JPH1137947A

JPH1137947A - 穀類品質評価装置

Info

Publication number: JPH1137947A
Application number: JP19624597A
Authority: JP
Inventors: Takao Sugiyama; 隆夫杉山; Eiji Makino; 英二牧野; Tomohiko Ichikawa; 友彦市川; Sadakazu Fujioka; 定和藤岡; Taiichi Mori; 泰一森; Motohiko Emori; 元彦江守; Toshimichi Watanabe; 利通渡辺; Jiro Warashina; 二郎藁科; Michio Kawanaka; 道夫川中; Motoyasu Natsuga; 元康夏賀
Original assignee: SEIBUTSUKEI TOKUTEI SANGYO GIJUTSU KENKYU SUISHIN KIKO; Iseki and Co Ltd; Shizuoka Seiki Co Ltd; Kubota Corp; Kett Electric Laboratory; Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Current assignee: SEIBUTSUKEI TOKUTEI SANGYO GIJUTSU KENKYU SUISHIN KIKO; Iseki and Co Ltd; Shizuoka Seiki Co Ltd; Kubota Corp; Kett Electric Laboratory; Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Priority date: 1997-07-23
Filing date: 1997-07-23
Publication date: 1999-02-12

Abstract

(57)【要約】【課題】サンプル穀粒やこのサンプル穀粒を搗精した
サンプルを品質測定することができ、また、装置をコン
パクトに構成でき、さらに、品質測定手段の故障の発生
を防止することができる穀類品質評価装置を提供する。【解決手段】サンプル玄米Ａを上下に搬送する昇降エ
レベータ２の一側部に、精米系路５と略一定量のサンプ
ル玄米Ａを貯留する玄米貯留部７とサンプル玄米Ａを精
米する精米機６とを設け、昇降エレベータ２の他側部
に、測定系路８と略一定量のサンプル米を貯留するサン
プル貯留部１０とサンプル米の品質を測定する内部品質
測定手段１１および外部品位測定手段９とを設け、測定
系路８をサンプルが通る際にサンプル貯留部１０により
一定量のサンプルを分配取得して内部品質測定手段１１
にて内部品質を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は米などの穀類の品質
評価を行う穀類品質評価装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、玄米や白米のサンプルの品質を測
定して、その測定データを参考にすることが徐々に行わ
れつつある。

【０００３】この品質測定手段としては、外観的な品位
を測定する外観品位測定手段や、内部的な品質を測定す
る内部品質測定手段がある。外観品位測定手段として
は、サンプル米に可視光線を照射して透過光と反射光と
を計測し、これらの計測値に基づく演算にて色調分析を
行い、サンプル米が玄米の場合には、正常な色の整粒、
青味がかった未熟粒、虫食いなどにより黒色を帯びた被
害粒、茶色を帯びた着色粒、透明度の無い死米等の品質
測定を行い、サンプル米が白米の場合には、形の崩れて
いない完全粒、粉状となっている粉状質、砕かれたりし
て小さい形状の砕粒、虫食いなどにより黒色を帯びた被
害粒、茶色を帯びた着色粒等の品質測定を行う構成のも
のが知られている。

【０００４】また、内部品質測定手段としては、サンプ
ル米に近赤外線を照射してサンプル米内部の各種の化学
性分含有量や品質評価値を演算するなどして内部品質評
価を行う構成のものが知られている。

【０００５】このような品質測定手段は、取扱者がサン
プル米を計量カップなどで計って投入する形式のものが
あるが、これに精米機を組み合わせて、玄米の品質測定
を行うだけでなく、精米機にて玄米を精米して白米の品
質測定をも行えるようにした米品質評価装置のシステム
を実現すれば、玄米および白米の両方の品質測定結果を
得られるため、取扱者であるユーザーに対して役立つ情
報を提供できる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ユーザ
ーがサンプル米を計量カップなどで計って投入する形式
のものにおいては、サンプル米の計量を不正確に行って
多めのサンプル米を投入してしまうことがあり、この場
合には、品質測定手段の内部でサンプル米がオーバーフ
ローしてしまい、品質測定手段の故障の原因となるおそ
れがある。

