JPH11317428A - テープキャリア、半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

テープキャリア、半導体装置及びその製造方法

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JPH11317428A
JPH11317428A JP12453698A JP12453698A JPH11317428A JP H11317428 A JPH11317428 A JP H11317428A JP 12453698 A JP12453698 A JP 12453698A JP 12453698 A JP12453698 A JP 12453698A JP H11317428 A JPH11317428 A JP H11317428A
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JP
Japan
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semiconductor device
semiconductor chip
tape
lead
tape carrier
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Hiroyuki Mori
博幸 毛利
Makoto Kimura
誠 木村
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Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Japan Display Inc
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Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 半導体チップや導電膜に折れ曲がりの作用が
働きにくいTCP型の半導体装置を提供する。 【解決手段】 絶縁性の可撓性テープ10にインナーリ
ードとアウターリードを有するリードが設けられ、半導
体装置が搭載される使用エリアの上下左右の外側にスリ
ット11A−11Dを設けてなるテープキャリアの所定
の位置に半導体チップ15が搭載され、該半導体チップ
の外部電極とインナーリードとが電気的に接続され、少
なくとも前記半導体チップの主面を封止体12で封止し
てなる半導体装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、テープキャリア、
半導体装置及びその製造方法に関し、特に、TCP(Ta
pe Carrier Package)型の半導体装置に適用して有効な
技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、電子装置の小型化、薄型化の要求
に応える方法の一つとして、銅箔等の導電膜を表面に形
成したポリイミド等の可撓性フィルムからなるテープキ
ャリアに半導体チップ等の電子部品を固定し、導電膜と
半導体チップ等の外部端子とを接続したテープ上の電子
部品が使われている。このようなテープ上の電子部品と
しては、TCP(Tape Carrier Package)型の半導体装
置がある。TCP型の半導体装置は、長さ方向に沿った
両縁部に一定の間隔でスプロケットを設けたテープキャ
リアの表面に形成した銅箔の膜をウエットエッチングで
パターン形成してリードを形成し、中央部に半導体チッ
プを固定するデバイスホールを設け、このリードと半導
体チップの外部端子とを突起電極を介して接続する。
【0003】このようなテープ状の電子部品は、取り扱
いが容易であり、自動化へ適しているため、通常は複数
の電子部品を長さ方向に連続して形成した長尺フィルム
の状態で製造され取り扱われ、最終的に電子装置に組み
込む段階で個々の電子部品に切断分離されている。この
ようなテープ状の電子部品は、輸送或いは工程間の搬送
において、リールやローラーに巻き付けて取り扱われる
ことがあり、その際にテープキャリア全体が折れ曲がる
ことにより、搬送を可能としている。
【0004】図8は従来のTCP型半導体装置の概略構
成を示す図であり、フィルム10上にはユーザーエリア
20のみが形成されている。ユーザーエリア20の中
で、入力アウターリード13A1部は半田付けのため、
フィルム10上に穴を開け、その上を導電膜で形成した
リードを配置した構造になっている。
【0005】前記TCP型の半導体装置に関する技術
は、例えば、株式会社 日立製作所 半導体事業部 発行
の「日立TCP実装マニュアル」に記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
【0007】前記従来の技術では、テープキャリアの搬
送において、リールやローラーに巻き付ける際、テープ
