JPH113535A - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

Info

Publication number
JPH113535A
JPH113535A JP9154780A JP15478097A JPH113535A JP H113535 A JPH113535 A JP H113535A JP 9154780 A JP9154780 A JP 9154780A JP 15478097 A JP15478097 A JP 15478097A JP H113535 A JPH113535 A JP H113535A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
signal
area
receiving unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9154780A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Yoshinaka
秀樹 吉中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP9154780A priority Critical patent/JPH113535A/ja
Publication of JPH113535A publication Critical patent/JPH113535A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスク装置に用いられる光ピックアップ
において、受光部調整誤差、波長変動、製造誤差に対し
てサーボ信号の影響を小さくすることを目的とする。 【解決手段】 戻り光12をトラックタンジェンシャル
方向に分割して受光部へ導くビーム分割手段9を設け、
同じくタンジェンシャル方向へ分割された受光部にてそ
れぞれ受光してフォーカス信号とすることにより受光部
調整誤差、波長変動、製造誤差に対して影響の小さいサ
ーボ信号を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクドライ
ブ等において用いられる光ピックアップに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】以下従来の光ピックアップにおいて非点
収差ホログラムを用いてサーボを行う際の動作につい
て、図を参照しながら説明する。図3は従来の光ピック
アップの光路を示す模式図である。図3において101
は単一波長の直線偏光を出射する光源で、光源101か
ら照射された光は回折格子108に入射する。この回折
格子108は入射してきた光をメインビーム,+1次回
折光,−1次回折光(以下まとめて回折光と称す)に分
離する働きを有している。そして回折光はビームスプリ
ッター118に入射する。ビームスプリッターは光源1
01との位置関係より入射偏光方向がS偏光となるよう
に配置されていおり、S偏光を100%反射してP偏光
を100%透過する構造となっている。従って回折格子
108より入射した入射光は全て反射する。そしてビー
ムスプリッター118を反射した光は入射した直線偏光
を円偏光へ変換して出射させるように配置された1/4
波長板119へ入射する。1/4波長板119を出射し
た光は円偏光となりコリメータレンズ102に入射して
平行光へ変換され、対物レンズ104に入射し、光ディ
スク105の記録面に集光される。その後記録面に設け
られている反射膜で反射された光は再び対物レンズ10
4、コリメータレンズ102、1/4波長板119を通
過してビームスプリッター118に入射する。1/4波
長板119を通過した光は円偏光より再び直線偏光へ変
換され、その偏光方向は1/4波長板により円偏光へ変
換される前の直線偏光方向に対して直角方向である。従
ってビームスプリッター118に対してP偏光にて入射
するためビームスプリッターへ入射した光は100%透
過して非点収差ホログラム120へ入射する。そして非
点収差ホログラム120を出射した光は非点収差を与え
られてメインビームの戻り光151、+1次回折光の戻
り光152、―1次回折光の戻り光153は受光素子1
16、115、117にそれぞれ入射する。
【0003】以下従来の光ピックアップにおいて特にフ
ォーカスサーボ信号の形成手順について説明する。
【0004】図4はディスクデフォーカスが発生した場
合の受光素子116上のビームプロファイルである。非
点収差ホログラムを通過したディスクからのメインビー
ムの戻り光151は非点収差を与えられて受光素子11
6上へ入射する。この非点収差ホログラムはトラックに
対して斜め45°に非点収差を与えるように配置されて
おり、その焦線はトラック斜め45°となる。従って、
ディスクが遠ざかると戻り光の焦点がディスク方向へ移
動するのでセンサー上にて戻り光151のビームプロフ
ァイルは焦線の形状となりトラックに対して斜め45°
となる。逆にディスクが近づくと戻り光の焦点がセンサ
ー側に移動するためセンサー上にて戻り光151のビー
ムプロファイルは先述ともう一方の焦線の形状となりト
ラックに対して先述と逆に斜め45°となる。またディ
スク合焦点の位置におけるビームプロファイルは最小錯
乱円の形状となる。このビームプロファイル内部の光量
分布は光ディスクの溝による回折光151a、151b
による分布となる。レンズ開口面上ではこれらディスク
溝による回折光はトラックラジアル方向(以下R方向)
に分布するがセンサー上では非点収差によりレンズとセ
ンサーの間にてトラック斜め45°で焦線を結んでいる
ために光量分布がトラック斜め45°線対称となりディ
スク溝による回折光151a、151bはトラックタン
ジェンシャル方向(以下T方向)に分布する。ディスク
盤面上スポットに対してディスク溝がR方向に変位する
とセンサー上のディスク溝による回折光151a、及び
151bの光強度が変化するためセンサーを図の縦方向
に分割してそのセンサー出力の差動をとることによりプ
ッシュプル信号をとることができる。なおこのビームプ
ロファイルは1次回折光の戻り光152、153におい
ても同様の傾向を示す。
