JPH113425A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JPH113425A
JPH113425A JP9156603A JP15660397A JPH113425A JP H113425 A JPH113425 A JP H113425A JP 9156603 A JP9156603 A JP 9156603A JP 15660397 A JP15660397 A JP 15660397A JP H113425 A JPH113425 A JP H113425A
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memory
pixel
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JP9156603A
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English (en)
Inventor
Katsumi Hosokawa
勝美 細川
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Fuji Electric Co Ltd
FFC Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
FFC Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】検査対象画像と基準画像とのパターンマッチン
グを少ない演算量で正確に行う手段を提供すること。 【解決手段】検査対象物を実測した濃淡画像である検査
対象画像に対して、この検査対象物の基準物の濃淡画像
である基準画像を相対的に移動させながら、両画像の相
関係数を演算してパターンマッチングを行う画像処理装
置において、基準画像を構成する画素のうち、与えた濃
度変化条件を満足する画素を特徴画素として抽出する手
段と、抽出した特徴画素に対応する、基準画像内の画素
のみを、前記相関係数の演算対象として、パターンマッ
チングを行う手段とを備える画像処理装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象物を実測
した濃淡画像である検査対象画像に対して、この検査対
象物の基準物の濃淡画像である基準画像を相対的に移動
させながら、両画像の相関係数を演算してパターンマッ
チングを行う技術に関する。
【0002】
【従来の技術】パターンマッチングを行う装置では、検
査対象物を実測した濃淡画像である検査対象画像に対し
て、この検査対象物の基準物の濃淡画像である基準画像
を相対的に移動させながら、両画像の相関係数を演算し
てパターンマッチングを行っている。
【0003】この場合、基準画像に対する検査対象画像
の一致度を調べる尺度として、相関係数R(「正規化相
関値」とも称される)が用いられていることが多い。相
関係数は、一般に、次式(1)で表現されるが、演算が
容易に行えるように次式(2)のように展開した式を用
いて演算を行っている。
【0004】
【数1】
【0005】
【数2】
【0006】ここで、(x、y)は、相関係数を演算す
る位置座標、Fは、一方の画像の画素濃度、Gは、他方
の画像の画素濃度、Nは、相関係数の演算に用いる画素
数、Σは、相関係数の演算を行う画素についての総和を
とることを意味する。
【0007】従来、この相関係数の演算により行うパタ
ーンマッチングでは、検査対象範囲(すなわち、相関係
数を計算する範囲)を、基準画像上で設定していおり、
通常、この検査対象範囲は、設定操作の容易性や相関係
数演算の簡素さ等のため、矩形の領域を設定していた。
【0008】この様子を図9を参照して簡単に説明して
おくことにする。今、検査対象物としては球形の部品を
想定している。図9(a)は、例えば、工業用カメラ等
で検査対象物を計測した濃淡画像である検査対象画像を
示し、同図(b)は、球形の部品の基準物の濃淡画像で
ある基準画像を示している。この基準画像は矩形であ
る。そして、検査対象物に存在する欠陥を検出するため
には、同図(c)に示すように(x、y)座標系を想定
して、検査対象画像に対して、左上隅から、基準画像を
