JPH11344533A - 半導体試験装置 - Google Patents

半導体試験装置

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JPH11344533A
JPH11344533A JP10151778A JP15177898A JPH11344533A JP H11344533 A JPH11344533 A JP H11344533A JP 10151778 A JP10151778 A JP 10151778A JP 15177898 A JP15177898 A JP 15177898A JP H11344533 A JPH11344533 A JP H11344533A
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JP
Japan
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power supply
unit power
unit
output
voltage
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JP10151778A
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Tetsuya Kojima
徹也 小島
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】複数のユニット電源の電源立上げシーケンスの
制御において、一層好ましい電源立上げ制御が可能な半
導体試験装置を提供する。 【解決手段】複数の直流電源装置を有し、第1、第2、
第3の順序で順次複数のユニット電源の立上げのシーケ
ンス制御を行う半導体試験装置の電源装置において、第
1のユニット電源が第2のユニット電源より先に直流電
圧を負荷装置へ供給すべきであるものとしたとき、第1
のユニット電源が出力する直流電圧が所定電圧以上に達
したことを検出して第2のユニット電源の直流電圧を出
力するシーケンス制御手段を備える半導体試験装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体試験装置
において、複数の直流電源装置の立上げのシーケンス制
御を備える半導体試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体試験装置にはシステムの各部へ複
数種類の直流電圧を供給する直流電源装置(ユニット電
源)を備えている。ユニット電源全体では数キロワット
にも及ぶ大電力である。ユニット電源が出力する直流電
圧の種類としては、機種によっても変わるが、例えば+
5V(VCC)、−5.2V(VEE)、−2V、+2
4V、+15V、+10V、−8V、−12V、その他
がある。また、半導体試験装置は機種やシステム構成、
オプション装着によりユニット電源の負荷電流の条件が
変化する。
【0003】上記複数のユニット電源を使用するシステ
ム内の回路では、もし、ランダムな直流電圧の供給がさ
れると特定の高価なIC等の回路部品にストレスが加わ
るものがある。特に超高速動作・高性能が求められてい
るデバイスを使用する半導体試験装置においては一般の
IC程の裕度がない為、正常でない電源の供給を長時間
受けるとストレスを受けるものがある。この繰返しのス
トレスに伴って、部品劣化を来す為、好ましくない。そ
のため、半導体試験装置にはACコントロールユニット
を備えて、複数のユニット電源をグループ毎にまとめ
て、所定の電源投入シーケンスで直流電圧を出力する制
御構成となっている。この制御手段としては、第1に、
商用電源のAC200Vを直接開閉してシーケンス制御
する制御手法と、第2に、ユニット電源の出力制御端子
を利用し、これを制御してシーケンス制御する制御手法
がある。
【0004】従来技術について図5の複数のユニット電
源による直流供給に係る要部構成図と、図6の電源供給
のタイムチャートを参照して以下に説明する。尚、半導
体試験装置は公知であり技術的に良く知られている為、
システム全体の構成説明は省略する。
【0005】図5の要部構成は、ACコントロールユニ
ット70と、AC/DC整流部75と、ユニット電源P
S1、PS2〜PSnで成る。この構成例は、ユニット