【０００７】また、精米機と品質測定手段とを組み合わ
せて品質評価装置を構成するに際しては、精米機と品質
測定手段とに分配する機構が別途に必要となるととも
に、精米機および品質測定手段にサンプル米を供給する
通路もさらに必要となるため、分配する際に多くの時間
を要したり、分配部や多数の通路などにより装置が大型
化してしまうおそれがある。

【０００８】また、サンプル米を投入する投入口を装置
の上端部に設けるとともに、この下流側に精米機や品質
測定手段を配置するとサンプル米の供給を容易に行うこ
とができるが、この場合、投入口が高い位置に設けざる
を得なくなって、投入作業が不便となるおそれがある。

【０００９】さらに、どのような構造にすれば、多くの
人手を掛けたりすることなく、品質測定の測定精度を上
げることができるかという課題もある。本発明は、この
ような問題や課題を解決するもので、サンプル穀粒やこ
のサンプル穀粒を搗精したサンプルを能率的に、かつ測
定精度を上げながら品質測定することができ、また、装
置をコンパクトに構成でき、さらに、品質測定手段の故
障の発生を防止することができる穀類品質評価装置を提
供することを目的とするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の穀類品質評価装置は、サンプル穀粒
を搬送するサンプル穀粒搬送手段の一側部に、サンプル
穀粒を搗精する搗精手段を設け、サンプル穀粒搬送手段
の他側部に、略一定量のサンプル穀粒を貯留するサンプ
ル貯留部とサンプル穀粒の品質を測定する品質測定手段
とを設け、案内路を介して、少なくとも、サンプル穀粒
搬送手段と搗精手段、サンプル穀粒搬送手段とサンプル
貯留部、およびサンプル貯留部と品質測定手段を、それ
ぞれ連通可能に構成してなるものである。

【００１１】この構成によれば、サンプル穀粒搬送手段
と品質測定手段とを連通する案内路にサンプル貯留部を
設けて、このサンプル貯留部に溜まったサンプル穀粒を
品質測定手段に案内するようにしているので、品質測定
手段への必要サンプル量を容易かつ迅速に分配できて、
作業能率が良好となる。そして、品質測定手段により品
質測定されるサンプル穀粒はいずれの場合も、サンプル
貯留部により略一定量に制限されるため、品質測定手段
の内部でサンプル穀粒がオーバーフローすることがなく
なり、品質測定手段の故障の発生を防止できる。また、
サンプル穀粒搬送手段の両側に搗精手段とサンプル貯留
部および品質測定手段とをそれぞれ配置したため、サン
プル穀粒搬送手段と搗精手段とサンプル貯留部および品
質測定手段とを短い距離で効率的に連通させることがで
き、サンプル穀粒を良好に移送することができながら装
置全体をコンパクトに構成することができる。

【００１２】また、請求項２記載の発明は、請求項１に
記載の穀類品質評価装置において、サンプル穀粒搬送手
段は、下部に設けたカップにサンプル穀粒を受け入れて
搬送して上方で排出する構成とし、サンプル穀粒搬送手
段の排出部から搗精手段に至る間に排出されたサンプル
穀粒のうちの略一定量のサンプル穀粒を収容する穀粒ポ
ケット部を設け、この穀粒ポケット部の下部排出口を前
記カップの受入れ口に連通可能に構成してなるものであ
る。

【００１３】この構成によれば、搗精していないサンプ
ル穀粒がサンプル穀粒搬送手段から搗精手段に送られる
際にも略一定量だけ穀粒ポケット部に収納されて分配さ
れ、穀粒ポケット部からカップの受入れ口に戻される。
したがって、これによっても、品質測定手段の内部で、
搗精していないサンプル穀粒がオーバーフローすること
がなくなり、品質測定手段の故障の発生を防止できる。
また、下部に設けたカップにサンプル穀粒を受け入れて
搬送して上方で排出する構成としているため、低い位置
のカップにサンプル穀粒を投入することとなって、使い
勝手が良好となる。