順次相対的に移動させながら、基準画像の存在位置
(x、y)を変化させ、各(x、y)位置での相関係数
を、順次、前記式(2)により求めてパターンマッチン
グを行い、相関係数値の変化状態を参照して、検査対象
物の欠陥の有無を判断していた。
【0009】また、検出すべき欠陥が微小である場合で
は、設定範囲を複数の小領域に分割し、小領域単位でパ
ターンマッチングを行うことにより検出精度を向上させ
ていた。すなわち、設定範囲を複数の小領域に分割する
ことで、各小領域内でのNを小さくすることによって、
微小な変化であっても、相関関数の累積値に反映させる
ようにするためである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のパターンマッチングにおいては、以下に示す
ような問題点があった。
【0011】第1に、検査対象範囲を矩形に設定する
と、検査対象外の周辺領域、例えば、検査対象物の形状
が球形である場合には、矩形領域内であって球形の領域
以外の領域、に対してもパターンマッチングのための相
関関数の演算が行われてしまい、この検査対象外の周辺
領域の画像が特定したものでないと、正確な相関関数の
演算が行えないという問題があった。また、検査対象物
の画像情報を構成する全ての画素に対して相関関数の演
算を行う必要性から、演算量の増大が課題になってい
た。
【0012】また、検査対象範囲を複数の小領域に分割
する場合であっても、各小領域内での、検査対象物の画
像情報を構成する画素数のが不均一になり、同一の欠陥
であっても、演算位置により検出可能であったり、不可
能であったりして、演算精度が良くなった。
【0013】これらは、従来のパターンマッチングに対
して解決すべき課題であった。そこで、本発明は、この
ような未解決の課題を解決するためになされたものであ
り、その目的は、相関係数の演算対象画素数を低減する
ことができ、演算時間を大幅に短縮することが可能とす
ることや、演算対象画素を検査物の画像の境界線周辺に
限定し、背景が基準画像と異なってもその影響を最小限
に押さえながら、物体のみの検査を正確に行うことを可
能とする手段を提供する点にある。
【0014】さらに、本発明の他の目的は、検査対象領
域のみを一様に分割してパターンマツチングを行うこと
を可能とし、微細な欠陥も検出可能とする手段を提供す
る点にある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に係わる発明によれば、検査対象物を実測
した濃淡画像である検査対象画像に対して、この検査対
象物の基準物の濃淡画像である基準画像を相対的に移動
させながら、両画像の相関係数を演算してパターンマッ
チングを行う画像処理装置において、前記基準画像を構
成する画素のうち、与えた濃度条件を満足する画素を特
徴画素として抽出する手段と、抽出した特徴画素に対応
する、基準画像内の画素のみを、前記相関係数の演算対
象として、パターンマッチングを行う手段とを備える画
像処理装置が提供される。
【0016】基準画像を、検査対象物の基準物の濃淡画
像を入力して得て、この基準画像において、検査対象と
なる範囲(基準検査対象範囲)を設定する。次に、検査
対象画像を、検査対象物を実測した濃淡画像を入力して
得て、基準画像(特に、基準検査対象範囲の部分)との
間で相関係数を算出しパターンマッチングを行うが、こ
の際、以下の処理を行う点に本発明の特徴がある。
【0017】まず、基準画像において、基準検査対象範
囲における画素のうちで、与えた濃度変化条件を満足す
る画素である特徴画素を抽出する。この抽出は、例え
ば、ある画素とその近傍画素間で得られる濃度変化量
が、設定した濃度変化量の範囲(与えた濃度条件)であ
る画素を特徴画素とする処理を、基準検査対象範囲内の
全ての画素について行う。
【0018】さらに、基準検査対象範囲内における全て
の画素を、特徴画素と、特徴画素でない画素に分けて保
存しておき、さらに、この基準検査対象範囲内の特徴画
素に対応する、基準画像の画素のみを、検査対象画像と
の相関係数の演算対象としてパターンマッチングを行
う。
【0019】なお、ある注目する画素と、その近傍に存
在する画素間で得られる濃度変化量は、その注目する画
素の濃度値と近傍画素の濃度値との差で求められ、例え
ば、8近傍(注目する画素の周囲に8画素が存在する場
