JPH11323598A - 絶縁性パターンの形成方法 - Google Patents

絶縁性パターンの形成方法

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JPH11323598A
JPH11323598A JP33340298A JP33340298A JPH11323598A JP H11323598 A JPH11323598 A JP H11323598A JP 33340298 A JP33340298 A JP 33340298A JP 33340298 A JP33340298 A JP 33340298A JP H11323598 A JPH11323598 A JP H11323598A
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JP
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pattern
insulating
resin layer
insulating resin
substrate
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JP33340298A
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English (en)
Inventor
Kenzaburo Kawai
研三郎 川合
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 優れた電気特性を有する高品質の絶縁性パタ
ーンを高精度で、かつ、簡便な工程で安価に形成するた
めの方法を提供する。 【解決手段】 溶剤可溶性のポリイミドを含有する電着
液を用いて電着法により導電性のパターン上に絶縁樹脂
層を形成し、次に、この絶縁樹脂層に熱処理あるいは硬
化処理を施して絶縁性パターンとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は絶縁性パターンの形
成方法に係り、特に電着法を用いた絶縁性パターンの形
成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】有機物、セラミックス等からなる電子部
品用回路基板の絶縁膜の形成には、量産的にはスクリー
ン印刷、平版オフセット印刷、凹版印刷等のいわゆる印
刷法が広く用いられ、また、高密度・高精細パターンに
は感光性樹脂を用いて光学的に露光・現像する方法(フ
ォトリソグラフィー法)が常用されている。通念的には
フォトリソグラフィー法による回路形成は精密・高精度
ではあるが、工程は煩雑であり製造コストが高くなり、
この一方で、印刷法による場合は精度が低いが安価であ
るとされている。
【0003】印刷法でも電気特性があまり問題にならな
い場合にはオフセット印刷法などが使われるが、印刷膜
厚が薄い為に、高温高湿下での絶縁信頼性は低いという
問題点がある。
【0004】このような問題を解決する為に、印刷時の
インキ膜厚を増加して絶縁性を高める方法が採用されて
いる。その方法としてスクリーン印刷版を使用してペー
スト状インキをスクリーンメッシュ孔からスキージで押
し出すスクリーン印刷法が常用されている。
【0005】スクリーン印刷法は微細パターン等の形成
には不利であるが、数μm〜30μm程度の膜厚が得ら
れ、操作も簡便容易なので多用されている。
【0006】しかしながら、このようなスクリーン印刷
法には印刷原理に由来する本質的問題点が幾つか存在す
る。すなわち、スクリーン自体はシルク、ナイロンその
他の繊維、或いはステンレス等の金属細線を適当な開口
率を持つように編み上げたもので、これを木製あるいは
金属製の枠に張力をかけて貼り、緊張状態で固定し、そ
のスクリーン面にフォトレジスト等によりパターンマス
クを形成したものがスクリーン印刷版である。印刷はス
クリーン印刷版と被印刷物を若干(1〜5mm程度)離
した状態に配置し、マスクの存在しない開口部を通して
インキを高質ゴムその他の材料からなるスキージ板で圧
力をかけ、スクリーンを被印刷物面に接触するまでたわ
ませながら擦り込んで被印刷部に印刷する。スキージが
通過した部分はスクリーンがその弾性によって被印刷面
から直ちに離れるので良好な印刷パターンが形成され
る。
【0007】このような印刷プロセスにおいては、スク
リーン自体を緊張状態で枠に固定するために、局部的に
固定の弱い部分が発生すると変形が起り、形成されてい
るパターンの形状やピッチ等に変化が生じることがある
という問題がある。
【0008】また、固定が良好であっても印刷過程での
スキージ圧により、スクリーンに一時的に伸びが生じる
が、多数回印刷中に伸びの復元性が弱まり、次第にスク
リーンの緊張状態が低下し、これがパターン寸法やピッ
チ等に狂いを発生させるという問題がある。
【0009】これらは高寸法精度が必要なパターン形状
やピッチ精度に悪影響を及ぼし、特に印刷面積が大きい
場合に顕著に現れ、スクリーン印刷版の使用回数を低下
させたり、場合によっては最初から要求精度を満足させ
ることが出来ないということも生じ得る。
【0010】スクリーン印刷の別の問題としては、イン
キをスキージを用いてスクリーン目から押し出して印刷
するために、薄膜印刷に対してはスクリーン目の跡が発
生しやすいので、印刷後インキをフローさせてスクリー
ン目をなくすなどインキ面の平滑化処理が必要となる。
従って、インキ層が薄いとフローが起らない。また、イ
ンキの押し出し印刷のためにパターン自体の高精度化や
微細化に限度があり、一般的に量産に適するものとして
は最小線幅が70〜100μmとなる。従って、より細
線パターンを形成するために高価なフォトリソグラフィ
