JPH11352108A - 渦電流式センサ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 微小な検出物を高感度に検出する。 【解決手段】 １枚の共通の基台２上に、１個の検出用
棒状コア３と該検出用棒状コア３を取り囲む少なくとも
３個以上の励磁用棒状コア４とを設けると共に、検出用
棒状コア３に検出コイル５を巻回する一方、３個以上の
励磁用棒状コア４に共通の励磁コイル６を巻回する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁束を発生及び検
出すると共に、発生させた磁束の検出物による変化を検
出して検出物の存在を検出するための渦電流式センサに
関する。更に詳述すると、本発明は、渦電流式センサの
フェライトコアの形状の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣカードのカード発行機では、未発行
の多数のＩＣカードをストッカに積み重ねて収容してお
き、カード発行時にストッカの下部から１枚ずつＩＣカ
ードを抜き出してＩＣに書き込みを行っている。このＩ
Ｃカード発行機では、ストッカに蓄えられた多数のＩＣ
カードの表裏や前後の向きが正しいかをＩＣへの書き込
み作業の前にチェックするために、ストッカの最下部に
収容されるＩＣカードの所定位置にＩＣが存在するか否
かを検出する検出センサが設けられている。

【０００３】また、ＩＣカードに情報の読み書きを行う
ＩＣカードリーダでは、挿入されたカードがＩＣカード
であるか否か、あるいは挿入されたＩＣカードの向きが
正しいか否かを判断するために、挿入されたカードの所
定位置にＩＣが存在するか否かを検出する検出センサが
設けられている。

【０００４】これらの検出センサとしては、例えば図１
５に示すように、フェライト製で円柱形状の中央コア１
０１と、該中央コア１０１の周囲に配置されるフェライ
ト製で円筒形状の外周コア１０２と、中央コア１０１の
周囲に巻回された検出コイル１０３及び励磁コイル１０
４とを備えた渦電流式センサ１００が使用される。そし
て、この渦電流式センサ１００をＩＣカードのＩＣが位
置する箇所に設置しておく。ＩＣの検出を行うときは、
励磁コイル１０４に例えば高周波信号を印加して中央コ
ア１０１と外周コア１０２との間で磁束を発生させると
共に、この磁束を検出コイル１０３により検出する。そ
して、中央コア１０１の先端に向き合った位置にＩＣが
存在するときは、磁束によりＩＣの金属部分に渦電流が
発生するので検出コイル１０３により検出される磁束が
ＩＣの存在しないときに比べて減少する。この磁束の変
化を検出してＩＣの有無を判断する。

【０００５】ここで、渦電流式センサ１００の各コア１
０１，１０２は成形加工により断面円形状に作成するよ
うにしている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た渦電流式センサ１００では各コア１０１，１０２を成
形加工により作成しているので、成形時に欠け等が生ず
ることを防止するために特に中央コア１０１を細くする
ことができない。このため、検出面積が広くなってしま
うので、ＩＣの端子等の微小な部分を検出することが困
難である。

【０００７】また、各コア１０１，１０２は断面円形状
であるため、検出物が例えばＩＣの端子のように中央コ
ア１０１の断面形状よりも微小な四角形である場合に
は、検出コイル１０３から安定した出力を得ることがで
きず検出が困難である。

【０００８】さらに、この渦電流式センサ１００では中
央コア１０１に検出コイル１０３及び励磁コイル１０４
を巻回しているので、励磁コイル１０４により発生され
る磁束と検出コイル１０３により検出される磁束とが相
互に影響してしまいＩＣの有無による磁束の変化率を大
きくすることができない。このため、検出コイル１０３
による出力変化率が小さくなってしまい、感度が悪いも
のとなってしまう。