合)であれば、その注目画素について8つの濃度変化量
が得られることになる。そして、これらの値を演算(最
大値、平均値等)することで、注目画素に対する濃度変
化量が算出される。
【0020】基準検査対象範囲内の全ての画素につい
て、各画素に対する濃度変化量を算出し、予め設定した
濃度変化量の範囲と比較することで、与えた濃度条件を
満足する画素である特徴画素のみを抽出できる。濃度変
化量を大きく設定するような濃度条件を与えれば、例え
ば、刻印された文字等が抽出可能となり、逆に、濃度変
化量を小さく設定するような濃度条件を与えれば、例え
ば、一様な濃度分布を有する背景画像のみを抽出するこ
とも可能である。このように、与えた濃度条件を満足す
る画素のみを特徴画像として抽出し、この基準検査対象
範囲内の特徴画素に対応する、基準画像の画素のみを、
検査対象画像との相関係数の演算対象としてパターンマ
ッチングを行うことで、形状の検査のみを行うことがで
きる。
【0021】また、請求項2に係わる発明によれば、請
求項1において、さらに、特徴画素が構成する領域に対
して膨張処理を行い、この膨張された領域を構成する画
素を、新たに特徴画素とする手段を備える、ことを特徴
とする画像処理装置が提供される。
【0022】さらに、請求項3に係る発明によれば、請
求項1において、特徴画素が構成する領域を所定画素数
毎の領域に分割し、各分割領域毎に番号を付す手段と、
番号を順次呼び出し、各番号に対応する分割領域単位
で、当該分割領域単位を構成する特徴画素を、前記相関
係数の演算対象として、パターンマッチングを行う手段
とを備える画像処理装置が提供される。
【0023】抽出された特徴画素が構成する領域を所定
画素数毎に分割し、グループ化することにより、前記式
(2)におけるNが、いずれのグループにおいても一定
となるので、位置による演算精度のバラツキを抑えるこ
とが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照しつつ説明する。まず、本発明の原理について図1
0を参照して説明し、その後、具体的な実施形態につい
て説明して理解の容易化に努める。
【0025】今、検査対象物としては球形の部品を想定
している。図10(a)は、例えば、CCDカメラ等で
検査対象物を計測した濃淡画像である検査対象画像を示
し、同図(b)は、基準物の濃淡画像である基準画像の
設定範囲(基準検査対象範囲)内に存在する、球形の部
品の濃淡画像を示している。
【0026】また、同図(c)は、適当な濃度条件を与
えて特徴画像を抽出したもので、この場合、特徴画像が
集まって、同図(b)に示す基準物の境界線となってい
る。そして、検査対象物に存在する欠陥を検出するため
には、同図(d)に示すように(x、y)座標系を想定
して、検査対象画像に対して、左上隅から、基準画像を
順次相対的に移動させながら、基準画像の存在位置
(x、y)を変化させ、各(x、y)位置での相関係数
を、順次、前記式(2)により求めてパターンマッチン
グを行い、相関係数値の変化状態を参照して、検査対象
物の欠陥の有無を判断するが、その際、本発明では、特
徴画素に対応する、基準画像の画素のみを相関係数の演
算対象とするものである。これにより、従来の演算量
(同図(a)と同図(b)との相関係数を求める演算)
は大幅に少なくなる。なお、同図(c)は、理解の容易
化を図るために記載したものであって、適当な濃度条件
を与えて特徴画像を抽出したものの一例である。
【0027】さて、以下、具体的な実施形態について図
面を参照しつつ説明する。図1は、装置構成を示し、図
2は、基準画像を示している。今、検査対象物の基準物
を三角形形状を有する部品とする。
【0028】図1に示す装置は、バスに接続され、主記
憶メモリ119に格納された動作プログラムにしたがっ
て各部の動作を制御するCPU107を備えている。各
メモリ、すなわち、ワーク用フレームメモリ103、表
示メモリ111、ワークメモリ109、検査画像メモリ
114、基準画像メモリ113、基準画像メモリ11
0、結果格納メモリ116、主記憶メモリ119、およ
び、補助記憶部112が、CPU107によって制御可
能にバスに接続されている。
【0029】特徴量抽出部108は、ワークメモリ10
