JP2000171214A - 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 - Google Patents
対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法Info
- Publication number
- JP2000171214A JP2000171214A JP10348315A JP34831598A JP2000171214A JP 2000171214 A JP2000171214 A JP 2000171214A JP 10348315 A JP10348315 A JP 10348315A JP 34831598 A JP34831598 A JP 34831598A JP 2000171214 A JP2000171214 A JP 2000171214A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- corresponding point
- image
- measurement
- images
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 「領域相関法」において所定のステレオ画像
の高速処理を可能にする対応点検索方法を提供する。 【解決手段】 対応点探索において、通常の解像度の左
右画像と設定した間隔毎の画像データにより構成した解
像度の低い左右縮小画像を用意しておき、一段目の対応
点探索を縮小画像のエピポーラライン上に関して行い、
二段目の対応点探索を縮小画像で検出した対応点に対応
する通常解像度画像上の位置の近傍のみについて行うこ
とで、計算時間を減少させるようにしたものである。
の高速処理を可能にする対応点検索方法を提供する。 【解決手段】 対応点探索において、通常の解像度の左
右画像と設定した間隔毎の画像データにより構成した解
像度の低い左右縮小画像を用意しておき、一段目の対応
点探索を縮小画像のエピポーラライン上に関して行い、
二段目の対応点探索を縮小画像で検出した対応点に対応
する通常解像度画像上の位置の近傍のみについて行うこ
とで、計算時間を減少させるようにしたものである。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は対応点検索方法及びこれ
を利用した三次元位置計測方法等に関し、特にステレオ
画像の一部を切り出してその濃淡パターンの相関から対
象物体の三次元位置を検出する場合に適用して有用なも
のである。 【０００２】 【従来の技術】ステレオ画像を用いた三次元位置計測方
法として、入力画像の一部を切り出してその濃淡パター
ンを画像モデル（以降「パッチ」と呼ぶ）として記憶
し、もう一方の入力画像においてパッチと同じパターン
をもつ画像の小領域の位置（以降これを「対応点」と呼
ぶ）を、濃淡パターンの相関から検出する方法（以降こ
れを「領域相関法」と呼ぶ。）が用いられている。さら
に詳言すると、先ず検査前の予備段階として、対象物
のサンプルの画像の一部を切り出してその部分の濃度に
関するパターンを、モデルとして記憶する。次に検査
時に、入力画像から１画素ずれた各点毎に順次モデルと
同じ形状で且つ同じ大きさの濃度に関するパターンを切
り出し、各点毎にモデルと切り出したパターンとの相関
値を計算し、相関の最も強いパターンが切り出された点
の位置をモデルとの対応点の位置とする。ここで、相関
値の大小と相関の強弱は相関値を求める計算式により異
なり、相関値が最小の場合に相関が最強となる計算式
と、相関値が最大の場合に相関が最強となる計算式とが
ある。 【０００３】下式（１）は２つのパターン間の相関値を
求める計算式の一例であり、式中でＰi はモデルのｉ番
目の画素の濃度であり、Ｑi は切り出したｉ番目の画素
の濃度であり、この式（１）の場合は、切り出した各パ
ターンのうち、相関値Ｃが最小となるパターンを切り出
した点の位置を、対応点の位置として決定することにな
る。 【数１】 【０００４】また、下式（２）は相関値の計算式の他の
例であり、この場合は、切り出したパターンのうち、相
関値Ｃが最大になるパターンを切り出した点の位置を、
対応点の位置として決定することになる。 【数２】 【０００５】上述した相関マッチング処理は、常識的で
広く使用されているが、厳密に言うと次の点で問題があ
る。すなわち、１画素ずつずれた各点毎にパターンを切
り出していることから、式（１）の計算から得られる対
応点の位置は離散的なものであり、場合によっては真の
対応点から最大で±０．５画素分ずれた位置になる危険
性がある。そして、この０．５画素のずれが実際の対象
物上でどのような寸法になるかは、撮影に用いるビデオ
カメラの分解能等に依存するので、従来の相関マッチン
グ処理では対処することができないものである。 【０００６】しかしながら、実用的には０．５画素のず
れは影響が大きく、精密な位置決めには使用することが
できない。例えば、ビデオカメラの分解能が水平方向に
５１２画素で視角が６０°、ビデオカメラと対象物間の
距離が２ｍである場合は、±０．５画素のずれは、約５
mmとなる。 【０００７】そこで、入力画像の分解能よりも精密に対
応点の位置を計測することができる技術として特願平６
−１７８０２２号で提案する「相関マッチングの対応点
位置計測方法及び装置」がある。これは、次の様な２種
類の内容の技術である。 【０００８】＜相関が強いほど相関値が小さくなる計算
式を用いる場合＞入力画像の各点毎に、モデルと同じ形
状で且つ同じ大きさのパターンを切り出し、モデルと切
り出したパターンとの相関値を相関が強いほど相関値が
小さくなる計算式で計算すること；各点での相関値の計
算結果から、相関が最も強い第１の点の位置Ａ0 と、同
第１の点での相関値Ｃ0 と、第１の点を含む一次元上で
第１の点の直前に位置する第２の点での相関値Ｃ-1と、
同一次元上で第１の点の直後に位置する第３の点での相
関値Ｃ+1とを求めること；第２の点での相関値Ｃ-1と第
３の点での相関値Ｃ+1との大小関係を判定すること；判
定結果から、Ｃ-1＞Ｃ+1の場合は下式（３）により、Ｃ
-1＜Ｃ+1の場合は下式（４）により、入力画像における
モデルとの対応点の位置Ａr を補間演算で求めること；
を特徴とする。 Ａr ＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1） …式（３） Ａr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ+1） …式（４） 【０００９】＜相関が強いほど相関値が小さくなる計算
式を用いる場合＞上述の如く、＜相関が強いほど相関値
が小さくなる計算式を用いる場合＞に対し、同様のモ
デルとパターンとの相関値を相関が強いほど相関値が大
きくなる計算式で計算する点、及び同様の判定結果か
ら、Ｃ-1＜Ｃ+1の場合は上式（３）により、Ｃ-1＞Ｃ+1
の場合は上式（４）により、入力画像におけるモデルと
の対応点の位置Ａr を補間演算で求める点が異なるだけ
で、他の構成は同様である。 【００１０】かかる従来技術によれば、入力画像中でモ
デルとの真の対応点の近傍では、図１１に示すように、
真の対応点Ａr を含む一次元即ち直線１１上の前後で、
相関の強弱は真の対応点Ａr を中心に良い近似で対称に
変化する。即ち、直線１１と直交する軸１２上に相関値
Ｃをとれば、真の対応点Ａr より前側での相関値の変化
直線１３と、後側での相関値の変化直線１４とは、互い
に傾きの符号が逆で、その絶対値が同一の傾きである。
なお、図１１では相関値が小さいほど相関が強いものと
しているが、逆の場合でも、同様である。 【００１１】さらに詳言すると、まず、上記式（１）な
ど、相関が強いほど相関値Ｃが小さくなる計算式を用い
る場合、ＡとＣとの直交座標系を導入すると、図１２ま
たは図１３に示すように、パターンを切り出した点の位
置とその点での相関値との対（Ａ0 ，Ｃ0 ），（Ａ-1，
Ｃ-1），（Ａ+1，Ｃ+1）をプロットすることかできる。
但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ0 は第
１の点での相関値、Ａ -1は第１の点を含む一次元Ａ上で
第１の点の直前に位置する第２の点の位置、Ｃ -1は第２
の点での相関値、Ａ+1は同一次元Ａ上で第１の点の直後
に位置する第３の点の位置、Ｃ+1は第３の点での相関値
をそれぞれ示している。 【００１２】図１２はＣ-1＞Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、（Ａ0 ，Ｃ0 ）と（Ａ-1，Ｃ-1）を通
る実線の直線１５を引き、この直線１５と符号が反対で
絶対値が等しい傾きを持ち、且つ（Ａ+1，Ｃ+1）を通る
二点鎖線の直線１６との交点を求めれば、そのＡ座標が
対応点の位置Ａr となる。 【００１３】図１３はＣ-1＜Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、（Ａ0 ，Ｃ0 ）と（Ａ+1，Ｃ+1）を通
る実線の直線１７を引き、この直線１７と符号が反対で
絶対値が等しい傾きを持ち且つ（Ａ-1，Ｃ-1）を通る二
点鎖線の直線１８との交点を求めれば、そのＡ座標が対
応点の位置Ａr となる。 【００１４】一方、前記式（２）など、相関が強いほど
相関値Ｃが大きくなる計算式を用いる場合、ＡとＣとの
直交座標系を導入すると、図１４または図１５に示すよ
うに、パターンを切り出した点とその点での相関値との
対（Ａ0 ，Ｃ0 ），（Ａ-1，Ｃ-1），（Ａ+1，Ｃ+1）を
プロットすることかできる。但し、Ａ0 は相関が最も強
い第１の点の位置、Ｃ0 は第１の点での相関値、Ａ-1は
第１の点を含む一次元Ａ上で第１の点の直前に位置する
第２の点の位置、Ｃ-1は第２の点での相関値、Ａ+1は同
一次元Ａ上で第１の点の直後に位置する第３の点の位
置、Ｃ+1は第３の点での相関値をそれぞれ示している。 【００１５】図１４はＣ-1＜Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、図１２と同じく（Ａ 0 ，Ｃ0 ）と（Ａ
-1，Ｃ-1）を通る実線の直線１５を引き、この直線１５
と符号が反対で絶対値が等しい傾きを持ち且つ（Ａ+1，
Ｃ+1）を通る二点鎖線の直線１６との交点を求めれば、
そのＡ座標が対応点の位置Ａr となる。 【００１６】図１５はＣ-1＞Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、図５と同じく（Ａ0，Ｃ0 ）と
（Ａ+1，Ｃ+1）を通る実線の直線１７を引き、この直線
１７と符号が反対で絶対値が等しい傾きを持つ且つ（Ａ
-1，Ｃ-1）を通る二点鎖線の直線１６との交点を求めれ
ば、そのＡ座標が対応点の位置Ａr となる。 【００１７】かかる特願平６−１７８０２２号で提案す
る「相関マッチングの対応点位置計測方法」によれば、
上述した対称性を利用して補間することにより真の対応
点Ａ r に実質的に等しい精密な対応点を求めることがで
き、しかもこの補間には、前述した式（３）及び式
（４）を用いると、これらは比較的単純な式なので、補
