JPH04317185A - 図形の閉領域抽出方法 - Google Patents

図形の閉領域抽出方法

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JPH04317185A
JPH04317185A JP3112442A JP11244291A JPH04317185A JP H04317185 A JPH04317185 A JP H04317185A JP 3112442 A JP3112442 A JP 3112442A JP 11244291 A JP11244291 A JP 11244291A JP H04317185 A JPH04317185 A JP H04317185A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は線図形の中から一部の
閉領域を抽出する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】印刷製版工程においては,図形内の一部
の閉領域を特定の色で塗りつぶしたり,写真の画像をそ
の閉領域内に貼り込んだりする画像処理が行なわれる。 この画像処理を行なうためには,まず図形内の閉領域を
抽出する必要がある。
【0003】図15の(1)は,2つの閉ループF1,
F2を有する図形を示す図である。2つの長方形の閉ル
ープF1,F2は,閉ループを形成する複数のベクトル
でそれぞれ構成されている。図15(1)において,例
えば,2つの閉ループF1,F2で形成される閉領域R
aを抽出し,この閉領域Raに対して画像処理が行なわ
れる。
【0004】図形内の閉領域を抽出する方法としては,
例えば特公昭61−25190号公報に記載されたもの
がある。この公報において,図形内の閉領域を抽出する
方法は「AND図形」を求める方法として記載されてい
る。この方法によれば,ベクトルを追跡していく際に,
2つの閉ループF1,F2の交点に至った場合には,そ
の交点から出ている複数のベクトルについて,それぞれ
微小ベクトル(微小な単位長さのベクトル)を求める。 そして,微小ベクトルが相手方の閉ループ内に存在する
ベクトルを,追跡すべきベクトルとして選択する。こう
してベクトルを順次追跡していくことによって閉領域R
aの輪郭を構成するベクトルを求めていく。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の方法で
は,複数のベクトルが予め2つの閉ループに分類されて
いなければならない。従って,図形を表わす複数のベク
トルが複数の閉ループに分類されていない場合には,こ
の方法によって閉領域を抽出できないという問題がある
【0006】また,図形が多数の閉ループを有している
ときには,上述の方法による処理が煩雑になる場合があ
る。図15(2)は,3つの閉ループF1,F2,F3
を有する図形を示す図である。例えば閉領域Rbを抽出
するには,オペレータが3つの閉ループF1,F2,F
3と閉領域Rbとの関係を指定しなければならない。閉
ループの数がさらに多数になった場合には,各閉ループ
と抽出したい閉領域との関係を指定するのにかなりの手
間を要するという問題がある。
【0007】この発明は,従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり,オペレータが複
雑な指定を行なう必要がなく,一部の閉領域を容易に抽
出することのできる閉領域抽出方法を提供することを目
的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め,この発明による閉領域抽出方法は,(1)画像内の
線図形を構成する複数のベクトルを表わすベクトルデー
タを準備する工程と,(2)前記線図形内の一部の閉領
域の内部の点を指定点として指定する工程と,(3)前
記指定点の位置と前記ベクトルデータとに基づいて,前
記複数のベクトルの中から,前記指定点との距離が最も
近いベクトルを追跡開始ベクトルとして選択する工程と
,(4)前記追跡開始ベクトルの進行方向に前記指定点
を見たときに,前記指定点が前記追跡開始ベクトルの左
