしまう。さらに、この程度の膜厚になる
と、エッチングの異方性(垂直性)が弱まり、加工精度
を保つことが困難になる。
【0014】従って、従来より、工程時間の短縮化、ク
ラックの発生の抑制および加工精度の維持が図れる光導
波路の製造方法の出現が望まれていた。
【0015】
【課題を解決するための手段】そこで、この発明の光導
波路の製造方法によれば、第1工程では、第1基板の上
面に第1溝パタンを形成する。また、第2工程では、第
2基板の上面に前記第1溝パタンの反転パタンに相当す
る第2溝パタンを形成する。第3工程では、前記第1溝
パタンに第1予備コア層を埋め込み形成する。第4工程
では、前記第2溝パタンに第2予備コア層を埋め込み形
成する。第5工程では、前記第1基板の上面と前記第2
基板の上面とを対向させて位置合せを行う。第6工程で
は、前記位置合せを行った状態で前記第1基板と前記第
2基板とを接合することにより、前記第1予備コア層と
前記第2予備コア層とを一体化してコア層を得る。
【0016】従って、第1基板、コア層および第2基板
を具えた光導波路が作成される。コア層は、第1基板と
第2基板との間に形成されている。第1基板および第2
基板はそれぞれ上部クラッド層および下部クラッド層を
兼ねている。
【0017】このように、コア層を中心にして、上部ク
ラッド層を含む上側部分と、下部クラッド層を含む下側
部分とを、それぞれ個別に分離した状態で形成してい
る。そして、形成した上側部分と下側部分とを接合する
ことにより、所定の光導波路を得ている。従って、従来
に比べると、成膜時間やエッチング時間などを短縮する
ことができる。
【0018】例えば、従来のように上部クラッド層の成
膜を行う必要がない。従って、この上部クラッド層の成
膜にかかっていた時間だけ、工程時間の短縮化が達成さ
れる。この発明の製造方法によれば、主として、第1溝
パタンおよび第2溝パタンの形成時間と、コア材料層の
成膜時間とを要するだけで済む。
【0019】例えば、8μmのコア層を得たいときに
は、第1基板に4μmの深さの第1溝パタンを形成し、
第2基板に4μmの深さの第2溝パタンを形成する。
尚、これら第1溝パタンおよび第2溝パタンは、別々の
タイミングで形成してもよいが、同時に形成してもよ
い。例えば、異なる2種類のマスクを用いてエッチング
を行えば、同時に第1溝パタンおよび第2溝パタンを形
成することができる。従って、従来のように8μmの膜
厚のコア材料層をエッチングにより加工するのではな
く、4μmの深さの溝を基板に形成すればよいから、エ
ッチング時間を半分に減らすことが可能である。また、
エッチングの加工精度も向上する。
【0020】また、上述の製造例では、4μmの膜厚の
コア材料層を成膜すればよい。従って、従来に比べると
成膜時間も半分に減らすことができる。
【0021】以上説明したように、この発明の製造方法
によれば、製造に要する時間を大幅に短縮することが可
能である。また、上述したように、上部クラッド層およ
び下部クラッド層を成膜する必要がないから、クラック
の発生の心配もない。あるいは、また、従来に比べる
と、半分の膜厚のコア材料層を成膜すれば済むので、コ
ア層に対してもクラックの発生が抑制される。さらに、
エッチングの加工精度も向上する。
【0022】この発明の光導波路の製造方法において、
好ましくは、前記第3工程は、前記第1溝パタンを形成
した前記第1基板の上面にコア材料層を成膜する工程
と、前記成膜したコア材料層を、前記第1基板の上面の
一部が露出するまで研磨する工程とを含むのが良い。
【0023】また、好ましくは、前記第4工程は、前記
第2溝パタンを形成した前記第2基板の上面にコア材料
層を成膜する工程と、前記成膜したコア材料層を、前記
第2基板の上面の一部が露出するまで研磨する工程とを
含むのが良い。
【0024】このようにしてコア材料層の埋め込み形成
を行うので、第1基板および第2基板の各々の接合面が
実質的に平坦になる。従って、良好な接合が得られる。
【0025】また、この発明の光導波路の製造方法の実
施に当り、前記第5工程における位置合せを行うため
に、前記第1および第2工程では、前記第1溝パタンお
よび第2溝パタンの形成と同時に、前記第1基板および
第2基板の各々に同一形状のアライメント用溝パタンを
それぞれ形成しておくのが好適である。
【0026】このように、各基板には、互いに合同なア
ライメント用溝パタンをそれぞれ形成しておく。これら
アライメント用溝パタンの溝内にはコア層と同じ材料層
が成膜し、位置マーカが形成される。これらアライメン
ト用溝パタンは、これらが重なり合ったときに第1基板
および第2基板の所定の位置決めが行われるような位置
に形成する。従って、位置決めが容易になる。例えば、