間演算に要する時間が短いという利点がある。 【００１８】 【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の如き
「相関マッチングの対応点位置計測方法」も含め、従来
技術に係る「領域相関法」においては、一般的に、対応
点探索のため時間のかかる濃淡パターンの相関計算を多
量に行う必要がある。このため、パッチのサイズが大き
くなるほど処理時間が長くなり、高速な処理を要するも
のには対応できないという問題点がある。 【００１９】本発明は、上記従来技術に鑑み、「領域相
関法」において所定のステレオ画像の高速処理を可能に
する対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測
方法、その方法を記憶した記憶媒体及びその方法を実現
する装置を提供することを目的とする。 【００２０】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は次の点を特徴とする。 【００２１】１） 通常解像度における計測点位置から
縮小画像における計測点位置を計算し、通常解像度にお
けるエピポーララインから縮小画像におけるエピポーラ
ラインを計算し、計測位置を指定した方の縮小画面にお
いて縮小パッチを設定し、もう一方の縮小画像のエピポ
ーラライン上の探索範囲に関して対応点を相関計算によ
って検出し、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の
対応箇所を計算し、計測位置を指定した方の通常画像に
おいてパッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポー
ラライン上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計
算によって検出することで、対応点を決定すること。 【００２２】２） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、計測位置、対応点、カメラデータから三次元位
置を計算すること。 【００２３】３） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr
＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又
はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ
+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ
0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含む
一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相関
値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第３
の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方式
により対応点を再計算し、計測位置、対応点、カメラデ
ータから三次元位置を計算すること。 【００２４】４） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、この対応点探索で得られた点を中心に３点以上
の幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似して
得られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次曲
線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計測位
置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算するこ
と。 【００２５】５） 上記１）に記載する対応点検索方法
の手順を記憶していること。 【００２６】６） 上記２）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２７】７） 上記３）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２８】８） 上記４）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２９】９） 通常解像度における計測点位置から
縮小画像における計測点位置を計算する計測点変換手段
と、通常解像度におけるエピポーララインから縮小画像
におけるエピポーララインを計算するエピポーラライン
変換手段と、計測位置を指定した方の縮小画面において
縮小パッチを設定する縮小パッチ設定手段と、もう一方
の縮小画像のエピポーラライン上の探索範囲に関して対
応点を相関計算によって検出する縮小画像対応点検出手
段と、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応箇
所を計算し、計測位置を指定した方の通常画像において
パッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーラライ
ン上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算によ
って検出することで対応点を決定する通常画像対応点検
出手段とを有すること。 【００３０】１０） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、計測位置，対応点，カメラデータから三次元
位置を計算する三次元位置計算手段とを有すること。 【００３１】１１） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａ
r ＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）
又はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −
Ｃ+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、
Ｃ0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含
む一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相
関値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第
３の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方
式により対応点を再計算することにより対応点を再計算
する直線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カ
メラデータから三次元位置を計算する三次元位置計算手
段とを有すること。 【００３２】１２） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、この対応点探索で得られた点を中心に３点以
上の幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似し
て得られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次
曲線型対応点実数化方式により対応点を再計算する二次
曲線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カメラ
データから三次元位置を計算する三次元位置計算手段と
を有すること。 【００３３】 【発明の実施の形態】＜基本的な考え方＞本形態では、
対応点探索において、通常の解像度の左右画像と設定し
た間隔毎の画像データにより構成した解像度の低い左右
縮小画像を用意しておき、一段目の対応点探索を縮小画
像のエピポーラライン（ステレオ画像を取り込む二台の
カメラの位置関係から導かれる対応点が存在可能な直
線）上に関して行い、二段目の対応点探索を縮小画像で
検出した対応点に対応する通常解像度画像上の位置の近
傍のみについて行うことで、計算時間を減少させるよう
にしたものである。例えば縮小率１／２で行った場合、
一段目の対応点探索において探索範囲が１／２となりパ
ッチサイズが１／４となるので相関計算の対象とする点
数は１／８に減少し、処理を高速化できる。 【００３４】＜段階的解像度画像による対応点探索方法
＞この処理を説明する模式図を図１に、この処理手順の
フローチャートを図２に示す。両図に示すように、次の
手順により対応点探索を行う。 通常解像度における計測点位置から縮小画像におけ
る計測点位置を計算する。 通常解像度におけるエピポーララインから縮小画像
におけるエピポーララインを計算する。 計測位置を指定した方の縮小画面において縮小比率
に対応するサイズのパッチ（以降これを「縮小パッチ」
と呼ぶ）を設定する。 もう一方の縮小画像のエピポーラライン上の探索範
囲に関して対応点を相関計算によって検出する。 縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応点位
置（以降これを「対応箇所」と呼ぶ）を計算する。 計測位置を指定した方の通常画像においてパッチを
設定する。 もう一方の通常画像のエピポーラライン上の対応箇
所近傍のみに関して対応点を相関計算によって検出す
る。 【００３５】＜対応点実数化方法＞画像データは離散的
なデータであるため対応点探索で得られた対応点は離散
的な画素の位置データとして与えられ、実際の対応点位
置とくらべて最大で１／２画素の誤差を生じる。高精度
位置決めが要求される作業においてはこの誤差を小さく
抑える必要がある。そこで検出した対応点の近傍点の相
関値データを用いて離散的な画素間に存在する対応点位
置を計算する。 直線型対応点実数化方式 上記式（３）又は（４）を用いて対応点位置を計算す
る。 二次曲線型対応点実数化方式 二次曲線は唯一のピークを持つ曲線である。よって、図
３に模式的に示すように、対応点探索で得られた点を中
心に幾つかの近傍点（３点以上）の相関値データを二次
曲線に近似し、得られた二次曲線のピークの位置を対応
点とする。 【００３６】＜三次元位置計測方法＞ １） 三次元位置計測方法１（図４参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。２） 三次元位置計測方法２（図５参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 上記「直線型対応点実数化方式」により対応点の再
計算を行う。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。３） 三次元位置計測方法３（図６参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 上記「二次曲線型対応点実数化方式」により対応点
の再計算を行う。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。 【００３７】図７は、本発明の実施の形態に係る段階的