側にある場合を第1の追跡条件と判断し,前記指定点が
前記追跡開始ベクトルの右側にある場合を第2の追跡条
件と判断する工程と,(5)前記第1の追跡条件の場合
には,前記追跡開始ベクトルから直列に接続していく複
数のベクトルを反時計方向に順次追跡しつつ,閉ループ
を構成する複数のベクトルを選択することによって,前
記指定点を含む最小の閉領域を取り囲む閉ループベクト
ル群を抽出し,前記第2の追跡条件の場合には,前記追
跡開始ベクトルから直列に接続していく複数のベクトル
を時計方向に順次追跡しつつ,閉ループを構成する複数
のベクトルを選択することによって,前記指定点を含む
最小の閉領域を取り囲む閉ループベクトル群を抽出する
工程と,を備える。
【0009】
【作用】一部の閉領域内に指定した指定点と,指定点に
最も距離の近いベクトルとの関係に基づいてベクトルの
追跡条件を判定し,その追跡条件に応じて,ベクトルを
時計回りまたは反時計回りに追跡するので,指定点を指
定するだけで,閉領域を取り囲む閉ループベクトル群を
抽出することができる。
【0010】
【実施例】A.装置の構成 図1は,本発明の一実施例を適用して閉領域の抽出処理
を行なう画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【0011】この画像処理装置100は,CPU10と
,処理プログラムを記憶するROM20と,RAM30
と,画像データ入力ポート40と,図形画像入力ポート
50と,端末制御部60と,外部記憶装置制御部70と
を備えている。これらの構成要素10〜70は,バスラ
イン80によって互いに接続されている。画像データ入
力ポート40は通信回線を介して外部の画像処理装置と
接続されており,写真などの絵柄画像を表わす多値画像
データを外部の画像処理装置から受け取るポートである
。図形画像入力ポート50はイメージスキャナ110と
接続されており,白黒の線図形画像を表わす図形画像デ
ータをイメージスキャナ110から受け取るポートであ
る。また,端末制御部60と外部記憶装置制御部70と
は,入出力端末120と外部記憶装置130とにそれぞ
れ接続されている。入出力端末120はキーボードやマ
ウスなどの入力装置とCRTなどの表示装置とを有して
おり,オペレータが表示装置を見ながら入力装置によっ
て各種のデータ入力や指定を行なう。
【0012】CPU10は,ベクトルデータ変換手段1
1と,閉領域抽出手段12と,画像貼込手段13とを有
している。ベクトルデータ変換手段11は,図形画像の
ラスタデータに基づいて図形の細線化を行なうことによ
り1画素の幅の図形をもとめ,この図形を表わすベクト
ルデータを生成する。閉領域抽出手段12は,このベク
トルデータに基づいて後述する閉領域の抽出処理を行な
う。また,画像貼込手段13は,抽出された閉領域内に
絵柄画像を貼込む処理を行なう。なお,ベクトルデータ
変換手段11と,閉領域抽出手段12と,画像貼込手段
13とは,ROM20に記憶された処理プログラムに従
ってCPU10がデータ処理を行なうことによって実現
される手段である。
【0013】B.処理の概略手順 図2は,この画像処理装置を用いて行なう処理の概略手
順を示すフローチャートである。まず,ステップS1で
は,原画像として描かれた図形をイメージスキャナ11
0で光電走査することにより,図形画像を表わすラスタ
データを読み取る。図3は,図形FFの原画像を示す図
である。この図形FFは,黒色の2つの長方形が一部で
重なった形状を有している。また,図形の各辺(線分)
は,数画素から数十画素の幅を有している。
【0014】ステップS2では,図形FFを表わすラス
タデータに基づき,ベクトルデータ変換手段11が図形
FFの細線化を行なうことにより1画素の幅の図形をも
とめ,この図形を表わすベクトルデータを生成する。求
められたベクトルデータは,RAM30に記憶される。 図4は,細線化により得られた図形FFt(以下,「細
線化図形」と呼ぶ。)を示す図である。この細線化図形
FFtは,複数のベクトルV1〜V20で構成される閉
ループ図形である。
【0015】図4に示すように,細線化図形FFtはベ
クトルV1〜V10で構成される長方形と,ベクトルV
