JPH11344395A - 回転軸の変形検出方法および装置 - Google Patents

回転軸の変形検出方法および装置

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JPH11344395A
JPH11344395A JP15236998A JP15236998A JPH11344395A JP H11344395 A JPH11344395 A JP H11344395A JP 15236998 A JP15236998 A JP 15236998A JP 15236998 A JP15236998 A JP 15236998A JP H11344395 A JPH11344395 A JP H11344395A
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reflection
deformation
rotating shaft
light
detecting
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Atsushi Shimamoto
篤 嶋本
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SHINANO TECHNOLOGY KK
System Seiko Co Ltd
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SHINANO TECHNOLOGY KK
System Seiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回転軸の変形や負荷を簡便な構成で非接触に
測定する。 【解決手段】 回転軸10の外周面に、軸方向に所定の
距離を隔てて、それぞれ、二つの反射面11a、反射面
11bおよび反射面12a、反射面12bを備えた第1
反射溝11および第2反射溝12を周方向に刻設し、各
々に臨む位置に、検査光ビーム31および検査光ビーム
32を放射する第1光源21および第2光源22と、各
反射面からの反射光31a、反射光31bを検出する光
センサ41、光センサ42、および反射光32a、反射
光32bを検出する光センサ51、光センサ52を配置
し、回転軸10の変形に応じて変化する、光センサ4
1、42、51、52の出力を信号処理部60にて処理
することにより、回転軸10の変形状態を検出信号出力
61として外部に出力する回転軸の変形検出装置であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は回転軸の変形検出技
術に関し、特に、回転軸にて発生する伸縮変形や撓み変
形、さらにはそれに基づく負荷などの測定に適用して有
効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】回転軸は軸受けで支持されて、回転運動
や回転揺動運動などを行う機械要素であり、多くの場
合、ベルト車やはずみ車や歯車や車輪などの種々の要素
が取り付けられて使用される。
【0003】このような回転軸には、たとえば車軸など
のように、主として曲げ作用を受けてトルクの伝達を行
わないもの、たとえば工作機械の主軸のように、主とし
てトルクつまり回転方向の動力の伝達を行うもの、たと
えば歯車軸やベルト車軸などのように、曲げ作用を受け
ながらトルクの伝達を行うもの、さらに、たとえばプロ
ペラ軸やスクリュー軸などのように、曲げ作用の他に引
張り、圧縮作用をも同時に受けてトルクの伝達を行うも
のがある。
【0004】回転軸が特定の条件のもとで作動している
ときに、回転軸に対してトルクなどの負荷がどの程度作
用しているかを動作状態にて測定することが必要となる
場合がある。たとえば、先端に砥石が設けられた回転軸
を駆動して研削作業を行う場合には、砥石に目詰まりが
発生すると、回転軸に発生するトルクが一定値以下とな
るので、それを検出することにより、砥石の目詰まり状
態を検出することができる。同様に、工具の摩耗状態を
回転軸に加わる軸方向の負荷やトルク負荷によって検出
することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来、回転軸に加わる
トルクを測定する場合には、歪みゲージなどを軸表面に
貼り付けて軸外周面の歪み量を測定するようにしている
が、歪みケージからの電気信号を測定器本体に送るため
に、回転軸とこれの回りに配置された固定部材との間で
ブラシなどを用いる必要があり、測定装置が複雑となる
という技術的課題があった。
【0006】なお、特開平7−5056号公報には、反
射性のバンドを測定対象の回転軸の2箇所に巻回して、
各々からの反射光差異を処理することにより、回転軸に