解像度画像による対応点探索装置で、上記「段階的解像
度画像による対応点探索方法」を実現する装置を示すブ
ロック図である。同図に示すように、当該装置は、計測
点変換部２１、エピポーラライン変換部２２、縮小パッ
チ設定部２３、縮小画像対応点検出部２４、パッチ設定
部２６及び通常画像対応点検出部２５を有している。こ
れらのうち計測点変換部２１は、縮小データ及び計測点
のデータに基づいて、通常解像度における計測点位置か
ら縮小画像における計測点位置を計算するものである。
エピポーラライン変換部２２は、縮小データ及びエピポ
ーララインのデータに基づいて、通常解像度におけるエ
ピポーララインから縮小画像におけるエピポーラライン
を計算するものである。縮小パッチ設定部２３は、縮小
画面のデータ、縮小データ及び計測点変換部２１の計算
データに基づいて、計測位置を指定した方の縮小画面に
おいて縮小パッチを設定するものである。縮小画像対応
点検出部２４は、縮小画面のデータ、縮小データ、縮小
パッチ設定部２３の設定データ及びエピポーラライン変
換部２２の計算データに基づいて、もう一方の縮小画像
のエピポーラライン上の探索範囲に関して対応点を相関
計算によって検出するものである。通常画像対応点検出
部２５は、縮小画像対応点検出部２４の検出データ、通
常画像のデータ、パッチ設定部２６の設定データ及びエ
ピポーララインのデータ基づいて、縮小画像上の対応点
位置から通常画像上の対応箇所を計算し、計測位置を指
定した方の通常画像においてパッチを設定し、もう一方
の通常画像のエピポーラライン上の対応箇所近傍のみに
関して対応点を相関計算によって検出することで対応点
を決定するものである。 【００３８】ここで、通常画像のデータ及び縮小画像の
データは、図８乃至図１０に示す三次元位置計測装置の
画像メモリ３１から供給される。以下同様に、縮小デー
タはパラメータメモリ３２から、計測点のデータは計測
位置指定部３３から、エピポーララインのデータはエピ
ポーラライン計算部３４からそれぞれ供給される。 【００３９】かくして本形態にかかる対応点探索装置に
おいては、通常解像度における計測点位置から縮小画像
における計測点位置を計算し、通常解像度におけるエピ
ポーララインから縮小画像におけるエピポーララインを
計算し、計測位置を指定した方の縮小画面において縮小
パッチを設定し、もう一方の縮小画像のエピポーラライ
ン上の探索範囲に関して対応点を相関計算によって検出
し、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応箇所
を計算し、計測位置を指定した方の通常画像においてパ
ッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーラライン
上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算によっ
て検出することで対応点を決定する。 【００４０】このように当該対応点探索装置では、広範
囲の対応点探索を縮小画面にて行い、縮小画面における
処理で検出された対応箇所近傍のみについて通常画面で
対応点探索を行うため、従来方式と同程度の精度でかつ
高速な対応点検出を行うことができるメリットがある。 【００４１】図８は、本発明の実施の形態に係る第１の
三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次元
位置計測方法１」を実現する装置を示すブロック図であ
る。同図に示すように、当該装置は、画像メモリ３１、
パラメータメモリ３２、計測位置指定部３３、エピポー
ラライン計算部３４、画像入力部３５、画像縮小部３
６、対応点探索部３７及び三次元位置計算部３８を有し
ている。これらのうち、画像メモリ３１は、画像入力部
３５を介して供給される通常の画像データを記憶すると
ともに、画像縮小部３６を介して供給される縮小画像デ
ータを記憶しておくものである。画像縮小部３６は、画
像メモリ３１から供給される通常の画像データとパラメ
ータメモリ３２から供給される縮小データに基づき所定
の縮小画像のデータを形成し、このデータを画像メモリ
３１に記憶させる。縮小データ及びカメラデータ等、当
該三次元位置計測に必要なパラメータはパラメータメモ
リ３２が記憶している。計測位置指定部３３には所望の
計測位置を指定することができるようになっている。エ
ピポーラライン計算部３４は、計測位置のデータとカメ
ラデータに基づいてエピポーララインのデータを計算す
るものである。対応点検索部３７は、図７に示す対応点
探索装置であり、通常画像のデータ、縮小画像のデー
タ、縮小データ、計測点のデータ及びエピポーラライン
のデータに基づき対応点のデータを計算により求める。
三次元位置計測装置３８は、対応点のデータ、計測位置
のデータ及びカメラデータに基づき対象物の三次元位置
を計算により求めるものである。 【００４２】かくして本形態にかかる三次元位置計測装
置においては、左右画像を入力し、左右画像から左右縮
小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計
測位置とカメラデータからエピポーララインを計算し、
段階的解像度画像による対応点探索を行うことで対応点
を求め、計測位置、対応点、カメラデータから三次元位
置を計算することができる。 【００４３】このように当該三次元位置計測装置におい
ては、上述の如き三次元位置計測方法１（図４参照）を
実現し、その対応点データを用いて三次元位置計算を行
うため、従来方式と同程度の精度でかつ高速な三次元位
置計測を行うことができるメリットがある。 【００４４】図９は、本発明の実施の形態に係る第３の
三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次元
位置計測方法２」を実現する装置を示すブロック図であ
る。同図に示すように、当該装置は、図８に示す三次元
位置計測装置に直線型対応点実数化部３９を追加したも
のである。この直線型対応点実数化部３９は、前記「
直線型対応点実数化方式」における計算を実行する、す
なわち、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr
＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又
はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ
+1）（但し、Ａ 0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ
0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含む
一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相関
値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第３
の点での相関値）の演算を実行するもので、この結果で
ある実数化対応点のデータを三次元位置計算部３８に供
給する。なお、図９中、図８と同一部分には同一番号を
付し、重複する説明は省略する。 【００４５】本形態に係る三次元位置計測装置において
は、左右画像を入力し、左右画像から左右縮小画像を作
り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測位置とカ
メラデータからエピポーララインを計算し、段階的解像
度画像による対応点探索を行うことで対応点を求め、直
線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計測位
置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算するこ
とができる。 【００４６】この装置は、対応点探索において図８に示
す三次元位置計測装置に加え、三次元位置計算を行う前
に、「直線型対応点実数化処理」を行うため、高精度か
つ高速な三次元位置計測を行うことができるメリットが
ある。 【００４７】図１０は、本発明の実施の形態に係る第３
の三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次
元位置計測方法３」を実現する装置を示すブロック図で
ある。同図に示すように、当該装置は、図８に示す三次
元位置計測装置に二次曲線型対応点実数化部４０を追加
したものである。この二次曲線型対応点実数化部４０
は、前記「二次曲線型対応点実数化方式」における計
算を実行する、すなわち図３に模式的に示すように、対
応点探索で得られた点を中心に幾つかの近傍点（３点以
上）の相関値データを二次曲線に近似し、得られた二次
曲線のピークの位置を対応点とする演算を実行するもの
で、この結果である実数化対応点のデータを三次元位置
計算部３８に供給する。なお、図１０中、図８と同一部
分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。 【００４８】本形態に係る三次元位置計測装置において
は、左右画像を入力し、左右画像から左右縮小画像を作
り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測位置とカ
メラデータからエピポーララインを計算し、段階的解像
度画像による対応点探索を行うことで対応点を求め、二
次曲線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計
測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算す
ることができる。 【００４９】この装置は、対応点探索において図８に示
す三次元位置計測装置に加え、三次元位置計算を行う前
に、「二次曲線型対応点実数化処理」を行うため、高精
度かつ高速な三次元位置計測を行うことができるメリッ
トがある。 【００５０】 【発明の効果】以上、実施の形態とともに詳細に説明し
た通り、本発明によれば次の効果を得る。 対応点探索において計算量が格段に減少するため、
高速な処理を実現できる。 対応点探索において広範囲の探索を縮小画像で行
い、対応箇所近傍についてのみ通常画像による探索を行
うため、高速な処理でかつ従来の精度を確保することが
できる。 本発明に係る対応点探索法を対応点実数化処理と組
み合わせることで高速かつ高精度な三次元位置計測を実
現できる。 対応点探索に必要な処理時間が短いため、高速な処
理を要する作業にも対応できる。 高速な三次元位置計測が実現できるため、作業時間
に余裕がある場合、複数回の三次元位置計測を行い、計
測データの精度を向上させることができる。 高速な三次元位置計測が実現できるため、作業時間
に余裕がある場合、複数回の三次元位置計測を行い、計
測データの信頼性を向上させることができる。
を利用した三次元位置計測方法等に関し、特にステレオ
画像の一部を切り出してその濃淡パターンの相関から対
象物体の三次元位置を検出する場合に適用して有用なも
のである。 【０００２】 【従来の技術】ステレオ画像を用いた三次元位置計測方
法として、入力画像の一部を切り出してその濃淡パター
ンを画像モデル（以降「パッチ」と呼ぶ）として記憶