ー法を使用せざるを得ない。
【0011】また、厚膜印刷には有利であるが実際に膜
厚を正確に限定する使用に対しては、インキの粘度やそ
の他の諸特性やスキージ角度、材質、速度等の厳密な制
御が必要であり、大面積印刷の厳密な膜厚制御がほとん
ど不可能な場合が多い。
【0012】以上のようにスクリーン印刷法は簡便容易
な方法であるものの、高精度、精密印刷に対してはその
機能に明確な限界があることが明らかである。
【0013】また、回路基板における絶縁層の形成方法
の一つとして、所望の導電性パターンを形成した後、こ
の導電性パターン上に電気絶縁性の樹脂を含有した電着
液を使用し電着法で絶縁樹脂層を形成して絶縁性パター
ンとする方法がある。このような絶縁性パターンの形成
方法に従来から使用されている樹脂としては、エポキシ
樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられる。
【0014】しかし、絶縁性樹脂として使用されるエポ
キシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂等は、電気絶縁
性、耐熱性等の特性を同時に満足するものではなく、形
成された絶縁性パターンは特性面で不十分なものであっ
た。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】一方、優れた絶縁性と
耐熱性とを備えるものとしてポリイミド樹脂が従来から
知られており、上述の電着法によりポリイミド樹脂から
なる絶縁性パターンを形成する方法が提案されている。
この形成方法は、ポリイミド樹脂の前駆体であるポリア
ミック酸を含有した電着液を使用し、電着法で所望のパ
ターンを形成した後、350℃以上の熱処理を行ってポ
リイミド樹脂とすることにより絶縁性パターンを得るも
のである。
【0016】しかしながら、ポリアミック酸を含有する
電着液は、液中に含まれる水分によりポリアミック酸が
加水分解して保存安定性が短いという問題がある。ま
た、銅上でポリアミック酸からポリイミドを形成するイ
ミド化時の熱処理により、ポリイミド中への銅溶出を引
き起こし、それにより電気絶縁性および密着性の低下を
引き起こすという問題があった。
【0017】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、優れた電気特性を有する高品質の絶縁性
パターンを高精度で、かつ、簡便な工程で安価に形成す
るための方法を提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明の絶縁性パターンの形成方法は、導電
性のパターン上に溶剤可溶性のポリイミドを含有する電
着液を用いて電着法により絶縁樹脂層を形成し、その
後、前記絶縁樹脂層に熱処理もしくは硬化処理を施して
絶縁性パターンとするような構成とした。
【0019】そして、上記において、導電性のパターン
が回路基板上に形成された配線パターンであるような構
成とした。
【0020】また、本発明の絶縁性パターンの形成方法
は、少なくとも表面が導電性の転写基板上に絶縁材料か
らなるパターンを形成し、前記パターンの形成されてい
ない前記転写基板上に溶剤可溶性のポリイミドを含有す
る電着液を用いて電着法により絶縁樹脂層を剥離可能に
形成して転写版とし、次に、基板の一方の面に前記転写
版を圧着し、前記転写基板を剥離することにより前記絶
縁樹脂層を前記基板上に転写し、その後、前記絶縁樹脂
層に熱処理もしくは硬化処理を施して絶縁性パターンと
するような構成とした。
【0021】また、前記絶縁樹脂層が凝集破壊を生じな
がら前記基板上に転写されるような構成とした。
【0022】また、絶縁材料からなるパターンが形成さ
れていない転写基板面に、導電性を阻害しない剥離層を
予め設け、該剥離層上に絶縁樹脂層を形成した転写版を
使用するような構成とした。
【0023】さらに、絶縁材料からなるパターンが形成
されていない転写基板面に、転写基板に対する接着性の
弱い剥離性金属薄膜を予め設け、該金属薄膜上に絶縁樹
脂層を形成した転写版を使用し、基板上への転写におい
て、絶縁樹脂層と金属薄膜とを共に基板面に転写するよ
うな構成、転写後に前記金属薄膜のみを溶解除去するよ
うな構成とした。
【0024】また、本発明の絶縁性パターンの形成方法
は、上記の溶剤可溶性のポリイミドがブロックポリイミ
ドであるような構成とした。
【0025】このような本発明では、電着法により導電
性のパターン上に形成された絶縁樹脂層にはポリイミド
が含有され、この絶縁樹脂層に施す硬化処理によって、
絶縁樹脂層は電気絶縁性、耐熱性および基板密着性に優
れた絶縁性パターンとなり、また、絶縁樹脂層がポリイ
ミドの前駆体であるポリアミック酸ではないため、ポリ
アミック酸のイミド化工程は必要なく、そのためイミド
化によりポリイミド中への導電成分の移行はほとんど防
止される。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
【0027】図1は本発明の絶縁性パターンの形成方法
の一実施形態を示す工程図である。図1において、導電
性基板1上にフォトレジストを塗布してフォトレジスト
層2を形成し(図1(A))、所定のフォトマスクを用
いてフォトレジスト層2を密着露光し現像して導電性基
板1上に導電性のパターン1aを形成する(図1
(B))。次に、導電性基板1の導電性のパターン1a
上に、溶剤可溶性のポリイミドを含有する電着液を用い
て電着法により絶縁樹脂層3´を形成する(図1
(C))。絶縁樹脂層3´の厚みは、絶縁性パターンに
対する要求特性、使用する電着液等により適宜設定する
ことがで、例えば、0.5〜100μmの範囲で設定で
きる。その後、フォトレジスト層2を除去し、絶縁樹脂