【０００９】そこで、本発明は、微小な検出物を高感度
に検出できる渦電流式センサを提供することを目的とす
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、請求項１記載の渦電流式センサは、１枚の共通の基
台上に、１個の検出用棒状コアと該検出用棒状コアを取
り囲む少なくとも３個以上の励磁用棒状コアとを設ける
と共に、検出用棒状コアに検出コイルを巻回する一方、
３個以上の励磁用棒状コアに共通の励磁コイルを巻回し
て成るようにしている。また、請求項２記載の渦電流式
センサは、１枚の共通の基台上に、１個の励磁用棒状コ
アと該励磁用棒状コアを取り囲む少なくとも３個以上の
検出用棒状コアとを設けると共に、励磁用棒状コアに励
磁コイルを巻回する一方、３個以上の検出用棒状コアに
共通の検出コイルを巻回して成るようにしている。

【００１１】したがって、検出コイルと励磁コイルとに
間隔を設けることができるので、励磁コイルで発生した
磁束と検出コイルで検出される磁束とが相互に影響する
ことが殆ど無い。このため、検出物の有無による磁束の
変化率を大きくすることができるので、検出コイルによ
る出力変化率を大きくして感度を向上させることができ
る。

【００１２】また、中央の棒状コアを取り囲む棒状コア
を三角形以上の多角形にすることができるので、センサ
全体の形状を多角形にして微小な多角形の検出物の検出
やそのずれ量の検出を行うことができるように成る。

【００１３】そして、請求項３記載の渦電流式センサで
は、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアのそれぞれの先
端を平坦面に形成すると共に、該平坦面を検出面とする
ようにしている。したがって、検出面を通過する磁束を
均一な分布にすることができる。

【００１４】さらに、請求項４記載の渦電流式センサで
は、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアのそれぞれの側
部を平坦面に形成すると共に、棒状コアの横断面形状を
三角形以上の多角形とするようにしている。したがっ
て、棒状コアを研削加工により形成することができるの
で、成形加工により作成する場合に比べて棒状コアの小
型化を図ることができる。しかも、検出物が微小な四角
形である場合でも、棒状コアを検出物より小さい断面形
状を有する細い四角柱にできるので高精度に検出できる
ようになる。

【００１５】また、請求項５記載の渦電流式センサで
は、検出用棒状コアを金属部材が移動する箇所に配置し
て、金属部材の存在による磁束の変化を検出コイルによ
り検出するようにしている。したがって、検出用棒状コ
アをＩＣカードのＩＣの金属端子が移動する箇所に配置
できるので、ＩＣの存在を検出できるようになる。

【００１６】さらに、請求項６記載の渦電流式センサで
は、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアは、コアブロッ
クに溝加工することにより形成して、溝加工により形成
された溝部を検出コイルまたは励磁コイルのうちの少な
くとも一方の挿入用の溝部とするようにしている。した
がって、溝部の形成位置や溝幅を変更することにより各
棒状コアの形状や太さを調整することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の構成を図面に示す
実施の形態の一例に基づいて詳細に説明する。図１に本
発明の渦電流式センサ１の一実施形態を示す。本実施形
態では、渦電流式センサ１をＩＣカードリーダに搭載し
てＩＣカードのＩＣの端子（接点）を検出するためのセ
ンサとして使用している。この渦電流式センサ１は、１
枚の共通の基台２上に、１個の検出用棒状コア３と該検
出用棒状コア３を取り囲む少なくとも３個以上の励磁用
棒状コア４とを設けている。さらに、検出用棒状コア３
に検出コイル５を巻回する一方、３個以上の励磁用棒状
コア４に共通の励磁コイル６を巻回している。本実施形
態では、基台２と検出用棒状コア３と励磁用棒状コア４
とを、フェライト等の軟磁性材料から成る一体のコア体
９により形成している。そして、棒状コア３，４を縦３
本×横３本の格子状に配置していわゆる井桁形状とし、
中央の棒状コアを検出用棒状コア３とすると共にその周
囲の８本の棒状コアを励磁用棒状コア４としている。ま
た、検出用棒状コア３及び励磁用棒状コア４のそれぞれ
の先端を平坦面に形成すると共に、該平坦面を検出面と
するようにしている。