【0005】図5は従来の光ピックアップにおける受光
素子の配置及び信号検出回路を示した模式図である。
【0006】それぞれの受光部の配置は、受光部115
については+1次回折光の戻り光152が入射する位置
に、受光部116はメインビーム151が入射する位置
に、受光部117は−1次回折光153が入射する位置
にそれぞれ形成されている。受光部116は、到達する
ビームのスポットの中心において、光ディスク105の
R方向、及びT方向に4分割されておりそれぞれ116
a、116b、116c、116dとして独立に受光素
子として動作する。受光部115、及び117は光ディ
スク105のR方向を境として、それぞれ受光部115
aと受光部115b,及び受光部117aと受光部11
7bとに分割されており、それぞれ独立に光を受光する
ことができる。
【0007】受光部115において、受光部115aか
らの出力信号122aと受光部115bからの出力信号
122bとを差動増幅器125に入力し、差動出力13
6を得、その後アンプ129により増幅され、出力13
7となる。この出力はサイドビームのプッシュプル信号
となる。また同様に受光部117において、受光部11
7aからの出力信号124aと受光部117bからの出
力信号124bとを差動増幅器127に入力し、出力1
28を得る。これも同様にサイドビームのプッシュプル
信号である。そして出力128及び出力137は加算回
路130により加算されて出力138となる。
【0008】一方、受光部116のうち受光部116a
からの出力信号123aと受光部116cからの出力1
23cとは加算回路155により加算されて出力159
となり、受光部116bからの出力信号123bと受光
部116dからの出力123dとは加算回路158によ
り加算されて出力162となりそれぞれ差動増幅器12
6に入力され、出力133となって出力される。この出
力133はメインビームのプッシュプル信号である。こ
の出力133と出力132を差動増幅器134に入力さ
せその出力135はトラッキング信号として用いること
が出来る。
【0009】このトラッキング方式は差動プッシュプル
法として一般的に用いられる方法でありメインビームプ
ッシュプル信号の振幅をA1、メインビームプッシュプ
ルオフセットをB1、サイドビームの振幅をA2、A
3、サイドビームプッシュプルオフセットをB2、B3
とそれぞれおくと、 B1/A1=B2/A2=B3/A3 を満たす場合にはトラッキングオフセットを生じない。
一般にディスクチルト、レンズシフト等によるプッシュ
プルオフセットは上式を満足する。
【0010】受光部116において、受光部116aか
らの出力信号123aと受光部116bからの出力信号
123dとを加算回路157により加算した出力161
と、受光部116bからの出力信号123bと受光部1
16cからの出力信号123cとを加算回路156によ
り加算した出力160をそれぞれ差動増幅器163によ
り得られる出力164はフォーカス信号として用いるこ
とができる。このフォーカスサーボ方式はホログラムを
用いた非点収差法として一般に用いられている手法であ
る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記従来
の光ピックアップにおける信号検出方法では、受光部上
にてメイン及びサイドの3つのビーム151、152、
153と受光部115、116、117、をそれぞれプ
ッシュプル、フォーカスサーボ信号共に最適となる位置
関係は入射してくる光の光軸方向、回転方向のいずれに
ついても1点しかないので、受光部の位置調整が非常に
難しいという問題点を有していた。
【0012】また前記従来の光ピックアップにおける信
号検出方法では、波長変動に起因するサイドビーム間隔
の変化のためトラッキング信号の特性が劣化してしまう
ことに加えてホログラムにより非点収差を発生している
ため受光部上のサイドビーム回転角が変化してセンサー
との位置調整が困難となること、さらには結像系の倍率
を低く設計した場合メインビームとサイドビームの間隔
が狭くなるに従って受光部上メインビームとサイドビー
ムの最小錯乱円の寸法マージンが小さくなるため受光部
の位置調整が困難となることなどの理由により、正確な
サーボを行うことが困難になる可能性があった。
【0013】さらにこの方法を使用することを前提に構
成されている光ピックアップにおいては、正確なサーボ
信号の形成ができなくなり、信号の読み取り自体ができ
なくなってしまう可能性があった。
【0014】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、サーボ信号の特性が良好で正確なサーボを行うこと
が可能な光ピックアップを実現することを目的としてい
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記従来の課題を解決す
るために、記録媒体のトラック方向に略平行に延びる分
割線により、少なくとも第1の領域と第2の領域とに分
割され、それぞれの領域に入射してきた前記記録媒体で
反射されてきた光をそれぞれ所定の方向に導く光分割手
段と、トラック方向に略平行な分割線により第1の受光
部と第2の受光部とに分割され、第1の領域から導かれ
てきた光を受光する第1の受光手段と、トラック方向に
略平行な分割線により第3の受光部と第4の受光部とに
分割され、前記光分割手段の第2の領域から導かれてき
た光を受光する第2の受光手段と、前記第1の受光手段
からの信号と前記第2の受光手段からの信号とに基づい
てフォーカスエラー信号を形成する際に受光手段若しく
は光分割手段の位置ずれによって発生するオフセットを
ほぼキャンセルする演算手段とを備えるという構成より
なる。
【0016】この構成により、サーボ信号の特性が良好
で正確なサーボを行うことが可能な光ピックアップを実
現することができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
(実施の形態)請求項1に記載の発明は、光源と、前記
光源から照射された光を記録媒体に集光する集光手段
と、前記記録媒体のトラック方向に略平行に延びる分割
線により、少なくとも第1の領域と第2の領域とに分割
され、それぞれの領域に入射してきた前記記録媒体で反