電源はDC/DC型のスイッチング電源とし、これが備
える出力制御端子を用いて電源投入のシーケンス制御す
る一例である。
【0006】AC/DC整流部75は、ACコントロー
ルユニット70からの商用電源AC200Vを受け、こ
れを整流した直流の高電圧を各ユニット電源PS1〜P
Snへ供給する。尚、ユニット電源PS1〜PSnがA
C電源入力型のユニット電源の場合は不要であることは
言うまでもない。
【0007】ユニット電源PS1〜PSnは、高電圧例
えば270Vの直流電源を受けるDC/DC型のスイッ
チング電源装置であり、グループ単位毎にまとめられて
所定シーケンスで出力端から電圧出力する。グループ数
nとしては、機種やシステム構成により異なるが、例え
ばn=3〜6グループに別れてシーケンス制御される。
【0008】ユニット電源PS1は、グループ単位毎に
まとめられたACコントロールユニット70からの出力
制御信号81を受けて、各グループ単位に同一タイミン
グで直流電圧V1を出力する。この単位グループ内に
は、例えば同一出力電圧のユニット電源が並列接続され
ていたり、異なる出力電圧のユニット電源があったり、
負荷装置近くにユニット電源を分散配置したりしてい
る。これらのユニット電源には、直流出力の制御入力端
cntを備えているものとする。
【0009】他のグループのユニット電源PS2〜PS
nも上記同様であり、ACコントロールユニット70か
らの対応する出力制御信号82〜8nを受けて、各グル
ープ単位に同一タイミングで出力する。尚、この図では
グループ単位毎のユニット電源を各々1つのユニット電
源PS1〜PSnとした略図で表現している。
【0010】ACコントロールユニット70は、商用電
源を受けて、電源スイッチのON/OFF制御により、
各所へ分配される商用電源の供給を開閉制御するもので
ある。この装置内にはユニット電源PS1〜PSnを制
御するシーケンス制御部80を備えている。
【0011】シーケンス制御部80は、グループ単位毎
にユニット電源が出力する直流電圧の出力タイミング
を、タイマー方式によって所定シーケンスで制御する出
力制御手段である。即ち、図6のユニット電源PS1と
ユニット電源PS2とにおける電源投入のタイムチャー
ト例に示すように、電源供給シーケンスは、最初に、ユ
ニット電源PS1がシーケンス制御部80からの出力制
御信号81(図6A参照)を受けて直流電圧を出力(図
6C参照)する。その所定タイマー時間、例えばT1=
0.5秒後にユニット電源PS2はシーケンス制御部8
0から出力制御信号82(図6B参照)を受けて直流電
圧を出力(図6D参照)する。尚、電源遮断シーケンス
では、ユニット電源PS1〜PSn全てを一括同時に直
流出力をOFF、あるいは上記シーケンスとは逆順で直
流出力をOFFする。
【0012】尚、本ACコントロールユニット70に
は、上記の他に緊急遮断手段も同時に備えていて、シス
テム筐体の過熱検出手段、煙検出器、パワーフェイル、
緊急停止スイッチやその他の緊急遮断信号等を受けて、
ユニット電源PS1〜PSn、その他の出力を遮断す
る。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上述説明したように従
来技術においては、シーケンス制御部80がタイマー方
式によって所定シーケンスで制御する出力制御手段とな
っている。ところで、ユニット電源PS1〜PSnの何
れかが、何らかの理由により直流電圧が出力停止して、
正常に電源が出力できなくなる場合や、特定のユニット
電源が過負荷に伴い出力OFFとなる場合においても後
段のユニット電源は出力され続けてしまう。この為長い
時間、特定の高価なIC等にストレスを与えてしまう不
具合を生じてしまい、この点で実用上の難点がある。こ
のような不具合は、極力なくすることが求められてい
る。そこで、本発明が解決しようとする課題は、複数の
ユニット電源の電源立上げシーケンスの制御において、
一層好ましい電源立上げ制御が可能な半導体試験装置を
提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】第1に、上記課題を解決
するために、本発明の構成では、複数の直流電源装置
(ユニット電源)を有し、第1、第2、第3の順序で順
次当該複数のユニット電源PS1〜PSnの立上げのシ
ーケンス制御を行う半導体試験装置の電源装置におい