11〜V20で構成される長方形とを有している。図5
は,細線化図形FFtのベクトルを表わすベクトルデー
タの構造を示す概念図である。各ベクトルV1〜Vn(
この実施例ではn=20)に対するベクトルデータは次
のデータを有している。 (1)始点座標(Xsi,Ysi) (2)終点座標(Xei,Yei) (3)始点接続データ a.始点接続ベクトル数Csi:このベクトルの始点に
接続している他のベクトルの数。他のベクトルは,始点
,終点のどちらで接続していてもよい。図6のベクトル
Viに対しては始点接続ベクトル数Csi=2である。 b.始点接続ベクトルのアドレスAi:始点接続ベクト
ルのベクトルデータのRAM30におけるアドレス。 (4)終点接続データ a.終点接続ベクトル数Cei:このベクトルの終点に
接続している他のベクトルの数。他のベクトルは,始点
,終点のどちらで接続していてもよい。図6のベクトル
Viに対しては終点接続ベクトル数Cei=3である。 b.終点接続ベクトルのアドレスBi:各終点接続ベク
トルのベクトルデータのRAM30におけるアドレス。 (5)追跡済フラグTFi:このベクトルが既に追跡さ
れているか否かを示すフラグ。始めはすべてのベクトル
の追跡済フラグが0(未追跡を表わす)にイニシャライ
ズされている。
【0016】ベクトルデータ変換手段11は,細線化図
形FFtの各ベクトルV1〜V20を求めるとともに,
各ベクトルの接続関係を調べることによって図5に示す
ベクトルデータを生成する。図2に戻り,ステップS2
においてベクトルデータを作成した後,ステップS3〜
S6において閉領域の抽出処理を行なう。ここでは,図
4の4つのベクトルV3,V4,V18,V19で取り
囲まれる閉領域CRを抽出する場合について説明する。
【0017】ステップS3では,オペレータが閉領域C
Rの内部にある一点CP(以下,「指定点」と呼ぶ。)
の位置を指定する。この指定は,入出力端末120のデ
ィスプレイ装置に表示された細線化図形FFtを見なが
ら,ディジタイザやマウスなどのポインティングデバイ
スを用いてディスプレイ装置のカーソルを移動させ,指
定点CPの位置で入力操作(マウスのクリックなど)を
行なうことによって実行される。指定された点CPの座
標値(Xc,Yc)はRAM30に記憶される。
【0018】ステップS4とS5では,指定点CPの位
置に基づいて,閉領域抽出手段12(図1参照)がベク
トルを次々に追跡していくことによって閉ループを構成
するベクトル(閉領域CRを取り囲むベクトル)を選択
する。これらのステップS4,S5の詳細な手順につい
ては更に後述するが,ここでは図7を参照してその概要
を説明する。
【0019】ステップS4では,細線化図形FFtの各
ベクトルについて指定点CPとの距離dを算出し,距離
dが最小となるベクトルを追跡開始ベクトルVf0とし
て選択する(図7(1)参照)。
【0020】追跡開始ベクトルVf0と指定点CPとの
関係は,図7(1)に示すように,次の2つに分類され
る: (a)追跡開始ベクトルVf0の進行方向に指定点CP
を見たときに,指定点CPが追跡開始ベクトルVf0の
左側に見える場合(図中のベクトルVf0aの場合)。 (b)追跡開始ベクトルVf0の進行方向に指定点CP
を見たときに,指定点CPが追跡開始ベクトルVf0の
右側に見える場合(図中のベクトルVf0bの場合)。
【0021】ステップS5では,上記(a),(b)の
2つの場合のそれぞれについて,次のようにしてベクト
ルを追跡する:上記(a)の場合には,図7(2a)に
示すように,反時計回りにベクトルを追跡する。すなわ
ち,追跡開始ベクトルVf0aの終点EPに接続する複
数のベクトルの中で,終点EPを中心として追跡開始ベ
クトルVf0aから時計回りに各ベクトル角度θ1,θ
2…を計り,最小の角度θ1を有するベクトルVf1を
次の追跡ベクトルとする。
【0022】上記(b)の場合には,図7(2b)に示
すように,時計回りにベクトルを追跡する。すなわち,
追跡開始ベクトルVf0bの終点EPに接続する複数の
ベクトルの中で,終点EPを中心として追跡開始ベクト
ルVf0bから反時計回りに各ベクトルの度θ1,θ2