し、もう一方の入力画像においてパッチと同じパターン
をもつ画像の小領域の位置（以降これを「対応点」と呼
ぶ）を、濃淡パターンの相関から検出する方法（以降こ
れを「領域相関法」と呼ぶ。）が用いられている。さら
に詳言すると、先ず検査前の予備段階として、対象物
のサンプルの画像の一部を切り出してその部分の濃度に
関するパターンを、モデルとして記憶する。次に検査
時に、入力画像から１画素ずれた各点毎に順次モデルと
同じ形状で且つ同じ大きさの濃度に関するパターンを切
り出し、各点毎にモデルと切り出したパターンとの相関
値を計算し、相関の最も強いパターンが切り出された点
の位置をモデルとの対応点の位置とする。ここで、相関
値の大小と相関の強弱は相関値を求める計算式により異
なり、相関値が最小の場合に相関が最強となる計算式
と、相関値が最大の場合に相関が最強となる計算式とが
ある。 【０００３】下式（１）は２つのパターン間の相関値を
求める計算式の一例であり、式中でＰi はモデルのｉ番
目の画素の濃度であり、Ｑi は切り出したｉ番目の画素
の濃度であり、この式（１）の場合は、切り出した各パ
ターンのうち、相関値Ｃが最小となるパターンを切り出
した点の位置を、対応点の位置として決定することにな
る。 【数１】 【０００４】また、下式（２）は相関値の計算式の他の
例であり、この場合は、切り出したパターンのうち、相
関値Ｃが最大になるパターンを切り出した点の位置を、
対応点の位置として決定することになる。 【数２】 【０００５】上述した相関マッチング処理は、常識的で
広く使用されているが、厳密に言うと次の点で問題があ
る。すなわち、１画素ずつずれた各点毎にパターンを切
り出していることから、式（１）の計算から得られる対
応点の位置は離散的なものであり、場合によっては真の
対応点から最大で±０．５画素分ずれた位置になる危険
性がある。そして、この０．５画素のずれが実際の対象
物上でどのような寸法になるかは、撮影に用いるビデオ
カメラの分解能等に依存するので、従来の相関マッチン
グ処理では対処することができないものである。 【０００６】しかしながら、実用的には０．５画素のず
れは影響が大きく、精密な位置決めには使用することが
できない。例えば、ビデオカメラの分解能が水平方向に
５１２画素で視角が６０°、ビデオカメラと対象物間の
距離が２ｍである場合は、±０．５画素のずれは、約５
mmとなる。 【０００７】そこで、入力画像の分解能よりも精密に対
応点の位置を計測することができる技術として特願平６
−１７８０２２号で提案する「相関マッチングの対応点
位置計測方法及び装置」がある。これは、次の様な２種
類の内容の技術である。 【０００８】＜相関が強いほど相関値が小さくなる計算
式を用いる場合＞入力画像の各点毎に、モデルと同じ形
状で且つ同じ大きさのパターンを切り出し、モデルと切
り出したパターンとの相関値を相関が強いほど相関値が
小さくなる計算式で計算すること；各点での相関値の計
算結果から、相関が最も強い第１の点の位置Ａ0 と、同
第１の点での相関値Ｃ0 と、第１の点を含む一次元上で
第１の点の直前に位置する第２の点での相関値Ｃ-1と、
同一次元上で第１の点の直後に位置する第３の点での相
関値Ｃ+1とを求めること；第２の点での相関値Ｃ-1と第
３の点での相関値Ｃ+1との大小関係を判定すること；判
定結果から、Ｃ-1＞Ｃ+1の場合は下式（３）により、Ｃ
-1＜Ｃ+1の場合は下式（４）により、入力画像における
モデルとの対応点の位置Ａr を補間演算で求めること；
を特徴とする。 Ａr ＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1） …式（３） Ａr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ+1） …式（４） 【０００９】＜相関が強いほど相関値が小さくなる計算
式を用いる場合＞上述の如く、＜相関が強いほど相関値
が小さくなる計算式を用いる場合＞に対し、同様のモ
デルとパターンとの相関値を相関が強いほど相関値が大
きくなる計算式で計算する点、及び同様の判定結果か
ら、Ｃ-1＜Ｃ+1の場合は上式（３）により、Ｃ-1＞Ｃ+1
の場合は上式（４）により、入力画像におけるモデルと
の対応点の位置Ａr を補間演算で求める点が異なるだけ
で、他の構成は同様である。 【００１０】かかる従来技術によれば、入力画像中でモ
デルとの真の対応点の近傍では、図１１に示すように、
真の対応点Ａr を含む一次元即ち直線１１上の前後で、
相関の強弱は真の対応点Ａr を中心に良い近似で対称に
変化する。即ち、直線１１と直交する軸１２上に相関値
Ｃをとれば、真の対応点Ａr より前側での相関値の変化
直線１３と、後側での相関値の変化直線１４とは、互い
に傾きの符号が逆で、その絶対値が同一の傾きである。
なお、図１１では相関値が小さいほど相関が強いものと
しているが、逆の場合でも、同様である。 【００１１】さらに詳言すると、まず、上記式（１）な
ど、相関が強いほど相関値Ｃが小さくなる計算式を用い
る場合、ＡとＣとの直交座標系を導入すると、図１２ま
たは図１３に示すように、パターンを切り出した点の位
置とその点での相関値との対（Ａ0 ，Ｃ0 ），（Ａ-1，
Ｃ-1），（Ａ+1，Ｃ+1）をプロットすることかできる。
但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ0 は第
１の点での相関値、Ａ -1は第１の点を含む一次元Ａ上で
第１の点の直前に位置する第２の点の位置、Ｃ -1は第２
の点での相関値、Ａ+1は同一次元Ａ上で第１の点の直後
に位置する第３の点の位置、Ｃ+1は第３の点での相関値
をそれぞれ示している。 【００１２】図１２はＣ-1＞Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、（Ａ0 ，Ｃ0 ）と（Ａ-1，Ｃ-1）を通
る実線の直線１５を引き、この直線１５と符号が反対で
絶対値が等しい傾きを持ち、且つ（Ａ+1，Ｃ+1）を通る
二点鎖線の直線１６との交点を求めれば、そのＡ座標が
対応点の位置Ａr となる。 【００１３】図１３はＣ-1＜Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、（Ａ0 ，Ｃ0 ）と（Ａ+1，Ｃ+1）を通
る実線の直線１７を引き、この直線１７と符号が反対で
絶対値が等しい傾きを持ち且つ（Ａ-1，Ｃ-1）を通る二
点鎖線の直線１８との交点を求めれば、そのＡ座標が対
応点の位置Ａr となる。 【００１４】一方、前記式（２）など、相関が強いほど
相関値Ｃが大きくなる計算式を用いる場合、ＡとＣとの
直交座標系を導入すると、図１４または図１５に示すよ
うに、パターンを切り出した点とその点での相関値との
対（Ａ0 ，Ｃ0 ），（Ａ-1，Ｃ-1），（Ａ+1，Ｃ+1）を
プロットすることかできる。但し、Ａ0 は相関が最も強
い第１の点の位置、Ｃ0 は第１の点での相関値、Ａ-1は
第１の点を含む一次元Ａ上で第１の点の直前に位置する
第２の点の位置、Ｃ-1は第２の点での相関値、Ａ+1は同
一次元Ａ上で第１の点の直後に位置する第３の点の位
置、Ｃ+1は第３の点での相関値をそれぞれ示している。 【００１５】図１４はＣ-1＜Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、図１２と同じく（Ａ 0 ，Ｃ0 ）と（Ａ
-1，Ｃ-1）を通る実線の直線１５を引き、この直線１５
と符号が反対で絶対値が等しい傾きを持ち且つ（Ａ+1，
Ｃ+1）を通る二点鎖線の直線１６との交点を求めれば、
そのＡ座標が対応点の位置Ａr となる。 【００１６】図１５はＣ-1＞Ｃ+1となる場合の例であ
り、この場合は、図５と同じく（Ａ0，Ｃ0 ）と
（Ａ+1，Ｃ+1）を通る実線の直線１７を引き、この直線
１７と符号が反対で絶対値が等しい傾きを持つ且つ（Ａ
-1，Ｃ-1）を通る二点鎖線の直線１６との交点を求めれ
ば、そのＡ座標が対応点の位置Ａr となる。 【００１７】かかる特願平６−１７８０２２号で提案す
る「相関マッチングの対応点位置計測方法」によれば、
上述した対称性を利用して補間することにより真の対応
点Ａ r に実質的に等しい精密な対応点を求めることがで
き、しかもこの補間には、前述した式（３）及び式
（４）を用いると、これらは比較的単純な式なので、補
間演算に要する時間が短いという利点がある。 【００１８】 【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の如き
「相関マッチングの対応点位置計測方法」も含め、従来
技術に係る「領域相関法」においては、一般的に、対応
点探索のため時間のかかる濃淡パターンの相関計算を多
量に行う必要がある。このため、パッチのサイズが大き
くなるほど処理時間が長くなり、高速な処理を要するも
のには対応できないという問題点がある。 【００１９】本発明は、上記従来技術に鑑み、「領域相
関法」において所定のステレオ画像の高速処理を可能に
する対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測
方法、その方法を記憶した記憶媒体及びその方法を実現
する装置を提供することを目的とする。 【００２０】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は次の点を特徴とする。 【００２１】１） 通常解像度における計測点位置から
縮小画像における計測点位置を計算し、通常解像度にお
けるエピポーララインから縮小画像におけるエピポーラ
ラインを計算し、計測位置を指定した方の縮小画面にお
いて縮小パッチを設定し、もう一方の縮小画像のエピポ
ーラライン上の探索範囲に関して対応点を相関計算によ
って検出し、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の
対応箇所を計算し、計測位置を指定した方の通常画像に
おいてパッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポー
ラライン上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計
算によって検出することで、対応点を決定すること。 【００２２】２） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、計測位置、対応点、カメラデータから三次元位
置を計算すること。 【００２３】３） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr
＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又
はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ
+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ
0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含む
一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相関