キャリア全体が折れ曲がることにより、半導体チップや
導電膜にも折れ曲がりの作用が働き、半導体チップの機
械的な破壊や導電膜の折れ曲がりや断線する問題があっ
た。
【0008】前記図8に示す従来のTCP型半導体装置
では、フィルム10の幅方向に穴が開いているが、この
入力アウターリード13A1のみになるため、フィルム
の折れ曲がりが集中しやすく、折れ曲がりによって入力
アウターリード13A1自体も折れ曲がってしまう。入
力アウターリード13A1が規定以上に折れ曲がると、
最終工程での電子装置組み込み時に半田付け出来ない問
題が発生する。
【0009】現在、製品出荷までに発生する不良は、テ
ープメーカーでの不良と組立工程での不良に大別される
が、それぞれ定常的ではないが突発的に発生し、テープ
メーカーでの発生率はロット単位で1%以上も発生する
こともある。
【0010】また、従来は入力アウターリード13A1
の間隔が広かったため、多少の折れ曲がりでも半田付け
には支障が無かったが、近年、電子装置の小型化や高機
能化に伴い、入力アウターリード13A1の間隔が狭く
なり、折れ曲がりに対して余裕度が小さくなっている背
景がある。この対策として、リールやローラー径を大き
くすることが考えられているが、リール内径を大きくす
ると1巻のリールに巻き取ることの出来る製品の数が少
なくなり、装置への取り替え頻度が多くなり、手間がか
かってしまう。
【0011】また、ローラー径を大きくすると、装置も
大きくせざるを得ず、簡単に導入できない問題があっ
た。
【0012】本発明の目的は、半導体チップや導電膜に
折れ曲がりの作用が働きにくいTCP型の半導体装置を
提供することが可能な技術を提供することにある。
【0013】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
【0014】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0015】(1)絶縁性の可撓性テープにインナーリ
ードとアウターリードを有するリードが設けられている
半導体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置
が搭載される使用エリアの上下左右の外側にスリットを
設けてなる。
【0016】(2)絶縁性の可撓性テープにインナーリ
ードとアウターリードを有するリードが設けられている
半導体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置
が搭載される使用エリアの上下左右の外側にブリッジで
分割された複数のスリットを設けてなる。
【0017】(3)絶縁性の可撓性テープにインナーリ
ードとアウターリードを有するリードが設けられている
半導体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置
が搭載される使用エリアの入力アウタリードとテストパ
ッドとの間にスリットを設けてなる。
【0018】(4)前記(1)乃至(3)の半導体装置
搭載用テープキャリアのうちいずれか1つのテープキャ
リアのあらかじめ決められた位置に半導体チップが搭載
され、該半導体チップの外部電極とインナーリードとが
電気的に接続され、少なくとも前記半導体チップの主面
を封止体で封止してなる半導体装置である。
【0019】(5)絶縁性の可撓性テープのあらかじめ
設計された位置に、半導体チップが搭載される使用エリ
アの上下左右の外側にスリットもしくはブリッジで分割
された複数のスリットを形成する工程と、前記絶縁性の
可撓性テープ表面に形成した銅箔の膜をウエットエッチ
ングでパターン形成してリードを形成する工程と、中央
部に半導体チップを固定するデバイスホールを形成する
工程と、前記リードと半導体チップの外部端子とを突起
電極を介して接続する工程と、少なくとも前記半導体チ
ップの主面を封止体で封止する工程とを備えた半導体装
置の製造方法である。
【0020】(6)絶縁性の可撓性テープのあらかじめ
設計された位置に、半導体装置が搭載される使用エリア
の入力アウタリードとテストパッドとの間にスリットを
形成する工程と、前記絶縁性の可撓性テープ表面に形成
した銅箔の膜をウエットエッチングでパターン形成して
リードを形成する工程と、中央部に半導体チップを固定
するデバイスホールを形成する工程と、前記リードと半
導体チップの外部端子とを突起電極を介して接続する工
程と、少なくとも前記半導体チップの主面を封止体で封
止する工程とを備えた半導体装置の製造方法である。
【0021】以下、本発明について、図面を参照して実
施の形態(実施例)とともに詳細に説明する。
【0022】なお、実施の形態(実施例)を説明するた
めの全図において、同一機能を有するものは同一符号を
付け、その繰り返しの説明は省略する。
【0023】
【発明の実施の形態】(実施例1)図1は本発明の実施
例1のTCP型半導体装置の概要構成を示す平面図、図
2は図1のA−A’で切った断面図である。