射されてきた光をそれぞれ所定の方向に導く光分割手段
と、前記記録媒体のトラック方向に略平行な分割線によ
り第1の受光部と第2の受光部とに分割され、前記光分
割手段の第1の領域から導かれてきた光を受光する第1
の受光手段と、前記記録媒体のトラック方向に略平行な
分割線により第3の受光部と第4の受光部とに分割さ
れ、前記光分割手段の第2の領域から導かれてきた光を
受光する第2の受光手段と、前記第1の受光手段からの
信号と前記第2の受光手段からの信号とに基づいてフォ
ーカスエラー信号を形成する際に受光手段若しくは光分
割手段の位置ずれによって発生するオフセットをほぼキ
ャンセルする演算手段とを備えたことにより、従来受光
部調整誤差の影響によりフォーカス信号に発生していた
オフセットをほぼ完全に除去することができる。
【0018】請求項2に記載の発明は、光源と、前記光
源から照射された光を記録媒体に集光する集光手段と、
前記記録媒体のトラック方向に略平行に延びる分割線に
より、少なくとも第1の領域と第2の領域とに分割さ
れ、それぞれの領域に入射してきた前記記録媒体で反射
されてきた光をそれぞれ所定の方向に導く光分割手段
と、前記記録媒体のトラック方向に略平行な分割線によ
り第1の受光部と第2の受光部とに分割され、前記光分
割手段の第1の領域から導かれてきた光を受光する第1
の受光手段と、前記記録媒体のトラック方向に略平行な
分割線により第3の受光部と第4の受光部とに分割さ
れ、前記光分割手段の第2の領域から導かれてきた光を
受光する第2の受光手段と、前記第1の受光手段の分割
線の延在方向に前記第1の受光手段を挟んで設けられた
第3の受光手段及び第4の受光手段と、前記第2の受光
手段の分割線の延在方向に前記第2の受光手段を挟んで
設けられた第5の受光手段及び第6の受光手段とを備
え、前記第1の受光手段と前記第2の受光手段とは前記
第2の領域と前記第3の領域とが近接する様に設けられ
ており、前記第1の受光手段の第1の領域からの信号と
前記第2の受光手段の第4の領域からの信号との和と前
記第1の受光手段の第2の領域からの信号と前記第2の
受光手段の第3の領域からの信号との和との間の差を焦
点誤差信号とし、前記第1の受光手段からの信号と前記
第2の受光手段からの信号との和をRF信号とすること
により、従来波長変動の影響によりフォーカス信号に発
生していたオフセットをほぼ完全に除去することがで
き、更に製造誤差、受光部調整誤差の影響によるフォー
カスオフセットをほぼ完全に除去することができる。従
って、受光部調整誤差、波長変動、製造誤差等が発生し
ても良好なフォーカスエラー信号を得ることができる、
高性能な光ピックアップを実現することができる。
【0019】以下本発明の一実施の形態における光ピッ
クアップの構成について図を参照しながら説明する。
【0020】図1は本発明の一実施の形態における光ピ
ックアップを示す模式図である。図1において、1は光
源で、光源1としては、単色で、干渉性、指向性および
集光性が良好なものを用いることが、適当な形状のビー
ムスポットを比較的容易に形成でき、ノイズ等の発生を
抑制できるので好ましい。このような条件を満たすもの
として、固体、ガス及び半導体等の各種レーザ光を用い
ることが好ましい。特に半導体レーザはその大きさが非
常に小さく、光ピックアップの小型化を容易に実現する
ことができるので、光源1としては最適である。
【0021】そしてこのときの光源1の発振波長は80
0nm以下であることが、光源1から出射された光が記
録媒体上に集束する際のビームスポットを容易に記録媒
体に形成されているトラックのピッチ程度の大きさにす
ることができるので好ましい。更に光源1の発振波長が
650nm以下であれば、非常に高密度で情報が記録さ
れている記録媒体をも再生することができる程度に小さ
なビームスポットを形成できるので、大容量の記憶手段
を容易に実現することができるので好ましい。
【0022】光源1を半導体レーザで構成した場合、8
00nm程度以下の発振波長を実現できる材料として
は、AlGaInP,AlGaAs,ZnSe,GaN
等があり、これらの中でも特にAlGaAsは、化合物
材料の中でも結晶成長が容易であり、従って半導体レー
ザの製造が容易であるので、歩留まりが高く、高い生産
性を実現することができるので好ましい材料である。ま
た650nm以下の発振波長を実現できる材料として
は、AlGaInP,ZnSe,GaN等がある。これ
らの材料を用いた半導体レーザを光源1として用いるこ
とにより、記録媒体上に形成されるビームスポット径を
より小さくすることができるので、さらなる記録密度の
向上が可能になり、従って高密度記録媒体の再生が可能
になる。
【0023】これらの中でも特にAlGaAsPは長期
間にわたり安定した性能を有しているので、光源1の信
頼性を向上させることができるので好ましい材料であ
る。
【0024】光源1から照射された光は複数ビーム形成
手段8に入射する。この複数ビーム形成手段8は入射し
てきた光を複数の光束に分離する機能を有しており、回
折格子、ホログラム等を用いることが、高い変換効率で
光ディスクのトラック位置におけるビームの分離間隔を
適当に制御することができるので好ましい。
【0025】複数ビーム形成手段8としては回折格子、
特にホログラムを用いることが好ましい。ホログラムを
用いることにより、複数のビームを効率よく発生させる
ことができ、複数ビーム形成手段8における光量の減少
を最小限に抑制することができるので、光源1への負担
を減らすことができ、光源1の長寿命化が可能になる。
複数ビーム形成手段8はこの場合入射してきた光を戻り
光12,+1次回折光13,−1次回折光14(以下ま
とめて回折光と称す)に分離する働きを有している。そ
して複数ビーム形成手段8で分離された回折光はビーム
スプリッター3に入射する。ビームスプリッター3は光
源1との位置関係より入射偏光方向がS偏光となるよう
に配置されていおり、S偏光をほぼ100%反射してP
偏光をほぼ100%透過する偏光分離構造となっている
ことが好ましい。この構造により複数ビーム形成手段8
より入射した入射光はほぼ全て反射する。ビームスプリ
ッターとしては、入射した光を所定の割合で反射もしく