…を計り,最小の角度θ1を有するベクトルVf1を次
の追跡ベクトルとする。
【0023】図4の例では,閉領域CRを取り囲むベク
トルV3,V4,V18,V19を追跡ベクトルとして
選択していく。例えば,ステップS4においてベクトル
V19が追跡開始ベクトルとして選択され,ベクトルV
3,V4,V18が追跡ベクトルとして順次選択される
。そして,これらの追跡ベクトルが閉ループを形成する
と追跡処理を終了する。抽出すべき閉領域が他にある場
合には,オペレータが抽出処理の継続を指定することに
よってステップS6からステップS3に戻り,上述の処
理を繰り返す。
【0024】以上のようにして閉領域CRの抽出処理が
終了すると,ステップS7において閉領域CRの内部に
所定の画像が貼込まれる。貼込まれる画像は,多値画像
データで表わされる絵柄画像である。画像の貼込み処理
は,閉領域CRの内部(すなわち,ベクトルV3,V4
,V18,V19で囲まれた領域)の原画像データを,
多値画像データで置き換えることによって行なわれる。 この画像貼込処理は,画像貼込手段13によって行なわ
れる。
【0025】C.ベクトル追跡の詳細手順以下では,ス
テップS4,S5におけるベクトルの追跡手順を詳細に
説明する。図8と図9は,ステップS4の手順を詳細に
示すフローチャートである。
【0026】ステップS401〜S404では,まず,
細線化図形FFtのすべてのベクトルについて指定点C
Pとの距離を算出する。図10は,これらのステップに
おける処理を説明する図である。各ベクトルと指定点C
Pとの距離を求めるためには,まずステップS401で
指定点CPから各ベクトルに対して垂線をおろし,垂線
と各ベクトルとの交点を求める。図10は,指定点CP
からベクトルViにおろした垂線NLを示している。
【0027】ベクトルViの始点Psと終点Peとの座
標をそれぞれ(Xsi,Ysi),(Xei,Yei)
とすると,ベクトルViは次の一次式で表わされる。
【数1】 また,指定点CPの座標を(Xc,Yc)とすると,垂
線NLは次の一次式で表わされる。
【数2】 数式1と数式2から,垂線NLとベクトルViとの交点
IPの座標(Xp,Yp)は,それぞれ次の数式3と数
式4で表わされる。
【数3】
【数4】
【0028】次に,ステップS402において交点IP
がベクトルViの上にあるか否かを調べる。交点IPの
座標(Xp,Yp)が次の条件を満足すれば,交点IP
はベクトルViの上に存在する。 Xsi≦Xp≦Xei,かつ,Ysi≦Yp≦Yei上
記の条件を満たさない場合には,交点IPはベクトルV
iの上に存在しない。
【0029】交点IPがベクトルViの上に存在する場
合には,ステップS403において,指定点CPと交点
IPとの間の距離を,指定点CPとベクトルViとの距
離dと定義する(図10の(a−1),(b−1)の場
合)。この場合,そのベクトルViの状態フラグFiを
1に設定する。
【0030】一方,交点IPがベクトルViの上に存在
しない場合には,ステップS404において,ベクトル
Viの始点Psおよび終点Peと指定点CPとの距離を
比較し,その小さい方を指定点CPとベクトルViとの
距離dとする(図10の(a−2),(b−2)の場合
)。この場合,そのベクトルViの状態フラグFiを0
に設定する。
【0031】以上のようにして細線化図形のすべてのベ
クトルについて距離dと状態フラグFiとを求める。次
に,ステップS405において,距離dが最小となるベ
クトルが複数あるか否かを調べる。距離dが最小となる
ベクトルを,ここでは「候補ベクトル」と呼ぶ。候補ベ
クトルが1つしか存在しない場合には,ステップS40
6において,そのベクトルを追跡開始ベクトルとして選
択する。
【0032】候補ベクトルが複数ある場合には,ステッ
プS407において,さらにその複数の候補ベクトルの
中に状態フラグFiの値が1である候補ベクトルが存在
するか否かを調べる。状態フラグFi=1である候補ベ
クトルが存在する場合には,ステップS408において
,そのうちの任意の1つを追跡開始ベクトルとして選択
する。これは,図10の(a−1)または(b−1)の