前記アライメント用溝パタンは、十字形の平面パタンを
なしているのが良い。
【0027】また、好ましくは、前記第6工程における
前記接合を融着により行うのが良い。
【0028】このように、第1基板および第2基板に対
して熱処理を施すことにより、接合面における原子間力
を強める。この結果、所定の接合が達成される。
【0029】尚、前記第1基板および第2基板として石
英ガラスを用いるのが好適である。あるいは、また、前
記第1基板および第2基板として珪酸塩ガラスを用いる
のが好適である。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して、この発明の
実施の形態につき説明する。尚、図は、この発明が理解
できる程度に、構成、配置関係および大きさを示してあ
るに過ぎない。また、以下に記載する数値等の条件や材
料は単なる一例に過ぎない。従って、この発明は、この
実施の形態に何ら限定されることがない。
【0031】この実施の形態の光導波路の製造方法につ
き、図1〜図4を参照して説明する。図1および図2
は、この実施の形態の製造工程を示す断面図である。ま
た、図3は、第1溝パタンの構成を示す平面図である。
図4は、第2溝パタンの構成を主として示す平面図およ
び断面図である。
【0032】この実施の形態では、下部クラッド層を含
む下側部分と、上部クラッド層を含む上側部分とを、そ
れぞれ個別に形成している。そして、下側部分と上側部
分とを接合することにより、光導波路を形成する。下側
部分および上側部分は、同じ製造方法で形成する。従っ
て、先ず、下側部分の製造工程を例に取って、この製造
方法の前半部分につき説明する。
【0033】先ず、第1基板としての石英ガラス基板2
0の上面20aに第1溝パタン24を形成する(図1
(C))。このため、石英ガラス基板20の上面20a
にマスク材料層を成膜する。そして、このマスク材料層
の上面にレジストを堆積させて、通常のフォトリソグラ
フィ工程およびエッチング工程を行いレジストパタンを
形成する。このレジストパタンをマスクとして用いて、
上述のマスク材料層のエッチングを行い、所定のパタン
のマスク22を形成する(図1(A))。
【0034】尚、石英ガラス基板20の屈折率は1.4
52である。この石英ガラス基板20が光導波路の下部
クラッド層として機能する。
【0035】この例では、上述のマスク材料層としては
アモルファスシリコンを成膜している。このアモルファ
スシリコンの成膜は、例えばプラズマCVDにより行
う。原料ガスとしてはシラン(SiH4 )ガスを用いて
いる。ここでは、1μm〜2μmの膜厚のアモルファス
シリコン層をマスク材料層として形成している。
【0036】次に、マスク22を用いて、石英ガラス基
板20のエッチングを行う。このエッチング工程によ
り、マスク22で覆われていない石英ガラス基板20の
上層部分が所定量だけ除去される。このエッチング工程
で形成した溝の平面パタンが第1溝パタン24をなす。
また、この第1溝パタン24の形成と同時に、アライメ
ント用溝パタン26も形成される(図1(B))。その
後、マスク22は除去する(図1(C))。
【0037】次に、第1溝パタン24およびアライメン
ト用溝パタン26の各平面パタンについて、図3を参照
して説明する。図3は、マスク22を除去した後の、石
英ガラス基板20の上面20aの様子を示す平面図であ
る。図3の1C−1C線に沿う位置の切り口の断面が、
図1(C)に示す断面に対応している。
【0038】図3に示すように、第1溝パタン24は、
3本の溝24a、24bおよび24cを具えている。溝
24aおよび24bは、直線的に互いに平行に延在して
いる。溝24cは、溝24aおよび24bに対して平行
に延在する部分と、溝24aおよび24bに対して垂直
に延在する部分とを具えていて、L字形状の平面パタン
をなしている。
【0039】また、石英ガラス基板20の上面20aに
は、第1溝パタン24と同時にアライメント用溝パタン
26が所定の位置に形成される。図3に示すように、ア
ライメント用溝パタン26は十字形状の平面パタンをな
す溝パタンである。
【0040】このエッチング工程では、反応性イオンエ
ッチングにより、4μmの深さの溝を石英ガラス基板2
0に形成している。各溝24a〜24cの溝幅は8μm
に形成している。エッチングガスとしてはCF4 ガスを
用いている。尚、エッチング速度は1000Å/分であ
る。
【0041】次に、第1溝パタン24に第1予備コア層
28aを埋め込み形成する(図2(B))。このため、
先ず、第1溝パタン24を形成した石英ガラス基板20
の上面20aに、4μmの膜厚のコア材料層28を形成
する(図2(A))。
【0042】コア材料層28としては、CVD法により
