JPH11317381A - 半導体装置におけるダイシング方法 - Google Patents

半導体装置におけるダイシング方法

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JPH11317381A
JPH11317381A JP12363898A JP12363898A JPH11317381A JP H11317381 A JPH11317381 A JP H11317381A JP 12363898 A JP12363898 A JP 12363898A JP 12363898 A JP12363898 A JP 12363898A JP H11317381 A JPH11317381 A JP H11317381A
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wafer
coating agent
dicing
sheet
semiconductor device
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広美 佐藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な方法でチッピングを抑えることができ
る半導体装置におけるチッピング方法を提供する。 【解決手段】 複数の半導体素子が形成されているウエ
ハ1から各半導体素子をダイシングする方法であって、
ウエハ1の表面にコーティング剤2を塗布し、ダイシン
グ後、ウエハ1からコーティング剤2のみ除去するよう
にした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の半導体素子
が形成されているウエハから各半導体素子を切り出すた
めの半導体装置におけるダイシング方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程では、複数の半導
体素子が形成されているウエハをダイシングして、各半
導体チップに分割する方法が採られている。このダイシ
ングの工程では、ダイアモンドブレードにより分割され
た半導体チップの表面及び裏面のサイドにチッピングが
生じることが多い。このようなチッピングは、拡散層に
及べばその半導体チップは不良となる。また、微細なチ
ッピングでも半導体装置の組立時や樹脂モールド時やパ
ッケージングに応力が集中し、クラックに発展して半導
体チップ自体を破壊する原因ともなっている。しかし、
設備や作業が複雑でコストが高くなっている問題点があ
った。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そこで、半導体装置の
製造工程におけるダイシング作業では、チッピングの発
生を抑えることが課題となっており、これまでも色々な
方法が試みられている。
【0004】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的は簡単な方法でチッピングを抑える
ことができる半導体装置におけるチッピング方法を提供
することにある。さらに、他の目的は、以下に説明する
内容の中で順次明らかにして行く。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、次の技術手段を講じたことを特徴とする。
すなわち、複数の半導体素子が形成されているウエハか
ら各半導体素子をダイシングする方法において、前記ウ
エハの表面にコーティング剤を塗布し、ダイシング後、
前記ウエハから前記コーティング剤のみ除去するように
したものである。
【0006】この方法によれば、ウエハにコーティング
剤を塗布した状態でダイシングすることにより、ブレー
ドが最初に触れるのはコーティング剤の部分で、その
後、下層のウエハに触れることになるので、コーティン
グ剤部分にチッピングが入っても、半導体チップ自体に
までチッピングが及ぶのを防ぐことができる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な形態を添付
図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる形
態は、本発明の好適な具体例であるから技術的に好まし
い種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下
の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限
り、これらの形態に限られるものではない。
【0008】図1は本発明の一実施形態を説明するため
の工程の流れ図で、図2乃至図4は各工程での説明図で
ある。そこで、その工程での作業を図1の流れ図に従っ
て次の〜の順に説明する。
【0009】 まず、ウエハ1の表面にコーティング
剤2を塗布し(S1)、このウエハ1の裏面側をUV
(紫外線)シート3に貼り付ける(S2)。図2は、こ
のようにしてUVシート3上に貼り付けられた状態を示
している。また、ここでのコーティング剤2は、好まし
くは硬度がUVシート3と同等であり、色及び厚さはス
クライブライン5が見えるようであることが望ましい。
さらに、ドライエッチング可能なコーティング剤2が使
用される。
【0010】 次に、ウエハ1が貼り付けられている
UVシート3を、ウエハ1を上側にして図示せぬダイシ
ング装置内にセットする。ダイシング装置内には、図3
に示すようにウエハ1をスクライブライン5に沿って回
転しながら切断するダイアモンドブレード6が設けられ
ており、このダイアモンドブレード6でウエハ1の切断
が行われる(S3)。ここでのダイシングでは、回転し
ているダイアモンドブレード6がウエハ1上に下降さ
れ、図4に示しているように、ウエハ1の表面側からU
Vシート3内の途中まで切り込みを入れる。したがっ
て、ここではウエハ1は切断されるが、UVシート3は
ハーフカットされて一枚状になった状態にある。
【0011】 続いて、ウエハ1上にコーティングさ
れているコーティング剤2をドライエッチングにより除
去する。図5は、コーティング剤2を除去した後の断面
を示している。以上により、ダイシング作業が完了し、
次の工程へ移行されて必要な加工がなされる。
【0012】したがって、この実施形態でのダイシング
方法によれば、ウエハ1にコーティング剤2を塗布した
後、ダイシングするので、ウエハ表面に直接ダイアモン
ドブレードが接することなく、コーティング面から切断
することになる。これにより、コーティング剤2により
ウエハ1の表面が保護され、ウエハ1にチッピングが入
るのを防ぐことができる。一方、コーティング剤2の部
分にはチッピングが入ることがあるが、コーティング剤
2にチッピングが入っても、チップ自体にまでチッピン
グが及ぶのを防ぐことができる。これにより、ダイシン
グ前のウエハ1にコーティング剤2を塗布するという簡
単な方法で、ダイシング時に半導体チップにチッピング
ができるのを防止することができる。
【0013】なお、上記実施形態では、ウエハ1の表面
にコーティング剤2を塗布した後、このウエハ1をUV
シート3に貼り付ける場合として説明したが、UVシー
ト3にウエハ1を貼り付けた後にコーティング剤2を塗
布するようにしてもよいものである。
【0014】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
ダイシング前のウエハにコーティング剤を塗布するとい
う簡単な方法で、ダイシング時に半導体チップにチッピ
ングができるのを防止することができる。これにより、
コストを下げることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るダイシング方法における作業手
順の一例を示す流れ図である。
【図2】 本発明に係るダイシング方法の説明図であ
る。
【図3】 本発明に係るダイシング方法の説明図であ
る。
【図4】 本発明に係るダイシング方法の説明図であ
る。
【図5】 本発明に係るダイシング方法の説明図であ
る。
【符号の説明】
1 ウエハ 2 コーティング剤 3 UVシート 5 スクライブライン 6 ダイアモンドブレード

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の半導体素子が形成されているウエ
    ハから各半導体素子をダイシングする方法において、 前記ウエハの表面にコーティング剤を塗布し、ダイシン
    グ後、前記ウエハから前記コーティング剤のみ除去する
    ことを特徴とする半導体装置におけるダイシング方法。
  2. 【請求項2】 複数の半導体素子が形成されているウエ
    ハから各半導体素子をダイシングする方法において、 表面側にコーティング剤を塗布した前記ウエハの裏面側
    をUV(紫外線)シートに貼り付け、このUVシートに
    貼り付けられている前記ウエハを前記UVシートを切り
    離すことなくダイシングし、前記ダイシングの後に前記
    UVシートに貼り付けたままの状態で前記ウエハ表面の
    コーティング剤のみを除去することを特徴とする半導体
    装置におけるダイシング方法。
  3. 【請求項3】 前記コーティング剤としてドライエッチ
    ング可能なコーティング剤を使用し、前記コーティング
    剤をドライエッチングで除去するようにした請求項2に
    記載の半導体装置におけるダイシング方法。
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