値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第３
の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方式
により対応点を再計算し、計測位置、対応点、カメラデ
ータから三次元位置を計算すること。 【００２４】４） 左右画像を入力し、左右画像から左
右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定
し、計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算し、上記１）に記載する対応点探索方法により対応点
を求め、この対応点探索で得られた点を中心に３点以上
の幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似して
得られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次曲
線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計測位
置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算するこ
と。 【００２５】５） 上記１）に記載する対応点検索方法
の手順を記憶していること。 【００２６】６） 上記２）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２７】７） 上記３）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２８】８） 上記４）に記載する三次元位置計測
方法の手順を記憶していること。 【００２９】９） 通常解像度における計測点位置から
縮小画像における計測点位置を計算する計測点変換手段
と、通常解像度におけるエピポーララインから縮小画像
におけるエピポーララインを計算するエピポーラライン
変換手段と、計測位置を指定した方の縮小画面において
縮小パッチを設定する縮小パッチ設定手段と、もう一方
の縮小画像のエピポーラライン上の探索範囲に関して対
応点を相関計算によって検出する縮小画像対応点検出手
段と、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応箇
所を計算し、計測位置を指定した方の通常画像において
パッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーラライ
ン上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算によ
って検出することで対応点を決定する通常画像対応点検
出手段とを有すること。 【００３０】１０） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、計測位置，対応点，カメラデータから三次元
位置を計算する三次元位置計算手段とを有すること。 【００３１】１１） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａ
r ＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）
又はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −
Ｃ+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、
Ｃ0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含
む一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相
関値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第
３の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方
式により対応点を再計算することにより対応点を再計算
する直線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カ
メラデータから三次元位置を計算する三次元位置計算手
段とを有すること。 【００３２】１２） 左右画像を入力する画像入力手段
と、左右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常
画像の一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメ
ラデータからエピポーララインを計算するエピポーララ
イン計算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を
行うことで対応点を求める上記９）に記載する対応点探
索手段と、この対応点探索で得られた点を中心に３点以
上の幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似し
て得られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次
曲線型対応点実数化方式により対応点を再計算する二次
曲線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カメラ
データから三次元位置を計算する三次元位置計算手段と
を有すること。 【００３３】 【発明の実施の形態】＜基本的な考え方＞本形態では、
対応点探索において、通常の解像度の左右画像と設定し
た間隔毎の画像データにより構成した解像度の低い左右
縮小画像を用意しておき、一段目の対応点探索を縮小画
像のエピポーラライン（ステレオ画像を取り込む二台の
カメラの位置関係から導かれる対応点が存在可能な直
線）上に関して行い、二段目の対応点探索を縮小画像で
検出した対応点に対応する通常解像度画像上の位置の近
傍のみについて行うことで、計算時間を減少させるよう
にしたものである。例えば縮小率１／２で行った場合、
一段目の対応点探索において探索範囲が１／２となりパ
ッチサイズが１／４となるので相関計算の対象とする点
数は１／８に減少し、処理を高速化できる。 【００３４】＜段階的解像度画像による対応点探索方法
＞この処理を説明する模式図を図１に、この処理手順の
フローチャートを図２に示す。両図に示すように、次の
手順により対応点探索を行う。 通常解像度における計測点位置から縮小画像におけ
る計測点位置を計算する。 通常解像度におけるエピポーララインから縮小画像
におけるエピポーララインを計算する。 計測位置を指定した方の縮小画面において縮小比率
に対応するサイズのパッチ（以降これを「縮小パッチ」
と呼ぶ）を設定する。 もう一方の縮小画像のエピポーラライン上の探索範
囲に関して対応点を相関計算によって検出する。 縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応点位
置（以降これを「対応箇所」と呼ぶ）を計算する。 計測位置を指定した方の通常画像においてパッチを
設定する。 もう一方の通常画像のエピポーラライン上の対応箇
所近傍のみに関して対応点を相関計算によって検出す
る。 【００３５】＜対応点実数化方法＞画像データは離散的
なデータであるため対応点探索で得られた対応点は離散
的な画素の位置データとして与えられ、実際の対応点位
置とくらべて最大で１／２画素の誤差を生じる。高精度
位置決めが要求される作業においてはこの誤差を小さく
抑える必要がある。そこで検出した対応点の近傍点の相
関値データを用いて離散的な画素間に存在する対応点位
置を計算する。 直線型対応点実数化方式 上記式（３）又は（４）を用いて対応点位置を計算す
る。 二次曲線型対応点実数化方式 二次曲線は唯一のピークを持つ曲線である。よって、図
３に模式的に示すように、対応点探索で得られた点を中
心に幾つかの近傍点（３点以上）の相関値データを二次
曲線に近似し、得られた二次曲線のピークの位置を対応
点とする。 【００３６】＜三次元位置計測方法＞ １） 三次元位置計測方法１（図４参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。２） 三次元位置計測方法２（図５参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 上記「直線型対応点実数化方式」により対応点の再
計算を行う。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。３） 三次元位置計測方法３（図６参照）。 次の手順によりステレオ画像から三次元位置計測を行
う。 左右画像を入力する。 左右画像から左右縮小画像を作る。 計測位置を通常画像の一方で指定する。 計測位置とカメラデータからエピポーララインを計
算する。 上記＜段階的解像度画像による対応点探索方法＞に
より対応点探索を行い対応点を得る。 上記「二次曲線型対応点実数化方式」により対応点
の再計算を行う。 計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を
計算する。 【００３７】図７は、本発明の実施の形態に係る段階的
解像度画像による対応点探索装置で、上記「段階的解像
度画像による対応点探索方法」を実現する装置を示すブ
ロック図である。同図に示すように、当該装置は、計測
点変換部２１、エピポーラライン変換部２２、縮小パッ
チ設定部２３、縮小画像対応点検出部２４、パッチ設定
部２６及び通常画像対応点検出部２５を有している。こ
れらのうち計測点変換部２１は、縮小データ及び計測点
のデータに基づいて、通常解像度における計測点位置か
ら縮小画像における計測点位置を計算するものである。
エピポーラライン変換部２２は、縮小データ及びエピポ
ーララインのデータに基づいて、通常解像度におけるエ
ピポーララインから縮小画像におけるエピポーラライン
を計算するものである。縮小パッチ設定部２３は、縮小
画面のデータ、縮小データ及び計測点変換部２１の計算
データに基づいて、計測位置を指定した方の縮小画面に
おいて縮小パッチを設定するものである。縮小画像対応
点検出部２４は、縮小画面のデータ、縮小データ、縮小
パッチ設定部２３の設定データ及びエピポーラライン変
換部２２の計算データに基づいて、もう一方の縮小画像
のエピポーラライン上の探索範囲に関して対応点を相関
計算によって検出するものである。通常画像対応点検出
部２５は、縮小画像対応点検出部２４の検出データ、通
常画像のデータ、パッチ設定部２６の設定データ及びエ
ピポーララインのデータ基づいて、縮小画像上の対応点
位置から通常画像上の対応箇所を計算し、計測位置を指
定した方の通常画像においてパッチを設定し、もう一方
の通常画像のエピポーラライン上の対応箇所近傍のみに
関して対応点を相関計算によって検出することで対応点
を決定するものである。 【００３８】ここで、通常画像のデータ及び縮小画像の
データは、図８乃至図１０に示す三次元位置計測装置の
画像メモリ３１から供給される。以下同様に、縮小デー
タはパラメータメモリ３２から、計測点のデータは計測
位置指定部３３から、エピポーララインのデータはエピ