SiO2 層を形成している。原料ガスとしては、TEO
S(テトラエトキシシラン)と、O3 ガスあるいはO2
ガスとを用いている。この工程では、第1溝パタン24
を構成する溝24a〜24cおよびアライメント用溝パ
タン26の溝の中を、コア材料層28により完全に埋め
込む。
【0043】尚、コア材料層28の屈折率を石英ガラス
基板20より0.2%高くするため、原料ガスに所要量
のテトラメトキシゲルマニウムをドーピングしている。
酸素源としてO3 ガスを用いる場合には、TEOS、O
3 およびテトラメトキシゲルマニウムの流量比を1:1
0:0.5とする。また、酸素源としてO2 ガスを用い
る場合には、TEOS、O2 およびテトラメトキシゲル
マニウムの流量比を1:10:0.5とする。コア材料
層28の堆積速度は800Å/分である。
【0044】続いて、成膜したコア材料層28を、石英
ガラス基板20の上面20aの一部が露出するまで研磨
する。ここでは、ダイヤモンド研磨剤を用いることによ
り、機械的にコア材料層28の研磨を行っている。研磨
液としては塩化セリウム(CeCl3 )溶液を用いてい
る。
【0045】この研磨工程を行った後で各溝24a〜2
4cの中に残存するコア材料層28が、それぞれ第1予
備コア層28a、28bおよび28cとなる。第1予備
コア層28aおよび28bは、それぞれ直線的に延在す
るコア層を構成している。また、第1予備コア層28c
は、L字形状の溝パタンを反映して、屈曲部分を有した
コア層を構成している。一方、この研磨工程により、ア
ライメント用溝パタン26の溝内にもコア材料層28d
すなわち位置マーカ28dが残存する(図2(B))。
【0046】以上説明した工程により、下部クラッド層
を含む下側部分30が形成される。また、上部クラッド
層を含む上側部分32は、以上説明した工程と同様の製
造工程を経て形成することができる。図4は、上側部分
32の構成を示す図である。図4(A)は、上側部分3
2の上面34a側を示す平面図である。図4(B)は、
図4(A)の4B−4B線に沿う位置での切り口の断面
を示す図である。
【0047】上側部分32を形成するため、先ず、第2
基板としての石英ガラス基板34の上面34aに第2溝
パタン36を形成している。また、第2溝パタン36の
形成と同時に、石英ガラス基板34の上面34aにアラ
イメント用溝パタン38を形成している。そして、第2
溝パタン36に第2予備コア層40aを埋め込み形成す
る。このとき、アライメント用溝パタン38内にもコア
材料層が残存して、位置マーカ40bが形成される。
【0048】第2溝パタン36およびアライメント用溝
パタン38の形成に用いるマスクのパタンは、第1溝パ
タン24およびアライメント用溝パタン26の形成に使
用したマスク22のパタンの反転パタンとなっている。
従って、上述の第2溝パタン36は、第1溝パタン24
の反転パタンに相当している。また、エッチング条件な
ども第1溝パタン24の形成条件と同様にして、4μm
の深さの溝を形成している。
【0049】第2溝パタン36は、3本の溝36a、3
6bおよび36cを具えている。このうち、溝36bお
よび36cは直線状の平面パタンをなしており、溝36
aがL字形状の平面パタンをなしている。第1溝パタン
24の溝24aが第2溝パタン36の溝36cと対応
し、第1溝パタン24の溝24bが第2溝パタン36の
溝36bと対応し、第1溝パタン24の溝24cが第2
溝パタン36の溝36aと対応している。
【0050】また、ここで形成したアライメント用溝パ
タン38は、十字形状の平面パタンをなしている。すな
わち、このアライメント用溝パタン38は、第1基板と
しての石英ガラス基板20に形成したアライメント用溝
パタン26と同一の平面パタンをなしている。
【0051】このように、下側部分30と上側部分32
とでは、溝(コア)の形状や、大きさや、形成される位
置などが、それぞれ対応している。従って、第1基板と
しての石英ガラス基板20の上面20aと、第2基板と
しての石英ガラス基板34の上面34aとを対向させて
位置決めを行えば、各上面20aおよび34aに形成さ
れた溝のパタンを重ね合わせて一体化することができ
る。
【0052】この実施の形態の製造工程の後半部分につ
き説明する。次の工程では、第1基板の上面20aと第
2基板の上面34aとを対向させて位置合せを行う。こ
のため、各基板に形成した位置マーカ28dおよび40
bを利用する。
【0053】位置合わせを行うに当り、各上面20aお
よび34aの間を離間させた状態にして、下側部分30
と上側部分32とを対向させる。尚、各上面20aおよ
び34aが互いに平行となるように対向させておく。好
ましくは、下側部分30および上側部分32を、位置調