加わるトルクを測定する技術が開示されているが、当該
技術では、回転軸の伸縮変形や撓み変形等の測定にはな
んら配慮されていない。
【0007】本発明の目的は、回転軸に加わる伸縮変形
や撓み変形、さらにはそれらに基づく負荷等の情報を簡
単な構造で非接触式に測定し得るようにすることにあ
る。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0010】すなわち、本発明の回転軸の変形検出方法
は、回転軸の外周部の軸方向に離間した位置に、各々が
反射面を有する第1および第2の反射領域を配置すると
ともに、第1および第2の反射領域の各々に検査光を照
射し、第1および第2の反射領域の各々の反射面にて反
射される検査光の反射光路の変化に基づいて、回転軸の
変形を検出するものである。
【0011】また、本発明の回転軸の変形検出装置は、
回転軸の外周部の軸方向に離間した位置に配置され、各
々が反射面を有する第1および第2の反射領域と、第1
および第2の反射領域の各々に検査光を照射する第1お
よび第2の光源部と、第1および第2の反射領域の各々
の反射面にて反射される検査光の反射光路の変化を検出
する光検出手段と、光検出手段から得られる反射光路の
変化に基づいて、回転軸の変形を観測する変形検出手段
とを備えたものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
【0013】図1は本発明の一実施の形態である回転軸
の変形検出方法を実施する変形検出装置の構成の一例を
示す概念図であり、図2および図3は、その作用の一例
を示す概念図である。
【0014】図1には、たとえば、モータやエンジンな
どの駆動源と砥石や歯車などの被駆動部材との間に設け
られる回転軸10の一部が示されており、本実施の形態
では、この回転軸10の撓み変形(すなわち曲げモーメ
ントM)および軸方向の伸縮変形(引張ないし圧縮方向
の荷重W)をそれぞれ測定する場合を例に採って説明す
る。
【0015】図1に例示されるように、本実施の形態の
場合、回転軸10には、軸方向に所定の間隔Lを置い
て、略V字形の断面形状を有する二つの第1反射溝11
および第2反射溝12が周方向に刻設され、それぞれ、
二つの反射面11a、反射面11bおよび反射面12
a、反射面12bを備えている。
【0016】この二つの第1反射溝11および第2反射
溝12の各々対向する位置には、第1光源21および第
2光源22が配置されており、それぞれから、対応する
第1反射溝11および第2反射溝12に向かって検査光
ビーム31および検査光ビーム32を照射している。こ
の第1光源21および第2光源22は、たとえばHe−
Neレーザ源で構成され、その場合、検査光ビーム31
および検査光ビーム32は、He−Neレーザビームで
ある。第1光源21および第2光源22は、光源制御部
20にて駆動される。
【0017】第1反射溝11の二つの反射面11a、反
射面11bの各々に対向する位置には、光センサ41お
よび光センサ42、が配置されており、第2反射溝12
の二つの反射面12a、反射面12bの各々に対向する
位置には、光センサ51および光センサ52、が配置さ
れている。
【0018】第1反射溝11に設けられた光センサ41
および光センサ42は、それぞれ、第1反射溝11に照
射される検査光ビーム31のうち、反射面11aにて反
射された反射光31a、および反射面11bにて反射さ
れた反射光31b、を検出するように配置されている。
【0019】同様に、第2反射溝12に設けられた光セ
ンサ51および光センサ52は、それぞれ、第2反射溝
12に照射される検査光ビーム32のうち、反射面12
aにて反射された反射光32a、および反射面12bに
て反射された反射光32b、を検出するように配置され
ている。
【0020】本実施の形態の場合、光センサ41、光セ
ンサ42および光センサ51、光センサ52は、たとえ
ば、2分割フォトダイオードやフォトダイオードの表面
抵抗の変化を利用した光スポット位置センサ等の受光素
子で構成され、入射する反射光31a、31b、反射光
32a、32bの入射位置の変化を一次元的に検出する
ことが可能になっている。
【0021】すなわち、たとえば2分割フォトダイオー
ドで光センサ41(42)(51)(52)を構成した
場合、二つの受光領域A、受光領域B(受光領域C、受
光領域D)(受光領域E、受光領域F)(受光領域G、
受光領域H)の各々の間の中立位置(光センサ41の中
央部の破線位置)からの反射光31a(31b)(32
a)(32b)のスポットの入射位置の偏りに比例し
て、当該受光領域A(C、E、G)、受光領域B(D、
F、H)の各々からの出力レベルが増減し、これによ
り、反射光32aの光路の変化を、二つの受光領域A、
受光領域Bの配列方向において一次元的に検出可能とな
る。