【００１４】また、請求項３記載の穀類品質評価装置
は、サンプル穀粒を搬送するサンプル穀粒搬送手段の一
側部に、サンプル穀粒を搗精する搗精手段を設け、サン
プル穀粒搬送手段の他側部に、略一定量のサンプル穀粒
を貯留し且つ排出できるサンプル貯留室とこのサンプル
貯留室から供給されたサンプル穀粒の品質を測定する品
質測定手段とを設け、サンプル貯留室は複数設けてなる
ものである。

【００１５】この構成によれば、サンプル貯留室を複数
設けているので、これらのサンプル貯留室からサンプル
穀粒を順に導入して品質測定することで、品質測定を複
数回行うことができて品質測定精度を向上させることが
できるだけでなく、ユーザーはサンプル穀粒を一回投入
するだけで良いので多くの手間がかかったりすることも
ない。

【００１６】また、請求項４記載の穀類品質評価装置
は、サンプル穀粒を流す測定系路を設け、この測定系路
に略一定量のサンプル穀粒を貯留するサンプル貯留部を
接続し、サンプル貯留部と品質測定手段とを連通可能に
構成してなるものである。

【００１７】この構成によっても、品質測定手段により
品質測定されるサンプル穀粒が、サンプル貯留部により
略一定量に制限されるため、品質測定手段の内部でサン
プル穀粒がオーバーフローすることがなくなり、品質測
定手段の故障の発生を防止できる。

【００１８】また、請求項５記載の発明は、請求項４記
載の穀類品質評価装置において、サンプル貯留室を複数
設けたものであり、この構成によっても、サンプル貯留
室を複数設けているので、これらのサンプル貯留室から
サンプル穀粒を順に導入して品質測定することで、品質
測定を複数回行うことができて品質測定精度を向上させ
ることができるだけでなく、ユーザーはサンプル穀粒を
一回投入するだけで良いので手間がかかったりすること
もない。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態にかか
る米品質評価装置を概略的に示す図である。

【００２０】図１において、１は測定しようとするサン
プル米を投入する投入カップ１で、この投入カップ１は
サンプル穀粒搬送手段としての昇降エレベータ２により
昇降自在とされているとともに、昇降エレベータ２の上
端位置で、一側方の精米側ホッパ３または他側方の測定
側ホッパ４に向けて傾倒自在とされている。

【００２１】精米側ホッパ３は出口側が、側方ほど下方
に傾斜した形状の精米系路５に接続され、精米系路５の
下流端は、昇降エレベータ２の一側部に配置された搗精
手段としての精米機６に接続されている。精米機６は、
精米負荷を大小変更しあるいは精米時間を長短変更でき
る機能を有し、後述する制御手段１３の指令または外部
からの入力操作によってこの精米強度が所定の基準精米
強度に調整されるようになっている。また、精米機６に
は計量部６ａが内蔵されており、投入された玄米のサン
プル（サンプル玄米という）Ａや、精米された白米のサ
ンプル（サンプル白米という）Ｂはその都度、計量部６
ａで重さが測定され、予め設定された精米歩留まりに達
しない場合には精米工程を複数回行うことが可能とされ
ている。また、図示しないが、サンプル玄米Ａを内部で
昇降して精米室に投入したり上部から排出する機構も有
している。

【００２２】精米系路５の途中箇所には一定量のサンプ
ル玄米Ａを溜める穀粒ポケット部としての凹形状の玄米
貯留部７が設けられており、この玄米貯留部７には底面
開口部を開閉するシャッターが設けられている。そし
て、このシャッターを開けることにより、玄米貯留部７
に溜められたサンプル玄米Ａが連通路７ａを介して、昇
降エレベータ２の下端に位置されている投入カップ１に
戻されるようになっている。また、精米機６により精米
が終了したサンプル白米Ｂも返却路６ｂを介して、昇降
エレベータ２の下端に位置されている投入カップ１に戻
されるようになっている。

【００２３】測定側ホッパ４は出口側が、側方ほど下方
に傾斜した形状の測定系路８に接続され、測定系路８の
下流端は外観品位測定手段９に接続されている。測定系
路８の途中箇所には一定量のサンプル米（サンプル玄米
Ａまたはサンプル白米Ｂ）を溜める凹形状のサンプル貯
留部１０が設けられており、このサンプル貯留部１０に
は底面開口部を開閉するシャッターが設けられている。
そして、このシャッターを開けることにより、サンプル
貯留部１０に溜められたサンプル米が連通路１０ａを介
して内部品質測定手段１１に供給されるようになってい
る。