【００１８】検出用棒状コア３と各励磁用棒状コア４と
の間には、各棒状コア３，４を分離する溝部１５が形成
されている。そして、検出用棒状コア３の周囲の溝部１
５に検出コイル５が挿入されている。このため、検出コ
イル５と励磁コイル６とに間隔を設けることができるの
で、励磁コイル６で発生した磁束と検出コイル５で検出
される磁束とが相互に影響することを防止して検出コイ
ル５による出力変化率を大きくすることにより、渦電流
式センサ１の感度を向上させることができる。

【００１９】さらに、検出用棒状コア３及び励磁用棒状
コア４のそれぞれの側部を平坦面に形成すると共に、棒
状コア３，４の横断面形状を三角形以上の多角形として
いる。このため、棒状コア３，４を研削加工により形成
することができるので、成形加工により作成する場合に
比べて棒状コア３，４の小型化を図ることができる。ま
た、本実施形態では各棒状コア３，４を、図７に示すよ
うなＩＣカード１０のＩＣ１６の微小な四角形の端子１
７よりも小さい断面形状を有する細い四角柱形状として
いる。このため、この微小な四角形の端子１７を検出す
る際に高精度に検出することができる。但し、各棒状コ
ア３，４の大きさや形状は、検出する対象物の大きさ及
び形状や要求される検出精度等に応じて設定すれば良い
のは勿論である。例えば、各棒状コア３，４を三角柱や
五角柱等としても良い。

【００２０】また、基台２の側面のうち向き合った１組
は側方に突出して支持部１８を形成している。そして、
励磁コイル６は支持部１８により支持されるのでコア体
９からの落下が防止される。

【００２１】上述した渦電流式センサ１の製造手順を以
下に説明する。まず、図２に示すように、フェライト製
のコアブロック１９の表面に例えば砥石車２０での研削
加工により溝部１５を形成する。この溝部１５は互いに
平行または直交する格子状に形成する。そして、棒状コ
ア３，４を縦３本×横３本に区画して切断して１つのコ
ア体９を形成する。このとき、基台２に１組の支持部１
８を有するように切断する。また、このように検出用棒
状コア３及び励磁用棒状コア４をコアブロック１９に溝
加工することにより形成しているので、溝部１５の形成
位置や溝幅を変更することにより各棒状コア３，４の形
状や太さを調整することができる。このため、各棒状コ
ア３，４の形状や太さを検出物の大きさや形状に合わせ
て最適に設定することができる。

【００２２】そして、図３（Ａ）に示すように、金属製
のコ字形状のケース体２５の内側にコア体９等の取付用
の凸部材２６を接着等により取り付けておく。本実施形
態ではケース体２５を金属製としているが、これには限
られずプラスチック製等としても良い。このケース体２
５の凸部材２６に対して、コア体９と外部回路に接続す
るための端子群２８を接着等により固定する。さらに、
図３（Ｂ）に示すように、コア体９の中央に位置する検
出用棒状コア３に検出コイル５を装着すると共に、検出
用棒状コア３の周囲に位置する励磁用棒状コア４に共通
の励磁コイル６を装着する。そして、図３（Ｃ）に示す
ように、各コイル５，６のワイヤを端子群２８の各端子
に半田付けする。また、ドータイトの塗布を行って接地
を行うようにする。次いで、コア体９の側方に位置する
ケース体２５の開放端に蓋板２９を接着して、コア体９
を側方から囲むようにする。

【００２３】そして、図４（Ａ）に示すように、ケース
体２５に溶かした合成樹脂３０を流し込む。図４（Ｂ）
に示すように合成樹脂３０を硬化させてから、図４
（Ｃ）に示すように各棒状コア３，４の検出面に対して
平面研削を行う。さらに、図５（Ａ）に示すように渦電
流式センサ１の角部の面取りを行って、図５（Ｂ）に示
すように励磁コイル６に高周波信号を印加した状態で検
出コイル５により磁束の検出を行うと共にアルミプレー
ト３１を近付けて各棒状コア３，４の検出面に接触させ
たり離したりしたときの変化率の評価を行って感度の検
査をする。