場合に相当する。追跡開始ベクトルとして選択されたベ
クトルの追跡済フラグは1(追跡済みであることを表わ
す)に設定される。
【0033】一方,状態フラグFi=1である候補ベク
トルが存在しない場合には,ステップS409において
,状態フラグFi=0の候補ベクトルのうちで互いに連
結している2つのベクトルVi,Vkの一組を追跡開始
ベクトルセットとして選択する。これは,図10の(a
−2)または(b−2)の場合に相当する。追跡開始ベ
クトルセットVi,Vkを選択することは,ベクトルV
iを追跡開始ベクトルとして選択し,さらに,ベクトル
Vkをその次の追跡ベクトルとして選択することと同じ
である。なお,2つの候補ベクトルVi,Vkが連結し
ているか否かは,図5に示すベクトルデータを参照する
ことによって判断できる。追跡開始ベクトルセットとし
て選択された2つのベクトルVi,Vkの追跡済フラグ
はどちらも1(追跡済みであることを表わす)に設定さ
れる。
【0034】図9のステップS410〜S416では,
指定点CPと選択された追跡開始ベクトルVf0との関
係に基づいて,追跡条件を表わすフラグ(以下,「追跡
方向フラグ」と呼ぶ。)DFが以下のようにして設定さ
れる。
【0035】ステップS410では,追跡開始ベクトル
Vf0の状態フラグFiが1か否かが調べられる。図1
0の(a−1),(b−1)の場合には状態フラグFi
が1であり,図10の(a−2),(b−2)の場合に
は状態フラグFiが0である。
【0036】まず,図10の(a−1),(b−1)の
場合について説明する。Fi=1であれば,ステップS
411において,ベクトルの外積Vf0×Vcの大きさ
|Vf0×Vc|の符号が調べられる。ここで,ベクト
ルVcは追跡開始ベクトルVf0の始点から指定点CP
に向かうベクトル(以下,「指定点ベクトル」と呼ぶ。 )である。図11の(a−1),(b−1),(a−2
),(b−2)は,それぞれ図10の(a−1),(b
−1),(a−2),(b−2)の場合における追跡開
始ベクトルVf0と指定点ベクトルVcとの関係を示す
図である。
【0037】外積の大きさ|Vf0×Vc|は,次の数
式5で与えられる。
【数5】 ここで,ベクトル間の角度θcは,追跡開始ベクトルV
f0の始点Psを中心として,反時計回りに追跡開始ベ
クトルVf0から指定点ベクトルVcまで計った角度で
ある。図12の(a)は,参考の為に正弦波曲線を示し
ている。図11(a−1)の例のように角度θcがπ以
下であれば|Vf0×Vc|≧0であり,追跡方向フラ
グDFは1に設定される(ステップS413)。一方,
図11(b−1)の例のように角度θcがπより大であ
れば|Vf0×Vc|<0であり,追跡方向フラグDF
は0に設定される(ステップS414)。言い換えれば
,追跡開始ベクトルVf0の進行方向に見たときに指定
点CPが左側に見える場合には追跡方向フラグDFが1
に設定され(ステップS413),指定点CPが右側に
見える場合には追跡方向フラグDFが0に設定される(
ステップS414)。
【0038】図10の(a−2),(b−2)の場合に
は,追跡開始ベクトルとして2つのベクトルで構成され
るベクトルセットVf01,Vf02が選択されている
ので,状態フラグFiが0である。この時には,ステッ
プS410からステップS412に移行する。
【0039】ステップS412では,追跡開始ベクトル
セットの合成ベクトルVf00(以下,「追跡開始合成
ベクトル」と呼ぶ。)と,指定点ベクトルVcとの外積
の大きさ|Vf00×Vc|の符号が上記と同様にして
調べられる。図11の(a−2),(b−2)に示すよ
うに,指定点ベクトルVcは追跡開始合成ベクトルVf
00の始点から指定点CPに向かうベクトルである。
【0040】ステップS412において|Vf00×V
c|≧0であればステップS415において追跡方向フ
ラグDFが1に設定され,|Vf00×Vc|<0であ
ればステップS416において追跡方向フラグDFが0
に設定される。
【0041】なお,状態フラグFiが0であり,追跡開
始ベクトルセットとが選択されている場合に,追跡開始
合成ベクトルVf00を用いて追跡方向フラグDFの設