層3´に硬化処理(加熱処理、光照射処理等)を施すこ
とにより、ポリイミド樹脂を含有した絶縁性パターン3
とする(図1(D))。
【0028】このようにして形成された絶縁性パターン
3は、優れた電気絶縁性と耐熱性を有し、基板密着性に
優れたものである。
【0029】また、図2は本発明の絶縁性パターンの形
成方法の他の実施形態を示す工程図である。図2におい
て、転写基板としての導電性基板11上にフォトレジス
トを塗布してフォトレジスト層12を形成し(図2
(A))、所定のフォトマスクを用いてフォトレジスト
層12を密着露光し現像して導電性基板11上に導電性
のパターン11aを形成する(図2(B))。次に、導
電性基板11の導電性のパターン11a上に、溶剤可溶
性のポリイミドを含有する電着液を用いて電着法により
絶縁樹脂層13´を剥離可能に形成して転写版10とす
る(図2(C))。尚、絶縁樹脂層13´の剥離性を良
好なものとするために、予め導電性基板11にAuメッ
キ、フッ素含有メッキ、有機薄膜(オルガノシロキサン
等)形成等の処理を行ってもよい。
【0030】次いで、基板21上に、上記の転写版10
を絶縁樹脂層13´が基板21に当接するように圧着す
る。この圧着は、ローラ圧着、プレート圧着、真空圧着
等、いずれの方法にしたがってもよい。また、絶縁樹脂
層13´が加熱により粘着性あるいは接着性を発現する
場合には、熱圧着を行うこともできる。その後、導電性
基板11を剥離して絶縁樹脂層13´を基板21上に転
写し(図2(D))、絶縁樹脂層13´に硬化処理(加
熱処理、光照射処理等)を施すことにより、ポリイミド
樹脂を含有した絶縁性パターン13を基板21上に形成
する(図2(E))。
【0031】このようにして形成された絶縁性パターン
13は、優れた電気絶縁性と耐熱性を有し、基板21に
対する密着性に優れたものである。
【0032】さらに、図3は本発明の絶縁性パターンの
形成方法の他の実施形態を示す工程図である。図3にお
いて、転写基板としての導電性基板31上にフォトレジ
ストを塗布してフォトレジスト層32を形成し(図3
(A))、所定のフォトマスクを用いてフォトレジスト
層32を密着露光し現像して導電性基板31上に導電性
のパターン31aを形成する(図3(B))。次に、導
電性基板31の導電性のパターン31a上にメッキ法に
より導電性層(金属薄膜)34を剥離可能に形成する
(図3(C))。尚、導電性層34の剥離性を良好なも
のとするために、予め導電性基板31にアルカリ脱脂、
電解脱脂等の脱脂処理、塩酸、硫酸、クロム酸等による
酸処理等を行ってもよい。次いで、導電性層34上に、
溶剤可溶性のポリイミドを含有する電着液を用いて電着
法により絶縁樹脂層33´を形成して転写版30とする
(図3(D))。
【0033】その後、基板41上に、上記の転写版30
を絶縁樹脂層33´が基板41に当接するように圧着す
る。この圧着は、ローラ圧着、プレート圧着、真空圧着
等、いずれの方法にしたがってもよい。また、絶縁樹脂
層33´が加熱により粘着性あるいは接着性を発現する
場合には、熱圧着を行うこともできる。その後、導電性
基板31を剥離して絶縁樹脂層33´および導電性層3
4を基板41上に転写し、絶縁樹脂層33´に硬化処理
(加熱処理、光照射処理等)を施すことにより、上層に
導電性層34を積層して備えた絶縁性パターン33を基
板41上に形成する(図3(E))。
【0034】このようにして形成された絶縁性パターン
33は、優れた電気絶縁性と耐熱性を有し、基板41に
対する密着性に優れたものである。
【0035】転写版30を構成する導電性層34の材料
は、メッキ法により薄膜形成が可能で、導電性基板31
に対して剥離可能なものであれば特に制限はなく、例え
ば、銅、銀、金、ニッケル、クロム、亜鉛、すず、白金
等を用いることができる。
【0036】また、導電性層34の形成はメッキ法に限
定されるものではなく、蒸着法、スパッタリング法等の
公知の薄膜形成方法を用いることができる。
【0037】尚、絶縁性パターン33を形成した後に、
導電性層34のみを溶解除去してもよい。
【0038】上述のような本発明の絶縁性パターンの形
成方法において使用する電着液は、溶剤可溶性のポリイ
ミドを含有する電着液である。使用するポリイミドの合
成に用いられる酸ジ無水物は特に限定されないが、例え
ば3,4,3′,4′ビフェニルテトラカルボン酸ジ無
水物、3,4,3′,4′ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸ジ無水物、2,3,3′,4′ビフェニルエーテル
テトラカルボン酸ジ無水物、3,4,3′,4′ビフェ
ニルスルホンテトラカルボン酸ジ無水物、ビス(ジカル
ボキシルフェニル)プロパンジ無水物、4,4′−
[2,2,2−トリフルオロ−1−(トリフルオロメチ
ル)エチリデン]ビス(1,2−ベンゼンジカルボン酸
ジ無水物)(6FDA)、ビストリフルオロメチル化ピ
ロメリット酸、ビス(ジカルボキシフェニル)スルホン
ジ無水物、ビス(ジカルボキシフェニル)エーテルジ無
水物、チオフェンテトラカルボン酸ジ無水物、ピロメリ
ット酸ジ無水物、1,2,5,6ナフタレンテトラカル
ボン酸ジ無水物、2,3,5,6−ピリジンテトラカル
ボン酸ジ無水物等の芳香族酸ジ無水物;1,2,3,4
−ブタンテトラカルボン酸ジ無水物、シクロペンタンテ
トラカルボン酸ジ無水物、ビシクロオクテンテトラカル
ボン酸、ビシクロ(2,2,2)−オクト−7−エン−
2,3,5,6−テトラカルボン酸ジ無水物、エチレン
グリコールビス(アンヒドロトリメテート)、5(2,
5−ジオキソテトラヒドロフリル)3−メチル−3シク
ロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物等の脂肪族酸