【００２４】ここで、この渦電流式センサ１を搭載した
ＩＣカードリーダ３３の一実施形態を示す。このＩＣカ
ードリーダ３３は、図６に示すようにＩＣカード１０を
内部に取り込むカード挿入口２４と、カード挿入口２４
の近傍に設けられた渦電流式センサ１と、この渦電流式
センサ１から出力を取り出す信号検出回路２７と、ＩＣ
カード１０を挟んでカード通路２１内を搬送するカード
送りローラ２２及びパット２３と、ＩＣカード１０の先
端１１に押されてカード走行方向に移動するカード当接
部材３２と、このカード当接部材３２が移動することに
よってＩＣ接点７をＩＣ１６の端子１７に当接させる位
置まで移動する接点ブロック３４とを備えている。これ
らの構成のうち、カード挿入口２４やカード通路２１や
カード送りローラ２２及びパット２３から成るＩＣカー
ド１０の搬送機構や、カード当接部材３２と接点ブロッ
ク３４等から成るＩＣカード１０への接触機構は、本発
明の特徴的な構成とは特に関係なく既存の又は新規のも
ので構わないので、これらについての詳細な説明は省略
する。

【００２５】カード挿入口２４と渦電流式センサ１との
間には、カード挿入センサ（図示せず）が設けられてい
る。このカード挿入センサはＩＣカード１０の挿入を検
知する。この検知により渦電流式センサ１の励磁コイル
６に高周波信号１４が与えられるようになる。本実施形
態ではカード挿入センサでのＩＣカード１０の検知によ
り励磁コイル６に高周波信号１４を与えているが、これ
には限られずカード挿入センサを設けずに常に励磁コイ
ル６に高周波信号１４を与えるようにしても良い。

【００２６】渦電流式センサ１は、ＩＣカード１０のＩ
Ｃ１６の端子１７に向き合う側、即ちＩＣカード１０の
表側に配置されている。これにより、検出用棒状コア３
の先端の検出面を端子１７に直接向けることができるの
で、端子１７の有無を高感度に検出することができる。
本実施形態では渦電流式センサ１をＩＣカード１０の表
側に配置しているが、これには限られずＩＣカード１０
の裏側に配置するようにしても良い。この場合、ＩＣ１
６の端子１７による磁束の変化率は渦電流式センサ１を
ＩＣカード１０の表側に配置したときよりも小さくなる
が、本実施形態の渦電流式センサ１は高感度であるので
端子１７の有無の検出を行うことができる。

【００２７】また、渦電流式センサ１は、図７に示すよ
うにＩＣカード１０のＩＣ１６の端子１７のうちで最も
ＩＣカード１０の走行方向の中心線Ｃから離れて位置す
る端子１７ａを検出用棒状コア３が検出するように配置
されている。このため、使用者が間違ってＩＣカード１
０を裏返し又は前後を逆に挿入してしまった場合には、
ＩＣ１６’（図中想像線で示す）から検出用棒状コア３
が離れて位置するのでＩＣカード１０が正常に挿入され
ていないことを高精度に検出することができる。この検
出により、例えばシャッタ（図示せず）を閉じたままに
してＩＣカード１０の挿入を阻止して使用者に異常を認
識させることができる。

【００２８】また、信号検出回路２７は、図８及び図９
に示すように検出コイル５からの検出電流を増幅するア
ンプ１１と、アンプ１１からの出力を半波整流する検波
回路１２と、半波整流された信号のピーク値を採って包
絡線検波するピークホールド回路１３とを備えている。
なお、図８及び図９では、それぞれ信号検出回路２７の
一部を異なる回路例により示しているが、いずれの回路
でも同様の作用効果を奏することができる。また、ピー
クホールド回路１３から出力された包絡線状のアナログ
信号は、ＡＤ変換器やコンパレータ等によりＡＤ変換さ
れてマイクロコンピュータ等から成る制御手段（図示せ
ず）に入力されて処理される。