【００２４】外観品位測定手段９には検出部９ａと選別
部９ｂと計量部９ｃとが設けられており、排出部が複数
箇所設けられている。外観品位測定手段９に供給された
サンプル米（サンプル玄米Ａまたはサンプル白米Ｂ）
は、一粒ずつ検出部９ａへ送られ、サンプル米に可視光
線を照射して透過光と反射光とを計測し、これらの計測
値に基づく演算にて色調分析を行う。そして、サンプル
米の外観的等級を、サンプル玄米Ａの場合には整粒、未
熟粒、被害粒、着色粒、死米、胴割粒の６種類のラン
ク、またサンプル白米Ｂの場合には完全粒、粉状質粒、
砕粒、被害粒、着色粒の５種類のランクに判定し、選別
部９ｂにて各ランク毎に仕分けし、個別のサンプル貯留
カップ１２に排出する。このとき、選別部９ｂ内のカウ
ンタにて各ランクごとの粒数を計測するとともに、計量
部９ｃにて各ランク毎の粒重を計測する。そして、その
計測値によって整粒割合をはじめとする各ランク毎の重
量割合が制御手段１３の演算部１３ａにて算出される。
なお、測定に使用されない残りのサンプル玄米Ａやサン
プル白米Ｂは図示しない残玄米カップや残白米カップに
排出される。

【００２５】内部品質測定手段１１においては、サンプ
ル米（サンプル玄米Ａまたはサンプル白米Ｂ）に近赤外
線を照射して非粉砕状態下で分光分析し、サンプル米内
部の水分、タンパク、アミロース、脂肪酸度や内部品質
評価値を測定する。内部品質評価値は、日本穀物検定協
会の官能検査や理化学検査の基準に基づいて行われ、サ
ンプル米の食味評価値、粘り値、硬さ値等から判定され
算出される。なお、測定後のサンプル玄米Ａやサンプル
白米Ｂはそれぞれ別個の玄米カップ１４や白米カップ１
５に排出される。

【００２６】なお、精米系路５における玄米貯留部７の
サンプル玄米Ａの貯留容量は、内部品質測定手段１１と
外観品位測定手段８とで使用するサンプル玄米Ａの量と
同等またはそれ以上の容量とされ、当然ながら測定系路
８のサンプル貯留部１０の容量よりも大きく形成されて
いる。

【００２７】制御手段１３は、外観品位測定手段９の測
定データおよび内部品質測定手段１１の測定データをそ
れぞれ読み取り、各データを記憶手段１６へ記憶すると
ともに随時表示手段１７へ表示する。また、精米機６の
計量部６ａで計量されたサンプル米の初期重量と精米後
の重量との比から精米歩留まりを演算し、精米強度を調
整することによって精米歩留まりを変更制御する。精米
機６の計量部６ａの計量データ、精米機６における精米
歩留まりなども記憶手段１６へ記憶されるとともに随時
表示手段１７へ表示される。

【００２８】ユーザーは、昇降エレベータ２の下端位置
に配置されている投入カップ１にサンプル玄米Ａを投入
し、スタートスイッチ（図示せず）などを操作するだけ
でよい。

【００２９】すると、まず、投入カップ１が昇降エレベ
ータ２により上昇されるとともに、上端位置に達した際
に精米側ホッパ３側に傾倒され、サンプル玄米Ａが精米
系路５に流される。流されたサンプル玄米Ａの内、一定
量のものは玄米貯留部７に溜まり、この玄米貯留部７か
ら溢れたサンプル玄米Ａだけが精米機６に供給される。
精米機６はサンプル玄米Ａの重量が計量部６ａにて測定
された後に、精米作業が始められる。