ポーラライン計算部３４からそれぞれ供給される。 【００３９】かくして本形態にかかる対応点探索装置に
おいては、通常解像度における計測点位置から縮小画像
における計測点位置を計算し、通常解像度におけるエピ
ポーララインから縮小画像におけるエピポーララインを
計算し、計測位置を指定した方の縮小画面において縮小
パッチを設定し、もう一方の縮小画像のエピポーラライ
ン上の探索範囲に関して対応点を相関計算によって検出
し、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応箇所
を計算し、計測位置を指定した方の通常画像においてパ
ッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーラライン
上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算によっ
て検出することで対応点を決定する。 【００４０】このように当該対応点探索装置では、広範
囲の対応点探索を縮小画面にて行い、縮小画面における
処理で検出された対応箇所近傍のみについて通常画面で
対応点探索を行うため、従来方式と同程度の精度でかつ
高速な対応点検出を行うことができるメリットがある。 【００４１】図８は、本発明の実施の形態に係る第１の
三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次元
位置計測方法１」を実現する装置を示すブロック図であ
る。同図に示すように、当該装置は、画像メモリ３１、
パラメータメモリ３２、計測位置指定部３３、エピポー
ラライン計算部３４、画像入力部３５、画像縮小部３
６、対応点探索部３７及び三次元位置計算部３８を有し
ている。これらのうち、画像メモリ３１は、画像入力部
３５を介して供給される通常の画像データを記憶すると
ともに、画像縮小部３６を介して供給される縮小画像デ
ータを記憶しておくものである。画像縮小部３６は、画
像メモリ３１から供給される通常の画像データとパラメ
ータメモリ３２から供給される縮小データに基づき所定
の縮小画像のデータを形成し、このデータを画像メモリ
３１に記憶させる。縮小データ及びカメラデータ等、当
該三次元位置計測に必要なパラメータはパラメータメモ
リ３２が記憶している。計測位置指定部３３には所望の
計測位置を指定することができるようになっている。エ
ピポーラライン計算部３４は、計測位置のデータとカメ
ラデータに基づいてエピポーララインのデータを計算す
るものである。対応点検索部３７は、図７に示す対応点
探索装置であり、通常画像のデータ、縮小画像のデー
タ、縮小データ、計測点のデータ及びエピポーラライン
のデータに基づき対応点のデータを計算により求める。
三次元位置計測装置３８は、対応点のデータ、計測位置
のデータ及びカメラデータに基づき対象物の三次元位置
を計算により求めるものである。 【００４２】かくして本形態にかかる三次元位置計測装
置においては、左右画像を入力し、左右画像から左右縮
小画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計
測位置とカメラデータからエピポーララインを計算し、
段階的解像度画像による対応点探索を行うことで対応点
を求め、計測位置、対応点、カメラデータから三次元位
置を計算することができる。 【００４３】このように当該三次元位置計測装置におい
ては、上述の如き三次元位置計測方法１（図４参照）を
実現し、その対応点データを用いて三次元位置計算を行
うため、従来方式と同程度の精度でかつ高速な三次元位
置計測を行うことができるメリットがある。 【００４４】図９は、本発明の実施の形態に係る第３の
三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次元
位置計測方法２」を実現する装置を示すブロック図であ
る。同図に示すように、当該装置は、図８に示す三次元
位置計測装置に直線型対応点実数化部３９を追加したも
のである。この直線型対応点実数化部３９は、前記「
直線型対応点実数化方式」における計算を実行する、す
なわち、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr
＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又
はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −Ｃ
+1）（但し、Ａ 0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ
0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含む
一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相関
値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第３
の点での相関値）の演算を実行するもので、この結果で
ある実数化対応点のデータを三次元位置計算部３８に供
給する。なお、図９中、図８と同一部分には同一番号を
付し、重複する説明は省略する。 【００４５】本形態に係る三次元位置計測装置において
は、左右画像を入力し、左右画像から左右縮小画像を作
り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測位置とカ
メラデータからエピポーララインを計算し、段階的解像
度画像による対応点探索を行うことで対応点を求め、直
線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計測位
置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算するこ
とができる。 【００４６】この装置は、対応点探索において図８に示
す三次元位置計測装置に加え、三次元位置計算を行う前
に、「直線型対応点実数化処理」を行うため、高精度か
つ高速な三次元位置計測を行うことができるメリットが
ある。 【００４７】図１０は、本発明の実施の形態に係る第３
の三次元位置計測装置を示すブロック図で、上記「三次
元位置計測方法３」を実現する装置を示すブロック図で
ある。同図に示すように、当該装置は、図８に示す三次
元位置計測装置に二次曲線型対応点実数化部４０を追加
したものである。この二次曲線型対応点実数化部４０
は、前記「二次曲線型対応点実数化方式」における計
算を実行する、すなわち図３に模式的に示すように、対
応点探索で得られた点を中心に幾つかの近傍点（３点以
上）の相関値データを二次曲線に近似し、得られた二次
曲線のピークの位置を対応点とする演算を実行するもの
で、この結果である実数化対応点のデータを三次元位置
計算部３８に供給する。なお、図１０中、図８と同一部
分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。 【００４８】本形態に係る三次元位置計測装置において
は、左右画像を入力し、左右画像から左右縮小画像を作
り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測位置とカ
メラデータからエピポーララインを計算し、段階的解像
度画像による対応点探索を行うことで対応点を求め、二
次曲線型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計
測位置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算す
ることができる。 【００４９】この装置は、対応点探索において図８に示
す三次元位置計測装置に加え、三次元位置計算を行う前
に、「二次曲線型対応点実数化処理」を行うため、高精
度かつ高速な三次元位置計測を行うことができるメリッ
トがある。 【００５０】 【発明の効果】以上、実施の形態とともに詳細に説明し
た通り、本発明によれば次の効果を得る。 対応点探索において計算量が格段に減少するため、
高速な処理を実現できる。 対応点探索において広範囲の探索を縮小画像で行
い、対応箇所近傍についてのみ通常画像による探索を行
うため、高速な処理でかつ従来の精度を確保することが
できる。 本発明に係る対応点探索法を対応点実数化処理と組
み合わせることで高速かつ高精度な三次元位置計測を実
現できる。 対応点探索に必要な処理時間が短いため、高速な処
理を要する作業にも対応できる。 高速な三次元位置計測が実現できるため、作業時間
に余裕がある場合、複数回の三次元位置計測を行い、計
測データの精度を向上させることができる。 高速な三次元位置計測が実現できるため、作業時間
に余裕がある場合、複数回の三次元位置計測を行い、計
測データの信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る段階的解像度画像に
よる対応点検索の態様を概念的に示す説明図である。 【図２】図１に示す段階的解像度画像による対応点検索
方法を示すフローチャートである。 【図３】本発明の実施の形態に係る二次曲線型対応点実
数化方式による対応点計算の一例を示す説明図である。 【図４】本発明の実施の形態に係る第１の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図５】本発明の実施の形態に係る第２の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図６】本発明の実施の形態に係る第３の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図７】本発明の実施の形態に係る段階的解像度画像に
よる対応点探索装置を示すブロック図である。 【図８】本発明の実施の形態に係る第１の三次元位置計
測装置を示すブロック図である。 【図９】本発明の実施の形態に係る第２の三次元位置計
測装置を示すブロック図である。 【図１０】本発明の実施の形態に係る第３の三次元位置
計測装置を示すブロック図である。 【図１１】従来技術に係る「相関マッチングの対応点位
置計測方法」の原理となる相関値変化の対称性を示す説
明図である。 【図１２】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第１の導出方法を示す説明
図である。 【図１３】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第２の導出方法を示す説明
図である。 【図１４】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第３の導出方法を示す説明
図である。 【図１５】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第４の導出方法を示す説明
図である。 【符号の説明】 ２１ 計測点変換部 ２２ エピポーラライン変換部 ２３ 縮小パッチ設定部 ２４ 縮小画像対応点検出部 ２５ 通常画像対応点検出部 ２６ パッチ設定部 ３１ 画像メモリ ３２ パラメータメモリ ３３ 計測位置指定部 ３４ エピポーラライン計算部 ３７ 対応点検索部 ３８ 三次元位置計算部 ３９ 直線型対応点実数化部 ４０ 二次曲線型対応点実数化部