て、第1のユニット電源PS1が第2のユニット電源P
S2より先に直流電圧を負荷装置へ供給すべきであるも
のとしたとき、第1のユニット電源PS1が出力する直
流電圧V1が所定電圧以上に達したことを検出(例えば
出力電圧検出手段20で検出)した後、前記検出信号
(例えば出力制御信号31)により第2のユニット電源
PS2の直流電圧V2を出力するシーケンス制御手段を
備えることを特徴とする半導体試験装置の電源投入シー
ケンス制御装置である。上記発明によれば、複数のユニ
ット電源PS1〜PSnの電源立上げシーケンスの制御
において、一層好ましい電源立上げのシーケンス制御が
可能な半導体試験装置が実現できる。
【0015】第4図は、本発明に係る解決手段を示して
いる。また、第1のユニット電源PS1が複数台のユニ
ット電源PS1a、PS1b、PS1cで構成されてい
るとき、個々のユニット電源PS1a、PS1b、PS
1c毎に所定電圧以上であることを検出する出力電圧検
出手段20a、20b、20cを各々備え、前記各出力
電圧検出手段20a、20b、20cからの各々の出力
制御信号31a、31b、31cを論理積して、全ての
電圧が所定電圧以上のときに、当該第2のユニット電源
PS2の直流出力を可能とする出力制御信号31を供給
する制御手段を備えることを特徴とする上述半導体試験
装置の電源投入シーケンス制御装置がある。
【0016】第7図は、本発明に係る解決手段を示して
いる。第2に、上記課題を解決するために、本発明の構
成では、複数の直流電源装置(ユニット電源)を有し、
第1、第2、第3の順序で順次当該複数のユニット電源
PS1〜PSnの立上げシーケンス制御を行い、第1の
ユニット電源PS1の出力を制御する出力制御信号81
をACコントロールユニット70が供給する構成の半導
体試験装置の電源装置において、各ユニット電源PS2
〜PSnへの出力制御入力として、前段のユニット電源
PS1〜PSn-1の出力電圧検出手段20からの出力制
御信号31〜3n-1と、ACコントロールユニット70
からの出力制御信号81とを論理積して当該ユニット電
源PS2〜PSnの出力制御入力端cntへ供給してO
FF時に一括して同時に遮断することを特徴とする上述
半導体試験装置の電源投入シーケンス制御装置がある。
【0017】また、ユニット電源PS1の入力電源は直
流入力型のDC/DC型スイッチング電源、あるいは交
流入力型のAC/DC型スイッチング電源であることを
特徴とする上述半導体試験装置の電源投入シーケンス制
御装置がある。
【0018】また、複数の直流電源装置(ユニット電
源)を有し、第1、第2、第3の順序で順次当該複数の
ユニット電源PS1〜PSnの立上げのシーケンス制御
を行う半導体試験装置の電源装置において、前段のユニ
ット電源、例えばユニット電源PS1が出力する直流電
圧V1が所定電圧以上に達したことを検出(例えば出力
電圧検出手段20で検出)して、当該ユニット電源PS
2の出力を制御する制御手段を、少なくとも複数のユニ
ット電源間の1個所に備えることを特徴とする上述半導
体試験装置の電源投入シーケンス制御装置がある。
【0019】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を実施
例と共に図面を参照して詳細に説明する。
【0020】本発明について、図1の複数のユニット電
源による直流供給に係る要部構成図と、図2の出力電圧
検出手段の一例と、図3のユニット電源の直流電圧供給
のタイムチャートとを参照して以下に説明する。尚、従
来構成に対応する要素は同一符号を付す。
【0021】図1の要部構成は、ACコントロールユニ
ット70と、AC/DC整流部75と、ユニット電源P
S1、PS2〜PSnと、複数の出力電圧検出手段20
とで成る。この構成で、追加されている出力電圧検出手
段20と、削除されているシーケンス制御部80の出力
制御信号82〜8nを除き他は従来構成と同様である。
【0022】出力電圧検出手段20は、前段のユニット
電源の出力端と、当該ユニット電源の出力制御入力端c
nt間に備えられて、前段のユニット電源の出力電圧が
所定電圧以上に上昇したこと、例えば所定出力電圧の6
0%以上を検出した出力制御信号31を当該出力制御入
力端cntへ供給するものである。この結果、図1にお
いて、ユニット電源PS2の出力電圧V2は前段のユニ
ット電源PS1の出力電圧V1が立ち上がった直後に出