は透過する働きを有するハーフミラー構造とすることも
できるが、光の利用効率を考慮すると偏光分離構造とす
る方が望ましい。
【0026】そしてビームスプリッター3を反射した光
は入射した直線偏光を円偏光へ変換して出射させるよう
に配置された1/4波長板19へ入射する。1/4波長
板19を出射した光は円偏光となりコリメータレンズ2
に入射して平行光へ変換され、対物レンズ4に入射し、
光ディスク5の記録面5aに集光される。+1次光13
とー1次光14は戻り光12を中心として記録面上のト
ラック5bにほぼ沿って所定の位置関係にて集光され
る。その後反射された光は再び対物レンズ4、コリメー
タレンズ2、1/4波長板19を通過してビームスプリ
ッター3に入射する。1/4波長板19を通過した光は
円偏光より再び直線偏光へ変換され、その偏光方向は1
/4波長板により円偏光へ変換される前の直線偏光方向
に対して直角方向である。従ってビームスプリッター3
に対してP偏光にて入射するためビームスプリッターへ
入射した光はほぼ100%透過してビーム分割手段9に
入射する。
【0027】ビーム分割手段9は、復路光を2以上の光
束に分割して所定の位置に導くもので、ホログラムや部
分的に形状の異なるレンズ等で形成されていることが好
ましい。ここでは特にホログラムを用いることが、ビー
ム分割手段9の薄型化、小型化が容易に行え、なおか
つ、必要な光を戻り光12から確実に分離して所定の位
置に導くことができるので好ましい構成である。図1は
ビーム分離手段としてホログラムを用いた例を示してい
る。
【0028】図1に示すようにビーム分割手段9は戻り
光12、13、14をT方向に平行な分割線にて分割し
て戻り光12はビーム分割手段9の回折光12a、12
bに、戻り光13は13a、13bに、戻り光14は1
4a、14bにそれぞれ分離される。分離された光はそ
れぞれ受光部へ導かれる。回折光12aは受光部16a
へ、回折光12bは受光部16bへ、回折光14aは受
光部15aへ、回折光14bは受光部15bへ、回折光
13aは受光部17aへ、回折光13bは受光部17b
へそれぞれ導かれ、かつ受光部上にて集光するようにビ
ーム分割手段9、及び受光部は構成されている。受光部
16a,16bは、回折光12a,12bの集光点を通
るT方向に平行な分割線により、受光部16aは16
c、16dに、16bは16e、16fにそれぞれ分割
され、独立に光を受光できるように構成されている。
【0029】なお、ビーム分割手段9としてホログラム
を用いる場合、回折の0次光12cや高次光も存在する
が図には0次光12cのみを図示している。
【0030】図6は本発明の一実施の形態におけるビー
ム分割手段を示す摸式図である。ビーム分割手段9に入
射してきた戻り光12は、記録面5aに形成されている
トラック溝による回折光142を含んだ光となってい
る。このトラック溝による回折光142a,142b
は、往路の戻り光12のトラック溝に対する位置関係に
より光量バランスが変化するため、そのバランス量によ
り位置関係を知ることができる。すなわち回折光142
aと回折光142bの光量分布をそれぞれ別の受光部に
導き、それら受光部の出力の差動をとるとプッシュプル
信号とすることができる。従って、ビーム分割手段9に
おいてT方向に略平行な分割線によりビーム分割のエリ
ア141aと141bにエリアを分割すると、回折光1
42aはエリア141aに入射し、回折光142bはエ
リア141bに入射して、それぞれ別々の受光部へ導か
れることになる。このように構成すると、回折光142
aと回折光142bとからプッシュプル信号を得ること
ができる。
【0031】ここでビーム分割手段9の分割線はディス
ク溝による回折光142の光量分布より厳密にT方向に
一致する必要はなく、戻り光12の中心が確実に分割線
を交差するよう位置関係を調整すれば分割線がT方向に
対して角度を有しても、ほぼ最大振幅のプッシュプル信
号が得られる。
【0032】図6にはサイドビームについて図示してい
ないがメインビームと同様となる。即ちビーム分割手段
9においてT方向に略平行な分割線によりビーム分割の
エリア141aと141bにエリアを分割することによ
り、メインビームもサイドビームも、最も適したビーム
分割が可能になるので、より正確な信号形成が可能にな
り、その信号に基づいた光ピックアップの制御を確実に
行うことができるようになる。
【0033】図7は本発明の一実施の形態におけるビー
ム分割手段の断面図で、図6におけるAA′での断面を
示している。先述したとおりこのビーム分割手段9とし
てホログラムを用いた構成を示しているが、分割される
ビームのエリア141a、141bにおいてホログラム
として作用する回折格子が形成されている。これらの回
折格子はエリアによってビームが導かれる方向が異なる
ためそれぞれ最適な個別のピッチを有している。
【0034】ビーム分割手段9上に回折格子を形成する
手段としてはステッパー等によるフォトリソグラフィー
技術によりフォトレジストによる回折格子パターンを形
成し、イオンビームや反応性イオンエッチング等のエッ
チング技術により回折格子を形成する手法が量産性に優
れているので、生産性の向上及び製造コストの低下の観
点から好ましい。
【0035】なお、図には透過型ホログラムを示してい
るが、反射型ホログラムとすることも可能である。反射
型ホログラムとする場合にはビーム分割手段9のホログ
ラム上にAgやAl等の高反射率を有する金属膜を真空
蒸着やスパッタリング等により形成する。
【0036】また形成されるホログラムはステップ状の
段差を有するものであれば、2段のものを用いても良い
し、4段のものを用いても構わない。段差数が多くなっ
てホログラムの形状がフレーズドパターンに近づけば近
づくほど回折効率が向上し、光の利用効率を向上させる
ことができるので、受光部に導かれる光量を増大させる
ことができ、従って受光部で形成される信号の特性を良
好にすることができるので好ましい。
【0037】図2は本発明の一実施の形態におけるビー
ム分割手段と戻り光の位置関係を示す模式図で、T方向
からみた図である。戻り光12はビーム分割手段9に入
射するとT方向に水平な分割線により分離され12a、
12bとなりそれぞれ受光部16aと16bへ導かれて