整機構を有したステージに取り付けておくと良い。通常
のアライナ装置を用いてもよい。
【0054】そして、例えば上側部分32の下面(上面
34aと反対側の面)側から、顕微鏡などにより、位置
マーカ28dおよび40bを観察する。これら位置マー
カ28dおよび40bが、互いに完全に重なり合って一
体化するように、ステージの位置を調節する。位置マー
カ28dおよび40bが重なり合ったら、各基板の上面
20aおよび34aを密着させた状態にして、下側部分
30および上側部分32が位置ずれしないように固定す
る。例えば、クリップなどの挾持手段を用いて、下側部
分30および上側部分32を固定すればよい。
【0055】次に、位置合せを行った状態で石英ガラス
基板20および34間を接合し、第1予備コア層28a
〜28cと第2予備コア層40aとを一体化してコア層
42とする(図2(C))。これら基板間は、1300
℃の空気中で融着させることにより接合する。この熱処
理によって、下側部分30と上側部分32との界面部分
における原子間力が増強される。従って、第1予備コア
層28a〜28cと第2予備コア層40aとが一体化し
てコア層42が得られる。
【0056】以上説明した製造工程によれば、3本のコ
ア層42がクラッド層中に埋め込まれた光導波路が形成
される。各コア層42の幅は8μmであり、高さは8μ
mである。このうち、1本のコア層42により曲げ導波
路が構成されている。
【0057】ここで、この実施の形態で説明した各製造
工程に要する時間につき説明する。先ず、石英ガラス基
板20に第1溝パタン24を形成するために、エッチン
グを行っている。このエッチング工程では、4μmの溝
を1000Å/分のエッチング速度で形成している。従
って、このエッチング工程に要する時間は40分であ
る。
【0058】また、4μmの膜厚のコア材料層28を、
800Å/分の堆積速度で成膜している。この成膜工程
では、50分の時間を要している。
【0059】従って、下側部分30を形成するために要
するエッチング時間および成膜時間の合計時間は90分
である。上側部分32の形成にも同じ時間を要するが、
上側部分32と下側部分30とは同時に形成することが
できる。つまり、上述した前半部分の製造工程により同
時形成が可能である。従って、これら下側部分30およ
び上側部分32を形成するためには、90分のエッチン
グ時間および成膜時間で済む。
【0060】これに対して、従来方法で同じ構成の光導
波路を形成するためには、8μmの膜厚のコア材料層を
成膜により形成する。800Å/分の堆積速度で成膜を
行うと、100分もの時間を要してしまう。
【0061】また、この8μmの膜厚のコア材料層のエ
ッチング加工を行う必要がある。1000Å/分のエッ
チング速度では、80分もの時間を要してしまう。
【0062】また、従来方法によれば、10μm以上の
膜厚の上部クラッド層を成膜により形成する必要があ
る。例えば25μmの膜厚の上部クラッド層を800Å
/分の堆積速度で成膜すると、313分もの時間を要し
てしまう。
【0063】従って、従来方法で形成を行うと、合計で
493分もの時間をエッチング時間および成膜時間に当
てなければならない。
【0064】このように、この実施の形態の製造方法に
よれば、従来方法と比べて1/5以下のエッチング時間
および成膜時間で、同じ機能の光導波路を形成すること
が可能である。従って、位置合わせのための時間を考慮
しても、大幅な時間短縮が可能である。
【0065】また、この実施の形態の製造方法によれ
ば、8μmの高さのコア層42を形成する場合、その半
分の高さである4μmの高さの第1予備コア層28a〜
28cまたは第2予備コア層40aを形成すればよい。
膜の応力は、膜厚の2乗に比例して大きくなる。従来に
比べると、半分の膜厚の層を形成すればよいから、クラ
ックが発生する可能性が大きく減少する。
【0066】以上説明したように、この製造方法は歩留
りの向上に大きく寄与する。また、成膜可能なプロセス
条件のマージンが大きくなるので、高スループットで高
品質な膜の開発が期待できる。
【0067】また、従来で形成するコア層のアスペクト
比に比べて、この実施の形態で形成する溝の場合には半
分のアスペクト比となる。従って、第1溝パタン24や
第2溝パタン36の溝の垂直性が増す。また、コア材料
層も埋め込みやすくなる。
【0068】尚、この実施の形態では、基板として石英
ガラス基板を用いたが、例えば珪酸塩ガラス基板を用い
てもよい。
【0069】また、この実施の形態では、クラッド層
(基板)とコア層とを石英材料で構成したが、これに限
られることはない。これらクラッド層およびコア層間の
屈折率の整合が取れ、基板同士の接合が可能であれば、