力電圧V2が立ち上がることとなる。同様にして最後の
ユニット電源PSnまで順次立ち上がることとなる。
【0023】図3にユニット電源PS1とユニット電源
PS2とにおける電源投入のタイムチャート例を示す。
即ち、ユニット電源PS1はシーケンス制御部80から
出力制御信号81(図3A参照)を受けて、直流電圧V
1を出力(図3B参照)する。出力電圧検出手段20は
直流電圧V1が所定電圧に上昇したのを検出した出力制
御信号31(図3C参照)をユニット電源PS2の制御
入力端へ供給する。これを受けて、ユニット電源PS2
は直流電圧V2を出力(図3D参照)する。以後、順
次、同様にして最後のユニット電源PSnまで短時間T
2で立ち上がる。この結果、従来のような不確定要素が
無くなり、確実なる電源投入シーケンスで動作できる利
点が得られる。
【0024】上記出力電圧検出手段20の具体回路例を
図2に示す。図2(a)の回路例では抵抗R1、R2の
値により、例えば入力電圧in1の60%でトランジス
タTR1がONするようにする。このトランジスタの出
力信号out3が出力制御信号31となる。また図2
(b)の回路例では入出力間の絶縁が要求される場合の
例でありフォトカプラPC3で絶縁された出力信号ou
t3、out4が出力制御信号31として出力される。
【0025】上述発明構成によれば、前段のユニット電
源の出力電圧を直接検出する手段を備える構成としたこ
とにより、確実なるユニット電源の電源投入シーケンス
制御が実現される利点が得られる。この結果、好ましい
電源制御となる大きな利点が得られる。従って、長い時
間、特定のIC回路等にストレスを与えてしまう不具合
を解消できる大きな利点が得られる。
【0026】尚、本発明の構成は、上述実施の形態に限
るものではない。即ち、例えば第1に、前段と当該ユニ
ット電源において、図4の他の構成例に示すように、前
段に複数のユニット電源PS1a、PS1b、PS1c
が有る場合、対応する出力電圧検出手段20a、20
b、20cを備えて各々の出力電圧を検出し、検出した
出力制御信号31a、31b、31cを論理積手段25
を備えて受け、論理積した出力制御信号31を当該ユニ
ット電源PS2の制御入力端cntへ供給する。この結
果、各出力電圧の全てが検出されたときにのみ、当該ユ
ニット電源PS2の直流電圧が出力される。
【0027】また、第2に、図7に示すように、論理積
手段26を備えて、シーケンス制御部80からの出力制
御信号81を前記論理積手段26へ入力する構成とし、
出力制御信号81からのOFF信号を受けて、全てのユ
ニット電源の出力電圧を同時にOFF制御するように構
成しても良い。
【0028】また、所望により、nグループ単位毎の複
数のユニット電源PS1〜PSnにおける、少なくとも
1個所の前段と当該ユニット電源において、前段のユニ
ット電源、例えばユニット電源PS1が出力する直流電
圧V1が所定電圧以上に達したことを出力電圧検出手段
20を備えて検出し、当該ユニット電源PS2の出力を
制御する制御手段を、従来の構成の一部分に備える構成
として適用しても良い。
【0029】また、第3に、ユニット電源PS1〜PS
nとしては、図1に示すように、AC/DC整流部75
を備えて直流入力型のDC/DC型スイッチング電源と
した具体例で説明していたが、前記AC/DC整流部7
5を削除して交流入力型のAC/DC型スイッチング電
源としても良く、同様にして実施できることは明らかで
ある。
【0030】
【発明の効果】本発明は、上述の説明内容から、下記に
記載される効果を奏する。上述説明したように本発明に
よれば、前段のユニット電源の出力電圧を直接検出する
手段を備える構成としたことにより、確実なるユニット
電源の電源投入シーケンス制御が実現される利点が得ら
れる。即ち、前段のユニット電源における実際の出力電
圧V1、V2、…、Vn-1を各々検出しているので、何
らかの理由により前段にある何れかのユニット電源にお
いて出力電圧が出力されないような事態があったとして
も、それを当該出力電圧検出手段20が検出できるの
で、直ちに後段の全てのユニット電源の出力電圧がOF
F状態に制御される結果、好ましい電源制御となる大き
な利点が得られる。従って、長い時間、特定のIC回路
等にストレスを与えてしまう不具合を解消できる大きな
利点が得られる。従って本発明の技術的効果は大であ