9に格納されたデータを処理可能にワークメモリ109
に接続されるとともに、CPU107によって制御可能
にバスに接続されている。相関演算部115は、検査画
像メモリ114、基準画像メモリ113、および、基準
画像114に格納されたデータを用いて、後に述べる演
算処理を行えるように、検査画像メモリ114、基準画
像メモリ113、および、基準画像114に接続される
とともに、CPU107によって制御可能にバスに接続
されている。
【0030】また、画像入力部101は、A/D変換部
102に接続され、さらに、このA/D変換部102
は、ワークメモリ103およびセレクタに接続されてい
る。なお、画像入力部101は、例えば、CCDカメラ
等で実現可能である。
【0031】また、表示メモリ111に接続されたセレ
クタには、D/A変換部104が接続されていて、さら
に、D/A変換部104には表示部105が接続されて
いる。なお、表示部105は、例えば、CRT、液晶デ
ィスプレイ等の表示デバイスで実現可能である。
【0032】さらに、マウス106がバスに接続されて
いて、表示部105の上部に表示された各種のメニュー
バーをクリック操作することにより、CPU107は、
クリックされたメニューバーに対応した制御動作を行
う。
【0033】さて、本装置の動作を説明する。まず、三
角形形状を有する基準物の濃淡画像202を含む基準画
像201を画像入力部101によって入力可能にセット
しておくものとする。まず、図12に示す「基準画像」
なるメニューバーをマウス106でクリック操作して、
図11のステップS1100における処理を開始する。
【0034】画像入力部101は、基準画像を入力し、
A/D変換部102は、入力された基準画像をアナログ
・ディジタル変換し、変換データはワーク用フレーム1
03に格納される。
【0035】また、図12に示す「表示」なるメニュー
バーをマウス106でクリック操作すると、CPU10
7は、ワーク用フレーム103の格納データをバスを介
して表示メモリ111に転送・格納させ、図示しない制
御線を介してセレクタを切り換えて、表示メモリ111
に格納されたデータを、D/A変換部104を介してデ
ィジタル・アナログ変換して、表示部105に表示画像
として表示させる構成となっており、これによって、入
力した基準画像を確認することが可能となる。
【0036】今、基準画像が表示部105に表示された
状態を図2に示す。図2において、201は基準画像、
202は基準物の濃淡画像である。さて、図12に示す
「範囲」なるメニューバーをマウス106でクリック操
作し、さらに、マウス106でポイントa、bをクリッ
クすると、CPU107は、この2点を対角線上の頂点
とする矩形の範囲(図2の点線で示す)を基準検査対象
範囲203とする。この基準検査対象範囲203には、
基準物の濃淡画像202の周囲のパターンの存在しない
領域が含まれている。
【0037】次に、図11のステップS1105におい
て、基準検査対象範囲203内での特徴画像の抽出を行
う。図12に示す「特徴画素」なるメニューバーをマウ
ス106でクリック操作すると、CPU107によっ
て、図示しないプルダウンメニューが表示される。そし
て、このプルダウンメニューによって、濃度変化量の検
出範囲の下限値(TH1)、上限値(TH2)、およ
び、変化量算出方法を指定する。なお、変化量算出方法
としては、各種の態様が考えられるが、ここでは、注目
する画素とその8近傍画素との濃度差の最大値を算出す
る方法を採用するものとする。
【0038】CPU107は、設定した、下限値(TH
1)、上限値(TH2)、および、変化量算出方法を特
徴量抽出部108に送る。特徴量抽出部108は、これ
らを受信して、CPU107の制御によって、ワーク用
フレームメモリ103内の、基準検査対象範囲203に
相当する画素に対して、以下のようにして特徴画素の抽
出を行い、基準検査対象範囲203に相当する画素のう
ち、特徴画素である画素のデータを「1」、特徴画素で
ある画素以外のデータを「0」とした2値画像データを
生成し、ワークメモリ109に格納する。
【0039】ここで、検査対象物の周囲における形状の
検査を行うため、下限値(TH1)と上限値(TH2)
の値がともに大きくなるように、TH1とTH2の値を
設定しておく。