基板材料およびコア材料の組み合わせは任意である。そ
して、コア層42の形状にも限定されない。
【0070】また、コア材料層の堆積はCVD法により
行ったが、例えば火炎堆積法など他の堆積法を用いても
よい。さらに、エッチング法に関しても限定しない。
【0071】
【発明の効果】この発明の光導波路の製造方法によれ
ば、コア層を中心にして、上部クラッド層を含む上側部
分と、下部クラッド層を含む下側部分とを、それぞれ個
別的に分離した状態で形成している。そして、形成した
上側部分と下側部分とを接合することにより、所定の光
導波路を得ている。従って、従来に比べると、成膜時間
やエッチング時間などを短縮することができる。また、
エッチングの加工精度も向上する。さらに、上部クラッ
ド層および下部クラッド層を成膜する必要がないから、
クラックの発生の心配もない。あるいは、また、従来に
比べると、半分の膜厚のコア材料層を成膜すれば済むの
で、コア層に対してもクラックの発生が抑制される。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の製造工程を示す図である。
【図2】図1に続く、実施の形態の製造工程を示す図で
ある。
【図3】第1溝パタンの構成を示す図である。
【図4】上側部分の構成を示す図である。
【図5】従来の光導波路の製造工程を示す図である。
【符号の説明】
10:石英基板 12:コア材料層 12a:コア層 14:上部クラッド層 20:石英ガラス基板 20a:上面 22:マスク 24:第1溝パタン 24a、24b、24c:溝 26:アライメント用溝パタン 28:コア材料層 28a、28b、28c:第1予備コア層 28d:位置マーカ 30:下側部分 32:上側部分 34:石英ガラス基板 34a:上面 36:第2溝パタン 36a、36b、36c:溝 38:アライメント用溝パタン 40a:第2予備コア層 40b:位置マーカ 42:コア層

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1基板の上面に第1溝パタンを形成す
    る第1工程と、 第2基板の上面に前記第1溝パタンの反転パタンに相当
    する第2溝パタンを形成する第2工程と、 前記第1溝パタンに第1予備コア層を埋め込み形成する
    第3工程と、 前記第2溝パタンに第2予備コア層を埋め込み形成する
    第4工程と、 前記第1基板の上面と前記第2基板の上面とを対向させ
    て位置合せを行う第5工程と、 前記位置合せを行った状態で前記第1基板と前記第2基
    板とを接合することにより、前記第1予備コア層と前記
    第2予備コア層とを一体化してコア層を得る第6工程と
    を含むことを特徴とする光導波路の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第3工程は、 前記第1溝パタンを形成した前記第1基板の上面にコア
    材料層を成膜する工程と、 前記成膜したコア材料層を、前記第1基板の上面の一部
    が露出するまで研磨する工程とを含むことを特徴とする
    光導波路の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第4工程は、 前記第2溝パタンを形成した前記第2基板の上面にコア
    材料層を成膜する工程と、 前記成膜したコア材料層を、前記第2基板の上面の一部
    が露出するまで研磨する工程とを含むことを特徴とする
    光導波路の製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第5工程における位置合せを行うために、前記第1
    および第2工程では、前記第1溝パタンおよび第2溝パ
    タンの形成と同時に、前記第1基板および第2基板の各
    々に同一形状のアライメント用溝パタンをそれぞれ形成
    しておくことを特徴とする光導波路の製造方法。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第6工程における前記接合を融着により行うことを
    特徴とする光導波路の製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第1基板および第2基板として石英ガラスを用いて
    いることを特徴とする光導波路の製造方法。
  7. 【請求項7】 請求項1に記載の光導波路の製造方法に
    おいて、 前記第1基板および第2基板として珪酸塩ガラスを用い
    ていることを特徴とする光導波路の製造方法。
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