【0024】本実施例1のTCP型半導体装置は、図1
に示すように、スプロケット(SP)16が開けられた
絶縁性の可撓性フィルム(キャリアフィルム)10上に
形成された入力アウターリード13A1や出力アウター
リード13B1を有する導電膜からなる入力配線13A
及び出力配線13Bと半導体チップ15からなる。前記
入力配線13A及び出力配線13Bと半導体チップ15
は突起電極15Aを介して電気的に接続され、半導体チ
ップ15の少なくとも回路素子が形成されている面(以
下主面と呼ぶ)は封止樹脂12で覆われ固定された構成
になっている。最終的に、電子装置に組み込む段階での
個片化する大きさをユーザーエリア20と呼んでいる。
【0025】ユーザーエリア20の上下左右の外側には
スリット11A〜11Dが配置され、絶縁性の可撓性フ
ィルム10の長さ方向に沿ってユーザーエリア20とス
プロケット16の間に配置するものと、隣り合うユーザ
ーエリア20の間に絶縁性の可撓性フィルム10の幅方
向に配置するものとに分かれてる。互いのスリット11
A、11Bは接続されておらず、ユーザーエリア20が
絶縁性の可撓性フィルム10上から脱落しない構造とな
っている。
【0026】前記TCP型半導体装置の断面構成は、図
2に示すように、前記絶縁性フィルム10上には半導体
チップ15が入るデバイスホール10Aと入力アウター
リード13A1及びスリット11A、11Cの穴が開け
られ、入力配線13Aが設けられているが、このうちデ
バイスホール10Aの部分は入力配線13Aのインナー
リード13A2を介して半導体チップ15と接続され、
封止樹脂12で覆っているため、他の穴よりは比較的折
れ曲がりに対して強い構造になっている。
【0027】しかし、一旦、封止樹脂12が破断するほ
ど折れ曲がった場合は、封止樹脂12自体がテコの役割
を果たし、入力配線13Aのインナーリード13A2を
切断する危険性も持っている。
【0028】また、入力アウターリード13A1の穴
は、通常、テープ長さ方向に対して1〜3mm程度の幅を
持って開けられており、幅が広いことで折れ曲がりやす
い構造になっている。スリット11A、11Cはユーザ
ーエリア20の外側に配置され、TCPの折れ曲がり作
用に対して、最初に積極的に折れ曲がることにより、入
力アウターリード13A1や封止樹脂12の部分にかか
る折れ曲がりの応力が少なくて済むようになっている。
【0029】図3にTCP型半導体装置の製造装置の概
略構成を示す。TCP型半導体装置の製造装置は、リー
ルに巻き付けられているTCP用テープを後段の半導体
チップ実装部まで搬送する機構からなるTCP用テープ
供給部Aと、送られてTCP用テープ上のインナーリー
ドと半導体チップとを接続して固定する半導体チップ実
装部Bと、前段で実装された半導体チップを封止する封
止部Cと、完成したTCP型半導体装置が装着されたテ
ープをリールに巻き付ける機構からなる巻き取り部Dを
備えている。
【0030】前記TCP型半導体装置の製造方法は、図
4に示すように、まず、絶縁性フィルム(ポリイミド)
からなる基材に、製作仕様書に基づいて前記スリット1
1A〜11D、デバイスホール10A、入力アウターリ
ード13A1の穴10B等のパンチ穴を開ける(S40
1)。その上に銅箔をラミネートし(S402)、その
上にホトレジストを塗布し(S403)、配線パターン
マスクを用いて露光し配線パターン像を形成し(S40
4)、それを現像してウエットエッチングし(S40
5,S406,S407)し、ホトレジストを剥離し
(S408)、その上にソルダーレジストを印刷し(S
409)、前記配線パターンの銅箔に銀メッキを施して
(S410)TCP用テープを製作する。
【0031】次に、前記TCP用テープの配線パターン
のインナーリードと半導体チップとを電気的に接続して
固定し、ポッティングにより樹脂封止してTCP型半導
体装置が製作する。
【0032】図5は本実施例1のTCP型半導体装置の
複数個をリールもしくはロールに巻き付けられるときの
作用効果を説明するための図である。
【0033】前述した本実施例1の構成によれば、図3
に示すように、TCP型の半導体装置を搬送する際、リ
ールやローラー30に巻き付けた時にも、絶縁性フィル
ム10上に開けられたスリット11A〜11Dの部分の
剛性が低いことにより、折れ曲がりはスリット11A〜
11Dの部分のみとなり、ユーザーエリア20の領域に
は折れ曲がりの作用は働き難くなる。これはリールやロ
ーラー30とTCP型の半導体装置の接触部がスプロケ
ット16の部分だけであり、ユーザーエリア20の部分
には接触しない構造を積極的に利用したものである。ス
プロケット16の部分はリールやローラー30と常に接
触しているので、折れ曲がらざるを得ないが、ユーザー
エリア20はスリット11A〜11Dによってスプロケ
ット16の部分と隔離されているので、折れ曲がりの作
用は受けない。
【0034】(実施例2)図6は本発明による実施例2