【0040】さて、特徴量抽出部108による特徴画素
の抽出処理について説明する。この処理は、図3に示す
ようなオペレータを基準検査対象範囲203に存在する
各画素に作用させて行う。図3に示すように、注目画素
P0と、その8近傍の画素(P1、P2、P3、P4、
P5、P6、P7、P8)を考え、注目画素P0と各近
傍画素との濃度差を求め、そのうちの最大の濃度差がT
H1以上TH2以下のものを特徴画素とする処理を、注
目画素を順次変更して行う。
【0041】これを式で説明すると、次式(3)によっ
て濃度差の最大値を求め、次式(4)を満足するものを
特徴画素とする処理を行うことになる。 E(x,y)=max(|P0-P1 |, |P0-P2 |, …, |P0-P8 |) (3) TH1≦E(x,y)≦TH2 (4) 図2に示す基準画像に対して、この処理を行った結果を
表示部105に表示したものを図4に示す。表示画像4
01中には、202の境界部分402のみが抽出され
る。したがって、ワークエリア109には、境界部分4
02を構成する画素を特徴画素として、特徴画素に対す
るデータのみが「1」である2値画像が格納される。
【0042】そして、図11のステップS1110にお
いて、「膨張」なるメニューバーをマウス106でクリ
ック操作する。すると、CPU107の制御動作によっ
て、特徴量抽出部108は、ワークエリア109の画像
データに対して、公知の処理である膨張処理を行う。こ
の膨張処理によってデータが「1」となる全ての画素が
特徴画素となる。なお、この膨張処理は、必須の処理で
はないが、これにより、後に説明する相関演算対象画素
を検査対象物の画像の境界線周辺に限定することができ
るため、背景が基準画像と異なってもその影響を最小限
に押さえながら、物体の検査を正確に行うことが可能に
なる。
【0043】なお、図4に示す特徴画素からなる画像に
対して、膨張処理を行った結果を表示画像501として
表示部105に表示したものを図5の502に示す。図
5を参照すれば分かるように境界線が太くなり、特徴画
素の数が増加していることが分かる。
【0044】そして、CPU107は、基準画像201
における基準物の濃淡画像202と膨張処理結果の画像
502とを補助記憶部112に保存する。次に、ステッ
プS1115における処理を行う。図12に示す「検査
実行」なるメニューバーをマウス106でクリック操作
すると、CPU107は、補助記憶部112に保存して
おいた、画像202、画像502を夫々、基準メモリ1
13、基準メモリ110に格納する。
【0045】さらに、図12に示す「検査対象画像」な
るメニューバーをマウス106でクリック操作すると、
CPU107は、画像入力部101を介して取り込まれ
A/D変換部102を介してアナログ・ディジタル変換
しワーク用フレームメモリ103に格納された、検査対
象物を実測した濃淡画像である検査対象画像のデータを
検査画像メモリ114に格納する。
【0046】そして、相関演算部115は、検査画像メ
モリ114に格納されている検査対象画像に対して、基
準メモリ113に格納されている画像202を相対的に
移動させながら、両画像の相関係数を演算してパターン
マッチングを行うが、この際、基準画像メモリ110に
格納されている画像データ502を参照して行う。
【0047】すなわち、検査対象画像と画像202の両
画像の相関係数を演算してパターンマッチングを行う際
には、特徴画素に対応する、基準画像内(基準検査対象
範囲内)の画素のみを、相関係数の演算対象として、パ
ターンマッチングを行う。具体的には、相関演算部11
5は、基準画像メモリ110に格納されている特徴画素
(値が「1」の画素)に対応する、基準画像メモリ11
3の画素のみを対象として、相関係数の演算を行う点
に、本発明の特徴がある。今、基準画像メモリ110に
は、画像202の境界線を内外に膨張処理した画像50
2が格納されているので、基準検査対象範囲203内で
実際に演算対象となるのは画像502を構成する画素の
みとなる。
【0048】そして、相関演算部115による演算結果
は、CPU107によって、結果格納メモリ116に格
納される。なお、結果格納メモリ116に格納された演
算結果を表示部105に表示可能に構成しておけば、本
装置の利用者の利便性が向上する。