【0022】本実施の形態の場合、光センサ41(4
2)(51)(52)の各々における二つの受光領域の
配列方向は、検査光ビーム31(32)の光路と、その
反射光31a(31b)(32a(32b))の光路を
含む平面に平行に設定されており、これにより、回転軸
10の伸縮や撓み変形等に起因する反射面11a、11
bおよび反射面12a、12bの変位が、光センサ41
(42)(51)(52)の各々に対する反射光31a
(31b)(32a(32b))の二つの受光領域に対
する入射位置の変化として検出される。
【0023】光センサ41、42および光センサ51、
52の各々の出力は、信号処理部60に入力され、後述
のようにして、たとえば回転軸10の伸縮変形や撓み変
形等の検出信号出力61が外部に出力される。なお、光
センサ41、42、51、52の各々からの信号処理部
60に対する出力は2系列(出力線41a、出力線41
b、および出力線42c、出力線42d、および出力線
51e、出力線51f、および出力線52g、出力線5
2h)であるが、図1では簡単のため1本の線で示して
ある。
【0024】なお、光センサ41、42および光センサ
51、52の各々の出力は電流値としてそのまま信号処
理部60で処理してもよいし、あるいは、電流値を電圧
値に変換した後に処理してもよい。
【0025】また、簡単のため特に図示しないが、必要
に応じて、光源制御部20にて、第1光源21および第
2光源22の各々から出力される検査光ビーム31およ
び検査光ビーム32に変調をかけ、光センサ41、4
2、51、52の各々の出力を処理する信号処理部60
にて検出信号を復調することにより、検査光ビーム31
および32以外の設置環境中の光等のノイズを低減する
ようにしてもよいことは言うまでもない。
【0026】以下、本実施の形態の作用の一例について
説明する。まず、図2にて、回転軸10の伸縮変形を検
出する場合について説明する。
【0027】この伸縮変形を検出する場合では、図2に
例示されるように、信号処理部60は、反転入力端子
(−)側に、光センサ41、42の出力線41a、42
cが接続され、非反転入力端子(+)側に出力線41
b、42dが接続された差動増幅器62と、反転入力端
子(−)側に、光センサ51、52の出力線51f、5
2hが接続され、非反転入力端子(+)側に出力線51
e、52gが接続された差動増幅器63と、これら二つ
の差動増幅器62および63の出力を加算して増幅し、
伸縮検出信号61aとして出力する加算増幅器64で構
成されている。
【0028】そして、回転軸10の伸縮変形により、第
1反射溝11の位置が、図2の左側(−x方向)に移動
すると、反射面11a(11b)で反射される反射光3
1a(31b)は、光センサ41(42)の受光領域A
よりもB(CよりもD)側に偏った位置に入射する。従
って、上述のような結線の差動増幅器62の出力は、−
x方向への第1反射溝11の変位に比例して増大するよ
うに変化する。
【0029】また、回転軸10の伸縮変形により、第2
反射溝12の位置が、図2の右側(+x方向)に移動す
ると、反射面12a(12b)で反射される反射光32
a(32b)は、光センサ51(52)の受光領域Fよ
りもE(HよりもG)側に偏った位置に入射する。従っ
て、上述のような結線の差動増幅器63の出力は、+x
方向への第2反射溝12の変位に比例して増大するよう
に変化する。
【0030】これにより、差動増幅器62および63の
出力の和をとる加算増幅器64は、第1反射溝11と第
2反射溝12とが離間する方向、すなわち回転軸10の
伸長変形に応じて増大し、収縮変形に応じて減少するよ
うに変化し、この変化によって、回転軸10の伸縮変形
ΔLを計測することが可能になる。
【0031】そして、歪みε=ΔL/Lが得られ、回転
軸10の縦弾性係数をEとすると、その断面に作用する
伸縮方向の応力σが、σ=Eεにて求められる。さら
に、回転軸10の断面積Sにて、伸縮方向の荷重Wが、
W=σSとして得られる。
【0032】次に、回転軸10の変形として、撓み量を
計測する場合について、図3を参照して説明する。
【0033】この場合には、図3に例示されるように、
信号処理部60を構成する差動増幅器62の反転入力端
子(−)側に、光センサ41、42の出力線41b、4
2dを接続し、非反転入力端子(+)側に出力線41
a、42cを接続するとともに、差動増幅器63の反転
入力端子(−)側には、光センサ51、52の出力線5
1e、52gを接続し、非反転入力端子(+)側には出
力線51f、52hを接続し、これら二つの差動増幅器
62および63の出力を加算増幅器64で加算して増幅
し、撓み検出信号61bとして出力する構成となってい
る。
【0034】そして、回転軸10の撓み変形により、第
1反射溝11の位置が、図3の反時計回り(+θ方向)