【００２９】さらに、励磁コイル６には、例えば高周波
信号１４が印加されて、ＩＣカード１０が相対移動する
空間に磁界を発生させる。図９中、符号３７は励磁コイ
ル６で生ずる逆起電力を吸収させるダイオードであり保
護回路を構成している。

【００３０】上述したＩＣカードリーダ３３にＩＣカー
ド１０を挿入したときは、カード挿入センサがＩＣカー
ド１０の挿入を検出する。この検出により、励磁コイル
６に高周波信号１４が与えられて渦電流式センサ１から
磁束が発生する。そして、渦電流式センサ１により検出
された磁束の変化率が所定の大きさであれば、ＩＣ１６
の所定の端子１７が検出されて適正なＩＣカード１０が
適正な方向に挿入されていると判断される。このため、
ＩＣカードリーダのシャッタを開放してＩＣカード１０
を内部に取り込んで情報の読み書きを行うようにする。
一方、渦電流式センサ１により検出された磁束の変化率
が所定の大きさで無ければ、ＩＣ１６の所定の端子１７
が検出されて無くＩＣカード１０が不適正であるか、ま
たは適正なＩＣカード１０であっても挿入方向が不適正
であると判断される。このため、シャッタを開かずにＩ
Ｃカード１０を逆送させてカード挿入口２４から排出す
る。

【００３１】上述したように本実施形態の渦電流式セン
サ１によれば、検出用棒状コア３の周囲に３本以上の励
磁用棒状コア４を配置しているので、検出コイル５と励
磁コイル６とに間隔を設けることができ、励磁コイル６
で発生した磁束と検出コイル５で検出される磁束とが相
互に影響することが殆ど無い。このため、ＩＣカード１
０の有無による磁束の変化率を大きくすることができる
ので、検出コイル５による出力変化率を大きくして渦電
流式センサ１の感度を向上させることができる。これに
より、ＩＣカード１０の裏側からでもＩＣ１６の端子１
７を検出することができるようになり、渦電流式センサ
１の設置の自由度を向上させることができる。

【００３２】また、励磁用棒状コア４を四角形に配置し
ているので、渦電流式センサ１の全体形状を四角形にし
て微小な四角形の端子１７の検出やそのずれ量の検出を
行うことができる。

【００３３】そして、この渦電流式センサ１によれば、
検出用棒状コア３及び励磁用棒状コア４のそれぞれの先
端を平坦面に形成すると共に該平坦面を検出面とするよ
うにしているので、検出面を通過する磁束を均一な分布
にすることができる。このため、磁束の検出を安定した
ものにすることができる。

【００３４】さらに、この渦電流式センサ１によれば、
検出用棒状コア３及び励磁用棒状コア４のそれぞれの側
部を平坦面に形成すると共に、棒状コア３，４の横断面
形状を三角形以上の多角形としているので、棒状コア
３，４を研削加工により形成することができる。このた
め、成形加工により作成する場合に比べて棒状コア３，
４の小型化を図ることができる。しかも、各棒状コア
３，４をＩＣ１６の微小な四角形の端子１７よりも小さ
い断面形状を有する細い四角柱形状としているので、こ
の微小な四角形の端子１７を検出する際に高精度に検出
することができる。