のTCP型半導体装置の概要構成を示す平面図であり、
スリットを入力アウターリード13A1とテストパット
17間に配置したものである。
【0035】通常、TCP型半導体装置では、ユーザー
エリア20外に半導体チップ15の電気的特性評価を行
うためのパットを設け、テストパット17と呼んでい
る。テストパット17はプローブカードで接続されるた
め、ある程度の面積を必要とし、それは通常、入力アウ
ターリード13A1より広い。そのため、一列に並んだ
テストパット17は入力アウターリード13A1より幅
が広くなるため、接続するためのテストパット配線18
が必要になる。このテストパット配線18部はユーザー
エリア20外に設けられるため、TCPの大きさの中で
無駄な領域でもある。ここにスリット11Eを配置する
ことにより、TCP全体の大きさを変えずにスリット1
1Eを入れることができるので製品のコストダウンに有
効な手段である。
【0036】(実施例3)図7は本発明の実施例3のT
CP型半導体装置の概要構成を示す平面図であり、テー
プ幅方向に配置したスリットをブリッジBGを介してス
リット11F1と11F2に2分割している。TCPテ
ープの幅としては、現在35mm、48mm、70mmの3種
類があるが、48mm、70mm等の幅広の可撓性フィルム
10を使用した際、テープ幅方向に渡るスリットを入れ
ることは、可撓性フィルム10自体の剛性を低めること
でもあり、ユーザーエリア20の保持には悪影響があ
る。ユーザーエリア20と可撓性フィルム10の保持力
を高めるために、折り曲げに影響のない程度のブリッジ
を設け、スリットを分割することが有効である。ブリッ
ジの幅としては、テープメーカーで打ち抜ける最小の幅
として0.6mm程度あれば十分である。もちろん2分割
だけでなく、3分割以上も有効な手段である。
【0037】以上、本発明を、前記実施例に基づき具体
的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変
更可能であることは勿論である。
【0038】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、以
下のとおりである。
【0039】半導体装置が搭載される使用エリアの上下
左右の外側にスリットが設けてなるので、半導体チップ
や導電膜に折れ曲がりの作用が働きにくいTCP型の半
導体装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の実施例1のTCP型半導体装置
の概要構成を示す平面図である。
【図2】図1のA−A’で切った断面図である。
【図3】本実施例1のTCP型半導体装置の製造装置の
概略構成を示す模式図である。
【図4】本実施例1のTCP型半導体装置の製造方法の
処理手順を示すフローチャートである。
【図5】本実施例1のTCP型半導体装置の複数個をリ
ールもしくはロールに巻き付けられるときの作用効果を
説明するための図である。
【図6】本発明による実施例2のTCP型半導体装置の
概要構成を示す平面図である。
【図7】本発明の実施例3のTCP型半導体装置の概要
構成を示す平面図である。
【図8】従来のTCP型半導体装置の概略構成を示す図
である。
【符号の説明】
10…絶縁性の可撓性フィルム(キャリアフィルム)、
10A…デバイスホール、10B…入力アウターリード
の穴、11A〜11E、11F1、11F2…スリッ
ト、12…封止樹脂、13A…入力配線、13B…出力
配線、13A1…入力アウターリード、13A2…入力
インナーリード、13B1…出力アウターリード、13
B2…出力インナーリード、14…接着剤、15…半導
体チップ、15A…突起電極、20…ユーザーエリア、
16…スプロケット、17…テストパット、18…テス
トパット配線、BG…ブリッジ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性の可撓性テープにインナーリード
    とアウターリードを有するリードが設けられている半導
    体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置が搭
    載される使用エリアの上下左右の外側にスリットを設け
    てなることを特徴とする半導体装置搭載用テープキャリ
    ア。
  2. 【請求項2】 絶縁性の可撓性テープにインナーリード
    とアウターリードを有するリードが設けられている半導
    体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置が搭
    載される使用エリアの上下左右の外側にブリッジで分割
    された複数のスリットを設けてなることを特徴とする半
    導体装置用テープキャリア。
  3. 【請求項3】 絶縁性の可撓性テープにインナーリード
    とアウターリードを有するリードが設けられている半導
    体装置搭載用テープキャリアにおいて、半導体装置が搭
