JP2006343160A - 撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法および応力計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】荷重付与前の撮影画像の計測にかかる基準領域部および荷重付与後の撮影画像の計測対象領域部を、フーリエ変換法にて拡大し、これら拡大された両領域部における画素同士の輝度値の残差二乗和を、基準領域部Aiを計測対象領域部Biに対して1画素ずつずらしながら求め、これら求められた各残差二乗和に係る相関値rを、基準領域部の各画素に対応して平面上にプロットし、これらプロットされた各相関値を表す点またはその近傍を通過する曲線(曲面)Pを最小二乗法により求め、この求められた曲線の最小値を求め、この最小値の座標位置xiと、基準領域部における計測着目画素の座標位置xi′との距離を求めることにより、構造物の変位量を求める方法である。
【選択図】 図4
Description
一般に、ひずみゲージを用いた場合、信頼性の高いひずみデータを得ることができるが、貼付した場所およびその貼付方向でのデータしか得られなかった。
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部と力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップとを具備した方法である。
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部および力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部を、フーリエ変換法を用いてそれぞれ拡大するステップと、
この拡大された基準領域部と計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップとを具備した方法である。
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部と力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の残差二乗和または正規化による相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップとを具備した方法である。
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部および力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部を、フーリエ変換法を用いてそれぞれ拡大するステップと、
この拡大された基準領域部と計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の残差二乗和または正規化による相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップとを具備した方法である。
さらに、請求項6に係る撮影画像を用いた構造物における応力計測方法は、請求項1乃至5のいずれかに記載の変位量計測方法により求められた変位量からひずみを求め、このひずみと構造物の材料の縦弾性係数を含む量とに基づき、当該構造物に発生している応力を求める方法である。
また、上記応力計測方法によると、上記各変位量計測方法にて求められた変位量からひずみを求め、このひずみと構造物の材料の縦弾性係数を含む量とに基づき、当該構造物に発生している応力を求めるようにしたので、やはり、構造物に生じている応力を精度良く求めることができる。
以下、本発明の実施の形態に係る撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法およびこの変位量計測方法を用いた応力計測方法を図面に基づき説明する。
本実施の形態においては、構造物の疲労などの強度を推定するために、荷重(力)を付与する前と、付与した後とにおける変位量(ずれ量ともいう)を、カメラ装置(例えば、CCDを用いたデジタルビデオカメラが用いられる)により撮影し、この荷重の付与前と付与後とにおける撮影画像における画素情報、例えば輝度値を用いて、その前後における変位量を求めるものである。
この変位量計測装置は、図1に示すように、少なくとも、支持台1に取り付けられて構造物の所定位置を撮影するカメラ装置2と、このカメラ装置2に設けられて撮影すべき構造物までの距離を測定するレーザ測距装置3と、例えばカメラ装置2側に設けられて撮影位置を特定するためにレーザ光を照射するレーザ照射器4と、例えば支持台1に設けられて当該カメラ装置2の三次元位置を測定するGPS装置5と、上記各機器からの測定値を入力して構造物における計測対象位置での変位量を演算するコンピュータ装置(演算装置)6とから構成されており、勿論、このコンピュータ装置6にはタブレット、キーボードなどの入力機器7が具備されるとともに、プリンタなどの出力装置も接続されている。
まず、カメラ装置2により、荷重を付加しない状態で構造物を撮影して荷重付加前画像(以下、基準画像という)を得た後、所定位置に荷重を付加した状態で構造物を撮影して荷重付加後画像(以下、計測対象画像という)を得る。
以下、この画素数の増加方法(拡大方法)について説明する。
ところで、図2(a)に示すように、このN×N画素を有する画像を、それぞれM倍に、すなわちMN×MNの画素数にすると、図2(b)のようになる。この場合、各画素の幅λ′は、λ/Mになっている。
この手順においては、計測に係る部分については所定の画素領域(例えば、複数個の画素)ずつ、順次、画像相関法を適用していくが、ここでは、比較元となる基準画像側を基準領域部と称するとともに、比較対象となる計測対象画像側を計測対象領域部と称して説明する。
さらに、計測に係る画素領域の個数としては、奇数個、例えば5個にするとともに、変位の計測を行うために着目する画素(以下、計測着目画素という)については、中央の画素とする。
次に、図4(c)に示すように、移動された各基準領域部Aiにおける計測着目画素の位置をx軸上にとるとともに、各基準領域部Aiについて求められた各残差二乗和(グラフでは、残差二乗和相関値rで表されており、○印にて示す)をy軸にとり、x−y平面上にプロットする。
なお、図4の右側に、上記と同様のことを、異なる基準領域部Ajで行った場合の結果{j番目の画素のずれ量(Δj)}を示しておく。
図6は、試験片として、長方形の板体(2t×30W×300L;単位はmm)に、引張荷重を加えた場合の本発明に係る変位量計測方法による計測値と、ひずみゲージによる計測値との比較を示している。なお、(a)は計測値を比較したグラフ、(b)は試験片の外観を示す図である。また、図6(a)に記載のひずみゲージによる変位量の計測値は、ひずみゲージから得られたひずみ量を積分したものである。
上記変位量計測方法により精度良く求められた変位量に基づき、すなわち下記に示す(3)式および(4)式に示すように、この変位量(δ)と変位−ひずみの関係を表す量(例えば、係数行列)[B]とからひずみ(ε)を算出するとともに、このひずみ(ε)に応力−ひずみの関係を表す量(例えば、構造物を構成する材料の縦弾性係数を含む係数行列)[D]を掛けることにより、構造物に発生している応力(σ)を求めることができる。すなわち、構造物を撮影した画像から、応力を求めることができるため、例えばひずみゲージを多数貼付することなく、また任意の位置でも、変位量すなわち応力を計測することができ、したがって応力集中などが発生している場所を、容易に且つ正確に把握することができるので、構造物の管理を精度良く、すなわち効率の良い管理を行うことができる。