【００３５】なお、上述の実施形態は本発明の好適な実
施の一例ではあるがこれに限定されるものではなく本発
明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能で
ある。例えば本実施形態では棒状コア３，４を縦３本×
横３本に配列しているが、これには限られず中央の検出
用棒状コア３を取り囲む３本以上の励磁用棒状コア４を
有していれば良いので図１０に示す８本の励磁用棒状コ
ア４のうちの一部を取り除いても良い。例えば、図１１
に示すように基台２の４辺の中央に位置する計４本の励
磁用棒状コア４を取り除くと共に、中央の検出用棒状コ
ア３に検出コイル５を設けて、周囲の４本の励磁用棒状
コア４に共通の励磁コイル６を設けるようにしても良
い。また、図１２に示すように、基台２の四隅に位置す
る計４本の励磁用棒状コア４を取り除くと共に、中央の
検出用棒状コア３に検出コイル５を設けて、周囲の４本
の励磁用棒状コア４に共通の励磁コイル６を設けるよう
にしても良い。さらに、図１３に示すように、中央の検
出用棒状コア３を取り囲む３本の励磁用棒状コア４を残
して他の励磁用棒状コア４を取り除くと共に、中央の検
出用棒状コア３に検出コイル５を設けて、周囲の３本の
励磁用棒状コア４に共通の励磁コイル６を設けるように
しても良い。いずれの場合も、検出コイル５と励磁コイ
ル６とに間隔を設けることができるので、励磁コイル６
で発生した磁束と検出コイル５で検出される磁束とが相
互に影響することが殆ど無く、検出コイル５による出力
変化率を大きくして渦電流式センサ１の感度を向上させ
ることができる。また、図１３に示すように励磁用棒状
コア４を三角形に配置した場合は、渦電流式センサ１の
全体形状を三角形にして微小な三角形の検出物の検出や
そのずれ量の検出を行うことができるように成る。

【００３６】また、上述した図１１〜図１３の実施形態
では縦３本×横３本の棒状コア３，４を有するコア体９
を一旦作成してから一部の励磁用棒状コア４を取り除く
ことにより各コア体９を作成しているが、これには限ら
れず始めから３本または４本等の励磁用棒状コア４を有
するコア体９を作成するようにしても良い。さらに、励
磁用棒状コア４の本数は３本以上で有れば良く、３本や
４本に限られないのは勿論である。その場合も、検出コ
イル５と励磁コイル６とに間隔を設けることができるの
で、検出コイル５による出力変化率を大きくして渦電流
式センサ１の感度を向上させることができる。また、励
磁用棒状コア４を三角形以上の多角形にすることができ
るので、渦電流式センサ１の全体形状を多角形にして微
小な多角形の検出物の検出やそのずれ量の検出を行うこ
とができるように成る。

【００３７】また、上述した各実施形態ではいずれも１
本の検出用棒状コア３に検出コイル５を設けているが、
これには限られず図１４に示すように棒状コア３，４を
例えば縦４本×横４本に配置して中央の４本の検出用棒
状コア３に検出コイル５を設けるようにしても良い。こ
こで、検出用棒状コア３の本数としては１本や４本に限
られないのは勿論である。これらの場合も、検出コイル
５と励磁コイル６とに間隔を設けることができるので、
検出コイル５による出力変化率を大きくして渦電流式セ
ンサ１の感度を向上させることができる。

【００３８】さらに、上述した各実施形態では２つのコ
イルのうち内側に検出コイル５を設けて外側に励磁コイ
ル６を設けているが、これには限られず内側に励磁コイ
ル６を設けて外側に検出コイル５を設けるようにしても
良い。すなわち、渦電流式センサ１を、１枚の共通の基
台２上に、１個の励磁用棒状コア４と該励磁用棒状コア
４を取り囲む少なくとも３個以上の検出用棒状コア３と
を設けると共に、励磁用棒状コア４に励磁コイル６を巻
回する一方、３個以上の検出用棒状コア３に共通の検出
コイル５を巻回して成るようにしても良い。この渦電流
式センサ１は、例えば図１０〜図１４に示す各渦電流式
センサ１の検出コイル５と励磁コイル６を逆にして使用
するものである。この場合、アンプ等を使用して検出コ
イル５の出力を増幅することが好ましい。このような配
置にしても、検出コイル５と励磁コイル６とに間隔を設
けることができるので、検出コイル５による出力変化率
を大きくして渦電流式センサ１の感度を向上させること
ができる。