【００３０】一方、投入カップ１は昇降エレベータ２に
より下降され、下端位置まで降りた状態で玄米貯留部７
のサンプル玄米Ａが連通路７ａを介して投入カップ１に
戻される。この投入カップ１は昇降エレベータ２により
再度上昇され、その上端部まで昇降されると、測定側ホ
ッパ４の側に傾倒され、サンプル玄米Ａが測定系路８に
流される。流されたサンプル玄米Ａの内、一定量のもの
はサンプル貯留部１０に溜まり、このサンプル貯留部１
０から溢れたサンプル玄米Ａが外観品位測定手段９に供
給されてサンプル玄米Ａの外観品位が測定される。ま
た、サンプル貯留部１０に溜められたサンプル玄米Ａが
内部品質測定手段１１に供給されてサンプル玄米Ａの内
部品質が測定される。すなわち、精米機６による精米動
作と並行して、サンプル玄米Ａの外観品位測定動作と内
部品質測定動作とが行われる。

【００３１】精米機６では、精米中にはサンプル白米Ｂ
の重量データが制御手段１３に出力され、所定の精米歩
留まりに達したと判断されると精米作業が終了されて、
精米歩留まりが表示手段１７に表示されるとともに、精
米されたサンプル白米Ｂが返却路６ｂを介して、下端位
置に戻されている投入カップ１に送られる。

【００３２】また、内部品質測定手段１１および外観品
位測定手段９によるサンプル玄米Ａに対しての内部品質
測定および外観品位測定が完了すると、それぞれが測定
完了した時点でサンプル玄米Aの各測定結果が順次表示
手段１７へ表示されるとともに記憶手段１６に記憶され
る。また、内部品質測定が終了したサンプル玄米Aは玄
米カップ１４に排出され、外観品位測定が終了したサン
プル玄米Aは整粒、未熟粒、被害粒、着色粒、死米、胴
割粒の６種類のランクに選別されて個別のサンプル貯留
カップ１２に排出され、残りのサンプル玄米Aは残玄米
カップに排出される。

【００３３】内部品質測定および外観品位測定が完了し
た時点で、精米されたサンプル白米Ｂが投入されている
投入カップ１が上昇され、昇降エレベータ２の上端部ま
で昇降されると、測定側ホッパ４の側に傾倒され、サン
プル白米Bが測定系路８に流される。流されたサンプル
白米Bの内、一定量のものはサンプル貯留部１０に溜ま
り、このサンプル貯留部１０から溢れたサンプル白米B
が外観品位測定手段９に供給されてサンプル白米Bの外
観品位が測定される。また、サンプル貯留部１０に溜め
られたサンプル白米Bが内部品質測定手段１１に供給さ
れてサンプル白米Bの内部品質も測定される。このよう
にして、サンプル玄米Ａの場合と同様にして、サンプル
白米Ｂが外観品位測定手段９と内部品質測定手段１１と
によりそれぞれ測定され、サンプル白米Bについての各
測定データが表示手段１７に表示されるとともに記憶手
段１６に記憶される。

【００３４】したがって、すべての測定が完了したで、
表示手段１７において、精米歩留まりデータに加えて、
外観品位および内部品質に関するサンプル玄米Ａの測定
データとサンプル白米Ｂの測定データとが表示される。

【００３５】このように、測定系路８にサンプル貯留部
１０を設けて、このサンプル貯留部１０に溜まったサン
プル玄米Ａやサンプル白米Ｂを内部品質測定手段１１に
案内するようにしているので、内部品質測定手段１１へ
の必要サンプル量を容易かつ迅速に分配できて、作業能
率が良好となる。そして、内部品質測定手段１１により
品質測定されるサンプル玄米Ａおよびサンプル白米Ｂは
いずれの場合も、サンプル貯留部１０により略一定量に
制限されるため、内部品質測定手段１１の内部でサンプ
ル玄米Ａやサンプル白米Ｂがオーバーフローすることが
なくなり、内部品質測定手段１１での故障の発生を防止
できる。