よる対応点検索の態様を概念的に示す説明図である。 【図２】図１に示す段階的解像度画像による対応点検索
方法を示すフローチャートである。 【図３】本発明の実施の形態に係る二次曲線型対応点実
数化方式による対応点計算の一例を示す説明図である。 【図４】本発明の実施の形態に係る第１の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図５】本発明の実施の形態に係る第２の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図６】本発明の実施の形態に係る第３の三次元位置計
測方法を示すフローチャートである。 【図７】本発明の実施の形態に係る段階的解像度画像に
よる対応点探索装置を示すブロック図である。 【図８】本発明の実施の形態に係る第１の三次元位置計
測装置を示すブロック図である。 【図９】本発明の実施の形態に係る第２の三次元位置計
測装置を示すブロック図である。 【図１０】本発明の実施の形態に係る第３の三次元位置
計測装置を示すブロック図である。 【図１１】従来技術に係る「相関マッチングの対応点位
置計測方法」の原理となる相関値変化の対称性を示す説
明図である。 【図１２】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第１の導出方法を示す説明
図である。 【図１３】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第２の導出方法を示す説明
図である。 【図１４】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第３の導出方法を示す説明
図である。 【図１５】図１１に示す「相関マッチングの対応点位置
計測方法」における補間式の第４の導出方法を示す説明
図である。 【符号の説明】 ２１ 計測点変換部 ２２ エピポーラライン変換部 ２３ 縮小パッチ設定部 ２４ 縮小画像対応点検出部 ２５ 通常画像対応点検出部 ２６ パッチ設定部 ３１ 画像メモリ ３２ パラメータメモリ ３３ 計測位置指定部 ３４ エピポーラライン計算部 ３７ 対応点検索部 ３８ 三次元位置計算部 ３９ 直線型対応点実数化部 ４０ 二次曲線型対応点実数化部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2F065 AA04 DD06 DD07 FF05 JJ03
JJ05 JJ19 JJ26 QQ31 QQ41
UU05
5B057 CC03 DA07 DB03 DC34
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 通常解像度における計測点位置から縮小
画像における計測点位置を計算し、通常解像度における
エピポーララインから縮小画像におけるエピポーラライ
ンを計算し、計測位置を指定した方の縮小画面において
縮小パッチを設定し、もう一方の縮小画像のエピポーラ
ライン上の探索範囲に関して対応点を相関計算によって
検出し、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応
箇所を計算し、計測位置を指定した方の通常画像におい
てパッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーララ
イン上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算に
よって検出することで、対応点を決定することを特徴と
する対応点検索方法。 【請求項２】左右画像を入力し、左右画像から左右縮小
画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測
位置とカメラデータからエピポーララインを計算し、
〔請求項１〕に記載する対応点探索方法により対応点を
求め、計測位置、対応点、カメラデータから三次元位置
を計算することを特徴とする三次元位置計測方法。 【請求項３】左右画像を入力し、左右画像から左右縮小
画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測
位置とカメラデータからエピポーララインを計算し、
〔請求項１〕に記載する対応点探索方法により対応点を
求め、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr ＝
Ａ0 −（１／２）（Ｃ-1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又は
Ａr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ0 −
Ｃ+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、
Ｃ0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含
む一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相
関値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第
３の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方
式により対応点を再計算し、計測位置、対応点、カメラ
データから三次元位置を計算することを特徴とする三次
元位置計測方法。 【請求項４】左右画像を入力し、左右画像から左右縮小
画像を作り、計測位置を通常画像の一方で指定し、計測
位置とカメラデータからエピポーララインを計算し、
〔請求項１〕に記載する対応点探索方法により対応点を
求め、この対応点探索で得られた点を中心に３点以上の
幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似して得
られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次曲線
型対応点実数化方式により対応点を再計算し、計測位
置、対応点、カメラデータから三次元位置を計算するこ
とを特徴とする三次元位置計測方法。 【請求項５】〔請求項１〕に記載する対応点検索方法の
手順を記憶していることを特徴とする記憶媒体。 【請求項６】〔請求項２〕に記載する三次元位置計測方
法の手順を記憶していることを特徴とする記憶媒体。 【請求項７】〔請求項３〕に記載する三次元位置計測方
法の手順を記憶していることを特徴とする記憶媒体。 【請求項８】〔請求項４〕に記載する三次元位置計測方
法の手順を記憶していることを特徴とする記憶媒体。 【請求項９】 通常解像度における計測点位置から縮小
画像における計測点位置を計算する計測点変換手段と、
通常解像度におけるエピポーララインから縮小画像にお
けるエピポーララインを計算するエピポーラライン変換
手段と、計測位置を指定した方の縮小画面において縮小
パッチを設定する縮小パッチ設定手段と、もう一方の縮
小画像のエピポーラライン上の探索範囲に関して対応点
を相関計算によって検出する縮小画像対応点検出手段
と、縮小画像上の対応点位置から通常画像上の対応箇所
を計算し、計測位置を指定した方の通常画像においてパ
ッチを設定し、もう一方の通常画像のエピポーラライン
上の対応箇所近傍のみに関して対応点を相関計算によっ
て検出することで対応点を決定する通常画像対応点検出
手段とを有することを特徴とする対応点探索装置。 【請求項１０】左右画像を入力する画像入力手段と、左
右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の
一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメラデー
タからエピポーララインを計算するエピポーラライン計
算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を行うこ
とで対応点を求める〔請求項１〕に記載する対応点探索
手段と、計測位置，対応点，カメラデータから三次元位
置を計算する三次元位置計算手段とを有することを特徴
とする三次元位置計測装置。 【請求項１１】左右画像を入力する画像入力手段と、左
右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の
一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメラデー
タからエピポーララインを計算するエピポーラライン計
算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を行うこ
とで対応点を求める〔請求項１〕に記載する対応点探索
手段と、入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ａr
＝Ａ0 −（１／２）（Ｃ -1−Ｃ+1）／（Ｃ0 −Ｃ-1）又
はＡr ＝Ａ0 ＋（１／２）（Ｃ+1−Ｃ-1）／（Ｃ 0 −Ｃ
+1）（但し、Ａ0 は相関が最も強い第１の点の位置、Ｃ
0 は同第１の点での相関値、Ｃ-1は前記第１の点を含む
一次元上で第１の点の直前に位置する第２の点での相関
値、Ｃ+1は同一次元上で第１の点の直後に位置する第３
の点での相関値）の演算による直線型対応点実数化方式
により対応点を再計算することにより対応点を再計算す
る直線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カメ
ラデータから三次元位置を計算する三次元位置計算手段
とを有することを特徴とする三次元位置計測装置。 【請求項１２】左右画像を入力する画像入力手段と、左
右画像から左右縮小画像を作り、計測位置を通常画像の
一方で指定する画像処理手段と、計測位置とカメラデー
タからエピポーララインを計算するエピポーラライン計
算手段と、段階的解像度画像による対応点探索を行うこ
とで対応点を求める〔請求項１〕に記載する対応点探索
手段と、この対応点探索で得られた点を中心に３点以上
の幾つかの近傍点の相関値データを二次曲線に近似して
得られた二次曲線のピークの位置を対応点とする二次曲
線型対応点実数化方式により対応点を再計算する二次曲
線型対応点実数化手段と、計測位置，対応点，カメラデ
ータから三次元位置を計算する三次元位置計算手段とを
有することを特徴とする三次元位置計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10348315A JP2000171214A (ja) | 1998-12-08 | 1998-12-08 | 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10348315A JP2000171214A (ja) | 1998-12-08 | 1998-12-08 | 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000171214A true JP2000171214A (ja) | 2000-06-23 |
Family