ジ無水物等を挙げることができる。これらは単独、又は
二種以上の組み合わせで使用されるが、酸ジ無水物、芳
香族ジアミンを選びポリイミドにする場合、これらの組
み合わせが溶剤可溶となる組成を選ぶ必要がある。
【0039】また、本発明の電着用ポリイミドに使用さ
れる芳香族ジアミンとしては特に限定されないが、例え
ば、2,4(又は、2,5−)ジアミノトルエン、1,
4ベンゼンジアミン、1,3ベンゼンジアミン、6−メ
チル−1,3−ベンゼンジアミン、4,4′−ジアミノ
−3,3′−ジメチル−1,1′−ビフェニル、4,
4′−アミノ−3,3′−ジメトキシ−1,1′−ビフ
ェニル、4,4′−メチレンビス(ベンゼンアミン)、
4,4′−オキシビス(ベンゼンアミン)、3,4′−
オキシビス(ベンゼンアミン)、3,5−ジアミン安息
香酸、3,3′−カルボキニル(ベンゼンアミン)、
4,4′−チオビス(ベンゼンアミン)、4,4′−ス
ルホニル(ベンゼンアミン)、3,3′−スルホニル
(ベンゼンアミン)、1−メチルエチリジン−4,4′
−ビス(ベンゼンアミン)、3,3′−ジクロロ−4,
4′−ジアミノビフェニル、3,3′−ジニトロ−4,
4′−ジアミノビフェニル、3,3′−ジアミノベンゾ
フェノン、1,5−ジアミノナフタレン、1−トリフル
オロメチル−2,2,2−トリフルオロエチリジン−
4,4′−ビス(ベンゼンアミン)、1,1,1,3,
3,3−ヘキサフルオロ−2−ビス−4(4−アミノフ
ェニル)プロパン、4,4′−ジアミノベンズアニリ
ド、2,6−ジアミノピリジン、4,4′−ジアミノ−
3,3′,5,5′−テトラメチルビフェニル、2,2
−ビス(4(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパ
ン、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)ス
ルホン、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニ
ル)スルホン、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フ
ェニル)エチル、1,4−ビス(4−アミノフェノキ
シ)ベンゼン、1,3ビス(3−アミノフェノキシ)ベ
ンゼン、9,9′−ビス(4−アミノフェニル)フルオ
レン、ベンジジン−3,3−ジカルボン酸、4,4′−
(または、3,4′−、3,3′−、2,4′−)ジア
ミノ−ビフェニルエーテル、ジアミノシラン化合物等を
挙げることかできる。これらは単独でも用いることがで
き、また、二種以上混合してポリイミド組成物とするこ
ともできる。
【0040】使用する溶剤可溶のポリイミドの具体例と
して、下記のものを挙げることができる。 (1)シロキサン骨格を含有することにより溶剤可溶化
したポリイミド:ビス(γ−アミノプロピル)ポリジメ
チルシロキサン、ビス(γ−アミノプロピル)ポリジフ
ェニルシロキサン、シルセスキオキサン等を使用して合
成したポリイミド、架橋性シロキサンモノマー(例え
ば、ビニル基を有するジアミノシロキサン等)を使用し
て合成したポリイミド等 (2)アルキル鎖を含有することにより溶剤可溶化した
ポリイミド:ポリプロピレングリコキシジアミン等を使
用して合成したポリイミド等 (3)フッ素基を含有することにより溶剤可溶化したポ
リイミド:テトラフェニルフラン、ビストリフルオロメ
チル化ピロメリット酸等 (4)嵩高い置換基・骨格を含有することにより溶剤可
溶化したポリイミド:テトラフェニルチオフェン、テト
ラフェニルピロール、テトラフェニルエチレン、トリフ
ェニルアミン、トリ(またはテトラ)フェニルテルフェ
ニル等の側鎖置換基を有する芳香族ジアミン、またはテ
トラカルボン酸を使用して合成したポリイミド等 (5)主鎖中に折り曲がり構造、あるいは、非平面構造
を導入することにより溶剤可溶化したポリイミド:ジフ
ェニルフルオレン、オルトフェニレン、ビフェニル−
2,2−ジイル、1,1−ビナフチル−2,2−ジイル
等を有するモノマー、例えば、2,3−ジフェニルキノ
キサリン、2,2−ビスフェノキシ−1,1−ビナフチ
ル等のジアミンや、ビシクロオクテンテトラカルボン酸
等を使用して合成したポリイミド等 (6)極性溶媒と強い相互作用のある側鎖置換基を導入
することにより溶剤可溶化したポリイミド:水酸基、カ
ルボキシル基、アミノ基、スルホン基、ホスホン基、チ
オール基、ニトロ基等を有するモノマーを使用して合成
したポリイミドであり、例えば、ジアミノ安息香酸を使
用して合成したポリイミド、水酸基をもつベンゾヒドロ
ール構造のポリイミド等 (7)アミド結合を有することにより溶剤可溶化したポ
リイミド (8)脂環式構造を有することにより溶剤可溶化したポ
リイミド:シクロペンタン環を有するポリイミド等 (9)低分子量(分子量10000以下)の溶剤可溶化
ポリイミド:熱硬化型ポリイミドを必要に応じて使用す
ることができ、架橋するポリイミドとしてアセチレン
基、ビニル基、ビスマレイミド基、ナジック基等を有す
るモノマーで合成されたポリイミドを使用することがで
きる (10)イソイミドを有することにより溶剤可溶化した
ポリイミド (11)上記(1)〜(10)に示されるポリイミドの
2以上を複合して合成したポリイミド上記のようなポリ
イミドの電着液における含有量は、使用するポリイミ
ド、絶縁性パターンの要求特性等を考慮して適宜設定す
ることができ、例えば、2〜40重量%の範囲で設定す
ることができる。また、本発明の絶縁性パターンの形成
方法において使用する電着液は、従来から絶縁性樹脂層
の形成に使用されていた電着液に含有されるような公知
の添加剤を含有するものであってよい。
【0041】
【実施例】次に、実施例を示して本発明を更に詳細に説