【0049】このように本実施形態によれば、基準検査
対象範囲の画素のうち、与えた濃度条件を満足する画素
を特徴画素として抽出し、抽出した特徴画素に対応す
る、基準検査対象範囲の画素のみを、相関係数の演算対
象として、パターンマッチングを行うので、相関係数の
演算対象画素数を低減することができ、演算時間を大幅
に短縮することが可能になるという効果が得られる。
【0050】さて、上述した実施形態においては、相関
係数を求める演算対象を画像202の境界部分のみとし
たが、画像202全体(図2中、三角形内の黒色部分)
を演算対象とする場合を考える。画像202の境界周辺
部は、画像502として抽出済みなので、さらに、画像
202の内部領域を抽出し、この内部領域と前記境界周
辺部との論理和(OR)を取ることによって、画像20
2全体を構成する各特徴画素を演算対象とする。
【0051】画像202の内部は濃度変化量が小さいの
で、マウス106で「特徴画素」なるメニューバーをク
リック操作し、前述のようにプルダウンメニューを使用
して、前記TH1とTH2の値がともに小さくなるよう
に、TH1、TH2の値を設定しておく。しかしなが
ら、これでは、基準検査対象範囲203内の、画像20
2の周囲部分も同様に濃度変化量が小さいため区別が付
かなくなる。このような場合には、濃度自体の基準値を
設け、濃度変化量とのAND条件により202の内部領
域を抽出する。そして、これと、画像502の論理和
(OR)を取ることによって、図6に示す特徴画像60
2を生成する。したがって、特徴画像602は、画像5
02に対して、その周辺部が膨張した画像となってい
る。
【0052】このような処理を行うには、「濃度基準
値」なるメニューバをマウス106でクリックして、図
示しないプルダウンメニューで濃度自体の基準値を設定
する。CPU107の制御動作により特徴量抽出部10
8は、先に補助記憶部112に格納している画像202
を獲得して、ワークメモリ109に格納し、先に示した
ように特徴画像を抽出し、さらに抽出した特徴画像のう
ち、設定された基準値以上のものを、新たに特徴画像と
してこの結果を、ワークメモリ109に格納する。そし
て、「OR処理」なるメニューバをマウス106でクリ
ックすると、CPU107の制御動作により特徴量抽出
部108は、先に補助記憶部112に格納している画像
502を獲得して、これとワークメモリ109に格納し
ている画像データとの論理和(OR)を取り画像602
を得て、新たにワークメモリ109に格納する。
【0053】さて、より微小な欠陥を検出する場合、先
に述べたように203を小領域に分割する方法が考えら
れる。203を、例えば、図7の点線で示すように領域
分割すると、各分割領域に含まれる、画像202の構成
画素数が不均一になり、正確な検査ができないことにな
る。
【0054】そこで、本発明の他の実施形態では、前述
のような「濃度基準値」、「OR処理」のクリック操作
によって、相関係数演算対象である特徴画素は、画像6
02を構成する各画素になるので、この特徴画素を、所
定の画素数を有する複数の領域に分割(グループ化)し
て、各分割領域単位で、パターンマッチングを行う処理
を説明する。
【0055】まず、「分割」なるメニューバーをマウス
106でクリック操作し、図示しないプルダウンメニュ
ーを用いて1つの分割領域が有する画素数を設定する。
この画素数を、例えば、「200」とする。
【0056】まず、図13のステップS1300におい
ては、CPU107の制御動作により、特徴量抽出部1
08は、ワークメモリ109に記憶されている画像60
2のデータにおける特徴画素の総数を求める。総数は、
例えば、「1000」であるとする。特徴量抽出部10
8は、順次、所定方向にワークメモリ109を走査し
て、順次、200画素毎を1つの分割領域(グループ)
とするグループ化を行う(ステップS1310)。この
際、特徴量抽出部108は、各特徴画素と、各特徴画素
が属するグループの番号(グループ番号)とを対応付け
てワークメモリ109に一時記憶する。なお、番号は、
特徴量抽出部108が、1番から順番に増加するように
しておけばよい。これにより、各特徴画素が属するグル
ープの番号が索出可能となる。
【0057】図8には、602の領域(画素数「100
0個」)を200画素ずつ5つのグループ802に分割