    載される使用エリアの入力アウタリードとテストパッド
    との間にスリットを設けてなることを特徴とする半導体
    装置搭載用テープキャリア。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3の半導体装置搭載用テー
    プキャリアのうちいずれか1つのテープキャリアのあら
    かじめ決められた位置に半導体チップが搭載され、該半
    導体チップの外部電極とインナーリードとが電気的に接
    続され、少なくとも前記半導体チップの主面を封止体で
    封止してなることを特徴とする半導体装置。
  5. 【請求項5】 絶縁性の可撓性テープのあらかじめ設計
    された位置に、半導体チップが搭載される使用エリアの
    上下左右の外側にスリットもしくはブリッジで分割され
    た複数のスリットを形成する工程と、前記絶縁性の可撓
    性テープ表面に形成した銅箔の膜をウエットエッチング
    でパターン形成してリードを形成する工程と、中央部に
    半導体チップを固定するデバイスホールを形成する工程
    と、前記リードと半導体チップの外部端子とを突起電極
    を介して接続する工程と、少なくとも前記半導体チップ
    の主面を封止体で封止する工程とを備えたことを特徴と
    する半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 絶縁性の可撓性テープのあらかじめ設計
    された位置に、半導体装置が搭載される使用エリアの入
    力アウタリードとテストパッドとの間にスリットを形成
    する工程と、前記絶縁性の可撓性テープ表面に形成した
    銅箔の膜をウエットエッチングでパターン形成してリー
    ドを形成する工程と、中央部に半導体チップを固定する
    デバイスホールを形成する工程と、前記リードと半導体
    チップの外部端子とを突起電極を介して接続する工程
    と、少なくとも前記半導体チップの主面を封止体で封止
    する工程とを備えたことを特徴とする半導体装置の製造
    方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100684793B1 (ko) * 2004-12-07 2007-02-20 삼성에스디아이 주식회사 릴상의 테이프 캐리어 패키지와 이를 적용한 플라즈마디스플레이 장치
KR100713637B1 (ko) * 2000-02-21 2007-05-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 테이프 캐리어 팩키지 필름
KR100793068B1 (ko) * 2005-03-07 2008-01-10 엘지전자 주식회사 더미 패턴을 이용한 티씨피 제조 방법 및 그 더미 패턴 필름
US7353595B2 (en) 2003-12-19 2008-04-08 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Method for manufacturing a printed circuit board that mounts an integrated circuit device thereon

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100713637B1 (ko) * 2000-02-21 2007-05-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 테이프 캐리어 팩키지 필름
US7353595B2 (en) 2003-12-19 2008-04-08 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Method for manufacturing a printed circuit board that mounts an integrated circuit device thereon
KR100684793B1 (ko) * 2004-12-07 2007-02-20 삼성에스디아이 주식회사 릴상의 테이프 캐리어 패키지와 이를 적용한 플라즈마디스플레이 장치
US7656089B2 (en) 2004-12-07 2010-02-02 Samsung Sdi Co., Ltd. Tape carrier package on reel and plasma display device using the same
KR100793068B1 (ko) * 2005-03-07 2008-01-10 엘지전자 주식회사 더미 패턴을 이용한 티씨피 제조 방법 및 그 더미 패턴 필름

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