に回動すると、反射面11a(11b)で反射される反
射光31a(31b)は、光センサ41(42)の受光
領域BよりもA(DよりもC)側に偏った位置に入射す
る。従って、上述のような結線の差動増幅器62の出力
は、+θ方向への第1反射溝11の回動変位に比例して
増大するように変化する。
【0035】また、回転軸10の撓み変形により、第2
反射溝12の位置が、図3の時計回り(−θ方向)に回
動すると、反射面12a(12b)で反射される反射光
32a(32b)は、光センサ51(52)の受光領域
EよりもF(GよりもH)側に偏った位置に入射する。
従って、上述のような結線の差動増幅器63の出力は、
−θ方向への第2反射溝12の変位に比例して増大する
ように変化する。
【0036】従って、差動増幅器62および63の出力
を加算/増幅する加算増幅器64の出力である撓み検出
信号61bは、図3の上の凸側の撓み変形の増大に比例
して増加する。そして、この撓み検出信号61bから回
転軸10の曲率半径ρが得られ、回転軸10の断面形状
によって決まる断面二次モーメントをI、縦弾性係数を
E、作用する曲げモーメントをMとすると、M=−(E
I/ρ)、(但し符号は、両端の変形が下向きに正)に
て、曲げモーメントM等の負荷を計測することができ
る。
【0037】なお、信号処理部60では、図2および図
3に例示される信号処理機能を重複して持ち、伸縮検出
信号61aと撓み検出信号61bとを同時に並行して出
力する構成としてもよいし、あるいは、共通の差動増幅
器62、63および加算増幅器64に対して、複数の光
センサ41、42および光センサ51、52の出力線の
接続状態を図示しないスイッチ等て切り替えることによ
り、伸縮検出信号61aの測定と、撓み検出信号61b
の測定とを外部から随意に切り替える構成としてもよ
い。
【0038】また、反射領域の構成としては、上述のよ
うに第1反射溝11および第2反射溝12に限らず、た
とえば図4に例示されるように、反射面110aおよび
反射面110bを有する第1反射突起110と、反射面
120aおよび反射面120bを有する第2反射突起1
20を回転軸10に形成した構成でもよい。
【0039】以上説明したように、本実施の形態の回転
軸の変形検出方法および装置によれば、回転軸10の表
面に歪みゲージを張り付ける等の複雑な構成を用いるこ
となく、非接触で、しかも2分割フォトダイオードや光
スポット位置センサ等の簡単な受光素子にて、回転軸1
0の伸縮変形や撓み変形、さらにはそれらに基づく伸縮
荷重や曲げモーメント等の負荷を、回転軸10の使用状
態において高精度に計測できる、という効果が得られ
る。
【0040】この結果、たとえば、一端に図示しない砥
石が設けられた回転軸10を他端側に設けられた図示し
ないモータ等にて回転駆動して研削作業を行う場合に
は、砥石に目詰まりが発生すると、回転軸に発生する負
荷が一定値以上となるので、それを検出することによ
り、砥石の目詰まり状態を検出することができる。同様
に、工具の摩耗状態を回転軸に加わる軸方向の負荷によ
って検出することができる。
【0041】以上本発明者によってなされた発明を実施
の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施
の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しな
い範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0042】たとえば、反射領域としては、上述の実施
の形態に例示したように、回転軸自体の外周部に反射溝
や反射突起を形成する構成に限らず、たとえば、回転軸
の外周部に、溝や突起付きテープ等を貼付する構成とし
てもよい。
【0043】さらに、反射領域から発生する反射光を、
光ファイバ等の光学系を用いて光検出手段に導く構成と
してもよい。
【0044】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0045】本発明の回転軸の変形検出方法によれば、
回転軸に加わる伸縮変形や撓み変形、さらにはそれらに
基づく負荷等の情報を簡単な構造で非接触式に測定する
ことができる、という効果が得られる。
【0046】また、本発明の回転軸の変形検出装置によ
れば、回転軸に加わる伸縮変形や撓み変形、さらにはそ
れらに基づく負荷等の情報を簡単な構造で非接触式に測
定することができる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態である回転軸の変形検出
方法を実施する変形検出装置の構成の一例を示す概念図
である。
【図2】本発明の一実施の形態である回転軸の変形検出
方法を実施する変形検出装置の作用の一例を示す概念図
である。
【図3】本発明の一実施の形態である回転軸の変形検出