した例である。各グループに属する画素数は一定であ
る。なお、ステップS1300でカウントした画素数
を、設定した画素数でグループ化していくとき、必ずし
も、各グループに属する画素数が一定にならない場合に
は、最終グループに属する画素数を調整して、他のグル
ープに属する画素数を一定としておけばよい。
【0058】このようにして、特徴量抽出部108によ
って、602を構成する各特徴画素にはグループ番号が
付され、特徴画素とグループ番号とが対応して、ワーク
メモリ109の空きエリアに一時格納される。そして、
CPU107は、グループ化された画像802を、画像
202とともに補助記憶部112に保存する。この際、
CPU107は、ワークメモリ109に一時記憶してい
る、各特徴画素と、各特徴画素が属するグループの番号
(グループ番号)とを対応付けたもを順次、索出して、
補助記憶部112に保存する。
【0059】次に、ステップS1315の処理を行う。
まず、「分割検査実行」なるメニューバーをマウス10
6でクリック操作すると、CPU107は、補助記憶部
112に保存しておいた、画像202、画像802を夫
々、基準メモリ113、基準メモリ110に格納する。
【0060】さらに、図12に示す「検査対象画像」な
るメニューバーをマウス106でクリック操作すると、
CPU107は、画像入力部101を介して取り込まれ
A/D変換部102を介してアナログ・ディジタル変換
しワーク用フレームメモリ103に格納された、検査対
象物を実測した濃淡画像である検査対象画像のデータを
検査画像メモリ114に格納する。
【0061】そして、CPU107は、最初のグループ
番号を相関演算部115に指示する。相関演算部115
は、補助記憶部112の記憶内容を参照して、基準メモ
リ110に格納されている特徴画素で、指示されたグル
ープ番号が付されている画素に対応する、基準画像メモ
リ113の画素を、検査画像メモリ114に格納されて
いる検査対象画像との相関演算を行う対象画素として相
関演算を行いパターンマッチングを行う。最初のグルー
プ番号が付されている全ての画素について、基準画像メ
モリ113の対応する画素を、検査画像メモリ114に
格納されている検査対象画像との相関演算を行う対象画
素として相関演算を行ってパターンマッチングを行った
後に、CPU107は、次のグループ番号を相関演算部
115に指示し、このグループ番号が付されている全て
の画素について同様の処理を行い、このような処理を、
最後のグループ番号まで行う。 なお、検査対象画像に
対して、基準メモリ113に格納されている画像202
を相対的に移動させながら、両画像の相関係数を演算し
てパターンマッチングを行う点は、前述した実施形態と
同様である。
【0062】そして、演算結果は、結果格納メモリ11
6に順次格納される。なお、結果格納メモリ116に格
納された演算結果を表示部105に表示可能に構成して
おけば、本装置の利用者の利便性が向上する。
【0063】この実施形態によれば、特徴画素が構成す
る領域を所定画素数毎の領域に分割し、各分割領域毎に
番号を付し、番号を順次呼び出し、各番号に対応する分
割領域単位で、当該分割領域単位を構成する特徴画素
を、相関係数の演算対象として、パターンマッチングを
行うので、検査対象領域のみを一様に分割してパターン
マツチングを行うことが可能となり、微細な欠陥も検出
可能となるという効果が得られる。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係わる
発明によれば、基準画像を構成する画素のうち、与えた
濃度条件を満足する画素を特徴画素として抽出し、抽出
した特徴画素に対応する、基準画像内の画素のみを、相
関係数の演算対象として、パターンマッチングを行うの
で、相関係数の演算対象画素数を低減することができ、
演算時間を大幅に短縮することが可能になるという効果
が得られる。
【0065】また、請求項2に係わる発明によれば、請
求項1の効果に加えて、特徴画素が構成する領域に対し
て膨張処理を行い、この膨張された領域を構成する画素
を、新たに特徴画素とするので、演算対象画素を検査対
象物の画像の境界線周辺に限定することができるため、
背景が基準画像と異なってもその影響を最小限に押さえ