集光される。ビーム分割手段9として回折格子を用いた
場合は図に示すように回折の0次光12c、及び12
a、12bと反対の回折方向に回折の高次光12a′、
12b′が存在する。先述のように回折格子の断面形状
はその回折効率が最大となるようにステップ状とするこ
とが望ましいが、製造誤差等により必ずしも最適形状と
はならず0次光、及び高次光の影響は無視できない。従
ってそれら余分な光が受光部に入射しないように構成す
るためにそれぞれの受光部はどちらも図面右側(あるい
は左側)に配置して戻り光が同じ方向へ回折されるよう
に構成することが好ましい。具体的には受光部16a、
及び16bの間には集光系の光軸が入らないように構成
すると実現できる。
【0038】この様な構成とすることにより、受光部に
迷光となる高次の回折光が入射してしまうことを抑制す
ることができるので、C/N比が向上し、良好な信号特
性を得ることができる。従って正確なサーボが可能にな
り、再生特性も良好にすることができる。
【0039】図8は本発明の一実施の形態における受光
部でのビームプロファイルを示す模式図である。
【0040】ビーム分割手段9により受光部へ導かれる
戻り光の回折光12a、12bは受光部16a、16b
上へそれぞれ集光される。ディスク盤面上合焦点の状態
にて受光部上戻り光の回折光が最も集光され、かつ受光
部16a、16bの分割点上に焦点が配置されるように
構成する。ディスクが遠ざかると受光部上にて戻り光の
回折光12aは受光部16d上に、12bは受光部16
eにそれぞれ偏った半円となる。これはビーム分割手段
にて戻り光12のビームプロファイルの円の半分をそれ
ぞれ受光素子に導いているためである。
【0041】逆にディスクが近づくと受光部上ビームプ
ロファイルは合焦点の際の受光部上焦点に対して対称と
なり、戻り光の回折光12aは16c上に、12bは1
6f上に偏った半円となる。
【0042】即ち、ディスクが遠ざかるときは受光部1
6dと16eに、ディスクが近づくときは受光部16c
と16fにそれぞれ戻り光12の全光量が集中し、その
他の受光部へは光が入射しない。従って、受光部16
d、16eの出力の和と16cと16fの出力の和の差
動をとることによりフォーカスサーボ信号とすることが
できる。
【0043】またこの受光部16cと16dの出力の差
動、もしくは受光部16eと16fの出力の差動を用い
てもフォーカスサーボ信号とすることができる。
【0044】また、16cと16dの出力の和は常にビ
ーム分割手段のビーム分割のエリアの一方に入射した全
光量であり、16eと16fの出力の和はビーム分割の
エリアのもう一方に入射した全光量であるため、16c
と16dの出力の和と16eと16fの出力の和の差動
をとることによりプッシュプル信号とすることができ
る。
【0045】なお、ビームプロファイルについては、サ
イドビームの戻り光の回折光13a、13b、14a、
14bにおいても同様の傾向を示すのでここでは説明を
省略する。
【0046】次に各受光部で受光された信号の流れを説
明する。図9は本発明の一実施の形態における受光部の
回路図である。
【0047】受光部15aからの出力信号22aと受光
部15bからの出力信号22bとを差動増幅器25に入
力し、差動出力36を得る。また同様に受光部17aか
らの出力信号24aと受光部17bからの出力信号24
bとを差動増幅器27に入力し、差動出力28を得る。
その後差動出力28はアンプ29により増幅され、出力
37となる。そして出力36及び出力37は加算回路3
0により加算されて出力38となる。その後出力38は
アンプ31により増幅されて出力32となる。この出力
32はサイドビームのプッシュプル信号の和となる。
【0048】一方、受光部16cからの出力23aと受
光部16dからの出力23bとは加算回路40にて加算
されて出力42となり、受光部16eからの出力23c
と受光部16fからの出力23dは加算回路41にて加
算されて出力43となる。出力42と出力43は差動増
幅器26にて差動出力33となる。この出力はメインビ
ームのプッシュプル信号となる。
【0049】これらの出力32及び出力33を差動増幅
器34に入力し、差動出力35を得る。そしてこの差動
出力35がトラッキング信号として用いられるものであ
る。
【0050】この様な方法でトラッキング信号を形成す
ることにより、例えばCD−R等の反射率がトラック上
で変化する、従って2つのサイドビームに光量の差が発
生するメディアを再生する場合にも、2つのサイドビー
ムのそれぞれでプッシュプル信号を形成することによ
り、トラッキングオフセットをキャンセルすることがで
きので、より正確なトラッキング信号を形成することが
できる。従ってこの方法でトラッキング制御される光ピ
ックアップのトラッキング性能を大幅に向上させること
ができ、正確な信号の再生が可能となる。
【0051】次にフォーカス信号の形成過程について説
明する。受光部16cからの出力23aと受光部16f
の出力23dとは加算回路45にて加算され出力47と
なり、受光部16eからの出力23bと受光部16fか
らの出力23cとは加算回路44にて加算され出力46
となる。これらの出力46と出力47は差動増幅器48
にて差動出力49となる。この出力49はフォーカス信
号として用いられるものである。
【0052】次に実際のディスクの動きに対するフォー
カスサーボ補正の方法について説明する。図10は本発
明の一実施の形態におけるディスクの動きに対する戻り
光とセンサーの位置関係を示す模式図である。
【0053】戻り光を検知する受光部の位置は、光ディ
スク5にてメインビーム12が合焦点の場合に受光部1
6の分割線上にビーム分割手段9により分割された戻り
光12a、12bが焦点をむすぶように配置されてい
る。
【0054】そしてディスク5が遠ざかると、ディスク
記録面5aにて反射することによりメインビームの焦点
は合焦点の場合よりもさらに遠くなるため戻り光の焦点
も受光部よりもディスク側へ移動する。ここで図中の点
線は合焦点の場合のメインビームを表している。従って
図に示すように、戻り光は受光部16dと16eに入射
し受光部16cと16fには入射せず、先述のーカス信
号はマイナスとなり、光ディスク5が遠くなっているこ