ID=18396212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10348315A Pending JP2000171214A (ja) | 1998-12-08 | 1998-12-08 | 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000171214A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002183714A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 空間形状獲得処理方法およびそのための装置および空間形状獲得処理プログラムを記録した記録媒体 |
| JP2007025966A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | 画像処理方法、画像処理装置及び画像処理プログラム |
| JP2008216126A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Konica Minolta Holdings Inc | 距離画像生成装置、距離画像生成方法及びプログラム |
| JP2008216127A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Konica Minolta Holdings Inc | 距離画像生成装置、距離画像生成方法及びプログラム |
| WO2012001982A1 (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法 |
| WO2012060093A1 (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-10 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置及びステレオ画像処理方法 |
| JP5509441B1 (ja) * | 2013-12-26 | 2014-06-04 | 株式会社ベイビッグ | 対応点検出装置および対応点検出方法 |
| JP2015017921A (ja) * | 2013-07-12 | 2015-01-29 | 株式会社明電舎 | 摺り板形状計測装置 |
| JPWO2012172761A1 (ja) * | 2011-06-17 | 2015-02-23 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法 |
| WO2021193672A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 三次元モデル生成方法及び三次元モデル生成装置 |
-
1998
- 1998-12-08 JP JP10348315A patent/JP2000171214A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002183714A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 空間形状獲得処理方法およびそのための装置および空間形状獲得処理プログラムを記録した記録媒体 |
| JP2007025966A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Konica Minolta Photo Imaging Inc | 画像処理方法、画像処理装置及び画像処理プログラム |
| JP2008216126A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Konica Minolta Holdings Inc | 距離画像生成装置、距離画像生成方法及びプログラム |
| JP2008216127A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Konica Minolta Holdings Inc | 距離画像生成装置、距離画像生成方法及びプログラム |
| US8903135B2 (en) | 2010-06-30 | 2014-12-02 | Panasonic Corporation | Stereo image processing apparatus and method of processing stereo image |
| WO2012001982A1 (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法 |
| JP5810314B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2015-11-11 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法 |
| CN102906782A (zh) * | 2010-06-30 | 2013-01-30 | 松下电器产业株式会社 | 立体图像处理装置及立体图像处理方法 |
| US9148653B2 (en) | 2010-11-05 | 2015-09-29 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Stereo image processing device and stereo image processing method |
| CN103189715A (zh) * | 2010-11-05 | 2013-07-03 | 松下电器产业株式会社 | 立体图像处理装置及立体图像处理方法 |
| WO2012060093A1 (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-10 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置及びステレオ画像処理方法 |
| JP5874039B2 (ja) * | 2010-11-05 | 2016-03-01 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | ステレオ画像処理装置及びステレオ画像処理方法 |
| JPWO2012172761A1 (ja) * | 2011-06-17 | 2015-02-23 | パナソニック株式会社 | ステレオ画像処理装置およびステレオ画像処理方法 |
| JP2015017921A (ja) * | 2013-07-12 | 2015-01-29 | 株式会社明電舎 | 摺り板形状計測装置 |
| JP5509441B1 (ja) * | 2013-12-26 | 2014-06-04 | 株式会社ベイビッグ | 対応点検出装置および対応点検出方法 |
| WO2021193672A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 三次元モデル生成方法及び三次元モデル生成装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Zhu et al. | Generalized parallel-perspective stereo mosaics from airborne video | |
| US8208029B2 (en) | Method and system for calibrating camera with rectification homography of imaged parallelogram | |
| EP1589482B1 (en) | Three-dimensional image measuring apparatus and method | |
| EP1522051B1 (en) | Discrete linear space sampling method and apparatus for generating digital 3d models | |
| US6668082B1 (en) | Image processing apparatus | |
| US6516099B1 (en) | Image processing apparatus | |
| US7746377B2 (en) | Three-dimensional image display apparatus and method | |
| US7409152B2 (en) | Three-dimensional image processing apparatus, optical axis adjusting method, and optical axis adjustment supporting method | |
| CN108629810B (zh) | 双目相机的标定方法、装置及终端 | |
| EP4411627A1 (en) | Photogrammetry method, apparatus and device, and storage medium | |
| JPH09231373A (ja) | 三次元位置計測装置 | |
| CN111105452B (zh) | 基于双目视觉的高低分辨率融合立体匹配方法 | |
| CN101577004B (zh) | 一种极线矫正方法、装置和系统 | |
| CN112381847A (zh) | 管路端头空间位姿测量方法及系统 | |
| JP2000171214A (ja) | 対応点検索方法及びこれを利用した三次元位置計測方法 | |
| CN111932627A (zh) | 一种标识物绘制方法及系统 | |
| CN111833392A (zh) | 标记点多角度扫描方法、系统及装置 | |
| CN114792345A (zh) | 一种基于单目结构光系统的标定方法 | |
| CN113642397A (zh) | 一种基于手机视频的物体长度测量方法 | |
| KR20030054360A (ko) | 2차원 영상을 3차원 영상으로 변환하는 영상 변환 장치 및그 방법 | |
| JP3924576B2 (ja) | 写真測量による３次元計測方法及び装置 | |
| JP2981382B2 (ja) | パターンマッチング方法 | |
| JP2000028355A (ja) | ３次元画像処理装置 | |
| JP3296099B2 (ja) | 相関マッチングの対応点位置計測方法及び装置 | |
| JP4159373B2 (ja) | 写真測量における計測点の対応付け方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040823 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051219 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051227 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060425 |