定を行なったのは,図11の(c)のような場合にも,
追跡方向フラグDFを正しく設定できるようするためで
ある。図11の(c)の場合に,追跡開始ベクトルセッ
トの第1のベクトルVf01を用い,その始点から指定
点CPまでのベクトルVc1とベクトルVf01との外
積|Vf01×Vc1|の符号を調べると追跡方向フラ
グDFは1となる。一方,第2のベクトルVf02を用
い,その始点から指定点CPまでのベクトルVc2とベ
クトルVf02との外積|Vf02×Vc2|の符号を
調べると追跡方向フラグDFは0となる。すなわち,追
跡開始ベクトルセットの2つのベクトルのうちどちらを
用いて追跡方向フラグDFを設定するかによって,追跡
方向フラグDFの値が異なってしまう場合がある。そこ
で,追跡開始ベクトルセットが選択されている場合には
,追跡開始合成ベクトルVf00を用いて上述のように
追跡方向フラグDFを設定すれば,追跡開始ベクトルセ
ットの正味の方向からみた指定点CPの位置を正しく判
断できる。
【0042】なお,追跡開始合成ベクトルVf00を1
つの追跡開始ベクトルとみれば,上記の処理は,この追
跡開始合成ベクトルVf00の進行方向に見たときに指
定点CPがそのどちら側にあるかを判断していることを
意味する。
【0043】以上のようにして,追跡開始ベクトルVf
0(またはVf00)が選択されるとともに,追跡開始
ベクトルの進行方向に指定点CPを見たときに,指定点
CPが追跡開始ベクトルの左側に見える場合には追跡方
向フラグDFが1に設定され,指定点CPが追跡開始ベ
クトルの右側に見える場合には追跡方向フラグDFが0
に設定される。この追跡方向フラグDFは,この発明に
おける追跡条件を表わすためのフラグである。
【0044】図13は,図2のステップS5における閉
ループベクトルの追跡処理の詳細手順を示すフローチャ
ートである。ステップS501では,現在の追跡ベクト
ルの終点に複数のベクトルが接続しているか否かを調べ
る。これは,図5に示す終点接続データを参照すること
によって調べる。なお,処理当初における「現在の追跡
ベクトル」は,追跡開始ベクトルVf0である。
【0045】現在の追跡ベクトルの終点に1つのベクト
ルのみが接続している場合には,後述するステップS5
05に移行し,その接続しているベクトルが次の追跡ベ
クトルとして選択される。
【0046】一方,現在の追跡ベクトルの終点に複数の
ベクトルが接続している場合には,ステップS502に
おいて追跡方向フラグDFの値が1か0かが判断される
。DF=1の場合には,ステップS503において,反
時計回りにベクトルを追跡して次の追跡ベクトルの候補
を選択する。すなわち,図14の(a)に示すように,
現在の追跡ベクトルViの終点EPiに接続する複数の
ベクトルVm1〜Vm3の中で,終点EPiを中心とし
て追跡ベクトルViから時計回りに各ベクトル角度θm
1,θm2,θm3を計り,最小の角度θm1を有する
ベクトルVm1を次の追跡ベクトルの候補(以下,単に
「追跡候補ベクトル」と呼ぶ。)とする。
【0047】追跡方向フラグDF=0の場合には,ステ
ップS504において,時計回りにベクトルを追跡して
追跡候補ベクトルを選択する。すなわち,図14の(b
)に示すように,現在の追跡ベクトルViの終点EPi
に接続する複数のベクトルの中で,終点EPiを中心と
して追跡ベクトルViから反時計回りに各ベクトル角度
θm1,θm2,θm3を計り,最小の角度θm1を有
するベクトルVm1を次の追跡候補ベクトルとする。
【0048】ここで,上記の追跡候補ベクトルの選択処
理で用いる演算処理について,図14(b)の場合を例
に取って説明する。まず,内積の公式に従って,現在の
追跡ベクトルViの逆ベクトル(−Vi)と,追跡ベク
トルViの終点EPiに接続する各ベクトルVm1,V
m2,Vm3とのなす角度のコサイン(=cosθmk
)を次の数式6により求める。
【数6】 ここで,k=1〜3である。また,現在の追跡ベクトル
Viの始点SPiの座標を(Xsi,Ysi),終点E
Piの座標を(Xei,Yei),追跡ベクトルViに
接続するベクトルの終点EPmの座標を(Xemk,Y
emk)としている。また,角度θmkは,追跡ベクト