【００３９】また、上述した実施形態では図７に示すよ
うにＩＣ１６の端子１７の検出を１つの渦電流式センサ
１により検出しているが、これには限られず同図中想像
線で示すように２つの渦電流式センサ１，１’を並列に
配置して検出を行うようにしても良い。この場合、２つ
の渦電流式センサ１，１’により検出できるのでＩＣカ
ード１０の挿入方向等の判定の精度が更に向上すると共
に、例えば金属板が挿入された場合には両センサ１，
１’の出力に差が無いことを検出してＩＣカード１０で
ないと容易に判定することができる。

【００４０】さらに、上述した実施形態では渦電流式セ
ンサ１をＩＣカードリーダ３３に搭載しているが、これ
には限られずＩＣカード１０及び磁気カードの両方の読
み書きが可能なカードリーダに搭載しても良い。また、
渦電流式センサ１を使用する対象としてはカードリーダ
には限られず、例えばＩＣカード発行機に使用しても良
い。この場合、ＩＣカード発行機のスタッカの下部に配
置しておき、スタッカの最下部に収容されている次に発
行されるＩＣカード１０のＩＣ１６の端子１７が所定位
置に有るかを検出する。これにより、当該ＩＣカード１
０の方向や表裏が適正であるかを検出することができ
る。ここで、本実施形態の渦電流式センサ１は高感度で
あるため、ＩＣ１６の端子１７の検出をＩＣカード１０
の裏側からでも高精度に行うことができる。

【００４１】

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、請求項
１及び請求項２記載の渦電流式センサによれば、検出コ
イルと励磁コイルとに間隔を設けることができるので、
励磁コイルで発生した磁束と検出コイルで検出される磁
束とが相互に影響することが殆ど無く、検出物の有無に
よる磁束の変化率を大きくすることができる。このた
め、検出コイルによる出力変化率を大きくして感度を向
上させることができる。よって、例えばＩＣカードの裏
側からでもＩＣの端子の検出を行うことができるように
なる。

【００４２】また、中央の棒状コアを取り囲む棒状コア
を三角形以上の多角形にすることができるので、センサ
全体の形状を多角形にして微小な多角形の検出物の検出
やそのずれ量の検出を行うことができるように成る。

【００４３】そして、請求項３記載の渦電流式センサに
よれば、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアのそれぞれ
の先端を平坦面に形成すると共に該平坦面を検出面とし
ているので、検出面を通過する磁束を均一な分布にする
ことができる。このため、磁束の検出を安定したものに
することができる。

【００４４】さらに、請求項４記載の渦電流式センサに
よれば、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアのそれぞれ
の側部を平坦面に形成すると共に棒状コアの横断面形状
を三角形以上の多角形としているので、棒状コアを研削
加工により形成することができ、成形加工により作成す
る場合に比べて棒状コアの小型化を図ることができる。
しかも、検出物が微小な四角形である場合でも、棒状コ
アを検出物より小さい断面形状を有する細い四角柱にで
きるので高精度に検出できるようになる。

【００４５】また、請求項５記載の渦電流式センサによ
れば、検出用棒状コアを金属部材が移動する箇所に配置
して金属部材の存在による磁束の変化を検出コイルによ
り検出しているので、検出用棒状コアをＩＣカードのＩ
Ｃの金属端子が移動する箇所に配置してＩＣの存在を検
出できるようになる。

【００４６】さらに、請求項６記載の渦電流式センサに
よれば、検出用棒状コア及び励磁用棒状コアはコアブロ
ックに溝加工することにより形成して、溝加工により形
成された溝部を検出コイルまたは励磁コイルのうちの少
なくとも一方の挿入用の溝部としているので、溝部の形
成位置や溝幅を変更することにより各棒状コアの形状や
太さを調整することができる。このため、各棒状コアの
形状や太さを検出物の大きさや形状に合わせて最適に設
定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の渦電流式センサの一実施形態を示す斜
視図である。