明する。 (実施例1)導電性基板として、表面を研磨した厚さ
0.2mmのステンレス基板を準備し、このステンレス
基板上に市販のフォトレジスト(東京応化工業(株)製
OMR85)を厚さ1μmに塗布乾燥し、配線パター
ンが形成されているフォトマスクを用いて密着露光を行
った後、現像・水洗・乾燥し、さらに熱硬化を行って導
電性のパターンを形成した。
【0042】次に、下記のように6種の電着液(1、A
〜E)を調製した。 (1)電着液1(ポリイミド電着液)の調製 1l容量の三つ口セパラブルフラスコに、3,4,3′
4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸ジ無水物(BT
DA)32.22g(0.1モル)、ビス(4−(3−
アミノフェノキシ)フェニル)スルホン(m−BAP
S)21.63g(0.05モル)、γ−バレロラクト
ン1.5g(0.015モル)、ピリジン2.4g
(0.03モル)、Nメチル2ピロリドン(NMP)2
00g、トルエン30gを加えて、ステンレス製イカリ
撹拌器、窒素導入管及びストップコックの付いたトラッ
プの上に玉付き冷却管をつけた還流冷却器を取り付け
た。次に、窒素気流を流しながら温度調整機のついたシ
リコーン浴中にセパラブルフラスコを漬けて加熱した。
この加熱は、まず、室温で30分撹拌(200rp
m)、ついで昇温して180℃で1時間撹拌(200r
pm)しながら反応させた。次に、トルエン−水留出分
15mlを除去し、空冷した後、BTDA16.11g
(0.05モル)、3,5ジアミノ安息香酸(以後DA
Bzと呼ぶ)15.216g(0.1モル)、NMP1
19g、トルエン30gを添加し、室温で30分撹拌
(200rpm)した後、昇温して180℃で加熱撹拌
しトルエン−水留出分15mlを除去した。その後、ト
ルエン−水留出分を系外に除きながら、180℃で3時
間の加熱撹拌を行って反応を終了した。これにより、2
0%ポリイミドワニス(1)を得た。酸当量(1個のC
OOHあたりのポリマー量は851.74)は65.8
7であった。
【0043】上記の20%濃度ポリイミドワニス(1)
100gに3SN(NMP:テトラヒドロチオフェン−
1,1−ジオキシド=1:3(重量)の混合溶液)15
0g、ベンジルアルコール75g,メチルモルホリン
5.0g(中和率200%)、水30gを加えて撹拌し
絶縁接着性電着液1を調製した。得られた絶縁接着性電
着液1は、ポリイミド含有率7.4%、pH7.8の暗
赤褐色透明液であった。 (2)電着液A(エポキシ電着液)の調製 ビスフェノールAのジグリシジルエーテル(エポキシ当
量910)1000重量部を撹拌下に70℃に保ちなが
らエチレングリコールモノエチルエーテル463重量部
に溶解させ、さらにジエチルアミン80.3重量部を加
えて100℃で2時間反応させてアミンエポキシ付加物
(成分(A))を調製した。
【0044】一方、コロネートL(日本ポリウレタン
(株)製ポリイソシアネート;NCO13%の不揮発分
75重量%)875重量部にジブチル錫ラウレート0.
05重量部を加え50℃に加熱して2−エチルヘキサノ
ール390重量部を添加し、その後、120℃で90分
間反応させた。得られた反応生成物をエチレングリコー
ルモノエチルエーテル130重量部で希釈して成分
(B)を得た。
【0045】上記の成分(A)1000重量部及び成分
(B)400重量部からなる混合物を氷酢酸30重量部
で中和した後、脱イオン水570重量部を用いて希釈
し、不揮発分50重量%の樹脂(I)を調製した。
【0046】次に、樹脂(I)200.2重量部(樹脂
成分86.3容量)、脱イオン水583.3重量部およ
びジブチル錫ラウレート2.4重量部を配合してエポキ
シ電着液Aを調製した。 (3)電着液Bは、アクリル樹脂系のニューペイントク
リアーA7X(上村工業(株)製)を使用した。 (4)電着液C(ポリブタジエン電着液)の調製 ポリブタジエン(数平均分子量1800、1.2結合の
含有率64%)を過酢酸を用いてエポキシ化し、オキシ
シラン酸素含有量6.5%のエポキシ化ポリブタジエン
を製造した。清浄な4ツ口フラスコ(容量3l)に上記
エポキシ化ポリブタジエン1000重量部とエチルセロ
ソルブ377重量部およびメチルエタノールアミン13
1重量部を仕込み、170℃で6時間反応させた。その
後、この反応生成物を120℃まで冷却し、アクリル酸
81.4重量部、ハイドロキノン8.8重量部およびエ
チルセロソルブ27.1重量部を加え、120℃で4時
間反応させ、カチオン化ポリブタジエンを得た。得られ
たカチオン化ポリブタジエンのアミン価は108ミリ当
量/100g、酸価は5.5mgKOH/g、固形分濃
度は75重量%であった。
【0047】次に、カチオン化ポリブタジエン40重量
部に酢酸3重量部を加え、水を徐々に加えて固形分20
%まで希釈してポリブタジエン電着液(電着液C)を得
た。 (5)電着液D(アジドアクリルアニオン電着液)の調
製 4つ口フラスコにジエチレングリコールジメチルエーテ
ル290重量部を入れ、撹拌しながら、110℃に昇温
した後、n−ブチルメタアクリレート202重量部、ア
クリル酸24重量部、m−イソプロペニル−α,α−ジ
メチルベンゾイルイソシアネート92重量部、アゾビス
ブチロバレロニトリル20重量部の混合溶液を3時間か
けて滴下し、1時間保った後、メチルイソブチルケトン
14重量部、アゾブチロバレロニトリル3重量部の混合
溶液を1時間かけて滴下し、さらに2時間保った。その
後、50℃に温度を下げ水酸基含有オルトキノンジアジ
ド化合物1を142重量部、ジブチルチンジアセテート
4.6重量部を添加し、3時間保った後、赤外スペクト
ルの2250cm-1付近のイソシアネート基の吸収が無
くなったのを確認し、アジドアクリル樹脂(酸価40.