ルViの終点を中心として,追跡ベクトルの逆ベクトル
(−Vi)から注目しているベクトルVmkまで反時計
回りに計った角度である。
【0049】ただし,図14(b)のベクトルVm3の
ように,その終点が現在の追跡ベクトルViの終点EP
iになっているベクトルについては,次の数式7によっ
て,その逆ベクトル(−Vm3)と追跡ベクトルの逆ベ
クトル(−Vi)とのなす角度を求める。
【数7】
【0050】cosθmkの値から角度θmkの値を求
める場合,図12の(b)にも示すように,0〜2πの
間にある2つの値θa,θbの内のどちらであるかを決
める必要がある。そこで,追跡ベクトルViの逆ベクト
ル(−Vi)と注目しているベクトルVmkとの外積の
大きさ|(−Vi)×Vmk|を数式8で求める。
【数8】
【0051】外積の大きさ|(−Vi)×Vmk|は,
それらのなす角度θmkのサイン(sinθmk)に比
例する。従って,図12(a)の正弦曲線からもわかる
ように,外積の大きさ|(−Vi)×Vmk|が正であ
れば0からπまでの角度θaを角度θmの値として選び
,外積の大きさ|(−Vi)×Vm|が負であれば,π
から2πまでの角度θbを角度θmの値として選べば,
正しい角度θmkを求めることができる。
【0052】追跡方向フラグDFの値が1の場合には,
図14(a)に示すように,追跡ベクトルの逆ベクトル
(−Vi)から注目しているベクトルまで「時計回り」
に計った角度が最小のベクトルを追跡候補ベクトルとす
る。ところで,上述の方法で求められた角度θmkは,
追跡ベクトルViの終点EPiを中心として,追跡ベク
トルの逆ベクトル(−Vi)から注目しているベクトル
Vmkまで「反時計回り」に計った角度なので,時計回
りに計った角度を(2π−θmk)の計算で求め,これ
を各ベクトルVmkの角度とする。こうして求められた
各ベクトルVm1〜Vm3に対する時計回りの角度θm
1〜θm3を比較して,最小の角度θm1を有するベク
トルVm1を追跡候補ベクトルとして選択する。
【0053】一方,追跡方向フラグDFの値が0の場合
には,図14(b)に示すように,追跡ベクトルの逆ベ
クトル(−Vi)から注目しているベクトルVmkまで
「反時計回り」に計った角度が最小のベクトルを追跡候
補ベクトルとする。そこで,上述の方法で求められた角
度θmkを,そのまま各ベクトルの角度とする。こうし
て求められた各ベクトルVm1〜Vm3の角度θm1〜
θm3を比較して,最小の角度θm1を有するベクトル
Vm1を追跡候補ベクトルとして選択する。
【0054】上記のように,ステップS503またはS
504において追跡候補ベクトルが選択されると,次の
ステップS505において追跡候補ベクトルの追跡済み
フラグTFの値が調べられる。追跡候補ベクトルの追跡
済みフラグTFが1であれば,すでに閉ループを構成す
るベクトル群が選択されているので,ステップS5全体
の処理を終了する。一方,追跡候補ベクトルの追跡済み
フラグTFが0であればステップS501に戻り,上述
の処理を繰り返すことによって閉ループを構成するベク
トル群を選択する。
【0055】なお,ステップS503またはS504に
おいて,ベクトルVm3のようにその終点が追跡ベクト
ルViの終点に接続しているベクトルが追跡候補ベクト
ルとして選択された場合には,その次に実行されるステ
ップS501〜ステップS504の処理において,ベク
トルVm3の始点SPm3に接続するベクトルの中の1
つが次の追跡候補ベクトルとして選択される。
【0056】以上のように,上記実施例では,指定点C
Pとの距離が最も近いベクトルを追跡開始ベクトルVf
0として選択した後,時計回りまたは反時計回りにベク
トルを追跡していくことにより,指定点を取り囲む最小
の閉ループを形成するベクトル群を選択し,この閉ルー
プで囲まれる閉領域を抽出するようにしているので,オ
ペレータが指定点CPを指定するだけで,閉領域を容易
に抽出することができる。
【0057】なお,この発明は上記実施例に限られるも
のではなく,その要旨を逸脱しない範囲において種々の
態様において実施することが可能である。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように,本発明の閉領域抽