【００３６】また、精米系路５に玄米貯留室７を設け
て、この玄米貯留室７に溜まったサンプル玄米Ａを外観
品位測定手段９や内部品質測定手段１１に案内するよう
にしているので、サンプル玄米Ａを精米機６に導く際
に、外観品位測定手段９や内部品質測定手段１１へのサ
ンプル玄米Ａの必要量を容易かつ迅速に分配できて、作
業能率が良好となる。ここで、サンプル玄米Ａは、玄米
貯留部７で一定量が取得されて、この一定量のサンプル
玄米Ａが測定系路８に流され、このサンプル玄米Ａのう
ちの所定量がサンプル貯留部１０により取得されて、残
りのサンプル玄米Ａが外観品位測定手段９に供給され
る。したがって、玄米貯留部７の容量からサンプル貯留
部１０の容量を差し引いた容量のサンプル玄米Ａが外観
品位測定手段９の測定に適した容量になるように設定し
ておくことにより、外観品位測定手段９に対しても適量
のサンプル玄米Ａが供給されて、外観品位測定手段９の
内部においてもサンプル玄米Ａがオーバーフローするこ
とがなくなり、外観品位測定手段９での故障の発生も防
止できる。

【００３７】また、昇降エレベータ２の一側部に精米機
６を配置し、昇降エレベータ２の他側部に内部品質測定
手段１１および外観品位測定手段９を配置しており、中
央部に搬送手段である昇降エレベータ２を配置している
ため、精米系路５や測定系路８を短い距離でかつ外側に
出っ張ったりすることなく配置でき、また、別途に分配
装置などを設けていないため、米品質評価装置としてコ
ンパクト化することができる。

【００３８】さらに、昇降エレベータ２の下端部に配置
させた投入カップ１にサンプル玄米Ａを投入するため、
ユーザーは、サンプル玄米Ａの投入を容易に行うことが
できるうえに、投入の際に投入カップ１へのサンプル玄
米Ａのたまり具合を見ながら投入することができ、使い
勝手が良好となる。

【００３９】次に、図２は本発明の他の実施の形態にか
かる米品質評価装置を概略的に示す図である。この米品
質評価装置も図１に示すものとほぼ同様とされている
が、測定系路８に３つのサンプル貯留部１０Ａ，１０
Ｂ，１０Ｃが連続して並列に設けられている。そして、
測定系路８にサンプル玄米Ａまたはサンプル白米Ｂが供
給されると、全てのサンプル貯留部１０Ａ，１０Ｂ，１
０Ｃに一度に溜められる。一方、各サンプル貯留部１０
Ａ，１０Ｂ，１０Ｃに設けられたシャッターは、時間を
ずらして順次開けられ、その度にそのサンプル玄米Ａま
たはサンプル白米Ｂが内部品質測定手段１１にて測定さ
れる。そして、それぞれ３回ずつ内部品質が測定されて
各測定結果の平均値が算出された後に、この値が表示手
段１７に表示される。

【００４０】なお、精米系路５における玄米貯留部７の
サンプル玄米Ａの貯留容量は、内部品質測定手段１１で
３回分使用するサンプル玄米Ａの量と外観品位測定手段
８で使用するサンプル玄米Ａの量とを合わせた量と同等
またはそれ以上の容量とされ、当然ながら測定系路８の
サンプル貯留部１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃを合わせた容量
よりも大きく形成されている。

【００４１】この米品質評価装置によれば、品質測定を
３回行いその平均値を算出することで、品質測定精度を
向上させることができる。しかも、ユーザーの手を煩わ
すことがないとともに、測定系路８へのサンプル玄米Ａ
またはサンプル白米Ｂの供給動作も1度だけで済むた
め、能率的である。なお、この実施の形態においては、
３つのサンプル貯留部１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃを設けた
場合を説明したが、このサンプル貯留部１０の個数を２
つや４つ以上としてもよいことは申すまでもない。

【００４２】なお、上記実施の形態においては、外観品
位測定手段９側には、測定系路８に流されたサンプル玄
米Ａやサンプル白米Ｂのサンプル貯留部１０から溢れた
サンプルが供給される場合を説明したが、これに限るも
のではなく、測定系路８に、外観品位測定手段９に供給
するサンプルを溜める別途サンプル貯留部を設けてもよ
く、これによれば、外観品位測定手段９への必要サンプ
ル量をも容易かつ迅速に分配できて、作業能率がさらに
良好となる。

【００４３】また、上記実施の形態においては、外観品
位測定手段９および内部品質測定手段１１の２つの品質
測定手段を有している場合を説明したが、これに限るも
のではなく、一方の品質測定手段だけを有している装置
にも適用できることは申すまでもない。