7、分子量:7000)を得た。次いで、このアジドア
クリル樹脂溶液にトリエチルアミン33重量部を加えて
十分に中和した後、固形分が10%になるように脱イオ
ン水を加えてアジドアクリルアニオン電着液(電着液
D)を調製した。 (6)電着液E(アニオン性電着粘着剤)の調製 メチルメタクリレート40重量部、エチルメタクリレー
ト35重量部、2−ヒドロキシエチルメタクリレート1
5重量部、アクリル酸10重量部及びアゾビスイソブチ
ロニトリル2重量部からなる混合系を窒素ガス雰囲気下
において105℃に保持したジオキサン100重量部中
に3時間を要して滴下し、更に同温度で1時間熟成させ
て、アクリル樹脂(酸価75、Tg65℃)溶液(A)
を得た。
【0048】また、コータックWE−866(東レ
(株)製:固形分酸価56.8、水酸基価43)68重
量部、サイメル285(三井東圧化学(株)製メラミン
樹脂)35.3重量部、トリエチルアミン0.7部の混
合物に脱イオン水721重量部を加え、均一なエマルジ
ョン(B)を得た。このエマルジョン(B)に上記の溶
液(A)175重量部を加え、アニオン性電着粘着剤
(電着液E)を得た。
【0049】次に、上記の各電着液(1、A〜E)を使
用して、上記のステンレス基板の導電性パターン上に下
記の条件で電着を行って絶縁樹脂層を形成し、その後、
この絶縁樹脂層に下記表1の熱処理を施して厚さ約10
μmの絶縁パターン1〜6を形成した。
【0050】 電着液1:150V、90秒間 電着液A:100V、180秒間 電着液B:100V、180秒間 電着液C:120V、120秒間 電着液D:150V、180秒間 電着液E:100V、180秒間
【0051】
【表1】 上記のようにして形成した絶縁性パターン1〜6ステン
レス基板から剥離して、電着性(パターン解像度)、ガ
ラス転移点(Tg)、熱分解温度、加熱減少率、電気絶
縁性を測定、評価して下記の表2に示した。 (熱分解温度の測定)パーキンエルマー(株)製の熱重
量分析装置(TGA)を使用して重量減少を測定し、重
量減少率が10%を超える温度を熱分解温度とした。 (加熱減少率)パーキンエルマー(株)製の熱重量分析
装置(TGA)を使用し、250℃で1時間加熱した後
の重量減少率を測定した。 (電気絶縁性)85℃、85%RHの環境下で絶縁性パ
ターンに30Vの電圧を印加して抵抗値を測定した。
【0052】
【表2】 表2に示されるように、本発明により形成された絶縁性
パターン1は、電着性(パターン解像度)が良好で、耐
熱性(ガラス転移点(Tg)、熱分解温度、加熱減少
率)および電気絶縁性に優れるものであった。
【0053】これに対して、電着液A〜Eを使用して形
成された絶縁性パターン2〜6は、絶縁性パターン1に
比べて耐熱性(ガラス転移点(Tg)、熱分解温度、加
熱減少率)および電気絶縁性とも劣るものであった。 (実施例2)導電性基板として、表面を研磨した厚さ
0.2mmの銅基板を準備し、この銅基板上に実施例1
と同様にして導電性のパターンを形成した。
【0054】次に、実施例1と同じ電着液1を使用し、
上記の銅基板の導電性パターン上に絶縁樹脂層を形成
し、その後、この絶縁樹脂層に硬化処理(300℃、1
時間)を施して厚さ約10μmの絶縁パターンIを形成
した。
【0055】また、下記のポリアミック酸含有電着液を
使用し、銅基板の導電性パターン上に絶縁樹脂層を形成
し、その後、この絶縁樹脂層に硬化処理(350℃、1
時間)を施して厚さ約10μmの絶縁パターンIIを形成
した。 (ポリアミック酸含有電着液の調製)撹拌機、還流冷却
機及び窒素導入管を備えた容器に、ビス〔4−{4−
(アミノフェノキシ)フェノキシ}フェニル〕スルホン
61.67g(0.1モル)とN.N−ジメチルアセト
アミド473gを装填し、室温で窒素雰囲気下にピロメ
リット酸ジ無水物21.8g(0.1モル)を溶液温度
の上昇に注意しながら加え、室温で約20時間撹拌し
た。このようにして得られたポリアミド酸の対数粘度は
1.52dl/gであった。なお、対数粘度はN.N−
ジメチルアセトアミドを溶媒とし、濃度0.5g/10
0ml溶媒、35℃で測定した値である。
【0056】このポリアミド酸溶液中にジメチルエタノ
ールアミン17.8g(対カルボキシル当量90モル
%)を徐々に加え、20分間室温にて撹拌後、水26
0.4gを撹拌しつつ徐々に室温にて加え水希釈してポ
リアミック酸電着液(樹脂濃度10重量%)を調製し
た。
【0057】上記のようにして形成した絶縁性パターン
I、IIを銅基板から剥離して、実施例1と同様にして電
着性(パターン解像度)、ガラス転移点(Tg)、熱分
解温度、加熱減少率、電気絶縁性を測定、評価して下記
の表3に示した。
【0058】
【表3】 表3に示されるように、本発明により形成された絶縁性
パターンIは、電着性(パターン解像度)が良好で、耐
熱性(ガラス転移点(Tg)、熱分解温度、加熱減少
率)および電気絶縁性に優れるものであった。
【0059】これに対して、ポリアミック酸含有電着液
を使用して形成された絶縁性パターンIIは、耐熱性(ガ
ラス転移点(Tg))には優れるものの、絶縁性パター
ンIに比べて電気絶縁性、熱分解温度、加熱減少率が劣
るものであった。 (実施例3)転写による絶縁パターンの形成(剥離層) (1)転写用原版1の作製 導電性の転写基板として、厚さ0.2mmのステンレス
板を準備し、このステンレス板上に市販のメッキ用フォ
トレジスト(東京応化工業(株)製OMR85)を厚さ
1μmに塗布してプリベーク(80℃、30分)し、所
定パターンのフォトマスクを用いて密着露光を行った
後、現像・リンス・乾燥し、さらに熱硬化(150℃、
30分)を行って絶縁層を備えた転写用原版1を作製し