とを認識できるので、対物レンズをフォーカス信号がゼ
ロとなるまでディスク5側に移動させてディスク記録面
5a上に焦点を結ぶことができる。
【0055】逆にディスク5が近づくと、ディスク記録
面5aにて反射することによりメインビームの焦点は合
焦点の場合よりもさらに近くなるため戻り光の焦点も受
光部よりもディスクと反対方向へ移動する。従って図に
示すように、戻り光は受光部16cと16fに入射し受
光部16dと16eには入射せず、フォーカス信号はプ
ラスとなりディスク5が近づいていることを認識できる
ので、対物レンズをフォーカス信号がゼロとなるまでデ
ィスク5と反対側へ移動させてディスク記録面5a上に
焦点を結ぶことができる。
【0056】またここでは図示していないが、RF信号
は、受光部16c〜16fの和信号として形成される。
【0057】次に以上説明してきた方法により、フォー
カスサーボ信号を形成した場合の有効性を検証する。
【0058】図11は本発明の一実施の形態における受
光部上の戻り光の回折光と受光部の位置関係がずれた場
合を示す模式図である。図にしめすように、戻り光の回
折光12a、12bと受光部の相対的位置関係がずれる
と、図中の場合は受光部16c、16eの出力が減っ
て、受光部16d、16fの出力が増える。一般的なナ
イフエッジ法による演算、即ち受光部16cの出力と1
6dの出力の差動、あるいは受光部16eの出力と16
fの出力の差動による演算では、ぞれぞれの光量分布が
変化しているため、本来0になるべきディスク上合焦点
でのフォーカス信号が0とならなずにオフセットを生じ
てしまう。
【0059】しかしながら本実施の形態におけるフォー
カス信号形成によると、このオフセットをフォーカス信
号形成のための演算過程でキャンセルすることができ
る。
【0060】従って従来のようにオフセットを発生させ
ないように調整公差を厳しくする必要が無くなり、光学
系の位置あわせをより簡単にしかも短時間に行うことが
できるので、光ピックアップの生産性を大幅に向上させ
ることができる。
【0061】また本実施の形態におけるフォーカス信号
形成により、戻り光の回折光と受光部の位置関係ズレに
対する許容範囲の非常に広くなるので、良好なフォーカ
ス信号により正確な制御を行える高性能な光ピックアッ
プを簡単な構成と簡単な位置調整により実現することが
できる。
【0062】更に光源の波長変動に対する本実施の形態
の有効性を検証する。図12は本発明の一実施の形態に
おける戻り光の波長が変動した場合の受光部上ビームプ
ロファイルを示す模式図である。
【0063】戻り光12の波長変動が無い場合は、ビー
ム分割手段9による戻り光12の回折光12aと12b
は所定の位置、即ち回折光12aは受光部16cと16
dの分割線上、回折光12bは受光部16eと16fの
分割線上へそれぞれ導かれる。これに対して戻り光12
の波長がビーム回折手段9の設計値に対して短く変動し
た場合は受光部上に入射する戻り光の回折光の位置が変
化して図に示すように受光部16cと16eに入射する
光量が減って受光部16dと16fに入射する光量が増
える。これは、ビーム分割手段9による回折光12a、
12bの回折角度が波長によって変化し、更に戻り光の
回折光12a、12bともにビーム分割手段9により一
方の方向へ回折されているためで、戻り光12の回折光
12aと12bとが相対的位置関係をほぼ保存したまま
0次光の方向(図の左方向)へ移動するためである。
【0064】また逆に戻り光12の波長がビーム分割手
段9の設計値に対して長く変動した場合は受光部上に入
射する戻り光の回折光の位置が先述と逆に変化して図に
示すように受光部16cと16eに入射する光量が増え
て受光部16dと16fに入射する光量が減る。
【0065】ここで一般的なナイフエッジ法による演
算、即ち受光部16cの出力と16dの出力の差動、あ
るいは受光部16eの出力と16fの出力の差動による
演算では、ぞれぞれの光量分布が変化しているため、本
来0になるはずのディスク上合焦点でのフォーカス信号
が0とならなずにオフセットを生じてしまう。
【0066】この様に光源として用いられることが多い
レーザーダイオードは、ディスク盤面上の光量が多い、
即ち光源の出力が大きい場合は温度変化による波長変動
が発生するため従来方法ではそれによるフォーカスオフ
セットを避けることができなかった。
【0067】しかしながら本実施の形態によると、この
オフセットをフォーカス信号形成のための演算過程でキ
ャンセルすることができるので、光源としてレーザーダ
イオードを用いた場合でも、波長変動が発生によるフォ
ーカスオフセットをキャンセルして良好なフォーカス信
号を形成できるので、より正確な制御が行える高性能な
光ピックアップを簡単な構成で実現することができる。
【0068】更に製造工程等で発生する製造誤差等に対
する有効性について検証する。図13は本発明の一実施
の形態における製造誤差などにより戻り光の回折光の受
光部上の位置が2つのナイフエッジの差動演算において
もオフセットが発生する場合を示す模式図である。図1
3でp1は2つの戻り光12a、12bの受光部上の距
離、p2は受光部の分割線の距離を示す。
【0069】p1は、ビーム分割手段9の製造誤差、あ
るいは受光部の光軸方向の調整誤差により変化するが、
このp1が設計値より変化する、即ちp2と異なる寸法
となると図13にしめす場合は、受光部16cと16f
の出力が増え、受光部16dと16eの出力が減り、先
述の波長変動の場合とは異なり本発明のフォーカス信号
形成においてもフォーカスオフセットが発生する。
【0070】このオフセットは一般的なナイフエッジ法
による演算においても発生する。従ってフォーカスオフ
セットを小さくするためには製造公差を厳しくしなけれ
ばならず、厳密で長時間にわたる位置あわせの工程を設
けなければならない。このことは光ピックアップの生産
性を大きくて低下させ、コストアップの要因となる。
【0071】そこで本実施の形態においては、図に示す
ように受光部のそれぞれの分割線を対照的に斜めしてい
る。このことにより図中上下方向に受光部を調整するだ
けでそれぞれの戻り光の回折光を受光部の分割線上へ配
置することができる。従って本発明のような受光部の分
割線とすることによりp1とp2が変化した場合におい