【００４４】また、上記実施の形態においてはサンプル
が米の場合について説明したが、これに限るものではな
く、搗精する穀物であれば、いずれの穀物に対しても同
様に処理することができることはもちろんである。

【００４５】また、投入カップ１として透明な材料を用
いるとともに、目盛りなどを刻んで、投入カップ１への
投入量を外部から容易に視認できるようにしてもよく、
これによれば、品質測定手段などへの供給量の不足がな
いようにユーザーが確認することができる。さらに、昇
降エレベータ２における下端部の投入カップ１配置箇所
などに、サンプルの投入量を検知するセンサを設けてサ
ンプルの供給量が不足していた場合には警告手段により
注意を促すように構成してもよい。

【００４６】さらに、上記実施の形態においては、精米
機６を設けた場合を説明したが、このような搗精機能部
分を有しないものにも適用することは可能である。すな
わち、投入カップ１が配置されている昇降エレベータ２
に測定系路８側だけを設けて接続し、この測定系路８側
にサンプル貯留部１０、内部品質測定手段１１および外
観品位測定手段９などを設けてもよく、これによって
も、投入カップ１に対して、搗精していない穀物や搗精
済みの穀物などを供給することにより、各サンプルに関
する品質を調べることが可能となる。

【００４７】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、サンプル
穀粒を搬送するサンプル穀粒搬送手段の一側部に、サン
プル穀粒を搗精する搗精手段を設け、サンプル穀粒搬送
手段の他側部に、略一定量のサンプル穀粒を貯留するサ
ンプル貯留部とサンプル穀粒の品質を測定する品質測定
手段とを設け、案内路を介して、少なくとも、サンプル
穀粒搬送手段と搗精手段、サンプル穀粒搬送手段とサン
プル貯留部、およびサンプル貯留部と品質測定手段を、
それぞれ連通可能に構成することにより、品質測定手段
への必要サンプル量を容易かつ迅速に分配できて、作業
能率が良好となり、また、品質測定手段の故障の発生を
防止できる。また、サンプル穀粒搬送手段と搗精手段と
サンプル貯留部および品質測定手段とを短い距離で効率
的に連通させることができて、サンプル穀粒を良好に移
送することができながら装置全体をコンパクトに構成す
ることができる。

【００４８】また、サンプル穀粒搬送手段は、下部に設
けたカップにサンプル穀粒を受け入れて搬送して上方で
排出する構成とし、サンプル穀粒搬送手段の排出部から
搗精手段に至る間に排出されたサンプル穀粒のうちの略
一定量のサンプル穀粒を収容する穀粒ポケット部を設
け、この穀粒ポケット部の下部排出口を前記カップの受
入れ口に連通可能に構成することによっても、品質測定
手段の故障の発生を防止できるとともに、低い位置のカ
ップにサンプル穀粒を投入することとなって、使い勝手
が良好となる。

【００４９】また、サンプル穀粒を流す測定系路を設
け、この測定系路に略一定量のサンプル穀粒を貯留する
サンプル貯留部を接続し、サンプル貯留部と品質測定手
段とを連通可能に構成することにより、品質測定手段に
より品質測定されるサンプル穀粒が、サンプル貯留部に
より略一定量に制限されるため、品質測定手段の内部で
サンプル穀粒がオーバーフローすることがなくなり、品
質測定手段の故障の発生を防止できる。

【００５０】また、サンプル貯留室を複数設けて、これ
らのサンプル貯留室からサンプル穀粒を順に導入して品
質測定することで、品質測定を複数回行うことができて
品質測定精度を向上させることができるだけでなく、ユ
ーザーはサンプル穀粒を一回投入するだけで良いので手
間がかかったりすることもない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態にかかる米品質評価装置を
概略的に示す図である。

【図２】本発明の他の実施の形態にかかる米品質評価装
置を概略的に示す図である。

【符号の説明】

１投入カップ２昇降エレベータ（サンプル穀粒搬送手段）５精米系路（案内路）６精米機６ａ計量部７玄米貯留部（穀粒ポケット部）８測定系路（案内路）９外観品位測定手段（品質測定手段）９ａ検出部１０サンプル貯留部１１内部品質測定手段（品質測定手段）１３制御手段１７表示手段