り、産業上の経済効果も大である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る、複数のユニット電源による直流
供給に係る要部構成図である。
【図2】本発明の、出力電圧検出手段の一例である。
【図3】図1構成による、ユニット電源のDC電圧供給
のタイムチャートである。
【図4】本発明に係る、複数のユニット電源による直流
供給に係る他の構成図である。
【図5】従来の、複数のユニット電源による直流供給に
係る要部構成図である。
【図6】従来の、ユニット電源のDC電圧供給のタイム
チャートである。
【図7】本発明に係る、複数のユニット電源による直流
供給に係る他の構成図である。
【符号の説明】
PS1,PS1a,PS1b,PS1c,PS2〜PS
n ユニット電源 20,20a,20b,20c 出力電圧検出手段 25,26 論理積手段 70 ACコントロールユニット 75 AC/DC整流部 80 シーケンス制御部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の直流電源装置(ユニット電源)を
    有し、第1、第2、第3の順序で順次当該複数のユニッ
    ト電源の立上げのシーケンス制御を行う半導体試験装置
    の電源装置において、 該第1のユニット電源が該第2のユニット電源より先に
    直流電圧を負荷装置へ供給すべきであるものとしたと
    き、該第1のユニット電源が出力する直流電圧が所定電
    圧以上に達したことを検出して該第2のユニット電源の
    直流電圧を出力するシーケンス制御手段を備えることを
    特徴とする半導体試験装置。
  2. 【請求項2】 第1のユニット電源が複数台のユニット
    電源で構成されているとき、個々のユニット電源毎に所
    定電圧以上であることを検出する出力電圧検出手段を各
    々備え、前記各出力電圧検出手段からの各々の出力制御
    信号を論理積して、全ての電圧が所定電圧以上のとき
    に、当該第2のユニット電源の直流出力を可能とする制
    御手段を備えることを特徴とする請求項1記載の半導体
    試験装置。
  3. 【請求項3】 複数の直流電源装置(ユニット電源)を
    有し、第1、第2、第3の順序で順次当該複数のユニッ
    ト電源の立上げシーケンス制御を行い、該第1のユニッ
    ト電源の出力を制御する出力制御信号をACコントロー
    ルユニットが供給する構成の半導体試験装置の電源装置
    において、 各ユニット電源への出力制御入力として、前段のユニッ
    ト電源の出力電圧検出手段からの出力制御信号と、AC
    コントロールユニットからの出力制御信号とを論理積し
    て当該ユニット電源の出力制御入力端へ供給することを
    特徴とする請求項1、又は2記載の半導体試験装置。
  4. 【請求項4】 ユニット電源の入力電源は直流入力型の
    DC/DC型スイッチング電源、あるいは交流入力型の
    AC/DC型スイッチング電源であることを特徴とする
    請求項1、又は2記載の半導体試験装置。
  5. 【請求項5】 複数の直流電源装置(ユニット電源)を
    有し、第1、第2、第3の順序で順次当該複数のユニッ
    ト電源の立上げのシーケンス制御を行う半導体試験装置
    の電源装置において、前段のユニット電源が出力する直
    流電圧が所定電圧以上に達したことを検出して、当該ユ
    ニット電源の出力を制御する制御手段を、少なくとも複
    数のユニット電源間の1個所に備えることを特徴とする
    請求項1、又は2記載の半導体試験装置。
JP10151778A 1998-06-01 1998-06-01 半導体試験装置 Withdrawn JPH11344533A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7646222B2 (en) 2005-03-17 2010-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device for generating power on reset signal

Cited By (1)

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