てもフォーカスオフセットが発生しない良好なフォーカ
ス信号が得られる高性能な光ピックアップを実現するこ
とができる。
【0072】
【発明の効果】本発明は、記録媒体のトラック方向に略
平行に延びる分割線により、少なくとも第1の領域と第
2の領域とに分割され、それぞれの領域に入射してきた
前記記録媒体で反射されてきた光をそれぞれ所定の方向
に導く光分割手段と、トラック方向に略平行な分割線に
より第1の受光部と第2の受光部とに分割され、第1の
領域から導かれてきた光を受光する第1の受光手段と、
トラック方向に略平行な分割線により第3の受光部と第
4の受光部とに分割され、前記光分割手段の第2の領域
から導かれてきた光を受光する第2の受光手段とを備え
たことにより、従来受光部調整誤差の影響によりフォー
カス信号に発生していたオフセットをほぼ完全に除去す
ることができるので、フォーカス信号の信号特性を良好
にすることができる。また、分割手段の受光部へ導く方
向がトラック垂直方向であり、前記それぞれの受光部の
間に前記集光手段の光軸を含まないようにすることによ
り、従来波長変動の影響によりフォーカス信号に発生し
ていたオフセットをほぼ完全に除去することができるの
で、フォーカス信号の信号特性を良好にすることができ
る。また、受光部の分割線の傾斜角がそれぞれの受光部
にてトラック平行方向に対して対称とすることにより、
製造誤差、受光部調整誤差の影響によるフォーカスオフ
セットをほぼ完全に除去することができる。従って、受
光部調整誤差、波長変動、製造誤差等が発生しても良好
なフォーカスエラー信号を得ることができる、高性能な
光ピックアップを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における光ピックアップ
を示す模式図
【図2】本発明の一実施の形態におけるビーム分割手段
と戻り光の位置関係を示す模式図
【図3】従来の光ピックアップの光路を示す模式図
【図4】従来の光ピックアップにおけるディスクデフォ
ーカスが発生した場合の受光素子上のビームプロファイ
ルを示す模式図
【図5】従来の光ピックアップにおける受光素子の配置
及び信号検出回路を示した模式図
【図6】本発明の一実施の形態におけるビーム分割手段
を示す摸式図
【図7】本発明の一実施の形態におけるビーム分割手段
の断面図
【図8】本発明の一実施の形態における受光部でのビー
ムプロファイルを示す模式図
【図9】本発明の一実施の形態における受光部の回路図
【図10】本発明の一実施の形態におけるディスクの動
きに対する戻り光とセンサーの位置関係を示す模式図
【図11】本発明の一実施の形態における受光部上の戻
り光の回折光と受光部の位置関係がずれた場合を示す模
式図
【図12】本発明の一実施の形態における戻り光の波長
が変動した場合の受光部上ビームプロファイルを示す模
式図
【図13】本発明の一実施の形態における製造誤差など
により戻り光の回折光の受光部上の位置が2つのナイフ
エッジの差動演算においてもオフセットが発生する場合
を示す模式図
【符号の説明】
1 光源 2 コリメータレンズ 3 ビームスプリッター 4 対物レンズ 5 光ディスク 5a 記録面 5b トラック 6 レンズ 7 受光素子 8 複数ビーム形成手段 9 ビーム分割手段 10 受光素子 11 非点収差発生手段 12 戻り光 12a 回折光 12a′ 回折高次光 12b 回折光 12b′ 回折高次光 12c 回折の0次光 13 +1次光 13a 回折光 13b 回折光 14 −1次光 14a 回折光 14b 回折光 15a 受光部 15b 受光部 16a 受光部 16c 受光部 16d 受光部 16b 受光部 16e 受光部 16f 受光部 17a 受光部 17b 受光部 19 1/4波長板 22a 出力信号 22b 出力信号 23a 出力信号 23b 出力信号 23c 出力信号 23d 出力信号 24a 出力信号 24b 出力信号 25 差動増幅器 26 差動増幅器 27 差動増幅器 28 出力 29 アンプ 30 加算回路 31 アンプ 32 出力 33 出力 34 差動増幅器 35 出力 36 出力 37 出力 38 出力 40 加算回路 41 加算回路 42 出力 43 出力 44 加算回路 45 加算回路 46 出力 47 出力 48 差動増幅器 49 出力

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源と、前記光源から照射された光を記録
    媒体に集光する集光手段と、前記記録媒体のトラック方
    向に略平行に延びる分割線により、少なくとも第1の領
    域と第2の領域とに分割され、それぞれの領域に入射し
    てきた前記記録媒体で反射されてきた光をそれぞれ所定
    の方向に導く光分割手段と、前記記録媒体のトラック方
    向に略平行な分割線により第1の受光部と第2の受光部
    とに分割され、前記光分割手段の第1の領域から導かれ
    てきた光を受光する第1の受光手段と、前記記録媒体の
    トラック方向に略平行な分割線により第3の受光部と第
    4の受光部とに分割され、前記光分割手段の第2の領域
    から導かれてきた光を受光する第2の受光手段と、前記
    第1の受光手段からの信号と前記第2の受光手段からの
    信号とに基づいてフォーカスエラー信号を形成する際に
    受光手段若しくは光分割手段の位置ずれによって発生す
    るオフセットをほぼキャンセルする演算手段とを備えた
    ことを特徴とする光ピックアップ。
  2. 【請求項2】光源と、前記光源から照射された光を記録
    媒体に集光する集光手段と、前記記録媒体のトラック方
    向に略平行に延びる分割線により、少なくとも第1の領
    域と第2の領域とに分割され、それぞれの領域に入射し
    てきた前記記録媒体で反射されてきた光をそれぞれ所定
    の方向に導く光分割手段と、前記記録媒体のトラック方
    向に略平行な分割線により第1の受光部と第2の受光部
    とに分割され、前記光分割手段の第1の領域から導かれ
    てきた光を受光する第1の受光手段と、前記記録媒体の
    トラック方向に略平行な分割線により第3の受光部と第