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【手続補正書】

【提出日】平成９年１０月８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１６

【補正方法】削除

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１７

【補正方法】削除

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１８

【補正方法】削除

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４９

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４９】また、サンプル穀粒を搬送するサンプル穀
粒搬送手段の一側部に、サンプル穀粒を搗精する搗精手
段を設け、サンプル穀粒搬送手段の他側部に、略一定量
のサンプル穀粒を貯留し且つ排出できるサンプル貯留室
とこのサンプル貯留室から供給されたサンプル穀粒の品
質を測定する品質測定手段とを設け、サンプル貯留室は
複数設けることにより、複数のサンプル貯留室からサン
プル穀粒を順に導入して品質測定することで、品質測定
を複数回行うことができて品質測定精度を向上させるこ
とができるだけでなく、ユーザーはサンプル穀粒を一回
投入するだけで良いので多くの手間がかかったりするこ
ともない。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５０

【補正方法】削除

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 000001052 株式会社クボタ大阪府大阪市浪速区敷津東一丁目２番47号 (72)発明者杉山隆夫埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２生物系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者牧野英二埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２生物系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者市川友彦埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２生物系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者藤岡定和愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地井関農機株式会社技術部内 (72)発明者森泰一愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地井関農機株式会社技術部内 (72)発明者江守元彦東京都大田区南馬込１丁目８番１号株式会社ケット科学研究所内 (72)発明者渡辺利通東京都大田区南馬込１丁目８番１号株式会社ケット科学研究所内 (72)発明者藁科二郎静岡県袋井市山名町４番地の１静岡製機株式会社内 (72)発明者川中道夫静岡県袋井市山名町４番地の１静岡製機株式会社内 (72)発明者夏賀元康静岡県袋井市山名町４番地の１静岡製機株式会社内 (72)発明者清水昭佳大阪府八尾市神武町２番35号株式会社クボタ久宝寺工場内 (72)発明者松下和樹大阪府八尾市神武町２番35号株式会社クボタ久宝寺工場内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】サンプル穀粒を搬送するサンプル穀粒搬
送手段の一側部に、サンプル穀粒を搗精する搗精手段を
設け、サンプル穀粒搬送手段の他側部に、略一定量のサ
ンプル穀粒を貯留するサンプル貯留部とサンプル穀粒の
品質を測定する品質測定手段とを設け、案内路を介し
て、少なくとも、サンプル穀粒搬送手段と搗精手段、サ
ンプル穀粒搬送手段とサンプル貯留部、およびサンプル
貯留部と品質測定手段を、それぞれ連通可能に構成して
なる穀類品質評価装置。
【請求項２】サンプル穀粒搬送手段は、下部に設けた
カップにサンプル穀粒を受け入れて搬送して上方で排出
する構成とし、サンプル穀粒搬送手段の排出部から搗精
手段に至る間に排出されたサンプル穀粒のうちの略一定
量のサンプル穀粒を収容する穀粒ポケット部を設け、こ
の穀粒ポケット部の下部排出口を前記カップの受入れ口
に連通可能に構成してなる請求項１記載の穀類品質評価
装置。
【請求項３】サンプル穀粒を搬送するサンプル穀粒搬
送手段の一側部に、サンプル穀粒を搗精する搗精手段を
設け、サンプル穀粒搬送手段の他側部に、略一定量のサ
ンプル穀粒を貯留し且つ排出できるサンプル貯留室とこ
のサンプル貯留室から供給されたサンプル穀粒の品質を
測定する品質測定手段とを設け、サンプル貯留室は複数
設けてなる穀類品質評価装置。
【請求項４】サンプル穀粒を流す測定系路を設け、こ
の測定系路に略一定量のサンプル穀粒を貯留するサンプ
ル貯留部を接続し、サンプル貯留部と品質測定手段とを
連通可能に構成してなる穀類品質評価装置。
【請求項５】サンプル貯留室を複数設けた請求項４記
載の穀類品質評価装置。