た。 (2)剥離層付き転写原版2の作製 転写用原版1を、10%塩酸水溶液で洗浄した後、Ni
電着液中にフッ素系樹脂の微粒子を分散させた複合メッ
キ浴(上村工業(株)製メタフロン溶液(PTFE含有
スルファミン酸Ni液))中に浸漬し、液温50℃、電
流密度5A/dm2 で転写用原版を陰極として通電し3
〜3.5μmの厚さに複合メッキして剥離層を形成し転
写用原版2を作製した。 (3)転写用原版2における絶縁樹脂層の形成(転写版
の作製) 上記の転写用原版2と白金電極とを対向させて実施例1
のポリイミド電着液1に浸漬し、直流電源の陽極に転写
用原版を陰極に白金電極をそれぞれ接続し、150Vの
電圧で180秒の電着を行い、これに80℃、5分の熱
処理をして、導電性の剥離層上に厚さ約20μmの絶縁
樹脂層を形成して転写版を得た。 (4)絶縁性パターンの形成 上記(3)で作製した転写版をアルミニウム基版上に下
記の条件で圧着して絶縁樹脂層を転写した。この転写で
は、剥離層は転写版に残り、絶縁樹脂層のみが転写され
た。その後、250℃、30分の熱処理により絶縁樹脂
層を硬化させ、絶縁性パターンを形成した。
【0060】(転写条件) 温度:180℃ 圧力:10kgf/cm2 (実施例4) (1)剥離層付き転写原版3の作製 実施例3の転写用原版1の表面に、市販の剥離剤に使用
しているオルガノシロキサンの希薄溶液を1500回転
のスピンナーコートで塗布、乾燥して剥離層を形成し、
転写用原版3を作製した。 (2)転写用原版3における絶縁樹脂層の形成(転写版
の作製) 上記の転写用原版3と白金電極とを対向させて実施例1
のポリイミド電着液1に浸漬し、直流電源の陽極に転写
用原版を陰極に白金電極をそれぞれ接続し、50Vの電
圧で3分間の電着を行い、これを80℃、10分間で乾
燥し、剥離層上に厚さ20μmの絶縁樹脂層を形成して
転写版を得た。 (3)絶縁性パターンの形成 上記(2)で作製した転写版を厚さ25μmのポリイミ
ドフィルム基版上に下記の条件で圧着して絶縁樹脂層の
みを転写した。その後、350℃、30分の熱処理によ
り絶縁樹脂層を硬化させ、絶縁性パターンを形成した。
【0061】(転写条件) 温度:180℃ 圧力:5kgf/cm2 (実施例5)転写による絶縁パターンの形成(剥離層:
めっき) (1)転写用原版の作製 導電性の転写基板として、脱脂された厚さ0.2mmの
ステンレス板を準備し、このステンレス板上に市販のメ
ッキ用フォトレジスト(東京応化工業(株)製OMR8
5)を厚さ1μmに塗布してプリベーク(80℃、30
分)し、配線パターンが形成されているフォトマスクを
用いてそれぞれ密着露光を行った後、現像・リンス・乾
燥し、さらに熱硬化(150℃、30分)を行って絶縁
層を備えた転写用原版を作製した。
【0062】上記の転写用原版と白金電極を対向させて
下記の組成のピロ燐酸銅めっき浴(pH=8、液温=5
5℃)中に浸漬し、直流電源の陽極に無酸素銅電極を陰
極に上記の転写用原版を接続し、電流密度10A/dm
2 で5分間の通電を行い、フォトレジストで被覆されて
いない転写基板の裸出部に厚さ10μmの銅めっき膜
(剥離性)を形成した。 (ピロ燐酸銅めっき浴の組成) ピロ燐酸銅 … 94g/l ピロ燐酸銅カリウム … 340g/l アンモニア水 … 3cc/l (2)転写用原版における絶縁樹脂層の形成(転写版の
作製) 上記の銅めっき膜を形成した転写用原版と白金電極とを
対向させて実施例1の電着ポリイミド液1中に浸漬し、
直流電源の陽極に転写原版を陰極に白金電極をそれぞれ
接続し、150Vの電圧で90秒の電着を行い、これを
80℃、5分間で乾燥して、銅めっき膜上に厚さ約20
μmの絶縁樹脂層を形成して転写版を得た。 (3)めっき膜付き絶縁性パターンの作製 上記の転写版を、厚さ50μmのポリイミドフィルム基
板上に下記の条件で圧着して銅めっき層と絶縁樹脂層を
フィルム基板上に転写し、300℃、1時間の熱処理に
より絶縁樹脂層を硬化させて、めっき膜付き絶縁性パタ
ーンを形成した。
【0063】(圧着条件) 温度:180℃ 圧力:20kgf/cm2 (実施例6)銅めっき膜のエッチング 実施例5で作製しためっき膜付き絶縁性パターンを塩化
第二鉄水溶液(42ボーメ、液温50℃)に浸漬し、銅
めっき膜を除去して絶縁性パターンを形成した。 (実施例7)転写による絶縁パターンの形成(凝集破
壊) (1)転写用原版1における絶縁樹脂層の形成(転写版
の作製) 実施例3の転写用原版1と白金電極とを対向させて、実
施例1のポリイミド電着液1に浸漬し、直流電源の陽極
に転写用原版を陰極に白金電極をそれぞれ接続し、15
0Vの電圧で90秒の電着を行い、これに80℃、5分
間の熱処理をして、転写用原版1の導電面上に厚さ約2
0μmの絶縁樹脂層を形成した。これにより、転写版を
得た。 (2)絶縁性パターンの形成 上記で作製した転写版をアルミニウム基版上に下記の条
件で圧着して絶縁樹脂層を転写した。この転写は、絶縁
樹脂層に凝集破壊を生じて行われた。その後、250
℃、30分の熱処理により絶縁樹脂層を硬化させ、絶縁
性パターンを形成した。
【0064】(転写条件) 温度:180℃ 圧力:10kgf/cm2 (実施例8)配線パターンを形成した回路基板を白金電
極と対向させて実施例1のポリイミド電着液1に浸漬
し、直流電源の陽極に回路基板の配線を陰極に白金電極
をそれぞれ接続し、100Vの電圧で30秒間の電着を
行って、配線パターン上に絶縁樹脂層を形成した。次
に、この絶縁樹脂層を80℃、5分間乾燥させた後、熱
処理(300℃、1時間)を行って硬化させ、配線上に
オーバーコート層(絶縁性パターン)を形成した。