    4の受光部とに分割され、前記光分割手段の第2の領域
    から導かれてきた光を受光する第2の受光手段と、前記
    第1の受光手段の分割線の延在方向に前記第1の受光手
    段を挟んで設けられた第3の受光手段及び第4の受光手
    段と、前記第2の受光手段の分割線の延在方向に前記第
    2の受光手段を挟んで設けられた第5の受光手段及び第
    6の受光手段とを備え、前記第1の受光手段と前記第2
    の受光手段とは前記第2の領域と前記第3の領域とが近
    接する様に設けられており、前記第1の受光手段の第1
    の領域からの信号と前記第2の受光手段の第4の領域か
    らの信号との和と前記第1の受光手段の第2の領域から
    の信号と前記第2の受光手段の第3の領域からの信号と
    の和との間の差を焦点誤差信号とし、前記第1の受光手
    段からの信号と前記第2の受光手段からの信号との和を
    RF信号とすることを特徴とする光ピックアップ。
JP9154780A 1997-06-12 1997-06-12 光ピックアップ Pending JPH113535A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9154780A JPH113535A (ja) 1997-06-12 1997-06-12 光ピックアップ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9154780A JPH113535A (ja) 1997-06-12 1997-06-12 光ピックアップ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH113535A true JPH113535A (ja) 1999-01-06

Family

ID=15591745

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9154780A Pending JPH113535A (ja) 1997-06-12 1997-06-12 光ピックアップ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH113535A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1310230C (zh) * 2003-06-13 2007-04-11 夏普株式会社 光学拾取头
US8159909B2 (en) 2004-06-07 2012-04-17 Sony Corporation Optical head, optical drive apparatus, and method for generating tracking error signal

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1310230C (zh) * 2003-06-13 2007-04-11 夏普株式会社 光学拾取头
US8159909B2 (en) 2004-06-07 2012-04-17 Sony Corporation Optical head, optical drive apparatus, and method for generating tracking error signal

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3662519B2 (ja) 光ピックアップ
US20040233534A1 (en) Diffractive optical element that polarizes light and an optical pickup using the same
JP3459777B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP3897632B2 (ja) 光ピックアップ装置及び光スポットの最適集束方法
KR100754158B1 (ko) 구면수차 검출 및/또는 보정 가능한 광픽업장치
US7821902B2 (en) Aberration detection device and optical pickup device provided with same
WO2006022068A1 (ja) 光集積ユニットおよびそれを備えた光ピックアップ装置
US20040001419A1 (en) Compatible optical pickup using beams of different wavelength easy to assemble and adjust
JP4118869B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPH05307759A (ja) 光ピックアップ
US8045443B2 (en) Optical pickup apparatus
JP2006309861A (ja) 光集積ユニット及び光ピックアップ装置
JPH113535A (ja) 光ピックアップ
JP2003223738A (ja) 光ピックアップ装置及び光ディスク装置並びに光学装置及び複合光学素子
JP2004253111A (ja) 光ピックアップ装置
JP3489816B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP2716792B2 (ja) 光情報記録再生装置
JP3694206B2 (ja) 光情報記録再生ヘッド装置
KR100464419B1 (ko) 기록/재생용 호환형 광픽업
JP3389416B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP3881956B2 (ja) 光集積化ユニットおよび光ピックアップ装置
JPH05307760A (ja) 光ピックアップ
JP4053455B2 (ja) 光集積化ユニットおよびそれを備える光ピックアップ装置
JP2000076690A (ja) 光学ヘッド装置
JP3954775B2 (ja) 光ピックアップ装置・光情報処理方法・光情報処理装置