【図２】渦電流式センサをコアブロックから削り出す状
態を示す斜視図である。

【図３】渦電流式センサの作成工程を示す斜視図であ
り、（Ａ）はケース体にコア体及び端子群を取り付ける
状態、（Ｂ）はコア体に各コイルを装着する状態、
（Ｃ）は各コイルと端子群とを接続した状態、（Ｄ）は
ケース体に蓋板を取り付けた状態をそれぞれ示す。

【図４】渦電流式センサの作成工程を示す斜視図であ
り、（Ａ）はケース体に合成樹脂を注入する状態、
（Ｂ）は合成樹脂を硬化させる状態、（Ｃ）は検出面を
研磨する状態をそれぞれ示す。

【図５】渦電流式センサの作成工程を示す斜視図であ
り、（Ａ）は角部の面取りを行った状態、（Ｂ）はアル
ミプレートにより変化率評価を行う状態をそれぞれ示
す。

【図６】渦電流式センサを使用するＩＣカードリーダの
一実施形態を示す縦断面図である。

【図７】ＩＣカードに対する渦電流式センサの設置位置
を示す平面図である。

【図８】信号検知回路の一実施形態を示す回路図であ
る。

【図９】信号検知回路の他の実施形態を示す回路図であ
る。

【図１０】検出用棒状コアと励磁用棒状コアの配置の一
実施形態を示す平面図である。

【図１１】検出用棒状コアと励磁用棒状コアの配置の他
の実施形態を示す平面図である。

【図１２】検出用棒状コアと励磁用棒状コアの配置の別
の実施形態を示す平面図である。

【図１３】検出用棒状コアと励磁用棒状コアの配置の更
に他の実施形態を示す平面図である。

【図１４】検出用棒状コアと励磁用棒状コアの配置の更
に別の実施形態を示す平面図である。

【図１５】従来の渦電流式センサを示す斜視図である。

【符号の説明】

１ 渦電流式センサ ２ 基台 ３ 検出用棒状コア ４ 励磁用棒状コア ５ 検出コイル ６ 励磁コイル １５ 溝部 １７ 端子（金属部材） １９ コアブロック

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 １枚の共通の基台上に、１個の検出用棒
   状コアと該検出用棒状コアを取り囲む少なくとも３個以
   上の励磁用棒状コアとを設けると共に、前記検出用棒状
   コアに検出コイルを巻回する一方、前記３個以上の励磁
   用棒状コアに共通の励磁コイルを巻回して成ることを特
   徴とする渦電流式センサ。
2. 【請求項２】 １枚の共通の基台上に、１個の励磁用棒
   状コアと該励磁用棒状コアを取り囲む少なくとも３個以
   上の検出用棒状コアとを設けると共に、前記励磁用棒状
   コアに励磁コイルを巻回する一方、前記３個以上の検出
   用棒状コアに共通の検出コイルを巻回して成ることを特
   徴とする渦電流式センサ。
3. 【請求項３】 前記検出用棒状コア及び前記励磁用棒状
   コアのそれぞれの先端を平坦面に形成すると共に、該平
   坦面を検出面とすることを特徴とする請求項１または２
   記載の渦電流式センサ。
4. 【請求項４】 前記検出用棒状コア及び前記励磁用棒状
   コアのそれぞれの側部を平坦面に形成すると共に、前記
   棒状コアの横断面形状を三角形以上の多角形とすること
   を特徴とする請求項１から３までのいずれか記載の渦電
   流式センサ。
5. 【請求項５】 前記検出用棒状コアを金属部材が移動す
   る箇所に配置して、前記金属部材の存在による磁束の変
   化を前記検出コイルにより検出することを特徴とする請
   求項１から４までのいずれか記載の渦電流式センサ。
6. 【請求項６】 前記検出用棒状コア及び前記励磁用棒状
   コアは、コアブロックに溝加工することにより形成し
   て、前記溝加工により形成された溝部を前記検出コイル
   または前記励磁コイルのうちの少なくとも一方の挿入用
   の溝部としたことを特徴とする請求項１から５までのい
   ずれか記載の渦電流式センサ。