すなわち、基準画像中における計測点N01(x,y)に対して、X軸方向およびY軸方向において、隣り合う計測点をN02(x+px,y),N04(x,y+py)とするとともに、対角上にある計測点をN03(x+px,y+py)として考えると、これら4点の計測点からなる要素によって、応力解析を実施することができる。なお、この場合、基準画像中における要素は、X軸方向での長さがpx,Y軸方向での長さがpyである方形として考える。そして、これら4つの変形計測点N0i(i=1〜4)が、X軸方向およびY軸方向に、それぞれuiおよびvi移動したと考える。このとき、これら4計測点からなる要素中心点N0(x+px/2,y+py/2)が変形後に生じるX軸方向ひずみ、Y軸方向ひずみ、剪断ひずみ、およびX軸方向応力、Y軸方向応力、剪断応力を、それぞれεx(x+px/2,y+py/2),εy(x+px/2,y+py/2),γxy(x+px/2,y+py/2)、およびσx(x+px/2,y+py/2),σy(x+px/2,y+py/2),τxy(x+px/2,y+py/2)とすると、これらの値は、簡易的に下記(5)式および(6)式により求めることができる。
ここで、本発明に係る変位量計測方法および応力計測方法を用いた実験結果を示しておく。
すなわち、上記実施の形態に係る変位量計測方法は、構造物に力を付与する前と付与した後との撮影画像の画像情報を比較することにより当該構造物における変位量を計測する方法であって、上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部および力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部を、フーリエ変換法を用いてそれぞれ拡大するステップと、この拡大された基準領域部と計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報例えば輝度値の残差二乗和または正規化による相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップとを具備した方法である。
(1)カメラ装置、変位量および応力解析用のコンピュータ装置および出力装置を一体化させることによって、現場での構造物の応力状態が即座に評価できるので、構造物の点検および診断を、効率よく実施することができる。
(2)当該応力計測装置に組み込まれたレーザ測距装置およびGPS装置によって、被計測部の位置情報を効率よく取得することができるので、データの解析および構造物の健全性診断を容易に行うことができる。
(3)応答曲面(または応答曲線)を用いてずれ位置、すなわち変位量を求めるようにしたので、変位を20nm程度の精度で測定することができ、したがって従来できなかった応力測定の分野まで、カメラ方式を適用することができる。
(4)画像の拡大法と応答曲面法とを組み合わせることによって、ひずみの検出精度の向上を図ることができ、延いては、応力の測定精度の向上を図り得る。
2 カメラ装置
3 レーザ測距装置
4 レーザ照射器
5 GPS装置
6 コンピュータ装置
Claims (6)
- 構造物に力を付与する前と付与した後との撮影画像の画像情報を比較することにより当該構造物における変位量を計測する方法であって、
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部と力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップと
を具備したことを特徴とする撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法。 - 構造物に力を付与する前と付与した後との撮影画像の画像情報を比較することにより当該構造物における変位量を計測する方法であって、
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部および力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部を、フーリエ変換法を用いてそれぞれ拡大するステップと、
この拡大された基準領域部と計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップと
を具備したことを特徴とする撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法。 - 構造物に力を付与する前と付与した後との撮影画像の画像情報を比較することにより当該構造物における変位量を計測する方法であって、
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部と力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の残差二乗和または正規化による相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップと
を具備したことを特徴とする撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法。 - 構造物に力を付与する前と付与した後との撮影画像の画像情報を比較することにより当該構造物における変位量を計測する方法であって、
上記力付与前における撮影画像の計測に係る部分であるとともに計測着目画素を含む基準領域部および力付与後における撮影画像の計測に係る部分である計測対象領域部を、フーリエ変換法を用いてそれぞれ拡大するステップと、
この拡大された基準領域部と計測対象領域部とにおける画素同士の画像情報の残差二乗和または正規化による相関量を、基準領域部を計測対象領域部に対して1画素ずつずらしながら求めるステップと、
これら求められた各相関量を、基準領域部の各画素に対応して直線上または平面上にプロットするステップと、
これらプロットされた各相関量を表す点若しくはその近傍を通過する曲線または曲面を求めるステップと、
このステップにより求められた曲線または曲面の極値を求めるステップと、
この極値の座標位置と、力付与前における撮影画像の基準領域部における計測着目画素の座標位置との距離を求めることにより、当該構造物の変位量を求めるステップと
を具備したことを特徴とする撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法。 - 画像情報が輝度値であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の撮影画像を用いた構造物における変位量計測方法。
- 請求項1乃至5のいずれかに記載の変位量計測方法により求められた変位量からひずみを求め、このひずみと構造物の材料の縦弾性係数を含む量とに基づき、当該構造物に発生している応力を求めることを特徴とする撮影画像を用いた構造物における応力計測方法。
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