ながら、物体の検査を正確に行うことが可能になる。
【0066】さらに、請求項3に係る発明によれば、請
求項1の効果に加えて、特徴画素が構成する領域を所定
画素数毎の領域に分割し、各分割領域毎に番号を付し、
番号を順次呼び出し、各番号に対応する分割領域単位
で、当該分割領域単位を構成する特徴画素を、相関係数
の演算対象として、パターンマッチングを行うので、検
査対象領域のみを一様に分割してパターンマツチングを
行うことが可能となり、微細な欠陥も検出可能となると
いう効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態にかかる装置の構成図であ
る。
【図2】基準画像の説明図である。
【図3】濃度変化量を算出するためのオペレータの説明
図である。
【図4】特徴画像抽出後の画像の説明図である。
【図5】膨張処理後の画像の説明図である。
【図6】本発明の他の実施形態の説明図である。
【図7】本発明の他の実施形態の説明図である。
【図8】本発明の他の実施形態の説明図である。
【図9】従来技術の説明図である。
【図10】本発明の原理の説明図である。
【図11】装置の動作を説明するフローチャートであ
る。
【図12】表示部に設けられたメニューバーの説明図で
ある。
【図13】装置の他の動作態様を説明するフローチャー
トである。
【符号の説明】
101 画像入力部 102 A/D変換部 103 ワーク用フレームメモリ 104 D/A変換部 105 表示部 106 マウス 107 CPU 108 特徴量抽出部 109 ワークメモリ 110 基準画像メモリ 111 表示メモリ 112 補助記憶部 113 基準画像メモリ 114 検査画像メモリ 115 相関演算部 116 結果格納メモリ 119 主記憶メモリ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査対象物を実測した濃淡画像である検
    査対象画像に対して、この検査対象物の基準物の濃淡画
    像である基準画像を相対的に移動させながら、両画像の
    相関係数を演算してパターンマッチングを行う画像処理
    装置において、 前記基準画像を構成する画素のうち、与えた濃度条件を
    満足する画素を特徴画素として抽出する手段と、 抽出した特徴画素に対応する、基準画像内の画素のみ
    を、前記相関係数の演算対象として、パターンマッチン
    グを行う手段とを備える画像処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、さらに、 特徴画素が構成する領域に対して膨張処理を行い、この
    膨張された領域を構成する画素を、新たに特徴画素とす
    る手段を備える、ことを特徴とする画像処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 特徴画素が構成する領域を所定画素数毎の領域に分割
    し、各分割領域毎に番号を付す手段と、 番号を順次呼び出し、各番号に対応する分割領域単位
    で、当該分割領域単位を構成する特徴画素を、前記相関
    係数の演算対象として、パターンマッチングを行う手段
    とを備える画像処理装置。
JP9156603A 1997-06-13 1997-06-13 画像処理装置 Pending JPH113425A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008232787A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Shimadzu Corp 欠陥検査装置
JP2011112398A (ja) * 2009-11-24 2011-06-09 N Tech:Kk 画像形成状態検査方法、画像形成状態検査装置及び画像形成状態検査用プログラム

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JP2008232787A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Shimadzu Corp 欠陥検査装置
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