【0065】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば溶
剤可溶性ポリイミドを含有する電着液を用いて電着法に
より導電性のパターン上に絶縁樹脂層を形成し、次に、
この絶縁樹脂層に熱処理あるいは硬化処理を施して絶縁
性パターンとするので、導電性のパターン上に形成され
た絶縁樹脂層にはポリイミドが含有され、この絶縁樹脂
層に熱処理あるいは硬化処理を施すことにより得られる
絶縁性パターンは、ポリイミド樹脂を含有し電気絶縁
性、耐熱性および基板密着性に優れた絶縁性パターンで
あり、また、導電性層と接するように絶縁性パターンを
形成しても、絶縁樹脂層に含有されるポリイミドによ
り、絶縁樹脂層に対する熱処理あるいは硬化処理時にお
ける導電性層から絶縁性パターンへの導電成分の移行が
ほとんど防止され、電気絶縁性に優れた絶縁性パターン
を導電性層に接して形成することができる。
【0066】また、転写基板上に溶剤可溶性ポリイミド
を含有する電着液を用いて電着法により絶縁樹脂層を形
成して転写版とし、この転写版を用いて基板上に絶縁樹
脂層を転写し熱処理あるいは硬化処理を施すことにより
絶縁性パターンとするので、同一の転写版を用いて電気
絶縁性、耐熱性および基板密着性に優れた絶縁性パター
ンを多数回形成でき工程の簡略化が可能となり、また、
導電性層上に絶縁樹脂層を積層して転写版とし、導電性
層とともに絶縁樹脂層を基板上に転写することにより、
上層に導電性層を備えた電気絶縁性に優れた絶縁性パタ
ーンを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の絶縁性パターンの形成方法の一実施形
態を示す工程図である。
【図2】本発明の絶縁性パターンの形成方法の他の実施
形態を示す工程図である。
【図3】本発明の絶縁性パターンの形成方法の他の実施
形態を示す工程図である。
【符号の説明】
1…基板 1a…導電性のパターン 2…フォトレジスト層 3´…絶縁樹脂層 3…絶縁性パターン 10,30…転写版 11,31…転写基板 11a,31a…導電性のパターン 12,32…フォトレジスト層 13´,33´…絶縁樹脂層 13,33…絶縁性パターン 21,41…基板 34…導電性層

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性のパターン上に溶剤可溶性のポリ
    イミドを含有する電着液を用いて電着法により絶縁樹脂
    層を形成し、その後、前記絶縁樹脂層に熱処理もしくは
    硬化処理を施して絶縁性パターンとすることを特徴とす
    る絶縁性パターンの形成方法。
  2. 【請求項2】 導電性のパターンは、回路基板上に形成
    された配線パターンであることを特徴とする請求項1に
    記載の絶縁性パターンの形成方法。
  3. 【請求項3】 少なくとも表面が導電性の転写基板上に
    絶縁材料からなるパターンを形成し、前記パターンの形
    成されていない前記転写基板上に溶剤可溶性のポリイミ
    ドを含有する電着液を用いて電着法により絶縁樹脂層を
    剥離可能に形成して転写版とし、次に、基板の一方の面
    に前記転写版を圧着し、前記転写基板を剥離することに
    より前記絶縁樹脂層を前記基板上に転写し、その後、前
    記絶縁樹脂層に熱処理もしくは硬化処理を施して絶縁性
    パターンとすることを特徴とする絶縁性パターンの形成
    方法。
  4. 【請求項4】 前記絶縁樹脂層が凝集破壊を生じながら
    前記基板上に転写されることを特徴とする請求項3に記
    載の絶縁性パターンの形成方法。
  5. 【請求項5】 絶縁材料からなるパターンが形成されて
    いない転写基板面に、導電性を阻害しない剥離層を予め
    設け、該剥離層上に絶縁樹脂層を形成した転写版を使用
    することを特徴とする請求項3に記載の絶縁性パターン
    の形成方法。
  6. 【請求項6】 絶縁材料からなるパターンが形成されて
    いない転写基板面に、転写基板に対する接着性の弱い剥
    離性金属薄膜を予め設け、該金属薄膜上に絶縁樹脂層を
    形成した転写版を使用し、基板上への転写において、絶
    縁樹脂層と金属薄膜とを共に基板面に転写することを特
    徴とする請求項3に記載の絶縁性パターンの形成方法。
  7. 【請求項7】 転写後に前記金属薄膜のみを溶解除去す
    ることを特徴とする請求項6に記載の絶縁性パターンの
    形成方法。
  8. 【請求項8】 溶剤可溶性のポリイミドは、ブロックポ
    リイミドであることを特徴とする請求項1乃至請求項7
    のいずれかに記載の絶縁性パターンの形成方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011216921A (ja) * 2002-12-27 2011-10-27 Kyushu Hitachi Maxell Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2013042187A (ja) * 2012-11-29 2013-02-28 Hitachi Maxell Ltd 半導体装置
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KR101380097B1 (ko) * 2009-07-17 2014-04-01 주식회사 엘지화학 절연된 도전성 패턴의 제조 방법 및 적층체(2)

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