方法を実施する変形検出装置の作用の一例を示す概念図
である。
【図4】本発明の一実施の形態である回転軸の変形検出
方法を実施する変形検出装置における変形例を示す概念
図である。
【符号の説明】
10 回転軸 11 第1反射溝(第1の反射領域) 11a,11b 反射面 12 第2反射溝(第2の反射領域) 12a,12b 反射面 20 光源制御部 21 第1光源(第1の光源部) 22 第2光源(第1の光源部) 31 検査光ビーム(検査光) 31a,31b 反射光 32 検査光ビーム(検査光) 32a,32b 反射光 41 光センサ(光検出手段) 41a,41b 出力線 42 光センサ(光検出手段) 42c,42d 出力線 51 光センサ(光検出手段) 51e,51f 出力線 52 光センサ(光検出手段) 52g,52h 出力線 60 信号処理部(変形検出手段) 61 検出信号出力 61a 伸縮検出信号 61b 撓み検出信号 62,63 差動増幅器 64 加算増幅器 110 第1反射突起(第1の反射領域) 110a,110b 反射面 120 第2反射突起(第2の反射領域) 120a,120b 反射面 A,B 受光領域 C,D 受光領域 E,F 受光領域 G,H 受光領域

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転軸の外周部の軸方向に離間した位置
    に、各々が反射面を有する第1および第2の反射領域を
    配置するとともに、前記第1および第2の反射領域の各
    々に検査光を照射し、前記第1および第2の反射領域の
    各々の前記反射面にて反射される前記検査光の反射光路
    の変化に基づいて、前記回転軸の変形を検出することを
    特徴とする回転軸の変形検出方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の回転軸の変形検出方法に
    おいて、前記第1および第2の反射領域は、前記回転軸
    の軸方向に所定の間隔を置いて周方向に形成され、各々
    の断面が略V字形で第1および第2の反射面を有する第
    1および第2の反射溝または反射突起であり、前記第1
    および第2の反射溝または反射突起の各々に対して、前
    記回転軸の中心軸にほぼ直交する方向に照射され、前記
    第1および第2の反射面にて反射された前記検査光の4
    つの反射光路の変化に基づいて、前記回転軸の軸方向に
    おける伸縮変形および前記回転軸の軸方向に交差する方
    向の撓み変形の少なくとも一方を検出することを特徴と
    する回転軸の変形検出方法。
  3. 【請求項3】 回転軸の外周部の軸方向に離間した位置
    に配置され、各々が反射面を有する第1および第2の反
    射領域と、前記第1および第2の反射領域の各々に検査
    光を照射する第1および第2の光源部と、前記第1およ
    び第2の反射領域の各々の前記反射面にて反射される前
    記検査光の反射光路の変化を検出する光検出手段と、前
    記光検出手段から得られる前記反射光路の変化に基づい
    て、前記回転軸の変形を観測する変形検出手段とを備え
    たことを特徴とする回転軸の変形検出装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の回転軸の変形検出装置に
    おいて、 前記第1および第2の反射領域は、前記回転軸の軸方向
    に所定の間隔を置いて周方向に形成され、各々の断面が
    略V字形で第1および第2の反射面を有する第1および
    第2の反射溝または反射突起であり、 前記光検出手段は、前記第1の反射溝または反射突起に
    おける前記第1および第2の反射面に対向して配置さ
    れ、入出力する前記反射光路の変化を1次元的に検出す
    る機能を有する第1および第2の受光素子と、前記第2
    の反射溝または反射突起における前記第1および第2の
    反射面に対向して配置され、入出力する前記反射光路の
    変化を1次元的に検出する機能を有する第3および第4
    の受光素子とからなり、 前記変形検出手段は、前記第1、第2、第3および第4
    の受光素子にて検出される前記検査光の4つの反射光路
    の変化に基づいて、前記回転軸の軸方向における伸縮変
    形および前記回転軸の軸方向に交差する方向の撓み変形
    の少なくとも一方を検出することを特徴とする回転軸の
    変形検出装置。
JP15236998A 1998-06-02 1998-06-02 回転軸の変形検出方法および装置 Pending JPH11344395A (ja)

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