出方法によれば,一部の閉領域内に指定した指定点と,
指定点に最も距離の近いベクトルとの関係に基づいてベ
クトルの追跡条件を判定し,その追跡条件に応じてベク
トルを時計回りまたは反時計回りに追跡するので,指定
点を指定するだけで閉領域を取り囲む閉ループベクトル
群を抽出することができる。従って,オペレータは複雑
な指定を行なう必要がなく,指定点を指定するだけで一
部の閉領域を容易に抽出することができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を適用する画像処理装置の構
成を示すブロック図。
【図2】実施例の概略処理手順を示すフローチャート。
【図3】処理対象となる図形の一例を示す図。
【図4】ベクトルで表わされた図形を示す説明図。
【図5】ベクトルデータの構造を示す概念図。
【図6】ベクトル相互の接続関係を示す説明図。
【図7】実施例における処理の概要を示す説明図。
【図8】追跡開始ベクトルの選択手順を示すフローチャ
ート。
【図9】追跡開始ベクトルの選択手順を示すフローチャ
ート。
【図10】追跡開始ベクトルの選択手順を示す説明図。
【図11】追跡開始ベクトルの選択手順を示す説明図。
【図12】正弦曲線と余弦曲線とを示すグラフ。
【図13】ベクトルの追跡手順を示すフローチャート。
【図14】ベクトルの追跡手順を示す説明図。
【図15】閉領域の抽出処理の内容を示す説明図。
【符号の説明】
10  CPU 11  ベクトルデータ変換手段 12  閉領域抽出手段 13  画像貼込手段 20  ROM 30  RAM 40  画像データ入力ポート 50  図形画像入力ポート 60  端末制御部 70  外部記憶装置制御部 80  バスライン 100  画像処理装置 110  イメージスキャナ 120  入出力端末 130  外部記憶装置 CP    指定点 CR    閉領域 Cei  終点接続ベクトル数 Csi  始点接続ベクトル数 DF    追跡方向フラグ FFt  細線化図形 Fi    状態フラグ IP    交点 NL    垂線 Pe    終点 Ps    始点 TFi  追跡済フラグ V1〜V20  ベクトル Vc    指定点ベクトル Vf0  追跡開始ベクトル Vf00  追跡開始合成ベクトル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  複数の閉領域を有する線図形の中から
    一部の閉領域を抽出する方法であって,(1)画像内の
    線図形を構成する複数のベクトルを表わすベクトルデー
    タを準備する工程と,(2)前記線図形内の一部の閉領
    域の内部の点を指定点として指定する工程と,(3)前
    記指定点の位置と前記ベクトルデータとに基づいて,前
    記複数のベクトルの中から,前記指定点との距離が最も
    近いベクトルを追跡開始ベクトルとして選択する工程と
    ,(4)前記追跡開始ベクトルの進行方向に前記指定点
    を見たときに,前記指定点が前記追跡開始ベクトルの左
    側にある場合を第1の追跡条件と判断し,前記指定点が
    前記追跡開始ベクトルの右側にある場合を第2の追跡条
    件と判断する工程と,(5)前記第1の追跡条件の場合
    には,前記追跡開始ベクトルから直列に接続していく複
    数のベクトルを反時計方向に順次追跡しつつ,閉ループ
    を構成する複数のベクトルを選択することによって,前
    記指定点を含む最小の閉領域を取り囲む閉ループベクト
    ル群を抽出し,前記第2の追跡条件の場合には,前記追
    跡開始ベクトルから直列に接続していく複数のベクトル
    を時計方向に順次追跡しつつ,閉ループを構成する複数
    のベクトルを選択することによって,前記指定点を含む
    最小の閉領域を取り囲む閉ループベクトル群を抽出する
    工程と,を備えることを特徴とする図形の閉領域抽出方
    法。
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